JP2023029876A5 - - Google Patents

Claims (6)

1. 位相差フィルムおよび偏光板を有する光学積層体であって、
   前記偏光板は、厚みが１５μｍ以下である偏光子を含み、
   前記位相差フィルムは、
   フィルム面に対し突刺し冶具の先端を垂直に押圧し、破断が生じたときの、
   前記突刺し冶具の先端から前記位相差フィルムへ加えられた応力Ｆ（ｇ）と前記位相差フィルムのひずみ量Ｓ（ｍｍ）を用いて下記式（１）にて算出される突刺し弾性率が１５ｇ／ｍｍ以上５０ｇ／ｍｍ以下であることを特徴とする、ここで、該ひずみ量Ｓは該フィルムの突刺し方向の撓みによる変位量であり、突刺し弾性率の測定は、該フィルムを中央部が３０ｍｍ×３０ｍｍの正方形で切り抜かれた糊付き台紙に貼合した測定試料を用い、先端径が１ｍｍφ０．５Ｒである突刺し冶具の先端を０．３３ｃｍ／秒の速度で押圧する条件において測定され、前記位相差フィルムは、重合性液晶化合物である棒状液晶化合物が硬化した、垂直配向性を有する転写型位相差層を含み、前記位相差フィルムは（メタ）アクリレート系モノマーの硬化物を含む転写型配向層をさらに含み、前記転写型配向層の鉛筆硬度は３Ｂ以下であり、かつ、前記転写型配向層の厚さは１００ｎｍ～１００００ｎｍであり、該位相差フィルムの、次の計算式（Ａ）：
   

   

   ［計算式（Ａ）中、
   ＡＬは、位相差フィルムを構成する配向層を構成する樹脂を構成する重合性化合物に由来する構成単位の種類数を示し、
   Ｃｗｉは、配向層を構成する樹脂における重合性化合物に由来する全構成単位を基準として、重合性化合物ｉに由来する構成単位の含有量（質量％）を示し、
   Ｍｉは、配向層を構成する重合性化合物ｉの分子量を示し、
   Ｎｉは、配向層を構成する重合性化合物ｉが有する重合性基の数を示し、
   ＬＣは、位相差層を構成する重合性液晶化合物に由来する構成単位の種類数を示し、
   Ｃｗｊは、位相差層における重合性液晶化合物に由来する全構成単位を基準として、重合性液晶化合物ｊに由来する構成単位の含有量（質量％）を示し、
   Ｍｊは、位相差層を構成する重合性液晶化合物ｊの分子量を示し、
   Ｎｊは、位相差層を構成する重合性液晶化合物ｊが有する重合性基の数を示し、
   Ｌ _ＡＬ は配向層の厚さ（μｍ）を示し、
   Ｌ _ＬＣ は位相差層の厚さ（μｍ）を示し、
   Ｌ _{ｔｏｔａｌ} は、Ｌ _ＡＬ とＬ _ＬＣ との和を示す］
   により算出される重合性基量Ｎは０．５９以下である、光学積層体。
   
   （１）突刺し弾性率（ｇ／ｍｍ）＝Ｆ（ｇ）／Ｓ（ｍｍ）
   
2. 前記転写型配向層の厚さは２．０～３．５μｍである、請求項１に記載の光学積層体。
3. 前記位相差フィルムの厚さは３．５～３０μｍである、請求項１又は２に記載の光学積層体。
4. 前記光学積層体は、さらに前面板を有し、
   前記前面板は、前記偏光板における前記位相差フィルムが積層された側とは反対側に配置される請求項１～３のいずれかに記載の光学積層体。
5. 前記光学積層体は、さらにタッチセンサを有する請求項４に記載の光学積層体。
6. 請求項１～５のいずれかに記載の光学積層体が、表示素子に積層されている表示装置。