JP2023014644A - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 高い洗浄力により検体間キャリーオーバーの抑制や微量分注時の精度を確保すること。【解決手段】 実施形態に係る自動分析装置は、プローブ、洗浄部及び振動部を備えている。前記プローブは、試薬またはサンプルを分注する。前記洗浄部は、前記プローブを洗浄する。前記振動部は、前記プローブを共振振動させる。前記自動分析装置は、前記洗浄部で前記プローブを洗浄する際、前記振動部で前記プローブを共振振動させる。【選択図】図１

Description

本明細書及び図面に開示の実施形態は、自動分析装置に関する。

臨床検査用の自動分析装置では、血液および尿などの生体試料（以下、試料と称する）と試薬とを一定量混合して反応させ、この混合液に光を当てて得られる透過光または散乱光の光量を測定することで、測定対象物質の濃度、活性値、および変化に掛かる時間などを求めている。

一般的な自動分析装置は、試薬アームに取り付けられたプローブにより試薬を吸引してサンプルへ吐出する構造である。サンプルを分注するとき、異なる試料を同一のプローブで分注することから、分注する毎にプローブを洗浄している。このようなプローブの洗浄は、基本的に流体（流水）による洗浄や、洗剤による洗浄（その他化学的洗浄を含む）が主である。しかし、流水や洗剤だけで洗浄するには限界がある。このような限界に対して、高い洗浄力により検体間のキャリーオーバーを抑制し、微量分注時の精度を確保する為には新たな洗浄技術が必要となっている。

特開平７－３１１２０４号公報

本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、高い洗浄力により検体間キャリーオーバーの抑制や微量分注時の精度を確保することである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。

実施形態に係る自動分析装置は、プローブ、洗浄部及び振動部を備えている。前記プローブは、試薬またはサンプルを分注する。前記洗浄部は、前記プローブを洗浄する。前記振動部は、前記プローブを共振振動させる。前記自動分析装置は、前記洗浄部で前記プローブを洗浄する際、前記振動部で前記プローブを共振振動させる。

図１は、第１の実施形態に係る自動分析装置の機能構成を示すブロック図である。 図２は、図１の分析機構の構成を例示する図である。 図３は、図２のサンプル分注アームに設けられた振動部を説明するための模式図である。 図４は、図３の振動部による振動を説明するための模式図である。 図５は、図２の試薬分注アームに設けられた振動部を説明するための模式図である。 図６は、図５の振動部による振動を説明するための模式図である。 図７は、図２のプローブ洗浄ユニットの機能構成を示すブロック図である。 図８は、図７の洗浄部の構成を例示する断面図である。 図９は、第１の実施形態における洗浄動作を説明するためのフローチャートである。 図１０は、第２の実施形態に係る自動分析装置における分析機構の構成を例示する図である。 図１１は、図１０のサンプル分注アームに対する固定部に設けられた振動部を説明するための模式図である。 図１２は、図１０の試薬分注アームに対する固定部に設けられた振動部を説明するための模式図である。 図１３は、第２の実施形態における洗浄動作を説明するためのフローチャートである。

以下、図面を参照しながら、自動分析装置の実施形態について詳細に説明する。

（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態に係る自動分析装置１の機能構成を示すブロック図である。図１に示される自動分析装置１は、分析機構２と、解析回路３と、駆動機構４と、入力インタフェース５と、出力インタフェース６と、通信インタフェース７と、記憶回路８と、制御回路９（制御部とも称する）とを備える。

分析機構２は、血液または尿などの試料（サンプル）と、各検査項目で用いられる試薬溶液とを混合する。また、分析機構２は、検査項目によっては、所定の倍率で希釈した標準液と、この検査項目で用いられる試薬溶液とを混合する。分析機構２は、サンプルまたは標準液と、試薬溶液との混合液の光学的な物性値を測定する。この測定により、例えば、透過光強度または吸光度、および散乱光強度などで表される標準データおよび被検データが生成される。

解析回路３は、分析機構２により生成される標準データおよび被検データを解析することで、検量データおよび分析データを生成するプロセッサである。解析回路３は、例えば、記憶回路８から解析プログラムを読み出し、読み出した解析プログラムに従って標準データおよび被検データを解析する。尚、解析回路３は、記憶回路８で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えてもよい。

駆動機構４は、制御回路９の制御に従い、分析機構２を駆動させる。駆動機構４は、例えば、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベアおよびリードスクリューなどにより実現される。

入力インタフェース５は、例えば、操作者が測定を指示したサンプルまたは病院内ネットワークＮＷを介して測定を依頼されたサンプルに係る各検査項目の分析パラメータなどの設定を受け付ける。また、入力インタフェース５は、予め検査種別毎に、後述する振動部による共振振動の実行可否を設定するといったプローブ洗浄に関する設定を受け付ける。当該プローブ洗浄に関する設定としては、例えば、共振振動の周波数に関する設定を含んでもよい。共振振動の周波数に関する設定としては、例えば、共振振動の周波数が一定の場合には当該周波数の値であり、共振振動の周波数をスイープする場合には当該スイープする周波数の範囲である。当該スイープする周波数の範囲としては、例えば、プローブの先端部を共振させるように１次モードの周波数を含むようにしてもよい。具体的には、当該スイープする周波数の範囲としては、例えば、５０～４００Ｈｚの範囲としてもよい。また、当該スイープする周波数の範囲としては、例えば、２０ｋＨｚ以上の超音波の範囲を含んでもよい。また、入力インタフェース５により受け付けられた設定は、制御回路９が保持してもよく、記憶回路８に保存されてもよい。入力インタフェース５は、例えば、マウス、キーボード、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド、およびタッチパネルなどにより実現される。入力インタフェース５は、制御回路９に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路９へ出力する。

なお、入力インタフェース５は、本明細書において、マウスおよびキーボードなどの物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、入力インタフェース５には、自動分析装置１とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路９へ出力する電気信号の処理回路が含まれてもよい。

出力インタフェース６は、制御回路９に接続され、制御回路９から供給される信号を出力する。出力インタフェース６は、例えば、表示回路、印刷回路および音声デバイスなどにより実現される。

表示回路には、例えば、ＣＲＴディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、ＬＥＤディスプレイおよびプラズマディスプレイなどが含まれる。また、表示回路には、表示対象を表すデータをビデオ信号に変換し、ビデオ信号を外部へ出力する処理回路が含まれてもよい。印刷回路は、例えば、プリンタなどを含む。また、印刷回路には、印刷対象を表すデータを外部へ出力する出力回路が含まれてもよい。音声デバイスは、例えば、スピーカなどを含む。また、音声デバイスには、音声信号を外部へ出力する出力回路が含まれてもよい。尚、出力インタフェース６は、入力インタフェース５と共にタッチパネル、或いはタッチスクリーンとして実現されてもよい。

通信インタフェース７は、例えば、病院内ネットワークＮＷと接続する。通信インタフェース７は、病院内ネットワークＮＷを介してＨＩＳ（Ｈｏｓｐｉｔａｌ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）とデータ通信を行う。尚、通信インタフェース７は、病院内ネットワークＮＷと接続する検査部門システム（Ｌａｂｏｒａｔｏｒｙ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ：ＬＩＳ）を介してＨＩＳとデータ通信を行ってもよい。

記憶回路８は、プロセッサにより読み取り可能な記憶媒体などを含む。これらの記憶媒体は、例えば、磁気的記憶媒体、光学的記憶媒体または半導体メモリなどである。尚、記憶回路８は、必ずしも単一の記憶媒体（記憶装置）により実現される必要は無い。例えば、記憶回路８は、複数の記憶装置により実現されてもよい。

記憶回路８は、解析回路３で実行される解析プログラム、および制御回路９に備わる機能を実現するための制御プログラムを記憶している。記憶回路８は、解析回路３により生成される検量データを検査項目毎に記憶する。記憶回路８は、解析回路３により生成される分析データをサンプル毎に記憶する。記憶回路８は、操作者から入力された検査オーダ、または通信インタフェース７が病院内ネットワークＮＷを介して受信した検査オーダを記憶する。また、記憶回路８は、例えば、入力インタフェース５により受け付けられた設定を記憶する。例えば、記憶回路８は、予め検査種別毎に、後述する振動部による共振振動の実行可否を設定するといったプローブ洗浄に関する設定を記憶する。当該プローブ洗浄に関する設定としては、例えば、共振振動の周波数に関する設定を含んでもよい。共振振動の周波数に関する設定としては、例えば、共振振動の周波数が一定の場合には当該周波数の値であり、共振振動の周波数をスイープする場合には当該スイープする周波数の範囲である。当該スイープする周波数の範囲としては、例えば、プローブの先端部を共振させるように１次モードの周波数を含むようにしてもよい。記憶回路８及び入力インタフェース５は、設定部の一例である。

制御回路９は、自動分析装置１の中枢として機能するプロセッサである。制御回路９は、記憶回路８に記憶されているプログラムを実行することで、実行したプログラムに対応する機能を実現する。尚、制御回路９は、記憶回路８で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えてもよい。この場合、制御回路９は、例えば、入力インタフェース５により受け付けられた設定内容を記憶領域に記憶してもよい。制御回路９及び入力インタフェース５は、設定部の他の一例である。

制御回路９は、例えば、制御プログラムを実行することで、システム制御機能９１を有する。尚、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能９１が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することによりシステム制御機能９１を実現しても構わない。制御回路９は、制御部及び実行制御部の一例である。

システム制御機能９１は、入力インタフェース５から入力される入力情報に基づき、自動分析装置１における各部を統括して制御する機能である。例えば、システム制御機能９１において制御回路９は、検査項目に応じた測定を実施するように駆動機構４を駆動し、分析機構２で生成される標準データおよび被検データを解析するように解析回路３を制御する。

図２は、図１に示される分析機構２の構成の一例を示す模式図である。図２に示される分析機構２は、反応ディスク２０１、恒温部２０２、サンプルディスク２０３、第１試薬庫２０４、および第２試薬庫２０５を備える。また、分析機構２は、サンプル分注アーム２０６、サンプル分注プローブ２０７、第１試薬分注アーム２０８、第１試薬分注プローブ２０９、第２試薬分注アーム２１０、第２試薬分注プローブ２１１、電極ユニット２１２、測光ユニット２１３、洗浄ユニット２１４、攪拌ユニット２１５、およびプローブ洗浄ユニット２１６、２１６Ａ、２１６Ｂを備える。

まず、反応ディスク２０１、恒温部２０２、サンプルディスク２０３、第１試薬庫２０４、第２試薬庫２０５について説明する。

反応ディスク２０１は、複数の反応容器２０１１を、環状に配列させて保持する。反応ディスク２０１は、複数の反応容器２０１１を所定の経路に沿って搬送する。具体的には、反応ディスク２０１は、駆動機構４により、既定の時間間隔（以下、１周期、或いは１サイクルと称する）、例えば４．５秒または９秒ごとに回動と停止とが交互に繰り返される。反応容器２０１１は、例えば、ガラス、ポリプロピレン（ｐｏｌｙｐｒｏｐｙｌｅｎｅ：ＰＰ）またはアクリルにより形成されている。尚、反応ディスク２０１上の複数の位置には、サンプル吐出位置、第１試薬吐出位置、第２試薬吐出位置、および攪拌位置などが設定されている。

恒温部２０２は、所定の温度に設定された熱媒体を貯留し、貯留する熱媒体に反応容器２０１１を浸漬させることで、反応容器２０１１に収容される混合液を昇温する。

サンプルディスク２０３は、測定を依頼されたサンプルを収容する複数のサンプル容器を、環状に配列させて保持する。サンプルディスク２０３は、複数のサンプル容器を所定の経路に沿って搬送する。図２に示す例では、サンプルディスク２０３は、反応ディスク２０１と隣り合って配置されている。尚、サンプルディスク２０３上の所定の位置には、サンプル吸引位置が設定されている。また、サンプルディスク２０３は、着脱自在なカバーにより覆われてもよい。

第１試薬庫２０４は、サンプルに含まれる所定の成分と反応する第１試薬を収容する試薬容器を複数保冷する。図２に示す例では、第１試薬庫２０４は、反応ディスク２０１と隣り合って配置されている。第１試薬庫２０４内には、第１試薬ラックが回転自在に設けられている。第１試薬ラックは、複数の試薬容器を円環状に配列して保持する。第１試薬ラックは、駆動機構４により回動される。尚、第１試薬庫２０４上の所定の位置には、第１試薬吸引位置が設定されている。試薬容器は、試薬ボトルと呼ばれてもよい。また、第１試薬庫２０４は、着脱自在な試薬カバーにより覆われてもよい。

第２試薬庫２０５は、第２試薬を収容する試薬容器を複数保冷する。図２に示す例では、第２試薬庫２０５は、反応ディスク２０１の内側に配置されている。第２試薬庫２０５内には、第２試薬ラックが回転自在に設けられている。第２試薬ラックは、複数の試薬容器を円環状に配列して保持する。第２試薬ラックは、駆動機構４により回動される。尚、第２試薬庫２０５上の所定の位置には、第２試薬吸引位置が設定されている。また、第２試薬庫２０５は、着脱自在な試薬カバーにより覆われてもよい。

次に、サンプル分注アーム２０６、サンプル分注プローブ２０７、第１試薬分注アーム２０８、第１試薬分注プローブ２０９、第２試薬分注アーム２１０、第２試薬分注プローブ２１１、電極ユニット２１２、測光ユニット２１３、洗浄ユニット２１４、攪拌ユニット２１５、およびプローブ洗浄ユニット２１６、２１６Ａ、２１６Ｂについて説明する。

サンプル分注アーム２０６は、反応ディスク２０１とサンプルディスク２０３との間に設けられている。サンプル分注アーム２０６は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、且つ水平方向に回動自在に設けられている。サンプル分注アーム２０６は、一端にサンプル分注プローブ２０７及び振動部２２０を保持する。詳しくは図３に示すように、サンプル分注アーム２０６は、先端部に振動部２２０が設けられている。

振動部２２０は、後述する洗浄部３１０でサンプル分注プローブ２０７を洗浄する際、当該サンプル分注プローブ２０７を共振振動させる。振動部２２０としては、例えば、偏心した重りを設けた回転軸を回転させるモータを備え、当該モータの駆動による回転軸の偏心回転によりサンプル分注プローブ２０７を共振振動させてもよい。また、振動部２２０としては、圧電素子を備え、当該圧電素子の駆動によりサンプル分注プローブ２０７を共振振動させてもよい。また、振動部２２０は、制御回路９により制御され、予め検査種別毎に設定された共振振動の実行可否に応じて駆動されてもよい。この場合、制御回路９は、入力された検査種別と設定内容とに基づいて、共振振動の実行を制御する。また、振動部２２０による共振振動としては、共振振動の周波数を一定とした振動でもよく、共振振動の周波数をスイープした振動でもよい。当該スイープする周波数の範囲としては、例えば、サンプル分注プローブ２０７の先端部を共振させるように１次モードの周波数を含むようにしてもよく、２次モード又は３次モードの周波数を含んでもよい。図４（ａ）に１次モードの振動を示し、図４（ｂ）に２次モードの振動を示し、図４（ｃ）に３次モードの振動を示す。但し、図４は振動を説明するために大幅に誇張して示した模式図であり、実際の振動幅が１ｍｍ以下であるため、図４（ａ）～（ｃ）の振動モードを見た目で識別することは困難である。但し、振動幅の数値は一例であり、これに限定されない。共振振動の周波数のスイープは、定在波をプローブの同一箇所に集中させない観点から、実行されることが好ましい。

サンプル分注プローブ２０７は、サンプル分注アーム２０６の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、サンプル吐出位置、洗浄位置、およびサンプル吸引位置がある。サンプル吐出位置は、例えば、サンプル分注プローブ２０７の回動軌道と、反応ディスク２０１に円環状に配列される反応容器２０１１の移動軌道との交点に相当する。洗浄位置は、例えば、プローブ洗浄ユニット２１６に設けられた洗浄部３１０の開口部に相当する。サンプル吸引位置は、例えば、サンプル分注プローブ２０７の回動軌道と、サンプルディスク２０３に円環状に配列されるサンプル容器の移動軌道との交点に相当する。

サンプル分注プローブ２０７は、駆動機構４によって駆動され、反応ディスク２０１に保持される反応容器２０１１の開口部の直上（サンプル吐出位置）、洗浄部３１０の開口部の直上（洗浄位置）、およびサンプルディスク２０３に保持されるサンプル容器の開口部の直上（サンプル吸引位置）においてそれぞれ上下方向に移動する。

また、サンプル分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、サンプル吸引位置の直下に位置するサンプル容器からサンプルを吸引する。また、サンプル分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、吸引したサンプルを、サンプル吐出位置の直下に位置する反応容器２０１１へ吐出する。さらに、サンプル分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、洗浄位置の直下に位置する洗浄部３１０において洗浄される。サンプル分注プローブ２０７は、サンプルの吸引および吐出の一連の分注動作、およびサンプルの吐出後に行われる洗浄動作を、例えば、１サイクルの間に実施する。

第１試薬分注アーム２０８は、例えば、反応ディスク２０１と第１試薬庫２０４との間に設けられている。第１試薬分注アーム２０８は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、且つ水平方向に回動自在に設けられている。第１試薬分注アーム２０８は、一端に第１試薬分注プローブ２０９を保持する。詳しくは図５に示すように、第１試薬分注アーム２０８は、先端部に振動部２２０Ａが設けられている。

振動部２２０Ａは、後述する洗浄部３１０で第１試薬分注プローブ２０９を洗浄する際、当該第１試薬分注プローブ２０９を共振振動させる。振動部２２０Ａとしては、例えば、偏心した重りを設けた回転軸を回転させるモータを備え、当該モータの駆動による回転軸の偏心回転により第１試薬分注プローブ２０９を共振振動させてもよい。また、振動部２２０Ａとしては、圧電素子を備え、当該圧電素子の駆動により第１試薬分注プローブ２０９を共振振動させてもよい。また、振動部２２０Ａは、制御回路９により制御され、予め検査種別毎に設定された共振振動の実行可否に応じて駆動されてもよい。この場合、制御回路９は、入力された検査種別と設定内容とに基づいて、共振振動の実行を制御する。また、振動部２２０Ａによる共振振動としては、共振振動の周波数を一定とした振動でもよく、共振振動の周波数をスイープした振動でもよい。当該スイープする周波数の範囲としては、例えば、第１試薬分注プローブ２０９の先端部を共振させるように１次モードの周波数を含むようにしてもよく、２次モード又は３次モードの周波数を含んでもよい。図６（ａ）に１次モードの振動を示し、図６（ｂ）に２次モードの振動を示し、図６（ｃ）に３次モードの振動を示す。但し、図６は振動を説明するために大幅に誇張して示した模式図であり、実際の振幅の例としては第１試薬分注プローブ２０９の外径の０．５～２倍程度であるため、人間の見た目では図６（ａ）～（ｃ）の振動モードの識別は困難である。なお、外径の０．５倍は固定端や節の振幅であり、外径の２倍程度の振幅は自由端や腹の振幅である。振幅の数値は一例であり、これに限定されない。共振振動の周波数のスイープは、定在波をプローブの同一箇所に集中させない観点から、実行されることが好ましい。

第１試薬分注プローブ２０９は、第１試薬分注アーム２０８の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、第１試薬吸引位置、洗浄位置、および第１試薬吐出位置がある。第１試薬吸引位置は、例えば、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道と、第１試薬ラックに円環状に配列される試薬容器の開口部の移動軌道との交点に相当する。洗浄位置は、例えば、プローブ洗浄ユニット２１６Ａに設けられた洗浄部３１０の開口部に相当する。また、第１試薬吐出位置は、例えば、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道と、反応ディスク２０１に円環状に配列される反応容器２０１１の移動軌道との交点に相当する。

第１試薬分注プローブ２０９は、駆動機構４によって駆動され、第１試薬ラックに保持される試薬容器の開口部の直上（第１試薬吸引位置）、または反応ディスク２０１に保持される反応容器２０１１の開口部の直上（第１試薬吐出位置）において上下方向に移動する。

また、第１試薬分注プローブ２０９は、制御回路９の制御に従い、第１試薬吸引位置の直下に位置する試薬容器から第１試薬を吸引する。また、第１試薬分注プローブ２０９は、制御回路９の制御に従い、吸引した第１試薬を、第１試薬吐出位置の直下に位置する反応容器２０１１へ吐出する。さらに、第１試薬分注プローブ２０９は、制御回路９の制御に従い、洗浄位置の直下に位置する洗浄部３１０において洗浄される。第１試薬分注プローブ２０９は、吸引および吐出の一連の分注動作、及び吐出後の洗浄動作を、例えば、１サイクルの間に１回実施する。尚、これら一連の分注動作は、第１試薬分注プローブ２０９が第２試薬を分注する場合も同様である。

第２試薬分注アーム２１０は、例えば、反応ディスク２０１と第２試薬庫２０５との間に設けられている。第２試薬分注アーム２１０は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、且つ水平方向に回動自在に設けられている。第２試薬分注アーム２１０は、一端に第２試薬分注プローブ２１１を保持する。詳しくは図５に示すように、第２試薬分注アーム２１０は、先端部に振動部２２０Ｂが設けられている。この振動部２２０Ｂは、前述した振動部２２０Ａと同様のものであり、ここでは重複した説明を省略する。すなわち、振動部２２０Ｂの説明は、図５及び図６を用いた説明中、振動部２２０Ａ及び第１試薬分注プローブ２０９に代えて、振動部２２０Ｂ及び第２試薬分注プローブ２１１を用いることにより、図５及び図６を用いた説明から読み替え可能である。

第２試薬分注プローブ２１１は、第２試薬分注アーム２１０の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、第２試薬吸引位置、洗浄位置、および第２試薬吐出位置がある。第２試薬吸引位置は、例えば第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道と、第２試薬ラックに円環状に配列される試薬容器の開口部の移動軌道との交点に相当する。洗浄位置は、例えば、プローブ洗浄ユニット２１６Ｂに設けられた洗浄部３１０の開口部に相当する。また、第２試薬吐出位置は、例えば、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道と、反応ディスク２０１に円環状に配列される反応容器２０１１の移動軌道の交点に相当する。

第２試薬分注プローブ２１１は、駆動機構４によって駆動され、第２試薬ラックに保持される試薬容器の開口部の直上（第２試薬吸引位置）、または反応ディスク２０１に保持される反応容器２０１１の開口部の直上（第２試薬吐出位置）において上下方向に移動する。

また、第２試薬分注プローブ２１１は、制御回路９の制御に従い、第２試薬吸引位置の直下に位置する試薬容器から第２試薬を吸引する。また、第２試薬分注プローブ２１１は、制御回路９の制御に従い、吸引した第２試薬を、第２試薬吐出位置の直下に位置する反応容器２０１１へ吐出する。さらに、第２試薬分注プローブ２１１は、制御回路９の制御に従い、洗浄位置の直下に位置する洗浄部３１０において洗浄される。第２試薬分注プローブ２１１は、吸引および吐出の一連の分注動作、及び吐出後の洗浄動作を、例えば、１サイクルの間に１回実施する。

電極ユニット２１２は、反応ディスク２０１の外周近傍に設けられている。電極ユニット２１２は、反応容器２０１１内に吐出されたサンプルと試薬との混合液の電解質濃度を測定する。電極ユニット２１２は、イオン選択性電極（Ｉｏｎ Ｓｅｌｅｃｔｉｖｅ Ｅｌｅｃｔｒｏｄｅ：ＩＳＥ）および参照電極を有する。電極ユニット２１２は、制御回路９の制御に従い、測定対象のイオンを含む混合液について、ＩＳＥと参照電極との間の電位を測定する。電極ユニット２１２は、電位を測定したデータを標準データまたは被検データとして解析回路３へと出力する。

測光ユニット２１３は、反応ディスク２０１の外周近傍に設けられている。測光ユニット２１３は、反応容器２０１１内に吐出されたサンプルと試薬との混合液における所定の成分を光学的に測定する。測光ユニット２１３は、光源および光検出器を有する。測光ユニット２１３は、制御回路９の制御に従い、光源から光を照射する。照射された光は、反応容器２０１１の第１側壁から入射され、第１側壁と対向する第２側壁から出射される。測光ユニット２１３は、反応容器２０１１から出射された光を、光検出器により検出する。

具体的には、例えば、光検出器は、反応容器２０１１内の標準試料（標準サンプル）と試薬との混合液を通過した光を検出し、検出した光の強度に基づき、吸光度などにより表される標準データを生成する。また、光検出器は、反応容器２０１１内の被検試料（被検サンプル）と試薬との混合液を通過した光を検出し、検出した光の強度に基づき、吸光度などにより表される被検データを生成する。測光ユニット２１３は、生成した標準データおよび被検データを解析回路３へ出力する。

洗浄ユニット２１４は、反応ディスク２０１の外周近傍に設けられている。洗浄ユニット２１４は、電極ユニット２１２または測光ユニット２１３において混合液の測定が終了した反応容器２０１１の内部を洗浄する。この洗浄ユニット２１４は、反応容器２０１１を洗浄するための洗浄液を供給する洗浄液供給ポンプ（図示せず）を備えている。また、洗浄ユニット２１４は、洗浄液供給ポンプから供給された洗浄液の反応容器２０１１内への吐出や、反応容器２０１１内の混合液、及び洗浄液の各液体の吸引を行う洗浄ノズルを備えている。

攪拌ユニット２１５は、反応ディスク２０１の外周近傍に設けられている。攪拌ユニット２１５は、攪拌子を有し、この攪拌子により、反応ディスク２０１上の攪拌位置に位置する反応容器２０１１内に収容されているサンプルと第１試薬との混合液を攪拌する。または、攪拌ユニット２１５は、反応容器２０１１内に収容されているサンプル、第１試薬、および第２試薬の混合液を攪拌する。

プローブ洗浄ユニット２１６は、反応ディスク２０１とサンプルディスク２０３との間に設けられている。プローブ洗浄ユニット２１６は、サンプルを吐出した後のサンプル分注プローブ２０７を洗浄する。

プローブ洗浄ユニット２１６Ａは、反応ディスク２０１と第１試薬庫２０４との間に設けられている。プローブ洗浄ユニット２１６Ａは、第１試薬を吐出した後の第１試薬分注プローブ２０９を洗浄する。

プローブ洗浄ユニット２１６Ｂは、反応ディスク２０１と第２試薬庫２０５との間に設けられている。プローブ洗浄ユニット２１６Ｂは、第２試薬を吐出した後の第２試薬分注プローブ２１１を洗浄する。

続いて、プローブ洗浄ユニット２１６、２１６Ａ、２１６Ｂの具体的な構成について、図７を用いて説明する。

図７は、図２のプローブ洗浄ユニット２１６、２１６Ａ、２１６Ｂの機能構成を示すブロック図である。図７に示されるプローブ洗浄ユニット２１６、２１６Ａ、２１６Ｂは、洗浄部３１０および純水供給部３４０を備える。なお、プローブ洗浄ユニット２１６、２１６Ａ、２１６Ｂは、互いに略同一構成であるので、ここでは、プローブ洗浄ユニット２１６を例に挙げて述べる。

洗浄部３１０は、サンプルを吐出した直後のサンプル分注プローブ２０７を洗浄する。洗浄部３１０は、例えば、純水を用いたシャワーによりサンプル分注プローブ２０７の表面に付着した汚れを洗浄してもよく、水が貯留された洗浄プールに浸水したサンプル分注プローブ２０７の表面に付着した汚れを洗浄してもよく、その両方としてもよい。なお、シャワーによる洗浄は、洗浄プールへの浸水前のサンプル分注プローブ２０７に施してもよく、洗浄プールでの洗浄後のサンプル分注プローブ２０７に施してもよく、その両方としてもよい。洗浄部３１０で用いられる純水は、例えば、純水供給部３４０からチューブを介して供給される。

純水供給部３４０は、洗浄部３１０に純水を供給する。純水供給部３４０は、例えば、ポンプおよび電磁バルブを用いて純水の供給を制御する。純水供給部３４０は、制御回路９の制御に従い、洗浄部３１０で用いられる純水の供給を制御する。尚、純水供給部３４０は、ボトルに注入された純水を用いてもよいし、水から不純物を除去することによって純水を生成してもよい。

次に、洗浄部３１０の具体的な構成について、図８を用いて説明する。なお、プローブ洗浄ユニット２１６、２１６Ａ、２１６Ｂに設けられた洗浄部３１０は、互いに略同一構成であるので、ここでは、プローブ洗浄ユニット２１６に設けられた洗浄部３１０を例に挙げて述べる。

図８は、図７の洗浄部３１０の構成を例示する断面図である。図８に示される洗浄部３１０は、上部に開口部を有し、内部に空間（以降では、空間の上方をシャワー洗浄空間３１１ａと称し、空間の下方を洗浄プール３１１ｂと称する）を有し、下部に排出口としての廃液バルブ３１４を有する。

洗浄部３１０には、シャワー洗浄空間３１１ａを挟んで、噴射口３１２ａおよび噴射口３１２ｂが対向して形成されている。噴射口３１２ａおよび噴射口３１２ｂは、シャワー部としてのシャワー用ノズル３１３ａおよびシャワー用ノズル３１３ｂのそれぞれの内部貫通孔の一方の開口である。廃液バルブ３１４には、廃液パイプ３１５が接続されている。また、洗浄部３１０には、洗浄プール３１１ｂが形成される側面において、流入口３１６が形成されている。

シャワー用ノズル３１３ａ、シャワー用ノズル３１３ｂ及び流入口３１６には、図示していないチューブが個別に接続され、純水供給部３４０から個別に純水が供給される。

次に、以上のように構成された第１の実施形態に係る自動分析装置１におけるプローブの洗浄動作について制御回路９の処理手順に従って説明する。なお、以下の説明は、サンプル分注プローブ２０７、第１試薬分注プローブ２０９及び第２試薬分注プローブ２１１のうち、サンプル分注プローブ２０７の洗浄動作を代表例に挙げて述べる。すなわち、第１試薬分注プローブ２０９及び第２試薬分注プローブ２１１の洗浄動作については、重複した記載を省略するが、サンプル分注プローブ２０７の洗浄動作と同様に実施される。但し、第１試薬分注プローブ２０９及び第２試薬分注プローブ２１１の洗浄動作は、必須ではなく、省略してもよい。すなわち、洗浄精度が所定の精度を満たす場合、第１試薬分注プローブ２０９及び第２試薬分注プローブ２１１の洗浄処理を省略してもよい。これらのことは、以下の各実施形態でも同様である。

図９は、第１の実施形態におけるサンプル分注プローブの洗浄動作の一例を説明するためのフローチャートである。

なお、以降では、サンプル分注プローブ２０７などの動作において、駆動機構４が各部を駆動させる際の「駆動機構４により」という文言、或いは「駆動機構４によって駆動され」などの文言の記載を省略する。また、特に記載しない限り、いずれの動作も、制御回路９が各部を制御するものとする。また、制御回路９は、洗浄動作に先立って、流入口３１６をＯＮ状態にして流入口３１６から純水を洗浄部３１０に流入させ、プローブの先端部を浸すための水を溜める洗浄プール３１１ｂを形成するものとする。

（ステップＳＴ１０）
制御回路９は、サンプル分注プローブ２０７を用いて反応容器２０１１にサンプルを吐出させる。具体的には、サンプル分注プローブ２０７は、サンプル吐出位置の直下にある反応容器２０１１にサンプルを吐出する。サンプルを吐出した後、サンプル分注プローブ２０７は、回動軌道に沿って、洗浄位置まで回動する。これにより、サンプル分注プローブ２０７は、洗浄プール３１１ｂを有するプローブ洗浄ユニット２１６の上方に配置される。

（ステップＳＴ２０）
制御回路９は、洗浄位置に配置されたサンプル分注プローブ２０７の下降を開始させる。この下降を契機として、制御回路９は、洗浄部３１０のシャワーをＯＮ状態にしてもよい。シャワーがＯＮ状態となる場合、シャワー用ノズル３１３ａおよびシャワー用ノズル３１３ｂは、純水を噴射する。但し、この例では、シャワーをオン状態としない。

（ステップＳＴ３０）
制御回路９は、サンプル分注プローブ２０７を下降させ続ける。なお、ステップＳＴ２０でシャワーをＯＮ状態にした場合には、サンプル分注プローブ２０７が噴射口３１２ａおよび噴射口３１２ｂの位置に到達すると、純水がサンプル分注プローブ２０７の表面に付着した汚れを洗浄する。洗浄後の廃液は、洗浄プール３１１ｂに貯留される。但し、この例では、シャワーをオン状態としない。

制御回路９は、サンプル分注プローブ２０７の先端部が洗浄プール３１１ｂに浸水すると、下降を停止させる。制御回路９は、例えば、サンプル分注プローブ２０７の先端が所定の位置（例えば、洗浄プール３１１ｂの中央付近）に到達したことを契機として、サンプル分注プローブ２０７の下降を停止させる。なお、浸水する「先端部」は先端を含む一定領域である。所定の位置に到達する「先端」は、「先端部」の中の自由端である。

（ステップＳＴ４０）
制御回路９は、洗浄部３１０でサンプル分注プローブ２０７を洗浄する際、振動部２２０でサンプル分注プローブ２０７を共振振動させる。具体的には、制御回路９は、振動部２２０を制御し、振動部２２０からサンプル分注プローブ２０７を加振して洗浄プール３１１ｂ内で洗浄する。洗浄プール３１１ｂ内での共振振動により、サンプル分注プローブ２０７の先端部から汚れが除去される。このとき、制御回路９は、振動部２２０に対して共振振動の周波数を一定とした振動を行わせてもよく、共振振動の周波数をスイープした振動を行わせてもよい。いずれにしても、洗浄プール３１１ｂ内での共振振動によれば、仮に粘着質の汚れであっても、サンプル分注プローブ２０７から除去することができる。また、この共振振動は、所定時間だけ実行される。

（ステップＳＴ５０）
制御回路９は、サンプル分注プローブ２０７を上昇させる。制御回路９は、例えば、所定の時間、共振振動させたことを契機として、サンプル分注プローブ２０７の上昇を開始させる。このとき、制御回路９は、廃液バルブ３１４を開状態にして、洗浄後の廃液を廃液パイプ３１５により図示していない廃液ボトルへ貯留させる。また、制御回路９は、洗浄部３１０のシャワーをＯＮ状態にする。これにより、シャワー用ノズル３１３ａおよびシャワー用ノズル３１３ｂが純水を噴射し、純水がサンプル分注プローブ２０７の表面に残った汚れを洗浄する。但し、シャワーをＯＮ状態にすることは、必須ではなく、省略してもよい。いずれにしても、制御回路９は、所定位置までサンプル分注プローブ２０７を上昇させ続ける。

（ステップＳＴ６０）
制御回路９は、サンプル分注プローブ２０７の上昇を停止させ、洗浄部３１０のシャワーをＯＦＦ状態にする。制御回路９は、例えば、サンプル分注プローブ２０７の上昇が停止したことを契機として、シャワーをＯＦＦ状態とする。

以上により、サンプル分注プローブ２０７の洗浄動作が終了する。

上述したように第１の実施形態によれば、試薬またはサンプルを分注するプローブと、プローブを洗浄する洗浄部と、プローブを共振振動させる振動部とを備えている。また、洗浄部で当該プローブを洗浄する際、振動部で当該プローブを共振振動させる。従って、プローブを共振振動させることで生じる高い洗浄力によりプローブの汚れを除去するので、検体間キャリーオーバーの抑制や微量分注時の精度を確保することができる。

また、第１の実施形態によれば、試薬またはサンプルを分注するプローブと、プローブを洗浄する洗浄部と、プローブを共振振動させる振動部と、振動部による共振振動の周波数をスイープするように制御する制御部とを備えている。また、洗浄部で当該プローブを洗浄する際、制御部に制御された振動部で当該プローブを共振振動させる。従って、共振振動の周波数をスイープしながら当該プローブを共振振動させることで生じる高い洗浄力によりプローブの汚れを除去するので、検体間キャリーオーバーの抑制や微量分注時の精度を確保することができる。

また、第１の実施形態によれば、当該スイープする周波数の範囲は、プローブの先端部を共振振動させるように１次モードの周波数を含んでもよい。この場合、前述した作用効果に加え、プローブの先端が大きく振動するので、より高い洗浄力で汚れを除去することが期待できる。

また、第１の実施形態によれば、プローブを移動可能に保持する分注アームを更に備え、振動部は、分注アームの先端部に設けられていてもよい。この場合、前述した作用効果に加え、後述する固定部を有する第２の実施形態よりも、振動部を容易に設けることができる。

また、第１の実施形態によれば、予め検査種別毎に、振動部による共振振動の実行可否を設定し、入力された検査種別と、当該設定内容とに基づいて、共振振動の実行を制御してもよい。この場合、前述した作用効果に加え、洗浄精度が所定の精度を満たす検査種別によっては共振振動の実行を省略できるので、全ての検査で共振振動を実施する場合に比べ、共振振動によるプローブや分注アームへのダメージを低減させることができる。

また、第１の実施形態によれば、洗浄部は、プローブの先端部を浸すための水を溜める洗浄プールを有してもよい。この場合、前述した作用効果に加え、洗浄プールに先端部を浸した状態でプローブが共振振動されるので、例えば、粘着質の汚れであっても、プローブから除去することができる。

また、第１の実施形態によれば、洗浄部は、プローブに水を噴射するシャワー部を備えてもよい。この場合、前述した作用効果に加え、プローブの先端部を洗浄プールに浸す前、及び／又は、浸した後にプローブに水が噴射されるので、汚れの再付着を防ぎつつ、プローブを洗浄することができる。また、第１の実施形態において、洗浄プール内での共振振動に加え、プローブの先端部を洗浄プールに浸す前、及び／又は、浸した後にプローブに水を噴射した状態でプローブを共振振動させてもよい。この場合、前述した効果に加え、より一層、高い洗浄力で汚れを除去することを期待できる。また、第１の実施形態は、洗浄プールを省略した洗浄部に変形し、シャワー部からプローブに水を噴射した状態でプローブを共振振動させてもよい。この場合、前述した効果に加え、洗浄部から洗浄プールを省略することができる。また、プローブに水を噴射した状態でプローブを共振振動させる場合には、洗浄部の外部への水の飛散を防止するカバーを洗浄部の開口部に設けてもよい。この場合、プローブの共振振動による水の飛散を防止することができる。

また、第１の実施形態によれば、振動部は、偏心した重りを設けた回転軸を回転させるモータを備え、モータの駆動による回転軸の偏心回転によりプローブを共振振動させてもよい。この場合、前述した作用効果に加え、比較的、安価な構成で振動部を実現することができる。

また、第１の実施形態によれば、振動部は、圧電素子を備え、圧電素子の駆動によりプローブを共振振動させてもよい。この場合、前述した作用効果に加え、比較的、高い精度で周波数に応じた共振振動を行う振動部を実現することができる。

いずれにしても、第１の実施形態によれば、高い洗浄力により検体間キャリーオーバーの抑制や微量分注時の精度を確保することができる。例えば、従来の自動分析装置では、０．１ｐｐｍまでのプローブ洗浄が限界である。これに対し、第１の実施形態に係る自動分析装置では、０．０１ｐｐｍまでのプローブ洗浄を期待することができる。

（第２の実施形態）
第１の実施形態では、分注アームに設けた振動部によりプローブを共振振動させる例について説明した。他方、第２の実施形態では、分注アームとは別体の固定ユニット（固定部）に設けた振動部によりプローブを共振振動させる例について説明する。

図１０は、第２の実施形態に係る自動分析装置における分析機構の構成を例示する図であり、図２と略同一部分には同一符号を付してその詳しい説明を省略し、主に、異なる部分について述べる。

図１０中、プローブ洗浄ユニット２１６、２１６Ａ、２１６Ｂの上方に固定ユニット２３０、２３０Ａ、２３０Ｂが設けられている。

固定ユニット２３０は、図１１に示すように、サンプル分注プローブ２０７の先端部が洗浄部３１０に挿入されると、サンプル分注プローブ２０７の中間部を着脱自在に固定する。固定ユニット２３０は、例えば洗濯ばさみのように、サンプル分注プローブ２０７の中間部を挟むことにより固定してもよい。また、固定ユニット２３０は、例えば、プローブ洗浄ユニット２１６の上方に常に配置されてもよく、あるいは、図示しない旋回アームに保持され、洗浄動作のときのみプローブ洗浄ユニット２１６の上方に配置されてもよい。

これに伴い、振動部２２０は、固定ユニット２３０の下方に設けられ、中間部が固定されたサンプル分注プローブ２０７の先端部側を共振振動させる。ここで、サンプル分注プローブ２０７のうち、当該サンプル分注プローブ２０７の先端と振動部２２０の間は、共振振動する範囲Ｒｖとなる。また、サンプル分注プローブ２０７のうち、固定ユニット２３０に固定された中間部とサンプル分注アーム２０６との間は、共振振動しないか又は共振振動が抑制された範囲Ｒｎｖとなる。

固定ユニット２３０Ａ、２３０Ｂについても同様である。なお、固定ユニット２３０Ａ、２３０Ｂは、互いに同一構成のため、ここでは、固定ユニット２３０Ａを代表例に挙げて説明する。以下の説明は、固定ユニット２３０Ａ、第１試薬分注アーム２０８、第１試薬分注プローブ２０９及びプローブ洗浄ユニット２１６Ａに代えて、固定ユニット２３０Ｂ、第２試薬分注アーム２１０、第２試薬分注プローブ２１１及びプローブ洗浄ユニット２１６Ｂを用い、固定ユニット２３０Ｂの説明に読み替え可能である。

固定ユニット２３０Ａは、図１２に示すように、第１試薬分注プローブ２０９の先端部が洗浄部３１０に挿入されると、第１試薬分注プローブ２０９の中間部を着脱自在に固定する。固定ユニット２３０Ａは、例えば洗濯ばさみのように、第１試薬分注プローブ２０９の中間部を挟むことにより固定してもよい。また、固定ユニット２３０Ａは、例えば、プローブ洗浄ユニット２１６Ａの上方に常に配置されてもよく、あるいは、図示しない旋回アームに保持され、洗浄動作のときのみプローブ洗浄ユニット２１６Ａの上方に配置されてもよい。

これに伴い、振動部２２０は、固定ユニット２３０Ａの下方に設けられ、中間部が固定された第１試薬分注プローブ２０９の先端部側を共振振動させる。ここで、第１試薬分注プローブ２０９のうち、当該第１試薬分注プローブ２０９の先端と振動部２２０の間は、共振振動する範囲Ｒｖとなる。また、第１試薬分注プローブ２０９のうち、固定ユニット２３０Ａに固定された中間部と第１試薬分注アーム２０８との間は、共振振動しないか又は共振振動が抑制された範囲Ｒｎｖとなる。

他の構成は、第１の実施形態と同様である。

次に、以上のように構成された第２の実施形態に係る自動分析装置１におけるプローブの洗浄動作について制御回路９の処理手順に従って説明する。なお、以下の説明は、前述同様に、サンプル分注プローブ２０７の洗浄動作を代表例に挙げて述べる。

図１３は、第２の実施形態におけるサンプル分注プローブの洗浄動作の一例を説明するためのフローチャートである。図１３中、破線で囲ったステップＳＴ４１ａ～ＳＴ４１ｃの処理が、主に、第１の実施形態と異なる部分である。

いま、ステップＳＴ１０～ＳＴ３０が前述同様に実行され、サンプル分注プローブ２０７の先端部が洗浄プール３１１ｂに浸水した状態で、サンプル分注プローブ２０７の下降が停止したとする。

（ステップＳＴ４１ａ）
制御回路９は、例えば、サンプル分注プローブ２０７の先端が所定の位置（例えば、洗浄プール３１１ｂの中央付近）に到達したことを契機として、固定ユニット２３０にサンプル分注プローブ２０７の中間部をクリップさせる。これにより、サンプル分注プローブ２０７の中間部は固定される。

（ステップＳＴ４２ａ）
制御回路９は、洗浄部３１０でサンプル分注プローブ２０７を洗浄する際、振動部２２０でサンプル分注プローブ２０７の先端部側を共振振動させる。具体的には、制御回路９は、固定ユニット２３０の下方に設けた振動部２２０を制御し、振動部２２０からサンプル分注プローブ２０７の下方側を加振して洗浄プール３１１ｂ内で洗浄する。洗浄プール３１１ｂ内での共振振動により、サンプル分注プローブ２０７の先端部から汚れが除去される。このとき、制御回路９は、振動部２２０に対して共振振動の周波数を一定とした振動を行わせてもよく、共振振動の周波数をスイープした振動を行わせてもよい。いずれにしても、洗浄プール３１１ｂ内での共振振動によれば、仮に粘着質の汚れであっても、サンプル分注プローブ２０７から除去することができる。また、この共振振動は、所定時間だけ実行される。

（ステップＳＴ４３ａ）
制御回路９は、例えば、所定の時間、共振振動させたことを契機として、振動部２２０による共振振動を停止させた後、サンプル分注プローブ２０７のクリップを解除する。これにより、サンプル分注プローブ２０７は、固定ユニット２３０から開放される。

（ステップＳＴ５０）
制御回路９は、サンプル分注プローブ２０７を上昇させる。制御回路９は、例えば、固定ユニット２３０からサンプル分注プローブ２０７を開放させたことを契機として、サンプル分注プローブ２０７の上昇を開始させる。このとき、制御回路９は、廃液バルブ３１４を開状態にして、洗浄後の廃液を廃液パイプ３１５により図示していない廃液ボトルへ貯留させる。また、制御回路９は、洗浄部３１０のシャワーをＯＮ状態にする。これにより、シャワー用ノズル３１３ａおよびシャワー用ノズル３１３ｂが純水を噴射し、純水がサンプル分注プローブ２０７の表面に残った汚れを洗浄する。但し、シャワーをＯＮ状態にすることは、必須ではなく、省略してもよい。いずれにしても、制御回路９は、所定位置までサンプル分注プローブ２０７を上昇させ続ける。

（ステップＳＴ６０）
以下、前述同様にステップＳＴ６０が実行され、サンプル分注プローブ２０７の洗浄動作が終了する。

上述したように第２の実施形態によれば、プローブの先端部が洗浄部に挿入されると、プローブの中間部を着脱自在に固定する固定部を備えている。振動部は、固定部の下方に設けられ、中間部が固定された当該プローブの先端部側を共振振動させる。従って、プローブの一部（先端部側）を共振振動させることで生じる高い洗浄力によりプローブの汚れを除去するので、検体間キャリーオーバーの抑制や微量分注時の精度を確保することができる。

また、第２の実施形態によれば、第１の実施形態の作用効果に加え、分注アームに対して共振振動が伝搬しないように固定ユニットにより共振振動を抑制できるので、共振振動による分注アームのダメージを抑制することができる。

第１及び第２の実施形態では、制御回路９は、シャワー及び洗浄プールの両方を用いた洗浄処理を実施するがこれに限らない。例えば、洗浄精度が所定の精度を満たす場合、制御回路９は、シャワー又は洗浄プールを省略した洗浄処理を実施してもよい。

同様に、第１及び第２の実施形態では、制御回路９は、プローブの共振振動を用いた洗浄処理を実施するがこれに限らない。例えば、様々な検査種別のうち、洗浄精度が所定の精度を満たす検査種別によっては、制御回路９は、共振振動を実行せず、シャワーを用いた洗浄処理を実施してもよい。

以上説明した少なくとも一つの実施形態によれば、高い洗浄力により検体間キャリーオーバーの抑制や微量分注時の精度を確保することができる。

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、実施形態同士の組み合わせを行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１ 自動分析装置
２０１ 反応ディスク
２０１１ 反応容器
２０２ 恒温部
２０３ サンプルディスク
２０４ 第１試薬庫
２０５ 第２試薬庫
２０６ サンプル分注アーム
２０７ サンプル分注プローブ
２０８ 第１試薬分注アーム
２０９ 第１試薬分注プローブ
２１０ 第２試薬分注アーム
２１１ 第２試薬分注プローブ
２１２ 電極ユニット
２１３ 測光ユニット
２１４ 洗浄ユニット
２１５ 攪拌ユニット
２１６，２１６Ａ，２１６Ｂ プローブ洗浄ユニット
２１６１ 筐体
２２０ 振動部
２３０，２３０Ａ，２３０Ｂ 固定ユニット
３１０ 洗浄部
３１１ａ シャワー洗浄空間
３１１ｂ 洗浄プール
３１２ａ，３１２ｂ 噴射口
３１３ａ，３１３ｂ シャワー用ノズル
３１４ 廃液バルブ
３１５ 廃液パイプ
３１６ 流入口
３４０ 純水供給部
Ｒｎｖ 無振動範囲
Ｒｖ 振動範囲

Claims (10)

1. 試薬またはサンプルを分注するプローブと、
   前記プローブを洗浄する洗浄部と、
   前記プローブを共振振動させる振動部と
   を備え、
   前記洗浄部で前記プローブを洗浄する際、前記振動部で前記プローブを共振振動させる、自動分析装置。
2. 試薬またはサンプルを分注するプローブと、
   前記プローブを洗浄する洗浄部と、
   前記プローブを共振振動させる振動部と、
   前記振動部による共振振動の周波数をスイープするように制御する制御部と
   を備え、
   前記洗浄部で前記プローブを洗浄する際、前記制御部に制御された前記振動部で前記プローブを共振振動させる、自動分析装置。
3. 前記スイープする周波数の範囲は、前記プローブの先端部を共振振動させるように１次モードの周波数を含む、請求項２に記載の自動分析装置。
4. 前記プローブを移動可能に保持する分注アーム
   を更に備え、
   前記振動部は、前記分注アームの先端部に設けられた、
   請求項１乃至３のいずれか一項に記載の自動分析装置。
5. 前記プローブの先端部が前記洗浄部に挿入されると、前記プローブの中間部を着脱自在に固定する固定部と
   を更に備え、
   前記振動部は、前記固定部の下方に設けられ、前記中間部が固定された前記プローブの先端部側を共振振動させる、
   請求項１乃至３のいずれか一項に記載の自動分析装置。
6. 予め検査種別毎に、前記振動部による共振振動の実行可否を設定する設定部と、
   入力された検査種別と前記設定部の設定内容とに基づいて、前記共振振動の実行を制御する実行制御部と
   を更に備えた請求項１乃至５のいずれか一項に記載の自動分析装置。
7. 前記洗浄部は、前記プローブの先端部を浸すための水を溜める洗浄プールを有する、
   請求項１乃至６のいずれか一項に記載の自動分析装置。
8. 前記洗浄部は、前記プローブに水を噴射するシャワー部を備えた、
   請求項１乃至７のいずれか一項に記載の自動分析装置。
9. 前記振動部は、偏心した重りを設けた回転軸を回転させるモータを備え、前記モータの駆動による前記回転軸の偏心回転により前記プローブを共振振動させる、
   請求項１乃至８のいずれか一項に記載の自動分析装置。
10. 前記振動部は、圧電素子を備え、前記圧電素子の駆動により前記プローブを共振振動させる、
    請求項１乃至８のいずれか一項に記載の自動分析装置。

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