JP2023000339A - 計測システム、計測方法、計測用プログラム - Google Patents
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Abstract
Description
前記測定治具を接触感知装置に対して前記複数のピンの前記長手方向に沿って移動させる駆動機構と、
を備え、
前記測定治具の前記複数のピンを、測定対象となるワークに押し当てて、前記ワークの形状を各ピンの変位として転写した後、
前記駆動機構により、前記測定治具の各ピンが前記接触感知装置に接触するまで前記測定治具を移動させて、前記ワークの表面形状を計測するように構成されている。
前記測定治具を接触感知装置に対して前記複数のピンの前記長手方向に沿って移動させる駆動機構と、
を備えた計測システムを用いた計測方法であって、
前記測定治具の前記複数のピンを、測定対象となるワークに押し当てて、前記ワークの形状を各ピンの変位として転写し、
前記駆動機構により、前記測定治具の各ピンが前記接触感知装置に接触するまで前記測定治具を移動させて、前記ワークの表面形状を計測する。
前記測定治具を接触感知装置に対して前記複数のピンの前記長手方向に沿って移動させる駆動機構と、
を備えた計測システムに使用される計測用プログラムであって、
前記駆動機構により、前記測定治具の前記複数のピンを、測定対象となるワークに押し当てて、前記ワークの形状を各ピンの変位として転写する処理と、
前記駆動機構により、前記測定治具の各ピンが前記接触感知装置に接触するまで前記測定治具を移動させて、前記ワークの表面形状を計測する処理と、をコンピュータに実行させる。
図1~図3を参照して、本開示の計測システムの構成を説明する。
図1及び図2は、測定治具の構成を示す概略上面図及び概略側面図である。図3は、ワーク計測装置の構成を示す概略図である。測定治具10は、測定対象となるワークの表面の立体的形状を複数のピンで転写することで、一括して測定するのに使用され得る。ワーク計測装置20は、測定治具10を、転写された複数のピンの変位量を数値化するために使用され得る。
図1は、測定治具10の構成を示す概略上面図である。図2は、測定治具の構成を示す概略側面図である。
図1及び図2に示すように、測定治具10は、格子状に配列された複数のピン1a、1b、1c・・・1nと、これらの複数のピン1a・・・1nを保持する保持機構12を備える。各ピンは、上端および下端を揃えて所定の方向(z軸)に沿って延びている。ピンの先端は、図1に示すように、略円状であり得る。各ピンとしては、例えば、直径1mm~3mm、長さ5cm~10cmの金属製のピンを用いることができるが、これに限定されない。ピンの材質は、プラスチック製であってもよいし、スチール製であってもよい。なお、格子状に配列された複数のピンの先端の直径および各ピンの間隔は、要求される測定精度にしたがって、任意に設定することができる。各ピンは、図2に示すように、測定前の初期においては、その上端および下端において、他のピンと揃えられている。なお、ピンは、測定ピン又はプローブピンなどと呼ばれる場合がある。
ワーク計測装置20は、接触感知装置21と、接触感知装置21と電気的に接続された演算装置22と、を備える。接触感知装置21は、ワーク形状を転写後の測定治具10の各ピンを接触させるためのシート状のセンサであり得る。そのため、接触感知装置21は、測定治具10の各ピンが接触できるのに十分な大きさを有する。詳細は後述するが、ワーク計測装置20は、ワーク形状を転写後の測定治具10の各ピンの変位量を数値化することができる。演算装置22は、メモリ、プロセッサ、ディスプレイなどを有する汎用コンピュータ又はタブレットなどであり得る。
計測対象のワーク30に、測定治具10を押し当てて、ワーク形状を測定(転写)する(ステップS11)。この場合、前工程において、ワーク30は加工液(例えば、油又は水)内で表面加工が行われたものとする。ワーク30は加工液を排出することなく、そのまま加工液内の設置台31に置かれている。そのため、測定治具10の各ピンの一端の一部を、加工液内(例えば、油又は水の表面50から内部に)に侵入させて、ワークへの押し当てを行う。測定治具10の各ピン1a~1nが、ワーク30又はワーク設置台31に到達したら転写が完了し、ワークの表面形状の計測を終了する。最終的に、図5に示すように、各ピン1a~1nは、ワーク30のz軸方向の高さに応じて変位する。
図6に示すように測定治具10をワーク計測装置20のシート状の接触感知装置21に押し当てることで、ワーク計測を行う。例えば、工作機械の駆動機構により、測定治具10を接触感知装置21に向けて移動させ、各ピンを接触感知装置21に押し当てることで、測定治具10の各ピンが接触感知装置21に接触した時点の移動量(z軸座標)を得ることができる。演算装置22は、測定治具10を移動させる駆動機構による駆動量に対応するピンの変位量を取得することができる。また、各ピンの変位量に基づき、ワークの表面形状を得ることができる。
図8は、実施の形態2にかかる計測システムの構成を説明する図である。
この実施の形態では、ワーク加工ステップ、前述した測定ステップ、および計測ステップを同一の場所で行うことを想定している。測定治具をz軸方向に移動させる駆動機構(例えば、図8では、15,16)を用いて上下動させることで、測定ステップと計測ステップを同一の場所で行うことが可能になる。測定治具を上下動させるために、例えば、工作機械に備えられた駆動機構を使用することができる。
まず、ワーク設置台に置かれたワークの加工を行う(ステップS21)。例えば、形彫り放電加工機での加工は、ワークを水や油などの液に浸して行うことができる。次に、駆動機構16により、測定治具10をz軸方向に下降させることで、加工液内にある計測対象のワーク3aの測定(転写)を行う(ステップS22)。さらに、駆動機構15により、測定治具10をz軸方向に上昇させることで、測定治具10の各ピンを接触感知装置21に押し当てることで、ワーク計測を同一場所で行うことが可能となる(ステップS23)。
上述した各種実施の形態において、計測の精度を向上させる方法として、以下の2例が考えられる。第1に、ピンの直径を微細化し、グリッド間隔を狭めて測定する方法がある。ピンの直径の異なる様々な測定治具を用意し、必要に応じて、測定治具を交換してもよい。第2に、測定点をずらしながら、複数回の計測を行う方法がある。図8の例では、測定治具をz軸方向に移動させる駆動機構を設けたが、更に、測定治具をx軸方向およびy軸方向に移動させる駆動機構を設ける(例えば、測定治具を工作機械のxy方向の駆動機構と連結する)ことで、測定点をずらして複数回の計測(例えば、第1の計測ステップおよび第2の計測ステップを含む)を行うことができる。
(付記1)
格子状に配列された長手方向に変位可能な複数のピン、および前記複数のピンを保持する保持機構、を備えた測定治具と、
前記測定治具を接触感知装置に対して前記複数のピンの前記長手方向に沿って前記測定治具を移動させる駆動機構と、
を備え、
前記測定治具の前記複数のピンを、測定対象となるワークに押し当てて、前記ワークの形状を各ピンの変位として転写した後、
前記駆動機構により、前記測定治具の各ピンが前記接触感知装置に接触するまで移動させて、前記ワークの表面形状を計測するように構成された、計測システム。
(付記2)
前記駆動機構は、前記測定治具の前記保持機構に連結されている、付記1に記載の計測システム。
(付記3)
前記接触感知装置に接続された演算装置を更に備える、付記1又は2に記載の計測システム。
(付記4)
前記演算装置は、前記駆動機構により、前記測定治具を一定の速度で移動させ、各ピンが接触感知装置に接触した時刻から、各ピンの変位量を算出する、付記3に記載の計測システム。
(付記5)
前記演算装置は、ワークの表面形状の計測結果を表示するディスプレイを備える、付記4に記載の計測システム。
(付記6)
前記接触感知装置は、シート状のセンサである、付記1~5のいずれか一項に記載の計測システム。
(付記7)
前記接触感知装置の下方に設けられ、前記接触感知装置の表面と略平行な設置面を有するワーク設置台を備える、付記1~6のいずれか一項に記載の計測システム。
(付記8)
前記測定治具は、前記接触感知装置と前記ワーク設置台との間に配置され、
前記駆動機構は、前記測定治具の各ピンの一端を、前記ワーク設置台上のワークに接触するように移動させ、その後、前記測定治具の各ピンの他端を、前記接触感知装置に接触するように移動させるように構成されている、付記7に記載の計測システム。
(付記9)
格子状に配列された長手方向に変位可能な複数のピン、および前記複数のピンを保持する保持機構、を備えた測定治具と、
前記測定治具を接触感知装置に対して前記複数のピンの前記長手方向に沿って移動させる駆動機構と、
を備えた計測システムを用いた計測方法であって、
前記測定治具の前記複数のピンを、測定対象となるワークに押し当てて、前記ワークの形状を各ピンの変位として転写し、
前記駆動機構により、前記測定治具の各ピンが前記接触感知装置に接触するまで前記測定治具を移動させて、前記ワークの表面形状を計測する、計測方法。
(付記10)
格子状に配列された長手方向に変位可能な複数のピン、および前記複数のピンを保持する保持機構、を備えた測定治具と、
前記測定治具を接触感知装置に対して前記複数のピンの前記長手方向に沿って移動させる駆動機構と、
を備えた計測システムに使用される計測用プログラムであって、
前記駆動機構により、前記測定治具の前記複数のピンを、測定対象となるワークに押し当てて、前記ワークの形状を各ピンの変位として転写する処理と、
前記駆動機構により、前記測定治具の各ピンが前記接触感知装置に接触するまで前記測定治具を移動させて、前記ワークの表面形状を計測する処理と、をコンピュータに実行させる計測用プログラム。
10 測定治具
11 シート
12 保持機構
15,16 駆動機構
20 ワーク計測装置
21 接触感知装置
22 演算装置
23 ディスプレイ
30 ワーク
31 ワーク設置台
50 表面
Claims (10)
- 格子状に配列された長手方向に変位可能な複数のピン、および前記複数のピンを保持する保持機構、を備えた測定治具と、
前記測定治具を接触感知装置に対して前記複数のピンの前記長手方向に沿って移動させる駆動機構と、
を備え、
前記測定治具の前記複数のピンを、測定対象となるワークに押し当てて、前記ワークの形状を各ピンの変位として転写した後、
前記駆動機構により、前記測定治具の各ピンが前記接触感知装置に接触するまで前記測定治具を移動させて、前記ワークの表面形状を計測するように構成された、計測システム。 - 前記駆動機構は、前記測定治具の前記保持機構に連結されている、請求項1に記載の計測システム。
- 前記接触感知装置に接続された演算装置を更に備える、請求項1又は2に記載の計測システム。
- 前記演算装置は、前記駆動機構により、前記測定治具を一定の速度で移動させ、各ピンが接触感知装置に接触した時刻から、各ピンの変位量を算出する、請求項3に記載の計測システム。
- 前記演算装置は、ワークの表面形状の計測結果を表示するディスプレイを備える、請求項4に記載の計測システム。
- 前記接触感知装置は、シート状のセンサである、請求項1~5のいずれか一項に記載の計測システム。
- 前記接触感知装置の下方に設けられ、前記接触感知装置の表面と略平行な設置面を有するワーク設置台を備える、請求項1~6のいずれか一項に記載の計測システム。
- 前記測定治具は、前記接触感知装置と前記ワーク設置台との間に配置され、
前記駆動機構は、前記測定治具の各ピンの一端を、前記ワーク設置台上のワークに接触するように移動させ、その後、前記測定治具の各ピンの他端を、前記接触感知装置に接触するように移動させるように構成されている、請求項7に記載の計測システム。 - 格子状に配列された長手方向に変位可能な複数のピン、および前記複数のピンを保持する保持機構、を備えた測定治具と、
前記測定治具を接触感知装置に対して前記複数のピンの前記長手方向に沿って移動させる駆動機構と、
を備えた計測システムを用いた計測方法であって、
前記測定治具の前記複数のピンを、測定対象となるワークに押し当てて、前記ワークの形状を各ピンの変位として転写し、
前記駆動機構により、前記測定治具の各ピンが前記接触感知装置に接触するまで前記測定治具を移動させて、前記ワークの表面形状を計測する、計測方法。 - 格子状に配列された長手方向に変位可能な複数のピン、および前記複数のピンを保持する保持機構、を備えた測定治具と、
前記測定治具を接触感知装置に対して前記複数のピンの前記長手方向に沿って移動させる駆動機構と、
を備えた計測システムに使用される計測用プログラムであって、
前記駆動機構により、前記測定治具の前記複数のピンを、測定対象となるワークに押し当てて、前記ワークの形状を各ピンの変位として転写する処理と、
前記駆動機構により、前記測定治具の各ピンが前記接触感知装置に接触するまで移動させて、前記ワークの表面形状を計測する処理と、をコンピュータに実行させる計測用プログラム。
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