KR20140073831A

KR20140073831A - 듀얼 하이트 게이지

Info

Publication number: KR20140073831A
Application number: KR1020120141760A
Authority: KR
Inventors: 김민철
Original assignee: 김민철
Priority date: 2012-12-07
Filing date: 2012-12-07
Publication date: 2014-06-17

Abstract

본 발명은 듀얼 하이트 게이지에 관한 것이다. 본 발명은 받침대와 상기 받침대의 일측 끝단부에 수직으로 입설된 제1스케일과 상기 제1스케일과 슬라이딩 결합되어 밑면에는 소정 길이로 수평방향으로 연장 형성된 제1 가이드가 마련된 제2스케일과 상기 제2스케일과 슬라이딩 결합되어 밑면에는 소정 길이로 수평방향으로 연장 형성된 제2가이드가 마련된 제3스케일을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명은 도브 슬라이더를 응용한 이중 슬라이더 구조로 측정위치에 따라 개별 측정과 한계 설정이 가능한 측정장치로서, 1 개의 측정장치로 여러 게이지(Gauge)를 사용하는 것과 같은 효과를 충족하여 별도의 셋팅장치가 없이 바로 측정이 가능한 효과가 있다.

Description

듀얼 하이트 게이지{Dual Height Gauge}

본 발명은 측정 작업 등의 일을 하는데 있어서, 1개의 하이트 게이지를 가지고 여러 가지의 측정이 가능한 듀얼 하이트 게이지에 관한 것이다.

일반적으로, 하이트 게이지는 받침 밑면으로부터의 높이를 1/50mm의 단위로 읽을 수 있는 높이 측정구로 알려져 있다.

도 1은 일반적으로 사용되는 종래의 하이트 게이지의 구성을 보여주는 입면도이다. 먼저, 종래의 하이트 게이지의 구성을 간단히 설명한다. 받침대(1)의 수평면 상에 수직으로 어미자(2)가 설치되어 있으며, 어미자(2)에는 보내기(3)와 슬라이더(4)가 상하로 이동할 수 있도록 설치되어 있다. 보내기(3)와 슬라이더(4)는 각각의 고정 나사(5)(6)에 의해 어미자(2)에서 임의의 위치에 고정될 수 있다.

버어니어(7)는 슬라이더(4)에 형성되어 있으며, 스크라이버(8)는 슬라이더(4)에 고정되어 있는 조오(9)에 스크라이버 클램프(10)와 고정 나사(11)에 의해 고정되어 있다. 선을 그을 때에도 사용되는 스크라이버(8)에는 측정을 위한 측정면이 형성되어 있다. 상술한 바와 같은 하이트 게이지는 버어니어 캘리퍼스, 뎁스 게이지 등과 마찬가지로 어미자와 버어니어 또는 아들자의 조합에 의해 측정이 이루지며 측정은 통상적으로 0.05mm 정도의 정밀도로 이루어진다.

이와 같은 종래의 하이트게이지는 산업 전반에 사용되는 깊이 조정이 필요한 홀 가공이나 형상의 깊이 가공시 제품 검사시 일반적으로 사용되는 깊이 조정이 필요한 홀 가공이나 형상의 깊이 가공시 제품검사시 일반적으로 버어니어 캘리퍼스나 스케일을 이용하여 측정하였으나 사용하기가 불편하고 정밀측정이 곤란하며 측정할 때마다 별도의 측정기를 이용해야만 한다는 문제점이 있었다.

따라서, 본 발명은 이러한 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로서, 본 발명의 사용만으로 구간측정, 구간 한계 설정, 구간치수 이동이 어려운 난점을 모두 해결할 수 있는 하이트 게이지를 제공하고자 하는데 있는 것이다.

이러한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 받침대와 상기 받침대의 일측 끝단부에 수직으로 입설된 제1스케일과 상기 제1스케일과 슬라이딩 결합되어 밑면에는 소정 길이로 수평방향으로 연장 형성된 소정 형상의 제1 가이드가 마련된 제2스케일과 상기 제2스케일과 슬라이딩 결합되어 밑면에는 소정 길이로 수평방향으로 연장 형성된 소정 형상의 제2가이드가 마련된 제3스케일을 포함하는 것을 특징으로 하는 것이다.

또한, 상기 받침대의 상부에는 지지바가 수직으로 결합, 고정되어 형성된 것을 특징으로 하는 것이다.

또한, 상기 제1가이드와 제2가이드를 슬라이더 이동을 통한 조정으로 측정물(미도시)에 고정시켜 상기 제1스케일과 제2스케일과 제3스케일에 형성된 눈금을 확인하여 측정물의 치수를 측정하는 것을 특징으로 하는 것이다.

이와 같이, 본 발명에 의한 듀얼 하이트 게이지는 여러 개의 측정장치를 각각 준비하여 측정할 필요없이 길이, 홈의 깊이, 구간 측정, 한계 설정 등을 본 발명에 의한 1개의 장치로 간단하게 모두 측정이 가능하므로 측정결과의 정확성과 작업 효율성 등에 있어서 매우 우수한 효과가 있는 것이다.

도 1은 종래의 하이트 게이지의 입면도.
도 2는 본 발명에 의한 듀얼 하이트 게이지의 정면도.
도 3은 본 발명에 의한 듀얼 하이트 게이지의 사시도.
도 4는 본 발명에 의한 듀얼 하이트 게이지의 사용상태도.
도 5는 본 발명에 의한 듀얼 하이트 게이지를 이용하여 도구를 측정하는 것을 나타낸 사진.

본 발명의 구성은 받침대와 상기 받침대의 일측 끝단부에 수직으로 입설된 제1스케일과 상기 제1스케일과 슬라이딩 결합되어 밑면에는 소정 길이로 수평방향으로 연장 형성된 소정형상의 제1가이드가 마련된 제2스케일과 상기 제2스케일과 슬라이딩 결합되어 밑면에는 소정 길이로 수평방향으로 연장 형성된 소정형상의 제2가이드가 마련된 제3스케일을 포함하는 것을 특징으로 하는 것이다.

이하에서는, 본 발명의 실시예를 도면을 첨부하여 설명하기로 한다.

도 2는 본 발명에 의한 듀얼 하이트 게이지의 정면도이고, 도 3은 본 발명에 의한 듀얼 하이트 게이지의 사시도이고, 도 4는 본 발명에 의한 듀얼 하이트 게이지의 사용상태도이다. 도 5는 본 발명에 의한 듀얼 하이트 게이지를 이용하여 도구를 측정하는 것을 나타낸 사진이다.

도 2와 도 3에 도시한 바와 같이, 받침대(10)가 형성되어 있고, 상기 받침대(10)의 일측 끝단부에 수직으로 입설된 제1스케일(30)과 상기 제1스케일(30)과 슬라이딩 결합되어 밑면에는 소정 길이로 수평방향으로 연장 형성된 제1가이드(40)가 마련된 제2스케일(50)과 상기 제2스케일(50)과 슬라이딩 결합되어 밑면에는 소정 길이로 수평방향으로 연장 형성된 제2가이드(60)가 마련된 제3스케일(70)로 구성된다. 제1 및 제2가이드(40,60)는 U자형 홀을 갖는다.

여기서, 상기 받침대(10)의 상부에는 지지바(20)가 수직으로 결합, 고정되어 형성되어 있는 데, 여기서, 상기 지지바(20)는 하중이 높은 스틸(Steel)을 이용하여 본 발명으로의 측정시 무게중심을 정확히 잡도록 하여 구간 측정시 본 발명의 장치(100)가 기울어지거나 넘어짐을 방지할 수 있도록 하는 것이다.

본 발명의 측정은 도 2에 도시한 바와 같이, 상기 제1가이드(40)와 제2가이드(60)를 슬라이더 이동을 통한 조정으로 측정물(미도시)에 고정하여 상기 제1스케일(30)과 제2스케일(50)과 제3스케일(70)에 형성된 눈금(80)을 확인하여 치수를 측정하는 것이다.

상기 결합되는 제1스케일(30), 제2스케일(50), 제3스케일(70)은 서로 도브레일 결합된다. 바람직하게 제2스케일(50)의 양 측면에는 암 도브레일이 형성되고 결합되는 제1스케일(30) 및 제3스케일(70)의 대응 측면은 수 도브레일이 형성된다.

이하에서는, 본 발명의 기능적 작용을 설명해보기로 한다.

도 4에서 도시한 바와 같이, 공구(90)위에 형성된 드릴(95)의 깊이 등을 본 발명의 듀얼 하이트 게이지(10)의 제2스케일(50)와 제3스케일(70)을 슬라이드 이동시켜 대상물의 중간 길이를 정확하게 측정(즉, 중간에서의 길이 측정)하도록 하는 즉, 구간의 측정이나 구간의 한계를 설정하도록 하는 것이 가능한 것이다.

또한, 상기 제2스케일(50)과 제3스케일(70)의 조작으로 구간의 측정을 할 경우에, 그대로 구간을 설정한 상태에서 자유로운 이동이 가능한 구간 치수의 이동을 시킬수 있는 장점이 있는 것이다.

따라서, 본 발명에 의한 듀얼 하이트 게이지(100)는 기존의 하이트 게이지와는 다르게 간단한 슬라이딩 방식으로 누구나 정밀하고 정확한 측정이 가능하도록 하는 우수한 기능을 가지고 있는 것이다.

그러므로, 바닥부터 상면구간 임의구간에서의 측정한계의 설정 등이 사용자의 간단한 작동으로 인하여 본 발명의 듀얼 하이트 게이지(100)로 측정이 모두 가능한 것이다.

도 5는 본 발명에 의한 듀얼 하이트 게이지(100)를 이용하여 일정한 도구를 측정하는 것을 나타낸 사진이다.

이것은 상기 제2스케일(50)과 상기 제3스케일(70)의 슬라이드 이동을 통한 조정으로 측정물의 치수를 측정할 수 있는 것으로서, 측정물의 깊이, 높이, 측정물 구멍의 지름 등의 측정을 자유자재로 가능한 탁월한 장점이 있는 것이다.

더 나아가, 좀 더 실용적으로 개발하여 본 듀얼 하이트 게이지(100)에 형성되어 있는 눈금(80) 대신에 측정할 경우, 디지털 형식의 숫자가 현출될 수 있는 장치를 형성시키도록 하여 더욱 정확도와 정밀성을 구현할수 있도록 설계가 가능한 것이다.

이상에서는 본 발명에 대한 기술사상을 첨부한 도면과 함께 서술하였지만, 이는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시적으로 설명한 것이지, 본 발명을 한정하는 것은 아니다. 또한, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구나 본 발명의 기술적 사상의 범주를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양한 변형과 모방이 가능하다는 것은 자명한 것이다.

10 : 받침대 20 : 지지바
30 : 제1스케일 40 : 제1가이드
50 : 제2스케일 60 : 제2가이드
70 : 제3스케일 80 : 눈금
90 : 공구 95 : 드릴
100 : 듀얼 하이트 게이지

Claims

받침대(10);와
상기 받침대(10)의 일측 끝단부에 수직으로 입설된 제1스케일(30);과
상기 제1스케일(30)과 슬라이딩 결합되어 밑면에는 소정 길이로 수평방향으로 연장 형성된 소정 형상의 제1 가이드(40)가 마련된 제2스케일(50);과
상기 제2스케일(50)과 슬라이딩 결합되어 밑면에는 소정 길이로 수평방향으로 연장 형성된 소정 형상의 제2가이드(60)가 마련된 제3스케일(70)을 포함하는 것을 특징으로 하는 듀얼 하이트 게이지.
제1항에 있어서, 상기 받침대(10)의 상부에는 지지바(20)가 수직으로 결합, 고정되어 형성된 것을 특징으로 하는 듀얼 하이트 게이지.
제1항에 있어서, 상기 제1가이드(40)와 제2가이드(60)를 슬라이더 이동을 통한 조정으로 측정물(미도시)에 고정시켜 상기 제1스케일(30)과 제2스케일(50)과 제3스케일(70)에 형성된 눈금(80)을 확인하여 측정물의 치수를 측정하는 것을 특징으로 하는 듀얼 하이트 게이지.