JP2022527754A - 較正ツール及び方法 - Google Patents
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- B29D2030/482—Applying fillers or apexes to bead cores
Abstract
Description
a)カメラの視野内に少なくとも部分的に較正ツールを提供するステップと、
b)レーザ三角測量測定システムで較正ツール上にレーザラインを投影するステップと、
c)レーザラインが列のそれぞれの1つの全ての較正位置上に投影されるように回転軸を中心として較正ツールを回転させるステップと、
d)それぞれの列の全ての較正位置上に投影されたレーザラインの画像をカメラで捕捉するステップと
を備える。
f)ステップa)~d)より前に又は後にレーザ三角測量測定システムに対して空のビードエイペックスドラムを提供するステップと、ここにおいて、ビードエイペックスドラムは、基準平面と、基準平面に対してビードエイペックスを支持するためのベースプロファイルとを有し、空のビードエイペックスドラムは、較正ツールの基準平面と同じ位置にその基準平面を設けられる、
g)レーザ三角測量測定システムで空のビードエイペックスドラム上にレーザラインを投影するステップと、
h)空のビードエイペックスドラム上に投影されたレーザラインの画像を捕捉するステップと、
i)空のビードエイペックスドラムの基準平面に対する空のビードエイペックスドラムのベースプロファイルを決定するステップと
を更に備える。
j)ビードエイペックスドラム上にビードエイペックスを提供するステップと、
k)レーザ三角測量測定システムを使用してビードエイペックスを測定するステップと、
l)測定値から、ステップi)において決定された空のビードエイペックスドラムのベースプロファイルを減算するステップと
を更に備える。
m)少なくとも1つのカメラの視野内に所定の寸法を有する検証要素を提供するステップと、
n)1つ以上のタイヤ構成要素を測定し、1つ以上のタイヤ構成要素を測定するのと同時に又は所定の間隔で、検証要素を測定するステップと、
o)検証要素の所定の寸法を用いて検証要素の測定値を検証するステップと、
p)ステップn)及びo)を経時的に繰り返すステップと
を備える。
a)図6に示すように、カメラ91の視野FOV内に少なくとも部分的に較正ツール1を提供するステップと、
b)図7に示すように、レーザ三角測量測定システム9で較正ツール1上にレーザラインLを投影するステップと、
c)レーザラインLが列A1~A10のそれぞれの1つの全ての較正位置K上に投影されるように回転軸S1を中心として較正ツール1を回転させるステップと、
d)それぞれの列A1~A10の全ての較正位置K上に投影されたレーザラインLの画像をカメラ91で捕捉するステップと、
e)列A1~A10のうちの別の1つに対してステップc)及びd)を繰り返すステップと
を備える。
f)図1~3に示すように、しかしビードエイペックス8を伴わずに、ステップa)~e)より前に又は後にレーザ三角測量測定システム9に対して空のビードエイペックスドラム7を提供するステップと、
g)レーザ三角測量測定システム9で空のビードエイペックスドラム7上にレーザラインLを投影するステップと、
h)空のビードエイペックスドラム7上に投影されたレーザラインLの画像を捕捉するステップと、
i)空のビードエイペックスドラム7の基準平面Pに対する空のビードエイペックスドラム7のベースプロファイルBを決定するステップと
を更に備え得る。
j)図1~3に示すように、ビードエイペックスドラム7上にビードエイペックス8を提供するステップと、
k)図1~3に示すように、レーザ三角測量測定システム9を使用してビードエイペックス8を測定するステップと、
l)測定値から、ステップi)において決定された空のビードエイペックスドラム7のベースプロファイルBを減算するステップと
を備え得る。
[参照番号のリスト]
10 ツール本体
11 較正面
12 凹部
13 較正エッジ
7 ビードエイペックスドラム
70 円板
71 中心ハブ
72 ビードエイペックス支持面
8 ビードエイペックス
80 ビード
81 エイペックス
9 測定システム
90 レーザ
91 カメラ
101 較正ツール
111 第1の較正面
112 第2の較正面
106 ドラム
160 円周面
108 ストリップ
109 測定システム
190 レーザ
191 カメラ
192 支持体
201 クリップバー
211 検証要素
202 クランプ側
203 非クランプ側
206 ドラム
301 第1のカバープレート
302 第2のカバープレート
306 タイヤ成形ドラム
311 検証要素
312 較正要素
321 第1の端部
322 第2の端部
323 中心部分
401 妥当性確認ツール
406 タイヤ成形ドラム
410 ツール本体
411 中心基準
412 側部基準
420 基準要素
501 較正ツール
502 較正セクション
521 較正要素
503 妥当性確認セクション
531 妥当性確認要素
510 ツール本体
511 第1の端部
512 第2の端部
505 取り付け要素
507 ストリップ生産ライン
570 コンベア
508 ストリップ
509 測定システム
590 バックライトユニット
591 第1のカメラ
592 第2のカメラ
601 較正ツール
602 較正セクション
621 較正要素
622 段階
603 妥当性確認セクション
631 妥当性確認要素
A1~A10 列
B1~B5 行
C 円周方向
D 共通平面
FOV 視野
G パターン又は放射状グリッド
H1 高さ方向
H2 高さ方向
H3 高さ方向
K 較正位置
L レーザライン
M 光軸
P 基準平面
Q 基準平面
R 半径方向
S1 回転軸
S2 回転軸
S3 回転軸
S4 回転軸
T 測定ライン
U 枢動軸
V1 反転軸
V2 反転軸
W1 軸方向
W2 軸方向
X1 横方向
X2 横方向
Y1 縦方向
Y2 縦方向
Y3 縦方向
Z 中心軸
a)カメラの視野内に少なくとも部分的に較正ツールを提供するステップと、
b)レーザ三角測量測定システムで較正ツール上にレーザラインを投影するステップと、
c)レーザラインが列のそれぞれの1つの全ての較正位置上に投影されるように回転軸を中心として較正ツールを回転させるステップと、
d)それぞれの列の全ての較正位置上に投影されたレーザラインの画像をカメラで捕捉するステップと
を備える。
f)ステップa)~d)より前に又は後にレーザ三角測量測定システムに対して空のビードエイペックスドラムを提供するステップと、ここにおいて、ビードエイペックスドラムは、基準平面と、基準平面に対してビードエイペックスを支持するためのベースプロファイルとを有し、空のビードエイペックスドラムは、較正ツールの基準平面と同じ位置にその基準平面を設けられる、
g)レーザ三角測量測定システムで空のビードエイペックスドラム上にレーザラインを投影するステップと、
h)空のビードエイペックスドラム上に投影されたレーザラインの画像を捕捉するステップと、
i)空のビードエイペックスドラムの基準平面に対する空のビードエイペックスドラムのベースプロファイルを決定するステップと
を更に備える。
j)ビードエイペックスドラム上にビードエイペックスを提供するステップと、
k)レーザ三角測量測定システムを使用してビードエイペックスを測定するステップと、
l)測定値から、ステップi)において決定された空のビードエイペックスドラムのベースプロファイルを減算するステップと
を更に備える。
a)図6に示すように、カメラ91の視野FOV内に少なくとも部分的に較正ツール1を提供するステップと、
b)図7に示すように、レーザ三角測量測定システム9で較正ツール1上にレーザラインLを投影するステップと、
c)レーザラインLが列A1~A10のそれぞれの1つの全ての較正位置K上に投影されるように回転軸S1を中心として較正ツール1を回転させるステップと、
d)それぞれの列A1~A10の全ての較正位置K上に投影されたレーザラインLの画像をカメラ91で捕捉するステップと、
e)列A1~A10のうちの別の1つに対してステップc)及びd)を繰り返すステップと
を備える。
f)図1~3に示すように、しかしビードエイペックス8を伴わずに、ステップa)~e)より前に又は後にレーザ三角測量測定システム9に対して空のビードエイペックスドラム7を提供するステップと、
g)レーザ三角測量測定システム9で空のビードエイペックスドラム7上にレーザラインLを投影するステップと、
h)空のビードエイペックスドラム7上に投影されたレーザラインLの画像を捕捉するステップと、
i)空のビードエイペックスドラム7の基準平面Pに対する空のビードエイペックスドラム7のベースプロファイルBを決定するステップと
を更に備え得る。
j)図1~3に示すように、ビードエイペックスドラム7上にビードエイペックス8を提供するステップと、
k)図1~3に示すように、レーザ三角測量測定システム9を使用してビードエイペックス8を測定するステップと、
l)測定値から、ステップi)において決定された空のビードエイペックスドラム7のベースプロファイルBを減算するステップと
を備え得る。
以下に、本願出願の当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[1] レーザ三角測量測定システムを較正するための較正ツールであって、前記較正ツールは、基準平面に対して垂直な回転軸を中心として前記レーザ三角測量測定システムに対して回転可能なツール本体を備え、前記ツール本体は、較正位置のパターンを画定する1つ以上の較正面を設けられ、前記パターンは、前記回転軸から離れて半径方向に延在する少なくとも3つの列と、前記回転軸を中心として円周方向に延在する少なくとも3つの行とを備え、各列について、それぞれの前記列内の前記較正位置は、前記基準平面に対して垂直な高さ方向の前記基準平面に対する高さが変動し、各行について、それぞれの前記行内の前記較正位置は、前記基準平面に対する前記高さ方向の高さが変動する、較正ツール。
[2] 前記パターンは、較正位置の放射状グリッドを形成する、[1]に記載の較正ツール。
[3] 各列について、それぞれの前記列内の前記較正位置の少なくとも半分及び好ましくは全ての較正位置は、前記基準平面に対する前記高さ方向の異なる高さを有する、[1]又は[2]に記載の較正ツール。
[4] 各列について、それぞれの前記列内の前記較正位置は、前記回転軸から離れる前記半径方向に前記基準平面に対する高さが順次低減される、[1]~[3]のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
[5] 高さの前記順次低減は、前記基準平面に対する一定の減分を有する、[4]に記載の較正ツール。
[6] 高さの前記順次低減は、曲率に従う、[4]に記載の較正ツール。
[7] 各行について、それぞれの前記行内の前記較正位置の少なくとも半分及び好ましくは全ての較正位置は、前記基準平面に対する前記高さ方向の異なる高さを有する、[1]~[6]のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
[8] 各行について、それぞれの前記行内の前記較正位置は、前記円周方向に前記基準平面に対する高さが順次増大される、[1]~[7]のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
[9] 高さの前記順次増大は、前記基準平面に対する一定の増分を有する、[8]に記載の較正ツール。
[10] 前記パターン内の各較正位置は、同じ列及び同じ行中に前記基準平面に対する他の較正位置の高さとは異なる前記基準平面に対する前記高さ方向の高さを有する、[1]~[9]のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
[11] 各列について、前記1つ以上の較正面は、それぞれの前記列内の各較正位置について個々の較正面を備える、[1]~[10]のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
[12] 各列について、前記ツール本体は、前記半径方向に前記較正面を離間させるために、それぞれの前記列内の前記較正面間に延在する凹部を設けられる、[11]に記載の較正ツール。
[13] それぞれの前記列内の各較正面は、それぞれの前記較正面から前記凹部のうちの隣接する1つへの各遷移部において較正エッジを画定し、前記較正位置のうちの少なくとも1つは、前記較正エッジのうちの1つに位置する、[12]に記載の較正ツール。
[14] 各列について、それぞれの前記列内の前記較正面は、共通平面において延在し、前記共通平面は、前記基準平面に対して斜角で延在する、[11]~[13]のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
[15] 各行について、前記1つ以上の較正面は、それぞれの前記行内の各較正位置について個々の較正面を備える、[1]~[14]のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
[16] 各行について、それぞれの前記行内の前記較正面は、前記較正面のうちの1つから前記円周方向の前記較正面のうちの次の1つに前記高さ方向に段階付けられる、[15]に記載の較正ツール。
[17] 前記パターンは、少なくとも5つの列、好ましくは少なくとも8つの列を備える、[1]~[16]のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
[18] 前記パターンは、少なくとも4つの行、好ましくは少なくとも5つの行を備える、[1]~[17]のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
[19] 前記ツール本体は、前記回転軸を中心とする全周の一部のみにわたって延在する、[1]~[18]のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
[20] 前記ツール本体は、弓形として形成される、[19]に記載の較正ツール。
[21] [1]~[20]のうちのいずれか一項に記載の較正ツールを使用してレーザ三角測量測定システムを較正するための方法であって、前記レーザ三角測量測定システムは、レーザと視野を有するカメラとを備え、前記方法は、
a)前記カメラの前記視野内に少なくとも部分的に前記較正ツールを提供するステップと、
b)前記レーザ三角測量測定システムで前記較正ツール上にレーザラインを投影するステップと、
c)前記レーザラインが前記列のそれぞれの1つの全ての較正位置上に投影されるように前記回転軸を中心として前記較正ツールを回転させるステップと、
d)それぞれの前記列の全ての較正位置上に投影された前記レーザラインの画像を前記カメラで捕捉するステップと
を備える、方法。
[22] 前記方法は、
e)前記列のうちの別の1つに対して前記ステップc)及びd)を繰り返すステップ
を更に備える、[21]に記載の方法。
[23] ステップe)は、他の列の全てに対してステップc)及びd)を繰り返すステップを備える、[22]に記載の方法。
[24] 前記基準平面に対する各列の前記較正位置の前記高さは、所定であり、前記方法は、それぞれの列の前記較正位置に対応する各捕捉された画像中の画素をそれぞれの前記列内の前記較正位置の前記所定の高さに相関させることによって前記レーザ三角測量測定システムを較正するステップを更に備える、[21]~[23]のうちのいずれか一項に記載の方法。
[25] 前記方法は、
ステップa)~e)より前に又は後に前記レーザ三角測量測定システムに対して空のビードエイペックスドラムを提供するステップと、ここにおいて、前記ビードエイペックスドラムは、基準平面と、前記基準平面に対してビードエイペックスを支持するためのベースプロファイルとを有し、前記空のビードエイペックスドラムは、前記較正ツールの前記基準平面と同じ位置にその基準平面を設けられる、
g)前記レーザ三角測量測定システムで前記空のビードエイペックスドラム上にレーザラインを投影するステップと、
h)前記空のビードエイペックスドラム上に投影された前記レーザラインの画像を捕捉するステップと、
i)前記空のビードエイペックスドラムの前記基準平面に対する前記空のビードエイペックスドラムの前記ベースプロファイルを決定するステップと
を更に備える、[21]~[24]のうちのいずれか一項に記載の方法。
[26] 前記方法は、
j)前記ビードエイペックスドラム上にビードエイペックスを提供するステップと、
k)前記レーザ三角測量測定システムを使用して前記ビードエイペックスを測定するステップと、
l)前記測定値から、ステップi)において決定された前記空のビードエイペックスドラムの前記ベースプロファイルを減算するステップと
を更に備える、[25]に記載の方法。
[参照番号のリスト]
10 ツール本体
11 較正面
12 凹部
13 較正エッジ
7 ビードエイペックスドラム
70 円板
71 中心ハブ
72 ビードエイペックス支持面
8 ビードエイペックス
80 ビード
81 エイペックス
9 測定システム
90 レーザ
91 カメラ
501 較正ツール
502 較正セクション
521 較正要素
503 妥当性確認セクション
531 妥当性確認要素
510 ツール本体
511 第1の端部
512 第2の端部
505 取り付け要素
507 ストリップ生産ライン
570 コンベア
508 ストリップ
509 測定システム
590 バックライトユニット
591 第1のカメラ
592 第2のカメラ
601 較正ツール
602 較正セクション
621 較正要素
622 段階
603 妥当性確認セクション
631 妥当性確認要素
A1~A10 列
B1~B5 行
C 円周方向
D 共通平面
FOV 視野
G パターン又は放射状グリッド
H1 高さ方向
H3 高さ方向
K 較正位置
L レーザライン
M 光軸
P 基準平面
R 半径方向
S1 回転軸
S2 回転軸
T 測定ライン
V1 反転軸
V2 反転軸
W2 軸方向
X2 横方向
Y3 縦方向
Z 中心軸
Claims (26)
- レーザ三角測量測定システムを較正するための較正ツールであって、前記較正ツールは、基準平面に対して垂直な回転軸を中心として前記レーザ三角測量測定システムに対して回転可能なツール本体を備え、前記ツール本体は、較正位置のパターンを画定する1つ以上の較正面を設けられ、前記パターンは、前記回転軸から離れて半径方向に延在する少なくとも3つの列と、前記回転軸を中心として円周方向に延在する少なくとも3つの行とを備え、各列について、それぞれの前記列内の前記較正位置は、前記基準平面に対して垂直な高さ方向の前記基準平面に対する高さが変動し、各行について、それぞれの前記行内の前記較正位置は、前記基準平面に対する前記高さ方向の高さが変動する、較正ツール。
- 前記パターンは、較正位置の放射状グリッドを形成する、請求項1に記載の較正ツール。
- 各列について、それぞれの前記列内の前記較正位置の少なくとも半分及び好ましくは全ての較正位置は、前記基準平面に対する前記高さ方向の異なる高さを有する、請求項1又は2に記載の較正ツール。
- 各列について、それぞれの前記列内の前記較正位置は、前記回転軸から離れる前記半径方向に前記基準平面に対する高さが順次低減される、請求項1~3のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
- 高さの前記順次低減は、前記基準平面に対する一定の減分を有する、請求項4に記載の較正ツール。
- 高さの前記順次低減は、曲率に従う、請求項4に記載の較正ツール。
- 各行について、それぞれの前記行内の前記較正位置の少なくとも半分及び好ましくは全ての較正位置は、前記基準平面に対する前記高さ方向の異なる高さを有する、請求項1~6のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
- 各行について、それぞれの前記行内の前記較正位置は、前記円周方向に前記基準平面に対する高さが順次増大される、請求項1~7のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
- 高さの前記順次増大は、前記基準平面に対する一定の増分を有する、請求項8に記載の較正ツール。
- 前記パターン内の各較正位置は、同じ列及び同じ行中に前記基準平面に対する他の較正位置の高さとは異なる前記基準平面に対する前記高さ方向の高さを有する、請求項1~9のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
- 各列について、前記1つ以上の較正面は、それぞれの前記列内の各較正位置について個々の較正面を備える、請求項1~10のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
- 各列について、前記ツール本体は、前記半径方向に前記較正面を離間させるために、それぞれの前記列内の前記較正面間に延在する凹部を設けられる、請求項11に記載の較正ツール。
- それぞれの前記列内の各較正面は、それぞれの前記較正面から前記凹部のうちの隣接する1つへの各遷移部において較正エッジを画定し、前記較正位置のうちの少なくとも1つは、前記較正エッジのうちの1つに位置する、請求項12に記載の較正ツール。
- 各列について、それぞれの前記列内の前記較正面は、共通平面において延在し、前記共通平面は、前記基準平面に対して斜角で延在する、請求項11~13のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
- 各行について、前記1つ以上の較正面は、それぞれの前記行内の各較正位置について個々の較正面を備える、請求項1~14のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
- 各行について、それぞれの前記行内の前記較正面は、前記較正面のうちの1つから前記円周方向の前記較正面のうちの次の1つに前記高さ方向に段階付けられる、請求項15に記載の較正ツール。
- 前記パターンは、少なくとも5つの列、好ましくは少なくとも8つの列を備える、請求項1~16のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
- 前記パターンは、少なくとも4つの行、好ましくは少なくとも5つの行を備える、請求項1~17のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
- 前記ツール本体は、前記回転軸を中心とする全周の一部のみにわたって延在する、請求項1~18のうちのいずれか一項に記載の較正ツール。
- 前記ツール本体は、弓形として形成される、請求項19に記載の較正ツール。
- 請求項1~20のうちのいずれか一項に記載の較正ツールを使用してレーザ三角測量測定システムを較正するための方法であって、前記レーザ三角測量測定システムは、レーザと視野を有するカメラとを備え、前記方法は、
a)前記カメラの前記視野内に少なくとも部分的に前記較正ツールを提供するステップと、
b)前記レーザ三角測量測定システムで前記較正ツール上にレーザラインを投影するステップと、
c)前記レーザラインが前記列のそれぞれの1つの全ての較正位置上に投影されるように前記回転軸を中心として前記較正ツールを回転させるステップと、
d)それぞれの前記列の全ての較正位置上に投影された前記レーザラインの画像を前記カメラで捕捉するステップと
を備える、方法。 - 前記方法は、
e)前記列のうちの別の1つに対して前記ステップc)及びd)を繰り返すステップ
を更に備える、請求項21に記載の方法。 - ステップe)は、他の列の全てに対してステップc)及びd)を繰り返すステップを備える、請求項22に記載の方法。
- 前記基準平面に対する各列の前記較正位置の前記高さは、所定であり、前記方法は、それぞれの列の前記較正位置に対応する各捕捉された画像中の画素をそれぞれの前記列内の前記較正位置の前記所定の高さに相関させることによって前記レーザ三角測量測定システムを較正するステップを更に備える、請求項21~23のうちのいずれか一項に記載の方法。
- 前記方法は、
ステップa)~e)より前に又は後に前記レーザ三角測量測定システムに対して空のビードエイペックスドラムを提供するステップと、ここにおいて、前記ビードエイペックスドラムは、基準平面と、前記基準平面に対してビードエイペックスを支持するためのベースプロファイルとを有し、前記空のビードエイペックスドラムは、前記較正ツールの前記基準平面と同じ位置にその基準平面を設けられる、
g)前記レーザ三角測量測定システムで前記空のビードエイペックスドラム上にレーザラインを投影するステップと、
h)前記空のビードエイペックスドラム上に投影された前記レーザラインの画像を捕捉するステップと、
i)前記空のビードエイペックスドラムの前記基準平面に対する前記空のビードエイペックスドラムの前記ベースプロファイルを決定するステップと
を更に備える、請求項21~24のうちのいずれか一項に記載の方法。 - 前記方法は、
j)前記ビードエイペックスドラム上にビードエイペックスを提供するステップと、
k)前記レーザ三角測量測定システムを使用して前記ビードエイペックスを測定するステップと、
l)前記測定値から、ステップi)において決定された前記空のビードエイペックスドラムの前記ベースプロファイルを減算するステップと
を更に備える、請求項25に記載の方法。
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