JP2022172509A - プリント配線板の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】所望の高さに形成された第1導体ポストを有するプリント配線板の提供。【解決手段】実施形態のプリント配線板の製造方法は、樹脂絶縁層上にパッドと上面を有する導体回路とを含む最上の導体層を形成することと、パッド上に第1導体ポストを形成することと、第1導体ポストと最上の導体層が埋まるように、第1導体ポストと最上の導体層と樹脂絶縁層上に最上の樹脂絶縁層を形成することと、最上の樹脂絶縁層を薄くすることで第1導体ポストの上面を最上の樹脂絶縁層から露出すること、とを有する。薄くすることは、導体回路の上面と第1導体ポストの上面間の距離に応じて完了することを含む。【選択図】図2E
Description
本明細書によって開示される技術は、プリント配線板の製造方法に関する。
特許文献1は、導体層と樹脂絶縁層が交互に積層されている積層体と、積層体上に形成される導体ポストと、積層体上に形成され、導体ポストの側面を被覆するモールド樹脂と、を有するプリント配線板の製造方法を開示する。特許文献1に開示される製造方法は、積層体を形成することと、積層体上に導体ポストを形成することと、積層体上と導体ポストを被覆するモールド樹脂層を形成することと、モールド樹脂層の上面を研磨して導体ポストの上面を露出させること、とを有する。
[特許文献1の課題]
特許文献1の製造方法では、モールド樹脂層の上面の研磨は、導体ポストの上面が露出した時点で終了すると考えられる。そのため、特許文献1の製造方法では、導体ポストの高さが所望の高さに形成されない場合があると考えられる。
特許文献1の製造方法では、モールド樹脂層の上面の研磨は、導体ポストの上面が露出した時点で終了すると考えられる。そのため、特許文献1の製造方法では、導体ポストの高さが所望の高さに形成されない場合があると考えられる。
本発明のプリント配線板の製造方法は、樹脂絶縁層上にパッドと上面を有する導体回路とを含む最上の導体層を形成することと、前記パッド上に第1導体ポストを形成することと、前記第1導体ポストと前記最上の導体層が埋まるように、前記第1導体ポストと前記最上の導体層と前記樹脂絶縁層上に最上の樹脂絶縁層を形成することと、前記最上の樹脂絶縁層を薄くすることで前記第1導体ポストの上面を前記最上の樹脂絶縁層から露出すること、とを有する。前記薄くすることは、前記導体回路の前記上面と前記第1導体ポストの前記上面間の距離に応じて完了することを含む。
本発明の実施形態のプリント配線板の製造方法によると、最上の樹脂絶縁層を薄くすることは、導体回路の上面と第1導体ポストの上面間の距離に応じて完了する。薄くすることを完了するための距離を予め決めておくことによって、第1導体ポストを所望の高さに形成することができる。
[実施形態]
図1は、実施形態のプリント配線板1の一部を示す断面図である。図1に示されるように、プリント配線板1は、樹脂絶縁層2と、最上の導体層4と、第1導体ポスト20と、最上の樹脂絶縁層30と、第2導体ポスト40と、金属めっき層50とを有している。
図1は、実施形態のプリント配線板1の一部を示す断面図である。図1に示されるように、プリント配線板1は、樹脂絶縁層2と、最上の導体層4と、第1導体ポスト20と、最上の樹脂絶縁層30と、第2導体ポスト40と、金属めっき層50とを有している。
樹脂絶縁層2はコア基板を形成することができる。樹脂絶縁層2はビルドアップ層を形成する樹脂絶縁層を形成することができる。樹脂絶縁層2は、熱硬化性樹脂を用いて形成される。樹脂絶縁層2はシリカ等の無機粒子を含んでもよい。樹脂絶縁層2は、ガラスクロス等の補強材を含んでもよい。
最上の導体層4は、樹脂絶縁層2上に形成されている。最上の導体層4は、パッド10と導体回路14とを含む。最上の導体層4は、パッド10と導体回路14以外の導体回路を含んでいてもよい。パッド10は樹脂絶縁層2上の製品エリアに形成されてもよい。導体回路14は樹脂絶縁層2上の製品エリア外に形成されてもよい。導体回路14は枠部に形成されてもよい。パッド10と導体回路14は銅によって形成されている。
第1導体ポスト20は、パッド10の上面12上に形成されている。第1導体ポスト20は銅によって形成されている。第1導体ポスト20は無電解めっき膜で形成されている。第1導体ポスト20は所定の高さを有する。第1導体ポスト20の上面22の高さは最上の樹脂絶縁層30の上面32の高さと等しい。
最上の樹脂絶縁層30は、樹脂絶縁層2上に形成される。最上の樹脂絶縁層30は、パッド10の側面と第1導体ポスト20の側面と導体回路14の側面に接している。最上の樹脂絶縁層30の上面32の高さは第1導体ポスト20の上面22の高さと等しい。最上の樹脂絶縁層30の上面32は第1導体ポスト20の上面22と面一である。最上の樹脂絶縁層30には、導体回路14の上面16を露出する開口34が形成されている。最上の樹脂絶縁層30はシリカ等の無機粒子を含んでもよい。最上の樹脂絶縁層30は、ガラスクロス等の補強材を含んでもよい。
第2導体ポスト40は、第1導体ポスト20の上面22上に形成されている。第2導体ポスト40は銅によって形成されている。第2導体ポスト40は、シード層42とシード層42上の電解めっき膜44で形成されている。
金属めっき層50は、第2導体ポスト40の上面46上に形成されている。金属めっき層50はニッケル膜とニッケル膜上のスズ膜で形成されている。
[実施形態のプリント配線板1の製造方法]
図2A~図2Jは実施形態のプリント配線板1の製造方法を示す。図2A~図2Jは断面図である。図2Aは、樹脂絶縁層2と樹脂絶縁層2上の最上の導体層4を示している。最上の導体層4はSAP(Semi Additive Process)法によって形成される。最上の導体層4はサブトラクティブ法によって形成されてもよい。
図2A~図2Jは実施形態のプリント配線板1の製造方法を示す。図2A~図2Jは断面図である。図2Aは、樹脂絶縁層2と樹脂絶縁層2上の最上の導体層4を示している。最上の導体層4はSAP(Semi Additive Process)法によって形成される。最上の導体層4はサブトラクティブ法によって形成されてもよい。
樹脂絶縁層2と最上の導体層4上に、パッド10の上面12を露出する開口を有するめっきレジスト(図示省略)が形成される。めっきレジストから露出するパッド10の上面12上に電解めっき膜が形成される。その後めっきレジストが除去される。図2Bに示されるように、パッド10の上面12上に形成された電解めっき膜によって第1導体ポスト20が形成される。
図2Cに示されるように、第1導体ポスト20と最上の導体層4が埋まるように、第1導体ポスト20と最上の導体層4と樹脂絶縁層2上に最上の樹脂絶縁層30が形成される。
最上の樹脂絶縁層30にレーザーが照射される。図2Dに示されるように、導体回路14の直上の最上の樹脂絶縁層30に開口34が形成される。
最上の樹脂絶縁層30が薄くされる。実施形態では、最上の樹脂絶縁層30の上面32が研磨されることで、最上の樹脂絶縁層30が薄くされる。図2Eに示されるように、第1導体ポスト20の上面22が最上の樹脂絶縁層30から露出する。最上の樹脂絶縁層30の上面32の研磨は、導体回路14の上面16と第1導体ポスト20の上面22間の距離に応じて完了する。すなわち、最上の樹脂絶縁層30の上面32は、導体回路14の上面16から研磨面(最上の樹脂絶縁層30の上面32)までの距離Dを測定しながら研磨される。距離Dの測定は任意の測定装置によって行われる。研磨が進行し、第1導体ポスト20の上面22が最上の樹脂絶縁層30から露出するとともに、導体回路14の上面16から研磨面までの距離Dが予め決められた値に到達した場合に、研磨が終了する。この結果、第1導体ポスト20は予め決められた高さに形成される。実施形態では、薄くすることを完了するための距離Dの値を予め決めておくことによって、第1導体ポスト20を所望の高さに形成することができる。
図2Fに示されるように、最上の樹脂絶縁層30の上面32上と、露出された第1導体ポスト20の上面22上と、露出された導体回路14の上面16上にシード層42が形成される。図2Gに示されるように、シード層42上にめっきレジスト60が形成される。めっきレジスト60は、第1導体ポスト20上のシード層42を露出する開口62を有する。
図2Hに示されるように、めっきレジスト60から露出するシード層42上に電解めっき膜44が形成される。電解めっき膜44は、開口62を充填する。シード層42とシード層42上に形成される電解めっき膜44によって、第1導体ポスト20上に第2導体ポスト40が形成される。
図2Iに示されるように、第2導体ポスト40の上面46上に、金属めっき層50が形成される。金属めっき層50は、ニッケル膜とニッケル膜上のスズ膜で形成される。図2Jに示されるように、めっきレジスト60が除去される。その後、第2導体ポスト40から露出するシード層42が除去される。実施形態のプリント配線板1(図1)が得られる。
実施形態では、予め決められた高さの第1導体ポスト20上に第2導体ポスト40が形成される。そのため、第1導体ポスト20と第2導体ポスト40を含む導体ポスト全体の高さを所望の高さに形成し得る。
[実施形態の第1改変例]
第1改変例は、実施形態とほぼ同様である。異なる点の例が以下に示される。第1改変例では、最上の樹脂絶縁層30に導体回路14の上面16を露出するための開口34が形成されない。最上の樹脂絶縁層30は透光性材料によって形成される。そのため、開口がなくても、最上の樹脂絶縁層30越しに導体回路14の上面16が視認される。最上の樹脂絶縁層30を薄くする工程では、最上の樹脂絶縁層30越しに導体回路14の上面16と研磨面(最上の樹脂絶縁層30の上面32)の距離Dが測定される。
第1改変例は、実施形態とほぼ同様である。異なる点の例が以下に示される。第1改変例では、最上の樹脂絶縁層30に導体回路14の上面16を露出するための開口34が形成されない。最上の樹脂絶縁層30は透光性材料によって形成される。そのため、開口がなくても、最上の樹脂絶縁層30越しに導体回路14の上面16が視認される。最上の樹脂絶縁層30を薄くする工程では、最上の樹脂絶縁層30越しに導体回路14の上面16と研磨面(最上の樹脂絶縁層30の上面32)の距離Dが測定される。
[実施形態の第2改変例]
第2改変例では、最上の樹脂絶縁層30を薄くすることは、研磨以外の手法で行われる。例えば、最上の樹脂絶縁層30を薄くすることは、ブラストによって行われる。第2改変例でも、最上の樹脂絶縁層30を薄くすることは、導体回路14の上面16と第1導体ポスト20の上面22間の距離に応じて完了する。
第2改変例では、最上の樹脂絶縁層30を薄くすることは、研磨以外の手法で行われる。例えば、最上の樹脂絶縁層30を薄くすることは、ブラストによって行われる。第2改変例でも、最上の樹脂絶縁層30を薄くすることは、導体回路14の上面16と第1導体ポスト20の上面22間の距離に応じて完了する。
[実施形態の第3改変例]
第3改変例では、第1導体ポスト20上に第2導体ポスト40が形成されない。第1導体ポスト20上に、ニッケル膜とニッケル膜上のスズ膜で形成される金属めっき層が形成される。
第3改変例では、第1導体ポスト20上に第2導体ポスト40が形成されない。第1導体ポスト20上に、ニッケル膜とニッケル膜上のスズ膜で形成される金属めっき層が形成される。
1 :プリント配線板
2 :樹脂絶縁層
4 :導体層
10 :パッド
14 :導体回路
20 :第1導体ポスト
30 :樹脂絶縁層
34 :開口
40 :第2導体ポスト
42 :シード層
44 :電解めっき膜
50 :金属めっき層
2 :樹脂絶縁層
4 :導体層
10 :パッド
14 :導体回路
20 :第1導体ポスト
30 :樹脂絶縁層
34 :開口
40 :第2導体ポスト
42 :シード層
44 :電解めっき膜
50 :金属めっき層
Claims (5)
- 樹脂絶縁層上にパッドと上面を有する導体回路とを含む最上の導体層を形成することと、
前記パッド上に第1導体ポストを形成することと、
前記第1導体ポストと前記最上の導体層が埋まるように、前記第1導体ポストと前記最上の導体層と前記樹脂絶縁層上に最上の樹脂絶縁層を形成することと、
前記最上の樹脂絶縁層を薄くすることで前記第1導体ポストの上面を前記最上の樹脂絶縁層から露出すること、とを有するプリント配線板の製造方法であって、
前記薄くすることは、前記導体回路の前記上面と前記第1導体ポストの前記上面間の距離に応じて完了することを含む。 - 請求項1のプリント配線板の製造方法であって、さらに、前記最上の樹脂絶縁層に前記導体回路の前記上面を露出する開口を形成することを含む。
- 請求項1のプリント配線板の製造方法であって、さらに、前記薄くすることで露出する前記第1導体ポストの前記上面上に第2導体ポストを形成することを有する。
- 請求項3のプリント配線板の製造方法であって、前記第2導体ポストを形成することは、前記薄くすることで露出する前記第1導体ポストの前記上面と前記最上の樹脂絶縁層の露出面上にシード層を形成することと、前記シード層上に前記第1導体ポストの前記上面を露出するための開口を有するめっきレジストを形成することと、前記めっきレジストの前記開口から露出する前記シード層上に前記第2導体ポストを形成することと、前記第2導体ポスト上にNi/Snめっき層を形成することと、前記めっきレジストを除去することと、前記第2導体ポストから露出する前記シード層を除去すること、とを含む。
- 請求項1のプリント配線板の製造方法であって、前記薄くすることは研磨を含む。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2021078303A JP2022172509A (ja) | 2021-05-06 | 2021-05-06 | プリント配線板の製造方法 |
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