JP2022106481A - 荷電粒子線装置 - Google Patents
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Abstract
Description
試料を傾斜させる傾斜機構と、
前記試料から放出される電磁波を検出する検出器と、
前記試料の傾斜角を示す傾斜角情報と前記検出器の検出立体角を示す検出立体角情報とを対応づけたテーブルが記憶されたテーブル記憶部と、
前記傾斜機構を制御する傾斜制御部と、
前記傾斜制御部から前記傾斜角情報を取得し、前記テーブルを参照して、前記検出立体角情報を取得する検出立体角情報取得部と、
を含む。
1.1. 電子顕微鏡
まず、第1実施形態に係る電子顕微鏡について図面を参照しながら説明する。図1は、第1実施形態に係る電子顕微鏡100の構成を示す図である。なお、図1には、便宜上、互いに直交する3つの軸として、X軸、Y軸、およびZ軸を図示している。
御部30では、CPUなどのハードウェアで記憶装置に記憶されたプログラムを実行することにより、各種計算処理、各種制御処理を行う。
プロセッサ(CPU等)などのハードウェアでプログラムを実行することにより実現できる。処理部410は、検出立体角情報取得部412と、分析データ生成部414と、表示制御部416と、を含む。
として機能する。
次に、電子顕微鏡100の動作について説明する。電子顕微鏡100において、試料Sの傾斜角が変わると、検出立体角も変わる。そのため、電子顕微鏡100では、試料Sの傾斜角が変更されると、変更された傾斜角に対応する検出立体角を示すための画像を表示部430に表示する。以下では、検出立体角を示すための画像を表示部430に表示させる表示処理について説明する。
かを判定する(S108)。例えば、操作部420から開始指示が入力された場合に、開始指示があったと判断する。
電子顕微鏡100は、試料Sの傾斜角を示す傾斜角情報とX線検出器20の検出立体角を示す検出立体角情報とを対応づけたテーブルT2が記憶された記憶部440と、傾斜機構13を制御する傾斜制御部30と、傾斜制御部30から傾斜角情報を取得し、テーブルT2を参照して、検出立体角情報を取得する検出立体角情報取得部412と、を含む。このように、電子顕微鏡100では、検出立体角情報取得部412がテーブルT2を参照して傾斜角情報から検出立体角情報を取得するため、検出立体角を容易に把握できる。
次に、第1実施形態に係る電子顕微鏡の変形例について説明する。以下では、上述した電子顕微鏡100の例と異なる点について説明し、同様の点については説明を省略する。
図8および図9は、分析画面2の変形例を模式的に示す図である。
角Ωの、X線検出器20の最大の検出立体角Ωmaxに対する割合Ω/Ωmax(以下、単に「最大検出立体角に対する割合Ω/Ωmax」ともいう)として表したものであってもよい。このとき、図5に示すテーブルT2の各座標に記録される検出立体角情報は、最大検出立体角に対する割合Ω/Ωmaxであってもよい。
第2変形例では、電子顕微鏡100は、検出立体角が変更されても、1回の測定における信号量が一定となるように、検出立体角に基づいて測定時間を設定する。図10は、検出器制御部40の変形例を示す図である。
情報に基づいて、測定時間を設定する(S202)。
第3変形例では、電子顕微鏡100は、ユーザーが操作部420を介して所望する検出立体角情報を入力すると、所望する検出立体角となるように試料Sを傾斜させる。図12は、検出器制御部40の変形例を示す図である。
第4変形例では、電子顕微鏡100は、検出立体角が小さい場合に、警告情報を通知する。図14は、検出器制御部40の変形例を示す図である。
図17は、検出器制御部40の変形例を示す図である。
2.1. 電子顕微鏡
次に、第2実施形態に係る電子顕微鏡について、図面を参照しながら説明する。図18および図19は、第2実施形態に係る電子顕微鏡200の構成を示す図である。
2(第3テーブルの一例)と、第2X線検出器220における、傾斜角情報と検出立体角情報を対応づけるテーブルT6(第4テーブルの一例)と、が記憶されている。
電子顕微鏡200における表示処理は、上述した図7に示す電子顕微鏡100における表示処理と、処理S106において、第1X線検出器20の検出立体角情報を取得するときにはテーブルT2を参照し、第2X線検出器220の検出立体角情報を取得するときにはテーブルT6を参照する点が異なる。その他の処理は、上述した図7に示す電子顕微鏡100における表示処理と同様であり、その説明を省略する。
電子顕微鏡200では、記憶部440には、テーブルT2とテーブルT6が記憶されている。そのため、電子顕微鏡200では、第1X線検出器20の検出立体角および第2X線検出器220の検出立体角を容易に把握できる。
上述した、第1実施形態の第2~第5変形例は、第2実施形態にも適用できる。
なお、本発明は上述した実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
Claims (10)
- 試料を傾斜させる傾斜機構と、
前記試料から放出される電磁波を検出する検出器と、
前記試料の傾斜角を示す傾斜角情報と前記検出器の検出立体角を示す検出立体角情報とを対応づけたテーブルが記憶されたテーブル記憶部と、
前記傾斜機構を制御する傾斜制御部と、
前記傾斜制御部から前記傾斜角情報を取得し、前記テーブルを参照して、前記検出立体角情報を取得する検出立体角情報取得部と、
を含む、荷電粒子線装置。 - 請求項1において、
前記検出器における電磁波の検出結果に基づいて分析データを生成する分析データ生成部と、
前記分析データが記憶される分析データ記憶部と、
を含み、
前記分析データ生成部は、
前記検出立体角情報取得部から前記検出立体角情報を取得する処理と、
取得した前記検出立体角情報を、前記分析データに関連づけて、前記分析データ記憶部に記憶する処理と、
を行う、荷電粒子線装置。 - 請求項1または2において、
前記検出立体角情報に基づく画像を、表示部に表示させる表示制御部を含む、荷電粒子線装置。 - 請求項3において、
前記検出立体角情報は、検出立体角を、検出立体角の、前記検出器で得られる最大の検出立体角に対する割合として表したものである、荷電粒子線装置。 - 請求項1ないし4のいずれか1項において、
前記検出器で前記電磁波を検出する測定時間を設定する測定時間設定部を含み、
前記測定時間設定部は、前記検出立体角情報に基づいて、前記測定時間を設定する、荷電粒子線装置。 - 請求項1ないし5のいずれか1項において、
前記検出立体角情報の入力を受け付ける入力受付部と、
前記入力受付部から前記検出立体角情報を取得し、前記テーブルを参照して、前記傾斜角情報を取得する傾斜角情報取得部と、
を含み、
前記傾斜制御部は、前記傾斜角情報に基づいて、前記傾斜機構を制御する、荷電粒子線装置。 - 請求項1ないし6のいずれか1項において、
前記検出立体角情報が示す検出立体角が閾値よりも小さい場合に、警告情報を通知する通知部を含む、荷電粒子線装置。 - 請求項1ないし7のいずれか1項において、
前記試料に電子線を照射する照射系レンズを含み、
前記電磁波は、X線である、荷電粒子線装置。 - 請求項1ないし8のいずれか1項において、
前記傾斜機構を有する試料ステージと、
前記試料ステージに装着可能であって、前記試料を保持する第1試料ホルダーと、
前記試料ステージに装着可能であって、前記試料を保持し、前記第1試料ホルダーと形状の異なる第2試料ホルダーと、
を含み、
前記テーブル記憶部には、2つの前記テーブルが記憶され、
2つの前記テーブルのうちの第1テーブルは、前記第1試料ホルダーにおける、前記傾斜角情報と前記検出立体角情報を対応づけるテーブルであり、
2つの前記テーブルのうちの第2テーブルは、前記第2試料ホルダーにおける、前記傾斜角情報と前記検出立体角情報を対応づけるテーブルである、荷電粒子線装置。 - 請求項1ないし9のいずれか1項において、
前記検出器は、2つ配置され、
前記テーブル記憶部には、2つの前記テーブルが記憶され、
2つの前記テーブルのうちの第3テーブルは、2つの前記検出器のうちの第1検出器における、前記傾斜角情報と前記検出立体角情報を対応づけるテーブルであり、
2つの前記テーブルのうちの第4テーブルは、2つの前記検出器のうちの第2検出器における、前記傾斜角情報と前記検出立体角情報を対応づけるテーブルである、荷電粒子線装置。
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