JP2022106202A

JP2022106202A - パーフルオロポリエーテル誘導体、潤滑剤及び磁気記録媒体

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Publication number: JP2022106202A
Application number: JP2021001050A
Authority: JP
Inventors: 洋文近藤; Hirofumi Kondo; 光範黒田; Mitsunori Kuroda
Original assignee: Moresco Corp
Current assignee: Moresco Corp
Priority date: 2021-01-06
Filing date: 2021-01-06
Publication date: 2022-07-19

Abstract

【課題】磁気記録媒体の耐久性を改善可能な潤滑剤を提供する。【解決手段】本発明の一態様に係る化合物は、下記式（１）または式（２）で表されるパーフルオロポリエーテル誘導体である。TIFF2022106202000025.tif25161TIFF2022106202000026.tif32161式中、Ｒは炭素数が１０以上の炭化水素基であり、ｍは１～５の整数であり、ｎは３～７０の整数である。【選択図】なし

Description

本発明はパーフルオロポリエーテル誘導体、潤滑剤及び磁気記録媒体に関する。

近年、クラウドおよびビッグデータなどのＩＣＴを活用した研究開発およびビジネス・サービス等の普及により、企業または行政機関から生み出される膨大な量のデジタルデータを、安全に低コストで長期にわたって保管することは非常に大きな課題となっている。従来、データ記録方法の一つである磁気テープシステムは、音声またはビデオデータを保存可能であることから、大きな市場が存在していた。これに加えて近年では磁気テープシステムは、デジタルデータのバックアップおよびアーカイブ用途としての市場が存在する。その理由として、磁気テープシステムは、フレキシブル磁気ディスクおよび光ディスク等の他の記録方式と比較して、ランダムアクセス等の機能は保持しないが、（ｉ）システムの導入・維持管理を含めた総保有コストが低いこと、（ｉｉ）長期保存特性に優れていて信頼性が高いこと、（ｉｉｉ）カートリッジ１巻当たりの容量が圧倒的に大きいこと、（ｉｖ）ロードマップが示されていること（例えば、非特許文献１）等が挙げられる。

ＬＴＯ（ＬｉｎｅａｒＴａｐｅ－Ｏｐｅｎ）は２０００年代初期に市場導入されて以降、デジタルデータのバックアップシステムとして年率４０％の割合で記録容量を増加させてきた。また、磁気テープ用の記録材料として長年使用されてきたメタル磁性粉およびＢａＦｅ磁性粉、並びに薄膜磁気記録媒体等の研究開発が進められている。プロトタイプでは２００６年には６．７Ｇｂｉｔ/ｉｎ^２(カートリッジ容量として８ＴＢ)（非特許文献２）、２０１０年には２９．５Ｇｂｉｔ/ｉｎ^２（非特許文献３）、２０１４年には８５．９Ｇｂｉｔ/ｉｎ^２（非特許文献４）が達成された。さらに２０１７年にはルテニウム中間層に磁性層としてＣｏＰｔＣｒ－ＳｉＯ_２を設けたスパッタリング薄膜媒体を用いることによって２０１Ｇｂｉｔ/ｉｎ^２（非特許文献５）が達成された。このように磁気テープの高容量化のトレンドが保たれている。

磁気テープを高容量化するための方法としては、磁性粉の微粒子化、垂直磁化配向、磁気テープの膜厚減少、磁気テープ表面の平滑化等がある。つまり磁気テープの高記録密度化のためには、単位体積当たりの磁性粉の個数を向上させる必要がある。結晶磁気異方性を有するＢａＦｅ磁性粉は、垂直方向に磁化容易軸を持ち、形状に依存せずに安定して磁化を発現できるために、磁気テープの高記録密度化に適している。

また磁気テープの記録再生特性の向上には、磁気ヘッド－メディア間のスペーシングをできるだけ低下させることが必要である。これを満足するためには、特許文献１、非特許文献６、非特許文献５に記載されているように、十分な磁性層の平滑性が必要になる。また、磁気ヘッドとしては、異方性磁気抵抗効果型再生ヘッド（いわゆるＡＭＲヘッド）、更に感度の高い巨大磁気抵抗効果型再生ヘッド（いわゆるＧＭＲヘッド）も提案されている。

磁気ヘッド－メディア間のスペーシングを低下させる方法としては、例えば磁性層内に非磁性粒子、例えば微粒子のアルミナフィラーを内添して磁気テープ表面に突起を形成し、ミクロな領域での表面形状を制御することで真実接触面積を減少させる方法がある。しかしながら、非磁性粒子の存在は、磁性粒子数の減少につながり、電磁変換特性を低下させるため、磁気ヘッド－メディア間のスペーシングと、電磁変換特性とは、トレードオフの関係にある。

このような電磁変換特性の低下を抑え、かつ磁気ヘッドと磁気記録媒体との間の摩擦係数を改善し、磁気記録媒体耐久性を改善するために、優れた潤滑剤の開発が求められている。

磁気記録媒体のライフにおいて、蒸発、スピンオフ、化学的な劣化などを生じさせずに、潤滑剤を磁気記録媒体表面に存在させることは、重要である。このことは特に潤滑剤を磁気記録媒体表面に塗布する場合に重要となる。潤滑剤を磁気記録媒体表面に塗布する場合には、磁気記録媒体に潤滑剤を内添する場合と異なり、磁性層内部から潤滑剤を補充できないためである。

従来の磁気記録媒体では潤滑剤として、長鎖炭化水素系のエステル、カルボン酸、あるいはそれらの混合物が使用されてきた。しかしながら、これらを磁気記録媒体表面に塗布した場合、表面が平滑化された磁気記録媒体での摩擦係数は高く、また熱安定性もよくないために長期保存における潤滑剤の劣化が避けられない。

そのため、ハードディスクのような表面平滑性が高い薄膜磁気記録媒体に用いられる潤滑剤としては、パーフルオロポリエーテル（ＰＦＰＥ）誘導体を主とする潤滑剤が分子設計および合成されている。

その中で、磁気記録媒体用潤滑剤として特許文献２には、部分フッ化アルキル系化合物が、薄膜磁気記録媒体の潤滑剤として提案されている。特許文献３には、カルボン酸と部分フッ化アルキルとを有するモノエステルモノカルボン酸誘導体が開示されている。特許文献４には、パーフルオロポリエーテル誘導体であって、両末端にカルボン酸とエステル基を持つ化合物が薄膜磁気記録媒体の潤滑剤として提案されている。

また、特許文献５には、コハク酸無水物との反応によるパーフルオロポリエーテル誘導体化合物が、薄膜磁気記録媒体の潤滑剤として提案されている。

特開２００７－２７３０４１号公報特開２００３－３００９３８号公報特開平１１－３２８６５８号公報特開２００２－２２６５７４号公報特開平４－２７０２４３号公報

"LTO Program Further Extends Product Roadmap Through Generation 10" [2015年11月20日検索] インターネット<URL：http//www.lto.org/2014/09/lto-program-further-extends-product-roadmapthrough-generation-10/> D. Berman et al., "6.7Gbit/in2Recording Areal Density on Barium Ferrite Tape" IEEE Trans. Magn. (2007) vol.43, pp.3502-3508 G. Cherubini et al., "29.5 Gbit/in2 Recording Areal Density on Barium Ferrite Tape" IEEE Trans. Magn. (2011) vol.47, pp.137-147. S. Furrer et al., "85.9 Gbit/in2Recording Areal Density on Barium Ferrite Tape" IEEE Trans. Magn. (2015) vol.51, pp.1-7. S. Furrer et al., The 28th Magnetic Recording Conference BP-02． T. Harasawa et al., Synthesiology -English edition, Vol.10, No.1, pp.24-33 (2017)

しかしながら、上述のような従来技術は、磁気記録媒体の耐久性を向上する観点からはさらなる改善の余地があった。

本発明の一態様は、前記問題点を鑑みなされたものであり、その目的は、磁気記録媒体の耐久性を改善可能な潤滑剤を提供することである。

本発明者らは、前記課題を解決するために鋭意研究を重ねた結果、特定の構造を有する化合物が、磁気記録媒体の摩擦係数を従来技術よりも低下させ、耐久性を改善できることを見出し、本発明を完成するに至った。すなわち、本発明は以下の構成を含む。

＜１＞下記式（１）で表される、パーフルオロポリエーテル誘導体。

式中、Ｒは炭素数が１０以上の炭化水素基であり、ｍは１～５の整数であり、ｎは３～７０の整数である。

＜２＞下記式（２）で表されるパーフルオロポリエーテル誘導体。

＜３＞＜１＞に記載のパーフルオロポリエーテル誘導体と、＜２＞に記載のパーフルオロポリエーテル誘導体とを含むパーフルオロポリエーテル組成物。

＜４＞＜１＞または＜２＞に記載のパーフルオロポリエーテル誘導体、あるいは請求項＜３＞に記載のパーフルオロポリエーテル組成物を含む潤滑剤。

＜５＞内部に＜４＞に記載の潤滑剤を含む、高分子フィルム。

＜６＞樹脂層と、前記樹脂層上に積層された潤滑剤層とを備え、前記潤滑剤層は、＜４＞に記載の潤滑剤を含む、高分子フィルム。

＜７＞非磁性支持体と、前記非磁性支持体上に積層された磁性層とを備え、前記磁性層は、＜４＞に記載の潤滑剤を含む、磁気記録媒体。

＜８＞非磁性支持体と、前記非磁性支持体上に積層された磁性層と、前記磁性層上に積層された潤滑剤層とを備え、前記潤滑剤層は、＜４＞に記載の潤滑剤を含む、磁気記録媒体。

本発明の一態様によれば、磁気記録媒体の耐久性を改善可能な潤滑剤を提供できる。

本発明の一実施形態に係る高分子フィルムの断面模式図である。本発明の一実施形態に係る磁気テープの断面模式図である。本発明の一実施形態に係る磁気テープの断面模式図である。本発明の一実施形態に係る磁気ディスクの断面模式図である。実施例におけるピンオンディスク摩擦試験機の模式図である。化合物１、２、および化合物１と化合物２とを混合した組成物のＦＴＩＲスペクトルを表したグラフである。実施例および比較例における、高分子フィルム上での摩擦係数の推移を示すグラフである。実施例および比較例における、磁気テープ上での摩擦係数の推移を示すグラフである。

以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。ただし、本発明はこれに限定されるものではなく、記述した範囲内で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。なお、本明細書において特記しない限り、数値範囲を表す「Ａ～Ｂ」は、「Ａ以上、Ｂ以下」を意図する。

〔１．パーフルオロポリエーテル誘導体〕
本発明の一実施形態に係るパーフルオロポリエーテル誘導体は、下記式（１）または下記式（２）で表される。

以下、前記式（１）で表されるパーフルオロポリエーテル誘導体を誘導体Ａ、前記式（２）で表されるパーフルオロポリエーテル誘導体を誘導体Ｂとも称する。

従来、下記式（３）で表されるパーフルオロポリエーテル化合物が知られている。このパーフルオロポリエーテル化合物はＤＤＯＨとも称される。

誘導体Ａおよび誘導体Ｂは、このＤＤＯＨが有する水酸基の少なくとも一部を変性した構造を有する。具体的には、誘導体Ａおよび誘導体Ｂでは、ＤＤＯＨの水酸基が、炭素数が１０以上の炭化水素基とエステル基とカルボキシル基とを有する官能基によって置換されている。誘導体ＡはＤＤＯＨの水酸基の一方のみを変性した化合物であり、誘導体ＢはＤＤＯＨの水酸基の全てを変性した化合物である。

前記パーフルオロポリエーテル誘導体は、極性基である水酸基、エステル基および／またはカルボキシル基を分子内の片末端に合計３個以上含有している。それゆえ前記パーフルオロポリエーテル誘導体を含む潤滑剤を磁性層に塗布すると、ＤＤＯＨ等のように極性基を２個以下しか有さない化合物を含む従来の潤滑剤と比較して磁性層により強く配向吸着すると考えられる。そのため、前記パーフルオロポリエーテル誘導体を含む潤滑剤は、従来の潤滑剤よりも磁気記録媒体の摩擦係数をより低下させることができる。また、前記パーフルオロポリエーテル誘導体を含む潤滑剤は、低い摩擦係数を維持することができる。よって、磁気記録媒体の耐久性、特に現在求められている高密度記録を可能にする平滑性を持った高い電磁変換特性を有する磁気記録媒体の耐久性を向上させることができる。

前記式（１）および式（２）において、Ｒは炭素数が１０以上の炭化水素基である。炭素数は、１０以上であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。前記炭素数の上限値としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、原材料の調達の観点から、前記炭素数は、３０以下が好ましく、２５以下がより好ましく、２０以下が特に好ましい。前記炭化水素基の炭素数が１０以上であることにより、摩擦係数を低減し、潤滑特性を向上させることができる。なお、炭素数は、得られるパーフルオロポリエーテル誘導体の溶解性および融点を考慮して決定されてもよい。

前記炭化水素基は直鎖状であってもよく、分岐鎖を含んでいてもよいが、摩擦係数の低減の観点から直鎖状であることが好ましい。また、前記炭化水素基は水素がフッ素、芳香環、複素環等に置換されていてもよい。

また、炭素数が１０以上であれば、パーフルオロポリエーテル誘導体中のフッ素原子の割合が低下し、かつ得られる潤滑剤の耐摩耗性が向上する。また、フッ素原子の割合が低下すると、潤滑剤として使用する際の溶媒に対する溶解性が向上する。

本発明の一実施形態には、誘導体Ａと誘導体Ｂとを含む組成物も包含される。本明細書では、当該組成物をパーフルオロポリエーテル組成物とも称する。誘導体Ａおよび誘導体Ｂの混合比率は特に限定されず、後述する実施例では例示的に５：２の比率で混合しているが、任意の比率で混合することができる。

〔２．パーフルオロポリエーテル誘導体の製造方法〕
前記パーフルオロポリエーテル誘導体の製造方法については特に限定されるものではない。例えば、前記パーフルオロポリエーテル誘導体は、パーフルオロポリエーテル化合物と、炭素数が１０以上の側鎖を有するコハク酸無水物とを反応させること等により得られる。炭素数が１０以上の側鎖を有するコハク酸無水物を以下では長鎖コハク酸無水物とも称する。

前記パーフルオロポリエーテル化合物としては例えば、上述のＤＤＯＨが挙げられる。長鎖コハク酸無水物としては、デシルコハク酸無水物、ドデシルコハク酸無水物、トリデシルコハク酸無水物、テトラデシルコハク酸無水物、ペンタデシルコハク酸無水物、ヘキサデシルコハク酸無水物、ヘプタデシルコハク酸無水物、オクタデシルコハク酸無水物等が挙げられる。この長鎖コハク酸無水物の側鎖は、上述の誘導体ＡおよびＢのＲで表される炭化水素基に相当する。

誘導体Ａは、具体的には以下の方法により合成され得る。まず、ＤＤＯＨと長鎖コハク酸無水物１等量とを油浴下で撹拌しながら反応させる。反応終了後、得られた反応産物を溶媒に溶解させて、不純物を濾過し、さらに溶媒を除去する。これにより誘導体Ａが得られる。油浴温度は好ましくは、１１０～１５０℃であり、反応時間は好ましくは２～４時間である。反応終了後に溶解させる溶媒としては例えば、ジイソプロピルエーテル、ジエチルエーテル、Ｖｅｒｔｒｅｌ^ＴＭ－ＸＦ（三井・デュポンフロロケミカル製）等が挙げられる。

得られた化合物の同定は、例えばフーリエ変換赤外分光（ＦＴＩＲ）測定によって行うことができる。ＦＴＩＲ測定により同定する場合、水酸基、エステル基、またはカルボキシル基に帰属されるＩＲピークを測定することで、目的の化合物であるかどうかを確認することができる。

誘導体Ｂは、ＤＤＯＨと長鎖コハク酸無水物２等量とを用いることで得られる。また、誘導体Ａおよび誘導体Ｂを含むパーフルオロポリエーテル組成物は、ＤＤＯＨと反応させる長鎖コハク酸無水物のモル比率を１～２等量の範囲で変更することによって得ることができる。誘導体Ａと誘導体Ｂとの比率は、反応段階で用いる化合物のモル比率を変化させることで容易に変更することができる。

〔３．潤滑剤〕
本発明の一実施形態に係る潤滑剤は、上述のパーフルオロポリエーテル誘導体、あるいは上述のパーフルオロポリエーテル組成物を含む。換言すれば、本発明の一実施形態に係る潤滑剤は、誘導体ＡおよびＢのうち、少なくとも一種類を含む。

特に表面が平滑化された磁気記録媒体においては、表面に潤滑剤が塗布される。従来、この潤滑剤の能力不足に起因して、例えば走行試験において磁気テープの再生出力が低下することがあった。この場合、実用特性に不満が残る。また、繰り返しの使用により摩擦係数が上昇する場合、長期にわたっての信頼性にも不安が残る。これらの観点から、本発明者は、磁気記録媒体の耐久性を改善し得る潤滑剤を検討した。

本発明の一実施形態に係る潤滑剤を磁気記録媒体に用いることにより、各種使用条件下において優れた潤滑性が保たれるとともに、長期間にわたって潤滑効果が持続される。これにより、優れた走行性、耐摩耗性、耐久性等を提供できる。また、前記磁気記録媒体以外にも、例えば耐久性を改善した高分子フィルム等の潤滑特性の向上も可能となる。

前記潤滑剤中の誘導体Ａおよび／または誘導体Ｂの含有量は、潤滑剤の性能を損なわない範囲であれば特に限定されるものではないが、４．０～２４．０ｇ／Ｌであることが好ましく、６．０～２０．０ｇ／Ｌであることがより好ましく、８．０～１６．０ｇ／Ｌであることがさらに好ましい。

潤滑剤はその性能を損なわない範囲で、誘導体Ａおよび誘導体Ｂ以外のその他の成分を含んでいてもよい。例えば、本発明の一実施形態に係る潤滑剤は、さらに、溶媒を含んでいてもよい。

前記溶媒の例としては、ジイソプロピルエーテル、ｎ－ヘキサン、Ｖｅｒｔｒｅｌ^ＴＭ－ＸＦ（三井・デュポンフロロケミカル製）、エタノール等が挙げられる。前記パーフルオロポリエーテル誘導体および前記パーフルオロポリエーテル組成物に対する溶解性が高い観点から、溶媒はジイソプロピルエーテルであることが好ましい。

〔４．高分子フィルム〕
本発明の一実施形態に係る高分子フィルムは、内部に上述の潤滑剤を含む。

高分子フィルムは前記潤滑剤の他に、例えばポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、塩化ビニル系共重合体等を含んでいてもよい。これらの樹脂は１種類のみを用いてもよいし、複数種類を組み合わせて用いてもよい。複数種類を組み合わせる場合、例えば塩化ビニル系共重合体と、ポリウレタンとを混合して用いてもよい。この場合、塩化ビニルとポリウレタンの重量比率は好ましくは１：９～９：１、より好ましくは７：３～３：７である。

前記高分子フィルム全体を１００重量％とした場合、高分子フィルムの内部に含まれる前記潤滑剤は、０．１重量％～５．０重量％であることが好ましく、０．５重量％～３．０重量％であることがより好ましく、０．５重量％～１.０重量％であることがさらに好ましい。高分子フィルム内の潤滑剤が０．５重量％以上であれば、得られる高分子フィルムの耐摩耗性が向上し、１.０重量％以下であれば高分子フィルムを形成しやすくなる。

高分子フィルム４は、図１に示すように、樹脂層２と、樹脂層２上に積層された潤滑剤層１とを備えてもよい。潤滑剤層１に含まれる潤滑剤は、誘導体Ａまたは誘導体Ｂの少なくとも一方を含んでいる。そのため、樹脂層２に強く配向吸着し、摩擦係数が低下するため、高分子フィルム４の耐久性が向上する。

前記高分子フィルム４の厚みは特に限定されるものではないが、１.０～２００μｍであってもよい。なお、内部に潤滑剤を含む高分子フィルムの厚みが上記範囲であってもよく、潤滑層と樹脂層とを備える高分子フィルムの厚みが上記範囲であってもよい。

前記樹脂層２は、例えばポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、塩化ビニル系共重合体等から構成される。これらの樹脂は１種類のみを用いてもよいし、複数種類を組み合わせて用いてもよい。複数種類を組み合わせる場合、例えば塩化ビニル系共重合体と、ポリウレタンとを混合して用いてもよい。この場合、塩化ビニルとポリウレタンの重量比率は好ましくは１：９～９：１、より好ましくは７：３～３：７である。

前記高分子フィルム４は、支持体として基板３をさらに含んでいてもよい。前記基板３は例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリカーボネート等から構成される。前記基板３の厚みは、例えば１～６０μｍであってもよい。

潤滑剤を塗布する前記樹脂層２および前記基板３を得る方法は特に限定されず、公知の技術に基づいて合成してもよいし、市販品を用いても良い。

〔５．磁気記録媒体〕
本発明の一実施形態に係る磁気記録媒体は、非磁性支持体と、前記非磁性支持体上に積層された磁性層とを備え、前記磁性層は、上述の潤滑剤を含む。または、本発明の一実施形態に係る磁気記録媒体は、非磁性支持体と、前記非磁性支持体上に積層された磁性層と、前記磁性層上に積層された潤滑剤層とを備え、前記潤滑剤層は、上述の潤滑剤を含んでいてもよい。

本明細書において「磁気記録媒体」とは、磁性層を備えた記録媒体を意味する。「磁気記録媒体」の一例としては、磁気テープ、磁気ディスク等が挙げられる。摩擦係数を低下させ、耐久性を向上しやすい観点から、磁気記録媒体は磁気テープおよび磁気ディスクであることが好ましい。

図２は本発明の一実施形態に係る磁気テープの構成を示す断面模式図である。磁気テープ１６は、磁性層１３と、非磁性支持体であるベースフィルム１４およびバックコート層１５とがこの順に積層されてなる。磁性層１３は顔料１１と、磁性粉末１２と、潤滑剤および種々の添加剤、バインダー等を含んでいる。そのため、磁性層１３の内部から表面へ潤滑剤が染み出し、磁気テープ表面の摩擦係数を継続的に低下させる。

磁気テープ１６は、図３の断面模式図に示すように、磁性層１３の上に、前記潤滑剤を含む潤滑剤層１が形成されていてもよい。この場合、潤滑剤層１が磁性層１３に強く配向吸着することにより、摩擦係数を低下させ、磁気テープ１６の耐久性を維持することができる。また、磁性層１３の内部に潤滑剤を含み、かつ磁性層１３の上部に潤滑剤層１が形成されていてもよい。

顔料１１としては例えば、アルミナ等の研磨剤、非磁性酸化鉄等が挙げられる。

磁性粉末１２としては例えば、γ－Ｆｅ_２Ｏ_３、コバルト被着γ－Ｆｅ_２Ｏ_３等の強磁性酸化鉄系粒子、強磁性二酸化クロム系粒子、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ等の金属、これらを含んだ合金からなる強磁性金属系粒子、六角板状の六方晶系フェライト微粒子等が挙げられる。六方晶フェライト、イプシロン型酸化鉄（ε酸化鉄）、Ｃｏ含有スピネルフェライト、ガンマヘマタイト、マグネタイト、二酸化クロム、コバルト被着酸化鉄等が挙げられる。

前記バインダーとしては、塩化ビニル、酢酸ビニル、ビニルアルコール、塩化ビニリデン、アクリル酸エステル、メタクリル酸エステル、スチレン、ブタジエン、アクリロニトリル等の重合体、あるいはこれら二種以上を組み合わせた共重合体、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂等が例示される。前記バインダーには、磁性粉末の分散性を改善するために、スルホン酸基、カルボキシル基、リン酸基等の親水性極性基が導入されてもよい。バインダーは一般に磁気記録媒体に使用されるものであれば特に限定されず、例えば、架橋反応が行われたポリウレタン系樹脂または塩化ビニル系樹脂、熱硬化性樹脂、または反応型樹脂等が挙げられる。

ベースフィルム１４は、磁気テープの支持体として機能する層である。ベースフィルム１４の材料としては例えば、ポリエステル、ＰＥＴ、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）、ポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）、ポリブチレンナフタレート（ＰＢＮ）、ポリシクロヘキシレンジメチレンテレフタレート（ＰＣＴ）、ポリエチレン－ｐ－オキシベンゾエート（ＰＥＢ）、アラミド（芳香族ポリアミド）およびポリエチレンビスフェノキシカルボキシレート等の１種類以上が挙げられる。また、ベースフィルム１４として前記高分子フィルムを用いてもよい。

バックコート層１５は、磁気テープの走行性を改善するための層である。バックコート層１５の材料としては例えば、ポリウレタン系樹脂、ニトロセルロース系樹脂、ポリエステル系樹脂、カーボン及び炭酸カルシウム等が挙げられる。

図４は本発明の一実施形態に係る磁気ディスクの構成を示す断面模式図である。磁気ディスク２３は潤滑剤層１と、保護層２１と、磁性層１４と、下地層２２と、基板３がこの順に積層されてなり、前記潤滑剤層１が前記潤滑剤を含む。別の実施形態においては、磁性層の下に下層、下層の下に配置される軟磁性下層および１層以上の軟磁性層の下に配置される接着層を含んでいてもよい。

潤滑層以外の磁気ディスクの各層は、磁気ディスクの個別の層に好適であると当該技術分野において知られている材料を含むことができる。例えば、保護層２１としては、カーボン膜が挙げられる。また、下地層２２は例えば、導電性粒子、硬化剤、防錆剤等の添加剤を含んでいてもよく、さらに、前記潤滑剤を含んでいてもよい。

潤滑層以外の層を得る方法は特に限定されず、公知の技術に基づいて合成してもよいし、市販品を用いてもよい。

以下、実施例および比較例に基づいて本発明の一態様をより詳細に説明するが、本発明の態様はこれらに限定されるものではない。

＜高分子フィルムサンプルの作製＞
図１に示す構造を有する高分子フィルムサンプルを以下のように作製した。まず、塩化ビニル（塩ビ）（カネカ製、商品名：ＭＲ１０４）およびポリウレタン（東洋紡製、商品名：バイロン（登録商標）ＵＲ－８３００）を、重量比率が塩ビ／ポリウレタン＝１／１となるように混合し、樹脂を作製した。次に、前記樹脂を濃度１０ｗｔ％で重量比率がトルエン／メチルエチルケトン＝１／１である混合溶媒に溶解させ、溶液を作製した。続いて、スペースが３０μｍであるドクターブレードを用いて、前記溶液を厚さ５０μｍのＰＥＴ製基板上に塗布し、常温で３ｈ乾燥させた。最後に６０℃で４ｈ真空乾燥させて、樹脂層の厚さが５μｍ程度である高分子フィルムを作製した。表１に記載の化合物または混合物を１６．０ｇ／Ｌの濃度で含む溶液を調製した。実施例３では化合物１＋化合物２の合計を１６．０ｇ／Ｌとした。実施例６および実施例９も同様である。当該溶液を調製するために用いた溶媒を表１に示す。当該溶液に前記高分子フィルムを浸漬し、引き上げ速度２ｍｍ／ｓで当該溶液を塗布して、高分子フィルムサンプルを得た。

＜磁気テープサンプルの作製＞
図３に示す構造を有する磁気テープサンプルを以下のように作製した。市販の磁気テープであるＵｌｔｒｉｕｍ７（富士フイルム社製）を用意した。また、表１に記載の化合物を８．０ｇ／Ｌの濃度で含む溶液を調製した。高分子フィルムの作製時と同様に、当該溶液に前記Ｕｌｔｒｉｕｍ７を浸漬し、引き上げ速度２ｍｍ／ｓで当該溶液を塗布することで、磁気テープサンプルを得た。

＜摩擦試験方法＞
摩擦係数は、図５に模式図を示すトライボギア摩擦摩耗試験機ＴＹＰＥ：４０（Ｈｅｉｄｏｎ製）を用いて測定した。具体的な測定方法としては、ガラスプレート上にサンプルをセットし、その上にピンを固定し、規定量の荷重をかける。その状態でピンをサンプル上にて規定回数往復させ、その際に生じた摩擦力をひずみゲージによって測定した。

測定対象が高分子フィルムの場合、荷重１００ｇ、４ｍｍφのＳＵＳ球を用いて、移動速度１６．７ｍｍ／ｓ、走行距離２０ｍｍの条件下にて１００～３００往復させた。

測定対象が磁気テープの場合、荷重５０ｇ、４ｍｍφのＳＵＳ球を用いて、移動速度１．０ｍｍ／ｓ、走行距離５ｍｍの条件下にて１０往復させた。

＜ＦＴＩＲ測定＞
ＦＴＩＲ測定は、フーリエ変換赤外分光装置（サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社製、商品名：ＮｉｃｏｌｅｔｉＳ１０ＦＴＩＲ）を用いて行った。

〔実施例１〕
化合物１の合成を、以下の式（４）の通りに行った。

まず、末端に２個の水酸基を持つ分子量２０３０のパーフルオロポリエーテル（ＤＤＯＨ）２０．２８ｇと、１等量のオクタデシルコハク酸無水物３．５２ｇとを温度１５０℃の油浴下で攪拌しながら３ｈ反応させた。反応終了後、ジイソプロピルエーテルに溶解させて不溶物を濾過し、溶媒を除去して、化合物を得た。

得られた化合物をＦＴＩＲ測定によって同定した。結果を図６の化合物１のグラフに示す。当該グラフではエステル基に帰属されるカルボニル基のＩＲ吸収のピークが波数１７３８ｃｍ^－１に観察されている。また、カルボキシル基に帰属されるカルボニル基のＩＲ吸収のピークが波数１７０４ｃｍ^－１に観察されている。このことから得られた化合物にはエステル基およびカルボキシル基が存在していることがわかる。これにより得られた化合物が、前記式（４）の右辺に示される化合物１であることが同定された。なお水酸基のＩＲ吸収は、原料であるＤＤＯＨでも確認されなかったため、本実施例における同定には用いなかった。

〔実施例２〕
化合物２の合成を、以下の式（５）の通りに行った。

ＤＤＯＨ２０．８５ｇと、２等量のオクタデシルコハク酸無水物７．１９ｇとを化合物１と同様の方法により反応させて、化合物を得た。

得られた化合物をＦＴＩＲ測定によって同定した。結果を図６の化合物２のグラフに示す。当該グラフではエステル基に帰属されるカルボニル基のＩＲ吸収のピークが波数１７３８ｃｍ^－１に観察されている。また、カルボキシル基に帰属されるカルボニル基のＩＲ吸収のピークが波数１７０４ｃｍ^－１に観察されている。このことから得られた化合物にはエステル基およびカルボキシル基が存在していることがわかる。また、化合物１の測定時に比べてピーク強度が大きい。これにより得られた化合物が、前記式（５）の右辺に示される化合物２であることが同定された。

〔実施例３〕
化合物１と化合物２を１／０．４のモル比で含む組成物の合成を、以下の式（６）の通りに行った。

ＤＤＯＨ２３．１５ｇと１．４等量のオクタデシルコハク酸無水物５．６２ｇを化合物１と同様の方法により反応させて、組成物を得た。

得られた組成物をＦＴＩＲ測定によって同定した。結果を図６の化合物１／化合物２＝１／０．４のグラフに示す。当該グラフではエステル基に帰属されるカルボニル基のＩＲ吸収のピークが波数１７３８ｃｍ^－１に観察されている。また、カルボキシル基に帰属されるカルボニル基のＩＲ吸収のピークが波数１７０４ｃｍ^－１に観察されている。また、測定されたピーク強度は、化合物１のピーク強度より大きく、化合物２のピーク強度より小さい。これにより得られた組成物が、化合物１と化合物２とを含む組成物であることが同定された。

化合物１および２の材料である、オクタデシルコハク酸無水物の、ＤＤＯＨに対する比率が大きくなるにつれて、生成物分子中のカルボニル基の相対分率が高まる。したがって、組成物中の化合物１および化合物２の比率は、ＦＴＩＲのエステル基およびカルボキシル基のピークを基にして算出することができる。このことは、化合物１、化合物１および２を混合した組成物、化合物２の順でエステル基およびカルボキシル基のピークの強度が、大きくなることからも確認できる。

〔実施例４〕
化合物３の合成を、以下の式（７）の通りに行った。

ＤＤＯＨ２１．２０ｇと１等量のドデシルコハク酸無水物２．８０ｇを化合物１と同様の方法により反応させて、化合物を得た。また化合物１と同様にＦＴＩＲ測定を行って、得られた化合物が前記式（７）の右辺に示される化合物３であることを同定した（結果は図示せず）。

〔実施例５〕
化合物４の合成を、以下の式（８）の通りに行った。

ＤＤＯＨ２０．２０ｇと２等量のドデシルコハク酸無水物５．３４ｇを化合物１と同様の方法により反応させて、化合物を得た。また化合物１と同様にＦＴＩＲ測定を行って、得られた化合物が前記式（８）の右辺に示される化合物４であることを同定した（結果は図示せず）。

〔実施例６〕
化合物３と化合物４とを１／０．４のモル比で含む組成物の合成を、以下の式（９）の通りに行った。

ＤＤＯＨ２３．００ｇと１．４等量のドデシルコハク酸無水物４．２５ｇを化合物１と同様の方法により反応させて、組成物を得た。また化合物１と同様にＦＴＩＲ測定を行って、得られた組成物が前記式（９）の右辺に示される化合物３と化合物４とを含む組成物であることを同定した（結果は図示せず）。

〔実施例７〕
化合物５の合成を、以下の式（１０）の通りに行った。

ＤＤＯＨ２２．０５ｇと１等量のテトラデシルコハク酸無水物３．２２ｇを化合物１と同様の方法により反応させて、化合物を得た。また化合物１と同様にＦＴＩＲ測定を行って、得られた化合物が前記式（１０）の右辺に示される化合物５であることを同定した（結果は図示せず）。

〔実施例８〕
化合物６の合成を、以下の式（１１）の通りに行った。

ＤＤＯＨ２０．５０ｇと２等量のテトラデシルコハク酸無水物５．９８ｇを化合物１と同様の方法により反応させて、化合物を得た。また化合物１と同様にＦＴＩＲ測定を行って、得られた化合物が前記式（１１）の右辺に示される化合物６であることを同定した（結果は図示せず）。

〔実施例９〕
化合物５と化合物６とを１／０．４のモル比で含む組成物の合成を、以下の式（１２）の通りに行った。

ＤＤＯＨ２４．１０ｇと１．４等量のテトラデシルコハク酸無水物４．９２ｇを化合物１と同様の方法により反応させて、組成物を得た。また化合物１と同様にＦＴＩＲ測定を行って、得られた組成物が化合物５と化合物６とを含む組成物であることを同定した（結果は図示せず）。

なお、化合物１～６において、ｎは全て９であった。

〔比較例１〕
比較化合物１の合成を、以下の式（１３）の通りに行った。

まず、末端に１個の水酸基を持つパーフルオロポリエーテル（Ｄ２Ｍ）１９．９６ｇとオクタデシルコハク酸無水物４．９２ｇとを、温度１５０℃の油浴下で攪拌しながら１１ｈ反応させた。反応終了後冷却し、過剰に加えたオクタデシルコハク酸無水物を取り除き、ジイソプロピルエーテルに溶解させて不溶物を濾過し、溶媒を除去して、化合物を得た。

得られた化合物を、ＦＴＩＲ測定によって同定した。カルボニル基に帰属されるＩＲ吸収のピークが２個現れることにより、得られた化合物が前記式（１３）の右辺に示される比較化合物１であることが同定された。なお、比較化合物１は特許文献４に開示されている化合物であり、ｎ＝９である。

〔比較例２〕
比較化合物２の合成を、以下の式（１４）の通りに行った。

Ｄ２Ｍ１６４．８５ｇとピリジン７．１０ｇとをｎ－ヘキサン２００ｃｃに加えて、攪拌しながらステアリン酸クロリド２７．２ｇを２０分かけて滴下した。滴下終了後、さらに１ｈ攪拌した後、１ｈ加熱還流した。冷却し水で洗浄した後、無水硫酸ナトリウムによって乾燥した。溶媒を除去した後、カラムクロマトグラフィーにより、ｎ－ヘキサン／酢酸エチルの比率が４／１である展開溶媒で精製を行い、上記式（１４）の右辺に示される比較化合物２を得た。なお、比較化合物２は、ｎ＝９である。

〔比較例３〕
比較化合物３の合成を非特許文献 N. O. Brace, J. Org. Chem. 1962, 27, 4491を参考にして、以下の式（１５）の通りに行った。

まず、ヨウ素化パーフルオロオクタン２５．００ｇと１－ウンデセノール７．７６ｇとを、１４５℃で７．５ｈ反応させた。次に真空蒸留により未反応原料を、温度１５０～１９０℃の油浴下で取り除いた。得られた個体をエタノールに溶解させ、濃塩酸２０ｃｃと亜鉛粉末２．０５ｇを加えた。発熱が落ち着いたら、温度７０℃の油浴下で１ｈ反応させ、さらに亜鉛粉末１．０２ｇを加えて１ｈ、その後同量の亜鉛粉末を加えて加熱還流を１ｈ行った。反応終了後、エバポレーターで濃縮し、水酸化ナトリウムを加えて中性にした。塩化メチレンによって抽出後、無水硫酸ナトリウムによって乾燥させ、溶媒を除去した。その後ｎ－ヘキサンから再結晶を行い、部分フッ素化アルコール９．６ｇを得た。得られた部分フッ素化アルコール９．６ｇとオクタデシルコハク酸無水物６．２ｇをトルエン７０ｃｃに溶解させ、濃硫酸を触媒として加熱還流を３ｈ行った。水で洗浄後、カラムクロマトグラフィーにより、酢酸エチルを溶媒として流出させることにより、未反応の酸無水物を除去して、上記式（１５）の右辺に示される比較化合物３を得た。

〔比較例４〕
比較例４では、ステアリン酸ブチルおよびミリスチン酸を重量比率１：１で含む比較混合物４を用いた。

〔比較例５〕
比較化合物５の合成を、特許文献５と同様にして以下の式（１６）の通りに行った。

なお、比較化合物５は特許文献５に開示されている化合物であり、ｉ＝１～９、ｋ＝１～９である。

＜高分子フィルム摩擦試験の結果＞
図７に、いくつかの実施例および比較例の摩擦係数について、高分子フィルムの摩擦試験（走行回数１００回）を行った間の摩擦係数の推移を示す。

実施例１の化合物１は、ＤＤＯＨをオクタデシルコハク酸無水物によって変性することにより得られたエステル化合物である。図７より、実施例１の摩擦係数は低く安定していることがわかる。すなわち、実施例１は、走行回数の増加に対する摩擦係数の上昇が小さい。実施例１の走行１００回目の摩擦係数は０．０９であった。実施例４の化合物３は、ＤＤＯＨをドデシルコハク酸無水物によって変性することにより得られたエステル化合物である。実施例４の摩擦係数も低く安定しており、走行１００回目の摩擦係数は０．１０であった。実施例８の化合物６は、ＤＤＯＨの２個の水酸基全てをテトラデシルコハク酸無水物によって変性することにより得られた化合物である。実施例８の摩擦係数も同様に低く安定しており、走行１００回目の摩擦係数は０．１０であった。したがって、ＤＤＯＨの水酸基を部分的に、あるいは全て、長鎖コハク酸無水物により変性することによって得られた化合物を含む潤滑剤は、高分子フィルムの摩擦係数を低く安定させられることが示された。

比較例３の比較化合物３は、部分フッ素化アルコールとコハク酸無水物との反応物である。比較例３の走行１００回目の摩擦係数は０．２６と高かった。比較例４では、ステアリン酸ブチルとミリスチン酸との混合物を用いた。比較例４も走行１００回目の摩擦係数は０．４９と高かった。

実施例１～９および比較例１～５の、高分子フィルム上における走行回数１００回の摩擦試験結果を表２に示す。表２より、いずれの実施例も、全ての比較例に対して摩擦係数が低く、高分子フィルムの耐久性を向上できることがわかる。

実施例１、４、７の化合物１、化合物３、化合物５は、長鎖コハク酸無水物による変性の結果、エステル基、カルボキシル基および水酸基を１個ずつ有する。これに対し、比較化合物１はエステル基およびカルボキシル基を１個ずつしか持たない。したがって、化合物が分子内の片末端に極性基を合計で３個以上有することは、高分子フィルムの摩擦係数の低減に効果的であることがわかる。

比較化合物２は、分子内に極性基としてエステル基を１個しか持たない。一方で実施例１、４、７の化合物１、化合物３、化合物５は、上述のようにエステル基、カルボキシル基および水酸基を１個ずつ有する。この比較からも、化合物が分子内の片末端にエステル基に加えてカルボキシル基、水酸基等の極性基を合計で３個以上有することが、高分子フィルムの摩擦係数の低減につながっていることがわかる。

また、比較化合物３は、部分フッ素化炭化水素基を有するが、極性基を２個しか持たない。一方、実施例１、４、７では、化合物が分子内に疎水基としてパーフルオロポリエーテル基を有し、さらに分子内の片末端に極性基を合計で３個以上有することが高分子フィルムの摩擦係数の低減につながっていることがわかる。

実施例２、５、８の化合物２、４、６は、ＤＤＯＨの水酸基を全て、長鎖コハク酸無水物によって変性させて得られた化合物である。これらの化合物も摩擦係数が低い。これらの化合物は、分子内の片末端に極性基であるカルボキシル基とエステル基を合計４個有することにより、高分子フィルムの摩擦係数の低減につながっていることがわかる。

また、実施例３、６、９の結果から、各化合物を混合した組成物を含む潤滑剤も、同様に高分子フィルムの摩擦係数を低減可能であり、耐久性に優れることがわかる。

加えて、比較例４との比較から、実施例１～９の潤滑剤は、一般的な潤滑剤である長鎖脂肪酸エステルと比較しても、優れた摩擦係数を示すことがわかる。

さらに、比較例５との比較から、実施例１～９の潤滑剤は、両末端が変性されたパーフルオロポリエーテルと比較しても、優れた摩擦係数を示すことがわかる。

同様の条件で走行回数を２００回、および３００回に増加させた場合の実施例４、および比較例１、２、４の摩擦係数を表３に示す。

表３より、各比較例の摩擦係数は走行回数１００回から順に、比較例１は０．１５、０．２１、０．２２となり、比較例２は０．１４、０．２２、０．２６となり、比較例４では０．４９、０．５６、０．５７となった。したがって、比較例はいずれも摩擦回数が増加すると、摩擦係数も増加することが示された。これに対して、実施例４の摩擦係数は、０．１０、０．１０、０．１１となっており、走行回数が増加しても、摩擦係数の増加が抑制されている。したがって、極性基の数が３であることにより、実施例４は摩擦の低減を維持できることが示された。

つまり、実施例の潤滑剤は、片末端に水酸基を複数個有するパーフルオロポリエーテルを変性した化合物のうち、分子内の片末端に長鎖炭化水素基と、水酸基、エステル基、カルボキシル基のいずれかを３個以上とを有する化合物を含む。それゆえに、実施例の潤滑剤は、比較例１～３よりも摩擦耐久性に優れる。なお、比較化合物１は、パーフルオロポリエーテルを変性して得られ、極性基としてエステル基とカルボキシル基とを有する化合物である。比較化合物２は、パーフルオロポリエーテルを変性して得られ、極性基としてエステル基のみを有する化合物である。比較化合物３は、部分フッ素化炭化水素を変性して得られ、極性基としてエステル基とカルボキシル基とを有する。比較化合物５はパーフルオロポリエーテルを変性して得られ、極性基として両側末端にカルボキシル基とエステル基を１つずつ有する化合物である。また、実施例の潤滑剤は、一般的な潤滑剤である、比較例４に示すような長鎖炭化水素脂肪酸およびそのエステルと比較しても、優れた摩擦耐久性を有する。

＜磁気テープ摩擦試験の結果＞
図８に、いくつかの実施例および比較例の摩擦係数について、磁気テープの摩擦試験（走行回数１０回）を行った間の摩擦係数の推移を示す。

図８より、実施例１の摩擦係数は低く、走行回数に対する上昇があるものの、上昇率は小さい。実施例１の１０回走行終了時の摩擦係数は０．１７であった。また実施例４の摩擦係数も同様に低く安定していた。実施例４の１０回走行終了時の摩擦係数は０．１１であった。実施例８の摩擦係数も低く、走行回数に対する上昇があるものの、上昇率は小さい。実施例８の１０回走行終了時の摩擦係数は０．１９であった。これらの実施例で用いられる化合物１、４、８の構造は上述の通りである。この結果から、ＤＤＯＨの水酸基を部分的に、あるいは全て、長鎖コハク酸無水物により変性することによって得られた化合物を含む潤滑剤は、磁気テープにおいても摩擦係数を低く安定させられることが示された。また、ＤＤＯＨの水酸基１個を長鎖コハク酸無水物で変性して得られた化合物１と、ＤＤＯＨの水酸基２個を変性して得られた化合物２とを混合してもよいことが、実施例３からわかる。

比較化合物１は、末端に１個の水酸基を持つパーフルオロポリエーテル（Ｄ２Ｍ）をオクタデシルコハク酸無水物によって変性して得られるエステル化合物である。比較例１の１０回走行時の摩擦係数の変化を同様に図８に示す。比較例１の走行１０回目の摩擦係数は０．４７と非常に高い。比較化合物２は、末端に１個の水酸基を持つパーフルオロポリエーテル（Ｄ２Ｍ）をオクタデカン酸によって変性して得られるエステル化合物である。比較例２の走行１０回目の摩擦係数は０．３０と高い。比較化合物３は、部分フッ素化アルコールと長鎖コハク酸無水物との反応物である。比較例３の走行１０回目の摩擦係数は０．３８と高い。比較例４ではステアリン酸ブチルとミリスチン酸との混合物を用いた。比較例４でも走行１０回目の摩擦係数は０．３３と高い。

実施例１～９と、比較例１～５をそれぞれ潤滑剤として塗布した磁気テープの摩擦試験（走行回数１０回）の結果を表４に示す。

実施例は比較例に対して摩擦係数が低く抑えられており、磁気テープの耐久性に優れていることがわかる。実施例１、４、７の化合物１、化合物３、化合物５は、長鎖コハク酸無水物による変性の結果、エステル基、カルボキシル基および水酸基を１個ずつ有する。これに対し、比較化合物１はエステル基およびカルボキシル基を１個ずつしか持たない。したがって、化合物が分子内の片末端に極性基を合計で３個以上有することは、磁気テープの摩擦係数の低減に効果的であることがわかる。

比較化合物２は、分子内に極性基としてエステル基を１個しか持たない。一方で実施例１、４、７の化合物１、化合物３、化合物５は、上述のようにエステル基、カルボキシル基および水酸基を１個ずつ有する。この比較からも、化合物が分子内の片末端にエステル基に加えてカルボキシル基、水酸基等の極性基を合計で３個以上有することが、磁気テープの摩擦係数の低減につながっていることがわかる。

また、比較化合物３は、部分フッ素化炭化水素基を有するが、極性基を２個しか持たない。一方、実施例１、４、７では、化合物が分子内に疎水基としてパーフルオロポリエーテル基を有し、さらに分子内の片末端に極性基を合計で３個以上有することが磁気テープの摩擦係数の低減につながっていることがわかる。

実施例２、５、８の化合物２、４、６は、ＤＤＯＨの水酸基を全て、長鎖コハク酸無水物によって変性させて得られた化合物である。これらの化合物も摩擦係数が低い。これらの化合物は、分子内の片末端に極性基であるカルボキシル基とエステル基を合計４個有することにより、磁気テープの摩擦係数の低減につながっていることがわかる。

また、実施例３、６、９の結果から、各化合物を混合した組成物を含む潤滑剤も、同様に磁気テープの摩擦係数を低減可能であり、耐久性に優れることがわかる。

つまり、実施例の潤滑剤は、分子内の片末端に水酸基を複数個有するパーフルオロポリエーテルを変性した化合物のうち、分子内に長鎖炭化水素基と、水酸基、エステル基、カルボキシル基のいずれかを３個以上とを有する化合物を含む。それゆえに、実施例の潤滑剤は、磁気テープに用いた場合も、比較例１～３よりも摩擦耐久性に優れる。なお、比較化合物１は、パーフルオロポリエーテルを変性して得られ、極性基としてエステル基とカルボキシル基とを有する化合物である。比較化合物２は、パーフルオロポリエーテルを変性して得られ、極性基としてエステル基のみを有する化合物である。比較化合物３は、部分フッ素化炭化水素を変性して得られ、極性基としてエステル基とカルボキシル基とを有する。また、実施例の潤滑剤は、一般的な潤滑剤である、比較例４に示すような長鎖炭化水素脂肪酸およびそのエステルと比較しても、磁気テープに用いた場合、優れた摩擦耐久性を有する。

本発明は、磁気記録媒体用の潤滑剤として好適に利用することができる。

１潤滑剤層
２樹脂層
３基板
４高分子フィルム
１１顔料
１２磁性粉末
１３磁性層
１４ベースフィルム
１５バックコート層
１６磁気テープ
２１保護層
２２下地層
２３磁気ディスク

Claims

下記式（１）で表される、パーフルオロポリエーテル誘導体。

式中、Ｒは炭素数が１０以上の炭化水素基であり、ｍは１～５の整数であり、ｎは３～７０の整数である。
下記式（２）で表される、パーフルオロポリエーテル誘導体。

式中、Ｒは炭素数が１０以上の炭化水素基であり、ｍは１～５の整数であり、ｎは３～７０の整数である。
請求項１に記載のパーフルオロポリエーテル誘導体と、請求項２に記載のパーフルオロポリエーテル誘導体とを含むパーフルオロポリエーテル組成物。
請求項１または２に記載のパーフルオロポリエーテル誘導体、あるいは請求項３に記載のパーフルオロポリエーテル組成物を含む潤滑剤。
内部に請求項４の潤滑剤を含む、高分子フィルム。
樹脂層と、
前記樹脂層上に積層された潤滑剤層とを備え、
前記潤滑剤層は、請求項４の潤滑剤を含む、高分子フィルム。
非磁性支持体と、
前記非磁性支持体上に積層された磁性層とを備え、
前記磁性層は、請求項４に記載の潤滑剤を含む、磁気記録媒体。
非磁性支持体と、
前記非磁性支持体上に積層された磁性層と、
前記磁性層上に積層された潤滑剤層とを備え、
前記潤滑剤層は、請求項４に記載の潤滑剤を含む、磁気記録媒体。