JP2022084716A - 表示装置の作製方法 - Google Patents

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Akihiro Senda
達哉 作石
Tatsuya Sakuishi
太紀 中村
Daiki Nakamura
智哉 青山
Tomoya Aoyama
浩平 横山
Kohei Yokoyama
大介 久保田
Daisuke Kubota
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Abstract

【課題】信頼性の良好な表示装置の作製方法を提供する。【解決手段】第1の基板の第1の表面上に第1の層、第1の絶縁層、電極を設ける工程と、第1の絶縁層に第1の開口を設ける工程と、第1の絶縁層上に表示素子、第2の層を設ける工程と、第2の基板の第2の表面上に第3の層、第2の絶縁層を設ける工程と、第3の層および第2の絶縁層に第2の開口を設ける工程と、第1の表面と第2の表面を向かい合わせ、第1の開口と第2の開口が重なる領域を有するように接着層を介して第1の基板と第2の基板を重ねる工程と、第1の基板を第1の層から剥離する工程と、第1の絶縁層と重ねて第3の基板を設ける工程と、第2の基板を第2の層、接着層の一部とともに第3の層から剥離する工程と、第2の絶縁層と第4の基板とが重なるように第4の基板を設ける工程を有し、第1の層と第2の層の少なくとも一は有機膜を有する。【選択図】図9

Description

本発明は、表示装置の作製方法、及び電子機器の作製方法に関する。
なお本発明の一態様は、上記の技術分野に限定されない。本明細書等で開示する発明の
技術分野は、物、方法、又は、製造方法に関するものである。又は、本発明の一態様は、
プロセス、マシン、マニュファクチャ、又は、組成物(コンポジション・オブ・マター)
に関するものである。そのため、より具体的に本明細書で開示する本発明の一態様の技術
分野としては、半導体装置、表示装置、液晶表示装置、発光装置、蓄電装置、撮像装置、
記憶装置、プロセッサ、電子機器、それらの駆動方法、それらの製造方法、それらの検査
方法、又はそれらのシステムを一例として挙げることができる。
近年、表示装置の表示領域に用いる表示素子として、液晶素子の研究開発が盛んに行わ
れている。また、エレクトロルミネッセンス(EL)を利用した発光素子の研究開発も盛
んに行われている。発光素子の基本的な構成は、一対の電極間に発光性の物質を含む層を
挟んだものである。この発光素子に電圧を印加することにより、発光性の物質からの発光
が得られる。
特に、上述の発光素子は自発光型であるため、これを用いた表示装置は、視認性に優れ
バックライトが不要であり、消費電力が少ない等の利点を有する。さらに、薄型軽量に作
製でき、応答速度が高いなどの利点も有する。
また、上述の発光素子を有する表示装置としては、可撓性が図れることから、可撓性を
有する基板の採用が検討されている。
可撓性を有する基板を用いた表示装置の作製方法としては、基板と半導体素子との間に
酸化物層および金属層を形成し、酸化物層と金属層との界面における密着性が低いことを
利用して半導体素子を基板から分離し、基板を分離した後に他の基板(例えば可撓性を有
する基板)へと半導体素子を転置する技術が開発されている(特許文献1)。
可撓性を有する基板上に形成された発光素子は、発光素子表面の保護や外部からの水分
や不純物の浸入を防ぐため、発光素子上にさらに可撓性を有する基板を設けることがある
特開2003-174153号公報
可撓性を有する基板を用いた表示装置へ信号や電力を供給するためには、可撓性を有す
る基板の一部をレーザ光や刃物を用いて除去して電極を露出させ、FPC(flexib
le printed circuit)等の外部電極を接続する必要がある。
しかしながら、可撓性を有する基板の一部をレーザ光や刃物を用いて除去する方法では
、表示装置が有する電極にダメージを与えやすく、表示装置の信頼性や作製歩留まりが低
下しやすい。また、上記方法による表示領域へのダメージを防ぐため、表示領域と電極を
十分に離して設置する必要があり、配線抵抗の増加による信号や電力の減衰が生じやすい
本発明の一態様は、電極にダメージを与えにくい表示装置の作製方法を提供することを
課題の一つとする。または、本発明の一態様は、表示領域にダメージを与えにくい表示装
置の作製方法を提供することを課題の一つとする。または、本発明の一態様は、信頼性の
良好な表示装置、およびその作製方法を提供することを課題の一つとする。
または、本発明の一態様は、視認性に優れた表示装置、もしくは電子機器などを提供す
ることを課題の一つとする。または、本発明の一態様は、表示品位が良好な表示装置、も
しくは電子機器などを提供することを課題の一つとする。または、本発明の一態様は、信
頼性が高い表示装置、もしくは電子機器などを提供することを課題の一つとする。または
、本発明の一態様は、破損しにくい表示装置、もしくは電子機器などを提供することを課
題の一つとする。または、発明の一態様は、消費電力が低い表示装置、もしくは電子機器
などを提供することを課題の一つとする。または、本発明の一態様は、新規な表示装置、
もしくは電子機器などを提供することを課題の一つとする。
なお、これらの課題の記載は、他の課題の存在を妨げるものではない。なお、本発明の
一態様は、これらの課題の全てを解決する必要はないものとする。なお、これら以外の課
題は、明細書、図面、請求項などの記載から、自ずと明らかとなるものであり、明細書、
図面、請求項などの記載から、これら以外の課題を抽出することが可能である。
(1)
本発明の一態様は、表示領域を有する表示装置の作製方法であって、第1乃至第7の工
程を有し、第1の工程は、第1の基板の第1の表面上に、第1の層を設ける工程と、第1
の層上に電極を設ける工程と、電極上と第1の層上とに第1の絶縁層を設ける工程と、電
極と重畳する領域において第1の絶縁層の一部を除去して第1の開口を設ける工程と、第
1の絶縁層上に表示素子を設ける工程と、第1の絶縁層上と第1の開口の電極上とに第2
の層を設ける工程と、を有し、第2の工程は、第2の基板の第2の表面上に、第3の層を
設ける工程と、第3の層の一部を除去して第2の開口を設ける工程と、を有し、第3の工
程は、第1の表面と第2の表面を向かい合わせ、第1の開口と第2の開口とが互いに重な
る領域を有するように、接着層を介して第1の基板と第2の基板とを互いに重ねる工程を
有し、第4の工程は、第1の基板を第1の層から剥離する工程を有し、第5の工程は、第
1の層と第3の基板とを互いに重ねる工程を有し、第6の工程は、第2の基板を第3の層
から剥離する工程を有し、第7の工程は、第3の層と第4の基板とを互いに重ねる工程を
有し、第3の工程において、接着層は、接着層と第2の開口とが互いに重なる第1の領域
を有し、第2の層は、第2の層と第2の開口とが互いに重なる第2の領域を有し、第6の
工程において、第1の領域の少なくとも一部の接着層と、第2の領域の少なくとも一部の
第2の層と、が第2の基板とともに剥離されて、電極の少なくとも一部が露出し、第1の
層は、第1の有機膜を有し、第3の層は、第2の有機膜を有することを特徴とする表示装
置の作製方法である。
(2)
又は、本発明の一態様は、前記(1)において、第1の層は、第1の有機膜上に第2の
絶縁層を有することを特徴とする表示装置の作製方法である。
(3)
又は、本発明の一態様は、前記(1)、又は前記(2)において、第3の層は、第2の
有機膜上に第3の絶縁層を有することを特徴とする表示装置の作製方法である。
(4)
又は、本発明の一態様は、前記(1)乃至(3)において、第1の有機膜及び/又は第
2の有機膜は、感光性、及び熱硬化性の少なくとも一を有する有機材料を用いて、光照射
処理、及び熱処理の少なくとも一を行うことで形成されることを特徴とする表示装置の作
製方法である。
(5)
又は、本発明の一態様は、前記(1)乃至(4)において、第4の工程において、レー
ザを用いて、第1の層に光を照射して、第1の基板と、第1の層と、を分離する工程、及
び、第6の工程において、レーザを用いて、第3の層に光を照射して、第2の基板と、第
3の層と、を分離する工程、を有することを特徴とする表示装置の作製方法である。
(6)
又は、本発明の一態様は、前記(1)乃至(5)のいずれかにおいて、第2の層は、E
L層及び導電層の積層であることを特徴とする表示装置の作製方法である。
(7)
又は、本発明の一態様は、前記(1)乃至(6)のいずれかにおいて、第1の基板は、
ガラス基板、石英基板、サファイア基板、セラミック基板、金属基板、半導体基板、また
はプラスチック基板を有し、第2の基板は、ガラス基板、石英基板、サファイア基板、セ
ラミック基板、金属基板、半導体基板、またはプラスチック基板を有することを特徴とす
る表示装置の作製方法である。
(8)
又は、本発明の一態様は、前記(1)乃至(7)のいずれかにおいて、第3の基板およ
び第4の基板は、可撓性を有することを特徴とする表示装置の作製方法である。
(9)
又は、本発明の一態様は、前記(1)乃至(8)のいずれかにおいて、表示素子は、発
光素子であることを特徴とする表示装置の作製方法である。
(10)
又は、本発明の一態様は、表示装置を有する電子機器の作製方法であって、電子機器は
、バッテリ、タッチセンサ、または、筐体を有し、表示装置は、前記(1)乃至(9)の
いずれかに記載の表示装置の作製方法によって作製されていることを特徴とする電子機器
の作製方法である。
本発明の一態様によれば、電極にダメージを与えにくい表示装置の作製方法を提供する
ことができる。または、本発明の一態様によれば、表示領域にダメージを与えにくい表示
装置の作製方法を提供することができる。または、本発明の一態様によれば、信頼性の良
好な表示装置、およびその作製方法を提供することができる。
または、本発明の一態様は、視認性に優れた表示装置、もしくは電子機器などを提供す
ることができる。または、本発明の一態様は、表示品位が良好な表示装置、もしくは電子
機器などを提供することができる。または、本発明の一態様は、信頼性が高い表示装置、
もしくは電子機器などを提供することができる。または、本発明の一態様は、破損しにく
い表示装置、もしくは電子機器などを提供することができる。または、発明の一態様は、
消費電力が低い表示装置、もしくは電子機器などを提供することができる。または、本発
明の一態様は、新規な表示装置、もしくは電子機器などを提供することを提供することが
できる。
なお、これらの効果の記載は、他の効果の存在を妨げるものではない。なお、本発明の
一態様は、これらの効果の全てを有する必要はない。なお、これら以外の効果は、明細書
、図面、請求項などの記載から、自ずと明らかとなるものであり、明細書、図面、請求項
などの記載から、これら以外の効果を抽出することが可能である。
表示装置の一形態を説明する斜視図および断面図。 表示装置の一形態を説明する斜視図および断面図。 表示装置の一形態を説明する断面図。 表示装置の一形態の作製工程を説明する図。 表示装置の一形態の作製工程を説明する図。 表示装置の一形態の作製工程を説明する図。 表示装置の一形態の画素構成の一例を説明する図。 表示装置の一形態の作製工程を説明する図。 表示装置の一形態の作製工程を説明する図。 表示装置の一形態の作製工程を説明する図。 表示装置の一形態の作製工程を説明する図。 表示装置の一形態を説明する斜視図および断面図。 表示装置の一形態を説明する斜視図および断面図。 表示装置の一形態を説明する断面図。 表示装置の一形態を説明する斜視図および断面図。 表示装置の一形態を説明する断面図。 表示装置の一形態を説明する断面図。 表示装置の一形態を説明するブロック図及び回路図。 トランジスタの一形態を説明する断面図。 トランジスタの一形態を説明する断面図。 発光素子の構成例を説明する図。 表示モジュールを説明する図。 電子機器および照明装置の一例を説明する図。 電子機器の一例を説明する図。 電子機器の一例を説明する図。
(実施の形態1)
本発明の一態様の表示装置100の構成例について、図1乃至図13を用いて説明する
。図1(A)は外部電極124が接続された表示装置100の斜視図であり、図1(B)
は、図1(A)にA1-A2の一点鎖線で示す部位の断面図である。なお、本明細書に開
示する表示装置100は、表示素子として発光素子を用いた表示装置である。また、本発
明の一態様の表示装置100として、トップエミッション構造(上面射出構造)の表示装
置を例示する。なお、本発明の一態様は、表示装置100をボトムエミッション構造(下
面射出構造)、またはデュアルエミッション構造(両面射出構造)の表示装置とすること
も可能である。
<表示装置100の構成>
図1(A)、(B)に示す表示装置100は、パッシブマトリクス型の表示装置の一例
である。表示装置100は、表示領域131を有し、また、表示領域131は、複数の画
素130を有する。一つの画素130は、少なくとも一つの発光素子125を有する。
本実施の形態に示す表示装置100は、電極115、EL層117、電極118、隔壁
114、および電極116を有する。また、電極116上に絶縁層141を有し、絶縁層
141に設けられた開口128において、電極115と電極116は電気的に接続されて
いる。また、隔壁114は電極115上に設けられ、電極115および隔壁114上にE
L層117が設けられ、EL層117上に電極118が設けられている。
基板111上には、接着層112、有機膜113、絶縁層119、および絶縁層141
を介して発光素子125が設けられている。発光素子125は、電極115、EL層11
7、および電極118を含む。
また、本実施の形態に示す表示装置100は、電極118上に接着層120を介して設
けられた基板121を有する。また、基板121には、接着層122、有機膜123、お
よび絶縁層129を介して、遮光層264、着色層(「カラーフィルタ」ともいう。)2
66、およびオーバーコート層268が設けられている。
本実施の形態に示す表示装置100は、トップエミッション構造の表示装置であるため
、EL層117から射出された光151は、基板121側から射出される。EL層117
から射出された光151(例えば、白色光)は、着色層266を透過する時にその一部が
吸収されて、特定の色の光に変換される。換言すると、着色層266は、特定の波長領域
の光を透過する。着色層266は、光151を異なる色の光に変換するための光学フィル
ター層として機能できる。
また、本実施の形態では電極116を単層として示しているが、電極116は2層以上
の積層としてもよい。
また、基板121、接着層122、有機膜123、絶縁層129、接着層120、およ
び絶縁層141は、それぞれが開口部を有する。それぞれの開口部は互いに重なる領域を
有し、かつ、電極116と重なる領域を有する。本明細書等では、これらの開口部を併せ
て開口132と呼ぶ。開口132において、外部電極124と電極116が、異方性導電
接続層138を介して電気的に接続されている。
なお、剥離層110cは、表示装置100を作製する工程の最中において、絶縁層14
1上で、かつ開口132付近に残存する層である。剥離層110cについては、表示装置
の作製方法にて、説明する。
なお、図2に示すように、表示装置100の構成を、遮光層264、着色層266、お
よびオーバーコート層268を設けない構成とすることもできる。図2(A)は、遮光層
264、着色層266、およびオーバーコート層268を設けない表示装置100の斜視
図であり、図2(B)は、図2(A)にA3-A4の一点鎖線で示す部位の断面図である
特に、EL層117を、画素ごとに射出する光151の色を変える、いわゆる塗り分け
方式で形成する場合は、着色層266を設けてもよいし、設けなくてもよい。
遮光層264、着色層266、およびオーバーコート層268のうち、少なくとも1つ
または全てを設けないことで、表示装置100の製造コストの低減、または、歩留まりの
向上などを実現することができる。また、着色層266を設けないことで光151を効率
よく射出することができるので、輝度の向上や、消費電力の低減などを実現することがで
きる。
一方、遮光層264、着色層266、およびオーバーコート層268を設けると、外光
の映り込みを軽減し、コントラスト比の向上や、色再現性の向上などを実現することがで
きる。
なお、表示装置100をボトムエミッション構造の表示装置とする場合は、基板111
側に、遮光層264、着色層266、およびオーバーコート層268を設けてもよい(図
3(A)参照)。また、表示装置100をデュアルエミッション構造の表示装置とする場
合は、基板111側および基板121側のどちらか一方または両方に遮光層264、着色
層266、およびオーバーコート層268を設けてもよい(図3(B)参照)。
また、発光素子125と電極116の間に、発光素子125に信号を供給する機能を有
するスイッチング素子を設けてもよい。例えば、発光素子125と電極116の間に、ト
ランジスタを設けてもよい。
トランジスタは半導体素子の一種であり、電流および/または電圧の増幅や、導通また
は非導通を制御するスイッチング動作などを実現することができる。発光素子125と電
極116の間にトランジスタを設けることで、表示領域131の大面積化や、高精細化な
どの実現を容易とすることができる。なお、トランジスタなどのスイッチング素子に限ら
ず、抵抗素子、インダクタ、キャパシタ、整流素子などを表示領域131内に設けること
もできる。
〔基板111、121〕
基板111および基板121としては、有機樹脂材料や可撓性を有する程度の厚さのガ
ラス材料などを用いることができる。表示装置100をボトムエミッション構造の表示装
置、またはデュアルエミッション構造の表示装置とする場合には、基板111にEL層1
17からの発光に対して透光性を有する材料を用いる。また、表示装置100をトップエ
ミッション構造の表示装置、またはデュアルエミッション構造の表示装置とする場合には
、基板121にEL層117からの発光に対して透光性を有する材料を用いる。
基板111および基板121に用いることが可能な可撓性および可視光に対する透光性
を有する材料として、ポリエチレンテレフタレート樹脂(PET)、ポリエチレンナフタ
レート樹脂(PEN)、ポリエーテルサルフォン樹脂(PES)、ポリアクリロニトリル
樹脂、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリカーボネー
ト樹脂、ポリアミド樹脂、ポリシクロオレフィン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミドイ
ミド樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリハロゲン化ビニル樹脂、アラミ
ド樹脂、エポキシ樹脂などを用いることができる。また、これらの材料を混合または積層
して用いてもよい。なお、基板111および基板121は、それぞれ同じ材料を用いても
よいし、互いに異なる材料を用いてもよい。
また、基板121および基板111の熱膨張係数は、好ましくは30ppm/K以下、
さらに好ましくは10ppm/K以下とする。また、基板121および基板111の表面
に、窒化シリコンや酸化窒化シリコン等の窒素とシリコンを含む膜や窒化アルミニウム等
の窒素とアルミニウムを含む膜のような透水性の低い保護膜を成膜しても良い。なお、基
板121および基板111として、繊維体に有機樹脂が含浸された構造物(所謂、プリプ
レグとも言う)を用いてもよい。
〔有機膜113、123〕
有機膜113および有機膜123としては、感光性を有する樹脂材料によって形成され
ることが好ましい。具体的には、光硬化性を有する樹脂材料を用いて、光照射によって有
機膜113及び有機膜123を形成するのが好ましい。また、場合によっては、光硬化性
に限定せず、熱硬化性を有する樹脂材料を用いて、熱処理を行って有機膜113及び有機
膜123を形成してもよい。
有機膜113及び有機膜123の厚さは、薄いことが好ましく、具体的には0.01μ
m以上10μm未満、好ましくは0.1μm以上3μm未満であるとよい。有機膜113
及び有機膜123を薄く形成することで、表示装置100の製造コストを低減することが
できる。また、表示装置100の軽量化及び薄膜化が可能となる。また、表示装置100
の可撓性を高めることができる。また、ボトムエミッション構造、又はデュアルエミッシ
ョン構造の表示装置の場合、有機膜113を薄く形成することで、発光素子125が呈す
る光の吸収を低減し、より高い効率で外部へ光を取り出すことが可能となるため、表示装
置100の消費電力を低減することができる。同様に、トップエミッション構造、又はデ
ュアルエミッション構造の表示装置の場合、有機膜123を薄く形成することで、発光素
子125が呈する光の吸収を低減し、より高い効率で外部へ光を取り出すことが可能とな
るため、表示装置100の消費電力を低減することができる。
ところで、有機膜113および有機膜123に感光性の樹脂材料を用いる場合、光照射
を行うことにより、有機膜113および有機膜123を形成する。そのため、有機膜11
3及び有機膜123として用いる樹脂材料は、樹脂の硬化を行うための光を吸収する機能
と、発光素子125が呈する可視光を透過する機能と、を有することが好ましい。前者と
しては、紫外光の波長領域の光を吸収する機能を有する化合物が樹脂材料に含まれている
ことが好ましい。当該波長領域としては、300nm以上450nm以下、好ましくは3
00nm以上400nm以下である。また、有機膜113及び有機膜123には、例えば
アクリル、ポリイミド、またはシリコーン(シロキサン結合を有する)など様々な樹脂を
用いることができるが、耐熱性および不純物の遮蔽性等に優れていることから、ポリイミ
ドを用いることが好ましい。
また、有機膜113および有機膜123の熱膨張係数は、0.1ppm/℃以上20p
pm/℃以下であることが好ましく、0.1ppm/℃以上10ppm/℃以下であるこ
とがより好ましい。有機膜113および有機膜123の熱膨張係数が低いほど、加熱によ
る膨張または収縮に伴う応力により、トランジスタ等が破損することを抑制できる。
〔絶縁層119〕
絶縁層119は、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化シリコン、酸化窒化シリ
コン、酸化ガリウム、酸化ゲルマニウム、酸化イットリウム、酸化ジルコニウム、酸化ラ
ンタン、酸化ネオジム、酸化ハフニウム及び酸化タンタルなどの酸化物材料や、窒化シリ
コン、窒化酸化シリコン、窒化アルミニウム、窒化酸化アルミニウムなどの窒化物材料な
どを、単層または多層で形成することができる。例えば、絶縁層119を、酸化シリコン
と窒化シリコンを積層した2層構造としてもよいし、上記材料を組み合わせた5層構造と
してもよい。絶縁層119は、スパッタリング法やCVD法、熱酸化法、塗布法、印刷法
等を用いて形成することが可能である。
絶縁層119により、基板111、接着層112、及び有機膜113などから発光素子
125への不純物元素の拡散を防止、または低減することができる。
なお、本明細書中において、窒化酸化物とは、酸素よりも窒素の含有量が多い化合物を
いう。また、酸化窒化物とは、窒素よりも酸素の含有量が多い化合物をいう。なお、各元
素の含有量は、例えば、ラザフォード後方散乱法(RBS:Rutherford Ba
ckscattering Spectrometry)等を用いて測定することができ
る。
〔電極116〕
電極116は、導電性材料を用いて形成することができる。例えば、アルミニウム、ク
ロム、銅、銀、金、白金、タンタル、ニッケル、チタン、モリブデン、タングステン、ハ
フニウム、バナジウム、ニオブ、マンガン、マグネシウム、ジルコニウム、ベリリウム等
から選ばれた金属元素、上述した金属元素を成分とする合金、または上述した金属元素を
組み合わせた合金などを用いることができる。また、リン等の不純物元素を含有させた多
結晶シリコンに代表される半導体、ニッケルシリサイドなどのシリサイドを用いてもよい
。導電性材料の形成方法は特に限定されず、蒸着法、CVD法、スパッタリング法、スピ
ンコート法などの各種形成方法を用いることができる。
また、電極116は、インジウム錫酸化物、タングステンを含むインジウム酸化物、タ
ングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、チタンを含むインジウム酸化物、チタンを含む
インジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、シリコンを添加したインジウム錫酸化物な
どの酸素を有する導電性材料を適用することもできる。また、窒化チタン、窒化タンタル
、窒化タングステンなどの窒素を含む導電性材料を適用することもできる。また、上記酸
素を有する導電性材料と、上記金属元素を含む材料の積層構造とすることもできる。
電極116は、単層構造でも、二層以上の積層構造としてもよい。例えば、シリコンを
含むアルミニウム層の単層構造、アルミニウム層上にチタン層を積層する二層構造、窒化
チタン層上にチタン層を積層する二層構造、窒化チタン層上にタングステン層を積層する
二層構造、窒化タンタル層上にタングステン層を積層する二層構造、チタン層と、そのチ
タン層上にアルミニウム層を積層し、さらにその上にチタン層を形成する三層構造などが
ある。また、電極116に、チタン、タンタル、タングステン、モリブデン、クロム、ネ
オジム、スカンジウムから選ばれた一または複数の元素を含むアルミニウム合金を用いて
もよい。
〔絶縁層141〕
絶縁層141は、絶縁層119と同様の材料および方法を用いて形成することができる
〔電極115〕
電極115は、後に形成されるEL層117が発する光を効率よく反射する導電性材料
を用いて形成することが好ましい。なお、電極115は単層に限らず、複数層の積層構造
としてもよい。例えば、電極115を陽極として用いる場合、EL層117と接する層を
、インジウム錫酸化物などの透光性を有する層とし、その層に接して反射率の高い層を設
けてもよい。反射率の高い層として、適用できる材料は、例えば、アルミニウム、アルミ
ニウムを含む合金、銀、または銀を含む合金などが挙げられる。なお、当該銀を含む合金
としては、銀、パラジウム、及び銅を含む合金が挙げられる。
なお、本実施の形態においては、トップエミッション構造の表示装置について例示して
いるが、表示装置をボトムエミッション構造、またはデュアルエミッション構造の表示装
置とする場合においては、電極115に透光性を有する導電性材料を用いればよい。
〔隔壁114〕
隔壁114は、隣接する電極118間の電気的ショートを防止するために設ける。また
、後述するEL層117の形成にメタルマスクを用いる場合、メタルマスクが発光素子1
25を形成する領域に接触しないようにする機能も有する。隔壁114は、エポキシ樹脂
、アクリル樹脂、イミド樹脂などの有機樹脂材料や、酸化シリコンなどの無機材料で形成
することができる。隔壁114は、その側壁がテーパーまたは連続した曲率を持って形成
される傾斜面となるように形成することが好ましい。隔壁114の側壁をこのような形状
とすることで、後に形成されるEL層117や電極118の被覆性を良好なものとするこ
とができる。
〔EL層117〕
EL層117の構成については、実施の形態5で説明する。
〔電極118〕
本実施の形態では電極118を陰極として用いる。電極118は、後述するEL層11
7に電子を注入できる仕事関数の小さい材料を用いて形成することが好ましい。また、仕
事関数の小さい金属単体ではなく、仕事関数の小さいアルカリ金属、またはアルカリ土類
金属を数nm形成した層を緩衝層として形成し、その上にアルミニウムなどの金属材料、
インジウム錫酸化物等の導電性を有する酸化物材料、または半導体材料を用いて形成して
もよい。また、緩衝層として、アルカリ土類金属の酸化物、ハロゲン化物、または、マグ
ネシウム-銀等を用いることもできる。
また、電極118を介して、EL層117が発する光を取り出す場合は、電極118は
、可視光に対し透光性を有することが好ましい。
〔接着層120、112、122〕
接着層120、接着層112、および接着層122としては、光硬化型の接着剤、反応
硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、または嫌気型接着剤を用いることができる。例えば、エ
ポキシ樹脂、アクリル樹脂、イミド樹脂等を用いることができる。トップエミッション構
造の場合は接着層120に、ボトムエミッション構造の場合は接着層112に、光の波長
以下の大きさの乾燥剤(ゼオライト等)や、屈折率の大きいフィラー(酸化チタンや、ジ
ルコニウム等)を混合すると、EL層117が発する光の取り出し効率が低下しにくく、
また、表示装置の信頼性が向上するため好適である。
〔異方性導電接続層138〕
異方性導電接続層138は、様々な異方性導電フィルム(ACF:Anisotrop
ic Conductive Film)や、異方性導電ペースト(ACP:Aniso
tropic Conductive Paste)などを用いて形成することができる
異方性導電接続層138は、熱硬化性、又は熱硬化性及び光硬化性の樹脂に導電性粒子
を混ぜ合わせたペースト状又はシート状の材料を硬化させたものである。異方性導電接続
層138は、光照射や熱圧着によって異方性の導電性を示す材料となる。異方性導電接続
層138に用いられる導電性粒子としては、例えば球状の有機樹脂をAuやNi、Co等
の薄膜状の金属で被覆した粒子を用いることができる。
<表示装置の作製方法>
次に、図4乃至図14を用いて、表示装置100の作製方法を例示する。図4乃至図6
、図8乃至図11、及び図14は、図1中の、A1-A2の一点鎖線で示す部位の断面に
相当する。
〔有機膜113の形成〕
まず、基板101上に有機膜113を形成する(図4(A)参照)。基板の一例として
は、半導体基板(例えば単結晶基板又はシリコン基板)、SOI基板、ガラス基板、石英
基板、サファイア基板、セラミック基板、本実施の形態の処理温度に耐えうる耐熱性を有
するプラスチック基板、金属基板、ステンレス・スチル基板、ステンレス・スチル・ホイ
ルを有する基板、タングステン基板、タングステン・ホイルを有する基板、などがある。
ガラス基板の一例としては、バリウムホウケイ酸ガラス、アルミノホウケイ酸ガラス、又
はソーダライムガラスなどがある。
有機膜113の一例として、感光性のポリイミドを用いるのが好ましい。感光性の樹脂
材料を用いることで、容易に有機膜を形成することができる。また、感光性を有する樹脂
材料を用いることにより、所望の形状の有機膜を容易に形成することができる。例えば、
開口を有する有機膜、又は、それぞれ厚さが異なる2以上の領域を有する有機膜などを、
容易に形成することができる。これらは、例えばハーフトーンマスクやグレートーンマス
クを用いた露光技術、又は多重露光技術などを用いることにより形成することができる。
また、感光性の樹脂材料は、例えば平坦化膜などに用いる絶縁膜にも好適に用いること
ができる材料である。そのため、剥離のための有機膜と、他の絶縁膜などと、で材料や形
成装置を共有することができ、表示装置の製造コストを低減することができる。
有機膜113は、塗布法、印刷法等を行った後に硬化させる処理を施すことにより形成
することができる。なお、塗布法はスピンコーティング法、液滴吐出法、ディスペンス法
、スプレー塗布などを含む。また、印刷法は、スクリーン印刷、オフセット印刷、インク
ジェット印刷などを含む。
例えば、有機膜113は、基板101上に低粘度(例えば、粘度が5cP以上50cP
未満)の感光性の樹脂を塗布して、光照射を行うことにより、形成することができる。ま
た、例えば、有機膜113は、基板101上に低粘度の熱硬化性の樹脂を塗布して、熱処
理を行うことにより、形成することができる。
本実施の形態では、基板101にアルミノホウケイ酸ガラスを用いる。また、基板10
1上に形成する有機膜113として、感光性のポリイミドを用いる。
〔絶縁層119の形成〕
次に、有機膜113上に絶縁層119を形成する(図4(A)参照)。絶縁層119は
、基板101などからの不純物元素の拡散を防止または低減することができる。また、基
板101を基板111に置換した後も、基板111や接着層112などから発光素子12
5への不純物元素の拡散を防止または低減することができる。絶縁層119の厚さは、好
ましくは30nm以上2μm以下、より好ましくは50nm以上1μm以下、さらに好ま
しくは50nm以上500nm以下とすればよい。
なお、絶縁層119は、必ずしも設ける構成でなくてもよい。例えば、絶縁層119を
形成しないことで、表示装置100の生産に要する時間を短縮することができる。また、
例えば、ボトムエミッション構造、又はデュアルエミッション構造の表示装置の場合、絶
縁層119を形成しないことで、発光素子125の光を基板111側に射出する場合の発
光効率を高めることができる。
〔電極116の形成〕
次に、絶縁層119上に電極116を形成するための導電層126を形成する。例えば
、導電層126として絶縁層119上にスパッタリング法により二層のモリブデンの間に
アルミニウムを挟んだ三層の金属膜を形成する(図4(A)参照)。
続いて、導電層126上にレジストマスクを形成し、該レジストマスクを用いて、導電
層126を所望の形状にエッチングして、電極116を形成することができる。レジスト
マスクの形成は、リソグラフィ法、印刷法、インクジェット法等を適宜用いて行うことが
できる。レジストマスクをインクジェット法で形成するとフォトマスクを使用しないため
、製造コストを低減できる。
導電層126のエッチングは、ドライエッチング法でもウェットエッチング法でもよく
、両方を用いてもよい。ウェットエッチング法により、導電層126のエッチングを行う
場合は、エッチング液として、燐酸と酢酸と硝酸を混ぜた溶液や、シュウ酸を含む溶液や
、リン酸を含む溶液などを用いることができる。エッチング処理終了後に、レジストマス
クを除去する(図4(B)参照)。
また、電極116(これらと同じ層で形成される他の電極または配線を含む。)は、そ
の端部をテーパー形状とすることで、電極116の側面を被覆する層の被覆性を向上させ
ることができる。具体的には、端部のテーパー角θを、80°以下、好ましくは60°以
下、さらに好ましくは45°以下とする。なお、テーパー角とは、当該層の側面と底面が
なす角度を示す。また、テーパー角が90°未満である端部形状を順テーパー形状といい
、テーパー角が90°以上である端部形状を逆テーパー形状という。図4(B)は、電極
116の端部が順テーパー形状となっている場合を示している。
また、電極116の端部の断面形状を複数段の階段形状とすることで、その上に被覆す
る層の被覆性を向上させることもできる。なお、電極116に限らず、各層の端部の断面
形状を順テーパー形状または階段形状とすることで、該端部を覆って形成する層が、該端
部で途切れてしまう現象(段切れ)を防ぎ、被覆性を良好なものとすることができる。
〔絶縁層127の形成〕
次に、電極116上に絶縁層127を形成する(図4(C)参照)。本実施の形態では
、絶縁層127としてプラズマCVD法により酸化窒化シリコン膜を形成する。
次に、絶縁層127上にレジストマスクを形成し、該レジストマスクを用いて、電極1
16と重なる絶縁層127の一部を選択的に除去し、開口128及び開口137を有する
絶縁層141を形成する(図4(D)参照)。絶縁層127のエッチングは、ドライエッ
チング法でもウェットエッチング法でもよく、両方を用いてもよい。
〔電極115の形成〕
次に、絶縁層141上に電極115を形成するための導電層145を形成する(図4(
E)参照)。導電層145は、導電層126(電極116)と同様の材料および方法で形
成することができる。
次に、導電層145上にレジストマスクを形成し、該レジストマスクを用いて、導電層
145の一部を選択的に除去し、電極115を形成する(図5(A)参照)。導電層14
5のエッチングは、ドライエッチング法でもウェットエッチング法でもよく、両方を用い
てもよい。本実施の形態では、導電層145(電極115)を、銀の上にインジウム錫酸
化物を積層した材料で形成する。電極115と電極116は、開口128で電気的に接続
する。
〔隔壁114の形成〕
次に、隔壁114を形成する(図5(B)参照)。本実施の形態では、隔壁114を感
光性の有機樹脂材料を用いて塗布法で形成し、所望の形状に加工することにより形成する
。本実施の形態では、隔壁114を、感光性を有するポリイミド樹脂を用いて形成する。
〔EL層117、電極118及び剥離層110の形成〕
本実施の形態では、EL層117と同一の材料で形成される剥離層110a及び電極1
18と同一の材料で形成される剥離層110bの2層の積層を有する剥離層110を形成
する。このようにすることで、製造工程を増やすことなく剥離層110を形成できるため
好ましい。
隔壁114を形成した後に、EL層117を電極115及び隔壁114上に形成し、同
じ工程で電極116上の開口137と重なる領域に剥離層110aを形成する(図5(C
)参照)。
次に、電極118をEL層117上に形成し、同じ工程で剥離層110bを剥離層11
0a上に形成する。本実施の形態では、電極118及び剥離層110bとしてマグネシウ
ムと銀の合金を用いる。電極118及び剥離層110bは、蒸着法、スパッタリング法等
で形成することができる(図5(D)参照)。
なお、電極116上の開口137に形成する剥離層110は、単層で形成してもよく、
二層以上の積層で形成してもよい。剥離層110を単層で形成する場合、電極116と密
着性の低い材料を用いることができる。また、剥離層110を積層で形成する場合は、積
層を構成する複数の層の間で密着性が低くなるように、複数の材料を用いることができる
本実施の形態では、基板101上に発光素子125を形成した基板を、素子基板171
と呼ぶ。
続いて、対向基板181の作製方法について説明する。
〔有機膜143の形成〕
まず、基板102上に有機膜143を形成する(図6(A)参照)。基板102は、基
板101と同様の材料を用いることができる。なお、基板101と基板102は、それぞ
れ同じ材料を用いてもよいし、互いに異なる材料を用いてもよい。また、有機膜143は
、有機膜113と同様に形成することができる。基板102と有機膜143の間に絶縁層
を設けてもよい。本実施の形態では、基板102にアルミノホウケイ酸ガラスを用いる。
また、基板102上に形成する有機膜143として、感光性のポリイミドを用いる。
〔絶縁層149の形成〕
次に、有機膜143上に絶縁層149を形成する(図6(A)参照)。絶縁層149は
、絶縁層119と同様の材料および方法で形成することができる。
〔有機膜123及び絶縁層129の形成〕
続いて、絶縁層149上にレジストマスクを形成し、該レジストマスクを用いて、絶縁
層149および有機膜143の一部を選択的に除去して、開口139を有する有機膜12
3および絶縁層129を形成する。レジストマスクの形成は、リソグラフィ法、印刷法、
インクジェット法等を適宜用いて行うことができる。レジストマスクをインクジェット法
で形成するとフォトマスクを使用しないため、製造コストを低減できる。
絶縁層149および有機膜143のエッチングは、ドライエッチング法でもウェットエ
ッチング法でもよく、両方を用いてもよい。エッチング処理終了後に、レジストマスクを
除去する(図6(B)参照)。
なお、本発明の一態様の作製方法において、有機膜123及び絶縁層129の形成方法
及び構造は、上述に限定されない。例えば、初めに、基板102上に有機膜143を形成
後に、有機膜143上にレジストマスクを形成して、有機膜143の一部を選択的に除去
し、開口139を有する有機膜123を形成する。そして、レジストマスクの除去後に、
絶縁層149を形成する工程としてもよい。この場合、有機膜123の開口139におい
て、基板102上に絶縁層149が形成されることになる(図示しない)。このような形
成方法及び構造であっても、表示装置100を作製することができる。
なお、絶縁層129は、必ずしも設ける構成でなくてもよい。例えば、絶縁層129を
形成しないことで、表示装置100の生産に要する時間を短縮することができる。また、
例えば、トップエミッション構造、又はデュアルエミッション構造の表示装置の場合、絶
縁層129を形成しないことで、発光素子125の光を基板121側に射出する場合の発
光効率を高めることができる。
〔遮光層264の形成〕
次に、絶縁層129上に、遮光層264を形成するための層274を形成する(図6(
C)参照)。層274は、単層構造であっても2層以上の積層構造であってもよい。層2
74に用いることができる材料として、例えば、クロム、チタン、またはニッケルなどを
含む金属材料、または、クロム、チタン、またはニッケルなどを含む酸化物材料などが挙
げられる。
層274を金属材料や酸化物材料で形成する場合は、層274上にレジストマスクを形
成し、該レジストマスクを用いて、層274を所望の形状にエッチングして、遮光層26
4を形成することができる(図6(D)参照)。また、カーボンブラックを分散した高分
子材料を用いると、インクジェット法により絶縁層129上に遮光層264を直接描画す
ることができる。
〔着色層266の形成〕
次に、絶縁層129上に、着色層266を形成する(図6(E)参照)。着色層266
は、様々な材料を用いて、印刷法、インクジェット法、フォトリソグラフィ法を用いて、
それぞれ所望の位置に形成する。この時、着色層266の一部が遮光層264と重なるよ
うに設けることが好ましい。画素毎に着色層266の色を変えることで、カラー表示を行
うことができる。
ここで、カラー表示を実現するための画素構成の一例を、図7を用いて説明する。図7
(A)、図7(B)、および図7(C)は、図1(A)の表示領域131中に示した領域
170を拡大した平面図である。例えば、図7(A)に示すように、ストライプ配列を適
用した3つの画素130を副画素として機能させて、まとめて1つの画素140として用
いることができる。3つの画素130それぞれに対応する着色層266を、赤、緑、青、
とすることで、フルカラー表示を実現することができる。なお、図7(A)では、赤色の
光を発する画素130を画素130Rと示し、緑色の光を発する画素130を画素130
Gと示し、青色の光を発する画素130を画素130Bと示している。また、着色層26
6の色は、赤、緑、青、以外であってもよく、例えば、着色層266に黄、シアン、マゼ
ンタなどを用いてもよい。
また、図7(B)に示すように、4つの画素130を副画素として機能させて、まとめ
て1つの画素140として用いてもよい。例えば、4つの画素130それぞれに対応する
着色層266を、赤、緑、青、黄としてもよい。なお、図7(B)では、赤色の光を発す
る画素130を画素130Rと示し、緑色の光を発する画素130を画素130Gと示し
、青色の光を発する画素130を画素130Bと示し、黄色の光を発する画素130を画
素130Yと示している。1つの画素140として用いる画素130の数を増やすことで
、特に色の再現性を高めることができる。よって、表示装置の表示品位を高めることがで
きる。
また、図7(B)において、4つの画素130それぞれに対応する着色層266を、赤
、緑、青、白としてもよい。白の光を発する画素130(画素130W)を設けることで
、表示領域の発光輝度を高めることができる。なお、白の光を発する画素130の場合は
、着色層266を設けなくてもよい。白の着色層266を設けないことで、着色層266
透過時の輝度低下がなくなるため、表示装置の消費電力を低減することができる。一方で
、白の着色層266を設けることにより、白色光の色温度を制御することができる。よっ
て、表示装置の表示品位を高めることができる。また、表示装置の用途によっては、4つ
の画素130のうちの任意の2つの画素130を1つの画素140として用いてもよい。
なお、各画素130の占有面積や形状などは、それぞれ同じでもよいし、それぞれ異な
っていてもよい。また、配列方法として、ストライプ配列以外の方法でもよい。例えば、
デルタ配列、ベイヤー配列、ペンタイル配列などを適用することもできる。3つの画素1
30にペンタイル配列を適用した場合の例を、図7(C)に示す。
〔オーバーコート層268の形成〕
次に、遮光層264および着色層266上にオーバーコート層268を形成する(図6
(F)参照)。
オーバーコート層268としては、例えばアクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド等
の有機絶縁層を用いることができる。オーバーコート層268を形成することによって、
例えば、着色層266中に含まれる不純物等が発光素子125側に拡散することを抑制す
ることができる。また、図6(F)では、開口139にオーバーコート層268を形成し
ていないが、開口139にオーバーコート層268を形成してもよい。ただし、オーバー
コート層268は、必ずしも設ける必要はなく、オーバーコート層268を形成しない構
造としてもよい。
また、オーバーコート層268として透光性を有する導電膜を形成してもよい。これに
より、発光素子125から発せられた光151を透過し、かつ、イオン化した不純物の透
過を防ぐことができる。
透光性を有する導電膜は、例えば、酸化インジウム、インジウム錫酸化物、インジウム
亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛などを用いて形成することができる
。また、グラフェン等の他、透光性を有する程度に薄く形成された金属膜を用いてもよい
本実施の形態では、基板102上に着色層266などを形成した基板を、対向基板18
1と呼ぶ。以上の工程により対向基板181を形成することができる。ただし、対向基板
181に着色層266などを設けない場合がある。
〔素子基板171と対向基板181を貼り合わせる〕
次に、素子基板171と対向基板181を、接着層120を介して貼り合わせる。この
時、素子基板171上の発光素子125と、対向基板181上の着色層266と、が向か
い合うように配置し、かつ、素子基板171の剥離層110と、対向基板181の開口1
39が重なるように配置する(図8(A)参照)。
〔基板101の剥離〕
次に、素子基板171が有する基板101を、絶縁層119から剥離する。剥離方法と
しては、例えば、有機膜113にレーザを照射する方法が挙げられる(図8(B)参照)
。有機膜113にレーザ65を照射することにより、絶縁層119と有機膜113との密
着性を低下することができる。その結果、素子基板171が有する基板101に対して物
理的な力などを与えることによって、基板101を絶縁層119から剥離することができ
る(図9(A)参照)。
レーザ65としては、線状レーザを用い、基板101と有機膜113との間に照射する
ことが好ましい。これにより素子基板171の面積を大きくした際の工程時間を短縮する
ことができる。また例えばレーザ65としては、波長が308nmのエキシマレーザを好
適に用いることができる。
図9(A)では、基板101側に有機膜113の一部である有機膜113aが残存して
いる例を示す。レーザ65の照射条件によっては、有機膜113の内部で分離(破断)が
生じ、このように有機膜113aが残存する場合がある。または、有機膜113の表面の
一部が融解する場合にも、同様に基板101側に有機膜113aの一部が残存することが
ある。なお、基板101と有機膜113の界面で剥離する場合、基板101側に有機膜1
13aが残存しないことがある。
基板101側に残存する有機膜113aの厚さは、例えば、100nm以下、具体的に
は40nm以上70nm以下程度とすることができる。残存した有機膜113aを除去す
ることで、基板101は再利用が可能である。例えば、基板101にガラスを用い、有機
膜113にポリイミド樹脂を用いた場合は、発煙硝酸を用いて有機膜113aを除去する
ことができる。
ところで、上述した物理的な力としては、人間の手や治具で引き剥がす処理や、ローラ
ーを回転させながら剥離する処理、超音波等が挙げられる。
また、上述とは別の一例としては、基板101と有機膜113の界面に鋭利な刃物また
はレーザ光照射等で切り込みをいれ、その切り込みに水を注入する方法が挙げられる。こ
れによって、毛細管現象により水が基板101と有機膜113の界面にしみこんでいくた
め、有機膜113と基板101とを容易に剥離することができる。
〔基板111の貼り合わせ〕
次に、接着層112を介して基板111を有機膜113に貼り合わせる(図9(B)参
照)。
〔基板102の剥離〕
次に、対向基板181が有する基板102を、絶縁層129から剥離する。なお、剥離
方法としては、基板101の剥離と同様に、有機膜123にレーザを照射する方法が挙げ
られる(図10(A)参照)。なお、図10(A)では、レーザとして、レーザ65を図
示しており、図10(A)のレーザ65としては、基板101の剥離の際に用いたレーザ
65の記載を参照する。これにより、基板101を絶縁層119から剥離する方法と同様
に、基板102を絶縁層129から剥離することができる。
図10(B)に、対向基板181が有する基板102を、絶縁層129から剥離する様
子を示す。この時、開口139と概ね重なる領域の接着層120の一部と、開口139と
概ね重なる領域の剥離層110bも一緒に除去され、開口132aが形成される。または
、開口139と概ね重なる領域の接着層120と、開口139と概ね重なる領域の剥離層
110bと、開口139と概ね重なる領域の剥離層110aの一部と、が一緒に除去され
、開口132aが形成される。また、開口139が電極116の内側に位置するように基
板102を配置すると、開口132aの形成を容易とすることができるため好ましい。す
なわち、断面視において、開口132aが電極116の端部よりも内側に形成されている
ことが好ましい。また、開口139の幅W1が、剥離層110aと剥離層110bが接す
る面の幅W2よりも小さいと、剥離層110aから剥離層110bを剥がしやすくなるた
め好ましい(図9(B)参照)。
ただ一方で、幅W1が幅W2よりも小さいと、剥離の際に剥離層110bの開口132
aと重ならない部分が剥離層110aから垂直方向に対して斜めに持ち上げられることで
、剥離層110bの開口132aと重ならない部分、前記部分と重なる接着層120の部
分などが剥離層110aとの界面から離れずに、剥離層110a上に残る場合がある。こ
のため、幅W1と幅W2の差を小さくすることが好ましい。
なお、基板102を絶縁層129から剥離した後に、電極116上に剥離層110aが
残存する場合がある。剥離層110aが電極116上に残存していると、電極116と異
方性導電接続層138との間で接触不良が生じる場合がある。そのため、基板102を剥
離した後に、アセトンなどの有機溶媒等を用いて電極116上に残存して付着した剥離層
110aを除去することが好ましい。本実施の形態では、アセトンを用いて電極116上
の剥離層110aを除去する。なお、剥離層110aが電極116上に残存していても電
極116と異方性導電接続層138との間の電気的接続に問題が生じない場合には、電極
116上に残存した剥離層110aを除去しなくてもよい。
また、基板102を絶縁層129から剥離する方法については、上記で説明した内容と
同様に、物理的な力などを加えるなどの方法を用いて、基板102を剥離すればよい。
図10(B)では、基板102側に有機膜123の一部である有機膜123aが残存し
ている例を示す。レーザの照射条件によっては、有機膜123の内部で分離(破断)が生
じ、このように有機膜123aが残存する場合がある。または、有機膜123の表面の一
部が融解する場合にも、同様に基板102側に有機膜123aの一部が残存することがあ
る。なお、基板102と有機膜123の界面で剥離する場合、基板102側に有機膜12
3aが残存しないことがある。
基板102側に残存する有機膜123aの厚さは、例えば、100nm以下、具体的に
は40nm以上70nm以下程度とすることができる。
〔基板121の貼り合わせ〕
次に、接着層122を介して、開口132bを有する基板121を絶縁層129に貼り
合わせる(図11(A)参照)。この時、開口132aと開口132bが重なるように貼
り合わせる。本実施の形態では、開口132aと開口132bを合わせて開口132と呼
ぶ。開口132において、電極116の表面が露出する。
基板121を絶縁層129に貼り合わせた時に、図11(B)に示すように接着層12
2が開口132aにおける各層の側面を覆うように、開口132bの幅や接着層122と
して用いる接着剤の量などを調整することが好ましい。このようにすることで、開口13
2aの側面において露出している絶縁層129などに膜割れやひびが発生することを抑制
できる。また、剥離層110bを除去した後に絶縁層141上の開口132a近傍に残存
する剥離層110cを接着層122で覆うことで、異方性導電接続層138への剥離層1
10を構成する材料の拡散などを抑制できる。例えば、開口132bの幅W3は、開口1
32の幅W4よりも小さいことが好ましい(図11(B)参照)。図11(B)に、基板
121を絶縁層129に貼り合わせた後の表示装置100の断面図を示す。
なお、本発明の一態様の表示装置100は、1つの開口132内に電極116を複数設
けてもよいし、電極116毎に開口132を設けてもよい。図12(A)は、1つの開口
132内に複数の電極116を設けた表示装置100の斜視図であり、図12(B)は、
図12(A)にB1-B2の一点鎖線で示した部位の断面図である。図13(A)は、電
極116毎に開口132を設けた表示装置100の斜視図であり、図13(B)は、図1
3(A)にB3-B4の一点鎖線で示した部位の断面図である。
平面図において開口132を基板121の端部より内側に設けることで、開口132の
外周部分を基板121と基板111で支える構造とすることができる。よって、外部電極
124と電極116が接続する領域の機械的強度が低下しづらく、同領域の意図しない変
形を軽減することができる。なお、1つの開口132内に電極116を複数設けるよりも
、電極116毎に開口132を設ける方が、同領域の変形を軽減する効果を高めることが
できる(図13(B)参照)。本発明の一態様によれば、表示装置100の破損を防ぎ、
表示装置100の信頼性を高めることができる。
また、基板111または基板121のうち、光151が射出される側の基板の外側に、
反射防止層、光拡散層、マイクロレンズアレイ、プリズムシート、位相差板、偏光板など
の特定の機能を有する材料で形成された層(以下、「機能層」ともいう。)を一種以上設
けてもよい。反射防止層としては、例えば円偏光板などを用いることができる。機能層を
設けることで、より表示品位の良好な表示装置を実現することができる。または、表示装
置の消費電力を低減することができる。
図14(A)は、機能層161を有するトップエミッション構造の表示装置100の断
面図である。また、図14(B)は、機能層161を有するボトムエミッション構造の表
示装置100の断面図である。また、図14(C)は、機能層161を有するデュアルエ
ミッション構造の表示装置100の断面図である。
また、基板111または基板121として、特定の機能を有する材料を用いてもよい。
例えば、基板111または基板121として、円偏光板を用いてもよい。また、例えば、
基板111または基板121を、位相差板を用いて形成し、当該基板と重ねて偏光板を設
けてもよい。また、例えば、基板111または基板121を、プリズムシートを用いて形
成し、当該基板と重ねて円偏光板を設けてもよい。基板111または基板121として、
特定の機能を有する材料を用いることで、表示品位の向上と、製造コストの低減を実現す
ることができる。
なお、量産を考えると、大型の基板に複数の表示装置100を作製した後に分断する、
いわゆる多面取りによって表示装置100を作製することで、製造コストの低下を図るこ
とができるため好ましい。多面取りの場合、例えば基板121の貼り合わせの後に、大型
の基板を分断することで個々の表示装置100を作製することができる。実施の形態2で
後述するように、表示装置がトランジスタ等を含んでいる場合は、基板の分断工程におい
てショートリングも分断できるような構成にすることが好ましい。ショートリングとは、
表示装置の作製途中で表示装置の一部において過電流が発生した場合に、トランジスタを
含むある回路に局所的に電流が流れることを防ぐために、複数の回路に電圧を供給する複
数の配線同士をショートさせる配線のことをいう。
〔外部電極124の貼り付け〕
次に、開口132に異方性導電接続層138を形成し、異方性導電接続層138上に、
表示装置100に電力や信号を入力するための外部電極124を形成する(図1参照)。
異方性導電接続層138を介して外部電極124と電極116を電気的に接続する。この
ようにして、表示装置100に電力や信号を入力することが可能となる。なお、外部電極
124として、FPCを用いることができる。また、外部電極124として金属線を用い
ることもできる。該金属線と電極116の接続は、異方性導電接続層138を用いてもよ
いが、異方性導電接続層138を用いずに、ワイヤーボンディング法により行ってもよい
。また、該金属線と電極116の接続をハンダ付けで行ってもよい。
本実施の形態は、他の実施の形態に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可
能である。
(実施の形態2)
本実施の形態では、上記実施の形態に示した表示装置100と異なる構成を有する表示
装置200について、図15を用いて説明する。図15(A)は表示装置200の斜視図
であり、図15(B)は、図15(A)中にA5-A6の一点鎖線で示す部位の断面図で
ある。
<表示装置200の構成>
本実施の形態に示す表示装置200は、表示領域231と、周辺回路251を有する。
また、表示装置200は、電極115、EL層117、電極118を含む発光素子125
と、電極116を有する。発光素子125は、表示領域231中に複数形成されている。
また、各発光素子125には、発光素子125の発光量を制御するトランジスタ232が
接続されている。
電極116は、開口132に形成された異方性導電接続層138を介して外部電極12
4と電気的に接続されている。また、図示しないが電極116は周辺回路251に電気的
に接続されている。
周辺回路251は、複数のトランジスタ252により構成されている。周辺回路251
は、外部電極124から供給された信号を、表示領域231中のどの発光素子125に供
給するかを決定する機能を有する。
図15に示す表示装置200は、接着層120を介して基板111と基板121が貼り
合わされた構造を有する。基板111上には、接着層112を介して、有機膜113が形
成されている。有機膜113上には、絶縁層205が形成されている。絶縁層205は、
酸化シリコン、窒化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、酸化アルミニウム
、酸化窒化アルミニウム、または窒化酸化アルミニウム等を、単層または多層で形成する
のが好ましい。絶縁層205は、スパッタリング法やCVD法、熱酸化法、塗布法、印刷
法等を用いて形成することが可能である。
なお、絶縁層205は下地層として機能し、基板111、接着層112及び有機膜11
3などからトランジスタや発光素子への不純物元素の拡散を防止、または低減することが
できる。
また、絶縁層205上に、トランジスタ232、トランジスタ252が形成されている
。なお、本実施の形態では、トランジスタ232および/またはトランジスタ252とし
て、ボトムゲート型のトランジスタの1つであるチャネルエッチング型のトランジスタを
例示しているが、チャネル保護型のトランジスタや、トップゲート型のトランジスタなど
を用いることも可能である。また、逆スタガ型のトランジスタや、順スタガ型のトランジ
スタを用いることも可能である。また、チャネルが形成される半導体層を2つのゲート電
極で挟む構造の、デュアルゲート型のトランジスタを用いることも可能である。また、シ
ングルゲート構造のトランジスタに限定されず、複数のチャネル形成領域を有するマルチ
ゲート型トランジスタ、例えばダブルゲート型トランジスタとしてもよい。
また、トランジスタ232およびトランジスタ252として、プレーナ型、FIN型(
フィン型)、TRI-GATE型(トライゲート型)などの、様々な構成のトランジスタ
を用いることが出来る。
トランジスタ232とトランジスタ252は、それぞれが同様の構造を有していてもよ
いし、異なる構造を有していてもよい。トランジスタのサイズ(例えば、チャネル長、チ
ャネル幅など)は、各トランジスタで適宜調整することができる。
トランジスタ232およびトランジスタ252は、ゲート電極として機能できる電極2
06、ゲート絶縁層として機能できる絶縁層207、半導体層208、ソース電極または
ドレイン電極の一方として機能できる電極214、ソース電極またはドレイン電極の他方
として機能できる電極215を有する。
電極116、配線219、電極214、および電極215は、絶縁層207上に形成さ
れている。また、配線219、電極214、および電極215は、電極116を形成する
ための導電層の一部を用いて、電極116と同じ工程で形成することができる。また、絶
縁層207は、絶縁層205と同様の材料および方法により形成することができる。
半導体層208は、単結晶半導体、多結晶半導体、微結晶半導体、ナノクリスタル半導
体、セミアモルファス半導体、非晶質半導体、等を用いて形成することができる。例えば
、非晶質シリコンや、微結晶ゲルマニウム等を用いることができる。また、炭化シリコン
、ガリウム砒素、酸化物半導体、窒化物半導体などの化合物半導体や、有機半導体等を用
いることができる。また、半導体層208として酸化物半導体を用いる場合は、CAAC
-OS(C Axis Aligned Crystalline Oxide Sem
iconductor)、多結晶酸化物半導体、微結晶酸化物半導体、nc-OS(na
no Crystalline Oxide Semiconductor)、非晶質酸
化物半導体などを用いることができる。
CAAC-OSとは、c軸配向性を有し、かつa-b面方向において複数のナノ結晶が
連結し、歪みを有した結晶構造を指す。なお、歪みとは、複数のナノ結晶が連結する領域
において、格子配列の揃った領域と、別の格子配列の揃った領域と、の間で格子配列の向
きが変化している箇所を指す。
ナノ結晶は、六角形を基本とするが、正六角形状とは限らず、非正六角形状である場合
がある。また、歪みにおいて、五角形、七角形などの格子配列を有する場合がある。なお
、CAAC-OSにおいて、歪み近傍においても、明確な結晶粒界(グレインバウンダリ
ーともいう)を確認することはできない。即ち、格子配列の歪みによって、結晶粒界の形
成が抑制されていることがわかる。これは、CAAC-OSが、a-b面方向において酸
素原子の配列が稠密でないことや、金属元素が置換することで原子間の結合距離が変化す
ることなどによって、歪みを許容することができるためと考えられる。
nc-OSとは、微小な領域(例えば、1nm以上10nm以下の領域、特に1nm以
上3nm以下の領域)において原子配列に周期性を有する結晶構造を指す。また、nc-
OSは、異なるナノ結晶間で結晶方位に規則性が見られない。そのため、膜全体で配向性
が見られない。
なお、酸化物半導体は、エネルギーギャップが2.0eV以上と大きく、可視光に対す
る透過率が大きい。また、酸化物半導体を適切な条件で加工して得られたトランジスタに
おいては、オフ電流(トランジスタがオフ状態の時にソースとドレイン間に流れる電流)
を極めて小さくすることができる。例えばソースとドレイン間の電圧が3.5V、温度2
5℃においては、チャネル幅1μmあたり100zA(1×10-19A)以下、もしく
は10zA(1×10-20A)以下、さらには1zA(1×10-21A)以下とする
ことができる。このため、消費電力の少ない表示装置を提供することができる。
また、半導体層208に酸化物半導体を用いる場合は、半導体層208に接する絶縁層
に酸素を有する絶縁層を用いることが好ましい。特に、半導体層208に接する絶縁層と
して、加熱処理により酸素を放出する絶縁層を用いることが好ましい。
また、トランジスタ232およびトランジスタ252上に絶縁層210が形成され、絶
縁層210上に絶縁層211が形成されている。絶縁層210及び絶縁層211は、保護
絶縁層として機能し、絶縁層211よりも上の層からトランジスタ232およびトランジ
スタ252への不純物元素が拡散することを防止または低減することができる。絶縁層2
10及び絶縁層211は、絶縁層205と同様の材料及び方法で形成することができる。
絶縁層211上に層間絶縁層212が形成される。層間絶縁層212は、トランジスタ
232やトランジスタ252に起因する凹凸を吸収することができる。層間絶縁層212
の表面に平坦化処理を行ってもよい。平坦化処理としては特に限定されないが、研磨処理
(例えば、化学的機械研磨法(Chemical Mechanical Polish
ing:CMP))、やドライエッチング処理により行うことができる。
また、平坦化機能を有する絶縁材料を用いて層間絶縁層212を形成することで、研磨
処理を省略することもできる。平坦化機能を有する絶縁材料として、例えば、ポリイミド
樹脂、アクリル樹脂等の有機材料を用いることができる。また上記有機材料の他に、低誘
電率材料(low-k材料)等を用いることができる。なお、これらの材料で形成される
絶縁膜を複数積層させることで、層間絶縁層212を形成してもよい。
また、層間絶縁層212上に、発光素子125と、隣接する発光素子125を隔てるた
めの隔壁114が形成されている。電極115が電極116と重なるように開口132に
形成される。
また、基板121には、遮光層264、着色層266、及びオーバーコート層268が
形成されている。表示装置200は、発光素子125からの光を、着色層266を介して
基板121側から射出する、所謂トップエミッション構造の表示装置である。
また、発光素子125は、層間絶縁層212、絶縁層211、および絶縁層210に設
けられた開口を介してトランジスタ232と電気的に接続されている。
また、発光素子125を、EL層117から発する光を共振させる微小光共振器(「マ
イクロキャビティ」ともいう)構造とすることで、異なる発光素子125で同じEL層1
17を用いても、異なる波長の光を狭線化して取り出すことができる。
一例として、図16に、発光素子125をマイクロキャビティ構造とした表示装置20
0の断面図を示す。なお、図16(A)は、図15(A)中にA5-A6の一点鎖線で示
す部位近傍の断面図に相当する。また、図16(B)は、図16(A)に示した部位28
0の拡大図である。
発光素子125をマイクロキャビティ構造とする場合、電極118を入射光量のうち一
定光量の光を透過して一定光量の光を反射する(半透過)導電性材料を用いて形成し、電
極115を、反射率の高い(可視光の反射率が50%以上100%以下、好ましくは70
%以上100%以下)導電性材料と、透過率の高い(可視光の透過率が50%以上100
%以下、好ましくは70%以上100%以下)導電性材料の積層で形成する。ここでは、
電極115を、光を反射する導電性材料で形成された電極115aと、光を透過する導電
性材料で形成された電極115bの積層としている。電極115bは、EL層117と電
極115aの間に設ける(図16(B)参照)。電極118は半透過電極として、電極1
15aは反射電極として機能できる。
例えば、電極118として、厚さ1nm乃至30nm、好ましくは1nm乃至15nm
の銀(Ag)を含む導電性材料、またはアルミニウム(Al)を含む導電性材料などを用
いればよい。本実施の形態では、電極118として厚さ10nmの銀とマグネシウムを含
む導電性材料を用いる。
また、電極115aとして厚さ50nm乃至500nm、好ましくは50nm乃至20
0nmの銀(Ag)を含む導電性材料、またはアルミニウム(Al)を含む導電性材料な
どを用いればよい。本実施の形態では、電極115aとして厚さ100nmの銀を含む導
電性材料を用いる。
また、電極115bとして厚さ1nm乃至200nm、好ましくは5nm乃至100n
mのインジウム(In)を含む導電性酸化物、または亜鉛(Zn)を含む導電性酸化物な
どを用いればよい。本実施の形態では、電極115bとしてインジウム錫酸化物を用いる
。また、電極115aの下に、さらに導電性酸化物を設けてもよい。
電極115bの厚さtを変えることで、電極118とEL層117の界面から電極11
5aと電極115bの界面までの距離dを任意の値に設定することができる。画素ごとに
電極115bの厚さtを変えることで、同じEL層117を用いても、画素ごとに異なる
発光スペクトルを有する発光素子125を設けることができる。よって、各発光色の色純
度を高め、色再現性の良好な表示装置を実現することができる。また、画素ごと(発光色
ごと)にEL層117を形成する必要がないため、表示装置の作製工程を少なくし、生産
性を高めることができる。また、表示装置の高精細化を容易とすることができる。
なお、光学的距離dの調整方法は上記の調整方法に限定されない。例えば、EL層11
7の膜厚を変えることで光学的距離dを調整してもよい。
図16(A)は、赤色の光151Rを発光することができる画素130R、緑色の光1
51Gを発光することができる画素130G、青色の光151Bを発光することができる
画素130B、および黄色の光151Yを発光することができる画素130Yを1つの画
素140として用いる例を示している。なお、本発明の一態様はこれに限定されず、画素
140として、赤、緑、青、黄、シアン、マゼンタ、または白などの光を発光することが
できる副画素を適宜組み合わせて用いればよい。例えば、画素130R、画素130G、
および画素130Bの3つの副画素で画素140を構成してもよい。
また、発光素子125と重畳する位置に着色層266を設けて、光151が着色層26
6を透過して外部に射出する構成としてもよい。図17に、図16に示した表示装置20
0に着色層266を組み合わせた構成の一例を示す。図17に示す表示装置200は、赤
色の光151Rを発光することができる画素130Rと重ねて赤色の波長帯域の光を透過
する着色層266Rが設けられ、緑色の光151Gを発光することができる画素130G
と重ねて緑色の波長帯域の光を透過する着色層266Gが設けられ、青色の光151Bを
発光することができる画素130Bと重ねて青色の波長帯域の光を透過する着色層266
Bが設けられ、黄色の光151Yを発光することができる画素130Yと重ねて黄色の波
長帯域の光を透過する着色層266Yが設けられている。
画素130R、画素130G、画素130Bに加えて画素130Yを用いることで、表
示装置の色再現性を高めることができる。また、画素140を画素130R、画素130
G、および画素130Bのみで構成する場合、画素140の発光色を白としたい時は、画
素130R、画素130G、および画素130Bの全てを発光させる必要がある。一方、
画素130R、画素130G、および画素130Bに加えて、画素130Yを設けること
で、画素130Bと画素130Yのみを発光させて、白色光を得ることが可能となる。よ
って、画素130Rと画素130Gを発光させなくても白色光を得ることができるため、
表示装置の消費電力を低減することができる。
また、画素130Yに代えて、白色の光151Wを発光することができる画素130W
を用いてもよい。画素130Yに代えて、画素130Wを用いることで、画素130Wの
みの発光により白色光を得ることができるため、表示装置の消費電力をより低減すること
ができる。
なお、画素130Wを用いる場合は、画素130Wに着色層を設けなくてもよい。着色
層を設けないことで、表示領域の輝度が向上し、視認性の良好な表示装置を実現すること
ができる。また、表示装置の消費電力をより低減することができる。
また、画素130Wに可視光領域のほぼ全体を透過する着色層266Wを設けてもよい
。これにより、白色の光151Wの色温度を変化させることができる。よって、表示品位
の良好な表示装置を実現することができる。
また、マイクロキャビティ構造の発光素子125と着色層266を組み合わせて用いる
ことにより、光151の色純度をさらに高めることができる。よって、表示装置200の
色再現性を高めることができる。また、外部から入射した光は、着色層266で大部分が
吸収されるため、外部から入射した光の表示領域231への映り込みを軽減し、表示装置
の視認性を高めることができる。よって、表示品位の良好な表示装置を実現することがで
きる。
また、本実施の形態では、表示装置の一例として、アクティブマトリクス型の表示装置
について例示したが、パッシブマトリクス型の表示装置に適用することも可能である。ま
た、ボトムエミッション構造の表示装置、デュアルエミッション構造の表示装置にも適用
可能である。
本実施の形態は、他の実施の形態に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可
能である。
(実施の形態3)
本実施の形態では、表示装置200のより具体的な構成例について、図18を用いて説
明する。図18(A)は、表示装置200の構成例を説明するためのブロック図である。
図18(A)に示す表示装置200は、表示領域231、駆動回路142a、駆動回路
142b、および駆動回路133を有する。駆動回路142a、駆動回路142b、およ
び駆動回路133は、上記実施の形態に示した周辺回路251に相当する。また、駆動回
路142a、駆動回路142b、および駆動回路133をまとめて駆動回路部という場合
がある。
駆動回路142a、駆動回路142bは、例えば走査線駆動回路として機能する。また
、駆動回路133は、例えば信号線駆動回路として機能する。なお、駆動回路142a、
および駆動回路142bは、どちらか一方のみとしてもよい。また、表示領域231を挟
んで駆動回路133と向き合う位置に、何らかの回路を設けてもよい。
また、表示装置200は、各々が略平行に配設され、且つ、駆動回路142a、および
/または駆動回路142bによって電位が制御されるm本の配線135と、各々が略平行
に配設され、且つ、駆動回路133によって電位が制御されるn本の配線136と、を有
する。さらに、表示領域231はマトリクス状に配設された複数の画素回路134を有す
る。なお、一つの画素回路134により、一つの副画素(画素130)が駆動される。
各配線135は、表示領域231においてm行n列に配設された画素回路134のうち
、いずれかの行に配設されたn個の画素回路134と電気的に接続される。また、各配線
136は、m行n列に配設された画素回路134のうち、いずれかの列に配設されたm個
の画素回路134に電気的に接続される。m、nは、ともに1以上の整数である。
〔表示装置用画素回路の一例〕
図18(B)および図18(C)は、図18(A)に示す表示装置の画素回路134に
用いることができる回路構成例を示している。
図18(B)に示す画素回路134は、トランジスタ431と、容量素子233と、ト
ランジスタ232と、トランジスタ434と、を有する。また、画素回路134は、発光
素子125と電気的に接続されている。
トランジスタ431のソースおよびドレインの一方は、データ信号が与えられる配線(
以下、信号線DL_j(jは1以上n以下の整数である。)という)に電気的に接続され
る。さらに、トランジスタ431のゲートは、ゲート信号が与えられる配線(以下、走査
線GL_i(iは1以上m以下の整数である。)という)に電気的に接続される。信号線
DL_jと走査線GL_iはそれぞれ配線136と配線135に相当する。
トランジスタ431は、データ信号のノード435への書き込みを制御する機能を有す
る。
容量素子233の一対の電極の一方は、ノード435に電気的に接続され、他方は、ノ
ード437に電気的に接続される。また、トランジスタ431のソースおよびドレインの
他方は、ノード435に電気的に接続される。
容量素子233は、ノード435に書き込まれたデータを保持する保持容量としての機
能を有する。
トランジスタ232のソースおよびドレインの一方は、電位供給線VL_aに電気的に
接続され、他方はノード437に電気的に接続される。さらに、トランジスタ232のゲ
ートは、ノード435に電気的に接続される。
トランジスタ434のソースおよびドレインの一方は、電位供給線V0に電気的に接続
され、他方はノード437に電気的に接続される。さらに、トランジスタ434のゲート
は、走査線GL_iに電気的に接続される。
発光素子125のアノードおよびカソードの一方は、電位供給線VL_bに電気的に接
続され、他方は、ノード437に電気的に接続される。
発光素子125としては、例えば有機エレクトロルミネセンス素子(有機EL素子とも
いう)などを用いることができる。ただし、発光素子125としては、これに限定されず
、例えば無機材料からなる無機EL素子を用いても良い。
なお、電源電位としては、例えば相対的に高電位側の電位または低電位側の電位を用い
ることができる。高電位側の電源電位を高電源電位(「VDD」ともいう)といい、低電
位側の電源電位を低電源電位(「VSS」ともいう)という。また、接地電位を高電源電
位または低電源電位として用いることもできる。例えば高電源電位が接地電位の場合には
、低電源電位は接地電位より低い電位であり、低電源電位が接地電位の場合には、高電源
電位は接地電位より高い電位である。
例えば、電位供給線VL_aまたは電位供給線VL_bの一方には、高電源電位VDD
が与えられ、他方には、低電源電位VSSが与えられる。
図18(B)の画素回路134を有する表示装置では、駆動回路142a、および/ま
たは駆動回路142bにより各行の画素回路134を順次選択し、トランジスタ431、
およびトランジスタ434をオン状態にしてデータ信号をノード435に書き込む。
ノード435にデータが書き込まれた画素回路134は、トランジスタ431、および
トランジスタ434がオフ状態になることで保持状態になる。さらに、ノード435に書
き込まれたデータの電位に応じてトランジスタ232のソース電極とドレイン電極の間に
流れる電流量が制御され、発光素子125は、流れる電流量に応じた輝度で発光する。こ
れを行毎に順次行うことにより、画像を表示できる。
〔液晶表示装置用画素回路の一例〕
図18(C)に示す画素回路134は、トランジスタ431と、容量素子233と、を
有する。また、画素回路134は、液晶素子432と電気的に接続されている。
液晶素子432の一対の電極の一方の電位は、画素回路134の仕様に応じて適宜設定
される。液晶素子432は、ノード436に書き込まれるデータにより配向状態が設定さ
れる。なお、複数の画素回路134のそれぞれが有する液晶素子432の一対の電極の一
方に、共通の電位(コモン電位)を与えてもよい。また、各行の画素回路134毎の液晶
素子432の一対の電極の一方に異なる電位を与えてもよい。
液晶素子432を備える表示装置の駆動方法としては、例えば、TNモード、STNモ
ード、VAモード、ASM(Axially Symmetric Aligned M
icro-cell)モード、OCB(Optically Compensated
Birefringence)モード、FLC(Ferroelectric Liqu
id Crystal)モード、AFLC(AntiFerroelectric Li
quid Crystal)モード、MVAモード、PVA(Patterned Ve
rtical Alignment)モード、IPSモード、FFSモード、またはTB
A(Transverse Bend Alignment)モードなどを用いてもよい
。また、表示装置の駆動方法としては、上述した駆動方法の他、ECB(Electri
cally Controlled Birefringence)モード、PDLC(
Polymer Dispersed Liquid Crystal)モード、PNL
C(Polymer Network Liquid Crystal)モード、ゲスト
ホストモードなどがある。ただし、これに限定されず、液晶素子およびその駆動方式とし
て様々なものを用いることができる。
また、ブルー相(Blue Phase)を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組成物
により液晶素子432を構成してもよい。ブルー相を示す液晶は、光学的等方性であるた
め、当該液晶表示装置の作製において、配向処理が不要となる。そのため、当該液晶装置
の視野角依存性は小さくなる。また、当該液晶装置の応答速度は1msec以下と短くな
る。
i行j列目の画素回路134において、トランジスタ431のソースおよびドレインの
一方は、信号線DL_jに電気的に接続され、他方はノード436に電気的に接続される
。トランジスタ431のゲートは、走査線GL_iに電気的に接続される。トランジスタ
431は、ノード436へのデータ信号の書き込みを制御する機能を有する。
容量素子233の一対の電極の一方は、特定の電位が供給される配線(以下、容量線C
L)に電気的に接続され、他方は、ノード436に電気的に接続される。また、液晶素子
432の一対の電極の他方はノード436に電気的に接続される。なお、容量線CLの電
位の値は、画素回路134の仕様に応じて適宜設定される。容量素子233は、ノード4
36に書き込まれたデータを保持する保持容量としての機能を有する。
例えば、図18(C)の画素回路134を有する表示装置では、駆動回路142a、お
よび/または駆動回路142bにより各行の画素回路134を順次選択し、トランジスタ
431をオン状態にしてノード436にデータ信号を書き込む。
ノード436にデータ信号が書き込まれた画素回路134は、トランジスタ431がオ
フ状態になることで保持状態になる。これを行毎に順次行うことにより、表示領域231
に画像を表示できる。
〔表示素子〕
本発明の一態様の表示装置は、様々な形態を用いること、または様々な表示素子を有す
ることが出来る。表示素子は、例えば、LED(白色LED、赤色LED、緑色LED、
青色LEDなど)などを含むEL(エレクトロルミネッセンス)素子(有機物および無機
物を含むEL素子、有機EL素子、無機EL素子)、トランジスタ(電流に応じて発光す
るトランジスタ)、プラズマディスプレイパネル(PDP)、電子放出素子、液晶素子、
電気泳動素子、グレーティングライトバルブ(GLV)やデジタルマイクロミラーデバイ
ス(DMD)、DMS(デジタル・マイクロ・シャッター)素子、MIRASOL(登録
商標)ディスプレイ、IMOD(インターフェロメトリック・モジュレーション)素子、
圧電セラミックディスプレイなどのMEMS(マイクロ・エレクトロ・メカニカル・シス
テム)を用いた表示素子、エレクトロウェッティング素子などが挙げられる。これらの他
にも、電気的または磁気的作用により、コントラスト、輝度、反射率、透過率などが変化
する表示媒体を有していても良い。また、表示素子として量子ドットを用いてもよい。E
L素子を用いた表示装置の一例としては、ELディスプレイなどがある。電子放出素子を
用いた表示装置の一例としては、フィールドエミッションディスプレイ(FED)又はS
ED方式平面型ディスプレイ(SED:Surface-conduction Ele
ctron-emitter Display)などがある。量子ドットを用いた表示装
置の一例としては、量子ドットディスプレイなどがある。液晶素子を用いた表示装置の一
例としては、液晶ディスプレイ(透過型液晶ディスプレイ、半透過型液晶ディスプレイ、
反射型液晶ディスプレイ、直視型液晶ディスプレイ、投射型液晶ディスプレイ)などがあ
る。電気泳動素子を用いた表示装置の一例としては、電子ペーパーなどがある。なお、半
透過型液晶ディスプレイや反射型液晶ディスプレイを実現する場合には、画素電極の一部
、または、全部が、反射電極としての機能を有するようにすればよい。例えば、画素電極
の一部、または、全部が、アルミニウム、銀、などを有するようにすればよい。さらに、
その場合、反射電極の下に、SRAMなどの記憶回路を設けることも可能である。これに
より、さらに、消費電力を低減することができる。
本実施の形態は、他の実施の形態に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可
能である。
(実施の形態4)
本実施の形態では、上記実施の形態に示したトランジスタ232、および/またはトラ
ンジスタ252に置き換えて用いることができるトランジスタの一例について、図19を
用いて説明する。なお、本明細書等に開示するトランジスタは、トランジスタ431やト
ランジスタ434などにも用いることができる。
〔ボトムゲート型トランジスタ〕
図19(A1)に例示するトランジスタ410は、ボトムゲート型のトランジスタの1
つであるチャネル保護型のトランジスタである。トランジスタ410は、実施の形態1で
説明した剥離工程、及び貼り合わせ工程によって、基板111上に設けられた構成となっ
ている。具体的には、剥離工程後に有機膜113と、基板111と、を、接着層112を
介して貼り合わせ、基板111上にトランジスタ410を設けている。基板111、接着
層112、有機膜113のそれぞれは、実施の形態1で説明した基板111、接着層11
2、有機膜113と同様の材料を用いることができる。トランジスタ410は、半導体層
208のチャネル形成領域上に、チャネル保護層として機能できる絶縁層209を有する
。絶縁層209は、実施の形態2で説明した絶縁層205と同様の材料および方法により
形成することができる。電極214の一部、および電極215の一部は、絶縁層209上
に形成される。
チャネル形成領域上に絶縁層209を設けることで、電極214および電極215の形
成時に生じる半導体層208の露出を防ぐことができる。よって、電極214および電極
215の形成時に半導体層208の薄膜化を防ぐことができる。
図19(A2)に示すトランジスタ411は、絶縁層211上にバックゲート電極とし
て機能できる電極213を有する点が、トランジスタ410と異なる。電極213は、電
極206と同様の材料および方法で形成することができる。また、電極213は、絶縁層
210と絶縁層211の間に形成してもよい。
一般に、バックゲート電極は導電層で形成され、ゲート電極とバックゲート電極で半導
体層のチャネル形成領域を挟むように配置される。よって、バックゲート電極は、ゲート
電極と同様に機能させることができる。バックゲート電極の電位は、ゲート電極と同電位
としてもよいし、GND電位や、任意の電位としてもよい。また、バックゲート電極の電
位をゲート電極と連動させず独立して変化させることで、トランジスタのしきい値電圧を
変化させることができる。
電極206および電極213は、どちらもゲート電極として機能することができる。よ
って、絶縁層207、絶縁層209、絶縁層210、および絶縁層211は、ゲート絶縁
層として機能することができる。
なお、電極206または電極213の一方を、「ゲート電極」という場合、他方を「バ
ックゲート電極」という場合がある。例えば、トランジスタ411において、電極213
を「ゲート電極」と言う場合、電極206を「バックゲート電極」と言う場合がある。ま
た、電極213を「ゲート電極」として用いる場合は、トランジスタ411をトップゲー
ト型のトランジスタの一種と考えることができる。また、電極206および電極213の
どちらか一方を、「第1のゲート電極」といい、他方を「第2のゲート電極」という場合
がある。
半導体層208を挟んで電極206および電極213を設けることで、更には、電極2
06および電極213を同電位とすることで、半導体層208においてキャリアの流れる
領域が膜厚方向においてより大きくなるため、キャリアの移動量が増加する。この結果、
トランジスタ411のオン電流が大きくなると共に、電界効果移動度が高くなる。
したがって、トランジスタ411は、占有面積に対して大きいオン電流を有するトラン
ジスタである。すなわち、求められるオン電流に対して、トランジスタ411の占有面積
を小さくすることができる。
また、ゲート電極とバックゲート電極は導電層で形成されるため、トランジスタの外部
で生じる電界が、チャネルが形成される半導体層に作用しないようにする機能(特に静電
気に対する静電遮蔽機能)を有する。
また、電極206および電極213は、それぞれが外部からの電界を遮蔽する機能を有
するため、基板111側もしくは電極213上方に生じる荷電粒子等の電荷が半導体層2
08のチャネル形成領域に影響しない。この結果、BTストレス試験(例えば、ゲートに
負の電荷を印加する-GBT(Gate Bias-Temperature)ストレス
試験)の劣化が抑制されると共に、閾値電圧の変動を抑制することができる。なお、この
効果は、電極206および電極213が、同電位、または異なる電位の場合において生じ
る。
なお、BTストレス試験は加速試験の一種であり、長期間の使用によって起こるトラン
ジスタの特性変化(すなわち、経年変化)を、短時間で評価することができる。特に、B
Tストレス試験前後におけるトランジスタのしきい値電圧の変動量は、信頼性を調べるた
めの重要な指標となる。BTストレス試験前後において、しきい値電圧の変動量が少ない
ほど、信頼性が高いトランジスタであるといえる。
また、電極206および電極213を有し、且つ電極206および電極213を同電位
とすることで、しきい値電圧の変動量が低減される。このため、複数のトランジスタにお
ける電気特性のばらつきも同時に低減される。
また、バックゲート電極を有するトランジスタは、ゲートに正の電荷を印加する+GB
Tストレス試験前後におけるしきい値電圧の変動も、バックゲート電極を有さないトラン
ジスタより小さい。
また、バックゲート電極を、遮光性を有する導電膜で形成することで、バックゲート電
極側から半導体層に光が入射することを防ぐことができる。よって、半導体層の光劣化を
防ぎ、トランジスタのしきい値電圧がシフトするなどの電気特性の劣化を防ぐことができ
る。
図19(B1)に例示するトランジスタ420は、ボトムゲート型のトランジスタの1
つであるチャネル保護型のトランジスタである。トランジスタ420は、トランジスタ4
10とほぼ同様の構造を有しているが、絶縁層209が半導体層208の側面を覆ってい
る点が異なる。
また、絶縁層209の一部を選択的に除去して形成した開口部において、半導体層20
8と電極214が電気的に接続している。また、絶縁層209の一部を選択的に除去して
形成した開口部において、半導体層208と電極215が電気的に接続している。絶縁層
209の、チャネル形成領域と重なる領域は、チャネル保護層として機能できる。
図19(B2)に示すトランジスタ421は、絶縁層211上にバックゲート電極とし
て機能できる電極213を有する点が、トランジスタ420と異なる。
絶縁層209を設けることで、電極214および電極215の形成時に生じる半導体層
208の露出を防ぐことができる。よって、電極214および電極215の形成時に半導
体層208の薄膜化を防ぐことができる。
また、トランジスタ420およびトランジスタ421は、トランジスタ410およびト
ランジスタ411よりも、電極214と電極206の間の距離と、電極215と電極20
6の間の距離が長くなる。よって、電極214と電極206の間に生じる寄生容量を小さ
くすることができる。また、電極215と電極206の間に生じる寄生容量を小さくする
ことができる。
〔トップゲート型トランジスタ〕
図20(A1)に例示するトランジスタ430は、トップゲート型のトランジスタの1
つである。トランジスタ430は、絶縁層119の上に半導体層208を有し、半導体層
208および絶縁層119上に、半導体層208の一部に接する電極214および半導体
層208の他の一部に接する電極215を有し、半導体層208、電極214、および電
極215上に絶縁層207を有し、絶縁層207上に電極206を有する。また、電極2
06上に絶縁層210と、絶縁層211を有する。
トランジスタ430は、電極206および電極214、並びに、電極206および電極
215が重ならないため、電極206および電極214間に生じる寄生容量、並びに、電
極206および電極215間に生じる寄生容量を小さくすることができる。また、電極2
06を形成した後に、電極206をマスクとして用いて不純物元素221を半導体層20
8に導入することで、半導体層208中に自己整合(セルフアライメント)的に不純物領
域を形成することができる(図20(A3)参照)。
なお、不純物元素221の導入は、イオン注入装置、イオンドーピング装置またはプラ
ズマ処理装置を用いて行うことができる。
不純物元素221としては、例えば、第13族元素または第15族元素のうち、少なく
とも一種類の元素を用いることができる。また、半導体層208に酸化物半導体を用いる
場合は、不純物元素221として、希ガス、水素、および窒素のうち、少なくとも一種類
の元素を用いることも可能である。
図20(A2)に示すトランジスタ431は、電極213および絶縁層217を有する
点がトランジスタ430と異なる。トランジスタ431は、絶縁層119の上に形成され
た電極213を有し、電極213上に形成された絶縁層217を有する。前述した通り、
電極213は、バックゲート電極として機能することができる。よって、絶縁層217は
、ゲート絶縁層として機能することができる。絶縁層217は、絶縁層205と同様の材
料および方法により形成することができる。
トランジスタ411と同様に、トランジスタ431は、占有面積に対して大きいオン電
流を有するトランジスタである。すなわち、求められるオン電流に対して、トランジスタ
431の占有面積を小さくすることができる。本発明の一態様によれば、トランジスタの
占有面積を小さくすることができる。よって、本発明の一態様によれば、集積度の高い半
導体装置を実現することができる。
図20(B1)と図20(B2)に例示するトランジスタ440、441は、トップゲ
ート型のトランジスタの1つである。トランジスタ440、441は、電極214および
電極215を形成した後に半導体層208を形成する点が、トランジスタ430、431
とそれぞれ異なる。よって、トランジスタ440およびトランジスタ441において、半
導体層208の一部は電極214上に形成され、半導体層208の他の一部は電極215
上に形成される。
トランジスタ411と同様に、トランジスタ441は、占有面積に対して大きいオン電
流を有するトランジスタである。すなわち、求められるオン電流に対して、トランジスタ
441の占有面積を小さくすることができる。よって、集積度の高い半導体装置を実現す
ることができる。
トランジスタ440およびトランジスタ441も、電極206を形成した後に、電極2
06をマスクとして用いて不純物元素221を半導体層208に導入することで、半導体
層208中に自己整合的に不純物領域を形成することができる。
なお、本明細書等で開示された、金属膜、半導体膜、無機絶縁膜など様々な膜はスパッ
タ法やプラズマCVD法により形成することができるが、他の方法、例えば、熱CVD(
Chemical Vapor Deposition)法により形成してもよい。熱C
VD法の例としてMOCVD(Metal Organic Chemical Vap
or Deposition)法やALD(Atomic Layer Deposit
ion)法を使っても良い。
熱CVD法は、プラズマを使わない成膜方法のため、プラズマダメージにより欠陥が生
成されることが無いという利点を有する。
熱CVD法は、原料ガスと酸化剤を同時にチャンバー内に送り、チャンバー内を大気圧
または減圧下とし、基板近傍または基板上で反応させて基板上に堆積させることで成膜を
行ってもよい。
また、ALD法は、チャンバー内を大気圧または減圧下とし、反応のための原料ガスが
順次にチャンバーに導入され、そのガス導入の順序を繰り返すことで成膜を行ってもよい
。例えば、それぞれのスイッチングバルブ(高速バルブとも呼ぶ)を切り替えて2種類以
上の原料ガスを順番にチャンバーに供給し、複数種の原料ガスが混ざらないように第1の
原料ガスと同時またはその後に不活性ガス(アルゴン、或いは窒素など)などを導入し、
第2の原料ガスを導入する。なお、同時に不活性ガスを導入する場合には、不活性ガスは
キャリアガスとなり、また、第2の原料ガスの導入時にも同時に不活性ガスを導入しても
よい。また、不活性ガスを導入する代わりに真空排気によって第1の原料ガスを排出した
後、第2の原料ガスを導入してもよい。第1の原料ガスが基板の表面に吸着して第1の薄
い層を成膜し、後から導入される第2の原料ガスと反応して、第2の薄い層が第1の薄い
層上に積層されて薄膜が形成される。このガス導入順序を制御しつつ所望の厚さになるま
で複数回繰り返すことで、段差被覆性に優れた薄膜を形成することができる。薄膜の厚さ
は、ガス導入順序を繰り返す回数によって調節することができるため、精密な膜厚調節が
可能であり、微細なFETを作製する場合に適している。
MOCVD法やALD法などの熱CVD法は、これまでに記載した実施形態に開示され
た金属膜、半導体膜、無機絶縁膜など様々な膜を形成することができ、例えば、In-G
a-Zn-O膜を成膜する場合には、トリメチルインジウム(In(CH)、トリ
メチルガリウム(Ga(CH)、及びジメチル亜鉛(Zn(CH)を用いる
。また、これらの組み合わせに限定されず、トリメチルガリウムに代えてトリエチルガリ
ウム(Ga(C)を用いることもでき、ジメチル亜鉛に代えてジエチル亜鉛(
Zn(C)を用いることもできる。
例えば、ALDを利用する成膜装置により酸化ハフニウム膜を形成する場合には、溶媒
とハフニウム前駆体化合物を含む液体(ハフニウムアルコキシドや、テトラキスジメチル
アミドハフニウム(TDMAH、Hf[N(CH)などのハフニウムアミド)
を気化させた原料ガスと、酸化剤としてオゾン(O)の2種類のガスを用いる。また、
他の材料としては、テトラキス(エチルメチルアミド)ハフニウムなどがある。
例えば、ALDを利用する成膜装置により酸化アルミニウム膜を形成する場合には、溶
媒とアルミニウム前駆体化合物を含む液体(トリメチルアルミニウム(TMA、Al(C
)など)を気化させた原料ガスと、酸化剤としてHOの2種類のガスを用いる
。また、他の材料としては、トリス(ジメチルアミド)アルミニウム、トリイソブチルア
ルミニウム、アルミニウムトリス(2,2,6,6-テトラメチル-3,5-ヘプタンジ
オナート)などがある。
例えば、ALDを利用する成膜装置により酸化シリコン膜を形成する場合には、ヘキサ
クロロジシランを被成膜面に吸着させ、酸化性ガス(O、一酸化二窒素)のラジカルを
供給して吸着物と反応させる。
例えば、ALDを利用する成膜装置によりタングステン膜を成膜する場合には、WF
ガスとBガスを順次繰り返し導入して初期タングステン膜を形成し、その後、WF
ガスとHガスを順次繰り返し導入してタングステン膜を形成する。なお、B
スに代えてSiHガスを用いてもよい。
例えば、ALDを利用する成膜装置により酸化物半導体膜、例えばIn-Ga-Zn-
O膜を成膜する場合には、In(CHガスとOガスを順次繰り返し導入してIn
-O層を形成し、その後、Ga(CHガスとOガスを順次繰り返し導入してGa
O層を形成し、更にその後Zn(CHガスとOガスを順次繰り返し導入してZn
O層を形成する。なお、これらの層の順番はこの例に限らない。また、これらのガスを用
いてIn-Ga-O層やIn-Zn-O層、Ga-Zn-O層などの混合酸化物層を形成
しても良い。なお、Oガスに代えてAr等の不活性ガスで水をバブリングして得られた
Oガスを用いても良いが、Hを含まないOガスを用いる方が好ましい。また、In
(CHガスに代えて、In(Cガスを用いても良い。また、Ga(CH
ガスに代えて、Ga(Cガスを用いても良い。また、Zn(CH
ガスを用いても良い。
本実施の形態は、他の実施の形態に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可
能である。
(実施の形態5)
本実施の形態では、発光素子125に用いることができる発光素子の構成例について説
明する。なお、本実施の形態に示すEL層320が、他の実施の形態に示したEL層11
7に相当する。
<発光素子の構成>
図21(A)に示す発光素子330は、一対の電極(電極318、電極322)間にE
L層320が挟まれた構造を有する。なお、以下の本実施の形態の説明においては、例と
して、電極318を陽極として用い、電極322を陰極として用いるものとする。
また、EL層320は、少なくとも発光層を含んで形成されていればよく、発光層以外
の機能層を含む積層構造であっても良い。発光層以外の機能層としては、正孔注入性の高
い物質、正孔輸送性の高い物質、電子輸送性の高い物質、電子注入性の高い物質、バイポ
ーラ性(電子及び正孔の輸送性の高い物質)の物質等を含む層を用いることができる。具
体的には、正孔注入層、正孔輸送層、電子輸送層、電子注入層等の機能層を適宜組み合わ
せて用いることができる。
図21(A)に示す発光素子330は、電極318と電極322との間に与えられた電
位差により電流が流れ、EL層320において正孔と電子とが再結合し、発光するもので
ある。つまりEL層320に発光領域が形成されるような構成となっている。
本発明において、発光素子330からの発光は、電極318、または電極322側から
外部へ射出される。従って、電極318、または電極322の少なくとも一方は透光性を
有する物質で成る。
なお、EL層320は図21(B)に示す発光素子331のように、電極318と電極
322との間に複数積層されていても良い。n層(nは2以上の自然数)の積層構造を有
する場合には、m番目(mは、1以上かつnより小さい自然数)のEL層320と、(m
+1)番目のEL層320との間には、それぞれ電荷発生層320aを設けることが好ま
しい。電極318と電極322を除く構成が上記実施の形態のEL層117に相当する。
電荷発生層320aは、有機化合物と金属酸化物の複合材料を用いて形成することがで
きる。金属酸化物としては、例えば、酸化バナジウムや酸化モリブデンや酸化タングステ
ン等が挙げられる。有機化合物としては、芳香族アミン化合物、カルバゾール誘導体、芳
香族炭化水素、または、それらを基本骨格とするオリゴマー、デンドリマー、ポリマー等
など、種々の化合物を用いることができる。なお、有機化合物としては、正孔輸送性有機
化合物として正孔移動度が10-6cm/Vs以上であるものを適用することが好まし
い。但し、電子よりも正孔の輸送性の高い物質であれば、これら以外のものを用いてもよ
い。なお、電荷発生層320aに用いるこれらの材料は、キャリア注入性、キャリア輸送
性に優れているため、発光素子331の低電流駆動、および低電圧駆動を実現することが
できる。上記複合材料以外にも、上記複合材料にアルカリ金属、アルカリ土類金属、アル
カリ金属化合物、アルカリ土類金属化合物などを加えた材料を電荷発生層320aに用い
ることができる。
なお、電荷発生層320aは、有機化合物と金属酸化物の複合材料と他の材料とを組み
合わせて形成してもよい。例えば、有機化合物と金属酸化物の複合材料を含む層と、電子
供与性物質の中から選ばれた一の化合物と電子輸送性の高い化合物とを含む層とを組み合
わせて形成してもよい。また、有機化合物と金属酸化物の複合材料を含む層と、透明導電
膜とを組み合わせて形成してもよい。
このような構成を有する発光素子331は、隣接するEL層320同士でのエネルギー
の移動が起こり難く、高い発光効率と長い寿命とを併せ持つ発光素子とすることが容易で
ある。また、一方の発光層で燐光発光、別の発光層で蛍光発光を得ることも容易である。
なお、電荷発生層320aとは、電極318と電極322に電圧を印加したときに、電
荷発生層320aに接して形成される一方のEL層320に対して正孔を注入する機能を
有し、他方のEL層320に電子を注入する機能を有する。
図21(B)に示す発光素子331は、EL層320に用いる発光物質の種類を変える
ことにより様々な発光色を得ることができる。また、発光物質として発光色の異なる複数
の発光物質を用いることにより、ブロードなスペクトルの発光や白色発光を得ることもで
きる。
図21(B)に示す発光素子331を用いて、白色発光を得る場合、複数のEL層の組
み合わせとしては、赤、青及び緑色の光を含んで白色に発光する構成であればよく、例え
ば、青色の蛍光材料を発光物質として含むEL層と、緑色と赤色の燐光材料を発光物質と
して含むEL層を有する構成が挙げられる。また、赤色の発光を示すEL層と、緑色の発
光を示すEL層と、青色の発光を示すEL層とを有する構成とすることもできる。または
、補色の関係にある光を発するEL層を有する構成であっても白色発光が得られる。EL
層が2層積層された積層型素子において、これらのEL層からの発光色を補色の関係にす
る場合、補色の関係としては、青色と黄色、あるいは青緑色と赤色の組合せなどが挙げら
れる。
なお、上述した積層型素子の構成において、積層される発光層の間に電荷発生層を配置
することにより、電流密度を低く保ったまま高輝度発光が得られ、また、長寿命素子を実
現することができる。
本実施の形態は、他の実施の形態に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可
能である。
(実施の形態6)
本実施の形態では、本発明の一態様に係る表示装置を用いた表示モジュールについて、
図22を用いて説明を行う。
図22に示す表示モジュール8000は、上部カバー8001と下部カバー8002と
の間に、FPC8003に接続されたタッチセンサ8004、FPC8005に接続され
たセル8006、フレーム8009、プリント基板8010、バッテリ8011を有する
。なお、上部カバー8001、下部カバー8002、フレーム8009、プリント基板8
010、バッテリ8011、タッチセンサ8004などの少なくとも1つを有さない場合
もある。
本発明の一態様に係る表示装置は、例えば、セル8006に用いることができる。
上部カバー8001および下部カバー8002は、タッチセンサ8004およびセル8
006のサイズに合わせて、形状や寸法を適宜変更することができる。
タッチセンサ8004は、抵抗膜方式または静電容量方式のタッチセンサをセル800
6に重畳して用いることができる。また、セル8006の対向基板(封止基板)に、タッ
チセンサ機能を持たせるようにすることも可能である。または、セル8006の各画素内
に光センサを設け、光学式のタッチセンサとすることも可能である。または、セル800
6の各画素内にタッチセンサ用電極を設け、容量方式のタッチセンサとすることも可能で
ある。
フレーム8009は、セル8006の保護機能の他、プリント基板8010の動作によ
り発生する電磁波を遮断するための電磁シールドとしての機能を有してもよい。またフレ
ーム8009は、放熱板としての機能を有していてもよい。
プリント基板8010は、電源回路、ビデオ信号およびクロック信号を出力するための
信号処理回路を有する。電源回路に電力を供給する電源としては、外部電源であってもよ
いし、別途設けたバッテリ8011による電源であってもよい。外部電源を用いる場合に
は、バッテリ8011を有さなくてもよい。
また、表示モジュール8000には、偏光板、位相差板、プリズムシートなどの部材を
追加して設けてもよい。
本実施の形態は、他の実施の形態に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可
能である。
(実施の形態7)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置が適用された電子機器や照明装置の例に
ついて、図面を参照して説明する。
本発明の一態様に係る表示装置を用いた電子機器として、テレビ、モニタ等の表示装置
、照明装置、デスクトップ型或いはノート型のパーソナルコンピュータ、ワードプロセッ
サ、DVD(Digital Versatile Disc)などの記録媒体に記憶さ
れた静止画又は動画を再生する画像再生装置、ポータブルCDプレーヤ、ラジオ、テープ
レコーダ、ヘッドホンステレオ、ステレオ、置き時計、壁掛け時計、コードレス電話子機
、トランシーバ、携帯電話、自動車電話、携帯型ゲーム機、タブレット型端末、パチンコ
機などの大型ゲーム機、電卓、携帯情報端末、電子手帳、電子書籍端末、電子翻訳機、音
声入力機器、ビデオカメラ、デジタルスチルカメラ、電気シェーバ、電子レンジ等の高周
波加熱装置、電気炊飯器、電気洗濯機、電気掃除機、温水器、扇風機、毛髪乾燥機、エア
コンディショナー、加湿器、除湿器などの空調設備、食器洗い器、食器乾燥器、衣類乾燥
器、布団乾燥器、電気冷蔵庫、電気冷凍庫、電気冷凍冷蔵庫、DNA保存用冷凍庫、懐中
電灯、チェーンソー等の工具、煙感知器、透析装置等の医療機器などが挙げられる。さら
に、誘導灯、信号機、ベルトコンベア、エレベータ、エスカレータ、産業用ロボット、電
力貯蔵システム、電力の平準化やスマートグリッドのための蓄電装置等の産業機器が挙げ
られる。また、蓄電体からの電力を用いて電動機により推進する移動体なども、電子機器
の範疇に含まれるものとする。上記移動体として、例えば、電気自動車(EV)、内燃機
関と電動機を併せ持ったハイブリッド車(HEV)、プラグインハイブリッド車(PHE
V)、これらのタイヤ車輪を無限軌道に変えた装軌車両、電動アシスト自転車を含む原動
機付自転車、自動二輪車、電動車椅子、ゴルフ用カート、小型又は大型船舶、潜水艦、ヘ
リコプター、航空機、ロケット、人工衛星、宇宙探査機や惑星探査機、宇宙船などが挙げ
られる。
特に、フレキシブルな形状を備える表示装置を適用した電子機器として、例えば、テレ
ビジョン装置(テレビ、又はテレビジョン受信機ともいう)、コンピュータ用などのモニ
タ、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、デジタルフォトフレーム、携帯電話機(携
帯電話、携帯電話装置ともいう)、携帯型ゲーム機、携帯情報端末、音響再生装置、パチ
ンコ機などの大型ゲーム機などが挙げられる。
また、照明装置や表示装置を、家屋やビルの内壁または外壁や、自動車の内装または外
装の曲面に沿って組み込むことも可能である。
図23(A)は、携帯電話機の一例を示している。携帯電話機7400は、筐体740
1に組み込まれた表示部7402の他、操作ボタン7403、外部接続ポート7404、
スピーカ7405、マイク7406などを備えている。なお、携帯電話機7400は、表
示装置を表示部7402に用いることにより作製される。
図23(A)に示す携帯電話機7400は、表示部7402にタッチセンサを設けてお
り、表示部7402を指などで触れることで、情報を入力することができる。また、電話
を掛ける、或いは文字を入力するなどのあらゆる操作は、表示部7402を指などで触れ
ることにより行うことができる。
また操作ボタン7403の操作により、電源のON、OFFや、表示部7402に表示
される画像の種類を切り替えることができる。例えば、メール作成画面から、メインメニ
ュー画面に切り替えることができる。
ここで、表示部7402には、本発明の一態様の表示装置が組み込まれている。したが
って、湾曲した表示部を備え、且つ信頼性の高い携帯電話機とすることができる。
図23(B)は、リストバンド型の表示装置の一例を示している。携帯表示装置710
0は、筐体7101、表示部7102、操作ボタン7103、及び送受信装置7104を
備える。
携帯表示装置7100は、送受信装置7104によって映像信号を受信可能で、受信し
た映像を表示部7102に表示することができる。また、音声信号を他の受信機器に送信
することもできる。
また、操作ボタン7103によって、電源のON、OFF動作や表示する映像の切り替
え、または音声のボリュームの調整などを行うことができる。
ここで、表示部7102には、本発明の一態様の表示装置が組み込まれている。したが
って、湾曲した表示部を備え、且つ信頼性の高い携帯表示装置とすることができる。
図23(C)乃至図23(E)は、照明装置の一例を示している。照明装置7200、
照明装置7210、照明装置7220はそれぞれ、操作スイッチ7203を備える台部7
201と、台部7201に支持される発光部を有する。
図23(C)に示す照明装置7200は、波状の発光面を有する発光部7202を備え
る。したがってデザイン性の高い照明装置となっている。
図23(D)に示す照明装置7210の備える発光部7212は、凸状に湾曲した2つ
の発光部が対称的に配置された構成となっている。したがって照明装置7210を中心に
全方位を照らすことができる。
図23(E)に示す照明装置7220は、凹状に湾曲した発光部7222を備える。し
たがって、発光部7222からの発光を、照明装置7220の前面に集光するため、特定
の範囲を明るく照らす場合に適している。
また、照明装置7200、照明装置7210及び照明装置7220が備える各々の発光
部はフレキシブル性を有しているため、当該発光部を可塑性の部材や可動なフレームなど
の部材で固定し、用途に合わせて発光部の発光面を自在に湾曲可能な構成としてもよい。
ここで、照明装置7200、照明装置7210及び照明装置7220が備える各々の発
光部には、本発明の一態様の表示装置が組み込まれている。したがって、表示部を任意の
形状に湾曲または屈曲可能であり、且つ信頼性の高い照明装置とすることができる。
図24(A)に、携帯型の表示装置の一例を示す。表示装置7300は、筐体7301
、表示部7302、操作ボタン7303、引き出し部材7304、制御部7305を備え
る。
表示装置7300は、筒状の筐体7301内にロール状に巻かれたフレキシブルな表示
部7302を備える。
また、表示装置7300は制御部7305によって映像信号を受信可能で、受信した映
像を表示部7302に表示することができる。また、制御部7305には蓄電装置を備え
る。また、制御部7305にコネクタを備え、映像信号や電力を直接供給する構成として
もよい。
また、操作ボタン7303によって、電源のON、OFF動作や表示する映像の切り替
え等を行うことができる。
図24(B)に、表示部7302を引き出し部材7304により引き出した状態を示す
。この状態で表示部7302に映像を表示することができる。また、筐体7301の表面
に配置された操作ボタン7303によって、片手で容易に操作することができる。
なお、表示部7302を引き出した際に表示部7302が湾曲しないよう、表示部73
02の端部に補強のためのフレームを設けていてもよい。
なお、この構成以外に、筐体にスピーカを設け、映像信号と共に受信した音声信号によ
って音声を出力する構成としてもよい。
表示部7302には、本発明の一態様の表示装置が組み込まれている。したがって、表
示部7302はフレキシブルで且つ信頼性の高い表示装置であるため、表示装置7300
は軽量で且つ信頼性の高い表示装置とすることができる。
図25(A)および図25(B)は、2つ折り可能なタブレット型端末9600を例示
している。図25(A)は、タブレット型端末9600を開いた状態であり、タブレット
型端末9600は、筐体9630、表示部9631、表示モード切り替えスイッチ962
6、電源スイッチ9627、省電力モード切り替えスイッチ9625、留め具9629、
操作スイッチ9628、を有する。
筐体9630は、筐体9630aと筐体9630bを有し、筐体9630aと筐体96
30bは、ヒンジ部9639により結合されている。また、筐体9630は、ヒンジ部9
639により2つ折りが可能となっている。
また、表示部9631は、筐体9630a、筐体9630b、およびヒンジ部9639
上に形成されている。表示部9631に本明細書等に開示した表示装置を用いることによ
り、表示部9631の屈曲が可能で、信頼性の高いタブレット型端末とすることが可能と
なる。
表示部9631は、一部をタッチセンサの領域9632とすることができ、表示された
操作キー9638にふれることでデータ入力をすることができる。なお、表示部9631
は、例えば、半分の領域が表示のみの機能を有する構成とし、もう半分の領域をタッチセ
ンサの機能を有する構成とすることができる。また、表示部9631全ての領域がタッチ
センサの機能を有する構成としても良い。例えば、表示部9631の全面にキーボードボ
タン表示させて、データ入力端末とすることもできる。
また、表示モード切り替えスイッチ9626は、縦表示又は横表示などの表示の向きを
切り替え、白黒表示やカラー表示の切り替えなどを選択できる。省電力モード切り替えス
イッチ9625は、タブレット型端末に内蔵している光センサで検出される使用時の外光
の光量に応じて表示の輝度を最適なものとすることができる。タブレット型端末は光セン
サだけでなく、ジャイロ、加速度センサ等の傾きを検出するセンサなどの他の検出装置を
内蔵させてもよい。
図25(B)は、タブレット型端末9600を閉じた状態であり、タブレット型端末9
600は、筐体9630、太陽電池9633、充放電制御回路9634を有する。なお、
図25(B)では充放電制御回路9634の一例としてバッテリ9635、DCDCコン
バータ9636を有する構成について示している。
表示部9631に本明細書等に開示した表示装置を用いることにより、表示部9631
を折り曲げることができる。例えば、タブレット型端末9600は2つ折り可能なため、
未使用時に筐体9630を閉じた状態にすることができる。従って、可搬性に優れ、また
、筐体9630を閉じることで表示部9631を保護できるため、耐久性に優れ、長期使
用の観点からも信頼性の優れたタブレット型端末とすることができる。
また、この他にも図25(A)及び図25(B)に示したタブレット型端末は、様々な
情報(静止画、動画、テキスト画像など)を表示する機能、カレンダー、日付又は時刻な
どを表示部に表示する機能、表示部に表示した情報をタッチ入力操作又は編集するタッチ
入力機能、様々なソフトウェア(プログラム)によって処理を制御する機能、等を有する
ことができる。
タブレット型端末の表面に装着された太陽電池9633によって、電力をタッチセンサ
、表示部、又は映像信号処理部等に供給することができる。なお、太陽電池9633は、
筐体9630の片面または両面に設けることができ、バッテリ9635の充電を効率的に
行う構成とすることができるため好適である。なおバッテリ9635としては、リチウム
イオン電池を用いると、小型化を図れる等の利点がある。
また、図25(B)に示す充放電制御回路9634の構成、及び動作について図25(
C)にブロック図を示し説明する。図25(C)には、太陽電池9633、バッテリ96
35、DCDCコンバータ9636、コンバータ9637、スイッチSW1、スイッチS
W2、スイッチSW3、表示部9631について示しており、バッテリ9635、DCD
Cコンバータ9636、コンバータ9637、スイッチSW1、スイッチSW2、スイッ
チSW3が、図25(B)に示す充放電制御回路9634に対応する箇所となる。
まず外光により太陽電池9633により発電がされる場合の動作の例について説明する
。太陽電池で発電した電力は、バッテリ9635を充電するための電圧となるようDCD
Cコンバータ9636で昇圧又は降圧がなされる。そして、表示部9631の動作に太陽
電池9633からの電力が用いられる際にはスイッチSW1をオンにし、コンバータ96
37で表示部9631に必要な電圧に昇圧又は降圧をすることとなる。また、表示部96
31での表示を行わない際には、スイッチSW1をオフにし、スイッチSW2をオンにし
てバッテリ9635の充電を行う構成とすればよい。
なお太陽電池9633については、発電手段の一例として示したが、特に限定されず、
圧電素子(ピエゾ素子)や熱電変換素子(ペルティエ素子)などの他の発電手段によるバ
ッテリ9635の充電を行う構成であってもよい。例えば、無線(非接触)で電力を送受
信して充電する無接点電力伝送モジュールや、また他の充電手段を組み合わせて行う構成
としてもよい。
本実施の形態は、他の実施の形態に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可
能である。
(本明細書等の記載に関する付記)
以上の実施の形態における各構成の説明について、以下に付記する。
<実施の形態で述べた本発明の一態様に関する付記>
各実施の形態に示す構成は、他の実施の形態に示す構成と適宜組み合わせて、本発明の
一態様とすることができる。また、1つの実施の形態の中に、複数の構成例が示される場
合は、互いに構成例を適宜組み合わせることが可能である。
なお、ある一つの実施の形態の中で述べる内容(一部の内容でもよい)は、その実施の
形態で述べる別の内容(一部の内容でもよい)と、一つ若しくは複数の別の実施の形態で
述べる内容(一部の内容でもよい)との少なくとも一つの内容に対して、適用、組み合わ
せ、又は置き換えなどを行うことができる。
なお、実施の形態の中で述べる内容とは、各々の実施の形態において、様々な図を用い
て述べる内容、又は明細書に記載される文章を用いて述べる内容のことである。
なお、ある一つの実施の形態において述べる図(一部でもよい)は、その図の別の部分
、その実施の形態において述べる別の図(一部でもよい)と、一つ若しくは複数の別の実
施の形態において述べる図(一部でもよい)との少なくとも一つの図に対して、組み合わ
せることにより、さらに多くの図を構成させることができる。
<序数詞に関する付記>
本明細書等において、「第1」、「第2」、「第3」という序数詞は、構成要素の混同
を避けるために付したものである。従って、構成要素の数を限定するものではない。また
、構成要素の順序を限定するものではない。また例えば、本明細書等の実施の形態の一に
おいて「第1」に言及された構成要素が、他の実施の形態、あるいは特許請求の範囲にお
いて「第2」に言及された構成要素とすることもありうる。また例えば、本明細書等の実
施の形態の一において「第1」に言及された構成要素を、他の実施の形態、あるいは特許
請求の範囲において省略することもありうる。
<図面を説明する記載に関する付記>
実施の形態について図面を参照しながら説明している。但し、実施の形態は多くの異な
る態様で実施することが可能であり、趣旨及びその範囲から逸脱することなく、その形態
及び詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明は
、実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。なお、実施の形態の発明の
構成において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号を異なる図面間で共
通して用い、その繰り返しの説明は省略する。
また、本明細書等において、「上に」、「下に」などの配置を示す語句は、構成同士の
位置関係を、図面を参照して説明するために、便宜上用いている。構成同士の位置関係は
、各構成を描写する方向に応じて適宜変化する。そのため、配置を示す語句は、明細書で
説明した記載に限定されず、状況に応じて適切に言い換えることができる。
また、「上」や「下」の用語は、構成要素の位置関係が直上又は直下で、かつ、直接接
していることを限定するものではない。例えば、「絶縁層A上の電極B」の表現であれば
、絶縁層Aの上に電極Bが直接接して形成されている必要はなく、絶縁層Aと電極Bとの
間に他の構成要素を含むものを除外しない。
また本明細書等において、ブロック図では、構成要素を機能毎に分類し、互いに独立し
たブロックとして示している。しかしながら実際の回路等においては、構成要素を機能毎
に切り分けることが難しく、一つの回路に複数の機能が係わる場合や、複数の回路にわた
って一つの機能が関わる場合があり得る。そのため、ブロック図のブロックは、明細書で
説明した構成要素に限定されず、状況に応じて適切に言い換えることができる。
また、図面において、大きさ、層の厚さ、又は領域は、説明の便宜上任意の大きさに示
したものである。よって、必ずしもそのスケールに限定されない。なお図面は明確性を期
すために模式的に示したものであり、図面に示す形状又は値などに限定されない。例えば
、ノイズによる信号、電圧、若しくは電流のばらつき、又は、タイミングのずれによる信
号、電圧、若しくは電流のばらつきなどを含むことが可能である。
また、図面において、斜視図などにおいて、図面の明確性を期すために、一部の構成要
素の記載を省略している場合がある。
また、図面において、同一の要素又は同様な機能を有する要素、同一の材質の要素、あ
るいは同じ工程で形成される要素等には同一の符号を付す場合があり、その繰り返しの説
明は省略する場合がある。
<言い換え可能な記載に関する付記>
本明細書等において、トランジスタの接続関係を説明する際、ソースとドレインとの一
方を、「ソース又はドレインの一方」(又は第1電極、又は第1端子)と表記し、ソース
とドレインとの他方を「ソース又はドレインの他方」(又は第2電極、又は第2端子)と
表記している。これは、トランジスタのソースとドレインは、トランジスタの構造又は動
作条件等によって変わるためである。なおトランジスタのソースとドレインの呼称につい
ては、ソース(ドレイン)端子や、ソース(ドレイン)電極等、状況に応じて適切に言い
換えることができる。また、本明細書等では、ゲート以外の2つの端子を第1端子、第2
端子と呼ぶ場合や、第3端子、第4端子と呼ぶ場合がある。また、本明細書等に記載する
トランジスタが2つ以上のゲートを有するとき(この構成をデュアルゲート構造という場
合がある)、それらのゲートを第1ゲート、第2ゲートと呼ぶ場合や、フロントゲート、
バックゲートと呼ぶ場合がある。特に、「フロントゲート」という語句は、単に「ゲート
」という語句に互いに言い換えることができる。また、「バックゲート」という語句は、
単に「ゲート」という語句に互いに言い換えることができる。なお、ボトムゲートとは、
トランジスタの作製時において、チャネル形成領域よりも先に形成される端子のことをい
い、「トップゲート」とは、トランジスタの作製時において、チャネル形成領域よりも後
に形成される端子のことをいう。
トランジスタは、ゲート、ソース、及びドレインと呼ばれる3つの端子を有する。ゲー
トは、トランジスタの導通状態を制御する制御端子として機能する端子である。ソース又
はドレインとして機能する2つの入出力端子は、トランジスタの型及び各端子に与えられ
る電位の高低によって、一方がソースとなり他方がドレインとなる。このため、本明細書
等においては、ソースやドレインの用語は、入れ替えて用いることができるものとする。
また、本明細書等では、ゲート以外の2つの端子を第1端子、第2端子と呼ぶ場合や、第
3端子、第4端子と呼ぶ場合がある。
また、本明細書等において「電極」や「配線」の用語は、これらの構成要素を機能的に
限定するものではない。例えば、「電極」は「配線」の一部として用いられることがあり
、その逆もまた同様である。さらに、「電極」や「配線」の用語は、複数の「電極」や「
配線」が一体となって形成されている場合なども含む。
また、本明細書等において、電圧と電位は、適宜言い換えることができる。電圧は、基
準となる電位からの電位差のことであり、例えば基準となる電位をグラウンド電位(接地
電位)とすると、電圧を電位に言い換えることができる。グラウンド電位は必ずしも0V
を意味するとは限らない。なお電位は相対的なものであり、基準となる電位によっては、
配線等に与える電位を変化させる場合がある。
なお本明細書等において、「膜」、「層」などの語句は、場合によっては、又は、状況
に応じて、互いに入れ替えることが可能である。例えば、「導電層」という用語を、「導
電膜」という用語に変更することが可能な場合がある。又は、例えば、「絶縁膜」という
用語を、「絶縁層」という用語に変更することが可能な場合がある。又は、場合によって
は、又は、状況に応じて、「膜」、「層」などの語句を使わずに、別の用語に入れ替える
ことが可能である。例えば、「導電層」又は「導電膜」という用語を、「導電体」という
用語に変更することが可能な場合がある。又は、例えば、「絶縁層」「絶縁膜」という用
語を、「絶縁体」という用語に変更することが可能な場合がある。
なお本明細書等において、「配線」、「信号線」、「電源線」などの用語は、場合によ
っては、又は、状況に応じて、互いに入れ替えることが可能である。例えば、「配線」と
いう用語を、「信号線」という用語に変更することが可能な場合がある。また、例えば、
「配線」という用語を、「電源線」などの用語に変更することが可能な場合がある。また
、その逆も同様で、「信号線」「電源線」などの用語を、「配線」という用語に変更する
ことが可能な場合がある。「電源線」などの用語は、「信号線」などの用語に変更するこ
とが可能な場合がある。また、その逆も同様で「信号線」などの用語は、「電源線」など
の用語に変更することが可能な場合がある。また、配線に印加されている「電位」という
用語を、場合によっては、又は、状況に応じて、「信号」などという用語に変更すること
が可能な場合がある。また、その逆も同様で、「信号」などの用語は、「電位」という用
語に変更することが可能な場合がある。
<語句の定義に関する付記>
以下では、上記実施の形態中で言及した語句の定義について説明する。
<<半導体について>>
本明細書において、「半導体」と表記した場合でも、例えば、導電性が十分低い場合は
「絶縁体」としての特性を有する場合がある。また、「半導体」と「絶縁体」は境界が曖
昧であり、厳密に区別できない場合がある。したがって、本明細書に記載の「半導体」は
、「絶縁体」と言い換えることができる場合がある。同様に、本明細書に記載の「絶縁体
」は、「半導体」と言い換えることができる場合がある。
また、「半導体」と表記した場合でも、例えば、導電性が十分高い場合は「導電体」と
しての特性を有する場合がある。また、「半導体」と「導電体」は境界が曖昧であり、厳
密に区別できない場合がある。したがって、本明細書に記載の「半導体」は、「導電体」
と言い換えることができる場合がある。同様に、本明細書に記載の「導電体」は、「半導
体」と言い換えることができる場合がある。
なお、半導体の不純物とは、例えば、半導体層を構成する主成分以外をいう。例えば、
濃度が0.1原子%未満の元素は不純物である。不純物が含まれることにより、例えば、
半導体にDOS(Density of States)が形成されることや、キャリア
移動度が低下することや、結晶性が低下することなどが起こる場合がある。半導体が酸化
物半導体である場合、半導体の特性を変化させる不純物としては、例えば、第1族元素、
第2族元素、第13族元素、第14族元素、第15族元素、主成分以外の遷移金属などが
あり、特に、例えば、水素(水にも含まれる)、リチウム、ナトリウム、シリコン、ホウ
素、リン、炭素、窒素などがある。酸化物半導体の場合、例えば水素などの不純物の混入
によって酸素欠損を形成する場合がある。また、半導体がシリコン層である場合、半導体
の特性を変化させる不純物としては、例えば、酸素、水素を除く第1族元素、第2族元素
、第13族元素、第15族元素などがある。
<<トランジスタについて>>
本明細書において、トランジスタとは、ゲートと、ドレインと、ソースとを含む少なく
とも三つの端子を有する素子である。そして、ドレイン(ドレイン端子、ドレイン領域又
はドレイン電極)とソース(ソース端子、ソース領域又はソース電極)の間にチャネル形
成領域を有しており、チャネル形成領域を介して電流を流すことができるものである。
また、ソースやドレインの機能は、異なる極性のトランジスタを採用する場合や、回路
動作において電流の方向が変化する場合などには入れ替わることがある。このため、本明
細書等においては、ソースやドレインの用語は、入れ替えて用いることができるものとす
る。
<<スイッチについて>>
本明細書等において、スイッチとは、導通状態(オン状態)、又は、非導通状態(オフ
状態)になり、電流を流すか流さないかを制御する機能を有するものをいう。又は、スイ
ッチとは、電流を流す経路を選択して切り替える機能を有するものをいう。
一例としては、電気的スイッチ又は機械的なスイッチなどを用いることができる。つま
り、スイッチは、電流を制御できるものであればよく、特定のものに限定されない。
電気的なスイッチの一例としては、トランジスタ(例えば、バイポーラトランジスタ、
MOSトランジスタなど)、ダイオード(例えば、PNダイオード、PINダイオード、
ショットキーダイオード、MIM(Metal Insulator Metal)ダイ
オード、MIS(Metal Insulator Semiconductor)ダイ
オード、ダイオード接続のトランジスタなど)、又はこれらを組み合わせた論理回路など
がある。
なお、スイッチとしてトランジスタを用いる場合、トランジスタの「導通状態」とは、
トランジスタのソース電極とドレイン電極が電気的に短絡されているとみなせる状態をい
う。また、トランジスタの「非導通状態」とは、トランジスタのソース電極とドレイン電
極が電気的に遮断されているとみなせる状態をいう。なおトランジスタを単なるスイッチ
として動作させる場合には、トランジスタの極性(導電型)は特に限定されない。
機械的なスイッチの一例としては、デジタルマイクロミラーデバイス(DMD)のよう
に、MEMS(マイクロ・エレクトロ・メカニカル・システム)技術を用いたスイッチが
ある。そのスイッチは、機械的に動かすことが可能な電極を有し、その電極が動くことに
よって、導通と非導通とを制御して動作する。
<<接続について>>
本明細書等において、XとYとが接続されている、と記載する場合は、XとYとが電気
的に接続されている場合と、XとYとが機能的に接続されている場合と、XとYとが直接
接続されている場合とを含むものとする。したがって、所定の接続関係、例えば、図又は
文章に示された接続関係に限定されず、図又は文章に示された接続関係以外のものも含む
ものとする。
ここで使用するX、Yなどは、対象物(例えば、装置、素子、回路、配線、電極、端子
、導電膜、層、など)であるとする。
XとYとが電気的に接続されている場合の一例としては、XとYとの電気的な接続を可
能とする素子(例えば、スイッチ、トランジスタ、容量素子、インダクタ、抵抗素子、ダ
イオード、表示素子、発光素子、負荷など)が、XとYとの間に1個以上接続されること
が可能である。なお、スイッチは、オンオフが制御される機能を有している。つまり、ス
イッチは、導通状態(オン状態)、又は、非導通状態(オフ状態)になり、電流を流すか
流さないかを制御する機能を有している。
XとYとが機能的に接続されている場合の一例としては、XとYとの機能的な接続を可
能とする回路(例えば、論理回路(インバータ、NAND回路、NOR回路など)、信号
変換回路(DA変換回路、AD変換回路、ガンマ補正回路など)、電位レベル変換回路(
電源回路(昇圧回路、降圧回路など)、信号の電位レベルを変えるレベルシフタ回路など
)、電圧源、電流源、切り替え回路、増幅回路(信号振幅又は電流量などを大きく出来る
回路、オペアンプ、差動増幅回路、ソースフォロワ回路、バッファ回路など)、信号生成
回路、記憶回路、制御回路など)が、XとYとの間に1個以上接続されることが可能であ
る。なお、一例として、XとYとの間に別の回路を挟んでいても、Xから出力された信号
がYへ伝達される場合は、XとYとは機能的に接続されているものとする。
なお、XとYとが電気的に接続されている、と明示的に記載する場合は、XとYとが電
気的に接続されている場合(つまり、XとYとの間に別の素子又は別の回路を挟んで接続
されている場合)と、XとYとが機能的に接続されている場合(つまり、XとYとの間に
別の回路を挟んで機能的に接続されている場合)と、XとYとが直接接続されている場合
(つまり、XとYとの間に別の素子又は別の回路を挟まずに接続されている場合)とを含
むものとする。つまり、電気的に接続されている、と明示的に記載する場合は、単に、接
続されている、とのみ明示的に記載されている場合と同じであるとする。
なお、例えば、トランジスタのソース(又は第1の端子など)が、Z1を介して(又は
介さず)、Xと電気的に接続され、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)が、
Z2を介して(又は介さず)、Yと電気的に接続されている場合や、トランジスタのソー
ス(又は第1の端子など)が、Z1の一部と直接的に接続され、Z1の別の一部がXと直
接的に接続され、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)が、Z2の一部と直接
的に接続され、Z2の別の一部がYと直接的に接続されている場合では、以下のように表
現することが出来る。
例えば、「XとYとトランジスタのソース(又は第1の端子など)とドレイン(又は第
2の端子など)とは、互いに電気的に接続されており、X、トランジスタのソース(又は
第1の端子など)、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)、Yの順序で電気的
に接続されている。」と表現することができる。又は、「トランジスタのソース(又は第
1の端子など)は、Xと電気的に接続され、トランジスタのドレイン(又は第2の端子な
ど)はYと電気的に接続され、X、トランジスタのソース(又は第1の端子など)、トラ
ンジスタのドレイン(又は第2の端子など)、Yは、この順序で電気的に接続されている
」と表現することができる。又は、「Xは、トランジスタのソース(又は第1の端子など
)とドレイン(又は第2の端子など)とを介して、Yと電気的に接続され、X、トランジ
スタのソース(又は第1の端子など)、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)
、Yは、この接続順序で設けられている」と表現することができる。これらの例と同様な
表現方法を用いて、回路構成における接続の順序について規定することにより、トランジ
スタのソース(又は第1の端子など)と、ドレイン(又は第2の端子など)とを、区別し
て、技術的範囲を決定することができる。なお、これらの表現方法は、一例であり、これ
らの表現方法に限定されない。ここで、X、Y、Z1、Z2は、対象物(例えば、装置、
素子、回路、配線、電極、端子、導電膜、層、など)であるとする。
なお、回路図上は独立している構成要素同士が電気的に接続しているように図示されて
いる場合であっても、1つの構成要素が、複数の構成要素の機能を併せ持っている場合も
ある。例えば配線の一部が電極としても機能する場合は、一の導電膜が、配線の機能、及
び電極の機能の両方の構成要素の機能を併せ持っている。したがって、本明細書における
電気的に接続とは、このような、一の導電膜が、複数の構成要素の機能を併せ持っている
場合も、その範疇に含める。
<<平行、垂直について>>
本明細書において、「平行」とは、二つの直線が-10°以上10°以下の角度で配置
されている状態をいう。したがって、-5°以上5°以下の場合も含まれる。また、「略
平行」とは、二つの直線が-30°以上30°以下の角度で配置されている状態をいう。
また、「垂直」とは、二つの直線が80°以上100°以下の角度で配置されている状態
をいう。したがって、85°以上95°以下の場合も含まれる。また、「略垂直」とは、
二つの直線が60°以上120°以下の角度で配置されている状態をいう。
DL_j 信号線
GL_i 走査線
V0 電位供給線
VL_a 電位供給線
VL_b 電位供給線
CL 容量線
SW1 スイッチ
SW2 スイッチ
SW3 スイッチ
100 表示装置
101 基板
102 基板
110 剥離層
110a 剥離層
110b 剥離層
110c 剥離層
111 基板
112 接着層
113 有機膜
113a 有機膜
114 隔壁
115 電極
115a 電極
115b 電極
116 電極
117 EL層
118 電極
119 絶縁層
120 接着層
121 基板
122 接着層
123 有機膜
123a 有機膜
124 外部電極
125 発光素子
126 導電層
127 絶縁層
128 開口
129 絶縁層
130 画素
130R 画素
130G 画素
130B 画素
130Y 画素
130W 画素
131 表示領域
132 開口
132a 開口
132b 開口
133 駆動回路
134 画素回路
135 配線
136 配線
137 開口
138 異方性導電接続層
139 開口
140 画素
141 絶縁層
142a 駆動回路
142b 駆動回路
143 有機膜
145 導電層
149 絶縁層
151 光
151R 光
151G 光
151B 光
151Y 光
151W 光
161 機能層
170 領域
171 素子基板
181 対向基板
200 表示装置
205 絶縁層
206 電極
207 絶縁層
208 半導体層
209 絶縁層
210 絶縁層
211 絶縁層
212 層間絶縁層
213 電極
214 電極
215 電極
217 絶縁層
219 配線
231 表示領域
232 トランジスタ
233 容量素子
251 周辺回路
252 トランジスタ
264 遮光層
266 着色層
266R 着色層
266G 着色層
266B 着色層
266Y 着色層
266W 着色層
268 オーバーコート層
274 層
280 部位
318 電極
320 EL層
320a 電荷発生層
322 電極
330 発光素子
331 発光素子
410 トランジスタ
411 トランジスタ
420 トランジスタ
421 トランジスタ
430 トランジスタ
431 トランジスタ
432 液晶素子
434 トランジスタ
435 ノード
436 ノード
437 ノード
440 トランジスタ
441 トランジスタ
7100 携帯表示装置
7101 筐体
7102 表示部
7103 操作ボタン
7104 送受信装置
7200 照明装置
7201 台部
7202 発光部
7203 操作スイッチ
7210 照明装置
7212 発光部
7220 照明装置
7222 発光部
7300 表示装置
7301 筐体
7302 表示部
7303 操作ボタン
7304 引き出し部材
7305 制御部
7400 携帯電話機
7401 筐体
7402 表示部
7403 操作ボタン
7404 外部接続ポート
7405 スピーカ
7406 マイク
8000 表示モジュール
8001 上部カバー
8002 下部カバー
8003 FPC
8004 タッチセンサ
8005 FPC
8006 セル
8009 フレーム
8010 プリント基板
8011 バッテリ
9600 タブレット型端末
9625 省電力モード切り替えスイッチ
9626 表示モード切り替えスイッチ
9627 電源スイッチ
9628 操作スイッチ
9630 筐体
9630a 筐体
9630b 筐体
9631 表示部
9632 領域
9633 太陽電池
9634 充放電制御回路
9635 バッテリ
9636 DCDCコンバータ
9637 コンバータ
9638 操作キー
9639 ヒンジ部

Claims (10)

  1. 表示領域を有する表示装置の作製方法であって、
    第1乃至第7の工程を有し、
    前記第1の工程は、第1の基板の第1の表面上に、第1の層を設ける工程と、前記第1の層上に電極を設ける工程と、前記電極上と前記第1の層上に第1の絶縁層を設ける工程と、前記電極と重畳する領域において前記第1の絶縁層の一部を除去して第1の開口を設ける工程と、前記第1の絶縁層上に表示素子を設ける工程と、前記第1の絶縁層上と前記第1の開口の前記電極上とに第2の層を設ける工程と、を有し、
    前記第2の工程は、第2の基板の第2の表面上に、第3の層を設ける工程と、前記第3の層の一部を除去して第2の開口を設ける工程と、を有し、
    前記第3の工程は、前記第1の表面と前記第2の表面を向かい合わせ、前記第1の開口と前記第2の開口とが互いに重なる領域を有するように、接着層を介して前記第1の基板と前記第2の基板とを互いに重ねる工程を有し、
    前記第4の工程は、前記第1の基板を前記第1の層から剥離する工程を有し、
    前記第5の工程は、前記第1の層と第3の基板とを互いに重ねる工程を有し、
    前記第6の工程は、前記第2の基板を前記第3の層から剥離する工程を有し、
    前記第7の工程は、前記第3の層と第4の基板とを互いに重ねる工程を有し、
    前記第3の工程において、前記接着層は、前記接着層と前記第2の開口とが互いに重なる第1の領域を有し、前記第2の層は、前記第2の層と前記第2の開口とが互いに重なる第2の領域を有し、
    前記第6の工程において、前記第1の領域の少なくとも一部の前記接着層と、前記第2の領域の少なくとも一部の前記第2の層と、が、前記第2の基板とともに剥離されて、前記電極の少なくとも一部が露出し、
    前記第1の層は、第1の有機膜を有し、
    前記第3の層は、第2の有機膜を有する、表示装置の作製方法。
  2. 請求項1において、
    前記第1の層は、前記第1の有機膜上に第2の絶縁層を有する、表示装置の作製方法。
  3. 請求項1、又は請求項2において、
    前記第3の層は、前記第2の有機膜上に第3の絶縁層を有する、表示装置の作製方法。
  4. 請求項1乃至請求項3において、
    前記第1の有機膜及び/又は前記第2の有機膜は、感光性、及び熱硬化性の少なくとも一を有する有機材料を用いて、光照射処理、及び熱処理の少なくとも一を行うことで形成される、表示装置の作製方法。
  5. 請求項1乃至請求項4において、
    前記第4の工程において、レーザを用いて、前記第1の層に光を照射して、前記第1の基板と、前記第1の層と、を分離する工程と、
    及び、前記第6の工程において、レーザを用いて、前記第3の層に光を照射して、前記第2の基板と、前記第3の層と、を分離する工程と、を有する、表示装置の作製方法。
  6. 請求項1乃至請求項5のいずれかにおいて、
    前記第2の層は、EL層及び導電層の積層である、表示装置の作製方法。
  7. 請求項1乃至請求項6のいずれかにおいて、
    前記第1の基板は、ガラス基板、石英基板、サファイア基板、セラミック基板、金属基板、半導体基板、またはプラスチック基板を有し、
    前記第2の基板は、ガラス基板、石英基板、サファイア基板、セラミック基板、金属基板、半導体基板、またはプラスチック基板を有する、表示装置の作製方法。
  8. 請求項1乃至請求項7のいずれかにおいて、
    前記第3の基板および前記第4の基板は、可撓性を有する、表示装置の作製方法。
  9. 請求項1乃至請求項8のいずれかにおいて、
    前記表示素子は、発光素子である、表示装置の作製方法。
  10. 表示装置を有する電子機器の作製方法であって、
    前記電子機器は、バッテリ、タッチセンサ、または、筐体を有し、
    前記表示装置は、請求項1乃至請求項9のいずれかに記載の表示装置の作製方法によって作製されている、電子機器の作製方法。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102340066B1 (ko) 2016-04-07 2021-12-15 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 박리 방법 및 플렉시블 디바이스의 제작 방법
DE102017129524A1 (de) * 2017-12-12 2019-06-13 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zum Herstellen eines semitransparenten Displays sowie ein semitransparentes Display

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007512568A (ja) * 2003-11-21 2007-05-17 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ プラスチック基板を有するアクティブマトリクスディスプレイ及び他の電子装置
JP2010202729A (ja) * 2009-03-02 2010-09-16 Hitachi Chemical Dupont Microsystems Ltd フレキシブルデバイス基板用ポリイミド前駆体樹脂組成物及びそれを用いたフレキシブルデバイスの製造方法、フレキシブルデバイス
JP2013251255A (ja) * 2012-05-04 2013-12-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置の作製方法
JP2014075318A (ja) * 2012-10-05 2014-04-24 Dainippon Printing Co Ltd 積層体製造方法、積層体製造装置および積層体
JP2014197522A (ja) * 2012-05-09 2014-10-16 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置及び電子機器
JP2015078254A (ja) * 2013-10-15 2015-04-23 東レ株式会社 樹脂組成物、それを用いたポリイミド樹脂膜、それを含むカラーフィルタ、tft基板、表示デバイスおよびそれらの製造方法
JP2015187720A (ja) * 2014-03-13 2015-10-29 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置の作製方法、および電子機器の作製方法

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW548860B (en) 2001-06-20 2003-08-21 Semiconductor Energy Lab Light emitting device and method of manufacturing the same
JP4027740B2 (ja) 2001-07-16 2007-12-26 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
TW564471B (en) 2001-07-16 2003-12-01 Semiconductor Energy Lab Semiconductor device and peeling off method and method of manufacturing semiconductor device
TW554398B (en) 2001-08-10 2003-09-21 Semiconductor Energy Lab Method of peeling off and method of manufacturing semiconductor device
KR100944886B1 (ko) * 2001-10-30 2010-03-03 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치의 제조 방법
JP2005183615A (ja) * 2003-12-18 2005-07-07 Ricoh Co Ltd 薄膜デバイス装置の製造方法及び薄膜デバイス装置
JP2005227398A (ja) * 2004-02-10 2005-08-25 Fuji Photo Film Co Ltd 感光性転写シート
JP4438782B2 (ja) 2006-08-23 2010-03-24 ソニー株式会社 表示装置の製造方法および表示装置
JP5408842B2 (ja) 2007-04-27 2014-02-05 キヤノン株式会社 発光装置およびその製造方法
US7897482B2 (en) 2007-05-31 2011-03-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US8895694B2 (en) * 2007-09-05 2014-11-25 Novo Nordisk A/S Glucagon-Like Peptide-1 derivatives and their pharmaceutical use
JP2009109770A (ja) 2007-10-30 2009-05-21 Fujitsu Ltd 表示装置製造方法および表示装置
CN102341932B (zh) 2009-03-05 2015-09-02 皇家飞利浦电子股份有限公司 串联连接的oled
KR102161078B1 (ko) 2012-08-28 2020-09-29 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 그 제작 방법
JP6490901B2 (ja) 2013-03-14 2019-03-27 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置の作製方法
KR20180021926A (ko) 2013-12-02 2018-03-05 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 그 제조방법
TWI654736B (zh) 2014-02-14 2019-03-21 日商半導體能源研究所股份有限公司 發光裝置
TWI748456B (zh) 2014-02-28 2021-12-01 日商半導體能源研究所股份有限公司 顯示裝置的製造方法及電子裝置的製造方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007512568A (ja) * 2003-11-21 2007-05-17 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ プラスチック基板を有するアクティブマトリクスディスプレイ及び他の電子装置
JP2010202729A (ja) * 2009-03-02 2010-09-16 Hitachi Chemical Dupont Microsystems Ltd フレキシブルデバイス基板用ポリイミド前駆体樹脂組成物及びそれを用いたフレキシブルデバイスの製造方法、フレキシブルデバイス
JP2013251255A (ja) * 2012-05-04 2013-12-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置の作製方法
JP2014197522A (ja) * 2012-05-09 2014-10-16 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置及び電子機器
JP2014075318A (ja) * 2012-10-05 2014-04-24 Dainippon Printing Co Ltd 積層体製造方法、積層体製造装置および積層体
JP2015078254A (ja) * 2013-10-15 2015-04-23 東レ株式会社 樹脂組成物、それを用いたポリイミド樹脂膜、それを含むカラーフィルタ、tft基板、表示デバイスおよびそれらの製造方法
JP2015187720A (ja) * 2014-03-13 2015-10-29 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置の作製方法、および電子機器の作製方法

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