JP2022077588A - 動的光散乱測定装置、動的光散乱測定・解析方法、および、測定・解析プログラム - Google Patents
動的光散乱測定装置、動的光散乱測定・解析方法、および、測定・解析プログラム Download PDFInfo
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Abstract
Description
前記光子検出装置で生成した前記電気パルスのパルス幅を伸長させ、不感時間を設けるパルス幅伸長・デッドタイム調整器をさらに備えてもよい。
上記動的光散乱装置は、顕微鏡を備え、前記光源は、前記連続発振レーザ光を前記顕微鏡の対物レンズを介して前記液体試料に照射し、前記光子検出装置は、前記液体試料からの散乱光子として後方散乱光子を、前記対物レンズを介して検出してもよい。
前記光子検出装置が検出する前記散乱光子の散乱角度を可変にする角度可変機構を備えてもよい。
前記ノイズ判定部は、前記演算された時間相関関数の収束値が1.05を超える場合に、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含むと判定し、前記演算された時間相関関数の収束値が1.05以下である場合に、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含まないと判定してもよい。
前記粒径演算部は、指数関数によるフィッティング法、キュムラント法、ヒストグラム法およびCONTIN法からなる群から少なくとも1つ選択される解析法を用いてもよい。
前記時間相関関数演算部は、前記時間相関関数g(2)(τ)を、次式に基づいて演算してもよい。
ここで、Δtは任意に決められる相関時間の最小の時間幅であり、n(t)は、前記光子到達時間リスト中のある時間t~t+Δtの間に検出された散乱光子数であり、Nは測定時間をΔtで除した値であり、<・・・>Δtは時間平均を表す。
前記時間相関関数演算部は、前記時間相関関数g(2)(τ)を、前記光子到達時間リストのフーリエ変換を二乗したパワースペクトルを求め、前記パワースペクトルを逆フーリエ変換して算出してもよい。
本発明の粒子を含有する液体試料中の前記粒子の粒径および/または粒径分布を動的光散乱法により測定・解析する方法は、連続発振レーザ光を前記液体試料に照射することと、前記液体試料からの散乱光子の到達時間を検出し、電気パルスを生成することと、前記電気パルスの到達時間を収集し、光子到達時間リストを生成することと、前記光子到達時間リストを用いて時間相関関数を演算することと、前記演算された時間相関関数を用いて前記光子到達時間リストが前記粒子からの散乱光子以外のノイズ成分を含むか否かを判定することと、前記判定することにおいて、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含まないと判定するまで、前記光子到達時間リストからノイズ成分を除去することと、前記判定することにおいて、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含まないと判定した場合、前記演算された時間相関関数を用いて前記粒子の粒径および/または粒径分布を演算することとを包含し、これにより上記課題を解決する。
前記電気パルスのパルス幅を伸長させ、不感時間を設けることをさらに包含してもよい。
前記照射することは、前記連続発振レーザ光を顕微鏡の対物レンズを介して前記液体試料に照射し、前記検出し、生成することは、前記液体試料からの散乱光子として後方散乱光子を、前記対物レンズを介して検出してもよい。
前記検出し、生成することは、前記散乱光子の散乱角度を可変にして検出してもよい。
前記判定することは、前記演算された時間相関関数の収束値が1.05を超える場合に、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含むと判定し、前記演算された時間相関関数の収束値が1.05以下である場合に、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含まないと判定してもよい。
本発明の粒子を含有する液体試料中の前記粒子の粒径および/または粒径分布を動的光散乱法により測定する動的光散乱測定装置に用いられる測定・解析プログラムは、前記動的光散乱測定装置が、連続発振レーザ光を発し、前記液体試料に照射する光源と、前記液体試料からの散乱光子の到達時間を検出し、電気パルスを生成する光子検出装置と、前記電気パルスの到達時間を収集し、光子到達時間リストを生成するデータ収集装置と、前記光子到達時間リストを処理する情報処理装置とを備え、前記光子到達時間リストを用いて時間相関関数を演算する機能と、前記演算された時間相関関数を用いて前記光子到達時間リストが前記粒子からの散乱光子以外のノイズ成分を含むか否かを判定する機能と、前記判定する機能が、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含まないと判定するまで、前記光子到達時間リストから前記ノイズ成分を除去する機能と、前記演算された時間相関関数を用いて前記粒子の粒径および/または粒径分布を演算する機能とをコンピュータに実現させ、これにより上記課題を解決する。
図1は、本発明の動的光散乱測定装置を示す模式図である。
ここで、Δtは任意に決められる相関時間の最小の時間幅であり、n(t)は、光子到達時間リスト中のある時間t~t+Δtの間に検出された散乱光子数であり、Nは測定時間をΔtで除した値であり、<・・・>Δtは時間平均を表す。
g(2)(τ)=1+Ae-2Γt
ここで、Aは、図1の動的光散乱測定装置100の光学配置によって決まる干渉性因子であり、0<A≦1である。Γは並進拡散係数Dを用いて、次式のように表される。
Γ=q2D
q=4πn0/λ0×sin(θ/2)
ここで、qは散乱ベクトルであり、n0は液体試料120中の液体の波長λ0における屈折率であり、λ0は連続発振レーザ光の波長である。
粒子110の粒径(流体力学的直径)dは、アインシュタイン・ストークスの式を用いて、並進拡散係数Dから算出される。
d=kT/(3πη0D)
ここで、kはボルツマン定数であり、Tは測定温度(絶対温度)であり、η0は液体の粘度である。
図2は、例示的なグラフィカルユーザインターフェース(GUI)画面を示す図である。
図2には、ユーザが動的光散乱測定装置100による測定・解析プログラムを操作するための操作画面として、例示的なGUI画面が示される。操作画面は、表示装置170に表示されてよい。このような画面操作は、入力装置180によって行われてよい。
図7は、例示的な別の結果表示画面を示す図である。
ここで、Δtは任意に決められる相関時間の最小の時間幅であり、n(t)は、光子到達時間リスト中のある時間t~t+Δtの間に検出された散乱光子数であり、Nは測定時間をΔtで除した値であり、<・・・>Δtは時間平均を表す。
g(2)(τ)=1+Ae-2Γt
ここで、Aは、図1の動的光散乱測定装置100の光学配置によって決まる干渉性因子であり、0<A≦1である。Γは並進拡散係数Dを用いて、次式のように表される。
Γ=q2D
q=4πn0/λ0×sin(θ/2)
ここで、qは散乱ベクトルであり、n0は液体試料120中の液体の波長λ0における屈折率であり、λ0は連続発振レーザ光の波長である。
粒子110の粒径(流体力学的直径)dは、アインシュタイン・ストークスの式を用いて、並進拡散係数Dから算出される。
d=kT/(3πη0D)
ここで、kはボルツマン定数であり、Tは測定温度(絶対温度)であり、η0は液体の粘度である。
例1では、図1の動的光散乱測定装置を構築し、シリカ粒子と微量のアクリル粒子を含有する液体試料中のシリカ粒子の粒径を測定した。
HeNeレーザの波長は632.8nmであり、0.6mWに減光して、セルに照射した(図12のステップS1210)。次いで、フォトンカウンティングモジュールにて、液体試料からの散乱光子(散乱角90°)の到達時間を検出し、電気パルスを生成させた(図12のステップS1220)。パルス幅伸長・デッドタイム調整器にて電気パルスのパルス幅を75nsに伸長させ、300ns不感時間を設けた。デジタル入出力モジュールにて、ノイズ除去回路を通った電気パルスの到達時間を収集し、光子到達時間リストを生成した(図12のステップS1230)。生成した光子到達時間リスト(ファイル名:Sample1_raw.txt)をパーソナルコンピュータに保存した。
図13は、ノイズ成分を除去前の光子到達時間リストによる散乱光子数の時間変化を示す図である。
図14は、ノイズ成分を除去前の光子到達時間リストによる時間相関関数を示す図である。
図15は、ノイズ成分を除去後の光子到達時間リストによる散乱光子数の時間変化を示す図である。
図16は、ノイズ成分を除去後の光子到達時間リストによる時間相関関数を示す図である。
110 粒子
120 液体試料
130 光源
140 光子検出装置
150 データ収集装置
160 情報処理装置
170 表示装置
180 入力装置
810 パルス幅伸長・デッドタイム調整器
1010 角度可変機構
1110 顕微鏡
Claims (14)
- 粒子を含有する液体試料中の前記粒子の粒径および/または粒径分布を動的光散乱法により測定する装置であって、
連続発振レーザ光を発し、前記液体試料に照射する光源と、
前記液体試料からの散乱光子の到達時間を検出し、電気パルスを生成する光子検出装置と、
前記電気パルスの到達時間を収集し、光子到達時間リストを生成するデータ収集装置と、
前記光子到達時間リストを処理する情報処理装置と
を備え、
前記情報処理装置は、
前記光子到達時間リストを用いて時間相関関数を演算する時間相関関数演算処理部と、
前記演算された時間相関関数を用いて前記光子到達時間リストが前記粒子からの散乱光子以外のノイズ成分を含むか否かを判定するノイズ判定部と、
前記ノイズ判定部が、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含まないと判定するまで、前記光子到達時間リストから前記ノイズ成分を除去するノイズ除去部と、
前記演算された時間相関関数を用いて前記粒子の粒径および/または粒径分布を演算する粒径演算部と
をさらに備える、動的光散乱測定装置。 - 前記光子検出装置で生成した前記電気パルスのパルス幅を伸長させ、不感時間を設けるパルス幅伸長・デッドタイム調整器をさらに備える、請求項1に記載の動的光散乱測定装置。
- 顕微鏡を備え、
前記光源は、前記連続発振レーザ光を前記顕微鏡の対物レンズを介して前記液体試料に照射し、
前記光子検出装置は、前記液体試料からの散乱光子として後方散乱光子を、前記対物レンズを介して検出する、請求項1または2に記載の動的光散乱測定装置。 - 前記光子検出装置が検出する前記散乱光子の散乱角度を可変にする角度可変機構を備える、請求項1または2に記載の動的光散乱測定装置。
- 前記ノイズ判定部は、前記演算された時間相関関数の収束値が1.05を超える場合に、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含むと判定し、前記演算された時間相関関数の収束値が1.05以下である場合に、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含まないと判定する、請求項1~4のいずれかに記載の動的光散乱測定装置。
- 前記粒径演算部は、指数関数によるフィッティング法、キュムラント法、ヒストグラム法およびCONTIN法からなる群から少なくとも1つ選択される解析法を用いる、請求項1~5のいずれかに記載の動的光散乱測定装置。
- 前記時間相関関数演算部は、前記時間相関関数g(2)(τ)を、前記光子到達時間リストのフーリエ変換を二乗したパワースペクトルを求め、前記パワースペクトルを逆フーリエ変換して算出する、請求項1~6のいずれかに記載の動的光散乱測定装置。
- 粒子を含有する液体試料中の前記粒子の粒径および/または粒径分布を動的光散乱法により測定・解析する方法であって、
連続発振レーザ光を前記液体試料に照射することと、
前記液体試料からの散乱光子の到達時間を検出し、電気パルスを生成することと、
前記電気パルスの到達時間を収集し、光子到達時間リストを生成することと、
前記光子到達時間リストを用いて時間相関関数を演算することと、
前記演算された時間相関関数を用いて前記光子到達時間リストが前記粒子からの散乱光子以外のノイズ成分を含むか否かを判定することと、
前記判定することにおいて、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含まないと判定するまで、前記光子到達時間リストからノイズ成分を除去することと、
前記判定することにおいて、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含まないと判定した場合、前記演算された時間相関関数を用いて前記粒子の粒径および/または粒径分布を演算することと
を包含する、方法。 - 前記電気パルスのパルス幅を伸長させ、不感時間を設けることをさらに包含する、請求項9に記載の方法。
- 前記照射することは、前記連続発振レーザ光を顕微鏡の対物レンズを介して前記液体試料に照射し、
前記検出し、生成することは、前記液体試料からの散乱光子として後方散乱光子を、前記対物レンズを介して検出する、請求項9または10に記載の方法。 - 前記検出し、生成することは、前記散乱光子の散乱角度を可変にして検出する、請求項9または10に記載の記載の方法。
- 前記判定することは、前記演算された時間相関関数の収束値が1.05を超える場合に、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含むと判定し、前記演算された時間相関関数の収束値が1.05以下である場合に、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含まないと判定する、請求項9~12のいずれかに記載の方法。
- 粒子を含有する液体試料中の前記粒子の粒径および/または粒径分布を動的光散乱法により測定する動的光散乱測定装置に用いられる測定・解析プログラムであって、
前記動的光散乱測定装置は、
連続発振レーザ光を発し、前記液体試料に照射する光源と、
前記液体試料からの散乱光子の到達時間を検出し、電気パルスを生成する光子検出装置と、
前記電気パルスの到達時間を収集し、光子到達時間リストを生成するデータ収集装置と、
前記光子到達時間リストを処理する情報処理装置と
を備え、
前記光子到達時間リストを用いて時間相関関数を演算する機能と、
前記演算された時間相関関数を用いて前記光子到達時間リストが前記粒子からの散乱光子以外のノイズ成分を含むか否かを判定する機能と、
前記判定する機能が、前記光子到達時間リストが前記ノイズ成分を含まないと判定するまで、前記光子到達時間リストから前記ノイズ成分を除去する機能と、
前記演算された時間相関関数を用いて前記粒子の粒径および/または粒径分布を演算する機能と
をコンピュータに実現させる、測定・解析プログラム。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2024018882A1 (ja) * | 2022-07-22 | 2024-01-25 | 栗田工業株式会社 | 凝集状態の判断方法及び凝集処理方法 |
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JP7473200B2 (ja) | 2024-04-23 |
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