JP2022066827A - 測定装置、情報処理装置、および、プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】測定対象物を回転させてこの測定対象物のうちの測定の対象となっている部分の表面の傾きについての情報を得る場合に比べ、測定対象物のうちの測定の対象となっている部分の表面の傾きについての情報をより精度よく得られるようにする。【解決手段】測定対象物への光の照射を行う光照射手段と、当該光照射手段の制御を行うプロセッサと、を備えた測定装置であり、前記プロセッサは、一方向における位置が互いに異なる複数箇所から、前記測定対象物の特定箇所への光の照射を行い、前記一方向と交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から、前記測定対象物の前記特定箇所への光の照射を行う、測定装置。【選択図】図８

Description

本発明は、測定装置、情報処理装置、および、プログラムに関する。

特許文献１には、測定対象物の特性に応じてライン光源の走査距離を設定し、ライン光源の移動および撮影部による撮影を制御し、撮影部が撮影した複数の画像から測定対象物の反射特性を推定する処理が開示されている。
特許文献２には、画像処理部が、光源の位置が互いに異なる４つ以上の光源条件での被写体の撮像により生成された複数の撮影画像を用いて被写体の表面の法線情報を取得する点が開示されている。
特許文献３には、測定対象物の特性に応じてライン光源の走査距離を設定し、ライン光源の移動および撮影部による撮影を制御し、撮影部が撮影した複数の画像から測定対象物の反射特性を推定する処理が開示されている。

特開２０１４－２４０８３０号公報 特開２０１７－１３４５６１号公報 特開２０１９－１０５６５６号公報

測定対象物の表面を構成する部分の傾きを把握するにあたり、この部分に対して複数の方向から光を照射する必要が生じる場合がある。この場合、測定対象物を回転させることで、この部分に対して複数の方向から光の照射を行える。
ところで、測定対象物を回転させると、測定の対象となる部分の位置がずれたり、この部分の形状が変化したりし、測定の対象となる部分の表面の傾きについての情報を精度よく得られなくなるおそれがある。
本発明の目的は、測定対象物を回転させてこの測定対象物のうちの測定の対象となっている部分の表面の傾きについての情報を得る場合に比べ、測定対象物のうちの測定の対象となっている部分の表面の傾きについての情報をより精度よく得られるようにすることにある。

請求項１に記載の発明は、測定対象物への光の照射を行う光照射手段と、当該光照射手段の制御を行うプロセッサと、を備えた測定装置であり、前記プロセッサは、一方向における位置が互いに異なる複数箇所から、前記測定対象物の特定箇所への光の照射を行い、前記一方向と交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から、前記測定対象物の前記特定箇所への光の照射を行う、測定装置である。
請求項２に記載の発明は、前記光照射手段として、前記一方向における位置が互いに異なる第１光源および第２光源と、前記交差する方向における位置が互いに異なる第３光源および第４光源が設けられている請求項１に記載の測定装置である。
請求項３に記載の発明は、前記プロセッサは、前記第１光源および前記第２光源を順に点灯させて、前記一方向における位置が互いに異なる複数箇所から前記特定箇所への光の照射を行い、前記第３光源および前記第４光源を順に点灯させて、前記交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から前記特定箇所への光の照射を行う、請求項２に記載の測定装置である。
請求項４に記載の発明は、前記測定対象物を支持する支持面と、前記特定箇所からの反射光を受光する受光部と、をさらに備え、前記プロセッサは、前記一方向における位置が互いに異なる前記複数箇所に含まれる第１の箇所から前記特定箇所へ向かう光と前記支持面とのなす角度と、当該複数箇所に含まれる第２の箇所から当該特定箇所に向かう光と当該支持面とのなす角度とが異なる場合、前記受光部から出力される出力値を補正し、及び／又は、前記交差する方向における位置が互いに異なる前記複数箇所に含まれる第３の箇所から前記特定箇所へ向かう光と前記支持面とのなす角度と、当該複数箇所に含まれる第４の箇所から当該特定箇所に向かう光と当該支持面とのなす角度とが異なる場合、前記受光部から出力される出力値を補正する、請求項１に記載の測定装置である。
請求項５に記載の発明は、前記プロセッサは、前記第１の箇所および前記第２の箇所のうちの前記なす角度が小さくなる方の箇所から前記特定箇所への光の照射が行われた際に前記受光部から出力された出力値を大きくし、及び／又は、なす角度が大きくなる方の箇所から当該特定箇所への光の照射が行われた際に当該受光部から出力された出力値を小さくし、及び／又は、前記第３の箇所および前記第４の箇所のうちの前記なす角度が小さくなる方の箇所から前記特定箇所への光の照射が行われた際に前記受光部から出力された出力値を大きくし、及び／又は、なす角度が大きくなる方の箇所から当該特定箇所への光の照射が行われた際に当該受光部から出力された出力値を小さくする、請求項４に記載の測定装置である。
請求項６に記載の発明は、前記一方向へ移動する移動体をさらに備え、前記光照射手段は、前記移動体に設けられ、前記一方向に沿って配置され、前記移動体に設けられた前記光照射手段による光の照射が行われ当該光照射手段から出射される光の変動の把握に用いられる基準部材がさらに設けられている請求項１に記載の測定装置である。
請求項７に記載の発明は、前記測定対象物を支持する支持面をさらに備え、前記一方向における位置が互いに異なる前記複数箇所に含まれる第１の箇所および第２の箇所のうちの少なくとも一方の箇所の側方であって当該一方の箇所を挟み他方の箇所が位置する側とは反対側に位置する当該側方には、当該一方の箇所に位置する光源からの光を前記支持面側に向けて且つ当該一方の箇所側に向けて反射させる光反射部材がさらに設けられ、及び／又は、前記交差する方向における位置が互いに異なる前記複数箇所に含まれる第３の箇所および第４の箇所のうちの少なくとも一方の箇所の側方であって当該一方の箇所を挟み他方の箇所が位置する側とは反対側に位置する当該側方には、当該一方の箇所に位置する光源からの光を前記支持面側に向けて且つ当該一方の箇所側に向けて反射させる光反射部材がさらに設けられている、請求項１に記載の測定装置である。
請求項８に記載の発明は、前記一方向における位置が互いに異なる前記複数箇所に含まれる第１の箇所および第２の箇所のうちの少なくとも一方の箇所には、当該一方向における位置が互いに異なる複数の光源が設けられ、及び／又は、前記交差する方向における位置が互いに異なる前記複数箇所に含まれる第３の箇所および第４の箇所のうちの少なくとも一方の箇所には、当該交差する方向における位置が互いに異なる複数の光源が設けられている、請求項１に記載の測定装置である。
請求項９に記載の発明は、前記光照射手段として、共通の方向に沿って配置された第１の点光源列および第２の点光源列が設けられ、前記プロセッサは、前記第１の点光源列に含まれる第１の点光源と、前記第２の点光源列に含まれる第２の点光源とを順に点灯させて、前記一方向における位置が互いに異なる複数箇所から前記特定箇所への光の照射を行い、前記第１の点光源列に含まれる第３の点光源と、前記第２の点光源列に含まれる第４の点光源とを順に点灯させて、前記交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から前記特定箇所への光の照射を行う、請求項１に記載の測定装置である。
請求項１０に記載の発明は、前記プロセッサは、前記共通の方向における位置が互いに異なる前記第１の点光源および前記第２の点光源を順に点灯させて、前記一方向における位置が互いに異なる複数箇所から前記特定箇所への光の照射を行い、前記共通の方向において前記第１の点光源よりも前記第２の点光源側に位置する前記第３の点光源と、当該共通の方向において当該第２の点光源よりも当該第１の点光源側に位置する前記第４の点光源とを順に点灯させて、前記交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から前記特定箇所への光の照射を行う、請求項９に記載の想定装置である。
請求項１１に記載の発明は、前記光照射手段として、共通の方向に沿って配置された第１の点光源列および第２の点光源列が設けられ、前記特定箇所は、複数設定され、複数の当該特定箇所は、前記共通の方向における位置が互いに異なるように配置され、前記プロセッサは、前記第１の点光源列に含まれる複数の点光源の点灯と、前記第２の点光源列に含まれる複数の点光源の点灯とを順に行い、複数の前記特定箇所に各々に対し、一方向における位置が互いに異なる複数箇所からの光の照射を行い、前記第１の点光源列に含まれる前記複数の点光源とは異なる他の複数の点光源の点灯と、前記第２の点光源列に含まれる前記複数の点光源とは異なる他の複数の点光源の点灯とを順に行い、複数の前記特定箇所に各々に対し、前記一方向と交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所からの光の照射を行う、請求項１に記載の測定装置である。
請求項１２に記載の発明は、前記測定対象物を支持する支持面と、前記特定箇所からの反射光を受光する受光部と、をさらに備え、前記プロセッサは、前記支持面に対する垂線であって前記特定箇所を通る垂線から前記第１の点光源を見た場合の方位と、当該垂線から前記第２の点光源を見た場合の方位とのなす角度が１８０°以外となる場合、前記受光部から出力される出力値を補正し、及び／又は、前記支持面に対する垂線であって前記特定箇所を通る垂線から前記第３の点光源を見た場合の方位と、当該垂線から前記第４の点光源を見た場合の方位とのなす角度が１８０°以外となる場合、前記受光部から出力される出力値を補正する、請求項９に記載の測定装置である。
請求項１３に記載の発明は、プロセッサを備え、前記プロセッサは、測定対象物の表面を構成する各部分の各々の高さについての情報である高さ情報を取得し、前記測定対象物の表面の一の部分についての高さについての情報と、当該測定対象物の表面の他の部分についての高さについての情報とに基づき、当該測定対象物の表面の特定部分の傾きについての情報を取得する、情報処理装置である。
請求項１４に記載の発明は、前記プロセッサは、前記一の部分についての高さについての情報と、前記他の部分についての高さについての情報とに基づき、当該一の部分、当該他の部分、および、当該一の部分と当該他の部分との間に位置する部分である中間部分のうちの少なくとも１つ以上の部分の傾きについての情報を取得する請求項１３に記載の情報処理装置である。
請求項１５に記載の発明は、前記プロセッサは、測定対象物の表面を構成する前記各部分の各々の傾きについての情報に基づき、当該各部分の各々の前記高さについての前記情報を取得する請求項１３に記載の情報処理装置である。
請求項１６に記載の発明は、前記プロセッサは、前記測定対象物の前記表面を構成し一方向に並ぶ前記各部分の各々の高さについての情報を取得するとともに、当該各部分が当該一方向に並ぶ各列毎に、当該各部分の高さについての情報を取得し、一の列に含まれる一の部分である第１部分についての高さについての情報と、他の列に含まれる一の部分である第２部分についての高さについての情報とに基づき、当該第１部分、当該第２部分、および、当該第１部分と当該第２部分との間に位置する部分である中間部分のうちの少なくとも１つ以上の部分の傾きについての情報を取得する請求項１３に記載の情報処理装置である。
請求項１７に記載の発明は、測定対象物への光の照射を行う光照射手段と、当該光照射手段の制御を行うコンピュータとを備えた測定装置に設けられた当該コンピュータにより実行されるプログラムであり、一方向における位置が互いに異なる複数箇所から、前記測定対象物の特定箇所への光の照射を行わせる機能と、前記一方向と交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から、前記測定対象物の前記特定箇所への光の照射を行わせる機能と、を前記コンピュータに実現させるためのプログラムである。
請求項１８に記載の発明は、測定対象物の表面を構成する各部分の各々の高さについての情報である高さ情報を取得する機能と、前記測定対象物の表面の一の部分についての高さについての情報と、当該測定対象物の表面の他の部分についての高さについての情報とに基づき、当該測定対象物の表面の特定部分の傾きについての情報を取得する機能と、をコンピュータに実現させるためのプログラムである。

請求項１の発明によれば、測定対象物を回転させてこの測定対象物のうちの測定の対象となっている部分の表面の傾きについての情報を得る場合に比べ、測定対象物のうちの測定の対象となっている部分の表面の傾きについての情報をより精度よく得られるようにすることができる。
請求項２の発明によれば、測定対象物を回転させずに、互いに異なる４つの方向から、測定対象物の特定箇所への光の照射を行うことができる。
請求項３の発明によれば、測定対象物を回転させずに、一方向における位置が互いに異なる複数箇所から特定箇所への光の照射を順に行うことができ、また、この一方向とは交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所からこの特定箇所への光の照射を順に行うことができる。
請求項４の発明によれば、出力値の補正を行わない場合に比べ、測定対象物を支持する支持面と、この測定対象物の特定箇所へ向かう光とのなす角度に起因して、特定箇所の表面の傾きについての情報の取得精度が低下することを抑えることができる。
請求項５の発明によれば、受光部から出力された出力値を大きくしたり小さくしたりしない場合に比べ、測定対象物を支持する支持面と、この測定対象物の特定箇所へ向かう光とのなす角度に起因して、特定箇所の表面の傾きについての情報の取得精度が低下することを抑えることができる。
請求項６の発明によれば、光照射手段から出射される光の変動の把握に用いられる基準部材が設けられない場合に比べ、移動体に設けられた光照射手段から出射される光の変動に起因して、特定箇所の表面の傾きについての情報の取得精度が低下することを抑えることができる。
請求項７の発明によれば、光反射部材を設けない場合に比べ、測定対象物のうちの光照射手段からの光が照射される領域を拡げることができる。
請求項８の発明によれば、複数の光源が設けられていない場合に比べ、測定対象物を支持する支持面と、この測定対象物の特定箇所へ向かう光とのなす角度を大きくできる。
請求項９の発明によれば、共通の方向に沿って配置された第１の点光源列および第２点光源列を用いて、互いに異なる複数の方向から、測定対象物の特定箇所への光の照射を行うことができる。
請求項１０の発明によれば、共通の方向に沿って配置された第１の点光源列および第２点光源列を用い、互いに異なる４つの方向から、測定対象物の特定箇所への光の照射を行うことができる。
請求項１１の発明によれば、第１の点光源列および第２の点光源列の各々に含まれる点光源を点灯させるにあたり、１つの点光源を点灯させる場合に比べ、測定対象物のうちの光が照射される特定箇所を増やすことができる。
請求項１２の発明によれば、出力値の補正を行わない場合に比べ、特定部分を通る垂線から一の点光源を見た場合の方位と、この垂線から他の点光源を見た場合の方位とのなす角度が１８０°以外となることに起因して傾きについての情報の取得精度が低下することを抑えることができる。
請求項１３の発明によれば、測定対象物を回転させてこの測定対象物のうちの測定の対象となっている部分の表面の傾きについての情報を得る場合に比べ、測定対象物のうちの測定の対象となっている部分の表面の傾きについての情報をより精度よく得られるようにすることができる。
請求項１４の発明によれば、測定対象物の表面を構成する各部分の各々の高さについての情報から、測定対象物の表面を構成する部分の傾きについての情報を取得することができる。
請求項１５の発明によれば、測定対象物の表面を構成する各部分の各々の傾きについての情報から、各部分の各々の高さについての情報を取得できる。
請求項１６の発明によれば、一の列についての高さについての情報と、他の列についての高さについての情報とから、測定対象物の表面を構成する部分の傾きについての情報を取得することができる。
請求項１７の発明によれば、測定対象物を回転させてこの測定対象物のうちの測定の対象となっている部分の表面の傾きについての情報を得る場合に比べ、測定対象物のうちの測定の対象となっている部分の表面の傾きについての情報をより精度よく得られるようにすることができる。
請求項１８の発明によれば、測定対象物を回転させてこの測定対象物のうちの測定の対象となっている部分の表面の傾きについての情報を得る場合に比べ、測定対象物のうちの測定の対象となっている部分の表面の傾きについての情報をより精度よく得られるようにすることができる。

画像読み取り装置の全体構成を示す図である。 制御部の構成を示した図である。 読み取りユニット等の構成を説明する図である。 図３の矢印IVで示す方向から読み取りユニットを見た場合の図である。 （Ａ）、（Ｂ）は、光源の点灯状態を示した図である。 入射角度と法線角度との関係を示した図である。 （Ａ）、（Ｂ）は、図１の矢印VIIで示す方向から読み取りユニット、測定対象物を示した図である。 （Ａ）～（Ｄ）は、読み取りユニットに設けられた光源の点灯処理の一連の流れを示した図である。 読み取りユニットの他の構成例を示した図である。 読み取りユニットの他の構成例を示した図である。 スキャナ装置の他の構成例を示した図である。 （Ａ）～（Ｄ）は、第２の実施形態の基本的な処理の流れを示した図である。 （Ａ）、（Ｂ）は、光源の他の点灯状態を示した図である。 （Ｃ）、（Ｄ）は、光源の他の点灯状態を示した図である。 光源および特定箇所を上方から見た場合の状態を示した図である。 （Ａ）、（Ｂ）は、第３実施形態における光源の点灯処理を示した図である。 図１の矢印XVIIで示す方向から、支持面上の測定対象物を見た場合の図である。 図１７の矢印XVIIIで示した方向から第１列および第２列を見た場合の特定箇所の各々の高さを示した図である。 主走査方向成分を取得する際に実行する処理を説明する図である。 読み取りユニットの他の構成例を示した図である。

以下、添付図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
図１は、画像読み取り装置１の全体構成を示す図である。
画像読み取り装置１は、原稿を走査（スキャン）することによって原稿についての画像を取得するスキャナ装置１０と、原稿をスキャナ装置１０へ搬送する原稿送り装置２０Ａとを備える。

原稿送り装置２０Ａには、複数枚の原稿からなる原稿束が積載される原稿積載部２１が設けられている。また、原稿送り装置２０Ａには、原稿積載部２１の下方に設けられ、読み取りが終了した原稿を積載する排紙積載部２２が設けられている。
さらに、原稿送り装置２０Ａには、原稿積載部２１の原稿を送りだす送り出しロール２３、原稿を一枚ずつに捌く捌き機構２４が設けられている。

さらに、原稿が搬送される搬送路２５には、一枚ずつに捌かれた原稿を下流側のロールに向けて搬送する搬送ロール２６、スキャナ装置１０に対してレジストレーション調整を施しながら原稿を供給するレジロール２７が設けられている。
また、スキャナ装置１０にて読み込み中の原稿の搬送を助けるシュート２８、読み込まれた原稿をさらに下流へ搬送するアウトロール２９が設けられている。更に、原稿を排紙積載部２２に排出する排出ロール３０が設けられている。

スキャナ装置１０には、収容筐体１３と、装置フレーム１４とが設けられている。
装置フレーム１４には、静止した状態の原稿が載せられる第１プラテンガラス１１Ａ、原稿送り装置２０Ａによって搬送される原稿を読み取るための光を透過させる第２プラテンガラス１１Ｂが取り付けられている。
また、第１プラテンガラス１１Ａと第２プラテンガラス１１Ｂとの間には、原稿送り装置２０Ａにより搬送される原稿を案内する案内部材６８が設けられている。

また、案内部材６８の下部には、白色の基準板７１が設けられている。また、収容筐体１３の内部には、第１プラテンガラス１１Ａに載せられた原稿や、原稿送り装置２０Ａによって搬送される原稿の読み取りを行う読み取りユニット１２が設けられている。
さらに、読み取りユニット１２を図中左右方向に移動させる移動機構（不図示）が設けられている。移動機構は、特に限定されず、公知の機構により構成される。

移動体の一例としての読み取りユニット１２は、第１プラテンガラス１１Ａに載せられた原稿の読み取りを行う際には、第１プラテンガラス１１Ａの下方を右方向へ移動する。
また、原稿送り装置２０Ａにより搬送される原稿の読み取りが行われる際には、読み取りユニット１２は、第２プラテンガラス１１Ｂの下方に、静止した状態で配置される。

読み取りユニット１２の内部には、ＬＥＤなどにより構成される光源、原稿からの反射光を集光する結像光学系、および、結像光学系により集光された光を受光するセンサが設けられている。
画像読み取り装置１のリア側には、原稿送り装置２０Ａの開閉のためのヒンジ（不図示）が設けられ、本実施形態では、画像読み取り装置１のリア側への原稿送り装置２０Ａの回転を行える。

第１プラテンガラス１１Ａに原稿が載せられる際には、ユーザが、原稿送り装置２０Ａを、画像読み取り装置１のリア側へ回転させる。
そして、ユーザによって、原稿が第１プラテンガラス１１Ａの上に置かれると、ユーザにより、画像読み取り装置１のフロント側へ原稿送り装置２０Ａが回転され、原稿送り装置２０Ａは元の位置に戻される。
その後、本実施形態では、不図示のスタートボタンが押圧され、原稿の読み取りが開始される。

また、本実施形態の画像読み取り装置１では、画像読み取り装置１の各部を制御する制御部６０が設けられている。
また、画像読み取り装置１には、情報を表示する表示装置６１が設けられている。この表示装置６１は、液晶ディスプレイなどの公知の装置により構成される。

図２は、制御部６０の構成を示した図である。
制御部６０には、装置全体の動作を制御する制御ユニット１０１と、データ等を記憶する記憶部１０２と、ＬＡＮ（＝Local Area Network）ケーブル等を介した通信を実現するネットワークインターフェース１０３とを有している。
ここで、制御ユニット１０１の部分は、後述する測定対象物についての情報を処理する情報処理装置として捉えることができる。

制御ユニット１０１は、プロセッサの一例としてのＣＰＵ（＝Central Processing Unit）１１１と、基本ソフトウエアやＢＩＯＳ（＝Basic Input Output System）等が記憶されたＲＯＭ（＝Read Only Memory）１１２と、ワークエリアとして用いられるＲＡＭ（＝Random Access Memory）１１３とを有している。
制御ユニット１０１は、いわゆるコンピュータである。
記憶部１０２は、ハードディスクドライブや半導体メモリなどにより構成される。
制御ユニット１０１と、記憶部１０２と、ネットワークインターフェース１０３は、バス１０４や不図示の信号線を通じて接続されている。

ここで、ＣＰＵ１１１によって実行されるプログラムは、磁気記録媒体（磁気テープ、磁気ディスクなど）、光記録媒体（光ディスクなど）、光磁気記録媒体、半導体メモリなどのコンピュータが読取可能な記録媒体に記憶した状態で、画像読み取り装置１へ提供しうる。
また、ＣＰＵ１１１によって実行されるプログラムは、インターネットなどの通信手段
を用いて、画像読み取り装置１へ提供してもよい。

なお、本実施形態において、プロセッサとは、広義的なプロセッサを指し、汎用的なプロセッサ（例えばＣＰＵ：Central Processing Unit、等）や、専用のプロセッサ（例えばGPU： Graphics Processing Unit、ASIC： Application Specific Integrated Circuit、FPGA： Field Programmable Gate Array、プログラマブル論理デバイス、等）を含むものである。
また、プロセッサの動作は、１つのプロセッサによって成すのみでなく、物理的に離れた位置に存在する複数のプロセッサが協働して成すものであってもよい。また、プロセッサの各動作の順序は、本実施形態において記載した順序のみに限定されるものではなく、変更してもよい。

〔読み取りユニット１２等の構成〕
図３は、読み取りユニット１２等の構成を説明する図である。
移動体の一例としての読み取りユニット１２には、測定対象物への光の照射を行う光照射手段の一部として機能する光照射部１２Ａが設けられている。
光照射部１２Ａには、光源が設けられている。具体的には、本実施形態では、光源として、第１点光源列１６、第２点光源列１８の２つの点光源列が設けられている。
第１点光源列１６、第２点光源列１８のこの２つの点光源列は、図中紙面に対して直交する方向に沿って配置されている。言い換えると、第１点光源列１６、第２点光源列１８のこの２つの点光源列は、共通の方向（同じ方向）に沿って配置されている。

また、光照射部１２Ａには、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々の点灯を制御するための制御ユニット（不図示）が設けられている。なお、制御ユニットの位置は特に問わず、スキャナ装置１０の本体側に設けてもよい。
本実施形態では、この制御ユニットにＣＰＵ１１１からの信号が入力されて、光照射部１２Ａから原稿への光の照射が行われる。

また、読み取りユニット１２には、原稿からの反射光を集光する結像光学系３１、および、結像光学系３１により集光された光を受光するセンサ３２が設けられている。
読み取りユニット１２は、移動体であり、図中矢印３Ａで示す方向へ移動する。
第１プラテンガラス１１Ａは、板状に形成された透明のガラス板により構成されている。また、第１プラテンガラス１１Ａは、水平方向に沿って配置されている。第１プラテンガラス１１Ａは、原稿を下方から支持する。

より具体的には、第１プラテンガラス１１Ａは、上方を向き平面となっている支持面１１Ｄを有し、この支持面１１Ｄを用いて、原稿を下方から支持する。なお、第１プラテンガラス１１Ａは、ガラス板に限らず、例えばアクリル板などであってもよい。
スキャナ装置１０によって、原稿の読み取りが行われる際、この原稿は、支持面１１Ｄにより支持され平面に沿って配置される。

画像読み取り装置１では、一般的な原稿の読み取りだけではなく（色情報の取得だけではなく）、被読み取り物の各部分の表面の傾きについての情報も得られる。
言い換えると、本実施形態の画像読み取り装置１は、測定装置として捉えることもでき、画像読み取り装置１では、被読み取り物の表面を構成する各部分の傾きの測定も行える。
以下では、この表面の傾きについての情報を得る際の処理を説明する。
また、以下では、表面の傾きについての情報を得る被読み取り物（対象物）を、「測定対象物」と称する。

ここで、測定対象物は、特に制限されず、紙、布、金属、樹脂、ゴムなどが一例に挙げられる。また、測定対象物の形状も特に問わない。紙や布などの場合は、丸めた形状とすることができる。
本実施形態では、丸めることができる測定対象物の場合、第１プラテンガラス１１Ａの上にこの測定対象物を置くことで、この測定対象物は、支持面１１Ｄに沿って平面状に配置される。

第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々は、互いに異なる箇所に配置され、本実施形態の光照射部１２Ａは、測定対象物の特定箇所４０に対する光の照射を複数の方向から行える。
言い換えると、本実施形態では、測定対象物のうちの、表面の傾きの把握を行う箇所を特定箇所４０として捉えた場合に、この特定箇所４０に対する光の照射を複数の方向から行える。

第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々は、図３の紙面に垂直な方向に沿って延びている。また、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々は、読み取りユニット１２の移動方向と交差（直交）する方向に沿って延びている。
また、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々では、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）などにより構成される白色の点光源９８が、第１点光源列１６、第２点光源列１８の延び方向に複数並んでいる。
なお、第１点光源列１６、第２点光源列１８は、蛍光ランプや、希ガス蛍光ランプなどにより構成してもよい。

また、読み取りユニット１２には、上記の通り、結像光学系３１およびセンサ３２が設けられている。
センサ３２は、受光部の一例としての受光素子３２Ａが列状に配列されたラインセンサである。受光素子３２Ａは、測定対象物の特定箇所４０からの反射光を受光する。
センサ３２は、図３の紙面に垂直な方向に沿って配置されている。言い換えると、センサ３２は、読み取りユニット１２の移動方向と交差（直交）する方向に沿って延びている。
また、本実施形態では、受光素子３２Ａは、センサ３２の延び方向に複数並んでいる。

本実施形態では、第１点光源列１６、第２点光源列１８、および、センサ３２が延びる方向を主走査方向と称する。また、本実施形態では、この主走査方向と交差（直交）する方向（読み取りユニット１２が移動する移動方向）を、副走査方向と称する。
読み取りユニット１２は、測定対象物についての読み取りを行う際、予め定められた速度で副走査方向に移動する。より具体的には、図中矢印３Ａで示す方向へ移動する。

結像光学系３１は、反射ミラーや結像レンズで構成され、測定対象物の特定箇所４０（被読み取部分）からの反射光を、センサ３２の受光素子３２Ａに結像させる。
受光素子３２Ａの各々は、結像光学系３１により結像された反射光を受け、受けた反射光の強度に応じた情報（反射光の強度についての情報）を生成して出力する。

センサ３２は、ＣＣＤリニアイメージセンサやＣＭＯＳイメージセンサ等により構成され、受光した光の強度について情報を出力する。センサ３２には、受光素子３２Ａが複数設けられている。また、センサ３２では、この受光素子３２Ａが主走査方向に並んでいる。
また、センサ３２は、カラーフィルタを備え、原稿や測定対象物の色を表す画像信号を生成する。そして、本実施形態の画像読み取り装置１では、この画像信号を基に、ＲＧＢ(１６５,４２,４２)などの３つの値からなるＲＧＢ値が生成され、画像読み取り装置１からは、このＲＧＢ値が出力される。
言い換えると、本実施形態では、原稿や測定対象物の色についての情報である色情報が、画像読み取り装置１にて取得され、さらに、３つの値が並ぶデータ形式（予め定められたデータ形式）で、この色情報が画像読み取り装置１から出力される。

第１点光源列１６は、読み取りユニット１２の移動方向（測定対象物の読み取りを行う際の移動方向）において、読み取りを行う特定箇所４０よりも上流側に位置し、下流側に位置する特定箇所４０に向けて光を照射する。
第２点光源列１８は、読み取りユニット１２の移動方向において、特定箇所４０よりも下流側に位置し、上流側に位置する特定箇所４０に向けて光を照射する。

また、本実施形態では、支持面１１Ｄに対する垂線であって特定箇所４０を通る垂線７０と、第１点光源列１６から特定箇所４０に向かう光の光路Ｒ１１とのなす角度（光の入射角度）θ１が４５°となっている。
また、本実施形態では、垂線７０と、第２点光源列１８から特定箇所４０に向かう光の光路Ｒ１２とのなす角度（光の入射角度）θ２が４５°となっている。
この結果、本実施形態では、第１点光源列１６から特定箇所４０に向かう光の光路Ｒ１１と垂線７０とのなす角度θ１と、第２点光源列１８から特定箇所４０に向かう光の光路Ｒ１２と垂線７０とのなす角度θ２とが等しくなっている。

図４は、図３の矢印IVで示す方向から読み取りユニット１２を見た場合の図である。なお、図４では、結像光学系３１およびセンサ３２の図示を省略している。
本実施形態の読み取りユニット１２には、上記の第１点光源列１６、第２点光源列１８に加え、第３光源８３、第４光源８４が設けられている。
第３光源８３および第４光源８４の各々は、例えば、ＬＥＤにより構成される。なお、ＬＥＤに限らず、ＬＥＤ以外の他の種類の光源を用いてもよい。

第３光源８３および第４光源８４は、主走査方向における位置が互いに異なるように配置されている。また、第３光源８３は、読み取りユニット１２の長手方向における一端部１２Ｅに設けられ、第４光源８４は、読み取りユニット１２の長手方向における他端部１２Ｆに設けられている。
また、副走査方向において、第３光源８３および第４光源８４は、第１点光源列１６と第２点光源列１８との間に位置する。

（法線角度の取得処理）
本実施形態では、測定対象物の特定箇所４０の各々の表面の法線の角度（以下、「法線角度」と称する）を取得する。言い換えると、本実施形態では、測定対象物の表面を構成する各部分の法線角度を取得する。
法線角度の取得にあたっては、まず、この法線角度の副走査方向における成分（以下、「副走査方向成分」と称する）を取得する。また、この法線角度の主走査方向における成分（以下、「主走査方向成分」と称する）を取得する。
そして、本実施形態では、この副走査方向成分と主走査方向成分とに基づき、法線角度を取得する。
以下では、まず、副走査方向成分の取得処理について説明し、次いで、主走査方向成分の取得処理について説明する。

（副走査方向成分の取得処理）
副走査方向成分の取得にあたっては、まず、ＣＰＵ１１１が、光照射部１２Ａの制御を行う制御ユニットへ制御信号を出力して、複数の方向の各々からの特定箇所４０への光の照射を順に行わせる。
具体的には、ＣＰＵ１１１は、一方向の一例である副走査方向における位置が互いに異なる複数箇所からの特定箇所４０への光の照射を順に行わせる。
より具体的には、ＣＰＵ１１１は、図５（光源の点灯状態を示した図）の（Ａ）、（Ｂ）に示すように、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々からの特定箇所４０への光の照射を順に行わせる。

そして、ＣＰＵ１１１は、第１点光源列１６から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａが受光する光の情報と、第２点光源列１８から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａが受光する光の情報とに基づき、特定箇所４０の表面の傾きについての情報（副走査方向成分）を取得する。
言い換えると、ＣＰＵ１１１は、一の方向から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力される情報と、一の方向とは反対の方向である他の方向から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力される情報とに基づき、特定箇所４０の表面の傾きについての情報（副走査方向成分）を得る。

特定箇所４０への光の照射について詳細に説明する。
ＣＰＵ１１１は、第１点光源列１６から特定箇所４０への光の照射を行う際には、図５（Ａ）に示すように、第１点光源列１６のみを点灯させた状態で、読み取りユニット１２を図中右方向に移動させる。
この場合、特定箇所４０に対しては、図中、左下方向から光が照射される。

なお、本実施形態では、読み取りユニット１２の移動に応じて、特定箇所４０が順次移動する。
本実施形態において、「特定箇所４０」とは、測定対象物の表面の一部分を指す。より具体的には、「特定箇所４０」とは、測定対象物の表面の一部分であって、センサ３２に設けられた複数の受光素子３２Ａのうちの１つの受光素子３２Ａにより読み取られる部分を指す。
本実施形態では、読み取りユニット１２の移動に応じて、この１つの受光素子３２Ａが移動し、これに伴い、この１つの受光素子３２Ａにより読み取られる部分である特定箇所４０も、順次移動する。

次いで、本実施形態では、ＣＰＵ１１１は、図５（Ｂ）に示すように、第２点光源列１８のみを点灯させた状態で、読み取りユニット１２を図中右方向に移動させる。この場合、特定箇所４０に対しては、図中、右下方向から光が照射される。
このように、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々を順に点灯させる場合、複数の箇所からの特定箇所４０への光の照射が順に行われる。
具体的には、左下方向に位置する箇所からの特定箇所４０への光の照射がまず行われ、次いで、右下方向に位置する箇所からの特定箇所４０への光の照射が行われる。

なお、本実施形態では、読み取りユニット１２が、図中右方向へ移動する際に、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々を順に点灯させる場合を説明した。
ところで、これに限らず、例えば、読み取りユニット１２が、図中右方向へ移動する際に、第１点光源列１６を点灯させ、読み取りユニット１２が、図中左方向へ移動する際に、第２点光源列１８を点灯させてもよい。
また、各光源列を点灯させる順序も特に問わず、第２点光源列１８を先に点灯させ、次いで、第１点光源列１６を点灯させてもよい。

ＣＰＵ１１１は、第１点光源列１６から特定箇所４０に光が照射された際に、この特定箇所４０についての読み取りを行う受光素子３２Ａが受光する光の情報を得る。また、ＣＰＵ１１１は、第２点光源列１８からこの特定箇所４０に光が照射された際に、この受光素子３２Ａが受光する光の情報を得る。
言い換えると、ＣＰＵ１１１は、第１点光源列１６から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力される出力値を得る。また、ＣＰＵ１１１は、第２点光源列１８からこの特定箇所４０に光が照射された際にこの受光素子３２Ａから出力される出力値を得る。

そして、ＣＰＵ１１１は、第１点光源列１６から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力される出力値と、第２点光源列１８から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力される出力値とに基づき、副走査方向成分を得る。
より具体的には、ＣＰＵ１１１は、例えば、第１点光源列１６から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力される出力値と、第２点光源列１８から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力される出力値とが等しい場合、副走査方向成分は０°であると判断する。

より具体的には、支持面１１Ｄに対する垂線であって特定箇所４０を通る垂線７０（図５（Ａ）参照）を想定した場合に、ＣＰＵ１１１は、上記の２つの出力値が等しい場合、特定箇所４０の表面４０Ａの法線４０Ｘの傾きであって垂線７０に対する傾きが、０°であることを示す情報を出力する。
また、ＣＰＵ１１１は、２つの出力値が異なっている場合、法線４０Ｘの垂線７０に対する傾きを、０°以外の値として出力する。

本実施形態では、例えば、第１点光源列１６から特定箇所４０に光が照射された際に得られた出力値の方が、第２点光源列１８から特定箇所４０に光が照射された際に得られた出力値よりも大きい場合、法線４０Ｘが、図５（Ａ）における矢印４Ｅで示す方向を向いていることになる。
また、本実施形態では、この場合、ＣＰＵ１１１は、この２つの出力値に基づき、この法線４０Ｘの、垂線７０に対する具体的な角度（以下、「法線角度」と称する）を得て、この法線角度を副走査方向成分として取得する。

また、例えば、第１点光源列１６から特定箇所４０に光が照射された際に得られた出力値の方が、第２点光源列１８から特定箇所４０に光が照射された際に得られた出力値よりも小さい場合、法線４０Ｘが、図５（Ａ）における矢印４Ｆで示す方向を向いていることになる。
また、本実施形態では、この場合、ＣＰＵ１１１は、この２つの出力値に基づき、この法線４０Ｘの、垂線７０に対する具体的な角度（法線角度）を得て、この法線角度を副走査方向成分として取得する。

（法線角度（副走査方向成分）の取得処理）
法線角度（副走査方向成分）の取得処理の詳細を説明する。
本実施形態では、上記のように、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々を個別に点灯させて、２つのスキャン画像を取得する。
より具体的には、まず、上記の通り、第１点光源列１６を点灯させた状態で読み取りユニット１２を移動させて、特定箇所４０の各々への光の照射を左下方向から行うことにより得られる、１つの目のスキャン画像を得る。
次いで、第２点光源列１８を点灯させた状態で読み取りユニット１２を移動させて、特定箇所４０の各々への光の照射を右下方向から行うことにより得られる、２つの目のスキャン画像を得る。
次いで、本実施形態では、この２つのスキャン画像をグレースケール化する。

その後、この２つのスキャン画像から、同一の画素について、上記の２つの出力値を得る。
具体的には、同一の特定箇所４０について、第１点光源列１６から光が照射された際に受光素子３２Ａから出力された出力値と、第２点光源列１８から光が照射された際にこの受光素子３２Ａから出力された出力値との両者を得る。

より具体的には、本実施形態では、１つの受光素子３２Ａにより１つの特定箇所４０の読み取りが行われる。
本実施形態では、第１点光源列１６から特定箇所４０に光が照射された際にこの１つの受光素子３２Ａから出力された出力値と、第２点光源列１８からこの特定箇所４０に光が照射された際にこの１つの受光素子３２Ａから出力された出力値との２つの出力値を得る。

より具体的には、本実施形態では、各スキャン画像にて、同一画素位置（ｘ、ｙ）の各々についての出力値を２つ得る。
ここで、本実施形態では、一方のスキャン画像から得られた出力値を、Ｄ_－４５（ｘ、ｙ）とし、他方のスキャナ画像から得られた出力値を、Ｄ_４５（ｘ、ｙ）とする。
ここで、「－４５」という数値は、第１点光源列１６からの光の入射角度を示す。また、「４５」という数値は、第２点光源列１８からの光の入射角度を示す。

次いで、本実施形態では、第１点光源列１６から光が照射された際に得られた上記の出力値（Ｄ_－４５）と、入射角度「－４５°」とを対応付け、第２点光源列１８から光が照射された際に得られた上記の出力値（Ｄ_４５）と、入射角度「＋４５°」とを対応付ける。
また、本実施形態では、入射角度が、垂線７０に対して±１８０°の場合は、センサ３２からの出力値が零になることから、出力値「０」と入射角度「－１８０°」とを対応付け、出力値「０」と入射角度「＋１８０°」とを対応付ける。

次いで、ＣＰＵ１１１は、入射角度を独立変数（例えば、－１８０°～＋１８０°)とし、出力値を従属変数（例えば０～２５５）としたうえでフィッティングを行う。
より具体的には、ＣＰＵ１１１は、－１８０°、－４５°、＋４５°、＋１８０°の４つの入射角度と、この４つの入射角度の各々に対応付けられた４つの出力値とを基に、ＢＲＤＦモデル（Ｃｏｏｋ－Ｔｏｒｒａｎｃｅなど）や、スプライン補間を用いてフィッティングする。

より具体的には、ＣＰＵ１１１は、例えば、スプライン曲線を４つの上記出力値にフィッティングさせる処理を行う。
次いで、フィッティング後のスプライン曲線からピークを抽出し、このピークに対応した独立変数（入射角度）を、対象となっている特定箇所４０の表面４０Ａの入射角度として把握する。
そして、ＣＰＵ１１１は、把握したこの入射角度を基に、特定箇所４０の表面４０Ａの法線角度（副走査方向成分）を得る。
ＣＰＵ１１１は、以上の処理を、全ての特定箇所４０の各々について行い、各特定箇所４０についての法線角度（副走査方向成分）を得る。

図６は、入射角度と法線角度との関係を示した図である。
図６では、符号αで示す角度が、フィッティング後のスプライン曲線のピークを基に得た入射角度の一例を示している。具体的には、この例では、入射角度として、３０°という入射角度が得られた場合を例示している。
ＣＰＵ１１１は、この入射角度である３０°を把握すると、この入射角度の半分の値である１５°を、特定箇所４０の表面４０Ａの法線角度βとして得る。この例では、ＣＰＵ１１１は、この法線角度β（１５°）を、副走査方向成分として取得する。

ここで、特定箇所４０の表面４０Ａの傾きについての情報を取得するにあたっては、例えば、この特定箇所４０に対し、例えば、１箇所のみから光を照射する態様が考えられる。
この場合、この特定箇所４０からの反射光を受光し、受光したこの反射光の強度を把握することで、この特定箇所４０の表面４０Ａの傾きの把握を一応行える。

ところで、反射光の強度は、特定箇所４０の色の影響を受けるものであり、特定箇所４０の色に応じて反射光の強度が変化し、特定箇所４０の表面４０Ａの傾きを正確に把握できなくなるおそれがある。
これに対して、本実施形態のように、２箇所の各々からの特定箇所４０への光の照射を順に行うと、色の影響が小さくなり、特定箇所４０の表面４０Ａの傾きをより精度よく得られる。

（主走査方向成分の取得処理）
次に、主走査方向成分（法線角度の主走査方向における成分）の取得処理について説明する。
主走査方向成分の取得処理では、この場合も、まず、ＣＰＵ１１１が、光照射部１２Ａの制御を行う制御ユニットへ制御信号を出力して、複数の方向の各々からの特定箇所４０への光の照射を順に行わせる。

図７（Ａ）、（Ｂ）は、図１の矢印VIIで示す方向から読み取りユニット１２、測定対象物を示した図である。
主走査方向成分の取得処理では、ＣＰＵ１１１は、図７（Ａ）、（Ｂ）に示すように、第３光源８３、第４光源８４を順に点灯させ、主走査方向成分を取得する。
具体的には、ＣＰＵ１１１は、第３光源８３から特定箇所４０へ光を照射した際に受光素子３２Ａが受光する光の情報、第４光源８４から特定箇所４０へ光を照射した際にこの受光素子３２Ａが受光する光の情報を得て、これらの情報に基づき、主走査方向成分を取得する。
言い換えると、ＣＰＵ１１１は、この場合も、一の箇所から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力される出力値と、他の箇所からこの特定箇所４０に光が照射された際にこの受光素子３２Ａから出力される出力値とに基づき、主走査方向成分を取得する。

より具体的には、ＣＰＵ１１１は、第３光源８３のみを点灯させた状態で（図７（Ａ）参照）、読み取りユニット１２を副走査方向へ移動させる。この場合、図７（Ａ）にて示す特定箇所４０に対しては、図中、右下方向から光が照射される。
次いで、ＣＰＵ１１１は、図７（Ｂ）に示すように、第４光源８４のみを点灯させた状態で、読み取りユニット１２を副走査方向に移動させる。この場合、特定箇所４０に対しては、図中、左下方向から光が照射される。
このように、主走査方向成分を取得する場合も、複数の箇所から、特定箇所４０への光の照射を行う。

なお、図７（Ａ）、（Ｂ）では、１つの特定箇所４０のみを表示している。
本実施形態では、この１つの特定箇所４０よりも図中右側に位置する他の複数の特定箇所４０（不図示）、および、この１つの特定箇所４０よりも図中左側に位置する他の複数の特定箇所４０（不図示）の各々に対しても、同様に、右下方向からの光の照射、および、左下方向からの光の照射が順に行われる。

第３光源８３、第４光源８４の点灯は、上記と同様、読み取りユニット１２が、図１の右方向へ移動する際に行ってもよい。また、これに限らず、例えば、読み取りユニット１２が、右方向へ移動する際に、第３光源８３および第４光源８４の一方の光源を点灯させ、読み取りユニット１２が、左方向へ移動する際に、他方の光源を点灯させてもよい。
また、光源を点灯させる順序も特に問わず、第４光源８４を先に点灯させ、次いで、第３光源８３を点灯させてもよい。

ＣＰＵ１１１は、第３光源８３から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力される出力値を得る。また、ＣＰＵ１１１は、第４光源８４から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力される出力値を得る。
そして、ＣＰＵ１１１は、副走査方向成分を得る場合における上記の処理と同様、第３光源８３から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力される出力値と、第４光源８４から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから受光される出力値とに基づき、特定箇所４０の表面４０Ａの傾きについての情報（主走査方向成分）を得る。

より具体的には、ＣＰＵ１１１は、上記と同様、例えば、第３光源８３から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力された出力値と、第４光源８４から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力された出力値とが等しい場合、特定箇所４０の表面４０Ａの法線４０Ｘの傾きであって垂線７０に対する傾きが、０°であることを示す情報を出力する。
また、ＣＰＵ１１１は、２つの出力値が異なっている場合は、法線４０Ｘの垂線７０に対する傾きを、０°以外の値として出力する。

例えば、第３光源８３から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力された出力値の方が、第４光源８４から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力された出力値よりも大きい場合、法線４０Ｘが、図７（Ａ）における矢印７Ｇで示す方向を向いていることになる。
ＣＰＵ１１１は、この２つの出力値に基づき、この法線４０Ｘの、垂線７０に対する具体的な角度（以下、「法線角度」と称する）を得る。

また、例えば、第３光源８３から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力された出力値の方が、第４光源８４から特定箇所４０に光が照射された際に受光素子３２Ａから出力された出力値よりも小さい場合、法線４０Ｘが、図７（Ａ）における矢印７Ｈで示す方向を向いていることになる。
この場合も、ＣＰＵ１１１は、この２つの出力値に基づき、この法線４０Ｘの、垂線７０に対する具体的な角度（法線角度）を得る。

（処理の詳細）
法線角度（主走査方向成分）を取得する際の処理の詳細を説明する。
本実施形態では、第３光源８３、第４光源８４の各々を個別に点灯させて、２つのスキャン画像を取得する。
より具体的には、第３光源８３を点灯させた状態で読み取りユニット１２を移動させて、特定箇所４０の各々への光の照射を右下方向から行うことにより得られる、１つの目のスキャン画像を得る。
次いで、第４光源８４を点灯させた状態で読み取りユニット１２を移動させて、特定箇所４０の各々への光の照射を左下方向から行うことにより得られる、２つの目のスキャン画像を得る。
次いで、本実施形態では、この２つのスキャン画像をグレースケール化する。

その後、この２つのスキャン画像から、同一の画素についての２つの出力値を得る。言い換えると、同一の特定箇所４０についての２つの出力値を得る。
より具体的には、同一の特定箇所４０について、第３光源８３から光が照射された際に受光素子３２Ａから出力された出力値と、第４光源８４から光が照射された際にこの受光素子３２Ａから出力された出力値との両者を得る。

言い換えると、各スキャン画像にて、同一画素位置（ｘ、ｙ）の各々についての２つ出力値を得る。
ここで、本実施形態では、一方のスキャン画像から得られた出力値を、Ｄ_７５（ｘ、ｙ）とし、他方のスキャナ画像から得られた出力値を、Ｄ_－７５（ｘ、ｙ）とする。
ここで、「７５」という数値は、第３光源８３（図７（Ａ）参照）から、図７（Ａ）にて示す特定箇所４０（中央部に位置する特定箇所４０）に向かう光の入射角度を示す。また、「－７５」という数値は、第４光源８４からこの特定箇所４０に向かう光の入射角度を示す。
ここで、図７（Ａ）に示す特定箇所４０（中央部に位置する特定箇所４０）は、第３光源８３と第４光源８４との間の中間位置に位置している。

次いで、本実施形態では、第３光源８３から光が照射された際に得られた上記の出力値（Ｄ_７５）と、入射角度「＋７５°」とを対応付け、第４光源８４から光が照射された際に得られた上記の出力値（Ｄ_－７５）と、入射角度「－７５°」とを対応付ける。
また、本実施形態では、入射角度が、垂線７０に対して±１８０°の場合は、受光素子３２Ａからの出力値が零になる事から、出力値「０」と入射角度「－１８０°」とを対応付け、出力値「０」と入射角度「＋１８０°」とを対応付ける。

次いで、ＣＰＵ１１１は、上記と同様、入射角度を独立変数（例えば、－１８０°～＋１８０°)とし、出力値を従属変数（例えば０～２５５）としたうえでフィッティングを行う。
より具体的には、ＣＰＵ１１１は、－１８０°、－７５°、＋７５°、＋１８０°の４つの入射角度と、この４つの入射角度の各々に対応付けられた４つの出力値とを基に、ＢＲＤＦモデル（Ｃｏｏｋ－Ｔｏｒｒａｎｃｅなど）や、スプライン補間を用いてフィッティングする。

より具体的には、ＣＰＵ１１１は、例えば、スプライン曲線を４つの上記出力値にフィッティングさせる処理を行う。
次いで、フィッティング後のスプライン曲線からピークを抽出し、このピークに対応した独立変数（入射角度）を、対象となっている特定箇所４０の表面４０Ａの入射角度として把握する。
そして、ＣＰＵ１１１は、把握したこの入射角度を基に、特定箇所４０の表面４０Ａの法線角度（主走査方向成分）を得る。具体的には、上記と同様、ＣＰＵ１１１は、入射角度の半分の値を、法線角度（主走査方向成分）として取得する。
ＣＰＵ１１１は、この処理を、全ての特定箇所４０の各々について行い、特定箇所４０の各々についての法線角度（主走査方向成分）を得る。

図７では、第３光源８３と第４光源８４との間の中間位置にある特定箇所４０を示している。
ここで、この中間位置から外れた箇所に位置する他の特定箇所４０については、得られる上記の２つの出力値を補正し、補正後の２つの出力値を用い、法線角度（主走査方向成分）を取得することが好ましい。
具体的には、例えば、図７（Ａ）の符号７Ｋで示す位置にある特定箇所４０についての法線角度（主走査方向成分）を把握する場合、この特定箇所４０について得られる２つの出力値の一方又は両方を補正したうえで、補正後の２つの出力値に基づき、法線角度を把握することが好ましい。

中間位置から外れた箇所に位置する特定箇所４０については、第３の箇所の一例である第３光源８３の設置箇所からこの特定箇所４０へ向かう光の光路と支持面１１Ｄとのなす角度と、第４の箇所の一例である第４光源８４の設置箇所からこの特定箇所４０に向かう光の光路と支持面１１Ｄとのなす角度とが異なる。
この場合、仮に、この特定箇所４０の表面４０Ａが水平であり、本来ならば、法線角度が０°として出力される場合であっても、このなす角度の相違に起因して、法線角度が０°以外の値として出力されるおそれがある。
このため、上記の通り、受光素子３２Ａから出力される上記の２つの出力値を補正し、補正後の２つの出力値に基づき、法線角度を把握することが好ましい。

より具体的には、補正にあたっては、ＣＰＵ１１１は、上記の２つの設置箇所のうちの上記のなす角度が小さくなる方の設置箇所から特定箇所４０への光の照射が行われた際に受光素子３２Ａから出力される出力値を大きくし、及び／又は、なす角度が大きくなる方の箇所から特定箇所４０への光の照射が行われた際に受光素子３２Ａから出力される出力値を小さくする補正を行う。
そして、ＣＰＵ１１１は、この補正を行った後の２つの出力値に基づき、上記にて説明した手法（スプライン補間等を用いた上記の手法）により、法線角度を把握する。

本実施形態では、主走査方向における特定箇所４０の位置に応じて、第３光源８３、第４光源８４と特定箇所４０との位置関係が変化する。
この場合、法線角度が本来０°である特定箇所４０であったとしても、この特定箇所４０が、第３光源８３、第４光源８４の何れかに寄っていると、法線角度が０°以外となってしまうおそれがある。
このため、本実施形態では、上記の通り、なす角度の影響が小さくなるように、２つの出力値の一方又は両方を補正し、補正後の２つの出力値に基づき、法線角度を把握する。

（出力値の補正）
出力値の補正についてより詳細に説明する。
本実施形態では、上記の２つの出力値の補正を行う前に、白色の基準板７１（図１参照）の対向位置に読み取りユニット１２を移動させる。
次いで、第３光源８３を点灯させ、基準板７１を構成する複数の画素の各々への光の照射を右下方向から行うことにより得られる、１つの目のスキャン画像（１ライン分のスキャン画像）を得る。
次いで、第４光源８４を点灯させ、基準板７１を構成する複数の画素の各々への光の照射を左下方向から行うことにより得られる、２つの目のスキャン画像（１ライン分のスキャン画像）を得る。
次いで、本実施形態では、この２つのスキャン画像をグレースケール化する。

その後、２つのスキャン画像から、同一の画素についての２つの出力値を得る。言い換えると、同一の画素の各々についての２つの出力値を得る。
より具体的には、同一の画素について、第３光源８３から光が照射された際に受光素子３２Ａから出力された出力値と、第４光源８４から光が照射された際にこの受光素子３２Ａから出力された出力値との両者を得る。

そして、ＣＰＵ１１１は、この２つの出力値に基づき、補正用パラメータを生成する。
具体的には、ＣＰＵ１１１は、この２つの出力値が互いに近づくようにする補正用パラメータを生成する。
より具体的には、ＣＰＵ１１１は、複数設けられた受光素子３２Ａの各々に対応させてこの補正用パラメータを生成し、この補正用パラメータを、対応する受光素子３２Ａに対応付けたうえで、この補正用パラメータを不図示のメモリに登録する。

そして、本実施形態では、上記のように、複数設けられた受光素子３２Ａの各々にて、２つの出力値が得られた場合、受光素子３２Ａに対応づけられて登録されている補正用パラメータを読み出して取得する。そして、この補正用パラメータを用いて、この受光素子３２Ａにより得られるこの２つの出力値の補正を行う。
これにより、上記のなす角度の影響を受けていない２つの出力値が得られる。
その後、ＣＰＵ１１１は、上記にて説明した手法（スプライン補間等を用いた上記の手法）を用い、補正後のこの２つの出力値を基に、法線角度（主走査方向成分）を把握する。

なお、ここでは、補正後の２つの出力値に基づき、スプライン補完等を用いて法線角度を把握したが、これに限らず、補正後の２つの出力値の比率に基づき、法線角度を把握してもよい。
例えば、ＣＰＵ１１１は、補正後の２つの出力値の比率が５０：５０である場合、法線角度が０°であると把握する。また、ＣＰＵ１１１は、補正後の２つの出力値の比率が５０：５０以外である場合、０°以外の値を法線角度として把握する。

（傾き情報の出力）
ＣＰＵ１１１は、以上のように、法線角度の副走査方向における成分（副走査方向成分）、法線角度の主走査方向における成分（主走査方向成分）を取得する。
次いで、ＣＰＵ１１１は、副走査方向成分に基づき、副走査方向の接線ベクトルＮｘ＝（１，０，Ｘ’)を取得する。また、ＣＰＵ１１１は、主走査方向成分に基づき、主走査方向の接線ベクトルＮｙ＝（０，１，Ｙ’)を取得する。

次いで、ＣＰＵ１１１は、この二つの接線ベクトルの外積を求めることで、三次元法線ベクトルＮを求める。
なお、本実施形態では、ＣＰＵ１１１は、さらに、この三次元法線ベクトルＮのノルムを算出し、三次元法線ベクトルＮを規格化する（ｎ＝Ｎ／|Ｎ|)。次いで、ＣＰＵ１１１は、このｎの各成分に１を足し、２で割り、さらに２５５をかけることで、ＸＹＺ成分の各々に対応する値を得る。
そして、ＣＰＵ１１１は、ＸＹＺ成分の各々に対応するこの値（３つの値）を、値が３つ並んだデータ形式で出力する。

ここで、本実施形態では、このように、値が３つ並んだデータ形式で、傾き情報の出力が行われる。より具体的には、本実施形態では、色情報が出力される際に用いられるデータ形式で、傾き情報が出力される。
本実施形態では、上記のとおり、画像読み取り装置１によって、測定対象物の色についての情報である色情報が取得され、この色情報が、予め定められたデータ形式でこの画像読み取り装置１から出力される。
本実施形態では、傾き情報については、色情報が出力される際に用いられるこの予め定められたデータ形式で出力される。

より具体的には、本実施形態では、色情報は、ＲＢＧの各々の値が３つ連続して並んだデータ形式で出力される。本実施形態では、傾き情報についても３つの値が並んだ形式で出力される。
より具体的には、傾き情報を出力するにあたっては、Ｘ成分（法線角度の副走査方向における成分）、Ｙ成分（法線角度の主走査方向における成分）、Ｚ成分（主走査方向および副走査方向の両者に直交する方向における、法線角度の成分）の３つの値が並んだ形式で、傾き情報が出力される。

このように、傾き情報を、色情報が出力される際に用いられるデータ形式で出力すると、この傾き情報を取得する他のコンピュータでは、特別なソフトウエアを用意せずに、特定箇所４０の各々の傾きの程度を色の違いで表示できるようになる。
言い換えると、傾き情報を、色情報が出力される際に用いられるデータ形式で出力すると、この傾き情報を取得する他のコンピュータでは、特別なソフトウエアを用意せずに、法線マップの表示を行える。
より具体的には、傾き情報を取得する他のコンピュータでは、ＲＢＧ値に基づき各画素の色を視覚的に表示するソフトウエアを用いて、特定箇所４０の各々の傾きの程度を、色を用いて表示できるようになる。

（点灯処理の一連の流れ）
図８は、読み取りユニット１２に設けられた光源の点灯処理の一連の流れを示した図である。
本実施形態の処理では、まず、図８（Ａ）に示すように、第１点光源列１６を点灯させた状態で、読み取りユニット１２を副走査方向へ移動させる。これにより、特定箇所４０に対しては、図中左側から光が照射される。
次いで、本実施形態では、図８（Ｂ）に示すように、第２点光源列１８を点灯させた状態で、読み取りユニット１２を副走査方向へ移動させる。これにより、特定箇所４０に対しては、図中右側から光が照射される。

本実施形態では、このように、矢印８Ｘ（図８（Ａ）、（Ｂ）参照）で示す一方向における位置が互いに異なる複数箇所から、特定箇所４０への光の照射が順に行われる。
より具体的には、本実施形態では、一方向における位置が互いに異なる第１点光源１６Ａおよび第２点光源１８Ｂが実質的に設けられた形となり、この第１点光源１６Ａおよび第２点光源１８Ｂが順に点灯することで、一方向における位置が互いに異なる複数箇所から特定箇所４０への光の照射が順に行われる。

次いで、本実施形態では、図８（Ｃ）に示すように、第３光源８３を点灯させた状態で、読み取りユニット１２を副走査方向へ移動させる。これにより例えば、特定箇所４０に対しては、図中上側から光が照射される。
次いで、本実施形態では、図８（Ｄ）に示すように、第４光源８４を点灯させた状態で、読み取りユニット１２を副走査方向へ移動させる。これにより例えば、特定箇所４０に対しては、図中下側から光が照射される。

第３光源８３、第４光源８４を順に点灯させると、上記の一方向（矢印８Ｘで示した方向）と交差（直交）する方向（矢印８Ｙで示す方向）における位置が互いに異なる複数箇所から、特定箇所４０への光の照射が順に行われる。
本実施形態では、上記の一方向と交差する方向における位置が互いに異なる第３光源８３および第４光源８４が設けられた形となっている。
本実施形態では、この第３光源８３および第４光源８４が順に点灯される。これにより、この交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から特定箇所４０への光の照射が順に行われる。
以上の点灯処理により、本実施形態では、特定箇所４０に対して、互いに異なる４方向からの光の照射が行われる。

その後、本実施形態では、上記にて説明したように、特定箇所４０の各々について、副走査方向成分、主走査方向成分が取得される。そして、上記の通り、副走査方向成分、主走査方向成分に基づき、三次元法線ベクトルＮが得られる。
なお、本実施形態では、第１点光源列１６、第２点光源列１８、第３光源８３、第４光源８４の順に光源を点灯させる場合を一例に説明したが、光源の点灯は、これに限らず、他の順で点灯させてもよい。

例えば、第３光源８３、第４光源８４を先に順に点灯させて、第１点光源列１６、第２点光源列１８を後に順に点灯させてもよい。
また、第１点光源列１６、第２点光源列１８のうちの一方の点光源列を点灯後に、第３光源８３、第４光源８４のうちの一方の光源を点灯させ、次いで、第１点光源列１６、第２点光源列１８のうちの他方の点光源列を点灯させ、次いで、第３光源８３、第４光源８４のうちの他方の光源を点灯させてもよい。
また、第３光源８３、第４光源８４のうちの一方の光源を点灯後に、第１点光源列１６、第２点光源列１８のうちの一方の点光源列を点灯させ、次いで、第３光源８３、第４光源８４のうちの他方の光源を点灯させ、次いで、第１点光源列１６、第２点光源列１８のうちの他方の点光源列を点灯させてもよい。

（他の構成例）
図９は、読み取りユニット１２の他の構成例を示した図である。
この構成例では、第３光源８３の設置箇所（以下、「第３の箇所２０３」と称する場合がある）の側方２０６であって、この第３の箇所２０３を挟み第４光源８４の設置側とは反対側に位置する側方２０６に、光反射部材の一例としての第１ミラーＭ１が設けられている。
この第１ミラーＭ１は、第３光源８３からの光を、支持面１１Ｄ側に向けて且つ第３光源８３側に向けて反射する。

また、この構成例では、第４光源８４の設置箇所（以下、「第４の箇所２０４」と称する場合がある）の側方２０７であって、この第４の箇所２０４を挟み第３光源８３の設置側とは反対側に位置する側方２０７に、光反射部材の一例としての第２ミラーＭ２が設けられている。
この第２ミラーＭ２は、第４光源８４からの光を、支持面１１Ｄ側に向けて且つ第４光源８４側に向けて反射する。

このように、光源の設置箇所の側方に、ミラー（第１ミラーＭ１、第２ミラーＭ２）を設けると、主走査方向成分を取得しうる特定箇所４０を増やせるようになる。
本実施形態では、特定箇所４０に対して斜め下方から光を照射する必要があり、第１ミラーＭ１、第２ミラーＭ２が設けられていない場合は、例えば、符号９Ａで示す領域内に位置する特定箇所４０について、主走査方向成分を得られる。

これに対し、本実施形態のように、第１ミラーＭ１、第２ミラーＭ２を設けると、例えば、符号９Ｂで示す箇所に対しても、斜め下方から光を照射可能となり、この符号９Ｂで示す箇所に位置する特定箇所４０についても、主走査方向成分の取得を行える。
なお、図９では、第３光源８３の側方、第４光源８４の側方の両方に、ミラーを設けた場合を一例に説明したが、第３光源８３の側方、第４光源８４の側方のうちの一方の側方のみに、ミラーを設けてもよい。

（他の構成例）
図１０は、読み取りユニット１２の他の構成例を示した図である。
この構成例では、第３の箇所２０３および第４の箇所２０４のそれぞれに、主走査方向における位置が互いに異なる複数の光源が設けられている。言い換えると、この構成例では、図４にて示した第３光源８３、第４光源８４の内側に、光源が追加されている。
より具体的には、本実施形態では、第３光源８３の内側に第１追加光源８３Ａが設けられ、第４光源８４の内側に第２追加光源８４Ａが設けられている。

ここで、この構成例では、第３の箇所２０３側に位置する、符号１０Ａで示す領域内に位置する特定箇所４０に対して光を照射する際には、第３光源８３と、第２追加光源８４Ａとを順に点灯させる。
また、この構成例では、第４の箇所２０４側に位置する、符号１０Ｂで示す領域内に位置する特定箇所４０に対して光を照射する際には、第４光源８４と、第１追加光源８３Ａとを順に点灯させる。
なお、第３の箇所２０３と第４の箇所２０４の中間位置に位置する特定箇所４０に対して光を照射する際には、第３光源８３と第４光源８４とを点灯させる。

本実施形態では、第３光源８３および第４光源８４のうちの一方の光源側に寄っている特定箇所４０については、他方の光源からこの特定箇所４０に向かう光の光路と支持面１１Ｄとのなす角度が小さくなる。このなす角度が小さすぎると、主走査方向成分の取得精度が低下するおそれがある。
これに対し、本実施形態のように、特定箇所４０が寄っている側とは反対側に位置する追加光源を点灯させると、上記のなす角度の低下が抑えられ、主走査方向における成分の取得精度の低下を抑えられる。
なお、本実施形態では、第３光源８３、第４光源８４の設置箇所のそれぞれに、追加光源を設けた場合を説明したが、第３光源８３、第４光源８４の設置箇所の一方の設置箇所のみに、追加光源を設けてもよい。

（他の構成例）
図１１は、スキャナ装置１０の他の構成例を示した図である。なお、図１１は、図１の矢印ＸＩで示す方向からスキャナ装置１０の上面を見た場合の状態を示している。
この構成例では、移動体の一例である読み取りユニット１２（図１１では不図示）の移動方向に沿って配置された基準部材３００が設けられている。
この基準部材３００は、装置フレーム１４の内面に取り付けられている。また、この構成例では、センサ３２（図３参照）による、主走査方向に沿った読み取り領域３２Ｘ内に、この基準部材３００が位置しており、センサ３２によりこの基準部材３００が読み取られる。

基準部材３００のうちのセンサ３２によって読み取られる部分は、白色となっている。
また、この基準部材３００がセンサ３２により読み取られる際には、読み取りユニット１２に設けられた光源列、光源により、この基準部材３００への光の照射が行われる。
より具体的には、本実施形態では、上記のように、特定箇所４０への光の照射の際に、第１点光源列１６、第２点光源列１８、第３光源８３、第４光源８４を順に点灯させるが、この点灯を行う際、光源列、光源の各々から、基準部材３００への光の照射が行われる。また、この際、この基準部材３００からの反射光がセンサ３２に向かう。

基準部材３００は、光源列、光源から出射される光の変動の把握に用いられる。
本実施形態では、図８に示したように、読み取りユニット１２を複数回移動させるが、この移動の度に、測定対象物に加えて、この基準部材３００の読み取りを行う。
そして、この構成例では、この基準部材３００の読み取り結果に基づき、受光素子３２Ａの各々から出力される出力値（法線角度の把握のために用いる出力値）の補正を行う。

具体的には、本実施形態では、基準部材３００の読み取り結果から、光源列、光源の各々から出射される光の色や量の変動を把握し、特定箇所４０の読み取りへのこの変動の影響が小さくなるように、受光素子３２Ａの各々から出力される出力値の補正を行う。
これにより、読み取りユニット１２の副走査方向における位置に応じて出力値が変動することが抑えられ、この変動に起因する、副走査方向成分や主走査方向成分の取得精度の低下を抑えられる。

〔第２の実施形態〕
図１２（Ａ）～（Ｄ）は、第２の実施形態の基本的な処理の流れを示した図である。
この実施形態では、第３光源８３、第４光源８４は設けられていない。
この実施形態では、図１２（Ａ）に示すように、第１点光源列１６に含まれる１つの点光源９８を点灯させた状態で、読み取りユニット１２を、上記と同様、副走査方向へ移動させる。
これにより、図１２（Ａ）に示すように、特定箇所４０の左上方向から特定箇所４０への光の照射が行われる。

次いで、図１２（Ｂ）に示すように、第１点光源列１６に含まれる他の１つの点光源９８を点灯させた状態で、読み取りユニット１２を副走査方向へ移動させる。これにより、特定箇所４０の左下方向から特定箇所４０への光の照射が行われる。
次いで、図１２（Ｃ）に示すように、第２点光源列１８に含まれる１つの点光源９８を点灯させた状態で、読み取りユニット１２を副走査方向へ移動させる。これにより、特定箇所４０の右上方向から特定箇所４０への光の照射が行われる。
ここで、主操作方向における位置を比べた場合に、第１点光源列１６に含まれる上記の１つの点光源９８（図１２（Ａ）の符号１２Ａで示す点光源９８）の位置と第２点光源列１８に含まれるこの１つの点光源９８の位置とは一致する。

次いで、図１２（Ｄ）に示すように、第２点光源列１８に含まれる他の１つの点光源９８を点灯させた状態で、読み取りユニット１２を副走査方向へ移動させる。これにより、特定箇所４０の右下方向から特定箇所４０への光の照射が行われる。
ここで、主操作方向における位置を比べた場合に、第１点光源列１６に含まれる上記の他の１つの点光源９８（（図１２（Ｂ）の符号１２Ｂで示す点光源９８）の位置と、第２点光源列１８に含まれるこの他の１つの点光源９８の位置とは一致する。

なお、第１点光源列１６、第２点光源列１８に含まれる点光源９８から特定箇所４０への光の照射にあたり、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々の内部にて全反射が起こりやすいと、上記のような、斜め方向からの特定箇所４０への光の照射を行いにくくなる。
具体的には、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々の内部にて全反射が起こりやすいと、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々からは、副走査方向に沿った光が主に出射される形となり、斜め方向から特定箇所４０へ向かう光が出射されにくくなる。

より具体的には、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々では、点光源９８の対向位置であってこの点光源９８から特定箇所４０へ向かう光の光路上に、この光の案内を行う透明な案内部材（不図示）が設けられることがある。
このような案内部材が設けられていると、この案内部材が有する面のうちの点光源９８側を向く面にて全反射が起こり、斜め方向から特定箇所４０へ向かう光が出射されにくくなる。
このように全反射が起きやすい場合は、この案内部材を除去したり、モスアイフィルムを添付したり、ＬＣＦ（ライトコントロールフィルム）などを設置したりして、全反射が起きなくなるようにすることが好ましい。

本実施形態においても、ＣＰＵ１１１は、図１２（Ａ）、（Ｄ）に示すように、第１点光源列１６に含まれる１つの点光源９８（以下、「第１の点光源９８Ａ」と称する）と、第２点光源列１８に含まれる上記の他の１つの点光源９８（以下、「第２の点光源９８Ｂ」と称する）とを順に点灯させる。
これにより、図１２（Ａ）、（Ｄ）の符号１２Ｘで示す一方向における位置が互いに異なる複数箇所から特定箇所４０への光の照射が順に行われる。
ここで、本実施形態では、「一方向」は、副走査方向および主走査方向の両者に対して交差する方向となっている。

また、ＣＰＵ１１１は、第１点光源列１６に含まれる上記の他の１つの点光源９８（以下、「第３の点光源９８Ｃ」と称する）と、第２点光源列１８に含まれる上記の１つの点光源９８（以下、「第４の点光源９８Ｄ」と称する）とを順に点灯させる。
これにより、上記の一方向と交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から特定箇所４０への光の照射が順に行われる。

第１点光源列１６に含まれる第１の点光源９８Ａと、第２点光源列１８に含まれる第２の点光源９８Ｂとは、主操作方向における位置が互いに異なる。
また、本実施形態では、主走査方向において、第１の点光源９８Ａよりも第２の点光源９８Ｂ側に、第３の点光源９８Ｃが位置する。また、主走査方向において、第２の点光源９８Ｂよりも第１の点光源９８Ａ側に、第４の点光源９８Ｄが位置する。

本実施形態のＣＰＵ１１１は、この第１の点光源９８Ａおよび第２の点光源９８Ｂを順に点灯させて、一方向における位置が互いに異なる複数箇所から特定箇所４０への光の照射を順に行う。
また、ＣＰＵ１１１は、第１の点光源９８Ａよりも第２の点光源９８Ｂ側に位置する第３の点光源９８Ｃと、第２の点光源９８Ｂよりも第１の点光源９８Ａ側に位置する第４の点光源９８Ｄとを順に点灯させて、一方向と交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から特定箇所４０への光の照射を順に行う。

これにより、この場合も、特定箇所４０に対して、４方向からの光の照射を行えるようになり、上記と同様、２組の２つの出力値が得られる。
そして、この場合、上記と同様、１組目の２つの出力値に基づき、上記の副走査方向成分に相当する成分の取得を行えるようになり、２組目の２つの出力値に基づき、上記の主走査方向成分に相当する成分の取得を行える。

図１２にて示した基本的な処理では、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々を１回点灯させるにあたり、１つの点光源９８のみを点灯させる場合を説明した。
ここで、効率の観点からは、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々において、複数の点光源９８を点灯させることがより好ましい。
具体的には、例えば、図１３（光源の他の点灯状態を示した図）の（Ａ）、（Ｂ）、図１４（光源の他の点灯状態を示した図）の（Ｃ）、（Ｄ）に示すように、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々を点灯させる場合において、複数の点光源９８を点灯させることが好ましい。

図１３、１４に示す例では、特定箇所４０が複数設定されている。
この複数の特定箇所４０は、図１３（Ａ）に示すように、主走査方向における位置が互いに異なるように設定されている。
この場合、ＣＰＵ１１１は、１回目の点灯では、図１３（Ａ）に示すように、第１点光源列１６に含まれる点光源９８を１つおきに点灯させる。これにより、この場合、特定箇所４０の各々には、左上方向又は左下方向から光が照射される。

次いで、ＣＰＵ１１１は、２回目の点灯では、図１３（Ｂ）に示すように、第１点光源列１６に含まれる点光源９８のうち、１回目の点灯のときに点灯させた点光源９８とは異なる点光源９８を１つおきに点灯させる。
より具体的には、この場合、ＣＰＵ１１１は、１回目の点灯のときに点灯させた点光源９８間に位置する点光源９８を点灯させる。
これにより、この場合、特定箇所４０の各々には、左上方向又は左下方向から光が照射される。より具体的には、この場合、左上方向又は左下方向であって、１回目における点灯時の照射方向とは異なる方向から、特定箇所４０への光の照射が行われる。

次いで、ＣＰＵ１１１は、３回目の点灯を行う。この３回目の点灯では、図１４（Ｃ）に示すように、第２点光源列１８に含まれる点光源９８を１つおきに点灯させる。これにより、この場合、特定箇所４０の各々には、右上方向又は右下方向から光が照射される。
次いで、ＣＰＵ１１１は、４回目の点灯を行う。この４回目の点灯では、図１４（Ｄ）に示すように、３回目の点灯のときに点灯させた点光源９８とは異なる点光源９８を１つおきに点灯させる。より具体的には、この場合、ＣＰＵ１１１は、３回目の点灯のときに点灯させた点光源９８間に位置する点光源９８を点灯させる。

これにより、この場合、特定箇所４０の各々には、右上方向又は右下方向から光が照射される。より具体的には、この場合、右上方向又は右下方向であって、３回目における点灯時の照射方向とは異なる方向から、特定箇所４０への光の照射が行われる。
これにより、この照射例でも、特定箇所４０の各々に対して、４つの方向からの光の照射が行われる。

図１３、図１４に示す例でも、図１３（Ａ）、図１４（Ｄ）に示すように、第１点光源列１６に含まれる複数の点光源９８の点灯と、第２点光源列１８に含まれる複数の点光源９８の点灯とを順に行い、複数の特定箇所４０に各々に対し、一方向（矢印１３Ｘで示す方向）における位置が互いに異なる複数箇所からの光の照射を行う。
ここで、この「一方向」は、主操作方向および副走査方向の両方向に対して交差する方向である。

また、図１３、１４に示すこの例では、図１３（Ｂ）、図１４（Ｃ）に示すように、第１点光源列１６に含まれる上記の複数の点光源９８とは異なる他の複数の点光源９８の点灯と、第２点光源列１８に含まれる上記の複数の点光源９８とは異なる他の複数の点光源９８の点灯とを順に行う。
これにより、複数の特定箇所４０に各々に対し、上記の一方向とは交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から、光の照射が行われる。
これにより、この場合も、複数の特定箇所４０の各々に対して、４つの方向から光が照射される。

なお、上記の４回の光源の点灯の後に、４方向からの光の照射が行われない特定箇所４０が残る場合には、未だ点灯されていない点光源９８の点灯をさらに行って、未だ光が照射されていない特定箇所４０の各々への、４方向からの光の照射を行う。

ところで、特定箇所４０と、この特定箇所４０への光の照射を行う２つの点光源９８との位置関係によっては、例えば、２つの点光源９８を結ぶ線上に特定箇所４０が位置せず、これに起因して、上記と同様、２つの出力値が互いに異なる事態が生じうる。
言い換えると、特定箇所４０の表面４０Ａが水平方向に沿っていたとしても、この特定箇所４０と、２つの点光源９８との位置関係によっては、２つの出力値が互いに異なる事態が生じうる。

図１５は、光源および特定箇所を上方から見た場合の状態を示した図である。
本実施形態の構成では、図１５に示すように、２つの点光源９８を結ぶ線上に特定箇所４０が位置しない場合がありうる。
この場合、垂線１７Ｅから第１の点光源９８Ａを見た場合の１つ目の方位１７Ａと、この垂線１７Ｅから第２の点光源９８Ｂを見た場合の２つ目の方位１７Ｂとのなす角度θが１８０°以外となる。

より具体的には、支持面１１Ｄ（図３参照）に対する垂線１７Ｅであって特定箇所４０を通る垂線１７Ｅを想定した場合に、この垂線１７Ｅから第１の点光源９８Ａを見た場合の方位１７Ａと、この垂線１７Ｅから第２の点光源９８Ｂを見た場合の方位１７Ｂとのなす角度θが１８０°以外となる。
また、この場合、同様に、垂線１７Ｅから第３の点光源９８Ｃを見た場合の方位と、垂線１７Ｅから第４の点光源９８Ｄを見た場合の方位とのなす角度も、１８０°以外となる。
この場合、２つの出力値が互いに異なる事態が生じうる。

このため、この場合も、上記と同様、２つの出力値を補正することが好ましい。
即ち、垂線１７Ｅから第１の点光源９８Ａを見た場合の方位と、垂線１７Ｅから第２の点光源９８Ｂを見た場合の方位とのなす角度θが１８０°以外となる場合、受光素子３２Ａから出力される２つの出力値を補正することが好ましい。
同様に、垂線１７Ｅから第３の点光源９８Ｃを見た場合の方位と、垂線１７Ｅから第４の点光源９８Ｄを見た場合の方位とのなす角度が１８０°以外となる場合、受光素子３２Ａから出力される２つの出力値を補正することが好ましい。

より具体的には、この場合は、受光素子３２Ａの各々に対して補正用パラメータを対応付けるようにし、受光素子３２Ａにより得らえる２つの出力値をこの補正用パラメータで補正することが好ましい。

補正用パラメータの生成にあたっては、上記と同様、１つ目の点光源９８を点灯させた状態で基準板７１を読み取った際の受光素子３２Ａの出力値を得る。また、特定箇所４０を挟んでこの１つ目の点光源９８とは反対側に位置する２つ目の点光源９８を点灯させた状態で基準板７１を読み取った際の受光素子３２Ａの出力値を得る。
そして、得られるこの２つの出力値に基づき、この２つの出力値が互いに近づくようにする補正用パラメータを生成する。そして、この補正用パラメータを、受光素子３２Ａに対応付けた状態で登録する。

より具体的には、本実施形態でも、１つの受光素子３２Ａから、２組の２つの出力値が得られる。本実施形態では、基準板７１を読み取った際の１組目の２つの出力値に基づき補正用パラメータを生成し、この補正用パラメータを、この受光素子３２Ａおよびこの２つの出力値を得た際に点灯させた２つの点光源９８に対応付けるようにする。
また、基準板７１を読み取った際の２組目の２つの出力値に基づき補正用パラメータを生成し、この補正用パラメータを、この受光素子３２Ａおよびこの２つの出力値を得た際に点灯させた２つの点光源９８に対応付けるようにする。

〔第３の実施形態〕
図１６（Ａ）、（Ｂ）は、第３実施形態における光源の点灯処理を示した図である。なお、この第３の実施形態においても、第２の実施形態と同様、第３光源８３、第４光源８４は、設けられていない。
また、図１６（Ａ）、（Ｂ）の各々では、１つの点光源９８を点灯させている状態を示しているが、本実施形態では、第１点光源列１６、第２点光源列１８を点灯させる際、第１点光源列１６、第２点光源列１８の各々に含まれる点光源９８を全て点灯させる。
これにより、この場合、主走査方向に並ぶ複数の特定箇所４０の各々に、副走査方向に沿った光が照射される。言い換えると、図１６では、１つの特定箇所４０のみを表示しているが、実際には、複数の特定箇所４０の各々に対して、副走査方向に沿った光が照射される。

この実施形態では、ＣＰＵ１１１は、図１６（Ａ）に示すように、第１点光源列１６を点灯させた状態で、読み取りユニット１２を移動させる。次いで、ＣＰＵ１１１は、図１６（Ｂ）に示すように、第２点光源列１８を点灯させた状態で、読み取りユニット１２を移動させる。
そして、本実施形態では、ＣＰＵ１１１は、上記にて説明した手法により、各特定箇所４０の各々について、副走査方向成分を取得する。

なお、本実施形態では、図１６（Ａ）、（Ｂ）に示すように、第１点光源列１６と特定箇所４０との間、および、第２点光源列１８と特定箇所４０との間に、光案内部材５００が設けられている。
この光案内部材５００は、第１点光源列１６や第２点光源列１８から出射された光のうちの、副走査方向に沿った成分の光のみが特定箇所４０に向かうように光を案内する。

このように、光案内部材５００を設けると、主走査方向に沿った成分を有した光が、特定箇所４０に向かいにくくなり、副走査方向成分の取得精度が向上する。
光案内部材５００は、例えば、ＬＣＦ（Light Control Film）や、両側に曲率を有するフレネルレンズにより構成される。なお、光案内部材５００は、必須ではなく省略してもよい。

図１７は、図１の矢印XVIIで示す方向から、支持面１１Ｄ上の測定対象物を見た場合の図である。
ＣＰＵ１１１は、各特定箇所４０の各々について副走査方向成分を取得すると、取得したこの副走査方向成分に基づき、特定箇所４０の各々についての高さ情報を取得する。
より具体的には、ＣＰＵ１１１は、図１７に示すように、副走査方向に沿って複数の特定箇所４０が並んだ列Ｒ毎に、各列Ｒに含まれる特定箇所４０の各々についての高さ情報を取得する。

より具体的には、ＣＰＵ１１１は、特定箇所４０の各々について得られる副走査方向成分に基づき、各列Ｒ毎に、各列Ｒに含まれる特定箇所４０の各々についての高さ情報を取得する。
より具体的には、図１７では、第１列Ｒ１、第２列Ｒ２、第３列Ｒ３が表示されているが、この列Ｒの各々について、各列に含まれる特定箇所４０の各々の高さについての情報を取得する。

図１８は、図１７の矢印XVIIIで示した方向から第１列Ｒ１および第２列Ｒ２を見た場合の特定箇所４０の各々の高さを示した図である。
本実施形態では、図中符号１８Ａで示すように、特定箇所４０の各々の傾きについての情報を得られる。より具体的には、本実施形態では、特定箇所４０の各々の傾きについての情報として、副走査方向成分が得られる。

本実施形態では、ＣＰＵ１１１は、測定対象物の表面を構成する各部分（各特定箇所４０）の各々について、この副走査方向成分を用いて、この各部分（各特定箇所４０）の各々の高さを把握する。
具体的には、ＣＰＵ１１１は、符号１８Ｂで示すように、ある特定箇所４０についての副走査方向成分により特定される方向が、斜め左上方向を向いている場合、この特定箇所４０（以下、「左隣り箇所４０Ｅ」と称する）の一つ隣に位置する特定箇所４０（以下、「右隣り箇所４０Ｆ」と称する）は、この左隣り箇所４０Ｅよりも高くなっていることを把握する。

また、この場合、ＣＰＵ１１１は、副走査方向成分に基づき、左隣り箇所４０Ｅの傾き角を把握し、この傾き角に基づき、右隣り箇所４０Ｆの具体的な高さを把握する。
より具体的には、ＣＰＵ１１１は、副走査方向成分に基づき、左隣り箇所４０Ｅの傾き角を把握し、この傾き角に基づき、左隣り箇所４０Ｅと右隣り箇所４０Ｆとの高低差を把握する。そして、ＣＰＵ１１１は、左隣り箇所４０Ｅの高さに対して、この高低差を加算し、右隣り箇所４０Ｆの具体的な高さを把握する。

ＣＰＵ１１１は、この処理を、各列Ｒ毎に、図１７にて最も左に位置する特定箇所４０（「位置１」に位置する特定箇所４０）から右方向に向かって順に行い、特定箇所４０の各々の高さ情報を取得する。
言い換えると、ＣＰＵ１１１は、副走査方向に沿った各列Ｒ毎に、各列Ｒの左端から右方に向かって、特定箇所４０の各々の高さを把握する。
より具体的には、ＣＰＵ１１１は、副走査方向に沿って特定箇所４０が並んだ列Ｒ毎に、特定箇所４０の傾きについての情報に基づき積分処理を行い、各列に含まれる特定箇所４０の各々の高さについての情報を順次取得する。

より具体的には、ＣＰＵ１１１は、例えば、測定対象物の側縁６００（図１７参照）の部分を高さの基準とし、この基準の高さを、例えば０とする。
そして、ＣＰＵ１１１は、この０を基準として、この基準から離れる方向に並んだ特定箇所４０の各々について、副走査方向成分を基に、高さについての情報を取得する。
なお、高さの基準は、側縁６００に限られず、案内部材６８の下部に設けられた白色の基準板７１（図１参照）を、高さの基準とし、この基準から離れる方向に並んだ特定箇所４０の各々について、副走査方向成分を基に、高さについての情報を取得してもよい。
基準板７１を高さの基準とする場合は、この基準板７１が設けられている箇所における高さを、例えば０とする。そして、この０に対して、この基準から離れる方向に並んだ特定箇所４０の各々について得られる高低差（副走査方向成分を基に得られる高低差）を順次加算して、特定箇所４０の各々について、高さについての情報を取得する。

図１８に示す例では、第１列Ｒ１（図１７も参照）に含まれる特定箇所４０であって、最も左端に位置する特定箇所４０から右方向に並んだ３つの特定箇所４０の各々の高さの把握を行った場合を例示している。
また、図１８に示すこの例では、主走査方向においてこの第１列Ｒ１の隣に位置する列である第２列Ｒ２（図１７も参照）に含まれる３つの特定箇所４０の各々の高さの把握を行った場合を例示している。

その後、本実施形態では、ＣＰＵ１１１は、図１９（主走査方向成分を取得する際に実行する処理を説明する図）の符号１９Ａで示すように、主走査方向において互いに隣接する２つの特定箇所４０の各々の高さに基づき、この２つの特定箇所４０の間に位置する部分（以下、「部分間部分４５０」と称する）（図１７参照）の表面の傾きについての情報を取得する。
言い換えると、ＣＰＵ１１１は、主走査方向において互いに隣接する２つの特定箇所４０の各々の高さに基づき、この２つの特定箇所４０の間に位置する部分間部分４５０について、上記の主走査方向成分に相当する情報を取得する。

より具体的には、主走査方向成分に相当するこの情報を取得するにあたっては、ＣＰＵ１１１は、まず、主走査方向において互いに隣接するこの２つの特定箇所４０の各々の高さの差と、この２つの特定箇所４０の離間距離（高さ方向と直交する方向における離間距離）とを得る。
そして、ＣＰＵ１１１は、この高さの差をこの離間距離で割った値を、部分間部分４５０についての、主走査方向成分に相当する情報として取得する。
なお、ＣＰＵ１１１は、他の箇所に位置する部分間部分４５０の各々についても、同様に、主走査方向成分に相当する情報（以下、単に「主走査方向成分」と称する）を取得する。

そして、例えば、図１７の符号１７Ｇで示す部分（特定部分の一例）を、主走査方向成分を取得しようしている特定箇所４０であると想定した場合、ＣＰＵ１１１は、この特定箇所４０の両側に位置する２つの部分間部分４５０（符号１７Ｅ、１７Ｆで示す２つの部分間部分４５０）についての主走査方向成分を把握する。
そして、ＣＰＵ１１１は、把握したこの主走査方向成分（２つの主走査方向成分）の平均値を求め、この平均値を、符号１７Ｇで示す特定箇所４０の主走査方向成分として取得する。

なお、ここでは、２つの部分間部分４５０の各々について得られた主走査方向成分の平均値を、この２つの部分間部分４５０の間に位置する特定箇所４０の主走査方向成分としたが、特定箇所４０の主走査方向成分は、この平均値に限られない。
これ以外に、例えば、上記の２つの部分間部分４５０の各々の主走査方向成分のうちの、一方の主走査方向成分を、特定箇所４０に対応付け、この一方の主走査方向成分のみを、特定箇所４０の主走査方向成分として把握してもよい。

このように、本実施形態では、ＣＰＵ１１１は、測定対象物の表面を構成し一方向に並ぶ各部分の各々の高さについての情報を取得するとともに、各部分が一方向に並ぶ各列毎に、この各部分の高さについての情報を取得する。
そして、本実施形態では、一の列に含まれる一の部分についての高さについての情報と、他の列に含まれる他の部分についての高さについての情報とに基づき、上記の符号１７Ｇで示した特定箇所４０などについての主走査方向成分を取得する。

なお、最小二乗法などを用いて、特定箇所４０の各々の高さを補正し、特定箇所４０の各々の高さを、誤差のより少ないものとしてもよい。そして、補正後の、特定箇所４０の各々の高さに基づき、新たな副走査方向成分、新たな主走査方向成分を取得してもよい。
本実施形態では、特定箇所４０の各々について、上記の通り、主走査方向成分が得られ、この場合、この主走査方向成分を用い、主走査方向に沿う各列毎に、特定箇所４０の各々についての高さを得ることができる。
この結果、本実施形態では、同一の特定箇所４０について、２つの高さを得ることができる。具体的には、副走査方向成分を基に得た高さと、主走査方向成分を基に得た高さとを得ることができる。
そして、本実施形態では、この２つの高さの差が最小となるように、最小二乗法などを用いて計算処理を行い、特定箇所４０毎に、この差が最小となる際の特定箇所４０の高さを求めるようにする。
そして、特定箇所４０毎に得たこの高さ（差が最小となる際の特定箇所４０の高さ）に基づき、新たな副査方向成分、新たな主走査方向成分を取得するようにする。
これにより、特定箇所４０毎に得られる法線角度が、より精度のよいものとなる。

なお、その他に、例えば、主走査方向において互いに離れた関係にある２つの特定箇所４０の各々の高さについての情報に基づき、この２つの特定箇所４０の間の位置である中間位置にある特定箇所４０の傾きについての情報を得てもよい。
より具体的には、この場合、例えば、図１７の符号１７Ｃ、１７Ｄに示すように、主走査方向において互いに離れた関係にある２つの特定箇所４０を想定する。

そして、この場合、この２つの特定箇所４０の高低差を離間距離で割る割り算を行い、この割り算で得られた値を、上記の符号１７Ｇで示した特定箇所４０など、この２つの特定箇所４０の間に位置する特定箇所４０（中間部分の一例）の傾きについての情報として得てもよい。
なお、「中間位置にある特定箇所４０」とは、２つの特定箇所４０を結ぶ線分の中点上に特定箇所４０が位置するという意味ではなく、２つの特定箇所４０の間に特定箇所４０が位置する状態を言い、中点上に特定箇所４０がなくても、「中間位置にある特定箇所４０」に該当する。

〔その他〕
上記では、主に、傾き情報を取得する場合の処理を説明した。この場合は、上記のように、グレースケール化などを行って色の情報を除去したうえで、傾き情報を取得する。
これに対して、測定対象物の色情報を取得する際には、例えば、第１点光源列１６、第２点光源列１８の両者を点灯させた状態で、読み取りユニット１２を移動させて、測定対象物の読み取りを行う。
即ち、被測定対象の色情報を取得する際には、傾き情報の取得のためのスキャンとは別に、第１点光源列１６、第２点光源列１８の両者を点灯させて、色情報を取得するためのスキャンを行う。

より具体的には、第１の実施形態にて示した構成では、第３光源８３、第４光源８４を点灯させずに、第１点光源列１６、第２点光源列１８の両者を点灯させた状態で、読み取りユニット１２を移動させて色情報を取得する。
また、第２の実施形態にて示した構成では、一部の点光源９８のみを点灯させる処理は行わずに、第１点光源列１６、第２点光源列１８に含まれる点光源９８の全てを点灯させた状態で、読み取りユニット１２を移動させて色情報を取得する。
また、第３の実施形態にて示した構成でも、第１点光源列１６、第２点光源列１８に含まれる点光源９８の全てを点灯させた状態で、読み取りユニット１２を移動させて色情報を取得する。

第１点光源列１６、第２点光源列１８の両者を点灯させた状態で、読み取りを行うと、測定対象物に生じうる陰影を抑えることができ、この陰影に起因する読み取り精度の低下を抑えられる。
なお、色情報を取得するための読み取りのタイミングは特に問わず、法線情報を取得するための読み取りよりも前に行ってもよいし、法線情報を取得するための読み取りよりも後に行ってもよい。

また、上記の第１の実施形態では、４つの光源を設置し、第２の実施形態では、光源の一部のみを点灯させる制御を行って、４つの方向からの特定箇所４０への光の照射を行った。
ところで、これに限らず、例えば、２つの方向から光の照射を行える光照射手段を、支持面１１Ｄ（図３参照）に対して直交する関係の回転軸を中心に回転させることで、４つの方向からの特定箇所４０への光の照射を行ってもよい。
また、例えば、１つの光源を、この回転軸回りに移動させることで、４つの方向からの特定箇所４０への光の照射を行ってもよい。

また、図７にて示した構成例では、主走査方向における位置が互いに異なる第３の箇所２０３と第４の箇所２０４の各々から特定箇所４０への光の照射を行う場合に得られる２つの出力値の補正を行ったが、２つの出力値の補正はこれに限られない。
例えば、副走査方向における位置が互いに異なる複数箇所の各々から特定箇所４０への光の照射を行う場合にも、上記と同様の手法により、得られる２つの出力値の補正を行ってもよい。

より具体的には、場合によっては、特定箇所４０および受光素子３２Ａが副走査方向に並んで配置される場合も想定され、この場合は、上記と同様、特定箇所４０と光源との位置関係によって、なす角度が異なるようになり、得られる２つの出力値が変動しうる。
副走査方向における位置が互いに異なる複数箇所の各々から特定箇所４０への光の照射を行う場合も、得られる２つの出力値の補正を行うことで、副走査方向成分の取得精度が高まる。

また、特定箇所４０および受光素子３２Ａが副走査方向に並んで配置される場合は、図９に示した構成例と同様、副走査方向における位置が互いに異なるように配置される２つの光源の一方の側方又は両方の側方に、ミラーを設けるようにしてもよい。
これにより、この場合、副走査方向において、より広い範囲に亘って、斜め下方からの特定箇所４０への光の照射を行える。

また、特定箇所４０および受光素子３２Ａが副走査方向に並んで配置される場合は、図１０に示した構成例と同様、副走査方向において互いにずらされて配置される２つの光源の各々の設置箇所の一方又は両方に、副走査方向における位置が互いに異なる複数の光源を設置してもよい。

また、その他に、図２０（読み取りユニット１２の他の構成例を示した図）に示すように、読み取りユニット１２には、第１点光源列１６、第２点光源列１８に加え、第３点光源列２０を設けてもよい。
この第３点光源列２０は、読み取りユニット１２の移動方向において、特定箇所４０よりも下流側に位置し、上流側に位置する特定箇所４０に向けて光を照射する。
また、垂線７０と、第３点光源列２０から特定箇所４０に向かう光の光路Ｒ１３とのなす角度θ３が５°となっている。なお、このなす角度は、これに限らず、５°～１０°程度であってもよい。

この読み取りユニット１２を備えた画像読み取り装置１では、第１点光源列１６を点灯させた状態での読み取りユニット１２の移動、第２点光源列１８を点灯させた状態での読み取りユニット１２の移動に加え、第３点光源列２０を点灯させた状態での読み取りユニット１２の移動を行う。
これにより、この場合、「＋５°」も加えた５つの入射角度に対応する出力値（５つの出力値）の各々を基に、上記のフィッティングを行えるようになり、法線角度の把握精度が向上する。

上記では、－１８０°、－４５°、＋４５°、＋１８０°の４つの入射角度に対応する出力値（４つの出力値）の各々を基に、フィッティングしたが、第３点光源列２０も点灯させると、５つの出力値の各々を基に、上記のフィッティングを行えるようになり、法線角度の把握精度が向上する。

また、第３点光源列２０のように、垂線７０とのなす角度が小さくなる関係となる光源を設置すると、法線マップだけでなくスペキュラーマップの取得を行える。
さらに、第１点光源列１６と第２点光源列１８との両者を点灯させた状態で、読み取りユニット１２を移動させると、アルベドマップの取得も行える。これにより、半透明を除いた成分を全て取得できるようになり、テクスチャマップを生成する装置として完結した装置になる。

１…画像読み取り装置、１１Ｄ…支持面、１２…読み取りユニット、１２Ａ…光照射部、１６…第１点光源列、１６Ａ…第１点光源、１８…第２点光源列、１８Ｂ…第２点光源、３２Ａ…受光素子、４０…特定箇所、８３…第３光源、８３Ａ…第１追加光源、８４…第４光源、８４Ａ…第２追加光源、９８Ａ…第１の点光源、９８Ｂ…第２の点光源、９８Ｃ…第３の点光源、９８Ｄ…第４の点光源、１１１…ＣＰＵ、３００…基準部材、Ｍ１…第１ミラー、Ｍ２…第２ミラー

Claims (18)

1. 測定対象物への光の照射を行う光照射手段と、当該光照射手段の制御を行うプロセッサと、を備えた測定装置であり、
   前記プロセッサは、
   一方向における位置が互いに異なる複数箇所から、前記測定対象物の特定箇所への光の照射を行い、
   前記一方向と交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から、前記測定対象物の前記特定箇所への光の照射を行う、
   測定装置。
2. 前記光照射手段として、前記一方向における位置が互いに異なる第１光源および第２光源と、前記交差する方向における位置が互いに異なる第３光源および第４光源が設けられている請求項１に記載の測定装置。
3. 前記プロセッサは、
   前記第１光源および前記第２光源を順に点灯させて、前記一方向における位置が互いに異なる複数箇所から前記特定箇所への光の照射を行い、
   前記第３光源および前記第４光源を順に点灯させて、前記交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から前記特定箇所への光の照射を行う、
   請求項２に記載の測定装置。
4. 前記測定対象物を支持する支持面と、
   前記特定箇所からの反射光を受光する受光部と、
   をさらに備え、
   前記プロセッサは、
   前記一方向における位置が互いに異なる前記複数箇所に含まれる第１の箇所から前記特定箇所へ向かう光と前記支持面とのなす角度と、当該複数箇所に含まれる第２の箇所から当該特定箇所に向かう光と当該支持面とのなす角度とが異なる場合、前記受光部から出力される出力値を補正し、
   及び／又は、
   前記交差する方向における位置が互いに異なる前記複数箇所に含まれる第３の箇所から前記特定箇所へ向かう光と前記支持面とのなす角度と、当該複数箇所に含まれる第４の箇所から当該特定箇所に向かう光と当該支持面とのなす角度とが異なる場合、前記受光部から出力される出力値を補正する、
   請求項１に記載の測定装置。
5. 前記プロセッサは、
   前記第１の箇所および前記第２の箇所のうちの前記なす角度が小さくなる方の箇所から前記特定箇所への光の照射が行われた際に前記受光部から出力された出力値を大きくし、及び／又は、なす角度が大きくなる方の箇所から当該特定箇所への光の照射が行われた際に当該受光部から出力された出力値を小さくし、
   及び／又は、
   前記第３の箇所および前記第４の箇所のうちの前記なす角度が小さくなる方の箇所から前記特定箇所への光の照射が行われた際に前記受光部から出力された出力値を大きくし、及び／又は、なす角度が大きくなる方の箇所から当該特定箇所への光の照射が行われた際に当該受光部から出力された出力値を小さくする、
   請求項４に記載の測定装置。
6. 前記一方向へ移動する移動体をさらに備え、
   前記光照射手段は、前記移動体に設けられ、
   前記一方向に沿って配置され、前記移動体に設けられた前記光照射手段による光の照射が行われ当該光照射手段から出射される光の変動の把握に用いられる基準部材がさらに設けられている請求項１に記載の測定装置。
7. 前記測定対象物を支持する支持面をさらに備え、
   前記一方向における位置が互いに異なる前記複数箇所に含まれる第１の箇所および第２の箇所のうちの少なくとも一方の箇所の側方であって当該一方の箇所を挟み他方の箇所が位置する側とは反対側に位置する当該側方には、当該一方の箇所に位置する光源からの光を前記支持面側に向けて且つ当該一方の箇所側に向けて反射させる光反射部材がさらに設けられ、
   及び／又は、
   前記交差する方向における位置が互いに異なる前記複数箇所に含まれる第３の箇所および第４の箇所のうちの少なくとも一方の箇所の側方であって当該一方の箇所を挟み他方の箇所が位置する側とは反対側に位置する当該側方には、当該一方の箇所に位置する光源からの光を前記支持面側に向けて且つ当該一方の箇所側に向けて反射させる光反射部材がさらに設けられている、
   請求項１に記載の測定装置。
8. 前記一方向における位置が互いに異なる前記複数箇所に含まれる第１の箇所および第２の箇所のうちの少なくとも一方の箇所には、当該一方向における位置が互いに異なる複数の光源が設けられ、
   及び／又は、
   前記交差する方向における位置が互いに異なる前記複数箇所に含まれる第３の箇所および第４の箇所のうちの少なくとも一方の箇所には、当該交差する方向における位置が互いに異なる複数の光源が設けられている、
   請求項１に記載の測定装置。
9. 前記光照射手段として、共通の方向に沿って配置された第１の点光源列および第２の点光源列が設けられ、
   前記プロセッサは、
   前記第１の点光源列に含まれる第１の点光源と、前記第２の点光源列に含まれる第２の点光源とを順に点灯させて、前記一方向における位置が互いに異なる複数箇所から前記特定箇所への光の照射を行い、
   前記第１の点光源列に含まれる第３の点光源と、前記第２の点光源列に含まれる第４の点光源とを順に点灯させて、前記交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から前記特定箇所への光の照射を行う、
   請求項１に記載の測定装置。
10. 前記プロセッサは、
    前記共通の方向における位置が互いに異なる前記第１の点光源および前記第２の点光源を順に点灯させて、前記一方向における位置が互いに異なる複数箇所から前記特定箇所への光の照射を行い、
    前記共通の方向において前記第１の点光源よりも前記第２の点光源側に位置する前記第３の点光源と、当該共通の方向において当該第２の点光源よりも当該第１の点光源側に位置する前記第４の点光源とを順に点灯させて、前記交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から前記特定箇所への光の照射を行う、
    請求項９に記載の想定装置。
11. 前記光照射手段として、共通の方向に沿って配置された第１の点光源列および第２の点光源列が設けられ、
    前記特定箇所は、複数設定され、複数の当該特定箇所は、前記共通の方向における位置が互いに異なるように配置され、
    前記プロセッサは、
    前記第１の点光源列に含まれる複数の点光源の点灯と、前記第２の点光源列に含まれる複数の点光源の点灯とを順に行い、複数の前記特定箇所に各々に対し、一方向における位置が互いに異なる複数箇所からの光の照射を行い、
    前記第１の点光源列に含まれる前記複数の点光源とは異なる他の複数の点光源の点灯と、前記第２の点光源列に含まれる前記複数の点光源とは異なる他の複数の点光源の点灯とを順に行い、複数の前記特定箇所に各々に対し、前記一方向と交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所からの光の照射を行う、
    請求項１に記載の測定装置。
12. 前記測定対象物を支持する支持面と、
    前記特定箇所からの反射光を受光する受光部と、
    をさらに備え、
    前記プロセッサは、
    前記支持面に対する垂線であって前記特定箇所を通る垂線から前記第１の点光源を見た場合の方位と、当該垂線から前記第２の点光源を見た場合の方位とのなす角度が１８０°以外となる場合、前記受光部から出力される出力値を補正し、
    及び／又は、
    前記支持面に対する垂線であって前記特定箇所を通る垂線から前記第３の点光源を見た場合の方位と、当該垂線から前記第４の点光源を見た場合の方位とのなす角度が１８０°以外となる場合、前記受光部から出力される出力値を補正する、
    請求項９に記載の測定装置。
13. プロセッサを備え、
    前記プロセッサは、
    測定対象物の表面を構成する各部分の各々の高さについての情報である高さ情報を取得し、
    前記測定対象物の表面の一の部分についての高さについての情報と、当該測定対象物の表面の他の部分についての高さについての情報とに基づき、当該測定対象物の表面の特定部分の傾きについての情報を取得する、
    情報処理装置。
14. 前記プロセッサは、
    前記一の部分についての高さについての情報と、前記他の部分についての高さについての情報とに基づき、当該一の部分、当該他の部分、および、当該一の部分と当該他の部分との間に位置する部分である中間部分のうちの少なくとも１つ以上の部分の傾きについての情報を取得する請求項１３に記載の情報処理装置。
15. 前記プロセッサは、
    測定対象物の表面を構成する前記各部分の各々の傾きについての情報に基づき、当該各部分の各々の前記高さについての前記情報を取得する請求項１３に記載の情報処理装置。
16. 前記プロセッサは、
    前記測定対象物の前記表面を構成し一方向に並ぶ前記各部分の各々の高さについての情報を取得するとともに、当該各部分が当該一方向に並ぶ各列毎に、当該各部分の高さについての情報を取得し、
    一の列に含まれる一の部分である第１部分についての高さについての情報と、他の列に含まれる一の部分である第２部分についての高さについての情報とに基づき、当該第１部分、当該第２部分、および、当該第１部分と当該第２部分との間に位置する部分である中間部分のうちの少なくとも１つ以上の部分の傾きについての情報を取得する請求項１３に記載の情報処理装置。
17. 測定対象物への光の照射を行う光照射手段と、当該光照射手段の制御を行うコンピュータとを備えた測定装置に設けられた当該コンピュータにより実行されるプログラムであり、
    一方向における位置が互いに異なる複数箇所から、前記測定対象物の特定箇所への光の照射を行わせる機能と、
    前記一方向と交差する方向における位置が互いに異なる複数箇所から、前記測定対象物の前記特定箇所への光の照射を行わせる機能と、
    を前記コンピュータに実現させるためのプログラム。
18. 測定対象物の表面を構成する各部分の各々の高さについての情報である高さ情報を取得する機能と、
    前記測定対象物の表面の一の部分についての高さについての情報と、当該測定対象物の表面の他の部分についての高さについての情報とに基づき、当該測定対象物の表面の特定部分の傾きについての情報を取得する機能と、
    をコンピュータに実現させるためのプログラム。

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