JP6745936B2 - 測定装置およびその制御方法 - Google Patents
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Description
図1により実施例1の測定装置の概観を示す。
図4のブロック図により測定装置の構成例を示す。マイクロプロセッサなどから構成される制御部100は、RAMをワークメモリとして、ROMやEEPROMなどの不揮発性メモリに格納されたプログラムを実行し、後述する構成を制御する。
一般に、BRDFモデルは、BRDFを拡散成分と正反射成分の和として表す。すなわち、
Ireflection = Ispecular + Idiffusion …(1)
ここで、Ireflectionは反射光の強度、
Ispecularは正反射光成分の強度、
Idiffusionは拡散反射光成分の強度。
Ispecular = Ilight(F[]/π){D[]G[]/(N・V)} …(2)
ここで、Ilightは入射光の強度、
F[]は反射角による反射係数変化を示すフレネル反射係数(式(3))、
D[]はマイクロファセット(micro facets)係数を用いたBechmann分布関数により表される反射面の微視的法線分布(式(4))、
G[]はD[]を用いて計算される微視的凹凸によるマスクシャドウイングを示す幾何減衰係数(式(5))、
Nは反射面の法線ベクトル、
Vは反射面の点からカメラ101の方向を示す視線方向ベクトル。
F[] = (Fp2 + Fs2)/2 …(3)
ここで、Fp = [cosθ - √{n2-(sinθ)2}]/[cosθ + √{n2-(sinθ)2}]、
Fs = [n2cosθ - √{n2-(sinθ)2}]/[cosθ + √{n2-(sinθ)2}]、
θは入射角、
nは反射面の屈折率。
D[] = {1/(4m2cos4α)}exp{-(tanα/m)2} …(4)
ここで、mは反射面の粗さ(マイクロファセット係数)、
αは半角ベクトルHと法線ベクトルNの角度、
Hは光源方向ベクトルLと視線方向ベクトルVの中間を向くベクトル(半角ベクトル)。
G[] = min[1, {2(N・H)(N・V)/(V・H)}, {2(N・H)(N・L)/(V・H)}] …(5)
ここで、min()は最小値を与える関数。
反射面のBRDF分布を取得するには、少なくとも、ライン光源104から出射され、反射面で正反射した光がカメラ101に入射するような位置(以下、正反射位置)を、ライン光源104によって走査しなければならない。さらに、上述した輝度推移のピークの裾部分の推移を取得しないと、正反射光成分を表現するBRDFのパラメータに対する推定精度が低下する。そのため、ライン光源104は正反射位置を通過するだけでは不充分であり、上記裾部分を充分捉えられる幅、言い換えれば、正反射位置の前後(正反射光成分が充分小さい位置からピークを跨いで正反射光成分が充分小さくなる位置まで)を走査する必要がある。
図7のフローチャートにより測定対象物107の撮影処理を説明する。なお、撮影処理は、図6に示す初期設定処理後に実行される。
カメラ101と測定対象物107の反射面は前もって構造により定まる距離、もしくはカメラ101のピント位置から知ることができる距離にあり、カメラ101と反射面の角度も前もって定まる角度にあるとする。この場合、マイクロファセット係数m以外のパラメータ、例えばフレネル反射係数やカメラ101との相対位置などは、カメラ101と反射面の位置関係で、反射面の各点ごとに自動的に定まる。従って、反射面上の各点における正反射光強度を定める(2)式において、未知数はマイクロファセット係数mのみである。
図9により実施例2の測定装置の概観を示す。実施例2の測定装置は、図1に示す実施例1の測定装置のライン光源104の代わりに、例えば液晶パネルのような発光型のディスプレイ114をライン状光源の形成に使用する。
図10によりライン状光源104の走査によって反射面上の点から得られる(カメラ101が撮影した)輝度推移例を示す。
ディスプレイ114を用いることで、走査するライン状パターンの幅や明るさを、反射面の照度や開き角を考慮して変更することができる。例えば、拡がり量Bの1/10にライン状パターンの幅を設定すれば、拡がり量Bが大きいときにライン状パターンの幅が太くなる。そのため、反射面の照度が大きくなり、撮影部101の露光時間を短くすることができ、測定時間の短縮を図ることができる。
Δy = ||OM|・{tan(θ+Δθ) - tan(θ-Δθ)}| …(6)
ここで、θ=tan-1(|OP|/|OM|)、
|OM|はディスプレイ114と測定対象物107の距離、
|OP|は点Oと走査位置Pの距離、
Δθは開き角(拡がり量Bから算出されるなど、予め設定される定数)。
ディスプレイ114を用いることで、ライン状パターン以外の発光パターンを走査し、BRDFを測定することが可能となる。例えば、点または円形の発光パターンを二次元走査することで、光源ベクトルLが二次元方向に移動した場合のBRDFを測定することが可能になる。
Px(θ, φ) = |OM|・tanθ・cosφ …(7)
Py(θ, φ) = |OM|・tanθ・sinφ …(8)
ΔDθ = √[{(Px(θ+Δθ, φ)-Px(θ-Δθ, φ)}2 + {Py(θ+Δθ, φ)-Py(θ-Δθ, φ)}2] …(9)
ΔDφ = √[{(Px(θ, φ+Δφ)-Px(θ, φ-Δφ)}2 + {Py(θ, φ+Δφ)-Py(θ, φ-Δφ)}2] …(10)
図9にはライン状パターン115を表示し走査するディスプレイ114と、反射面からの反射光を撮影するカメラ101を備えるコンピュータ機器である測定装置を示した。また、表示画面と同一面にカメラを備えるタブレットデバイスを測定装置として利用することが可能である。以下では、タブレットデバイスの利用例を説明する。なお、説明を簡単にするために、ライン状パターン115を一本とする。
図19のフローチャートによりBRDF分布の撮影処理の一例を説明する。以下の処理および機能は、タブレットデバイス116のマイクロプロセッサ(CPU)が、ユーザによってBRDF分布の撮影が指示された後、BRDF分布の撮影用プログラムを実行することで実現される。
図20、図21のフローチャートによりBRDF分布の算出処理の一例を説明する。以下の処理は、タブレットデバイス116のCPUが、BRDF分布の撮影が終了した後、BRDF分布の算出用プログラムを実行することで実現される。
図22のフローチャートによりCGレンダリングのプレビュー処理の一例を説明する。以下の処理は、タブレットデバイス116のCPUが、BRDF分布の算出が終了した後、CGレンダリングのプレビュー用プログラムを実行することで実現される。
プレビュー処理の印刷(S508)において、CPUは、画像バッファに格納した拡散色テクスチャのRGBデータに加えて、BRDFパラメータテクスチャに基づく透明色材用(または無色色材用)の色成分データをプリンタに出力することができる。以下では、透明色材用(または無色色材用)の色成分データを「CLデータ」と呼ぶ。図23(e)は拡散色テクスチャにCLデータを重ねた状態を示し、図23(f)は拡散色テクスチャのRGBデータに基づき印刷した画像上にCLデータに基づき透明色材を重畳した印刷結果を示す。
BRDF分布を撮影する際、測定対象物107(または反射面)の上方に方向性をもつ室内照明などが存在する場合、室内照明の正反射光が二次元撮像素子に入射して、BRDFの測定に誤差を生じさせる場合がある。その場合、ライン光源104に赤外波長の光源を用いて、室内照明にはほぼ含まれない赤外波長でBRDF分布を測定すればよい。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記録媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ(又はCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
Claims (7)
- 所定方向に移動し、測定対象物を照明するライン状光源と、
前記ライン状光源に照明された測定対象物を撮影する撮影部と、
前記測定対象物の大きさを取得し、取得された前記測定対象物の大きさおよび正反射光成分の拡がりに応じて前記ライン状光源の走査距離を設定し、前記ライン状光源の点灯消灯および移動、並びに、前記撮影部による撮影を制御する制御手段と、
前記撮影部が撮影した複数の画像から前記測定対象物の反射特性を推定する推定手段とを有する測定装置。 - 前記制御手段は、前記測定対象物の大きさ、並びに、前記測定対象物の種類または質感に応じて前記走査距離を設定する請求項1に記載された測定装置。
- 前記推定手段は、前記複数の画像の輝度変化から前記反射特性として、双方向反射率分布関数および拡散色を算出する請求項1又は2に記載された測定装置。
- 前記ライン状光源は赤外光を発光する請求項1乃至3の何れか一項に記載された測定装置。
- 所定方向に移動し、測定対象物を照明するライン状光源、および、前記ライン状光源に照明された測定対象物を撮影する撮影部を有する測定装置の制御方法であって、
前記測定対象物の大きさを取得し、
取得された前記測定対象物の大きさおよび正反射光成分の拡がりに応じて前記ライン状光源の走査距離を設定し、
前記ライン状光源の点灯消灯および移動、並びに、前記撮影部による撮影を制御し、
前記撮影部が撮影した複数の画像から前記測定対象物の反射特性を算出する制御方法。 - マイクロプロセッサを請求項1乃至4の何れか一項に記載された測定装置の各手段として機能させるためのプログラム。
- 請求項6に記載されたプログラムが記録された、コンピュータデバイスが読み取り可能な記録媒体。
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