JP2022054537A - ウエーハの加工方法 - Google Patents

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Yoshio Watanabe
健志 岡崎
Kenji Okazaki
吉輝 西田
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Abstract

【課題】プラズマエッチングを施してデバイスチップに分割しても、フッ素元素をダイシングテープに残存させることがなく、後の工程で汚染源となる問題を解消することができるウエーハの加工方法を提供する。【解決手段】フレームFの開口部Faにウエーハを位置付けると共にダイシングテープTをウエーハ10の下面10aとフレームFとに貼着してフレームユニット18を形成するフレームユニット形成工程と、ウエーハ10の上面10aに水溶性樹脂Pを被覆すると共にウエーハ10とフレームFとの間に露出するダイシングテープTに水溶性樹脂Pを被覆し固化して樹脂膜P’を形成する樹脂膜被覆工程と、ウエーハ10の分割すべき領域から樹脂膜P’を除去して部分的にウエーハ10の上面10aを露出させる部分的樹脂膜除去工程と、ウエーハ10の分割すべき領域にプラズマエッチングを施してウエーハ10を個々のチップ12’に分割するエッチング工程と、フレームユニット18を洗浄して樹脂膜P’を全て除去する全部樹脂膜除去工程と、を含み構成される。【選択図】図5

Description

本発明は、フッ素ガスを用いたプラズマエッチングによってウエーハを個々のデバイスチップに分割するウエーハの加工方法に関する。
IC、LSI等の複数のデバイスが分割予定ラインによって区画され表面に形成されたウエーハは、ダイシング装置によって個々のデバイスチップに分割され、携帯電話、パソコン等の電気機器に利用される。
また、デバイスチップの抗折強度を向上させるために、分割予定ラインを露出させたマスクでウエーハの上面を被覆し、フッ素系ガスによって分割予定ラインをプラズマエッチングしてウエーハを個々のデバイスチップに分割する技術が、本出願人によって提案されている(特許文献1を参照)。
特開2006-108428号公報
上記した特許文献1に記載の技術では、ウエーハを収容する開口部を中央に備えたフレームの該開口部にウエーハを位置付けると共に、ダイシングテープをウエーハの下面とフレームとに貼着してフレームユニットを形成し、その後、ウエーハの上面をマスクで被覆してプラズマエッチングを施してデバイスチップに分割する。これにより、個々のデバイスチップに分割されたウエーハを効率よく搬送することができる。
上記した技術によってウエーハを分割した場合、プラズマエッチングを実施した際に発生するフッ素元素が粘着層を有するダイシングテープに付着し、洗浄を行っても完全には除去することができず、ダイシングテープ上に残存する。よって、ダイシングテープを介してウエーハを保持したフレームユニットを後の工程に搬送すると、該ダイシングテープがフッ素元素を含む汚染源となるという問題がある。
本発明は、上記事実に鑑みなされたものであり、その主たる技術課題は、プラズマエッチングを施してデバイスチップに分割しても、フッ素元素をダイシングテープに残存させることがなく、後の工程で汚染源となる問題を解消することができるウエーハの加工方法を提供することにある。
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、フッ素ガスを用いたプラズマエッチングによってウエーハを個々のデバイスチップに分割するウエーハの加工方法であって、ウエーハを収容する開口部を中央に備えたフレームの該開口部にウエーハを位置付けると共にダイシングテープをウエーハの下面とフレームとに貼着してフレームユニットを形成するフレームユニット形成工程と、ウエーハの上面に水溶性樹脂を被覆すると共にウエーハとフレームとの間に露出するダイシングテープに水溶性樹脂を被覆し固化して樹脂膜を形成する樹脂膜被覆工程と、ウエーハの分割すべき領域から該樹脂膜を除去して部分的にウエーハの上面を露出させる部分的樹脂膜除去工程と、ウエーハの分割すべき領域にプラズマエッチングを施してウエーハを個々のチップに分割するエッチング工程と、フレームユニットを洗浄して樹脂膜を全て除去する全部樹脂膜除去工程と、を含み構成されるウエーハの加工方法が提供される。
該フッ素ガスは、SF、CF、C、Cのいずれかから選択され、ウエーハは、複数のデバイスが分割予定ラインによって区画され、上面に形成されていることが好ましい。
本発明のウエーハの加工方法は、フッ素ガスを用いたプラズマエッチングによってウエーハを個々のデバイスチップに分割するウエーハの加工方法であって、ウエーハを収容する開口部を中央に備えたフレームの該開口部にウエーハを位置付けると共にダイシングテープをウエーハの下面とフレームとに貼着してフレームユニットを形成するフレームユニット形成工程と、ウエーハの上面に水溶性樹脂を被覆すると共にウエーハとフレームとの間に露出するダイシングテープに水溶性樹脂を被覆し固化して樹脂膜を形成する樹脂膜被覆工程と、ウエーハの分割すべき領域から該樹脂膜を除去して部分的にウエーハの上面を露出させる部分的樹脂膜除去工程と、ウエーハの分割すべき領域にプラズマエッチングを施してウエーハを個々のチップに分割するエッチング工程と、フレームユニットを洗浄して樹脂膜を全て除去する全部樹脂膜除去工程と、を含み構成されるので、フッ素元素は樹脂膜によって捕獲されて洗浄によって樹脂と共に除去されて、ダイシングテープに付着することがなく、フレームユニットが汚染源となるという問題が解消する。
フレームユニット形成工程の実施態様を示す斜視図である。 スピンコータの斜視図である。 樹脂膜被覆工程の実施態様を示す斜視図である。 (a)部分的樹脂膜除去工程の実施態様を示す斜視図、(b)(a)に示す部分的樹脂膜除去工程を実施している状態のウエーハの一部拡大断面図である。 (a)エッチング工程の実施態様を示す斜視図、(b)(a)に示すエッチング工程を実施している状態のウエーハの一部拡大断面図である。 全部樹脂膜除去工程の実施態様を示す斜視図である。
以下、本発明に基づいて構成されるウエーハの加工方法に係る実施形態について、添付図面を参照しながら、詳細に説明する。
図1には、本実施形態において被加工物となるウエーハ10が示されている。ウエーハ10は、例えば、IC、LSI等の複数のデバイス12が分割予定ライン14によって区画され表面10aに形成されたシリコンウエーハである。本実施形態のウエーハの加工方法を実施するに際し、このウエーハ10を収容する開口部Faを中央に備えたフレームFを用意し、フレームFの開口部Faにウエーハ10を位置付けると共にダイシングテープTをウエーハ10の下面10bとフレームFとに貼着して一体化しフレームユニット18を形成する(フレームユニット形成工程)。
次いで、ウエーハ10の上面(本実施形態では、表面10a)に水溶性樹脂を被覆すると共にウエーハ10とフレームFとの間に露出するダイシングテープTに水溶性樹脂を被覆して固化し樹脂膜を形成する(樹脂膜被覆工程)。
上記した樹脂膜被覆工程について、図2、図3を参照しながら、より具体的に説明する。該樹脂膜被覆工程を実施するに際し、上記したフレームユニット18を、図2に示すスピンコータ20に搬送する。
図2に示すように、スピンコータ20は、テーブル機構21と、テーブル機構21を囲むカバー部30とを備える。なお、図2は、スピンコータ20の斜視図であり、説明の都合上、カバー部30を構成する液カバー31の手前側の一部を切り欠いて示している。図2から理解されるように、テーブル機構21は、フレームユニット18を保持するテーブル22を備えている。テーブル22は、通気性を有するポーラス部材により形成された吸着チャック221と、吸着チャック221を囲繞する枠部222とにより構成され、吸着チャック221は図示を省略する吸引源に接続されて吸引負圧が供給される。さらに、テーブル機構21は、軸部24を備え、軸部24の内部に収容された回転シャフト(図示は省略する)を介して駆動源25に接続されている。該回転シャフトは、駆動源25内に収容された電動モータ(図示は省略する)によって駆動され、テーブル22を回転駆動する。駆動源25の外周にはエアピストン26が複数配設されて、ロッド26aを図中矢印で示す上下方向で進退させることで、テーブル22、軸部24、及び駆動源25を一体的に昇降させる。前記した軸部24、及び駆動源25は、テーブル22を支持する基台として機能する。
液カバー31の内側の底面31aには、液カバー31の内側に噴射された液体を排出するドレーン孔32が配設され、ドレーン孔32には液カバー31の外部に配設された廃棄タンク(図示は省略)に該液体を排出するドレーンホース33が接続されている。さらに、液カバー31の底面31aには、テーブル22を囲むようにして、テーブル22に保持されるウエーハ10の上面に水溶性樹脂(例えば、ポリビニルアルコール(PVA))を液状で供給する水溶性樹脂供給ノズル34と、ウエーハ10の上面にエアーを噴射するエアー噴射ノズル35と、ウエーハ10の上面から洗浄液を噴射する洗浄液供給ノズル36とが配設されている。前記した水溶性樹脂供給ノズル34、エアー噴射ノズル35、及び洗浄液供給ノズル36は、液カバー31の底面31aの裏面側に配設される駆動手段(図示は省略している)を作動させることにより、各ノズルの先端部を、テーブル22の上方で水平方向に移動させることができる。図2に示すように、テーブル22が、ウエーハ10を搬入したり、搬出したりする位置(上昇位置)に位置付けられた状態では、水溶性樹脂供給ノズル34、エアー噴射ノズル35、及び洗浄液供給ノズル36は、外周側方向の収納位置に位置付けられる。
スピンコータ20に搬送されたフレームユニット18は、図3に示すように、テーブル22上に載置され、図示を省略する吸引源を作動させることにより吸引保持される。フレームユニット18を吸引保持させたならば、エアピストン26を作動して、図3に示す如く被加工位置にフレームユニット18を下降させる。次いで、駆動源25の内部に配設された電動モータを駆動して、フレームユニット18を矢印R1で示す方向に所定の回転速度(例えば300rpm)で回転させると共に、水溶性樹脂供給ノズル34を図中矢印R2で示す方向(水平方向)に揺動させながら水溶性樹脂Pを噴射し、ウエーハ10の上面(表面10a)と、ウエーハ10とフレームFとの間に露出するダイシングテープT上に、所定量の液状の水溶性樹脂P(例えば、PVA)を供給する。なお、図示は省略するが、スピンコータ20の上方には蓋部材が配設され、水溶性樹脂供給ノズル34、エアー噴射ノズル35、及び洗浄液供給ノズル36から液体、エアー等を噴射する場合は、該蓋体によってカバー部30の上方が閉塞される。
上記したように、ウエーハ10の上面、及びダイシングテープT上に水溶性樹脂Pを塗布し、遠心力によりウエーハ10の上面全体に均一に供給した後、所定時間経過することで該液状の水溶性樹脂Pが固化して、図3の下方側に示すように、ウエーハ10の上面と、ウエーハ10及びフレームFの間に露出するダイシングテープTとを被覆する樹脂膜P’が形成される。以上により、樹脂膜被覆工程が完了する。
次いで、ウエーハ10の分割すべき領域(本実施形態では、分割予定ライン14)から樹脂膜P’を除去して部分的にウエーハ10の上面(表面10a)を露出させる部分的樹脂膜除去工程を実施する。図4を参照しながら、該部分的樹脂膜除去工程について説明する。
樹脂膜被覆工程が実施されたことによりウエーハ10の上面、及びダイシングテープT上に樹脂膜P’が形成されたフレームユニット18は、図4(a)に示すレーザー加工装置40(一部のみ示している)に搬送される。レーザー加工装置40は、フレームユニット18を保持するチャックテーブル(図示は省略する)と、該チャックテーブルを回転駆動すると共に、X軸方向及びY軸方向に移動させる移動手段(図示は省略する)と、アライメント手段(図示は省略する)と、レーザー光線照射手段41とを少なくとも備えている。レーザー光線照射手段41は、レーザー光線LBを発振し該レーザー光線LBの出力を調整して、集光器42に導く光学系(図示は省略している)を備えている。
レーザー加工装置40に搬送されたフレームユニット18は、該チャックテーブルに載置されて吸引保持される。次いで、該移動手段を作動して、フレームユニット18のウエーハ10を該アライメント手段の直下に移動して、該アライメント手段によりウエーハ10を撮像し、所定のレーザー加工位置(分割予定ライン14)を検出する。次いで、該移動手段を作動して、フレームユニット18をレーザー光線照射手段41の集光器42の直下に移動し、集光点をウエーハ10の表面10aの分割予定ライン14上に被覆された樹脂膜P’に位置付けて、ウエーハ10を図中X軸方向に移動させながら、分割予定ライン14に沿ってレーザー光線LBを照射する。このとき照射されるレーザー光線LBは、樹脂膜P’によって吸収される波長であって、ウエーハ10の表面10aをアブレーション加工しない程度の出力となるように設定されている。
上記したレーザー光線LBが照射されることにより、図4(b)に示すように、ウエーハ10において分割すべき領域、すなわち、分割予定ライン14上から樹脂膜P’が除去されて、分割予定ライン14に沿ってウエーハ10の表面10aが露出した露出溝100が形成される。所定の方向に形成された分割予定ライン14に沿って該露出溝100を形成したならば、該移動手段を作動させて、ウエーハ10をY軸方向に割り出し送りして、上記したレーザー光線LBの照射を行い、所定の方向に形成された全ての分割予定ライン14に沿って露出溝100を形成する。次いで、該チャックテーブルを90度回転させて、先に露出溝100を形成した分割予定ライン14に直交する方向に沿う分割予定ライン14をX軸方向に整合させて、上記したのと同様に、X軸方向に沿う全ての分割予定ライン14に沿ってレーザー光線LBを照射して露出溝100を形成する。以上により、ウエーハ10の表面10aに形成された全ての分割予定ライン14に沿って露出溝100が形成され、部分的樹脂膜除去工程が完了する。
上記した部分的樹脂膜除去工程を実施したならば、次いで、ウエーハ10の分割すべき領域、すなわち、分割予定ライン14に沿ってプラズマエッチングを施して、ウエーハ10を個々のチップに分割するエッチング工程を実施する。図5を参照しながら、該エッチング工程について、より具体的に説明する。
上記したように部分的樹脂膜除去工程を実施したならば、図5(a)に示すように、フレームユニット18を、詳細な図示を省略するプラズマ装置50に搬送する。プラズマ装置50は、周知のプラズマ装置を使用することができる。例えば、プラズマ装置50は、密閉空間をなすエッチングチャンバーと、エッチングチャンバー内に配設される上部電極及び下部電極と、エッチングチャンバー内において、上部電極から下部電極側に向けてエッチングガスを噴出するガス供給ユニット等を備えている(いずれも図示は省略している)。ここで、該上部電極と該下部電極間に、部分的樹脂膜除去工程が施されたフレームユニット18のウエーハ10の表面10a側を上方に向けて載置して保持し、エッチングチャンバー内にエッチングガスとしてフッ素系ガスを供給すると共に上部電極にプラズマを発生させる高周波電力を印加する。なお、フッ素系ガスは、例えば、SF、CF、C、Cのいずれかから選択され供給される。
そして、上部電極と下部電極との間の空間に、プラズマ化されたエッチングガスを発生させて、プラズマ化されたエッチングガスがウエーハ10側に供給される。ここで、上記した部分的樹脂膜除去工程を経てプラズマ装置50に搬送されたフレームユニット18は、上記した露出溝100を除いた領域が樹脂膜P’によって保護されている。これにより、上記したプラズマ装置50においては、図5(b)に示すように、露出溝100に沿って、すなわち、分割予定ライン14に沿ってプラズマエッチングが施されて、ダイシングテープTに達する分割溝110が形成され、ウエーハ10は、個々のデバイスチップ12’に分割されて、エッチング工程が完了する。
上記したエッチング工程を実施したならば、フレームユニット18を洗浄して樹脂膜P’を全て除去する全部樹脂膜除去工程を実施する。図6を参照しながら、該全部樹脂膜除去工程について、より具体的に説明する。
図6の右上方に示すエッチング工程を施したフレームユニット18を、前述のスピンコータ20に搬送し、ウエーハ10の表面10a側を上方に向けてテーブル機構21に載置し、吸引保持する。次いで、駆動源25に配設された電動モータを駆動して、テーブル機構21を矢印R3で示す方向に所定の回転速度(例えば300rpm)で回転させると共に、洗浄液供給ノズル36を図中矢印R4で示す方向(水平方向)に揺動させて、ウエーハ10の上面(表面10a)と、ダイシングテープT上に、洗浄液L(例えば純水)を所定時間の間噴射する。これにより、ウエーハ10、及びダイシングテープT上に被覆されていた樹脂膜P’が溶融して液カバー31内に排出される。溶融して排出された樹脂膜P’は、液化カバー31の底面31aを流れ、ドレーン孔32、ドレーンホース33を介して所定の廃棄タンクに収容される。次いで、洗浄液供給ノズル36を収容位置に退避させて、エアー噴射ノズル35を作動して、エアー噴射ノズル35の先端を、ウエーハ10上の中央領域に移動させてエアーをウエーハ10の表面10a側に向けて噴射して水平方向に揺動させながら(図示は省略する)、テーブル機構21を高速回転させ(例えば3000rpm)、ウエーハ10の表面10aを含むフレームユニット18上を乾燥させて全部樹脂膜除去工程が完了する。この全部樹脂膜除去工程を実施することにより、フレームユニット18上に残存していたフッ素元素が溶融した樹脂膜P’に捕獲されて一緒に排出されて、ダイシングテープTに付着することなくドレーンホース33を介して該廃棄タンクに収容される。
上記したように全部樹脂膜除去工程を実施したならば、図6の右下方側に示すように、スピンコータ20からフレームユニット18を搬出して、次の工程、例えば、フレームユニット18から個々に分割されたデバイスチップ12’をピックアップするピックアップ装置に搬送する。このとき、ウエーハ10上、及びダイシングテープT上には、フッ素元素が残存しておらず、後工程を実施する領域を汚染する汚染源となるという問題が解消する。
10:ウエーハ
10a:表面
10b:裏面
12:デバイス
14:分割予定ライン
18:フレームユニット
20:スピンコータ
21:テーブル機構
22:テーブル
221:吸着チャック
222:枠部
24:軸部
25:駆動源
26:エアピストン
26a:ロッド
30:カバー部
31:液カバー
31a:底面
32:ドレーン孔
33:ドレーンホース
34:水溶性樹脂供給ノズル
35:エアー噴射ノズル
36:洗浄液供給ノズル
100:露出溝
110:分割溝
F:フレーム
Fa:開口部
T:ダイシングテープ
P0:水溶性樹脂
P:樹脂膜

Claims (2)

  1. フッ素ガスを用いたプラズマエッチングによってウエーハを個々のデバイスチップに分割するウエーハの加工方法であって、
    ウエーハを収容する開口部を中央に備えたフレームの該開口部にウエーハを位置付けると共にダイシングテープをウエーハの下面とフレームとに貼着してフレームユニットを形成するフレームユニット形成工程と、
    ウエーハの上面に水溶性樹脂を被覆すると共にウエーハとフレームとの間に露出するダイシングテープに水溶性樹脂を被覆し固化して樹脂膜を形成する樹脂膜被覆工程と、
    ウエーハの分割すべき領域から該樹脂膜を除去して部分的にウエーハの上面を露出させる部分的樹脂膜除去工程と、
    ウエーハの分割すべき領域にプラズマエッチングを施してウエーハを個々のチップに分割するエッチング工程と、
    フレームユニットを洗浄して樹脂膜を全て除去する全部樹脂膜除去工程と、
    を含み構成されるウエーハの加工方法。
  2. 該フッ素ガスは、SF、CF、C、Cのいずれかから選択され、ウエーハは、複数のデバイスが分割予定ラインによって区画され、上面に形成されている請求項1に記載のウエーハの加工方法。
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