JP2021516794A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2021516794A5
JP2021516794A5 JP2020551913A JP2020551913A JP2021516794A5 JP 2021516794 A5 JP2021516794 A5 JP 2021516794A5 JP 2020551913 A JP2020551913 A JP 2020551913A JP 2020551913 A JP2020551913 A JP 2020551913A JP 2021516794 A5 JP2021516794 A5 JP 2021516794A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light beam
light
optical
incident
optical path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2020551913A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2021516794A (ja
JP7073523B2 (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from CN201811125387.8A external-priority patent/CN108957720B/zh
Application filed filed Critical
Publication of JP2021516794A publication Critical patent/JP2021516794A/ja
Publication of JP2021516794A5 publication Critical patent/JP2021516794A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7073523B2 publication Critical patent/JP7073523B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2020551913A 2018-09-26 2018-12-14 Ｓｔｅｄ光学顕微鏡に用いる照明システム及びｓｔｅｄ光学顕微鏡 Active JP7073523B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811125387.8A CN108957720B (zh) 2018-09-26 2018-09-26 受激辐射损耗光学显微镜及其照明系统
CN201811125387.8 2018-09-26
PCT/CN2018/121206 WO2020062609A1 (zh) 2018-09-26 2018-12-14 用于sted光学显微镜的照明系统及sted光学显微镜

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2021516794A JP2021516794A (ja) 2021-07-08
JP2021516794A5 true JP2021516794A5 (https=) 2022-01-06
JP7073523B2 JP7073523B2 (ja) 2022-05-23

Family

ID=64471900

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020551913A Active JP7073523B2 (ja) 2018-09-26 2018-12-14 Ｓｔｅｄ光学顕微鏡に用いる照明システム及びｓｔｅｄ光学顕微鏡

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11726309B2 (https=)
EP (1) EP3757650B1 (https=)
JP (1) JP7073523B2 (https=)
CN (1) CN108957720B (https=)
WO (1) WO2020062609A1 (https=)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108957720B (zh) 2018-09-26 2019-12-10 中国科学院化学研究所 受激辐射损耗光学显微镜及其照明系统
CN210155403U (zh) * 2019-03-18 2020-03-17 苏州溢博伦光电仪器有限公司 一种用于显微物镜的扫描器件
CN110068560B (zh) * 2019-04-17 2021-08-06 深圳大学 一种受激辐射损耗超分辨成像系统及方法
WO2020211018A1 (zh) * 2019-04-17 2020-10-22 深圳大学 一种受激辐射损耗超分辨成像系统及方法
US11271747B2 (en) * 2019-09-16 2022-03-08 Lawrence Livermore National Security, Llc Optical authentication of images
CN111855544B (zh) * 2020-07-31 2021-11-26 上海微电子装备（集团）股份有限公司 一种荧光成像装置及其成像方法
CN113484320B (zh) * 2021-07-01 2024-08-02 西北大学 一种远场光学超薄片层成像系统及方法
CN113866973B (zh) * 2021-10-12 2023-10-03 桂林电子科技大学 一种基于多阶光纤模式复用的光纤sted显微镜
CN114324156B (zh) * 2021-11-18 2025-02-25 中国科学院化学研究所 受激辐射损耗显微镜及其显微成像系统
AU2022402003A1 (en) * 2021-12-02 2024-06-20 Enspectra Health, Inc. Systems and methods for light manipulation
CN114280802A (zh) * 2021-12-28 2022-04-05 中国华录集团有限公司 一种单光源超分辨光存储光学系统
CN114706208B (zh) * 2022-02-18 2023-01-17 中国科学院化学研究所 受激辐射损耗光学显微镜及其显微成像系统
CN115508994A (zh) * 2022-09-14 2022-12-23 郑州思昆生物工程有限公司 一种显微成像系统
CN115728869B (zh) * 2022-11-15 2025-10-24 昂纳科技(深圳)集团股份有限公司 一种可调谐光滤波器
CN117129426B (zh) * 2023-08-08 2024-08-13 华东师范大学 一种超快时间分辨圆偏振发射光谱仪
KR102899140B1 (ko) * 2023-08-28 2025-12-10 고려대학교 산학협력단 편광 위상 현미경 시스템
CN119804345A (zh) * 2024-12-30 2025-04-11 长春理工大学中山研究院 一种对称式单lcvr偏振成像系统及成像方法

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003262798A (ja) 2002-03-12 2003-09-19 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡
JP4334835B2 (ja) * 2002-08-28 2009-09-30 独立行政法人科学技術振興機構 顕微鏡
DE102007025688A1 (de) 2007-06-01 2008-12-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Wellenlängen- oder polarisationssensitiver optischer Aufbau und dessen Verwendung
DE102010060121C5 (de) * 2010-10-22 2023-09-28 Leica Microsystems Cms Gmbh SPIM-Mikroskop mit sequenziellem Lightsheet
JP5984351B2 (ja) * 2011-09-14 2016-09-06 キヤノン株式会社 計測装置
CA2854675C (en) * 2011-11-08 2017-08-22 Universite Laval Method and system for improving resolution in laser imaging microscopy
CN102540439B (zh) 2011-12-30 2013-10-30 哈尔滨工业大学 基于反射式液晶空间光调制器的共焦轴向扫描装置及共焦轴向扫描方法
JP5988643B2 (ja) 2012-03-26 2016-09-07 キヤノン株式会社 計測装置、計測方法及び光学部品の製造方法
GB201217171D0 (en) * 2012-08-23 2012-11-07 Isis Innovation Stimulated emission depletion microscopy
CN103257130B (zh) * 2013-05-31 2015-04-01 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 受激辐射损耗显微成像系统
US9766180B2 (en) * 2013-06-03 2017-09-19 Stichting Vu-Vumc Method and system for imaging a molecular strand
JP6613552B2 (ja) 2013-09-09 2019-12-04 株式会社ニコン 超解像観察装置及び超解像観察方法
CN103616330A (zh) 2013-11-18 2014-03-05 中国科学院化学研究所 基于超连续产生的宽带激光光源激发的超分辨sted显微成像系统
US10247672B2 (en) * 2014-09-29 2019-04-02 Howard Hughes Medical Institute Non-linear structured illumination microscopy
WO2017174100A1 (de) 2016-04-08 2017-10-12 Universität Heidelberg Parallelisierung des sted-mikroskopieverfahrens
DE102016211374A1 (de) * 2016-06-24 2017-12-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskopieverfahren unter Nutzung zeitlicher Fokusmodulation und Mikroskop
US9880377B1 (en) * 2016-09-09 2018-01-30 Photonicsys Ltd. Multiple wavelengths real time phase shift interference microscopy
CN106841149B (zh) * 2017-03-17 2021-05-28 王富 受激辐射损耗显微装置
CN107329245B (zh) * 2017-07-06 2023-05-05 中国科学院西安光学精密机械研究所 基于径向偏振调制的干涉式结构光照明显微镜系统与方法
CN108121059B (zh) * 2017-11-18 2022-01-28 苏州国科医工科技发展(集团)有限公司 一种基于结构光照明的sted并行显微成像系统
CN108957720B (zh) 2018-09-26 2019-12-10 中国科学院化学研究所 受激辐射损耗光学显微镜及其照明系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2021516794A5 (https=)
JP7073523B2 (ja) Ｓｔｅｄ光学顕微鏡に用いる照明システム及びｓｔｅｄ光学顕微鏡
JP6782834B2 (ja) 広帯域光源を基にマルチチャネル可調照明を生成するシステム及び方法
CN108072970B (zh) 光镊光片显微成像装置和方法
JP5253761B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡
EP3893039B1 (en) Oblique plane microscope for imaging a sample
CN110632045A (zh) 一种产生并行超分辨焦斑的方法和装置
WO2020034299A1 (zh) 一种并行多区域成像装置
US12345867B2 (en) Oblique plane microscopy
US20100315709A1 (en) Forming light beams and patterns with zero intensity central points
CN103852458B (zh) 一种基于宽场受激发射差分的显微方法和装置
CN110068560B (zh) 一种受激辐射损耗超分辨成像系统及方法
JP2008033263A (ja) 蛍光検査用の走査型レーザ顕微鏡
WO2023221400A1 (zh) 超分辨单物镜光片显微成像光学系统及其成像系统
CN211086784U (zh) 一种显微镜阵列
JP2004537747A (ja) 光学装置及び走査顕微鏡
CN103837513A (zh) 一种基于差分的光片照明显微方法和装置
CN102566076A (zh) 多焦点光束产生装置及多焦点共焦扫描显微镜
JP2009540346A5 (https=)
US20060214106A1 (en) Point scanning laser scanning microscope and methods for adjustment of a microscope
CN112326609A (zh) 基于偏振复用的实时三维荧光差分超分辨成像方法和装置
CN111879737A (zh) 一种产生高通量超衍射极限焦斑的装置和方法
CN112305741B (zh) 一种轴向多焦点光学系统
KR20160114342A (ko) 간섭 빔을 이용한 절단용 광학기기
CN119518408A (zh) 一种相干拉曼散射显微镜的背景信号抑制系统