JP2021515324A - 電圧レベル及びドループイベントのオンボードモニタリング - Google Patents
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Abstract
Description
最新のプロセッサ設計は、従来の設計と比較して、より多くの電力を消費し、回路密度を高める傾向が続いている。このような傾向により、ノイズや他の変動(プロセッサ負荷の変化による電圧レベルの変化等)に対する許容度が低くなり、プロセッサのパワーバジェットに対する要求が厳しくなる。閾値の大きさを超えると、これらの変動は、電圧「ドループ」と呼ばれる。ドループは、プロセッサの動作に悪影響を与える可能性がある。例えば、ドループは、データ破損、論理ゲートの動作の失敗、命令処理のスローダウン、及び、命令全体の適切な実行の失敗等の望ましくない影響を引き起こす可能性がある。しかしながら、従来のプロセッサ設計における電圧及びドループの検出及びモニタリングは、比較的非効率的である。
Claims (20)
- 第1検出器(130A)によって、プロセッサ(100)の第1ポイントにおいて第1電圧レベル(212)をモニタリングすることであって、前記第1検出器は、第1リングオシレータ(206)を含み、前記第1検出器は、前記第1電圧レベルを示す第1カウント(214)を生成する、ことと、
前記第1カウントを所定の第1閾値(216)と比較して、第1電圧ドループ状態を検出することと、
前記第1電圧ドループ状態を検出したことに応じて、第1クロック信号(116)の周波数を調整することと、を含む、
方法。 - 前記第1電圧ドループ状態を検出したことに応じて、第2クロック信号(118)の周波数を調整することをさらに含む、
請求項1の方法。 - 前記第2クロック信号の周波数を調整することは、前記第1クロック周波数を調整することとは異なる大きさで前記第2クロック信号の周波数を調整することを含む、
請求項2の方法。 - 前記第1電圧ドループ状態を検出したことに応じて、前記プロセッサがサイクル当たりに実行する動作の数を調整することをさらに含む、
請求項1の方法。 - 第2検出器(130B)によって、前記プロセッサの第2ポイントにおいて第2電圧レベルをモニタリングすることであって、前記第2検出器は、第2リングオシレータを含み、前記第2検出器は、前記第2電圧レベルを示す第2カウントを生成する、ことと、
前記第2カウントを所定の第2閾値と比較して、第2電圧ドループ状態を検出することと、
前記第2電圧ドループ状態を検出したことに応じて、第2クロック信号の周波数を調整することと、をさらに含む、
請求項1の方法。 - 前記第1閾値は、前記第2閾値とは異なる、
請求項5の方法。 - 前記第2クロック信号の周波数を調整することは、前記第1クロック周波数を調整することとは異なる大きさで前記第2クロック信号の周波数を調整することを含む、
請求項5の方法。 - 複数の検出器(130)によって、プロセッサ(100)上の複数のポイントにおいて電圧レベルをモニタリングすることであって、各検出器は、リングオシレータ(206)を含み、各検出器は、対応する電圧レベルを示すカウント(214)を生成する、ことと、
前記カウントを複数の所定の閾値(216)と比較して、第1電圧ドループ状態を検出することと、
前記第1電圧ドループ状態に基づいて複数のクロック(116,118)の周波数を調整することと、を含む、
方法。 - 前記検出器は、異なる大きさで前記複数のクロックのうち異なるクロックの周波数を調整する、
請求項8の方法。 - 前記カウントを前記複数の所定の閾値と比較して、第2電圧ドループ状態を検出することと、
前記第2電圧ドループ状態に基いて前記複数のクロックの周波数を調整することと、をさらに含む、
請求項8の方法。 - 前記比較することに基づいて、前記プロセッサが実行する動作の数を低減させることをさらに含む、
請求項8の方法。 - プロセッサ(100)上の第1ポイントに配置された第1検出器(130A)であって、前記第1検出器は、第1電圧レベル(212)をモニタリングし、前記第1検出器は、第1リングオシレータ(206)を含み、前記第1検出器は、前記第1電圧レベルを示す第1カウント(214)を生成する、第1検出器と、
前記第1カウントを所定の第1閾値(216)と比較して、第1電圧ドループ状態を検出する第1比較モジュール(208)と、
第1クロック制御モジュール(120)と、を備え、
前記第1クロック制御モジュールは、前記第1比較モジュールが前記第1電圧ドループ状態を検出したことに応じて、第1クロック信号(116)の周波数を調整する、
モニタリングシステム。 - 前記第1クロック制御モジュールは、前記第1比較モジュールが前記第1電圧ドループ状態を検出したことに応じて、第2クロック信号(118)の周波数を調整する、
請求項12のモニタリングシステム。 - 前記第1クロック制御モジュールは、前記第1クロック周波数とは異なる大きさで前記第2クロック信号の周波数を調整する、
請求項13のモニタリングシステム。 - 前記プロセッサは、前記第1比較モジュールが前記第1電圧ドループ状態を検出したことに応じて、前記プロセッサがサイクル当たりに実行する動作の数を調整する、
請求項12のモニタリングシステム。 - プロセッサ上の第2ポイントに配置された第2検出器(130B)であって、前記第2検出器は、第2電圧レベルをモニタリングし、前記第2検出器は、第2リングオシレータを含み、前記第2検出器は、前記第2電圧レベルを示す第2カウントを生成する、第2検出器と、
前記第2カウントを所定の第2閾値と比較して、第2電圧ドループ状態を検出する第2比較モジュールと、
第2クロック制御モジュールであって、前記第2クロック制御モジュールは、第2クロック信号の周波数を調整する、第2クロック制御モジュールと、をさらに備える、
請求項12のモニタリングシステム。 - 前記第1閾値は、前記第2閾値とは異なる、
請求項16のモニタリングシステム。 - 前記第2クロック制御モジュールは、前記第1クロック制御モジュールが前記第1クロック信号の周波数を調整することとは異なる大きさで前記第2クロック信号の周波数を調整する、
請求項16のモニタリングシステム。 - 前記第1クロック信号は、前記プロセッサのプロセッサコアに供給され、前記第2クロック信号は、前記プロセッサのキャッシュに供給される、
請求項16のモニタリングシステム。 - 前記プロセッサは、前記第2比較モジュールが前記第2電圧ドループ状態を検出したことに応じて、前記プロセッサが実行する動作の数を低減させる、
請求項16のモニタリングシステム。
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