JP2021502474A - 可動シールドキャリアを有する装置 - Google Patents

可動シールドキャリアを有する装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2021502474A
JP2021502474A JP2020503993A JP2020503993A JP2021502474A JP 2021502474 A JP2021502474 A JP 2021502474A JP 2020503993 A JP2020503993 A JP 2020503993A JP 2020503993 A JP2020503993 A JP 2020503993A JP 2021502474 A JP2021502474 A JP 2021502474A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mask
vacuum chamber
shield
transport
vacuum
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2020503993A
Other languages
English (en)
Inventor
セバスチャン グンター ザン,
セバスチャン グンター ザン,
アンドレアス ザウアー,
アンドレアス ザウアー,
マティーアス クレープス,
マティーアス クレープス,
アナベル ホフマン,
アナベル ホフマン,
イエリー ジクムント,
イエリー ジクムント,
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Applied Materials Inc
Original Assignee
Applied Materials Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Applied Materials Inc filed Critical Applied Materials Inc
Publication of JP2021502474A publication Critical patent/JP2021502474A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/12Organic material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/04Coating on selected surface areas, e.g. using masks
    • C23C14/042Coating on selected surface areas, e.g. using masks using masks
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/24Vacuum evaporation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/50Substrate holders
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • C23C14/562Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks for coating elongated substrates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • C23C14/564Means for minimising impurities in the coating chamber such as dust, moisture, residual gases
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67161Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
    • H01L21/67173Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers in-line arrangement
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67712Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrate being handled substantially vertically
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67715Changing the direction of the conveying path
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67748Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber horizontal transfer of a single workpiece
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/6776Continuous loading and unloading into and out of a processing chamber, e.g. transporting belts within processing chambers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • H01L21/682Mask-wafer alignment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • H01L21/68714Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
    • H01L21/68764Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by a movable susceptor, stage or support, others than those only rotating on their own vertical axis, e.g. susceptors on a rotating caroussel
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/164Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using vacuum deposition
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/166Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using selective deposition, e.g. using a mask
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67709Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations using magnetic elements

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

基板を処理するための真空処理装置が説明される。処理装置システムは、真空チャンバ、及び真空チャンバ内に設けられた堆積源を含む。当該装置は、基板を搬送するように適合された第1の搬送トラック、及びマスクを搬送するように適合された第2の搬送トラックを有する第1のトラックアレンジメントをさらに備えている。さらに、当該装置は、マスクシールドを堆積源とマスクとの間で搬送し、マスクの汚染を回避するように適合された第3の搬送トラックを備えている。第3の搬送トラックは、マスクシールドを真空チャンバの外側に搬送するように適合されており、これにより、堆積源からの材料で汚染されたマスクシールドを取り外して、洗浄することが可能である。【選択図】図2

Description

本開示の実施形態は、装置、トラックアレンジメント、マスクシールド、及びマスクシールドを移動させる方法に関する。具体的には、本開示の実施形態は、真空処理装置のマスクシールドのメンテナンスに関する。本明細書に記載された方法及び装置は、有機発光ダイオード(OLED)デバイスの製造に使用され得る。
基板上に層を堆積させる技法には、例えば、熱蒸着、物理的気相堆積(PVD)、及び化学気相堆積(CVD)が含まれる。コーティングされた基板は、様々な用途や技術分野で使用することができる。例えば、コーティングされた基板は、有機発光ダイオード(OLED)デバイスの分野で使用され得る。OLEDは、情報を表示するための、テレビ画面、コンピュータモニター、携帯電話、その他の携帯型デバイスなどの製造に使用することができる。OLEDディスプレイなどのOLEDデバイスは、2つの電極の間に配置された有機材料の1つ以上の層を含み得、これらは、基板上に堆積される。
コーティング材料を基板上に堆積する間、基板は、基板キャリアによって保持され得、マスクは、基板前方のマスクキャリアによって保持され得る。したがって、材料パターン(例えば、マスクの開口パターンに対応する複数のピクセル)を基板上に堆積させることができる。
OLEDデバイスの機能性は、典型的には、有機材料のコーティングの厚さ次第で決まり、それは所定の範囲内になければならない。高解像度のOLEDデバイスを得るために、蒸発した材料の堆積に関する技術的課題を習得する必要がある。とりわけ、真空システムを介して基板キャリア及びマスクキャリアを正確且つ円滑に搬送することが課題である。さらに、高品質な堆積結果を実現するために、例えば、高解像度のOLEDデバイスを製造するために、基板をマスクに対して正確に位置合わせすることが極めて重要である。さらに、真空処理システムの所有コストを削減するために、システムのダウンタイムが減少するように構成要素の洗浄が短時間で有益に提供される。さらに、他の部分が依然として稼働し得る間、真空処理システムの一部のメンテナンスを可能にすることが有益である。
上記に鑑み、真空チャンバ内で基板とマスクを互いに対して正確且つ確実に位置決め且つ位置合わせするための装置、システム、及び方法を提供することが有益であるのみならず、簡単でコスト効率の良いメンテナンス性能を可能にする装置を提供することがさらに有益であろう。さらに、アイドル時間が短い真空堆積システムの効率的な使用が有益であろう。
上記に鑑み、基板を処理するための装置、基板を処理するためのシステム、及び真空チャンバ内で基板キャリアをマスクキャリアに対して位置合わせする方法が提供される。本開示のさらなる態様、利点、及び特徴は、特許請求の範囲、明細書、及び添付図面から明らかである。
本開示の態様によれば、真空チャンバ、及び真空チャンバ内に設けられた堆積源を含む真空処理装置が開示される。第1のトラックアレンジメントは、基板を搬送するように適合された第1の搬送トラック、マスクを搬送するように適合された第2の搬送トラック、及びマスクの汚染を避けるために、マスクシールドを堆積源とマスクとの間で搬送するように適合された第3の搬送トラックを含む。
本出願の別の態様によれば、真空処理装置内のトラックアレンジメントが開示される。トラックアレンジメントは、基板を真空処理装置の真空チャンバ内にて搬送するための第1の搬送トラック、マスクを真空処理装置の真空チャンバ内にて搬送するための第2の搬送トラック、及びマスクシールドを真空処理装置の真空チャンバ内にて搬送するための第3の搬送トラックを含む。
本出願のさらなる態様では、マスクシールドが開示される。マスクシールド又はシールドアレンジメントは、真空処理装置の搬送トラック上に配置され得、シールドフレームを含み得る。シールドフレームは、マスクキャリア及び/若しくはマスクフレームの側部を覆う少なくとも1つのシートメタルシールド、並びに/又はマスクキャリアの端部を覆う側部シールドを含み得る。
本出願の実施形態は、真空処理装置のためのマスクシールドを交換する方法を含む。
当該方法は、真空チャンバ内に設けられた堆積源を後方位置にもってくることと、真空チャンバのバルブ10を開くこととを含み得る。
さらに、当該方法は、マスクシールドの第1の部分を真空チャンバの外にスライドさせることと、マスクシールドの第1の部分から第1のシールドを取り外すことと、マスクシールドの第2の部分を真空チャンバの外にスライドさせることと、マスクシールドの第2の部分から第2のシールドを取り外すこととを含み得る。
実施形態は、開示の方法を実施するための装置も対象としており、記載の各方法の態様を実行するための装置部分を含む。これらの方法の態様は、ハードウェア構成要素、適切なソフトウェアによってプログラミングされたコンピュータを用いて、これらの2つの任意の組合せによって、又はそれ以外の任意の方法で、実施され得る。さらに、本開示に係る実施形態は、記載された装置を作動させる方法も対象としている。記載された装置を作動させるための方法は、装置のあらゆる機能を実施するための方法の態様を含む。
本開示の上述の特徴を詳細に理解できるように、実施形態を参照することによって、上記で簡単に要約されている本開示のより具体的な説明を得ることができる。添付の図面は、本開示の実施形態に関連するものであり、以下で説明する。
先行技術に係る真空チャンバを示す。 本出願の実施形態に係る真空チャンバを示す。 本出願の実施形態に係る側面図を示す。 本出願の実施形態に係る、複数のチャンバを有する真空処理装置の概略図を示す。 本出願の実施形態に係る、マスクシールド/遮蔽アレンジメントを示す。 本明細書に記載された実施形態に係る、真空チャンバに対するマスクシールドの幾つかの後続段階を示す。 本明細書に記載された方法の実施形態を示す。
本開示の様々な実施形態について、これより詳細に参照する。これらの実施形態の1つ以上の実施例は、図面で示されている。図面についての以下の説明の中で、同じ参照番号は同じ構成要素を表す。概して、個々の実施形態に関する相違のみが説明される。各実施例は、本開示の説明のために提供されるが、本開示を限定することを意図しているわけではない。
本出願の実施形態では、真空処理装置40が開示されている。例えば、図2を参照されたい。真空処理装置40は、真空チャンバ12を含む。堆積源33は、真空チャンバ12内に設けられ得る。真空チャンバ12は、第1のトラックアレンジメント13を含み得る。
第1のトラックアレンジメント13は、基板16を真空チャンバの中に搬送するように適合された第1の搬送トラック13−1、及びマスクを真空チャンバの中に搬送するように適合された第2の搬送トラック13−2を含み得る。さらに、第3の搬送トラック13−3が設けられる。第3のトラックアレンジメントは、マスクシールド14を堆積源33とマスクとの間で搬送し、マスクの汚染を低減するように適合されている。
真空チャンバ12内の堆積源33は、蒸発した材料を実質的に垂直に配置された基板16に向けて方向付けるように構成された蒸気源であり得る。本開示の実施形態によれば、マスクシールドは、マスクを保護して、さらにマスクキャリアを汚染から守るために設けられる。システムの遊休時間は、可能な限り短く保たれる。
本開示の実施形態は、とりわけ大面積基板上にOLEDディスプレイを製造するための真空処理システム、特にシャドウマスクを用いて有機層及びその他の層が堆積され得るRBG(赤緑青)OLEDデバイスに関する。大面積堆積のためには、システムがより小さなフットプリントを有するために、垂直基板配向が有益であり得る。例えば、マスキング堆積のためのピクセル精度を有するシャドウマスクを用いた垂直基板処理は、マスク面に対して平行に作用する重力を考えると、非常に困難な場合がある。
本明細書で使用される「本質的に垂直な配向(essentially vertical orientation)」とは、垂直配向(すなわち、重力ベクトル)から10°以下、特に5°以下の偏差を伴う配向であると理解してよい。例えば、基板16(又はマスク)の主要面と重力ベクトルとの間の角度は、+10°と−10°との間、特に0°と−5°との間であり得る。幾つかの実施形態では、基板16(又はマスク)の配向は、搬送中及び/又は堆積中に、厳密には垂直ではないことがあり、例えば、0°と−5°との間、特に−1°と−5°との間の傾斜角度だけ、垂直軸に対してわずかに傾斜することがある。負の角度とは、基板16(又はマスク)が下向きに傾斜している基板16(又はマスク)の配向のことを指す。重力ベクトルから基板16の配向が偏差することは有益であり得る。結果的に、より安定した堆積処理をもたらすか、又は、下向き配向が、堆積中に基板上の粒子を減らすのに適切な場合がある。しかしながら、搬送中及び/又は堆積中の厳密に垂直な配向(+/−1°)も可能である。他の実施形態では、基板16及びマスクは、非垂直配向で搬送され得、且つ/又は、基板16は、非垂直配向(例えば、実質的に水平な配向)でコーティングされ得る。
大面積基板上の堆積の間、特に、シャドウマスク(ピクセルマスク)を用いたマスク堆積の間、基板及びマスクは、静的であり得る。静止的なマスクと基板の配置により、ディスプレイのピクセルサイズの精度が伴うマスキングの正確性が可能になる。堆積源33は、真空チャンバ12内に設けられ得る源搬送トラックに沿って移動可能であり得る。堆積源33は、実質的に垂直な方向に延びる線源として設けられてもよい。垂直方向における堆積源33の高さは、垂直に配向された基板16の高さに適合され得る。これにより、基板16を通過するように堆積源33を移動させることにより、基板16をコーティングすることができる。
堆積源33は、コーティング材料を堆積領域に向けて方向付けるための複数の蒸気開口又はノズルを有する分配管を含み得る。さらに、堆積源33は、コーティング材料を加熱し蒸発させるように構成されたるつぼを含み得る。るつぼは、分配管に流体連通するように分配管に接続され得る。
幾つかの実施形態では、堆積源33は、回転可能であり得る。例えば、堆積源33は、堆積源33の蒸気開口が第1の堆積領域に向かって方向付けられる第1の配向から、蒸発開口が第2の堆積領域に向かって方向付けられる第2の配向まで回転可能であり得る。第1の堆積領域及び第2の堆積領域は、堆積源33の両側に位置し得、堆積源33は、堆積領域と第2の堆積領域との間で約180°の角度で回転可能であり得る。
真空処理装置40は、第1のトラックアレンジメント13を含み得る。第1のトラックアレンジメント13は、基板16を真空チャンバ12内に搬送するように適合され得る第1の搬送トラック13−1を含み得る。第1のトラックアレンジメント13は、マスクを真空チャンバ12内に搬送するように適合され得る第2の搬送トラック13−2を含み得る。
第1の搬送トラック13−1上で基板16を基板キャリア36によって運ぶことができ、第2の搬送トラック13−2上でマスク17をマスクキャリア37によって運ぶことができる。第1及び第2の搬送トラック13−2は、少なくとも部分的に、例えば、真空チャンバ12内に隣接する真空チャンバからの搬送経路を形成し得る。図3A及び図3Bに例示するように、位置合わせシステムの位置合わせユニットを介して、基板キャリア36によって運ばれる基板16が、マスクキャリア37によって運ばれるマスクに対して位置合わせされ得るように、位置合わせシステムが設けられ得る。
第1の搬送トラック13−1及び第2の搬送トラック13−2は、図1に例示される。基板16は、第1の搬送トラック13−1に提供される。第1の搬送トラック13−1は、基板又は基板キャリアを運ぶように適合され得る。基板若しくは基板キャリアが、第1の搬送トラックによって浮揚させられてもよく、又は基板16と第1の搬送トラック13−1が機械的に連結されてもよい。マスク17は、第2の搬送トラック13−2に提供される。第2の搬送トラック13−2は、マスク又はマスクキャリアを運ぶように適合され得る。マスク若しくはマスクキャリアが、第2の搬送トラックによって浮揚させられてもよく、又はマスク17と第2の搬送トラック13−2が機械的に連結されてもよい。
図1に示すように、第1の搬送トラック13−1及び第2の搬送トラック13−2は、真空チャンバ12を出入りするように(例えば、隣接する真空チャンバに入るように)基板又はマスクの搬送を可能にし得る。さらなる真空チャンバに隣接する真空チャンバの側部は、真空チャンバの第1の側部であり得る。保守チャンバ5は、別の、真空チャンバの第2の側部に設けられ得る。第2の側部は、第1の側部に対向し得る。保守チャンバは、源33などの構成要素を保守チャンバの中に移送することを可能にする。
本開示の実施形態は、真空処理システム内の処理チャンバのアイドル時間の短縮を可能にする。ここで、基板は、基板キャリア上でシステムを通してルーティングされ得、マスクは、例えば、マスクキャリア上でシステムを通してルーティングされ得る。
本明細書で使用される「基板キャリア」という用語は、真空システム内で基板16搬送経路に沿って基板16を運ぶように構成されたキャリアデバイスに特に関連し得る。基板キャリア36は、基板16上にコーティング材料を堆積している間、基板16を支持し得る。幾つかの実施形態では、基板16は、搬送及び/又は堆積中、非水平配向、具体的には、実質的に垂直な配向で、基板キャリア36において保持され得る。
例えば、基板16は、真空チャンバを通して搬送される間、チャンバ12内で基板16を例えばマスクに対して位置決めする間、且つ/又は基板16上に材料を堆積する間、基板キャリア36の保持面において保持され得る。具体的には、基板16は、チャッキングデバイスによって、例えば、静電チャックによって及び/又は磁気チャックによって、基板キャリア36において保持され得る。チャッキングデバイスは、基板キャリア36内に統合され得る。
基板キャリア36は、特に非水平配向で、基板16を保持するように構成された保持面を有するキャリア本体を含み得る。幾つかの実施形態では、キャリア本体は、基板搬送経路に沿って、例えば、リニアモータなどを含む基板搬送システムにより、移動させられ得る。幾つかの実施形態では、基板キャリア36は、例えば、磁気浮揚システムによる搬送中、非接触態様で誘導構造体において保持され得る。
例えば、基板キャリア36は、基板16に作用する誘引力を付与するように構成された電極アレンジメントを含み得る。基板キャリア36は、基板16を基板キャリア36の保持面で保持するための誘引力を付与するように構成された複数の電極を有する電極アレンジメントを含み得る。基板キャリア36のコントローラは、1つ以上の電圧を電極アレンジメントに印加し、誘引力(「チャッキング力」とも呼ばれる)を付与するように構成され得る。
電極アレンジメントの複数の電極を、本体に組み込むことができ、又は本体上に設置(例えば、載置)することができる。本体は、誘電体プレートのような誘電体であってもよい。誘電体は、誘電材料、好ましくは、熱分解窒化ホウ素、窒化アルミニウム、窒化ケイ素、アルミナ、又は等価材料などの高熱伝導性誘電材料から製造することができるが、ポリイミドのような材料から作られてもよい。金属細片のグリッドのような複数の電極を誘電体プレート上に置いて、薄い誘電体層で覆うことができる。
本明細書に記載された他の実施形態と組み合わせることができる幾つかの実施形態によれば、基板キャリア36は、1つ以上の電圧を複数の電極に印加するよう構成された1つ以上の電圧源を含み得る。幾つかの実装形態では、1つ以上の電圧源は、複数の電極のうちの少なくとも幾つかの電極を接地するように構成されている。例えば、1つ以上の電圧源は、第1の極性を有する第1の電圧、第2の極性を有する第2の電圧、及び/又は接地を複数の電極に印加又は接続するように構成することができる。装置は、基板キャリア36及び/又はマスクキャリア37の非接触浮揚及び/又は非接触搬送のために構成することができる。例えば、装置は、基板キャリア36及び/又はマスクキャリア37の非接触浮揚のために構成された誘導構造体を含み得る。同様に、装置は、基板キャリア36及び/又はマスクキャリア37の非接触搬送のために構成された駆動構造体を含み得る。とりわけ、キャリアは、機械的力の代わりに磁力を使用して、浮揚状態又は浮動状態で保持することができる。例えば、幾つかの実装形態では、特に基板キャリア36及び/又はマスクキャリア37の浮揚、運動、及び位置付けの間、キャリアと搬送トラックとの間には機械的接触はあり得ない。
例えば、ガイドレールとの機械的接触により搬送中に粒子が生成されないという点で、キャリアの非接触浮揚及び/又は搬送は有利である。非接触型の浮揚及び/又は搬送を使用すると、粒子発生が最小限となるので、基板16に堆積される層の純度及び均一性を改善することができる。
同様に、本明細書で使用される用語「マスクキャリア」は、真空チャンバ12内のマスク搬送経路に沿ってマスクを搬送するために、マスクを運ぶように構成されたキャリアデバイスに関連し得る。マスクキャリア37は、搬送の間、基板16に対して位置合わせしている間、且つ/又は基板16上への堆積の間、マスク17を運ぶことができる。
マスクは、チャッキングデバイス(例えば、クランプなどのメカニックチャック、静電チャック、及び/又は磁気チャック)によって、マスクキャリア37において保持され得る。マスクキャリア37に接続又は統合され得る他の種類のチャッキングデバイスも使用してよい。
例えば、マスクは、端部除外マスク又はシャドウマスクであり得る。端部除外マスクは、基板16のコーティング中に材料が1つ以上の端部領域に堆積されないよう、基板16の1つ以上の端部領域をマスキングするよう構成されたマスクである。シャドウマスクは、基板16に堆積されるべき複数のフィーチャをマスキングするよう構成されたマスクである。例えば、シャドウマスクは、複数の小さな開口(例えば、小さな開口のグリッド)を含み得る。例えば、開口は、ディスプレイのピクセル又はディスプレイのピクセルの色に対応し得る。
真空処理装置40の第1のトラックアレンジメント13は、堆積源33とマスクとの間でマスクシールド14を搬送するように適合され得る第3の搬送トラック13−3をさらに含み得る。これにより、マスク、及び/又は特にマスクキャリアの汚染を減らす。
第3の搬送トラック13−3(図2参照)は、真空チャンバ12からマスクシールド14を単純に取り外すことを可能にすることができる。基板16及びマスクキャリア37から実質的に独立してマスクシールド14を動かすことができる。基板16及びマスクキャリア37は、それぞれの搬送経路(第1の搬送トラック13−1、及び第2の搬送トラック13−2と呼ばれる(図2))に沿って移動し得る。さらに、マスクを支持するマスク又はマスクキャリアは、真空チャンバの第2の側部(例えば、真空処理システムのさらなる真空チャンバに対向する側部)において取り除くことができる。バルブ10が、第2の側部において設けられてもよい。
マスクシールド14は、真空チャンバ12内に、特に堆積源33と位置合わせシステムとの間に設けられ得る。マスクシールド14は、堆積源33とマスクキャリア37との間に位置し得る。したがって、コーティング材料によるマスクキャリア37又は真空チャンバ12の汚染を減らすために、マスクシールド14は、マスクキャリア37を少なくとも部分的に遮蔽する。例えば、マスクキャリア37の外側部分が、マスクシールド14のシールドプレートによって保護されるように、マスクシールド14は成形され得る。マスクシールド14は、マスクキャリア37の外側部分に向かって方向付けられているコーティング材料を少なくとも部分的にブロックする。基板16に向けて方向付けられるコーティング材料は、妨げられないようにマスクシールド14を通って進行し得る。
例えば、マスクシールド14は、マスクキャリア37を少なくとも部分的に覆って遮蔽するように構成されたシールドフレーム(図6B〜図6D)を含み得る。マスクシールド14は、図3A及び図3B、さらに図5A及び図5Bで破線で示された開口30を含み得る。開口30は、シールドフレーム内に設けられ、コーティング材料が基板16に向かってマスクシールド14を通過することを可能にするように構成されている。マスクシールドの開口は、0.5m2以上、具体的には、1m2以上のサイズを有し得る。開口のサイズは、コーティングされる基板16の面積より大きくてもよい。
本明細書で使用される、基板16又はマスクの「搬送」、「移動」、「ルーティング」、「回転」、「位置付け」、又は「位置合わせ」という表現は、基板16又はマスクを保持する基板キャリア36又はマスクキャリア37のそれぞれの運動を指し得る。
マスク又は基板16の搬送は、例えば、磁気浮揚システムを含む、非接触態様で実現し得る。非接触搬送は、第1のトラックアレンジメント13によってもたらされ得る。
図2は、3つの搬送トラックを備えた第1のトラックアレンジメント13を示す。それは、第1の搬送トラック13−1、第2の搬送トラック13−2、及び第3の搬送トラック13−3である。点線は、第3の搬送トラック13−3を表す。第3の搬送トラックは、真空チャンバ12から外に伸びて、例えば、バルブ10を通り得る。
本出願の別の実施形態では、第3の搬送トラック13−3は、マスクシールド14を真空チャンバ12の外に搬送するように適合され得る。第3の搬送トラック13−3の第1の部分は、真空チャンバ12内に設けられ得る。第3の搬送トラック13−3の第2の部分は、真空チャンバ12の外に設けられ得る。
第3の搬送トラック13−3の内側部分及び外側部分は、それぞれ、上方部及び下方部を含み得る。したがって、マスクシールド14を機械的に安定した位置で支持することができるように、マスクシールドは、第3の搬送トラックの上方部及び下方部で支持され得る。
第3の搬送トラック13−3の少なくとも外側に置かれた上方部分60aは、可動な態様で配置され得る。図6Aに示すように、上方部分が、例えば、ピボット軸41の周りで可動であるように、上方部分は配置され得る。このような配置により、メンテナンス人員は、搬送トラックの一部の潜在的に尖った端部により受ける負傷から保護され得る。
本出願の別の実施形態では、第1の搬送トラック13−1は、真空チャンバの第1の側に設けられたさらなる真空チャンバ41から、真空チャンバ12に基板16及び/又はマスクが出入りするよう搬送するように構成され得ることが開示されている。第3の搬送トラック13−3は、マスクシールド14を、真空チャンバ12の第2の側部における真空チャンバ12の外側に搬送するように適合され得る。第2の側部は、第1の側部の反対側に位置し得る。これにより、マスク及び基板16を運搬/搬送するトラックは、(一方の真空チャンバ12から他方の真空チャンバ12へと)真空処理装置40の真空部分内で移動するが、マスクシールド14又は遮蔽アレンジメントを運ぶトラックは、マスクシールド14を真空チャンバ12の外側に搬送することができる。
図6Aに示すように、真空シール(図2の参照番号10)は、例えば、真空チャンバ12の第2の側部に設けられ得る。真空シールは、ポータル又はドア69を含み得る。ドア69は、真空チャンバを密封することができる。ドアは、開位置及び閉位置で設けられ得る。図6Aは、開位置のドアを示す。本明細書に記載された他の実施形態と組み合わせることができる幾つかの実施形態によれば、ドアは、真空チャンバの壁(例えば、真空チャンバの第2の側部の壁)に対する平行運動により、開位置から閉位置へと、及び閉位置から開位置へと動くことができる。
さらなる実施形態では、本出願は、真空処理装置40の第3の搬送トラック13−3が、下方部分及び上方部分を有し得ることを開示している。他の実施形態では、第3の搬送トラック13−3は、真空チャンバ12の内側で下方部分及び上方部分を有し得、真空チャンバ12の外側で下方部分及び上方部分を有し得る。
第3の搬送トラック13−3の内側部及び外側部が、真空チャンバの内側から真空チャンバの外側に至る、好ましくは連続して中断のない上方トラック及び下方トラックを形成することができるように、第3の搬送トラック13−3の内側部及び外側部は配置され得る。このようにして、メンテナンス目的のために、マスクシールド14を真空チャンバ12の外に円滑且つ快適に移動させることができる。
真空処理装置40のさらなる実施形態では、マスクシールド14は、第2の部分から分離可能な少なくとも第1の部分を有し得る。
真空処理装置40の非限定的な実施例が、図4に示される。当該装置は、記載された真空チャンバ12を多数含み得る。真空チャンバ12は、例えば、基板を基板キャリア上に、マスクをマスクキャリア上に搬送するように適合され得る真空チャンバ41に接続され得る。概して、点検が行われない場合、真空処理装置40は、基板のコーティング処理のための真空を含む。
例えば、洗浄などのメンテナンスが行われる場合、対応する真空チャンバ12を加圧することができる。チャンバが環境空圧を有し得るように、それぞれのチャンバの中の真空を空気と交換することができる。任意の他のチャンバ、例えば、真空チャンバ41への接続は、シール又はバルブ10で密封することができ、これにより、真空処理装置40の残り部分の真空を維持することができる。処理は、真空処理システムの他の部分で可能である。
真空チャンバ12が本開示の実施形態に一致する場合(例えば、図2を参照)、実行中の処理に影響を与えることなく、マスクシールドで、例えば、点検を行うことが可能であり得る。マスクシールドをマスクシールド用のトラック(第3の搬送トラック13−3)上で搬送することができるので、マスクシールド14をマスク及び基板から独立して扱うことができる。マスクは、マスクシールドに固定的に接続されていないので、処理に残ることができる。
概して、マスクシールドは、マスクと同じように別の洗浄サイクルを必要とする。洗浄とは、マスクシールド14又はマスクキャリア37を汚染した蒸発材料が除去されることであると理解されたい。マスクシールドが洗浄されている場合、必ずしもマスクを洗浄する必要はなく、逆も然りである。マスク又はマスクシールドに対して任意の点検を独立して実行する可能性により、真空処理装置40のダウンタイム又はアイドル時間を改善することができる。
真空処理装置40内のトラックアレンジメントは、本出願の別の実施形態で開示される。トラックアレンジメントは、真空処理装置40の真空チャンバ12内で基板16を搬送するための第1の搬送トラック13−1を含み得る。トラックアレンジメントは、真空処理装置40の真空チャンバ12内でマスクを搬送するための第2の搬送トラック13−2を含み得る。トラックアレンジメントは、真空処理装置40の真空チャンバ12内でマスクシールド14を搬送するための第3の搬送トラック13−3をさらに含み得る。
第1のトラックアレンジメント13と類似又は同等の第2のトラックアレンジメントが、鏡像反転した態様で真空処理装置40の真空チャンバ12内に設けられ得る。第1の及び/又は第2のトラックアレンジメントは、図4に示すように、多数の真空チャンバ12に対して設けられ得る。第1及び第2の搬送トラックは、真空処理装置40の真空領域内にのみ設けられるよう適合され得る。
第3の搬送トラックは、真空チャンバ12内に設けられ得る。さらに、第3の搬送トラックは、真空チャンバの外側に延在してもよく、又は外側に延在可能であってもよい。第3の搬送トラック13−3は、マスクシールド14上のメンテナンス及び洗浄操作のために使用され得る。
マスクシールド14の点検/メンテナンス又は洗浄が行われると、第1及び第2の搬送トラック13−2上の基板16及びマスクは、真空チャンバ12における第2の開口部11又はバルブ10(図1、2、4)を介して、真空チャンバ12から隣接する真空チャンバ41に移され得る。真空チャンバ12は、後で真空バルブ10で閉じることができる。例えば、真空チャンバ12内の処理(コーティング等)が終了すると、真空チャンバ12からのマスクシールド14の洗浄又はアンロードを実行することができる。
基板及びマスクは、実行中の処理に残ることができる。基板の処理は、マスクシールド14に対する洗浄又は点検が行われない他の真空チャンバにおいて行うことができる。
第3の搬送トラックは、マスクシールド14のアンロードを、基板若しくは基板キャリア36及び/又はマスク若しくはマスクキャリア37とは別に行うことを可能にするため、処理を継続的に維持することができる。
本出願の別の実施形態では、トラックアレンジメントの第3の搬送トラック13−3は、マスクシールド14を真空チャンバ12の内側から真空チャンバ12の外側へと搬送するように適合され得る。これは、例えば、洗浄又はメンテナンスを理由として行うことができる。第3の搬送トラック13−3が、マスクシールド14を真空チャンバ12の内部の堆積源33とマスクとの間で移動させるように構成され得るよう、トラックアレンジメントは構成され得る。
別の実施形態では、マスクシールド14がマスクを少なくとも部分的に遮蔽して、マスクキャリア37の汚染を減らすように、マスクシールド14をマスクに対して位置合わせすることが可能であるよう、第3の搬送トラック13−3が適合され得るように、トラックアレンジメントは構成され得る。
コーティング材料が、マスクシールド14とマスクキャリア37との間の間隙31(図3A、図3B)に侵入し、マスクキャリア37を汚染することが可能であり得る。例えば、図3A及び図3Bに示す第1の位置では、間隙31は、第2の位置に比べて、第1の方向Zにより大きな幅を有する。したがって、間隙31に侵入するコーティング材料によって、マスクキャリア37が汚染し得るように、堆積源33からのコーティング材料は、マスクキャリア37に衝突する。さらに、前記間隙31に侵入するコーティング材料は、真空チャンバ12の内壁及び/又は真空チャンバ12内の他のデバイス又は物体を汚染する恐れがある。
堆積結果は、マスクによって画定されるコーティング窓を通って基板16上に衝突しないコーティング材料により、悪影響を受ける恐れがある。さらに、真空チャンバ12及びマスクキャリア37の汚染された表面は、頻繁に洗浄する必要があり、堆積システムの追加費用と頻繁なダウンタイムが発生し得る。
したがって、例えば、マスク及び基板を第3の搬送トラック13−3アレンジメントへと移動させるように、位置合わせシステムが設けられ得る。さらに、第3の搬送トラック13−3によって搬送されるマスクシールド14と、マスクを運ぶマスクキャリア37とを位置合わせすることができる。マスクを備えたマスクキャリア37と、マスクシールド14とは、互いに対して移動可能であり得る。本明細書に記載された他の実施形態と組み合わせることができる幾つかの実施形態によれば、マスクキャリアは、マスクシールドに向かって移動することができる。別の実施形態では、第3の搬送トラック13−3は、マスクシールド14を搬送する搬送トラックが、マスクシールド14をx方向、y方向、及びz方向に動かすように適合され得る位置合わせシステムを含み得るように、構成され得る。
さらなる実施形態は、マスクシールド14を開示する。マスクシールド14は、真空処理装置40の搬送トラック上に配置され得る。シールドフレーム14は、マスクキャリア及び/若しくはマスクフレームの側部を覆う少なくとも1つのシートメタルシールド、並びに/又はマスクキャリアの端部を覆う側部シールドを含み得る。シートメタルシールドと側部シールドは、少なくとも70°の角度を形成し得る。他の実施形態では、マスクシールド14は、単一のシールドを含み得る。マスクシールド14の取り外し、及び洗浄が容易になり得る。他の実施形態では、マスクシールド14は、図3A及び3Bに示すように、開口30、具体的には、本質的に長方形の開口30を含む一体型プレート構成要素を含み得る。このような配置により、マスクシールド14のメンテナンスと点検が可能になる。
さらなる実施形態は、既に開示された実施形態のいずれかに係るマスクシールド14が、真空処理装置40内の真空チャンバ12内のマスクに対して位置合わせされるように構成され得ることを開示する。この目的のために、位置合わせシステムは、第3の搬送トラック13−3のマスクシールド14に設けられ得る。第3の搬送トラック13−3は、マスクシールド14を運ぶ。
さらに別の実施形態では、マスクシールド14が少なくとも部分的に真空クライアント12の外側に移動できる(図2及び図6)ように、マスクシールド14及び搬送トラックが構成されるよう、前に開示した実施形態のいずれかに係るマスクシールド14は構成され得ることが開示されている。
第3の搬送トラック13−3には、真空チャンバ12の内部の第1部分(図6A〜6B)と、真空チャンバ12の外側に設けられ得る第2部分(60a、13−3、60b)が設けられ得る。両方の部分を組み合わせて、搬送トラックを形成することができる。該搬送トラックでは、真空チャンバの開口を通して、マスクシールド14を、真空チャンバ12から真空チャンバ12の外側に移動させることができる。
第3の搬送トラック13−3の内側部分及び外側部分は、それぞれ、上方部及び下方部からなるか、又はそれらを含み得る。したがって、マスクシールドを安定した位置で支持することができるように、マスクシールド14は、マスクシールド14の上方部及び下方部で支持され得る。第3の搬送トラックの外側の上方部分60aは、可動な態様で配置され得る。図6Aに示すように、例えば、外側の上方部分が、ピボット軸61の周りで可動であるように、外側の上方部分は配置され得る。このような配置により、メンテナンスを行う人員は、搬送トラックの一部の潜在的に尖った端部により受ける負傷からより保護され得る。
トラックの内側部分及び外側部分が、好ましくは連続して中断のない上方トラック及び下方トラックを形成することができるように、第3の搬送トラックの内側部分及び外側部分は配置され得る。このようにして、マスクシールド14を真空チャンバ12の外に円滑に移動させることができる。
幾つかの態様によれば、さらに堆積源33(例えば、図2の堆積源33を参照)の移動のためのトラックは、真空チャンバの外側に第2の源トラック部分を有し得る。例えば、真空チャンバの外側の第2の源トラック部分を真空チャンバの第2の側部に設けることができる。第2の側部は、真空チャンバがさらなる真空チャンバに接続される真空チャンバの第1の側部とは反対側にある。したがって、堆積源のメンテナンスのために、堆積源を真空チャンバの外に移動させることができる。これには、堆積源及び/又はマスクシールドのメンテナンスのために人員が真空チャンバに入る必要がないという利点がある。上記に照らして、メンテナンス中に真空チャンバ内の真空を維持できない場合でも、汚染の程度は低減される。
本開示の実施形態又は態様によると、点検ポートが設けられる。点検ポートには、真空処理システムの構成要素を真空チャンバ(例えば、真空処理チャンバ)の外に移動させるための少なくとも1つのトラック延長部が含まれる。例えば、真空チャンバは、図4に関連して記載されているように、真空チャンバ12であり得る。典型的な実装形態によれば、トラック延長部は、第1の側部に対向する第2の側部において構成要素を真空チャンバ12の外側に移動するように構成され得る。第1の側部は、さらなる真空チャンバに接続される。本明細書に記載された他の実施形態と組み合わせることができる幾つかの実施形態によれば、構成要素は、堆積源及び/又は固定されたマスクシールドであり得る。少なくとも1つのトラック延長部は、真空チャンバの外側でのメンテナンスを可能にする。これにより、メンテナンス時間が減少し、且つ/又は真空チャンバの汚染が減少する。本明細書に記載された他の実施形態と組み合わせることができるさらに別の修正例によれば、トラック延長部は、真空チャンバの外側に設けられ得る。トラック延長部は、マスクシールド用トラック又は堆積源用トラックなどの真空チャンバ内のトラックを延長することができる。
本明細書に記載された実施形態は、例えば、OLEDディスプレイ製造用の大面積基板上での蒸着が可能な装置に利用され得る。特に、本明細書に記載された実施形態に係る構造及び方法の提供の対象である基板は、例えば、0.5m2以上、具体的には、1m2以上の表面積を有する大面積基板である。例えば、大面積基板又はキャリアは、約0.67mの表面領域(0.73m×0.92m)に対応するGEN4.5、約1.4mの表面領域(1.1m×1.3m)に対応するGEN5、約4.29mの表面領域(1.95m×2.2m)に対応するGEN7.5、約5.7mの表面領域(2.2m×2.5m)に対応するGEN8.5、又はさらに約8.7mの表面領域(2.85m×3.05m)に対応するGEN10であり得る。GEN11及びGEN12などのさらに次の世代、及びそれに相当する基板領域を同様に実装してもよい。GEN世代の半分のサイズもOLEDディスプレイ製造において提供され得る。
本明細書に記載された他の実施形態と組み合わせることができる幾つかの実施形態によれば、基板の厚さは、0.1から1.8mmであってよい。基板の厚さは、約0.9mm以下、例えば、0.5mmであってよい。本明細書で使用する「基板」という用語は、例えば、ウエハ、サファイア等の透明な結晶片、又はガラスプレートなどの実質的に非フレキシブルな基板を特に包含し得る。しかしながら、本開示は、これらに限定されず、「基板」という用語は、例えば、ウェブ又はホイル等のフレキシブル基板も包含し得る。「実質的に非フレキシブル」という表現は、「フレキシブル」とは区別して理解される。具体的には、実質的に非フレキシブルな基板は、例えば、0.9mm以下(0.5mm以下など)の厚さを有するガラスプレートでも、ある程度の柔軟性を有することができるが、実質的に非フレキシブルな基板の柔軟性は、フレキシブル基板と比べて低い。
本明細書に記載された実施形態によれば、基板は、材料堆積に適した任意の材料から作られ得る。例えば、基板は、ガラス(例えば、ソーダ石灰ガラス、ホウケイ酸ガラス等)、金属、ポリマー、セラミック、複合材料、炭素繊維材料、又は堆積処理によってコーティングされ得る任意の他の材料若しくは材料の組合せからなる群から選択された材料から作られ得る。
「マスキング」という用語は、基板の1つ以上の領域への材料の堆積を低減する且つ/又は妨げることを含み得る。マスキングは、例えば、コーティングされる領域を画定するのに有用であり得る。幾つかの用途では、基板の一部がコーティングされ、コーティングすべきでない部分はマスクによって覆われる。
本出願のさらなる実施形態では、真空処理装置40内のマスクシールド14を交換又は維持する方法が提供される。マスクシールド14の洗浄は、快適に実行し得ることが意図されている。具体的には、真空処理装置40のダウンタイム、又は遊休時間を減らすことができる。
例えば、マスクシールド14を真空チャンバ12から一時的に取り外すことによって、シールドデバイス14を洗浄することができる。マスクシールド14は、第1のトラックアレンジメント13の第3の搬送トラック上に有利に配置され得る。
真空処理装置40の真空チャンバ12内では、第1のトラックアレンジメント13と類似する又は等しい第2のトラックアレンジメントが、鏡像反転構成又は反転構成で設けられ得る。
第2のトラックアレンジメントは、以下で説明されるように、類似的に第1のトラックアレンジメント13の機能を実行するように適合され得る。つまり、真空チャンバ12には、好ましくは、両側位置に2つの基板/マスク/マスクシールドが設けられ得る。このようにして、堆積源33は、真空チャンバ12内で2つの基板16を処理することができる。
マスクシールド14を長い時間間隔で洗浄すれば十分であろう。例えば、マスクシールド14は、洗浄のために、数日の堆積時間後に真空チャンバ12からアンロードされ得る。これにより、堆積システムのダウンタイムを短縮することができ、洗浄を容易にすることができる。
例えば、メンテナンス又は洗浄工程のためにマスクを交換するためには、真空チャンバ12(図1、2、4、及び6を参照)を開放しなければならない。真空チャンバ12を開ける前に、真空チャンバ12の中に依然として配置され得る基板16及びマスクを、隣接する真空チャンバ41(図2及び図4)に移送することができる。この移送は、真空条件の下で行われ得る。
移送は、真空チャンバ12内の基板16又はマスクを移送するように適合された第1のトラックアレンジメント13、好ましくは、第1のトラックアレンジメント13の第1の搬送トラック13−1及び第2の搬送トラック13−2を用いて実行され得る。隣接する真空チャンバ41への移送が完了すると、2つの隣接する真空チャンバ(図4の12、41)間の接続を、2つの隣接する真空チャンバ間に配置されたバルブ10で気密封止することができ、これにより、真空処理装置40内の真空条件が維持される。
堆積源33は、真空チャンバ12内に残存することができ、安全な位置(後方位置)に移送702され得る。堆積源33は、真空チャンバ12内に設けられ得る源搬送トラックに沿って移動可能であり得る。
特に、真空チャンバ12の内部の真空が環境空圧と等しくなるとき、真空チャンバ12を開ける704ことができる。真空チャンバ12の内部の第3の搬送トラック13−3の上方の第1の部分と、真空チャンバ12の外側の上方の第2の部分とが同一平面となるように、真空チャンバ12の外側に配置された第3の搬送トラック13−3の上方部分60aを実質的に水平な位置に移動させてもってくることができる。
これにより、マスクシールド14の第1の部分を真空チャンバ12から外にスライド706させることができる。マスクシールド14の第1の部分からの第1のシールドは、洗浄のために取り外し708が可能である。マスクシールド14の第2の部分は、真空チャンバ12の外にスライド可能であり、マスクシールド14の残りの第2のシールドは、点検又は洗浄を目的として取り外し708可能である。
他の実施形態では、マスクシールド14を単一片として設けることができ、したがって、マスクシールド14全体の取り外しが可能である。
この方法により、ダウンタイム又は遊休時間を短く抑えることができる。マスク及びマスクシールド14の洗浄サイクルはそれぞれ異なる。マスクシールド14に比べて、マスクは、より頻繁に洗浄しなければならない。マスクとマスクシールド14が多かれ少なかれ固定的に接続された従来のシステムでは、マスクを洗浄しなければならないとき、マスクシールド14も考慮された。
本出願は、マスクとマスクシールド14を個別に且つ互いから独立させて洗浄することを可能にし得る。したがって、真空チャンバ12内のマスクシールド14を洗浄しなければならない場合でも、マスク及び対応する基板が真空処理装置内で処理され得ることも可能である。
さらに、ある実施形態の一部として図示又は記載される特徴は、他の実施形態において用いることができ、又は、他の実施形態と併用することができ、これにより、さらなる実施形態が生み出される。本記載は、このような修正例及び変形例を含むことが意図されている。
以上の記載は、本開示の実施形態を対象としているが、本開示の基本的な範囲から逸脱することなく、本開示の他の実施形態及びさらなる実施形態が考案されてよく、本開示の範囲は、下記の特許請求の範囲によって決定される。
図1に示すように、第1の搬送トラック13−1及び第2の搬送トラック13−2は、真空チャンバ12を出入りするように(例えば、隣接する真空チャンバに入るように)基板又はマスクの搬送を可能にし得る。さらなる真空チャンバに隣接する真空チャンバの側部は、真空チャンバの第1の側部であり得る。保守チャンバ5は、別の、真空チャンバの第2の側部に設けられ得る。第2の側部は、第1の側部に対向し得る。保守チャンバは、堆積源33などの構成要素を保守チャンバの中に移送することを可能にする。
図6Aに示すように、真空シール又は真空バルブ(図2の参照番号10)は、例えば、真空チャンバ12の第2の側部に設けられ得る。真空シールは、ポータル又はドア69を含み得る。ドア69は、真空チャンバを密封することができる。ドアは、開位置及び閉位置で設けられ得る。図6Aは、開位置のドアを示す。本明細書に記載された他の実施形態と組み合わせることができる幾つかの実施形態によれば、ドアは、真空チャンバの壁(例えば、真空チャンバの第2の側部の壁)に対する平行運動により、開位置から閉位置へと、及び閉位置から開位置へと動くことができる。
本開示の実施形態又は態様によると、点検ポートが設けられる。点検ポートには、真空処理システムの構成要素を真空チャンバ(例えば、真空処理チャンバ)の外に移動させるための少なくとも1つのトラック延長部が含まれる。例えば、真空チャンバは、図4に関連して記載されているように、真空チャンバ12であり得る。幾つかの実装形態によれば、トラック延長部は、第1の側部に対向する第2の側部において構成要素を真空チャンバ12の外側に移動するように構成され得る。第1の側部は、さらなる真空チャンバに接続される。本明細書に記載された他の実施形態と組み合わせることができる幾つかの実施形態によれば、構成要素は、堆積源及び/又は固定されたマスクシールドであり得る。少なくとも1つのトラック延長部は、真空チャンバの外側でのメンテナンスを可能にする。これにより、メンテナンス時間が減少し、且つ/又は真空チャンバの汚染が減少する。本明細書に記載された他の実施形態と組み合わせることができるさらに別の修正例によれば、トラック延長部は、真空チャンバの外側に設けられ得る。トラック延長部は、マスクシールド用トラック又は堆積源用トラックなどの真空チャンバ内のトラックを延長することができる。

Claims (16)

  1. 真空処理装置であって、
    真空チャンバ、
    前記真空チャンバ内に設けられた堆積源、及び
    第1のトラックアレンジメントであって、
    基板を真空チャンバの中に搬送するように適合された第1の搬送トラックと、
    マスクを真空チャンバの中に搬送するように適合された第2の搬送トラックと、
    前記マスクの汚染を低減するために、マスクシールドを前記堆積源と前記マスクとの間で搬送するように適合された第3の搬送トラックと
    を備えた第1のトラックアレンジメント
    を備えている真空処理装置。
  2. 前記第3の搬送トラックが、前記マスクシールドを前記真空チャンバの外に搬送するように適合されている、請求項1に記載の真空処理装置。
  3. 前記第3の搬送トラックが、上方部分及び下方部分を有する、請求項2に記載の真空処理装置。
  4. 前記第3の搬送トラックが、前記真空チャンバの内側に下方部分及び上方部分を有し、前記真空チャンバの外側に下方部分及び上方部分を有する、請求項1から3のいずれか一項に記載の真空処理装置。
  5. 前記真空チャンバの外側の前記第3のトラックの前記上方部分が可動である、請求項1から4のいずれか一項に記載の真空処理装置。
  6. 前記マスクシールドが、第2の部分から分離可能な少なくとも第1の部分を有する、請求項1から5のいずれか一項に記載の真空処理装置。
  7. 前記第3の搬送トラックが、前記マスクシールドを前記マスクに対して位置合わせするように構成されている、請求項1から6のいずれか一項に記載の真空処理装置。
  8. 真空処理装置内のトラックアレンジメントであって、
    基板を前記真空処理装置の真空チャンバ内にて搬送するための第1の搬送トラック、
    マスクを前記真空処理装置の前記真空チャンバ内にて搬送するための第2の搬送トラック、及び
    マスクシールドを前記真空処理装置の前記真空チャンバ内にて搬送するための第3の搬送トラック
    を備えているトラックアレンジメント。
  9. 前記第3の搬送トラックが、前記マスクシールドを前記真空チャンバの内部から前記真空チャンバの外部へと搬送するように適合されている、請求項8に記載のトラックアレンジメント。
  10. 前記第3の搬送トラックが、前記マスクシールドを前記真空チャンバの内部の堆積源と前記マスクとの間で移動させるように構成されている、請求項8又は9に記載のトラックアレンジメント。
  11. 前記第3の搬送トラックは、前記マスクシールドが前記マスクを少なくとも部分的に遮蔽してマスクキャリアの汚染を低減するように、前記マスクシールドを前記マスクに対して位置合わせするように構成されている、請求項8から10のいずれか一項に記載のトラックアレンジメント。
  12. マスクシールドを搬送するための前記第3の搬送トラックが、前記マスクシールドをx方向、y方向、及びz方向に移動させるように適合された位置合わせシステムを備えている、請求項8から11のいずれか一項に記載のトラックアレンジメント。
  13. シールドフレームを備えた真空処理装置の搬送トラック上に配置されたマスクシールドであって、前記シールドフレームが、マスクキャリア及び/又はマスクフレームの側部を覆う少なくとも1つのシートメタルシールド備え、前記マスクキャリアの端部を覆う側部シールドを備えている、マスクシールド。
  14. 前記マスクシールドが、前記真空処理装置内の真空チャンバ内でマスクに対して位置合わせされるように構成されている、請求項13に記載のマスクシールド。
  15. 前記マスクシールドを少なくとも部分的に前記真空チャンバの外側に移動させることができるように、前記マスクシールド及び前記搬送トラックが構成されている、請求項14に記載のマスクシールド。
  16. 真空処理装置のためのマスクシールドを交換する方法であって、
    真空チャンバ内に設けられた堆積源を後方位置にもってくることと、
    前記真空チャンバのバルブを開くことと、
    前記マスクシールドの第1の部分を前記真空チャンバの外にスライドさせることと、
    前記マスクシールドの前記第1の部分から第1のシールドを取り外すことと、
    前記マスクシールドの第2の部分を前記真空チャンバの外にスライドさせることと、
    前記マスクシールドの前記第2の部分から第2のシールドを取り外すことと
    を含む、方法。
JP2020503993A 2018-07-30 2018-07-30 可動シールドキャリアを有する装置 Pending JP2021502474A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/EP2018/070601 WO2020025101A1 (en) 2018-07-30 2018-07-30 Apparatus with movable shield carrier

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2021502474A true JP2021502474A (ja) 2021-01-28

Family

ID=63077867

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020503993A Pending JP2021502474A (ja) 2018-07-30 2018-07-30 可動シールドキャリアを有する装置

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP2021502474A (ja)
KR (1) KR20200014726A (ja)
CN (1) CN110972483A (ja)
TW (1) TW202020192A (ja)
WO (1) WO2020025101A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022002385A1 (en) * 2020-07-01 2022-01-06 Applied Materials, Inc. Apparatus for moving a substrate, deposition apparatus, and processing system
WO2024003603A1 (en) * 2022-07-01 2024-01-04 Applied Materials, Inc. Substrate processing system for processing of a plurality of substrates and method of processing a substrate in an in-line substrate processing system

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010000447A1 (de) * 2010-02-17 2011-08-18 Aixtron Ag, 52134 Beschichtungsvorrichtung sowie Verfahren zum Betrieb einer Beschichtungsvorrichtung mit einer Schirmplatte
JP2013163837A (ja) * 2012-02-09 2013-08-22 Canon Tokki Corp 蒸着装置並びに蒸着装置を用いた成膜方法
KR20140019579A (ko) * 2012-08-06 2014-02-17 삼성디스플레이 주식회사 증착 장치
KR20140053625A (ko) * 2012-10-26 2014-05-08 삼성디스플레이 주식회사 유기물 증착 장치
EP3102715A1 (en) * 2014-02-04 2016-12-14 Applied Materials, Inc. Evaporation source for organic material, apparatus having an evaporation source for organic material, system having an evaporation deposition apparatus with an evaporation source for organic materials, and method for operating an evaporation source for organic material
US10837111B2 (en) * 2015-01-12 2020-11-17 Applied Materials, Inc. Holding arrangement for supporting a substrate carrier and a mask carrier during layer deposition in a processing chamber, apparatus for depositing a layer on a substrate, and method for aligning a substrate carrier supporting a substrate and a mask carrier
KR20170038220A (ko) * 2015-09-30 2017-04-07 주식회사 선익시스템 기판 처리 장치 및 그 장치의 기판에 대한 마스크 장착 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20200014726A (ko) 2020-02-11
WO2020025101A1 (en) 2020-02-06
CN110972483A (zh) 2020-04-07
TW202020192A (zh) 2020-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101181503B1 (ko) 콘베이어 및 성막 장치와 그 보수관리 방법
JP6522667B2 (ja) 基板両面処理システム及び方法
JP6741594B2 (ja) キャリアによって支持された基板上に一又は複数の層を堆積させるためのシステム、及び当該システムを使用する方法
TWI678755B (zh) 於一真空系統處理一遮罩裝置之方法、用以於一真空系統中處理一遮罩裝置之遮罩處理組件、用以沈積一材料於一基板上之真空系統及於一真空系統中處理數個遮罩裝置之方法
JP6231078B2 (ja) 真空プロセスのためのシステム構成
KR102107973B1 (ko) 진공 챔버 내의 기판을 프로세싱하기 위한 장치 및 시스템, 및 마스크 캐리어에 대해 기판 캐리어를 정렬하는 방법
KR101174883B1 (ko) 박막 증착 장치 및 이를 이용한 유기 발광 표시장치의 제조 방법
KR20140007685A (ko) 유기층 증착 장치, 이를 이용한 유기 발광 디스플레이 장치의 제조 방법 및 이에 따라 제조된 유기 발광 디스플레이 장치
KR20140060171A (ko) 유기층 증착 장치, 이를 이용한 유기 발광 디스플레이 장치의 제조 방법 및 이에 따라 제조된 유기 발광 디스플레이 장치
US9040330B2 (en) Method of manufacturing organic light-emitting display apparatus
JP2021502474A (ja) 可動シールドキャリアを有する装置
KR20180100563A (ko) 나란히 있는 기판들을 갖는 연속적인 증발을 위한 장치 및 방법
TWI678421B (zh) 真空腔室內加工基板之設備和系統及真空腔室內運輸載體之方法
KR20140146448A (ko) 유기층 증착 장치 및 이를 이용한 유기 발광 디스플레이 장치의 제조 방법
TW201921760A (zh) 處理一遮罩裝置之方法、用以交換一遮罩裝置之設備、遮罩交換腔室、及真空系統
KR20140146450A (ko) 유기층 증착 장치 및 이를 이용한 유기 발광 디스플레이 장치의 제조 방법
KR20150018228A (ko) 증착장치, 이를 이용한 유기발광 디스플레이 장치 제조 방법 및 유기발광 디스플레이 장치
WO2019192677A1 (en) Carrier for supporting a substrate or a mask
KR102501617B1 (ko) 성막 장치, 성막 방법, 및 전자 디바이스의 제조방법
KR20150071534A (ko) 유기층 증착 장치 및 이를 이용한 유기 발광 디스플레이 장치 제조 방법
CN111293067B (zh) 成膜装置
WO2021244738A1 (en) Deposition apparatus, processing system, method of maintaining a deposition apparatus, and method of manufacturing a layer of an optoelectronic device
TW202025535A (zh) 用以在一真空腔室中沈積材料於一基板上之材料沈積設備、真空處理系統及用以處理一垂直定向之大面積基板的方法
JP4794471B2 (ja) 露光装置、及び露光装置の負圧室の天板を交換する方法
KR20220163422A (ko) 증착 장치, 프로세싱 시스템 및 광전자 디바이스의 층을 제조하는 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200508

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200508

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210426

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210601

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20211221