JP2021148407A - 極低温冷凍機および生体磁気計測装置 - Google Patents

極低温冷凍機および生体磁気計測装置 Download PDF

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邦夫 風見
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寛 久保田
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Abstract

【課題】極低温冷凍機における振動による変動磁場の影響を抑制すること。【解決手段】極低温冷凍機11は、冷媒を冷却する冷却部21と、冷却部21の周りを覆う磁気遮蔽部27Aと、を備える。【選択図】図7

Description

本発明は、極低温冷凍機および生体磁気計測装置に関する。
従来、例えば、特許文献1および特許文献2には、極低温冷凍機において、磁気シールド部材を設けて、磁気ノイズによる影響を低減する技術が記載されている。
脳磁計や脊磁計などの生体磁気計測装置では、例えば、超電導量子干渉素子のような高感度磁気センサを用いることがあり、超電導状態を保つために冷媒として液体ヘリウムが使われる。あるいは、極低温での物性測定器においても冷媒として液体ヘリウムが使われる。液体ヘリウムは容易に気化するため、上記のような装置において計測を経済的かつ継続的に使用するには、極低温冷凍機を使ってヘリウム循環することが必要である。
ここで、極低温冷凍機では、冷却部(コールドヘッド)および冷却部を収容する保温部(クライオスタット)は一般に金属製で磁性を帯びているため、周囲空間に静磁場分布を生じる。また、極低温冷凍機であって、パルス管冷凍機では、動作時は機械的な振動を生じる。そして、磁性を帯びているものが振動すると、振動振幅に比例した磁場変動を周囲空間に生じるため、生体磁気計測装置などにおいて測定ノイズの原因になる。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、振動による変動磁場の影響を抑制することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の極低温冷凍機は、冷媒を冷却する冷却部と、前記冷却部の周りを覆う磁気遮蔽部と、を備える。
本発明によれば、振動による変動磁場の影響を抑制できる。
図1は、生体磁気計測装置の一例を示す概略構成図である。 図2は、ヘリウム循環システムの一例を示す概略構成図である。 図3は、ヘリウム循環システムの極低温冷凍機の駆動時のフローチャートである。 図4は、ヘリウム循環システムの極低温冷凍機の駆動時の動作図である。 図5は、ヘリウム循環システムの極低温冷凍機の停止時のフローチャートである。 図6は、ヘリウム循環システムの極低温冷凍機の停止時の動作図である。 図7は、極低温冷凍機の要部拡大図である。 図8は、極低温冷凍機の要部拡大図である。 図9は、極低温冷凍機の要部拡大図である。
以下に添付図面を参照して、極低温冷凍機および生体磁気計測装置の実施形態を詳細に説明する。
図1は、生体磁気計測装置の一例を示す概略構成図である。
生体磁気計測装置100は、生体情報計測装置であって、脳機能測定装置(測定装置ともいう)101と、情報処置装置102とを備えている。
脳機能測定装置101は、測定対象である被検者110の臓器である脳の脳磁図(MEG:Magneto-encephalography)信号を測定する脳磁計である。脳機能測定装置101は、被検者110の頭部が挿入されるデュワ1を有する。デュワ1は、被検者110の頭部のほぼ全域を取り囲むヘルメット型のセンサ収納型デュワである。デュワ1は、液体ヘリウムを用いた極低温環境の真空断熱装置である。デュワ1は、その内部に脳磁測定用の多数の磁気センサ2が配置されている。磁気センサ2は、超電導量子干渉素子(SQUID:Superconducting Quantum Interference Device)が用いられる。脳機能測定装置101は、磁気センサ2からの脳磁信号を収集する。脳機能測定装置101は、収集された生体信号を情報処置装置102に出力する。
情報処置装置102は、複数の磁気センサ2からの脳磁信号の波形を、時間軸上に表示する。脳磁信号は、脳の電気活動により生じた微小な磁場変動を表わす。
図2は、ヘリウム循環システムの一例を示す概略構成図である。
上述した脳機能測定装置101は、真空断熱装置であるデュワ1を極低温環境とするためのヘリウム循環システム10を含む。ヘリウム循環システム10は、極低温冷凍機11と、デュワ1、蒸発ガス回収部(バッファタンク)13と、蒸発ガス回収管14と、保管ガス供給管15と、循環用配管16と、制御部19と、を備える。
極低温冷凍機11は、パルス管冷凍機を構成するもので、冷却部21と、受部22と、保温部23と、移送管24と、駆動系循環部25と、を有する。
冷却部21は、本体部21Aと、円筒状の第一シリンダ部21Bと、円筒状の第二シリンダ部21Cと、円板状の第一コールドステージ21Dと、円板状の第二コールドステージ21Eと、を備える。本体部21Aは、冷却部21の基部であり、最上部に配置される。第一シリンダ部21Bは、本体部21Aから下方に延びて設けられている。第二シリンダ部21Cは、第一シリンダ部21Bよりも下方に延びて設けられている。第一コールドステージ21Dは、第一シリンダ部21Bと第二シリンダ部21Cとの間に設けられている。第二コールドステージ21Eは、第二シリンダ部21Cの延びた下端に設けられている。
受部22は、上端が開放し、下端に底22Aを有する皿状に形成されている。受部22は、冷却部21の直下に配置される。
保温部23は、真空断熱をしたクライオスタットであり、例えば、ステンレスまたはガラス繊維強化樹脂により筒状に形成され、上端が開放し、下端に底23Aを有する。保温部23は、内部に冷却部21が収容され冷却部21の外周を間隔を空けて囲むように設けられる。保温部23は、上端が冷却部21の本体部21Aにより密閉される。また、受部22は、保温部23の内部に配置される。保温部23は、内部の温度を保つように機能する。
移送管24は、上端24aが受部22の底22Aに接続され、受部22に連通して設けられている。移送管24は、受部22の底22Aから下方に延び、保温部23の内部を通って下端24bが下方に向けて設けられている。保温部23は、底23Aが移送管24の外周を間隔を空けて囲むように移送管24と共に下方に延びて形成されている。移送管24は、その下端24bが脳機能測定装置101のデュワ1に接続されている。移送管24は、冷却部21からデュワ1に液体冷媒を送る第一経路ともいう。
駆動系循環部25は、コンプレッサである圧縮機25Aと、動作部であるバルブモータ25Bと、を有する。圧縮機25Aは、圧縮ガスを圧縮する。圧縮ガスは、例えばヘリウムガスである。圧縮機25Aで圧縮された圧縮ガスは、バルブモータ25Bに供給される。バルブモータ25Bは、冷却部21の本体部21Aに対し、圧縮ガスを間欠供給するように開閉を切り替える。駆動系循環部25は、バルブモータ25Bの切り替えにより圧縮機25Aと冷却部21との間で圧縮ガスが循環される。冷却部21は、この圧縮ガスの間欠供給により、起動し、第一コールドステージ21Dおよび第二コールドステージ21Eで冷熱を発生する。なお、圧縮機25Aは、水冷または空冷により排熱する。
この極低温冷凍機11は、その起動時に、保温部23の内部であって冷却部21にガス冷媒が供給される。ガス冷媒は、例えばヘリウムガスであり、第一コールドステージ21Dおよび第二コールドステージ21Eで発生する冷熱により冷却されることで液化されて液体冷媒である液体ヘリウムとなり、受部22の底22Aに至り滴下して纏められる。受部22の底22Aに纏められた液体ヘリウムは、移送管24を経て極低温冷凍機11の外部に送られ、脳機能測定装置101のデュワ1の内部のヘリウム槽に供給される。これにより、脳機能測定装置101のデュワ1の液体ヘリウムが保持される。デュワ1の内部の液体ヘリウムは外部からの熱侵入によって徐々に蒸発してヘリウムガス(蒸発ガスともいう)となる。
蒸発ガス回収部13は、デュワ1で蒸発した蒸発ガスを回収し貯えて保管するための圧力容器である。
蒸発ガス回収管14は、デュワ1と蒸発ガス回収部13との間を接続する配管である。蒸発ガス回収管14は、一端14aがデュワ1に接続され、他端14bが蒸発ガス回収部13に接続されている。蒸発ガス回収管14は、デュワ1から蒸発ガス回収部13に蒸発ガスを送るため、途中にコンプレッサであるポンプ14cが設けられている。また、蒸発ガス回収管14は、蒸発ガスの送りを開閉するため、ポンプ14cよりも一端14a側に開閉弁14dが設けられている。開閉弁14dは、制御部19により制御される。蒸発ガス回収管14は、デュワ1から蒸発ガス回収部13に蒸発ガスを送る第二経路ともいう。
保管ガス供給管15は、蒸発ガス回収部13と冷却部21との間を接続する配管である。保管ガス供給管15は、一端15aが蒸発ガス回収部13に接続され、他端15bが極低温冷凍機11の冷却部21に接続されている。保管ガス供給管15は、蒸発ガス回収部13から冷却部21に蒸発ガス回収部13で保管された蒸発ガス(保管ガス)を送るため、途中にポンプ15cが設けられている。また、保管ガス供給管15は、蒸発ガスの送りを開閉するため、ポンプ15cよりも他端15b側に開閉弁15dが設けられている。開閉弁15dは、制御部19により制御される。また、保管ガス供給管15は、蒸発ガスの送りを開閉するため、ポンプ15cよりも一端15a側に開閉弁15eが設けられている。開閉弁15eは、制御部19により制御される。保管ガス供給管15は、蒸発ガス回収部13から冷却部21に蒸発ガスを送る第三経路ともいう。
循環用配管16は、蒸発ガス回収管14の途中と保管ガス供給管15の途中とを接続する配管である。循環用配管16は、一端16aが蒸発ガス回収管14の一端14aとポンプ14cとの間に接続され、他端16bが保管ガス供給管15の開閉弁15eとポンプ15cとの間に接続されている。循環用配管16は、デュワ1から冷却部21に直接蒸発ガスを送るバイパス経路ともいう。
制御部19は、ヘリウム循環システム10を制御するもので、CPU(Central Processing Unit)および記憶装置などを備えた演算装置である。制御部19は、極低温冷凍機11の圧縮機25Aと、蒸発ガス回収管14のポンプ14cおよび開閉弁14dと、保管ガス供給管15のポンプ15c、開閉弁15dおよび開閉弁15eと、の動作を制御する。
ここで、ヘリウム循環システム10の動作を説明する。図3は、ヘリウム循環システムの極低温冷凍機の駆動時のフローチャートである。図4は、ヘリウム循環システムの極低温冷凍機の駆動時の動作図である。図5は、ヘリウム循環システムの極低温冷凍機の停止時のフローチャートである。図6は、ヘリウム循環システムの極低温冷凍機の停止時の動作図である。
図3に示すように、極低温冷凍機11の駆動時において、制御部19は、蒸発ガス回収管14のポンプ14cを停止すると共に開閉弁14dを閉鎖する(ステップS1)。また、制御部19は、保管ガス供給管15のポンプ15cを駆動すると共に開閉弁15dおよび開閉弁15eを開放する(ステップS2)。そして、制御部19は、極低温冷凍機11の冷却部21を駆動する(ステップS3)。これにより、図4に示すように、ヘリウム循環システム10は、保管ガス供給管15を介して蒸発ガス回収部13から冷却部21に蒸発ガスを送ると共に、蒸発ガス回収管14の一部および循環用配管16を介してデュワ1から冷却部21に蒸発ガスを送り、冷却部21にて蒸発ガスを冷却して液体冷媒とし、デュワ1に送る。なお、ステップS1からS3の動作は同時に行ってもよい。
また、図5に示すように、極低温冷凍機11の停止時において、制御部19は、極低温冷凍機11の冷却部21を停止する(ステップS11)。また、制御部19は、保管ガス供給管15のポンプ15cを停止すると共に開閉弁15dおよび開閉弁15eを閉鎖する(ステップS12)。また、制御部19は、蒸発ガス回収管14の開閉弁14dを開放しポンプ14cを駆動する(ステップS13)。これにより、図6に示すように、ヘリウム循環システム10は、蒸発ガス回収管14を介してデュワ1から蒸発ガス回収部13に蒸発ガスを送り、蒸発ガス回収部13で回収する。なお、ステップS11からS13の動作は同時に行ってもよい。
本実施形態のヘリウム循環システム10では、例えば、午後5時から翌日午前9時までの脳機能測定装置101を使用しない時、図3および図4に示す動作を行って、冷却部21にて蒸発ガスを冷却して液体冷媒とし、デュワ1に送る。また、本実施形態のヘリウム循環システム10では、例えば、午前9時から午後5時までの脳機能測定装置101を使用する時、図5および図6に示す動作を行って、デュワ1から蒸発ガス回収部13に蒸発ガスを送り、蒸発ガス回収部13で回収する。従って、本実施形態のヘリウム循環システム10は、脳機能測定装置101を使用する計測時に、極低温冷凍機11を停止させ、脳機能測定装置101への極低温冷凍機11の振動による影響を防ぎ、脳機能測定装置101を使用せず計測しない時に、極低温冷凍機11を駆動させ、デュワ1を極低温環境にできる。
図7から図9は、それぞれ極低温冷凍機の要部拡大図である。
図7から図9に示すように、本実施形態の極低温冷凍機11は、駆動時に冷却部21に圧縮した圧縮ガス冷媒を供給する動作部であるバルブモータ25Bを有する。バルブモータ25Bは、床や壁などの不動部に対して剛体の支持部20を介して固定されている。バルブモータ25Bは、冷却部21との間を圧力配管(配管)25Cで接続されており、冷却部21に対し圧力配管25C介して高圧の圧縮ガスを切り替える。圧縮ガスは、バルブモータ25Bの切り替えにより冷却部21とバルブモータ25Bとの間の圧力配管25Cをパルス的に往復する。これにより、極低温冷凍機11は駆動する。圧力配管25Cは、フレキシブル管を用いることができる。圧力配管25Cを用いることで、冷却部21とバルブモータ25Bとの間が離隔されるため、振動の抑制効果がある。しかし、物理的な駆動部であるバルブモータ25Bが冷却部21から離隔されている状態であっても、圧力振動に起因する圧力配管25Cの伸縮は発生する。この圧力配管25Cの伸縮動作により、冷却部21および保温部23が振動し、機械的な変位に起因する磁気ノイズを発生するため、生体磁気計測装置100において測定ノイズの原因となる。
そこで、図7に示す極低温冷凍機11は、磁気遮蔽部27Aを有する。磁気遮蔽部27Aは、パーマロイなどの高透磁率軟磁性材料で形成されている。磁気遮蔽部27Aは、生体磁気計測装置100において、測定装置である脳機能測定装置101が設置される磁気シールドルームの壁として、脳機能測定装置101の周りを覆う第一磁気遮蔽部27Aaを有する。また、磁気遮蔽部27Aは、極低温冷凍機11の周りであって主に保温部23の外側を覆う第二磁気遮蔽部27Abを有する。第二磁気遮蔽部27Abは、第一磁気遮蔽部27Aaと共に磁気シールドルームとして構成され、脳機能測定装置101において磁気シールドルームの外側となる部分で極低温冷凍機11の周りを覆う。これにより、本実施形態の極低温冷凍機11は、磁気シールドルームの中に設置された脳機能測定装置101と隔てられるように第二磁気遮蔽部27Abによって冷却部21の周りを覆って設けられる。
この極低温冷凍機11は、磁気遮蔽部27A(第二磁気遮蔽部27Ab)により覆われた周りが磁気シールドされる。これにより、極低温冷凍機11は、振動により変動する磁場が生じても、振動による変動磁場の広がりを軽減でき、生体磁気計測装置100の測定装置である脳機能測定装置101の測定ノイズの発生を抑制できる。
また、図7に示すように、本実施形態の極低温冷凍機11は、第二磁気遮蔽部27Abと極低温冷凍機11との間に、振動減衰部材28Aを有する。振動減衰部材28Aは、弾性変形可能に構成され、極低温冷凍機11の冷却部21に生じる振動を減衰して第二磁気遮蔽部27Abに伝わることを防ぐ。振動減衰部材28Aは、例えば、防振ゴムやダンパーなどで構成される。これにより、極低温冷凍機11は、第二磁気遮蔽部27Abとの間を振動が伝わることを抑制できるように切り離し、第二磁気遮蔽部27Abの残留磁場に起因する磁場変動を抑制する。
また、図7に示すように、本実施形態の極低温冷凍機11は、第二磁気遮蔽部27Abと極低温冷凍機11との間に、振動吸収部材29を有する。振動吸収部材29は、例えば、ウレタン素材で構成され、極低温冷凍機11の冷却部21に生じる振動を吸収して第二磁気遮蔽部27Abに伝わることを防ぐ。これにより、極低温冷凍機11は、第二磁気遮蔽部27Abに伝わる振動を抑制し、第二磁気遮蔽部27Abの残留磁場に起因する磁場変動を抑制する。
図8に示す極低温冷凍機11は、上述した磁気遮蔽部27Aを有する。これにより、図8に示す極低温冷凍機11は、図7に示す極低温冷凍機11と同様に、振動により変動する磁場が生じても、振動による変動磁場の広がりを軽減でき、生体磁気計測装置100の測定装置である脳機能測定装置101の測定ノイズの発生を抑制できる。
また、図8に示すように、本実施形態の極低温冷凍機11は、冷却部21と温部23の間に、振動減衰部材28Bを有する。振動減衰部材28Bは、筒形の周りが蛇腹状に形成されて弾性変形可能に構成され、冷却部21を挿通し、筒形の一端が冷却部21側に固定され、筒形の他端が保温部23の上端の開放を塞ぐように固定されている。また、振動減衰部材28Bは、蛇腹状に限らず、弾性を有する筒形に形成されていてもよい。振動減衰部材28Bは、弾性を有する樹脂、振動吸収効果のあるマグネシウム合金で構成できる。従って、振動減衰部材28Bは、振動原因である圧力配管25Cにより極低温冷凍機11の冷却部21に生じる振動を減衰して、保温部23を介して第二磁気遮蔽部27Abに伝わることを防ぐ。これにより、極低温冷凍機11は、第二磁気遮蔽部27Abとの間を振動が伝わることを抑制できるように切り離し、第二磁気遮蔽部27Abの残留磁場に起因する磁場変動を抑制する。
図9に示す極低温冷凍機11は、図8に示す極低温冷凍機11に加えることができ、保温部23の内部において、冷却部21の周りを覆う筒形の磁気遮蔽部27Bを有する。磁気遮蔽部27Bは、低温でも透磁率が高いクライオパームのような軟磁性材料で形成されている。
この極低温冷凍機11は、磁気遮蔽部27Bにより覆われた冷却部21の周りが磁気シールドされる。これにより、極低温冷凍機11は、振動により変動する磁場が生じても、振動による変動磁場の広がりを軽減でき、生体磁気計測装置100の測定装置である脳機能測定装置101の測定ノイズの発生を抑制できる。
また、図7から図9に示す極低温冷凍機11では、保温部23は、非磁性材料で形成されている。非磁性材料としては、例えば、GFRP(Glass-Fiber-Reinforced Plastics)がある。これにより、極低温冷凍機11は、保温部23が磁性を帯びないため、振動しても磁場変動を周囲空間に生じないため、生体磁気計測装置101の測定ノイズの発生を防ぐ。
本実施形態の生体磁気計測装置100は、上述した極低温冷凍機11により、振動による変動磁場の影響を抑制でき、脳機能測定装置101の測定ノイズの発生を抑制できる。
また、本実施形態の生体磁気計測装置100は、第二磁気遮蔽部27Abによって第一磁気遮蔽部27Aaが、脳機能測定装置101の周りを覆う第一磁気遮蔽部27Aaがなす磁気シールドルームの外側に配置される。これにより、生体磁気計測装置100は、極低温冷凍機11の振動により変動する磁場が生じても、振動による変動磁場の広がりを軽減でき、生体磁気計測装置100の測定装置である脳機能測定装置101の測定ノイズの発生を抑制できる。
11 極低温冷凍機
21 冷却部
23 保温部
27A 磁気遮蔽部
27Aa 第一磁気遮蔽部
27Ab 第二磁気遮蔽部
27B 磁気遮蔽部
28A 振動減衰部材
28B 振動減衰部材
29 振動吸収部材
100 生体磁気計測装置
101 脳機能測定装置(測定装置)
特開2019−015466号公報 特開2018−059646号公報

Claims (8)

  1. 冷媒を冷却する冷却部と、
    前記冷却部の周りを覆う磁気遮蔽部と、
    を備える、極低温冷凍機。
  2. 前記冷却部を収容する保温部を備え、
    前記磁気遮蔽部は、前記保温部の周りを覆う、請求項1に記載の極低温冷凍機。
  3. 前記保温部と前記磁気遮蔽部との間に介在される振動減衰部材をさらに備える、請求項2に記載の極低温冷凍機。
  4. 前記保温部と前記磁気遮蔽部との間に介在される振動吸収部材をさらに備える、請求項2または3に記載の極低温冷凍機。
  5. 前記冷却部を収容する保温部を備え、
    前記磁気遮蔽部は、前記保温部に内部に設けられて前記冷却部の周りを覆う、請求項1に記載の極低温冷凍機。
  6. 前記冷却部と前記保温部との間に介在される振動減衰部材をさらに備える、請求項5に記載の極低温冷凍機。
  7. 前記保温部は、非磁性材料で形成されている、請求項2から5のいずれか1項に記載の極低温冷凍機。
  8. 請求項1から7のいずれか1項に記載の極低温冷凍機と、
    前記極低温冷凍機から送られた冷媒により冷却される測定装置と、
    を備え、
    前記極低温冷凍機は、前記測定装置の周りを覆う磁気遮蔽部の外側に配置される、生体磁気計測装置。
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