JP2021139657A - 光デバイス及び光デバイスの試験方法 - Google Patents
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Abstract
Description
10 光チップ
11 光回路
12 試験回路
21 局発光ポート
22 受信光ポート
31A〜31F 第1〜第6のGC
32A〜32F 第1〜第6の分岐カプラ
33A〜33C 第1〜第3の結合分離部
34A〜34C 第1〜第3のPR
Claims (10)
- 光回路と、当該光回路と光接続する試験回路とを有し、
前記試験回路は、
試験光を入力する第1のグレーティングカプラと、
当該第1のグレーティングカプラを通過した前記試験光を参照光として出力する第2のグレーティングカプラと、
前記第1のグレーティングカプラの出力と接続する第1の分岐カプラと
を有し、
前記第1の分岐カプラは、
一方の出力を前記光回路の入力に接続し、前記第1のグレーティングカプラからの試験光を前記光回路に分岐出力すると共に、他方の出力を前記第2のグレーティングカプラの入力に接続し、前記第1のグレーティングカプラからの試験光を前記第2のグレーティングカプラに分岐出力することを特徴とする光デバイス。 - 前記試験回路は、
前記第2のグレーティングカプラの入力と接続する第2の分岐カプラを有し、
前記第2の分岐カプラは、
前記第1の分岐カプラの他方の出力と接続し、前記第1の分岐カプラからの試験光を前記第2のグレーティングカプラに出力することを特徴とする請求項1に記載の光デバイス。 - 前記試験回路は、
前記第1の分岐カプラの一方の出力と前記光回路の入力との間に接続し、前記第1の分岐カプラからの前記試験光を前記光回路に出力する1個の結合分離部と、
前記第1の分岐カプラの他方の出力と前記第2のグレーティングカプラの入力との間に接続し、前記第1の分岐カプラからの前記試験光を前記第2のグレーティングカプラに出力する2個の結合分離部と
を有することを特徴とする請求項2に記載の光デバイス。 - 前記試験回路は、
前記第1の分岐カプラの一方の出力と前記光回路の入力との間に接続し、前記第1の分岐カプラからの前記試験光を偏波し、偏波後の前記試験光を前記光回路に出力する1個の偏波回転部と、
前記第1の分岐カプラの他方の出力と前記第2のグレーティングカプラの入力との間に接続し、前記第1の分岐カプラからの前記試験光を偏波し、偏波後の前記試験光を前記第2のグレーティングカプラに出力する2個の偏波回転部と
を有することを特徴とする請求項2に記載の光デバイス。 - 前記第1のグレーティングカプラから前記第2のグレーティングカプラまでの光導波路の距離は、
前記第1のグレーティングカプラから前記光回路までの光導波路の距離の2倍とすることを特徴とする請求項1〜4の何れか一つに記載の光デバイス。 - 前記試験回路は、
前記試験回路の表面から、前記試験光を入力する前記第1のグレーティングカプラと、
前記試験回路の表面から、前記試験光を前記参照光として出力する前記第2のグレーティングカプラと
を有することを特徴とする請求項1〜5の何れか一つに記載の光デバイス。 - 光回路と、当該光回路と光接続する試験回路とを有し、
前記試験回路は、
当該試験回路の表面から試験光を入力する第1のグレーティングカプラと、
前記試験回路の表面から前記試験光を入力する第2のグレーティングカプラと、
前記試験回路の表面から、前記第1のグレーティングカプラを通過した前記試験光を参照光として出力する第3のグレーティングカプラと、
前記試験回路の表面から、前記第2のグレーティングカプラを通過した前記試験光を参照光として出力する第4のグレーティングカプラと、
前記第1のグレーティングカプラの出力と接続する第1の分岐カプラと、
前記第2のグレーティングカプラの出力と接続する第2の分岐カプラと、
前記第3のグレーティングカプラの入力と接続する第3の分岐カプラと、
前記第4のグレーティングカプラの入力と接続する第4の分岐カプラと、
前記第2の分岐カプラの一方の出力と接続し、前記第2の分岐カプラからの試験光を偏波する第1の偏波回転部と、
前記第2の分岐カプラの他方の出力と接続し、前記第2の分岐カプラからの試験光を偏波する第2の偏波回転部と、
前記第1の分岐カプラの一方の出力と接続すると共に、前記第1の偏波回転部の出力と接続し、前記第1の分岐カプラからの試験光と前記第1の偏波回転部からの偏波後の試験光とを結合し、結合後の試験光を前記光回路に出力する第1の結合分離部と、
前記第1の分岐カプラの他方の出力と接続すると共に、前記第2の偏波回転部の出力と接続し、前記第1の分岐カプラからの試験光と前記第2の偏波回転部からの偏波後の試験光とを結合する第2の結合分離部と、
前記第2の結合分離部の出力と接続し、前記第2の結合分離部から結合後の試験光から、前記第1の分岐カプラからの試験光及び前記第2の偏波回転部の偏波後の試験光に分離する第3の結合分離部と、
前記第3の結合分離部の一方の出力と接続し、分離後の前記第1の分岐カプラからの試験光を入力し、当該試験光を前記第3のグレーティングカプラに出力する前記第3の分岐カプラと、
前記第3の結合分離部の他方の出力と接続し、分離後の前記第2の偏波回転部からの偏波後の試験光を入力し、当該試験光を偏波し、偏波後の試験光を前記第4の分岐カプラ経由で前記第4のグレーティングカプラに出力する第3の偏波回転部と
を有することを特徴とする光デバイス。 - 当該試験回路の表面からTE(Transverse Electric)偏波の試験光を入力する第1のグレーティングカプラと、
前記試験回路の表面から前記TE偏波の試験光を入力する第2のグレーティングカプラと、
前記試験回路の表面から、前記第1のグレーティングカプラを通過した前記TE偏波の試験光を参照光として出力する第3のグレーティングカプラと、
前記試験回路の表面から、前記第2のグレーティングカプラを通過した前記TE偏波の試験光を参照光として出力する第4のグレーティングカプラと、
前記第2の分岐カプラの一方の出力と接続し、前記第2の分岐カプラからのTE偏波の試験光をTM(Transverse Magnetic)偏波する第1の偏波回転部と、
前記第2の分岐カプラの他方の出力と接続し、前記第2の分岐カプラからのTE偏波の試験光をTM偏波する第2の偏波回転部と、
前記第1の分岐カプラの一方の出力と接続すると共に、前記第1の偏波回転部の出力と接続し、前記第1の分岐カプラからのTE偏波の試験光と前記第1の偏波回転部からのTM偏波の試験光とを結合し、結合後の試験光を前記光回路に出力する第1の結合分離部と、
前記第1の分岐カプラの他方の出力と接続すると共に、前記第2の偏波回転部の出力と接続し、前記第1の分岐カプラからのTE偏波の試験光と前記第2の偏波回転部からのTM偏波の試験光とを結合する第2の結合分離部と、
前記第2の結合分離部の出力と接続し、前記第2の結合分離部から結合後の試験光から、前記第1の分岐カプラからのTE偏波の試験光及び前記第2の偏波回転部からのTM偏波の試験光に分離する第3の結合分離部と、
前記第3の結合分離部の一方の出力と接続し、分離後の前記第1の分岐カプラからのTE偏波の試験光を入力し、当該TE偏波の試験光を前記第3のグレーティングカプラに出力する前記第3の分岐カプラと、
前記第3の結合分離部の他方の出力と接続し、分離後の前記第2の偏波回転部からのTM偏波の試験光を入力し、当該TM偏波の試験光をTE偏波し、TE偏波の試験光を前記第4の分岐カプラ経由で前記第4のグレーティングカプラに出力する第3の偏波回転部と
を有することを特徴とする請求項7に記載の光デバイス。 - 前記第1のグレーティングカプラ、前記第2のグレーティングカプラ、前記第3のグレーティングカプラ及び前記第4のグレーティングカプラが前記試験回路の表面に等間隔に配置されることを特徴とする請求項7又は8に記載の光デバイス。
- 光回路と、当該光回路と光接続する試験回路とを有する光デバイスの試験方法を実行する試験装置は、
当該試験装置からの試験光を前記試験回路内の第1のグレーティングカプラに入力し、
前記試験回路内の第1の分岐カプラを用いて前記第1のグレーティングカプラからの試験光を前記光回路及び、前記試験回路内の第2の分岐カプラに分岐出力し、
前記第2の分岐カプラを用いて前記第1の分岐カプラからの試験光を参照光として前記試験回路内の第2のグレーティングカプラに出力し、
前記第2のグレーティングカプラで出力した参照光のパワーを計測する
処理を実行することを特徴とする光デバイスの試験方法。
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