JPH0829290A - 光部品検査装置 - Google Patents
光部品検査装置Info
- Publication number
- JPH0829290A JPH0829290A JP15890894A JP15890894A JPH0829290A JP H0829290 A JPH0829290 A JP H0829290A JP 15890894 A JP15890894 A JP 15890894A JP 15890894 A JP15890894 A JP 15890894A JP H0829290 A JPH0829290 A JP H0829290A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- port
- optical
- light
- light source
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
(57)【要約】
【目的】 一連の測定の途中に人手を介することなく、
多数の光部品の各種光学特性を自動測定する光学特性検
査方法および装置を提供する。 【構成】 光源１６等と；光部品１０の前記入力ポート
の中から任意の１ポートを選択して入力ポートとする入
力ポート切替器１２と；光部品１０の前記出力ポートの
中から任意の１ポートを選択して第１または第２のポー
トに接続する出力ポート切替器１３と；光源からの光を
２つに分岐して一方の分岐ポートが前記各入力ポートに
接続される光スプリッタ１４と；これらの光スプリッタ
１４の他方の分岐ポートの中から任意の１ポートを選択
して参照光ポートとする参照光ポート切替器１５と；光
検出器２４と；参照光検出器２５と；前記光源からの光
を前記入力ポート切替器１２の前記入力ポートまたは前
記出力ポート切替器１３の前記第２のポートに切り替え
接続する光源切替器２０とを設ける。
多数の光部品の各種光学特性を自動測定する光学特性検
査方法および装置を提供する。 【構成】 光源１６等と；光部品１０の前記入力ポート
の中から任意の１ポートを選択して入力ポートとする入
力ポート切替器１２と；光部品１０の前記出力ポートの
中から任意の１ポートを選択して第１または第２のポー
トに接続する出力ポート切替器１３と；光源からの光を
２つに分岐して一方の分岐ポートが前記各入力ポートに
接続される光スプリッタ１４と；これらの光スプリッタ
１４の他方の分岐ポートの中から任意の１ポートを選択
して参照光ポートとする参照光ポート切替器１５と；光
検出器２４と；参照光検出器２５と；前記光源からの光
を前記入力ポート切替器１２の前記入力ポートまたは前
記出力ポート切替器１３の前記第２のポートに切り替え
接続する光源切替器２０とを設ける。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光コネクタや光カプラ
等の受動型光部品の光学特性検査装置に関する。
等の受動型光部品の光学特性検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】受動型光部品の光学特性検査項目には、
挿入損失；挿入損失の波長依存性，偏波依存性および温
度依存性；および反射減衰量等がある。かかる光部品の
光学特性を検査する場合、従来は各検査項目毎に専用の
測定装置を用いて、光部品を１個ずつ検査していた。し
たがって、多数の光部品の検査、および光入力ポートあ
るいは光出力ポートの数が多い光部品の検査の際には、
検査に要する人手と時間は膨大となるので、検査の自動
化と高速化が望まれている。
挿入損失；挿入損失の波長依存性，偏波依存性および温
度依存性；および反射減衰量等がある。かかる光部品の
光学特性を検査する場合、従来は各検査項目毎に専用の
測定装置を用いて、光部品を１個ずつ検査していた。し
たがって、多数の光部品の検査、および光入力ポートあ
るいは光出力ポートの数が多い光部品の検査の際には、
検査に要する人手と時間は膨大となるので、検査の自動
化と高速化が望まれている。
【０００３】そこで、近年、光部品の検査を自動化した
装置が開発されている。
装置が開発されている。
【０００４】例えば、Ｂｅｌｌ Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔ
ｉｏｎ Ｒｅｓｅａｒｃｈ，Ｉｎｃ．のＴｅｃｈｎｉｃ
ａｌ Ａｄｖｉｓｏｒｙ ＴＡ−ＮＷＴ−０００３２
６，Ｇｅｎｅｒｉｃ Ｒｅｑｕｉｒｅｍｅｎｔｓ ｆｏ
ｒ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ Ｃｏｎｎｅｃｔｏｒ
ｓ，Ｉｓｓｕｅ ４，Ｄｅｃｅｍｂｅｒ １９９３．に
は、光コネクタの光学特性測定装置が開示されている。
ｉｏｎ Ｒｅｓｅａｒｃｈ，Ｉｎｃ．のＴｅｃｈｎｉｃ
ａｌ Ａｄｖｉｓｏｒｙ ＴＡ−ＮＷＴ−０００３２
６，Ｇｅｎｅｒｉｃ Ｒｅｑｕｉｒｅｍｅｎｔｓ ｆｏ
ｒ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ Ｃｏｎｎｅｃｔｏｒ
ｓ，Ｉｓｓｕｅ ４，Ｄｅｃｅｍｂｅｒ １９９３．に
は、光コネクタの光学特性測定装置が開示されている。
【０００５】図４には、上記文献の5.2.1 節に、透過測
定設備（ＴｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎＭｅａｓｕｒｅｍｅ
ｎｔ Ｆａｃｉｌｉｔｙ）として記載されている装置を
示す。図４に示すように、本装置は、測定対象となる光
部品をｎ個切り替え可能な第１および第２のスイッチ１
０１および１０２を有し、これら第１および第２のスイ
ッチ１０１および１０２のそれぞれの固定ポート１〜ｎ
の間にはそれぞれモードフィルタ１０３Ａおよび１０３
Ｂを介して光部品としての光コネクタ１０４Ａおよび１
０４Ｂが接続されている。第１のスイッチ１０１の可動
ポートには光カプラ１０５の第１のポート１０５ａが接
続されており、第２のスイッチ１０２の可動ポートには
光検出器１０６が接続されている。波長λ1 およびλ2
の光源１０７Ａおよび１０７Ｂは、これらを切り替え可
能な第３のスイッチ１０８を介して光カプラ１０５の第
２のポート１０５ｂに接続されており、λ1 またはλ2
の光が光カプラ１０５および第１のスイッチ１０１を介
して光コネクタ１０４Ａおよび１０４Ｂに入射できるよ
うになっている。また、光カプラ１０５は、光スイッチ
１０１からの反射光は、光源の入射ポート１０５ｂとは
異なる第３のポート１０５ｃへ出射するようになってお
り、この第３のポート１０５ｃは第２のスイッチ１０２
の固定ポートｒに接続されている。また、第１および第
２のスイッチ１０１および１０２は、それぞれ固定ポー
トｍを有し、これらは光部品を間に挿入しない状態で接
続されている。この固定ポートｍは、光源１０７Ａおよ
び１０７Ｂの光パワーの変動の影響を排除するための参
照光として用いるものである。
定設備（ＴｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎＭｅａｓｕｒｅｍｅ
ｎｔ Ｆａｃｉｌｉｔｙ）として記載されている装置を
示す。図４に示すように、本装置は、測定対象となる光
部品をｎ個切り替え可能な第１および第２のスイッチ１
０１および１０２を有し、これら第１および第２のスイ
ッチ１０１および１０２のそれぞれの固定ポート１〜ｎ
の間にはそれぞれモードフィルタ１０３Ａおよび１０３
Ｂを介して光部品としての光コネクタ１０４Ａおよび１
０４Ｂが接続されている。第１のスイッチ１０１の可動
ポートには光カプラ１０５の第１のポート１０５ａが接
続されており、第２のスイッチ１０２の可動ポートには
光検出器１０６が接続されている。波長λ1 およびλ2
の光源１０７Ａおよび１０７Ｂは、これらを切り替え可
能な第３のスイッチ１０８を介して光カプラ１０５の第
２のポート１０５ｂに接続されており、λ1 またはλ2
の光が光カプラ１０５および第１のスイッチ１０１を介
して光コネクタ１０４Ａおよび１０４Ｂに入射できるよ
うになっている。また、光カプラ１０５は、光スイッチ
１０１からの反射光は、光源の入射ポート１０５ｂとは
異なる第３のポート１０５ｃへ出射するようになってお
り、この第３のポート１０５ｃは第２のスイッチ１０２
の固定ポートｒに接続されている。また、第１および第
２のスイッチ１０１および１０２は、それぞれ固定ポー
トｍを有し、これらは光部品を間に挿入しない状態で接
続されている。この固定ポートｍは、光源１０７Ａおよ
び１０７Ｂの光パワーの変動の影響を排除するための参
照光として用いるものである。
【０００６】図４の装置において、光カプラ１０５およ
び光検出器１０６が接続された可動ポートを、それぞれ
第１および第２のスイッチ１０１および１０２のそれぞ
れの固定ポート１からポートｎまで切り替えることによ
って、ｎ組の光コネクタ１０４Ａおよび１０４Ｂの挿入
損失を測定することができる。また、第２のスイッチ１
０２への光検出器１０６の接続位置をポートｒに固定
し、第１のスイッチ１０１への光カプラ１０５の接続位
置をポート１からポートｎまで切り替えることによっ
て、ｎ組の光コネクタ１０４Ａおよび１０４Ｂの反射減
衰量を測定することができる。さらに本装置は、光カプ
ラ等の、２ケ所以上の光入力ポートあるいは光出力ポー
トを有する光回路部品の測定にも適用することができ
る。
び光検出器１０６が接続された可動ポートを、それぞれ
第１および第２のスイッチ１０１および１０２のそれぞ
れの固定ポート１からポートｎまで切り替えることによ
って、ｎ組の光コネクタ１０４Ａおよび１０４Ｂの挿入
損失を測定することができる。また、第２のスイッチ１
０２への光検出器１０６の接続位置をポートｒに固定
し、第１のスイッチ１０１への光カプラ１０５の接続位
置をポート１からポートｎまで切り替えることによっ
て、ｎ組の光コネクタ１０４Ａおよび１０４Ｂの反射減
衰量を測定することができる。さらに本装置は、光カプ
ラ等の、２ケ所以上の光入力ポートあるいは光出力ポー
トを有する光回路部品の測定にも適用することができ
る。
【０００７】また、図５には、上記文献の5.2.2 節に、
ＯＴＤＲ測定設備（ＯＴＤＲ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ
Ｆａｃｉｌｉｔｙ）として記載されている装置を示
す。図５に示すように、本装置も上述した装置と同様
に、測定対象となる光部品をｎ個切り替え可能な第１お
よび第２のスイッチ１０１および１０２を有し、これら
第１および第２のスイッチ１０１および１０２のそれぞ
れの固定ポート１〜ｎの間にはそれぞれモードフィルタ
１０３Ａおよび１０３Ｂ並びに光ファイバ１０９Ａおよ
び１０９Ｂを介して光部品としての光コネクタ１０４Ａ
および１０４Ｂが接続されている。本装置は、光コネク
タの挿入損失および反射減衰量を、ＯＴＤＲ（Ｏｐｔｉ
ｃａｌ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍ
ｅｔｅｒ）を用いて測定するものであり、第１のスイッ
チ１０１の他端側には、ＯＴＤＲ１１０が切り替え可能
に接続されている。また、第２のスイッチ１０２の可動
ポートは、第１のスイッチ１０１の固定ポートｒに接続
されている。なお、光ファイバ１０９Ａおよび１０９Ｂ
は、ＯＴＤＲ１１０がパルスを発振した後、反射光が返
ってくるまでの時間を稼ぐためのものである。
ＯＴＤＲ測定設備（ＯＴＤＲ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ
Ｆａｃｉｌｉｔｙ）として記載されている装置を示
す。図５に示すように、本装置も上述した装置と同様
に、測定対象となる光部品をｎ個切り替え可能な第１お
よび第２のスイッチ１０１および１０２を有し、これら
第１および第２のスイッチ１０１および１０２のそれぞ
れの固定ポート１〜ｎの間にはそれぞれモードフィルタ
１０３Ａおよび１０３Ｂ並びに光ファイバ１０９Ａおよ
び１０９Ｂを介して光部品としての光コネクタ１０４Ａ
および１０４Ｂが接続されている。本装置は、光コネク
タの挿入損失および反射減衰量を、ＯＴＤＲ（Ｏｐｔｉ
ｃａｌ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍ
ｅｔｅｒ）を用いて測定するものであり、第１のスイッ
チ１０１の他端側には、ＯＴＤＲ１１０が切り替え可能
に接続されている。また、第２のスイッチ１０２の可動
ポートは、第１のスイッチ１０１の固定ポートｒに接続
されている。なお、光ファイバ１０９Ａおよび１０９Ｂ
は、ＯＴＤＲ１１０がパルスを発振した後、反射光が返
ってくるまでの時間を稼ぐためのものである。
【０００８】かかる装置では、反射減衰量の測定におい
て、第１および第２のスイッチ１０１および１０２を、
それぞれポート１からポートｎまで切り替えることによ
って第１のスイッチ１側からの反射減衰量を測定できる
だけでなく、第１のスイッチ１をポートｒに固定し、第
２のスイッチ１０２をポート１からポートｎまで切り替
えることによって、第２のスイッチ１０２側からの反射
減衰量も測定することができる。
て、第１および第２のスイッチ１０１および１０２を、
それぞれポート１からポートｎまで切り替えることによ
って第１のスイッチ１側からの反射減衰量を測定できる
だけでなく、第１のスイッチ１をポートｒに固定し、第
２のスイッチ１０２をポート１からポートｎまで切り替
えることによって、第２のスイッチ１０２側からの反射
減衰量も測定することができる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図４および図
５の装置の何れの場合においても、挿入損失を求めるた
めには、光コネクタ１０４Ａおよび１０４Ｂの測定が終
った後、カットバック法で光コネクタ１０４Ａおよび１
０４Ｂが無いときの基準の光出力、すなわち光コネクタ
１０４Ａおよび１０４Ｂを外して光ファイバ同志を融着
接続した状態で測定する必要がある。
５の装置の何れの場合においても、挿入損失を求めるた
めには、光コネクタ１０４Ａおよび１０４Ｂの測定が終
った後、カットバック法で光コネクタ１０４Ａおよび１
０４Ｂが無いときの基準の光出力、すなわち光コネクタ
１０４Ａおよび１０４Ｂを外して光ファイバ同志を融着
接続した状態で測定する必要がある。
【００１０】以上説明したように、従来技術において多
数の光部品の光学特性自動測定や複数の光学特性項目の
連続測定が実施されている。しかしながら、何れの場合
も挿入損失を測定するときにカットバック法が行われて
おり、一連の測定の途中でカットバックのための人手が
不可欠であるという問題がある。
数の光部品の光学特性自動測定や複数の光学特性項目の
連続測定が実施されている。しかしながら、何れの場合
も挿入損失を測定するときにカットバック法が行われて
おり、一連の測定の途中でカットバックのための人手が
不可欠であるという問題がある。
【００１１】本発明の目的は、このような事情に鑑み、
一連の測定の途中に人手を介することなく、多数の光部
品の各種光学特性を自動測定する光部品検査装置を提供
することにある。
一連の測定の途中に人手を介することなく、多数の光部
品の各種光学特性を自動測定する光部品検査装置を提供
することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成する本発
明の第１の態様は、１個または複数の光入力ポートと１
個または複数の光出力ポートとを有する光部品を１個ま
たは複数個接続して、前記光部品の各種光学特性を自動
測定する装置であって；光源と；前記光部品の前記入力
ポートに接続され、当該入力ポートの中から任意の１ポ
ートを選択して入力ポートとする入力ポート切替器と；
前記光部品の前記出力ポートに接続され、当該出力ポー
トの中から任意の１ポートを選択して第１または第２の
ポートに接続する出力ポート切替器と；前記入力ポート
切替器と前記光部品の各入力ポートとの間に配置され、
前記光源からの光を２つに分岐して一方の分岐ポートが
前記各入力ポートに接続される光スプリッタと；これら
の光スプリッタの他方の分岐ポートにそれぞれ接続さ
れ、当該各分岐ポートの中から任意の１ポートを選択し
て参照光ポートとする参照光ポート切替器と；前記出力
ポート切替器の前記第１のポートに接続される光検出器
と；前記参照光ポート切替器の前記参照光ポートに接続
される参照光検出器と；前記光源と前記入力ポート切替
器との間に配置され、前記光源からの光を前記入力ポー
ト切替器の前記入力ポートまたは前記出力ポート切替器
の前記第２のポートに切り替え接続する光源切替器とを
具備することを特徴とする光部品検査装置にある。
明の第１の態様は、１個または複数の光入力ポートと１
個または複数の光出力ポートとを有する光部品を１個ま
たは複数個接続して、前記光部品の各種光学特性を自動
測定する装置であって；光源と；前記光部品の前記入力
ポートに接続され、当該入力ポートの中から任意の１ポ
ートを選択して入力ポートとする入力ポート切替器と；
前記光部品の前記出力ポートに接続され、当該出力ポー
トの中から任意の１ポートを選択して第１または第２の
ポートに接続する出力ポート切替器と；前記入力ポート
切替器と前記光部品の各入力ポートとの間に配置され、
前記光源からの光を２つに分岐して一方の分岐ポートが
前記各入力ポートに接続される光スプリッタと；これら
の光スプリッタの他方の分岐ポートにそれぞれ接続さ
れ、当該各分岐ポートの中から任意の１ポートを選択し
て参照光ポートとする参照光ポート切替器と；前記出力
ポート切替器の前記第１のポートに接続される光検出器
と；前記参照光ポート切替器の前記参照光ポートに接続
される参照光検出器と；前記光源と前記入力ポート切替
器との間に配置され、前記光源からの光を前記入力ポー
ト切替器の前記入力ポートまたは前記出力ポート切替器
の前記第２のポートに切り替え接続する光源切替器とを
具備することを特徴とする光部品検査装置にある。
【００１３】また、本発明の第２の態様は、第１態様に
おいて、前記光源切替器には複数の光源が接続されてお
り、当該光源切替器は、当該複数の光源の中から任意に
選択した光源からの光を前記入力ポート切替器の前記入
力ポートまたは前記出力ポート切替器の前記第２のポー
トに切り替え接続することを特徴とする光部品検査装置
にある。
おいて、前記光源切替器には複数の光源が接続されてお
り、当該光源切替器は、当該複数の光源の中から任意に
選択した光源からの光を前記入力ポート切替器の前記入
力ポートまたは前記出力ポート切替器の前記第２のポー
トに切り替え接続することを特徴とする光部品検査装置
にある。
【００１４】本発明の第３の態様は、第１または２の態
様において、前記参照光ポート切替器と前記入力ポート
切替器とが同じ１台の切替器によって構成されているこ
とを特徴とする光部品検査装置にある。
様において、前記参照光ポート切替器と前記入力ポート
切替器とが同じ１台の切替器によって構成されているこ
とを特徴とする光部品検査装置にある。
【００１５】本発明の第４の態様は、第１、２または３
の態様において、前記光源は、少なくともＯＴＤＲであ
ることを特徴とする光部品検査装置にある。
の態様において、前記光源は、少なくともＯＴＤＲであ
ることを特徴とする光部品検査装置にある。
【００１６】本発明に係る光部品検査装置の特徴は、挿
入損失の測定において、光源からの光を光スプリッタで
２分岐し、分岐した一方の光を測定対象である光部品に
通し、他方の光は光部品を通さずに、それぞれの光出力
を光検出器で測定する方法によって挿入損失を求めてい
る点にある。
入損失の測定において、光源からの光を光スプリッタで
２分岐し、分岐した一方の光を測定対象である光部品に
通し、他方の光は光部品を通さずに、それぞれの光出力
を光検出器で測定する方法によって挿入損失を求めてい
る点にある。
【００１７】本発明の挿入損失測定法を図３を用いて具
体的に説明する。
体的に説明する。
【００１８】事前測定（図３（ａ））では、光源１から
の光を光スプリッタ２で２分岐し、それぞれの出力を、
光部品を接続しない状態で第１および第２の光検出器３
および４で測定し、光スプリッタ２の分岐比の値ｒ＝Ｐ
10／Ｐ20を求める。光スプリッタ２の分岐比は光源の波
長によって変化するため、検査で規定されているすべて
の波長で分岐比を求めておく必要があるからである。
の光を光スプリッタ２で２分岐し、それぞれの出力を、
光部品を接続しない状態で第１および第２の光検出器３
および４で測定し、光スプリッタ２の分岐比の値ｒ＝Ｐ
10／Ｐ20を求める。光スプリッタ２の分岐比は光源の波
長によって変化するため、検査で規定されているすべて
の波長で分岐比を求めておく必要があるからである。
【００１９】また、本測定（図３（ｂ））では、光源１
からの光を光スプリッタ２で２分岐した後、その分岐光
の一方に光部品５を挿入して、第１および第２の光検出
器３および４の出力Ｐ1 とＰ2 を測定する。このとき、
光部品５の挿入損失αは（１）式で与えられる。
からの光を光スプリッタ２で２分岐した後、その分岐光
の一方に光部品５を挿入して、第１および第２の光検出
器３および４の出力Ｐ1 とＰ2 を測定する。このとき、
光部品５の挿入損失αは（１）式で与えられる。
【００２０】
【数１】 α＝１０・ｌｏｇ（ｒＰ2 ／Ｐ1 ） （１） 本発明では、光部品５が無いときの基準の光出力を光部
品５を接続した状態での第１の光検出器３の測定値と光
スプリッタ２の分岐比の値とから求めており、従来の測
定法であるカットバック法のように測定の途中で光部品
を切り離す必要がない。
品５を接続した状態での第１の光検出器３の測定値と光
スプリッタ２の分岐比の値とから求めており、従来の測
定法であるカットバック法のように測定の途中で光部品
を切り離す必要がない。
【００２１】
【実施例】以下に図面を参照し、本発明をより具体的に
詳述するが、以下に開示する実施例は本発明の単なる例
示に過ぎず、本発明の範囲を何等限定するものではな
い。
詳述するが、以下に開示する実施例は本発明の単なる例
示に過ぎず、本発明の範囲を何等限定するものではな
い。
【００２２】（実施例１）図１は本発明の第一の実施例
に係る装置を示す模式図である。図１に示すように、測
定対象となる複数の、あるいは複数の入出力端子を有す
る光部品１０は、恒温層１１内に設置されている。本実
施例の装置は、光部品１０の複数（本実施例では８０
個）の入出力端をそれぞれ切り替えるために入力ポート
切替器１２および出力ポート切替器１３を具備し、入力
ポート切替器１２と光部品１０との間には、入力ポート
切替器１２の固定ポート１２ａの数と同数の光スプリッ
タ１４が配置されている。各光スプリッタ１４の一端
は、各固定ポート１２ａに接続されており、他端の分岐
ポートの一方が、それぞれ光部品１０の入力ポート側に
接続されている。また、光スプリッタ１４の分岐ポート
の他方は参照光出力ポートとなり、これらは参照光ポー
ト切替器１５の複数（本実施例では８０個）の固定ポー
ト１５ａにそれぞれ接続されている。一方、出力ポート
切替器１３の複数（本実施例では８０個）の固定ポート
１３ａは、それぞれ光部品１０の出力ポート側に接続さ
れている。また、本実施例の装置は、光源として、発光
ダイオード（ＬＥＤ）光源１６、半導体レーザ（ＬＤ）
光源１７、白色光源１８、およびＯＴＤＲ１９を有し、
これらの光源群は光源切替器２０の４個の固定ポート２
０ａにそれぞれ接続されている。なお、光源切替器２０
と、ＬＤ光源１７および白色光源１８との間には、それ
ぞれ偏波制御器２１および分光器２２が接続されてい
る。ここで、光源切替器２０は、２つの可動ポート２０
ｂおよび２０ｃを有し、一方の可動ポート２０ｂが入力
ポート切替器１２の可動ポート１２ｂに接続されてい
る。また、この装置は、光検出器２４および参照光検出
器２５を具備し、これらはそれぞれ、出力ポート切替器
１３の可動ポート１３ｂおよび参照光ポート切替器１５
の可動ポート１５ｂに接続されている。また、出力ポー
ト切替器１３は、可動ポート１３ｂの他に第２の可動ポ
ート１３ｃを有しており、この可動ポート１３ｃは、光
源切替器２０の可動ポート２０ｃと接続されている。
に係る装置を示す模式図である。図１に示すように、測
定対象となる複数の、あるいは複数の入出力端子を有す
る光部品１０は、恒温層１１内に設置されている。本実
施例の装置は、光部品１０の複数（本実施例では８０
個）の入出力端をそれぞれ切り替えるために入力ポート
切替器１２および出力ポート切替器１３を具備し、入力
ポート切替器１２と光部品１０との間には、入力ポート
切替器１２の固定ポート１２ａの数と同数の光スプリッ
タ１４が配置されている。各光スプリッタ１４の一端
は、各固定ポート１２ａに接続されており、他端の分岐
ポートの一方が、それぞれ光部品１０の入力ポート側に
接続されている。また、光スプリッタ１４の分岐ポート
の他方は参照光出力ポートとなり、これらは参照光ポー
ト切替器１５の複数（本実施例では８０個）の固定ポー
ト１５ａにそれぞれ接続されている。一方、出力ポート
切替器１３の複数（本実施例では８０個）の固定ポート
１３ａは、それぞれ光部品１０の出力ポート側に接続さ
れている。また、本実施例の装置は、光源として、発光
ダイオード（ＬＥＤ）光源１６、半導体レーザ（ＬＤ）
光源１７、白色光源１８、およびＯＴＤＲ１９を有し、
これらの光源群は光源切替器２０の４個の固定ポート２
０ａにそれぞれ接続されている。なお、光源切替器２０
と、ＬＤ光源１７および白色光源１８との間には、それ
ぞれ偏波制御器２１および分光器２２が接続されてい
る。ここで、光源切替器２０は、２つの可動ポート２０
ｂおよび２０ｃを有し、一方の可動ポート２０ｂが入力
ポート切替器１２の可動ポート１２ｂに接続されてい
る。また、この装置は、光検出器２４および参照光検出
器２５を具備し、これらはそれぞれ、出力ポート切替器
１３の可動ポート１３ｂおよび参照光ポート切替器１５
の可動ポート１５ｂに接続されている。また、出力ポー
ト切替器１３は、可動ポート１３ｂの他に第２の可動ポ
ート１３ｃを有しており、この可動ポート１３ｃは、光
源切替器２０の可動ポート２０ｃと接続されている。
【００２３】本実施例の装置において、ＬＥＤ光源１６
は挿入損失、あるいは挿入損失の温度依存性を測定する
ときに、ＬＤ光源１７と偏波制御器２１は挿入損失の偏
波依存性を測定するときに、白色光源１８および分光器
２２は挿入損失の波長依存性を測定するときに、ＯＴＤ
Ｒ１９は反射減衰量の測定をするときにそれぞれ使用さ
れる。また、挿入損失、挿入損失の温度依存性、挿入損
失の偏波依存性、および反射減衰量はそれぞれ、波長
１．３１μｍおよび１．５５μｍの両方の波長で測定可
能である。これらの光源は、光源切替器２０により、任
意の一台に切り替えることが可能であり、所望の光源
が、可動ポート２０ｂを介して入力ポート切替器１２の
固定ポート１２ｂに接続される。固定ポート１２ｂに接
続された光源は、任意に選択できる可動ポート１２ａに
接続される光部品１０の入力ポート側に接続される。入
力ポート切替器１２と光部品１０との間に配置されてい
る光スプリッタ１４は、各可動ポート１２ａから出力さ
れる光を２つに分岐し、その一方を光部品１０に出力す
るようになっており、分岐した他方の光は参照光ポート
切替器１５の各固定ポート１５ａに出力される。また、
光部品１０を通過した光は、出力ポート切替器１３の各
固定ポート１３ａに出力される。そして、出力ポート切
替器１３の各固定ポート１３ａおよび参照光ポート切替
器１５の各固定ポート１５ａにそれぞれ入力された光
は、それぞれ固定ポート１３ｂおよび１５ｂを介して、
光検出器２４および参照光検出器２５に出力される。
は挿入損失、あるいは挿入損失の温度依存性を測定する
ときに、ＬＤ光源１７と偏波制御器２１は挿入損失の偏
波依存性を測定するときに、白色光源１８および分光器
２２は挿入損失の波長依存性を測定するときに、ＯＴＤ
Ｒ１９は反射減衰量の測定をするときにそれぞれ使用さ
れる。また、挿入損失、挿入損失の温度依存性、挿入損
失の偏波依存性、および反射減衰量はそれぞれ、波長
１．３１μｍおよび１．５５μｍの両方の波長で測定可
能である。これらの光源は、光源切替器２０により、任
意の一台に切り替えることが可能であり、所望の光源
が、可動ポート２０ｂを介して入力ポート切替器１２の
固定ポート１２ｂに接続される。固定ポート１２ｂに接
続された光源は、任意に選択できる可動ポート１２ａに
接続される光部品１０の入力ポート側に接続される。入
力ポート切替器１２と光部品１０との間に配置されてい
る光スプリッタ１４は、各可動ポート１２ａから出力さ
れる光を２つに分岐し、その一方を光部品１０に出力す
るようになっており、分岐した他方の光は参照光ポート
切替器１５の各固定ポート１５ａに出力される。また、
光部品１０を通過した光は、出力ポート切替器１３の各
固定ポート１３ａに出力される。そして、出力ポート切
替器１３の各固定ポート１３ａおよび参照光ポート切替
器１５の各固定ポート１５ａにそれぞれ入力された光
は、それぞれ固定ポート１３ｂおよび１５ｂを介して、
光検出器２４および参照光検出器２５に出力される。
【００２４】一方、上述した光源は、光源切替器２０の
可動ポート２０ｃおよび出力ポート切替器１３を介して
光部品１０の出力ポート側にも接続することができるよ
うになっている。この可動ポート１３ｃに接続された光
源からの光は、固定ポート１３ａの何れかに切り替えら
れて、光部品１０の出力ポート側に出力される。
可動ポート２０ｃおよび出力ポート切替器１３を介して
光部品１０の出力ポート側にも接続することができるよ
うになっている。この可動ポート１３ｃに接続された光
源からの光は、固定ポート１３ａの何れかに切り替えら
れて、光部品１０の出力ポート側に出力される。
【００２５】挿入損失、挿入損失の温度依存性、挿入損
失の偏波依存性、あるいは挿入損失の波長依存性を測定
するときには、光源切替器２０、入力ポート切替器１
２、出力ポート切替器１３および参照光ポート切替器１
５を操作して、それぞれの測定に必要な光源と光部品１
０の光入力ポートを選択するとともに、選択された光部
品１０の光出力ポートと光検出器２４、および光スプリ
ッタ１４の参照光ポートと参照光検出器２５を接続すれ
ばよい。また、ＯＴＤＲ１９と光部品１０の光入力ポー
トを接続したときには、光部品１０の光入力ポート側か
ら反射減衰量を測定でき、ＯＴＤＲ６と光部品１０の光
出力ポートを接続したときには、光部品１０の光出力ポ
ート側からの反射減衰量を測定できる。なお、ＯＴＤＲ
１９は光パルス幅１０ｎｓで空間分解能２ｍの高分解能
型を用いている。また、光部品１０からの反射光信号
と、前後の測定系からの反射光とが重ならないように、
光部品１０と各測定系との距離をある程度大きくとる必
要がある。例えば、光部品１０と光スプリッタ１４とを
接続する光ファイバの長さをＬ1 、光部品１０と出力ポ
ート切替器１３を接続する光ファイバの長さをＬ2 、光
スプリッタ１４と参照光ポート切替器１５とを接続する
光ファイバの長さをＬ3 、および参照光ポート切替器１
５と参照光検出器２５とを接続する光ファイバの長さを
Ｌ4 とした場合、下記式（２）および（３）に示す条件
とするのが望ましい。すなわち、式（２）および（３）
に示すように、光部品１０からの反射光を光スプリッタ
１４および出力ポート切替器１３からの反射光と区別す
るためにはＬ1 よびＬ2 が最低限５ｍ程度必要であり、
光部品１０からの反射光を参照光ポート切替器１５およ
び参照光検出器２５からの反射光と区別するためには、
Ｌ1 が５ｍよりさらにＬ3 とＬ4 との和以上だけ大きい
ことが必要である。
失の偏波依存性、あるいは挿入損失の波長依存性を測定
するときには、光源切替器２０、入力ポート切替器１
２、出力ポート切替器１３および参照光ポート切替器１
５を操作して、それぞれの測定に必要な光源と光部品１
０の光入力ポートを選択するとともに、選択された光部
品１０の光出力ポートと光検出器２４、および光スプリ
ッタ１４の参照光ポートと参照光検出器２５を接続すれ
ばよい。また、ＯＴＤＲ１９と光部品１０の光入力ポー
トを接続したときには、光部品１０の光入力ポート側か
ら反射減衰量を測定でき、ＯＴＤＲ６と光部品１０の光
出力ポートを接続したときには、光部品１０の光出力ポ
ート側からの反射減衰量を測定できる。なお、ＯＴＤＲ
１９は光パルス幅１０ｎｓで空間分解能２ｍの高分解能
型を用いている。また、光部品１０からの反射光信号
と、前後の測定系からの反射光とが重ならないように、
光部品１０と各測定系との距離をある程度大きくとる必
要がある。例えば、光部品１０と光スプリッタ１４とを
接続する光ファイバの長さをＬ1 、光部品１０と出力ポ
ート切替器１３を接続する光ファイバの長さをＬ2 、光
スプリッタ１４と参照光ポート切替器１５とを接続する
光ファイバの長さをＬ3 、および参照光ポート切替器１
５と参照光検出器２５とを接続する光ファイバの長さを
Ｌ4 とした場合、下記式（２）および（３）に示す条件
とするのが望ましい。すなわち、式（２）および（３）
に示すように、光部品１０からの反射光を光スプリッタ
１４および出力ポート切替器１３からの反射光と区別す
るためにはＬ1 よびＬ2 が最低限５ｍ程度必要であり、
光部品１０からの反射光を参照光ポート切替器１５およ
び参照光検出器２５からの反射光と区別するためには、
Ｌ1 が５ｍよりさらにＬ3 とＬ4 との和以上だけ大きい
ことが必要である。
【００２６】
【数２】 Ｌ1 ＞Ｌ3 ＋Ｌ4 ＋５ｍ （２） Ｌ2 ＞５ｍ （３） 以上説明したように本発明の第一の実施例に示す装置を
用いることによって、最大８０ケ所の光入力ポートおよ
び光出力ポートをもつ光部品の挿入損失、挿入損失の温
度依存性、挿入損失の偏波依存性、挿入損失の波長依存
性、および光入力ポート側からの反射減衰量の他、光出
力ポート側からの反射減衰量を自動測定することができ
る。すなわち、最初に光部品１０の光入力ポートと光出
力ポートをそれぞれ、光スプリッタ１４と出力ポート切
替器１３に接続するときに人手を介するだけで、あとの
各種光学特性の測定からデータシートの作成までを全自
動で処理することが可能である。なお、図３（ａ）に示
す事前測定は、装置を組み立てた後、一度行えば、光部
品１０の交換毎にする必要はない。
用いることによって、最大８０ケ所の光入力ポートおよ
び光出力ポートをもつ光部品の挿入損失、挿入損失の温
度依存性、挿入損失の偏波依存性、挿入損失の波長依存
性、および光入力ポート側からの反射減衰量の他、光出
力ポート側からの反射減衰量を自動測定することができ
る。すなわち、最初に光部品１０の光入力ポートと光出
力ポートをそれぞれ、光スプリッタ１４と出力ポート切
替器１３に接続するときに人手を介するだけで、あとの
各種光学特性の測定からデータシートの作成までを全自
動で処理することが可能である。なお、図３（ａ）に示
す事前測定は、装置を組み立てた後、一度行えば、光部
品１０の交換毎にする必要はない。
【００２７】（実施例２）図２は本発明の第二の実施例
にかかる装置を示す模式図である。なお、図１の装置と
同一作用を示す部材には同一符号を付して重複する説明
は省略する。
にかかる装置を示す模式図である。なお、図１の装置と
同一作用を示す部材には同一符号を付して重複する説明
は省略する。
【００２８】本実施例の装置は、第一の実施例の入力ポ
ート切替器１２および参照光ポート切替器１５の換わり
に、入力ポート切替器２６を具備する。入力ポート切替
器２６には２心×８０ケ所の固定ポート２０ａと、２心
×１ケ所の可動ポート２０ｂを有する。そして、２心の
固定ポート２０ａには、光スプリッタ１４の光入力ポー
トと分岐側の参照光ポートが対になってそれぞれ接続さ
れており、また、２心の可動ポート２６ｂには、光源切
替器２０の可動ポート２０ｂと参照光検出器２５とが接
続されている。２心の可動ポート２６ｂを２心×８０ケ
所の固定ポート２６ａに２心単位で接続することによっ
て、光源切替器２０と光スプリッタ１４の光入力ポート
との接続、および参照光検出器２５と光スプリッタ１４
の参照光ポートとの接続という２組の接続を同時に行う
ことができる。すなわち入力ポート切替器２６は、図１
の本発明の第一の実施例における入力ポート切替器１２
と参照光ポート切替器１５との機能を合わせ持ってい
る。
ート切替器１２および参照光ポート切替器１５の換わり
に、入力ポート切替器２６を具備する。入力ポート切替
器２６には２心×８０ケ所の固定ポート２０ａと、２心
×１ケ所の可動ポート２０ｂを有する。そして、２心の
固定ポート２０ａには、光スプリッタ１４の光入力ポー
トと分岐側の参照光ポートが対になってそれぞれ接続さ
れており、また、２心の可動ポート２６ｂには、光源切
替器２０の可動ポート２０ｂと参照光検出器２５とが接
続されている。２心の可動ポート２６ｂを２心×８０ケ
所の固定ポート２６ａに２心単位で接続することによっ
て、光源切替器２０と光スプリッタ１４の光入力ポート
との接続、および参照光検出器２５と光スプリッタ１４
の参照光ポートとの接続という２組の接続を同時に行う
ことができる。すなわち入力ポート切替器２６は、図１
の本発明の第一の実施例における入力ポート切替器１２
と参照光ポート切替器１５との機能を合わせ持ってい
る。
【００２９】本発明の第二の実施例を用いることによっ
ても、本発明の第一の実施例を用いたときと同様に、多
数の光部品の各種光学特性を自動測定することができ
る。
ても、本発明の第一の実施例を用いたときと同様に、多
数の光部品の各種光学特性を自動測定することができ
る。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように本発明は多数の光部
品の各種光学特性を自動測定することができるため、光
加入者システムの実用化の進展とともにその需要が増大
しつつある光部品の検査の自動化と高速化を図ることが
できる。その効果としては、検査が容易になることによ
って光部品の研究開発のスピードが加速されること、検
査コストの低減に伴なう光部品の低価格化によって光加
入者システムの実用化が促進されることなどが挙げられ
る。
品の各種光学特性を自動測定することができるため、光
加入者システムの実用化の進展とともにその需要が増大
しつつある光部品の検査の自動化と高速化を図ることが
できる。その効果としては、検査が容易になることによ
って光部品の研究開発のスピードが加速されること、検
査コストの低減に伴なう光部品の低価格化によって光加
入者システムの実用化が促進されることなどが挙げられ
る。
【図１】本発明の第一の実施例に係る装置を説明する模
式図である。
式図である。
【図２】本発明の第二の実施例に係る装置を説明する模
式図である。
式図である。
【図３】本発明の挿入損失測定法を説明する原理図であ
る。
る。
【図４】従来技術の第一の例を説明する模式図である。
【図５】従来技術の第二の例を説明する模式図である。
１０ 光部品 １１ 恒温槽 １３ 出力ポート切替器 １２，２６ 入力ポート切替器 １４ 光スプリッタ １５ 参照光ポート切替器 １６ ＬＥＤ光源 １７ ＬＤ光源 １８ 白色光源 １９ ＯＴＤＲ ２０ 光源切替器 ２１ 偏波制御器 ２２ 分光器 ２４ 光検出器 ２５ 参照光検出器
フロントページの続き (72)発明者 森中 彰 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 跡部 直之 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内
Claims (4)
- 【請求項１】 １個または複数の光入力ポートと１個ま
たは複数の光出力ポートとを有する光部品を１個または
複数個接続して、前記光部品の各種光学特性を自動測定
する装置であって、 光源と、 前記光部品の前記入力ポートに接続され、当該入力ポー
トの中から任意の１ポートを選択して入力ポートとする
入力ポート切替器と、 前記光部品の前記出力ポートに接続され、当該出力ポー
トの中から任意の１ポートを選択して第１または第２の
ポートに接続する出力ポート切替器と、 前記入力ポート切替器と前記光部品の各入力ポートとの
間に配置され、前記光源からの光を２つに分岐して一方
の分岐ポートが前記各入力ポートに接続される光スプリ
ッタと、 これらの光スプリッタの他方の分岐ポートにそれぞれ接
続され、当該各分岐ポートの中から任意の１ポートを選
択して参照光ポートとする参照光ポート切替器と、 前記出力ポート切替器の前記第１のポートに接続される
光検出器と、 前記参照光ポート切替器の前記参照光ポートに接続され
る参照光検出器と、 前記光源と前記入力ポート切替器との間に配置され、前
記光源からの光を前記入力ポート切替器の前記入力ポー
トまたは前記出力ポート切替器の前記第２のポートに切
り替え接続する光源切替器、とを具備することを特徴と
する光部品検査装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の光部品検査装置におい
て、前記光源切替器には複数の光源が接続されており、
当該光源切替器は、当該複数の光源の中から任意に選択
した光源からの光を前記入力ポート切替器の前記入力ポ
ートまたは前記出力ポート切替器の前記第２のポートに
切り替え接続することを特徴とする光部品検査装置。 - 【請求項３】 請求項１または２記載の光部品検査装置
において、前記参照光ポート切替器と前記入力ポート切
替器とが同じ１台の切替器によって構成されていること
を特徴とする光部品検査装置。 - 【請求項４】 請求項１、２または３記載の光部品検査
装置において、前記光源は、少なくともＯＴＤＲである
ことを特徴とする光部品検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15890894A JP3282644B2 (ja) | 1994-07-11 | 1994-07-11 | 光部品検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15890894A JP3282644B2 (ja) | 1994-07-11 | 1994-07-11 | 光部品検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0829290A true JPH0829290A (ja) | 1996-02-02 |
| JP3282644B2 JP3282644B2 (ja) | 2002-05-20 |
Family
ID=15681983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15890894A Expired - Lifetime JP3282644B2 (ja) | 1994-07-11 | 1994-07-11 | 光部品検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3282644B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4530429B1 (ja) * | 2009-04-14 | 2010-08-25 | 株式会社ファインテック | Ｌｅｄ検査方法及びｌｅｄ検査装置 |
-
1994
- 1994-07-11 JP JP15890894A patent/JP3282644B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4530429B1 (ja) * | 2009-04-14 | 2010-08-25 | 株式会社ファインテック | Ｌｅｄ検査方法及びｌｅｄ検査装置 |
| JP2010266424A (ja) * | 2009-04-14 | 2010-11-25 | Finetec Co Ltd | Ｌｅｄ検査方法及びｌｅｄ検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3282644B2 (ja) | 2002-05-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5396569A (en) | Optical line monitoring method and an apparatus permitting simultaneous line monitoring and information communication | |
| US6177985B1 (en) | Apparatus and method for testing optical fiber system components | |
| US7023557B2 (en) | Parallel interferometric measurements using an expanded local oscillator signal | |
| JPH01177508A (ja) | 光スイッチ | |
| JPS6252426A (ja) | 複数の波長の光フアイバ反射率計 | |
| US5452071A (en) | Method of measuring optical attenuation using an optical time domain reflectometer | |
| AU4640900A (en) | Apparatus for measuring the properties of an optical fiber | |
| US6731834B2 (en) | System and method to calibrate an optical cross-connect | |
| US4790655A (en) | System for measuring laser spectrum | |
| JP3282644B2 (ja) | 光部品検査装置 | |
| JPH10160635A (ja) | 多心光ファイバのスキュー検査方法およびスキュー検査装置 | |
| JPH0787017A (ja) | 光分岐線路監視システム | |
| JP3257230B2 (ja) | 光回路部品の検査方法および検査装置 | |
| JP2001074597A (ja) | 分岐光線路の試験方法及び試験装置付分岐光線路 | |
| US20230384520A1 (en) | Managing characterization of optical couplers in an integrated circuit | |
| JPH01163675A (ja) | 波長多重化による多点計測装置 | |
| JP3319306B2 (ja) | 光ファイバ歪み分布センサ | |
| JP2918290B2 (ja) | 光線路試験方法 | |
| JPH0727944A (ja) | 光スプリッタを用いた光ファイバ線路網 | |
| JPH09135206A (ja) | 光通信システム | |
| CN116387282A (zh) | 测试结构及测试方法 | |
| CN113252088A (zh) | 一种多波长的分布式光纤传感系统及方法 | |
| JP2002022600A (ja) | 光線路試験装置および光線路試験方法 | |
| CN117848483A (zh) | 一种光纤振动传感系统、方法和光缆巡线分析仪 | |
| JPH07311119A (ja) | Ｌｄモジュール試験装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090301 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090301 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100301 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110301 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 9 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110301 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120301 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 11 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130301 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |