JP2021077843A - 基板処理方法および基板処理装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、一実施形態に係る基板処理方法の流れの一例を示すフローチャートである。まず、被処理体を提供する(ステップS100)。たとえば高アスペクト比のパターンが形成された基板を処理チャンバに配置する。またたとえば、パターンが形成されていない基板を処理チャンバに配置し、基板を部分的にエッチングしてパターンを形成する(工程(a))。次に、処理チャンバ内に第1ガス(以下、プリカーサまたは第1反応物とも呼ぶ)を導入する(ステップS101、第1工程または工程(b−1))。次に、処理チャンバをパージして、被処理体の表面上に過剰に吸着した第1ガスの成分を排出する(ステップS102)。次に、処理チャンバ内に第2ガス(以下、反応ガスまたは第2反応物とも呼ぶ)を導入する(ステップS103、第2工程または工程(b−2))。そして、処理チャンバをパージして過剰な第2ガスの成分を排出する(ステップS104)。なお、ステップS100と、ステップS101〜S104とは、同一の処理チャンバで行ってもよく(in−situ)、異なる処理チャンバで行ってもよい(ex−situ)。次に、ステップS101〜S104において被処理体上に形成された保護膜が所定の膜厚に達したか否かを判定する(ステップS105)。保護膜が所定の膜厚に達したか否かの判定は、ステップS101〜S104の実行回数に基づいて行ってもよい。また、保護膜の膜厚の測定値に基づいて行ってもよい。測定値には、膜厚の分布などの保護膜の状態を示すパラメータが含まれてもよい。保護膜の測定手法は特に限定されず、たとえば光学的手法で測定してもよい。膜厚の測定は、in−situの場合、予め処理チャンバに設置した測定装置を用いて行う。一方、ex−situの場合、これらの処理チャンバ外に設置した測定装置を用いて行ってもよい。この結果、所定の膜厚に達していないと判定した場合(ステップS105、No)、ステップS101に戻ってステップS104までを繰り返す。この場合のステップS101〜S104では、前記測定値に基づいて処理条件を調整してもよい。他方、所定の膜厚に達していると判定した場合(ステップS105、Yes)、被処理体をエッチングする(ステップS106)。この際、ステップS105で測定した測定値に基づき、エッチング条件を調整してもよい。そして、エッチング後のパターンが所定の形状となったか否かを判定する(ステップS107)。エッチング後のパターンが所定の形状となったか否かの判定は、ステップS106の実行時間に基づいて行ってもよい。また、エッチングのパターン形状の測定値に基づいて行ってもよい。パターン形状の測定手法は特に限定されず、たとえば光学的手法で測定してもよい。パターン形状の測定は、in−situの場合、予め処理チャンバ内に設置した測定装置を用いて行う。一方、ex−situの場合、これらの処理チャンバの外部に設置した測定装置を用いて行ってもよい。この結果、所定の形状になっていないと判定した場合(ステップS107、No)、ステップS101に戻って第1工程から処理を繰り返す。他方、所定の形状になったと判定した場合(ステップS107、Yes)、処理を終了する。これが実施形態に係る基板処理方法の処理の流れの一例である。
図3は、一実施形態に係る基板処理方法による半導体パターンの形状異常の抑制について説明するための図である。図3の(A)に示す被処理体Sは、図2の(D)に示す被処理体Sと同様であり、頂部200Tおよび側壁200Sに保護膜301が形成されている。エッチングにおいてはマスクがエッチング対象膜に切り替わる位置においてボーイングが発生することが多い。たとえば、図3の(A)においてR1で示す位置にボーイングが発生することが多い。しかし、図3の例では、R1の位置に保護膜301がパターンの深さ方向に薄くなるように形成されている。このため、エッチング後の被処理体Sは、(B)に示すように、保護膜301がR1において多く削れることで深さ方向に開口寸法が均一化される。エッチングを繰り返すことで保護膜301がさらに削れて(C)に示すように開口200の上部から下部に向けて開口寸法が略均一化されていき、たとえば(D)に示す形状となる。エッチングによる保護膜301のボーイングが発生した場合(ステップS107でNoに相当)は、第1工程、第2工程を再度実行して保護膜301を再形成する。このように、一実施形態に係る基板処理方法によれば、半導体パターンの形状異常を抑制できる。
上記のように、実施形態に係る基板処理方法は、開口内周面に深さ方向に被覆率(膜厚)が減少する保護膜を形成する。保護膜を形成する手法としては、化学気相成長(Chemical Vapor Deposition)、原子層堆積(Atomic Layer Deposition:ALD)等がある。実施形態に係る基板処理方法は、ALDにより形成される膜の自己制御性を利用して開口の深さ方向に被覆率を変えつつ、開口の深さ方向に膜厚が異なる保護膜を形成する。
(1)プリカーサを被処理体の表面全体に吸着させる。その後導入する反応ガスが、被処理体の表面全体にいきわたらないように制御する。
(2)プリカーサを被処理体の表面の一部のみに吸着させる。その後導入する反応ガスは、プリカーサが吸着した表面部分のみで成膜する。
一実施形態に係る基板処理方法は、(1)または(2)の手法を用いることでたとえば、半導体パターンの開口側壁下部および底部への保護膜の形成を抑制する。
上記のように、一実施形態に係る基板処理方法では、第2例におけるプリカーサの吸着または第1例における反応ガスの反応をパターンの所定部分で生じさせる。たとえば、パターンの開口上部のみに保護膜を形成するため、プリカーサの吸着または反応ガスの反応がパターンの開口上部のみで生じるように処理条件を調整する。
図7は、一実施形態に係る基板処理方法により形成される保護膜の膜厚について説明するための図である。上記のように、一実施形態においては、保護膜がパターンの上方に形成されるよう処理条件を調整する。本発明者らは、一実施形態に係る基板処理方法で被処理体を処理し、形成される保護膜の膜厚を調べた。図7の(A)は、実験に用いた被処理体の概略図である。被処理体は、エッチング対象膜EL1と、エッチング対象膜EL1上に形成されたマスクMAと、マスクMA、エッチング対象膜EL1に形成された開口OPを有する凹部と、を備える。図7の(A)は、凹部の内面全体に保護膜PFが形成された状態を示している。CDは、凹部側壁が囲む空間の任意の位置における横方向寸法(以下、開口寸法とも呼ぶ)である。
図9は、一実施形態に係る基板処理方法によるエッチングレートの改善について説明するための図である。図9は、エッチング対象膜(EL1)であるアモルファスカーボン層の上にシリコン酸窒化膜のマスク(MA)を積層し、当該マスクに形成したパターンを用いてアモルファスカーボン層をエッチングした場合の実験結果を示している。
なお、実施形態におけるエッチング対象膜102の膜種は特に限定されない。エッチング対象膜102はたとえば、シリコン含有膜、炭素含有膜、有機膜、金属膜等であってよい。シリコン含有膜はシリコン誘電体膜であってよく、その例は、シリコン酸化膜、シリコン窒化膜、シリコン酸窒化膜、シリコンカーバイドなどを含む。
図10は、第2の実施形態に係る基板処理方法の流れの一例を示すフローチャートである。図11は、第2の実施形態に係る基板処理方法により形成されるパターンの一例を示す図である。なお、図11の(A)に示す被処理体は図2の(A)に示す被処理体と同様である。上記第1の実施形態では、第1ガスおよび第2ガスの少なくとも一方について、吸着位置および反応位置を調整することで、サブコンフォーマルな成膜を実現した。第2の実施形態では、さらに、プリカーサの吸着を阻害する因子(以下、インヒビターとも呼ぶ。)を予め被処理体の表面の一部に形成することでプリカーサの吸着位置を制御する。たとえば、プリカーサの吸着を阻害する疎水基を形成する因子をCVDにより被処理体の上部に形成する。
第1、第2の実施形態は、高アスペクト比のパターンの高さ方向に被覆率を変化させて成膜する。しかし、ここに開示する実施形態は、高アスペクト比のパターンだけでなく低アスペクト比、たとえばアスペクト比が5未満のパターンにも適用できる。そこで、第3の実施形態として、低アスペクト比のパターンに適用可能な実施形態を説明する。なお、以下の説明において、「低アスペクト比」とは、アスペクト比5未満を指す。
これまで第1〜第3の実施形態について説明した。各実施形態はさらに変形可能である。図16は、変形例1に係る基板処理方法の流れの一例を示すフローチャートである。図17は、変形例1に係る基板処理方法により処理される被処理体の一例を説明するための図である。変形例1は、第1、第2の実施形態の手法に基づき被処理体を処理する過程でのマスクの膜厚減少に対処する。
上記第1の実施形態において、頂部から底部に向けて径が小さくなる凹部が形成された場合に、保護膜により側壁の寸法変動を抑制しつつ底部の寸法を大きくする制御を実現できることを説明した(段落0044参照)。第4の実施形態として、凹部の寸法制御についてさらに説明する。第4の実施形態に係る基板処理方法によれば、形成するパターンの形状制御の自由度を向上させることができる。
上記ステップS1808における判定の手法は限定されない。たとえば、被処理体S2の形状を光学的手段等により検査することでボトムCDを判定してもよい。また、ステップS1801〜S1804,ステップS1806の実行回数または実行時間に基づき、ボトムCDを判定してもよい。また、ステップS1810を実行した場合には、ステップS1810の実行時間に基づき、ボトムCDを判定してもよい。ステップS1808の「所定値」は、設計値に基づき予め設定される。
また、ステップS1809の前に保護膜形成(ステップS1809)要否を判定してもよい。判定の手法は特に限定されない。たとえば、側壁202上に残存する保護膜130Bの厚みおよび/または位置に応じて、保護膜130Bの形成要否を判定してもよい。またたとえば、ステップS1801〜S1804、ステップS1806の実行回数または実行時間に応じて、保護膜130Bの形成要否を判定してもよい。また、ステップS1801〜S1804で形成された保護膜(図17、130A)が残存している場合、当該保護膜の厚みおよび/または位置に応じて、ステップS1809の実行要否を判定してもよい。
エッチング対象膜102B、マスク120Bおよび保護膜130B各々の膜種は特に限定されない。たとえば、基板101Bはシリコンウエハであってよい。エッチング対象膜102Bは、誘電体膜たとえばシリコン含有誘電体膜であってもよい。エッチング対象膜102Bは複数種類の膜を積層して形成されてもよい。たとえば、エッチング対象膜102Bは、シリコン酸化膜とシリコン窒化膜が順次積層された層であってもよい。エッチング対象膜102Bは、シリコン酸化膜とポリシリコン膜が順次積層された層であってもよい。マスク120Bは、カーボン含有膜であってよい。カーボン含有膜はアモルファスカーボン層(ACL)、スピンオンカーボン膜(SOC)で形成されてもよい。またはマスク120Bは金属膜で形成されてもよい。また、図19、図20には図示しないが、マスク120Bの上にマスク120Bと同様の開口パターンが形成されたシリコン酸窒化膜(SiON)や裏面反射防止膜(BARC)が存在してもよい。保護膜130Bはシリコン含有膜であってよい。また、マスク120Bとエッチング対象膜102Bの膜種は同種であってもよい。
第1の実施形態では、処理条件の調整により保護膜の被覆率と膜厚とを調整した。ところで、第1工程および第2工程における処理条件は以下の二つの観点で調整できる。
(1)プリカーサや反応ガスの導入量を制御することでパターンの深さ方向における成膜位置を制御する
(2)形成する保護膜の膜厚を制御する
半導体装置を製造する際、ウエハWには、自然酸化膜が形成される場合がある。この自然酸化膜を除去する場合があり、周辺の他の膜が除去されたりダメージを受けたりする場合がある。このため、周辺の膜にダメージを与えずに自然酸化膜を除去することが好ましい。この実施形態に係る基板処理方法は、パターンの深さ方向に成膜量を変えることができる。このため、凹部底部に形成された酸化膜の上には保護膜を形成せずに、他の部分に保護膜を形成して自然酸化膜除去時のダメージを抑制することができる。
ところで、上記実施形態において、たとえば図1のステップS101〜S104による成膜と、ステップS106のエッチングとを一つのチャンバ内で実行してもよい。この場合、エッチングにより生成される副生成物がチャンバ内に付着し、成膜時の条件に影響することがありうる。これに対して、一つのチャンバで同じ膜の成膜処理のみを実行した場合、チャンバの内壁その他の部品表面には被処理体上に形成される膜と同種の膜が付随的に形成される。このため、一つのチャンバで成膜処理のみを実行する場合と、一つのチャンバで成膜もエッチングも実行する場合とでは、成膜によって形成される膜の状態が異なる可能性がある。
上記実施形態において、第1工程および第2工程を1サイクルとして任意の回数のサイクルを繰り返し実行してもよい。また、上記実施形態においては、自己制御性を有する膜の例としてALDにより形成される膜について説明した。これに限らず、たとえば自己組織化単分子膜(Self-Assembled Monolayer:SAM)を保護膜として利用してもよい。
図23は、実施形態に係る基板処理方法の実行に用いられる一実施形態に係る基板処理装置の一例を示す図である。図23には、実施形態に係る基板処理方法の種々の実施形態で利用可能な基板処理装置10の断面構造が概略的に示されている。図23に示すように、基板処理装置10は、平行平板の電極を備えるプラズマエッチング装置であり、処理容器12を備えている。処理容器12は、略円筒形状を有しており、処理空間Spを画定する。処理容器12は、たとえば、アルミニウムから構成されており、その内壁面には陽極酸化処理が施されている。処理容器12は保安接地されている。
上記実施形態に係る基板処理方法は工程a)と工程b)とを含む。工程a)において、被処理体を部分的にエッチングし、凹部を形成する。工程b)において、凹部の側壁に、凹部の深さ方向に沿って厚さの異なる膜を形成する。工程b)は工程b−1)と工程b−2)とを含む。工程b−1)は、第1反応物を供給し、凹部の側壁に第1反応物を吸着させる。工程b−2)は、第2反応物を供給し、第1反応物と第2反応物とを反応させて膜を形成する。このため、実施形態によれば、高アスペクト比のパターンに対して形成する膜の膜厚を深さ方向に沿って変化させることができる。このため、実施形態によれば、形状異常が発生しやすいパターンの位置に予め深さ方向に膜厚を変化させて保護膜を形成できる。このため、実施形態によれば、半導体パターンの形状異常を抑制できる。また、実施形態によれば、自己制御性を有する膜、たとえばALD膜を形成するため、形成する保護膜の膜厚を精密に制御できる。このため、実施形態によれば、パターンの開口閉塞を抑止できる。また、実施形態によれば、パターンの底部への保護膜形成を抑制することで、エッチストップを防止しエッチングレートを向上できる。また、実施形態によれば、工程b−1)および工程b−2)の処理条件の調整により、パターンの深さ方向に沿った保護膜の被覆率を大きく変化させることができる。
12 処理容器
14 支持部
22 直流電源
24 冷媒流路
28 ガス供給ライン
30 上部電極
32 絶縁性遮蔽部材
101,101A,101B 基板
102,102A,102B エッチング対象膜
120,120A,120B マスク
130A,130B 保護膜
140 SiO2膜
150 SiN膜
160 自然酸化膜
200,200A,200A’ 開口
300,301,302,304 保護膜
303 予備膜
ESC 静電チャック
ER エッジリング
HT 温度調節部
HP ヒータ電源
LE 下部電極
PD 載置台
Sp 処理空間
W ウエハ
Claims (25)
- a)被処理体を部分的にエッチングし、凹部を形成する工程と、
b)前記凹部の側壁に、前記凹部の深さ方向に沿って厚さの異なる膜を形成する工程と、
を含み、
前記b)は、
b−1)第1反応物を供給し、前記凹部の側壁に前記第1反応物を吸着させる工程と、
b−2)第2反応物を供給し、前記第1反応物と前記第2反応物とを反応させて膜を形成する工程と、
を含む、基板処理方法。 - 前記b)において、
前記b−1)は、前記凹部の表面全体には前記第1反応物を吸着させない、および/または、
前記b−2)は、前記凹部の表面全体では前記第1反応物と前記第2反応物とを反応させない、請求項1に記載の基板処理方法。 - c)前記b)の後に、前記凹部の底部をエッチングし、高アスペクト比の凹部を形成する工程
をさらに含む、請求項2に記載の基板処理方法。 - 前記c)の後に前記b)をさらに実行する、請求項3に記載の基板処理方法。
- 前記被処理体は、基板と、前記基板上に形成されたエッチング対象膜と、前記エッチング対象膜上に形成されたマスクと、を含み、
前記基板処理方法は、
d)前記マスクの上部に予備膜を形成して、前記凹部の開口寸法を減少させる工程
をさらに含む、請求項4に記載の基板処理方法。 - 前記d)は前記b)の前に実行される、請求項5に記載の基板処理方法。
- 前記d)は、前記凹部のアスペクト比が10未満のときに実行される、請求項5または6に記載の基板処理方法。
- 前記d)は、前記凹部の頂部開口寸法に対する前記マスクの上表面から前記凹部の底部までの深さ寸法の比が15未満のときに実行される、請求項5または6に記載の基板処理方法。
- 前記a)および前記b)は、前記凹部のアスペクト比が10以上のとき、または、前記凹部の頂部開口寸法に対する前記マスクの上表面から前記凹部の底部までの深さ寸法の比が15以上のときに繰り返し実行される、請求項5から8のいずれか1項に記載の基板処理方法。
- 前記a)または前記c)の後、前記凹部のアスペクト比に応じて、前記b−1)および前記b−2)のうち少なくとも一方の処理条件を変更する、請求項3から9のいずれか1項に記載の基板処理方法。
- n回(nは2以上の自然数)以上繰り返し実行する前記b)において、n回目の処理と(n−1)回目の処理とで処理条件を変更することにより、繰り返し実行する前記b)において形成される前記膜の位置および/または厚みを変更する、請求項1から10のいずれか1項に記載の基板処理方法。
- n´回(n´は2以上の自然数)以上繰り返し実行する前記b)において、n´回目の処理と(n´−1)回目の処理とで用いる前記第1反応物および前記第2反応物を変更することにより、繰り返し実行する前記b)において形成される前記膜の位置および/または厚みを変更する、請求項1から11のいずれか1項に記載の基板処理方法。
- 前記b)において、前記被処理体が載置される載置台に設けられる独立して温度制御可能な複数のゾーン各々を、当該複数のゾーン各々の面内位置に応じて異なる温度に制御して、形成する前記膜の厚みを前記複数のゾーンの温度に応じて変化させる、請求項1から12のいずれか1項に記載の基板処理方法。
- 前記a)および前記b)を少なくともn´´(n´´は2以上の自然数)繰り返し実行し、
(n´´−1)回目のb−2)工程において、前記被処理体が載置される載置台に設けられる独立して温度制御可能な複数のゾーン各々を第1の温度分布に制御して、深さ方向に第1の膜厚分布を有する第1膜を形成し、
n´´回目の前記b−2)工程において、前記複数のゾーン各々を第2の温度分布に制御して、深さ方向に第2の膜厚分布を有する第2膜を形成する、請求項1から13のいずれか1項に記載の基板処理方法。 - 前記b−1)における処理条件は、条件(1)から(5)のうち少なくともいずれか1つを満足し、当該条件(1)から(5)はそれぞれ、
(1)処理チャンバの圧力は、他の処理条件が同一の場合に、前記第1反応物の前記凹部の深さ方向における表面全体への吸着を完了させる圧力よりも低い値に設定されること、
(2)処理時間は、他の処理条件が同一の場合に、前記第1反応物の前記凹部の深さ方向における表面全体への吸着を完了させる処理時間よりも短い時間に設定されること、
(3)前記第1反応物の希釈度は、他の処理条件が同一の場合に、前記第1反応物の前記凹部の深さ方向における表面全体への吸着を完了させる希釈度よりも高い値に設定されること、
(4)前記被処理体の載置台の温度は、他の処理条件が同一の場合に、前記第1反応物の前記凹部の深さ方向における表面全体への吸着を完了させる温度よりも低い温度に設定されること、
(5)前記b−1)においてプラズマの生成を行う場合、プラズマ生成のために印加する高周波電力(RF)電力の絶対値は、他の処理条件が同一の場合に、前記第1反応物の前記凹部の深さ方向における表面全体への吸着を完了させる絶対値よりも小さい値に設定されることである、請求項1から14のいずれか1項に記載の基板処理方法。 - 前記b−2)における処理条件は、条件(1)から(5)のうち少なくともいずれか1つを満足し、当該条件(1)から(5)はそれぞれ、
(1)処理チャンバの圧力は、他の処理条件が同一の場合に、前記第2反応物の前記凹部の深さ方向における表面全体における反応を完了させる圧力よりも低い値に設定されること、
(2)処理時間は、他の処理条件が同一の場合に、前記第2反応物の前記凹部の深さ方向における表面全体における反応を完了させる処理時間よりも短い時間に設定されること、
(3)前記第2反応物の希釈度は、他の処理条件が同一の場合に、前記第2反応物の前記凹部の深さ方向における表面全体における反応を完了させる希釈度よりも高い値に設定されること、
(4)前記被処理体の載置台の温度は、他の処理条件が同一の場合に、前記第2反応物の前記凹部の深さ方向における表面全体における反応を完了させる温度よりも低い温度に設定されること、
(5)前記b−2)においてプラズマの生成を行う場合、プラズマ生成のために印加する高周波(RF)電力の絶対値は、他の処理条件が同一の場合に、前記第2反応物の前記凹部の深さ方向における表面全体における反応を完了させる絶対値よりも小さい値に設定されることである、請求項1から15のいずれか1項に記載の基板処理方法。 - f)前記b−1)の前に、前記第1反応物の吸着を阻害する阻害因子を前記凹部の側壁上に形成する工程をさらに含む、請求項1から16のいずれか1項に記載の基板処理方法。
- g)前記a)の後に、処理チャンバの内壁に付着した副生成物を覆うコーティングを施す工程を
さらに含む、請求項1から17のいずれか1項に記載の基板処理方法。 - a)被処理体をエッチングし、凹部を形成する工程と、
b)前記凹部の側壁に、前記凹部の深さ方向に沿って厚さの異なる膜を形成する工程と、
e)前記凹部の上部の開口寸法の変動を前記b)において形成した膜により抑制しつつ、前記被処理体をエッチングし、前記b)において形成した膜により覆われていない前記凹部の下部の開口寸法を横方向に広げる工程と、
を含む、基板処理方法。 - 前記e)は、前記膜に覆われていない前記凹部の下部の開口寸法を横方向に加えて縦方向に広げる、請求項19に記載の基板処理方法。
- c)前記b)の後に、前記凹部の底部をエッチングし、高アスペクト比の凹部を形成する工程
をさらに含み、
前記c)において異方性エッチングにより前記凹部の底部をエッチングし、前記e)において等方性エッチングにより前記凹部の下部の開口寸法を横方向に広げる、請求項19または20に記載の基板処理方法。 - 前記b)は、
b−3)前記形成した膜の状態を示すパラメータを測定する工程と、
b−4)測定値に基づき、前記膜が予め設定した状態となっているか否かを判定する工程と、
b−5)前記膜が予め設定した状態となっていない場合、前記測定値に基づき処理条件を調整した上で、前記b−1)および前記b−2)を繰り返す工程と、
をさらに含む、請求項1から21のいずれか1項に記載の基板処理方法。 - 少なくとも1つの処理チャンバがエッチングをするように構成されており、少なくとも1つの処理チャンバが膜を形成するように構成されている、1つまたは複数の処理チャンバと、
制御部と、
を備え、
前記処理チャンバは、内部に処理ガスを供給するためのガス供給部を有し、
前記制御部は、
a)前記エッチングをするように構成された処理チャンバ内の載置台上に載置された被処理体を部分的にエッチングし、凹部を形成する工程と、
b)前記凹部の側壁に、前記凹部の深さ方向に沿って厚さの異なる膜を形成する工程と、
を含み、
前記b)は、
b−1)前記膜を形成するように構成された処理チャンバ内に第1反応物を供給し、前記凹部の側壁に前記第1反応物を吸着させる工程と、
b−2)前記膜を形成するように構成された処理チャンバ内に第2反応物を供給し、前記第1反応物と前記第2反応物とを反応させて膜を形成する工程と、
を含む、基板処理方法を各部に実行させる、
基板処理装置。 - 前記エッチングするように構成された処理チャンバは、前記膜を形成するように構成された処理チャンバと同じ処理チャンバであり、
前記a)および前記b)を同じ処理チャンバで行う、
請求項23に記載の基板処理装置。 - 前記エッチングをするように構成された処理チャンバは、前記膜を形成するように構成された処理チャンバとは異なる処理チャンバであり、
前記制御部は、
h)前記エッチングするように構成された処理チャンバと、前記膜を形成するように構成された処理チャンバとの間で前記基板を搬送する工程
をさらに含む、基板処理方法を各部に実行させる、請求項23に記載の基板処理装置。
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