JP2021067860A - 位置合わせ装置 - Google Patents

位置合わせ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2021067860A
JP2021067860A JP2019193978A JP2019193978A JP2021067860A JP 2021067860 A JP2021067860 A JP 2021067860A JP 2019193978 A JP2019193978 A JP 2019193978A JP 2019193978 A JP2019193978 A JP 2019193978A JP 2021067860 A JP2021067860 A JP 2021067860A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
photomask
liquid crystal
image
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2019193978A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7356667B2 (ja
Inventor
希典 河村
Marenori Kawamura
希典 河村
下村 一郎
Ichiro Shimomura
一郎 下村
匡弘 米谷
Masahiro Yonetani
匡弘 米谷
真通 須田
Masamichi Suda
真通 須田
聖英 武藤
Kiyohide Muto
聖英 武藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
DAINIPPON KAKEN KK
MUTO DENSHI KOGYO KK
Akita University NUC
Daico Mfg Co Ltd
Original Assignee
DAINIPPON KAKEN KK
MUTO DENSHI KOGYO KK
Akita University NUC
Daico Mfg Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by DAINIPPON KAKEN KK, MUTO DENSHI KOGYO KK, Akita University NUC, Daico Mfg Co Ltd filed Critical DAINIPPON KAKEN KK
Priority to JP2019193978A priority Critical patent/JP7356667B2/ja
Publication of JP2021067860A publication Critical patent/JP2021067860A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7356667B2 publication Critical patent/JP7356667B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

【課題】高倍率のレンズを用いた小型の位置合わせ装置を提供する。【解決手段】位置合わせ装置1は、撮影部11と、フォトマスク2及び基板3からなる撮影部11の撮影対象4と撮影部11との間に配置される液晶レンズ12と、液晶レンズ12に駆動電圧を印加する液晶レンズ駆動部73と、液晶レンズ駆動部73に駆動電圧を変更させることによって撮影部11の焦点距離を変更し、撮影部11に各焦点距離における第1アライメントマーク41又は第2アライメントマーク42を含む画像を撮影させる制御部6と、を備える。【選択図】図1

Description

本発明は、露光装置等に用いられる位置合わせ装置に関するものである。
半導体素子、プリント基板、フラットパネルディスプレイ(例えば、液晶表示装置、マイクロLED素子、レーザー表示素子、有機ELデバイス等)等の電子部品の製造において、パターンを基板に転写するリソグラフィ装置として、例えば、露光装置が挙げられる。露光装置は、レジストが塗布された基板にアライメント光学系を介してフォトマスクのパターンを投影することによって、フォトマスクのパターンに対応する潜像パターンをレジストに形成する。アライメント光学系においては、フォトマスク及び基板の各々に形成されているアライメントマーク同士の位置合わせの精度が重要である。例えば、特許文献1には、直線部分を有するアライメントマークの位置検出方法が開示されている。
特許第5689042号公報
ところで、アライメントマーク同士の位置合わせを行う位置合わせ装置は、フォトマスクと基板との間隔を30μm〜50μmに保持しながら、x−y方向の2〜5か所のアライメントマークの座標位置を奥行方向(z方向)に測定しつつ、位置の調整を行っている。表1に示す低倍率のレンズ系を用いる第1方式では、被写界深度(DOF:Depth of Field)を深くすることで、フォトマスク及び基板の両方のアライメントマークの位置を視認することが可能である。
Figure 2021067860
但し、第1方式では、適用可能なマークサイズの大きさが、0.50mm×0.50mm程度である。近年、半導体素子等の高集積化に設けて3次元積層実装が必要であり、より微細なアライメントマークの導入が必要とされている。そこで、今後は、表1に示す高倍率のレンズ系を用いる第2方式に移行することが予想される。第2方式では、高倍率のレンズを用いることによって、視野領域の拡大によりアライメントマークの位置の高精度なモニタリングが可能となり、適用可能なマークサイズの大きさも、第1方式よりも微細な0.15mm×0.15mm程度となる。
しかしながら、第2方式では、被写界深度が浅くなり、同一の焦点距離でフォトマスク及び基板の両方に合焦している状態(=ピントが合っている状態)の画像を撮影することができないため、サーボモータを用いた3軸(x−y−z軸)のボールねじ機構(=回転運動を直線運動に変換する機構)によって、ステージ面となるx−y平面に直交するz軸方向にカメラを移動させ、焦点距離を決める機械的な制御が必要となり、位置合わせ装置が大型になる。位置合わせ装置が大型になると、ワーク領域が狭くなり不便であるため、高倍率のレンズを用いた位置合わせ装置の小型化が望まれている。
本発明は、前述した問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とすることは、高倍率のレンズを用いた小型の位置合わせ装置を提供することである。
前述した目的を達成するための本発明は、フォトマスク及び基板の各々に形成されているアライメントマーク同士の位置合わせを行う位置合わせ装置であって、撮影部と、前記フォトマスク及び前記基板からなる前記撮影部の撮影対象と前記撮影部との間に配置される液晶レンズと、前記液晶レンズに駆動電圧を印加する液晶レンズ駆動部と、前記液晶レンズ駆動部に前記駆動電圧を変更させることによって前記撮影部の焦点距離を変更し、前記撮影部に各々の前記焦点距離における前記アライメントマークを含む画像を撮影させる制御部と、を備えることを特徴とする位置合わせ装置である。本発明によって、高倍率のレンズを用いた小型の位置合わせ装置を提供することができる。
本発明における前記制御部は、前記撮影部によって撮影される各々の前記焦点距離における画像の中から、前記フォトマスクに最も合焦しているフォトマスク合焦画像と、前記基板に最も合焦している基板合焦画像とを決定し、前記フォトマスク合焦画像及び前記基板合焦画像に基づく画像を生成するようにしても良い。これによって、対物レンズが高倍率であっても、フォトマスク及び基板の両方に合焦している状態の画像を得ることができ、精度良くフォトマスク及び基板の位置合わせを実行することができる。
また、本発明における前記制御部は、前記撮影部によって撮影される各々の前記焦点距離における画像に対して第1方向に微分を実行し、更に前記第1方向に直交する第2方向に射影加算を実行することによって、その算出結果の波形を生成し、前記波形のピークに基づいて前記フォトマスク合焦画像及び前記基板合焦画像を決定するようにしても良い。これによって、画像処理によってフォトマスク及び基板の両方に合焦している状態の画像を得ることができ、撮影部を第1方向及び第2方向に直交する第3方向に移動させる必要がない。
また、本発明における前記制御部は、前記駆動電圧と前記焦点距離との対応関係を示す特性データを予め記憶しておき、前記撮影部が前記フォトマスクの前記アライメントマークに合焦している状態の前記駆動電圧と、前記撮影部が前記基板の前記アライメントマークに合焦している状態の前記駆動電圧との差分量を算出し、前記特性データに基づいて前記駆動電圧の差分量に対応する前記焦点距離の差分量を算出することによって、前記フォトマスクと前記基板との間隔を測定するようにしても良い。これによって、ギャップセンサが不要となるので、位置合わせ装置を更に小型化することができる。
また、本発明は、前記液晶レンズと前記撮影対象との間に配置される対物レンズと、光を照射する光源と、前記液晶レンズと前記対物レンズとの間に配置され、前記光源から照射される光を前記対物レンズの方向に反射するとともに、前記対物レンズの方向からの光を前記液晶レンズの方向に透過するハーフミラーと、前記液晶レンズと前記ハーフミラーとの間に配置され、光が前記液晶レンズに入射されるように補正するためのチューブレンズと、を更に備えても良い。これによって、このような構成によって、液晶レンズを有する小型の位置合わせ装置を実装できる。
本発明により、高倍率のレンズを用いた小型の位置合わせ装置を提供することができる。
位置合わせ装置1の光学系を模式的に示す概要図 フォトマスク2及び基板3の支持機構を模式的に示す概要図 フォトマスク2に形成される第1アライメントマーク41及び基板3に形成される第2アライメントマーク42を示す平面図 基板3を支持する支持部材31を移動させるための基板移動機構5を模式的に示す概要図 位置合わせ装置1の機能構成を示すブロック図 特性データ8の一例を示す図 焦点距離の測定について説明する図 位置合わせ装置1の処理の流れを示すフローチャート
以下図面に基づいて、本発明の実施形態を詳細に説明する。本発明の実施形態では、パターンを基板に転写するリソグラフィ装置として、露光装置を例に挙げて説明する。露光装置は、シリコン基板、ガラス基板、ガリウムヒ素基板等の基板に対して、電子部品の回路パターン等が形成された透明な板であるフォトマスクのパターンを露光するためのものである。基板に対してパターンの焼付を行う場合、フォトマスクと基板との位置を合わせる必要がある。フォトマスクの表面には、複数の第1アライメントマークが形成されており、基板の表面には、第1アライメントマークと形状が異なり、第1アライメントマークと同じ数の第2アライメントマークが形成されている。露光装置に用いられる位置合わせ装置は、第1アライメントマーク及び第2アライメントマークを利用して、フォトマスクと基板とを相対的に移動させ、フォトマスクと基板との位置合わせを実行する。
図1は、位置合わせ装置1の光学系を模式的に示す概要図である。図1に示すように、位置合わせ装置1は、カメラを有する撮影部11と、フォトマスク2及び基板3からなる撮影部11の撮影対象4と撮影部11との間に配置される液晶レンズ12と、を備える。
誘電異方性及び光学異方性を示す液晶分子は、駆動電圧を制御することで液晶分子の配向方向を制御することができ、実効的な屈折率を連続的に変更することができる。例えば、第1の透明電極及び第2の透明電極の間に媒質として液晶分子を含む層(=液晶層)を設け、電極間の電圧を制御することで、液晶層の実効的な屈折率分布を調整することができ、液晶レンズ12として機能させることができる。液晶レンズ12の駆動電圧を変更することによって、図1に示す光学系において撮影部11の焦点距離を変更することができる。
液晶レンズ12は、例えば、特許第6128719号公報に記載の公知の液晶レンズを用いることができる。この公知の液晶レンズは、印加する電圧の周波数を制御するか、又は印加する交流電圧の位相を制御することによって、電界分布を制御することができる。
また、図1に示すように、位置合わせ装置1は、液晶レンズ12と撮影対象4との間に配置される対物レンズ13と、発光ダイオード(LED)を有し、光を照射する光源14と、液晶レンズ12と対物レンズ13との間に配置され、光源14から照射される光を対物レンズ13の方向に反射するとともに、対物レンズ13の方向からの光を液晶レンズ12の方向に透過するハーフミラー15と、液晶レンズ12とハーフミラー15との間に配置され、光が液晶レンズに入射されるように補正するためのチューブレンズと、を更に備える。このような構成によって、液晶レンズ12を有する小型の位置合わせ装置1を実装できる。
微細なアライメントマークに対応するため、本実施の形態における対物レンズ13の倍率は20倍である。従って、撮影部11の被写界深度が浅くなり、同一の焦点距離でフォトマスク2及び基板3の両方に合焦している状態の画像を撮影することができない。そこで、本実施の形態における位置合わせ装置1は、後述する処理によって、撮影部11を鉛直方向(=図1の上下方向)に移動させることなく、フォトマスク2に合焦している状態の画像と、基板3に合焦している状態の画像とを取得し、これらの画像に基づいてフォトマスク2と基板3との位置合わせを実行する。
図2は、フォトマスク2及び基板3の支持機構を模式的に示す概要図である。図2に示すように、フォトマスク2は、中央に開口部が形成された支持部材21により支持され、基板3は、中央に開口部が形成された支持部材31により支持される。基板3を支持する支持部材31は、後述する移動機構の駆動により、基板3の表面と平行な平面内で互いに直交する2方向及び回転方向に移動可能となっている。図2に模式的に示すように、本発明の実施形態における露光装置においては、フォトマスク2と基板3とは、プロキシミティーギャップと呼ばれるわずかな隙間を介して配置される。本発明の実施形態におけるプロキシミティーギャップは、30〜50μmである。フォトマスク2は、透光性を有する材質から構成され、基板3は、非透光性を有する材質から構成される。
図3は、フォトマスク2に形成される第1アライメントマーク41及び基板3に形成される第2アライメントマーク42を示す平面図である。図3(a)に示すように、フォトマスク2には、中空の正方形をなす第1アライメントマーク41が、互いに離隔した位置に複数(例えば2〜5個)形成される。例えば、第1アライメントマーク41が4個の場合、矩形状のフォトマスク2の四隅に形成される。また、図3(b)に示すように、基板3には、第1アライメントマーク41と形状が異なり、十字状をなす第2アライメントマーク42が、第1アライメントマーク41と同じ数だけ、第1アライメントマーク41と同じ配置になるように形成される。
第1アライメントマーク41及び第2アライメントマーク42は、撮影部11の視野と比較して、他のアライメントマークや電子回路等のパターンと十分に大きく離隔しており、撮影部11によって撮影される同一の画像内に、処理の対象となる第1アライメントマーク41及び第2アライメントマーク42を除き、他のアライメントマークや電子回路等のパターンが含まれることはない。
図3(c)は、フォトマスク2と基板3とが正確に位置合わせできている状態の第1アライメントマーク41と第2アライメントマーク42との位置関係を示している。この状態では、第1アライメントマーク41の中心位置と第2アライメントマーク42の中心位置とがほぼ一致している。
図4は、基板3を支持する支持部材31を移動させるための基板移動機構5を模式的に示す概要図である。基板移動機構5は、基板3に平行な平面内で互いに直交するx、y方向に移動可能な基部51と、基部51上にθxy方向に回転可能に配設された回転部52とを備える。回転部52は、基板3を支持する支持部材31と連結されている。基板移動機構5における基部51は、モータM1の駆動により、図4に示すx方向に往復移動可能であるとともに、モータM2の駆動により、図4に示すy方向に往復移動可能となっている。また、回転部52は、回転部52の外縁に付設された当接部材53を移動させるモータM3の駆動により、図4に示すθxy方向に回動可能となっている。基板移動機構5の作用により、支持部材31に支持された基板3は、x、y、θxy方向に移動可能となっている。尚、モータM1、M2、M3としては、例えば、ステッピングモータが使用される。
図5は、位置合わせ装置1の機能構成を示すブロック図である。図5に示す制御部6は、論理演算を実行するCPU、装置の制御に必要な動作プログラムが格納されたROM、制御時にデータ等が一時的にストアされるRAM等を備える。制御部6は、機能的構成として、後述する基板移動検出部61、画像処理部62、駆動電圧制御部63、特性データ記憶部64を備える。
制御部6は、前述のモータM1、M2、M3を備え、支持部材31によって支持される基板3を、x、y、θxy方向に移動させるための基板移動機構5と接続される。そして、制御部6は、モータM1、M2、M3への駆動パルス量に基づいて、支持部材31によって支持される基板3の移動方向及び移動量を検出する基板移動検出部61を備える。
尚、モータM1、M2、M3としてステッピングモータを使用しない場合、基板移動検出部61は、モータM1、M2、M3に対してエンコーダ等を接続することにより、基板3の移動方向及び移動量を検出しても良い。また、基板移動検出部61は、リニアスケール等の他の移動量検出器を使用して、直接、基板3の移動方向及び移動量を検出しても良い。
また、制御部6は、図4に示すモータM1、M2、M3の駆動により、支持部材31を介して基板3をx、y、θxy方向に移動させるためのスイッチSW1、SW2、SW3を備える操作部24と接続される。オペレータがこれらのスイッチSW1、SW2、SW3を操作することにより、モータM1、M2、M3が回転し、支持部材31を介して基板3がx、y、θxy方向に移動する。尚、モータM1、M2、M3及びスイッチSW1、SW2、SW3を使用して基板3を移動させる代わりに、オペレータがネジ等を操作することにより、基板3を移動させる構成を採用しても良い。また、位置合わせ装置1は、操作部24を備えず、制御部6が、モータM1、M2、M3に対して、支持部材31を介して基板3をx、y、θxy方向に移動させるための信号を送信することにより、基板3を移動させる構成を採用しても良い。
また、制御部6は、図1に示すフォトマスク2及び基板3からなる撮影対象4を撮影する撮影部11と接続される。位置合わせ装置1は、第1アライメントマーク41や第2アライメントマーク42と同じ数だけ撮影部11を備えても良いし、単一の撮影部11を備えても良い。位置合わせ装置1が単一の撮影部11を備える場合、各々の第1アライメントマーク41及び第2アライメントマーク42を撮影可能な位置に移動させるとともに、撮影部11の位置を検出するための撮影部移動機構(不図示)が制御部6に接続される。撮影部移動機構は、モータ等の駆動により自動的に撮影部11を移動させるものであっても良いし、オペレータの手動により撮影部11を移動させるものであっても良い。
また、制御部6は、液晶ディスプレイ等のフラットパネルディスプレイを有し、画像処理部62によって処理される画像を表示する表示部72と接続されている。そして、制御部6は、撮影部11によって取得される画像を処理する画像処理部62を備え、画像処理後の画像を表示部72に表示させる。
また、制御部6は、液晶レンズ12に駆動電圧を印加する液晶レンズ駆動部73と接続される。液晶レンズ駆動部73は、液晶レンズ12の液晶層を挟んで対向する一対の透明電極等にリード線を介して接続される電源回路を有する。電源回路は、撮影部11の焦点距離を高速に切り替えるために、高い電圧を印加できるものが望ましい。そして、制御部6は、液晶レンズ駆動部73によって印加される駆動電圧を制御する駆動電圧制御部63を備える。
以上の機能的構成により、制御部6は、液晶レンズ駆動部73に駆動電圧を変更させることによって撮影部11の焦点距離を変更し、撮影部11に各焦点距離における第1アライメントマーク41及び第2アライメントマーク42を含む画像を撮影させ、これらの画像に基づいてフォトマスク2と基板3との位置合わせを実行する。これによって、撮影部11が第1アライメントマーク41及び第2アライメントマーク42を撮影する際、撮影部11の焦点距離を調整するために、サーボモータ等を用いた鉛直方向(=図1の上下方向)への撮影部11の機械的な移動機構が不要となる。従って、高倍率の対物レンズ13を用いる場合であっても、位置合わせ装置1を小型化することができ、ひいては、露光装置のワーク領域を広げることができる。
また、制御部6は、液晶レンズ12の駆動電圧と撮影部11の焦点距離との対応関係を示す特性データを予め記憶する特性データ記憶部64を更に備える。
図6は、特性データ8の一例を示す図である。図6に示すように、特性データ8は、液晶レンズ12の駆動電圧V(1)、V(2)、・・・、V(n−1)、V(n)と、撮影部11の焦点距離f(1)、f(2)、・・・、f(n−1)、f(n)との対応関係を示すデータである。
特性データ8は、駆動電圧V(i)(i=1、・・・、n)と焦点距離f(i)(i=1、・・・、n)との対応関係を示すリスト形式のデータであっても良い。また、特性データ8は、駆動電圧V(i)(i=1、・・・、n)及び焦点距離f(i)(i=1、・・・、n)のデータから単回帰分析を行うことによって求められる直線の傾きと切片のデータであっても良い。駆動電圧V(i)(i=1、・・・、n)及び焦点距離f(i)(i=1、・・・、n)のデータは、事前に測定され、その測定結果に基づく特性データは、特性データ記憶部64に予め記憶される。
図7は、焦点距離の測定について説明する図である。図7(a)は、事前測定の概要を模式的に示す斜視図である。図7(a)に示すように、液晶レンズ12には、駆動電圧V(1)、V(2)、・・・、V(n)が順次印加される。撮影部11は、各駆動電圧V(i)が液晶レンズ12に印加されるごとに測定オブジェクト9を撮影し、事前画像Pre(1)、Pre(2)、・・・、Pre(n)を取得する。
測定オブジェクト9は、階段状の形状であり、図7(a)に示す例では、撮影像面からの距離が異なる4つの段を有する。但し、段数はこの例に限定されるものではない。各段のz軸方向の位置は、それぞれ、撮影像面からの距離が遠い順に、焦点面Fa、Fb、Fc、Fdのz軸方向の位置と対応する。焦点面Fa、Fb、Fc、Fdに係る焦点距離は、それぞれfa、fb、fc、fdである。
図7(b)は、事前画像Pre(1)であり、z軸方向の上方から見た測定オブジェクト9が含まれている。画像処理部62は、事前画像Pre(1)に対してx方向に微分を実行し、更にy方向に射影加算を実行する。微分とは、画像処理におけるエッジ部分の抽出の手法であり、特定の画像に関し、互いに隣接する画素間、又は、一定間隔だけ離れた画素間の輝度の差分をとることである。図7(b)に示す事前画像Pre(1)についてx方向に差分をとるとは、y方向の各位置において、x方向に隣り合う画素値、又は、一定間隔だけ離れた画素間で輝度の差分をとることである。一方、射影加算するとは、特定の画像に対して一方向に値を加算することである。図7(b)に示す事前画像Pre(1)についてy方向に射影加算するとは、x方向の値をy方向に沿って加算することである。
図7(b)に示す測定オブジェクト9を含む事前画像Pre(1)に対してx方向に差分をとり、更にy方向に射影加算した結果は、図7(b)における波形Hである。波形Hの5個のピークは、測定オブジェクト9の第1直線91、第2直線92、第3直線93、第4直線94、第5直線95の位置と対応する。図7(b)に示す波形Hは、第1直線91の位置に対応するピークが最も大きい。このことは、事前画像Pre(1)において、第1直線91から第5直線95のうち、第1直線91が最もはっきりと見える、すなわち合焦していることを意味する。従って、制御部6は、事前画像Pre(1)が撮影された時の駆動電圧V(1)に対して、第1直線91とz軸方向の位置が同一である焦点面Faの焦点距離faをf(1)として対応付ける。このようにして、各事前画像Pre(i)に対応する焦点距離を対応付けることによって、特性データ8を得ることが可能となる。
以上の機能的構成により、制御部6は、撮影部11がフォトマスク2に形成される第1アライメントマーク41に合焦している状態の駆動電圧と、撮影部11が基板3に形成される第2アライメントマークに合焦している状態の駆動電圧との差分量を算出し、特性データ8に基づいて駆動電圧の差分量に対応する焦点距離の差分量を算出することによって、フォトマスク2と基板3との間隔を測定する。従来、フォトマスク2及び基板3との間隔を一定にするために、リアルタイムに、レーザーを光源とする変位計(=ギャップセンサ)を用いてフォトマスク2と基板3との間隔を測定していたが、本実施の形態における位置合わせ装置1によれば、ギャップセンサを用いなくても、フォトマスク2及び基板3との間隔を測定することができる。これによって、ギャップセンサが不要となるので、位置合わせ装置1を小型化することができ、露光装置のワーク領域を広げることができる。
図8は、位置合わせ装置1の処理の流れを示すフローチャートである。図8に示すように、制御部6は、内部変数iに1を代入する(ステップS1)。次に、駆動電圧制御部63は、駆動電圧V(i)を印加させるように液晶レンズ駆動部73を制御し、液晶レンズ駆動部73は液晶レンズ12に駆動電圧V(i)を印加する(ステップS2)。次に、制御部6は、撮影対象4を撮影させるように撮影部11を制御し、撮影部11は撮影対象4を撮影し、画像P(i)を取得する(ステップS3)。
次に、画像処理部62は、画像P(i)のフォトマスク合焦度Daの判定処理を実行する(ステップS4)。フォトマスク合焦度Daとは、フォトマスク2に形成される第1アライメントマーク41に合焦している度合を示すものである。
図7の説明と同様、画像処理部62は、画像P(i)に対してx方向に微分を実行し、更にy方向に射影加算を実行することによって、その算出結果の波形を生成する。又は、画像処理部62は、画像P(i)に対してy方向に微分を実行し、更にx方向に射影加算を実行することによって、その算出結果の波形を生成しても良い。そして、画像処理部62は、波形のピーク値に基づいて、フォトマスク合焦度Daを算出する。
図3(c)に示すように、第1アライメントマーク41及び第2アライメントマーク42の両方が画像P(i)に含まれていると、x方向及びy方向のどちらにも、第1アライメントマーク41の一部を形成するエッジが両端に2本ずつ、第2アライメントマーク42の一部を形成するエッジが中央に2本伸びており、これらのエッジに対応する位置に算出結果の波形のピークが存在することになる。そこで、画像処理部62は、算出結果の波形のピークの中から両端の2個ずつを、第1アライメントマーク41の一部を形成するエッジに対応するピークとして抽出し、これらのピークの値に基づいてフォトマスク合焦度Daを算出する。例えば、画像処理部62は、これらのピークの値を合算した値をフォトマスク合焦度Daとしても良い。
次に、画像処理部62は、画像P(i)の基板合焦度Dbの判定処理を実行する(ステップS5)。基板合焦度Dbとは、基板3に形成される第2アライメントマーク42に合焦している度合を示すものである。
画像処理部62は、ステップS4における算出結果の波形のピーク値に基づいて、基板合焦度Dbを算出する。前述の通り、第1アライメントマーク41及び第2アライメントマーク42の両方が画像P(i)に含まれていると、x方向及びy方向のどちらにも、第1アライメントマーク41の一部を形成するエッジが両端に2本ずつ、第2アライメントマーク42の一部を形成するエッジが中央に2本伸びており、これらのエッジに対応する位置に算出結果の波形のピークが存在することになる。そこで、画像処理部62は、算出結果の波形のピークの中から中央の2個を、第2アライメントマーク42の一部を形成するエッジに対応するピークとして抽出し、これらのピークの値に基づいて基板合焦度Dbを算出する。例えば、画像処理部62は、これらのピークの値を合算した値を基板合焦度Dbとしても良い。
次に、制御部6は、内部変数iが既定の撮影回数m(=駆動電圧のサンプリング数)よりも小さいか否か判定する(ステップS6)。内部変数iが既定の撮影回数mよりも小さい場合(ステップS6のYes)、制御部6は、ステップS1から繰り返す。内部変数iが既定の撮影回数m以上の場合(ステップS6のNo)、制御部6は、ステップS4において算出されるフォトマスク合焦度Daの値が最大の画像を、フォトマスク2に最も合焦しているフォトマスク合焦画像Paとし、ステップS5において算出される基板合焦度Dbが最大の画像を、基板3に最も合焦している基板合焦画像Pbとし、フォトマスク合焦画像Pa及び基板合焦画像Pbに基づく画像を生成する(ステップS7)。制御部6は、例えば、フォトマスク合焦画像Pa及び基板合焦画像Pbの重畳画像を生成する。
ステップS1からステップS7について、より一般的には、制御部6は、撮影部11によって撮影される各焦点距離における画像に対して第1方向(=x方向又はy方向)に微分を実行し、更に第1方向に直交する第2方向(=y方向又はx方向)に射影加算を実行することによって、その算出結果の波形を生成し、波形のピークに基づいてフォトマスク合焦画像Pa及び基板合焦画像Pbを決定し、フォトマスク合焦画像Pa及び基板合焦画像Pbに基づく画像を生成する。これによって、対物レンズ13が高倍率であっても、フォトマスク2及び基板3の両方に合焦している状態の画像を得ることができ、精度良くフォトマスク2及び基板3の位置合わせを実行することができる。特に、画像処理によってフォトマスク2及び基板3の両方に合焦している状態の画像を得ることができ、撮影部11をz方向(=第1方向及び第2方向に直交する第3方向)に移動させる必要がない。
次に、制御部6は、第1アライメントマーク41及び第2アライメントマーク42の位置合わせ処理を実行する(ステップS8)。制御部6は、例えば、フォトマスク合焦画像Pa及び基板合焦画像Pbの重畳画像が表示部72に表示されるように制御する。
オペレータは、表示部72に表示される重畳画像を確認しながら、操作部71におけるスイッチSW1、SW2、SW3を操作することにより、支持部材31を介して基板3をx、y、θxy方向に移動させる。このとき、基板移動検出部61は、基板移動機構5におけるモータM1、M2、M3への駆動パルス量に基づいて、支持部材31により支持された基板3の移動方向及び移動量を検出する。そして、画像処理部62は、基板移動検出部61により検出される基板3の移動方向及び移動量、並びに、撮影時における撮影部11の位置に基づいて、表示部72に表示される基板合焦画像Pbの表示位置を、基板3の移動に同期させて移動させる。尚、オペレータが操作部71を介して基板3を移動させるのではなく、制御部6が、基板移動機構5を制御することによって基板3を移動させても良い。
次に、制御部6は、位置合わせを終了するか否か確認する(ステップS9)。オペレータは、第1アライメントマーク41及び第2アライメントマーク42の位置を確認し、位置合わせを終了するか否か判断し、制御部6に指示する。又は、制御部6が、第1アライメントマーク41及び第2アライメントマーク42の相対位置を算出することによって、位置合わせの終了を判定しても良い。位置合わせを終了しない場合(ステップS9のNo)、制御部6は、ステップS1から繰り返す。位置合わせを終了する場合(ステップS9のYes)、制御部6は、フォトマスク2と基板3との間隔の算出処理を実行する(ステップS10)。具体的には、制御部6は、フォトマスク合焦画像Paに係る駆動電圧と、基板合焦画像Pbに係る駆動電圧との差分量を算出し、特性データ8に基づいて駆動電圧の差分量に対応する焦点距離の差分量を算出することによって、フォトマスク2と基板3との間隔を測定する。制御部6は、測定結果が表示部72に表示されるように制御する。また、制御部6は、測定結果が既定の範囲(例えば、30〜50μm)を超えている場合、警告情報が表示部72に表示されるように制御しても良い。
例えば、第1アライメントマーク41や第2アライメントマーク42がフォトマスク2や基板3の四隅に形成される場合、制御部6は、四か所におけるフォトマスク2と基板3との間隔を測定することによって、フォトマスク2及び基板3の傾きを測定することができる。
以上によれば、本実施の形態における位置合わせ装置1は、撮影部11と、フォトマスク2及び基板3からなる撮影部11の撮影対象4と撮影部11との間に配置される液晶レンズ12と、液晶レンズ12に駆動電圧を印加する液晶レンズ駆動部73と、液晶レンズ駆動部73に駆動電圧を変更させることによって撮影部11の焦点距離を変更し、撮影部11に各焦点距離における第1アライメントマーク41又は第2アライメントマーク42を含む画像を撮影させる制御部6と、を備える。これによって、撮影部11が第1アライメントマーク41及び第2アライメントマーク42を撮影する際、高倍率の対物レンズ13を用いることによって被写界深度が浅くなり、同一の焦点距離でフォトマスク及び基板の両方に合焦している状態の画像を撮影することができない場合であっても、撮影部11の焦点距離を調整するために、サーボモータ等を用いた鉛直方向(=図1の上下方向)への撮影部11の機械的な移動機構が不要となる。従って、本実施の形態における位置合わせ装置1は、小型化と位置合わせ精度の高精度化を両立することができる。
以上、添付図面を参照しながら、本発明に係る位置合わせ装置等の好適な実施形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例又は修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
1………位置合わせ装置
2………フォトマスク
3………基板
4………撮影対象
5………基板移動機構
6………制御部
8………特性データ
9………測定オブジェクト
11………撮影部
12………液晶レンズ
13………対物レンズ
14………光源
15………ハーフミラー
16………チューブレンズ
21………支持部材
31………支持部材
41………第1アライメントマーク
42………第2アライメントマーク
51………基部
52………回転部
53………当接部材
61………記憶部
62………画像処理部
63………駆動電圧制御部
64………基板移動検出部
71………操作部
72………液晶レンズ駆動部
73………表示部
M1、M2、M3………モータ
SW1、SW2、SW3………スイッチ

Claims (5)

  1. フォトマスク及び基板の各々に形成されているアライメントマーク同士の位置合わせを行う位置合わせ装置であって、
    撮影部と、
    前記フォトマスク及び前記基板からなる前記撮影部の撮影対象と前記撮影部との間に配置される液晶レンズと、
    前記液晶レンズに駆動電圧を印加する液晶レンズ駆動部と、
    前記液晶レンズ駆動部に前記駆動電圧を変更させることによって前記撮影部の焦点距離を変更し、前記撮影部に各々の前記焦点距離における前記アライメントマークを含む画像を撮影させる制御部と、
    を備えることを特徴とする位置合わせ装置。
  2. 前記制御部は、前記撮影部によって撮影される各々の前記焦点距離における画像の中から、前記フォトマスクに最も合焦しているフォトマスク合焦画像と、前記基板に最も合焦している基板合焦画像とを決定し、前記フォトマスク合焦画像及び前記基板合焦画像に基づく画像を生成する
    ことを特徴とする請求項1に記載の位置合わせ装置。
  3. 前記制御部は、前記撮影部によって撮影される各々の前記焦点距離における画像に対して第1方向に微分を実行し、更に前記第1方向に直交する第2方向に射影加算を実行することによって、その算出結果の波形を生成し、前記波形のピークに基づいて前記フォトマスク合焦画像及び前記基板合焦画像を決定する
    ことを特徴とする請求項2に記載の位置合わせ装置。
  4. 前記制御部は、前記駆動電圧と前記焦点距離との対応関係を示す特性データを予め記憶しておき、前記撮影部が前記フォトマスクの前記アライメントマークに合焦している状態の前記駆動電圧と、前記撮影部が前記基板の前記アライメントマークに合焦している状態の前記駆動電圧との差分量を算出し、前記特性データに基づいて前記駆動電圧の差分量に対応する前記焦点距離の差分量を算出することによって、前記フォトマスクと前記基板との間隔を測定する
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の位置合わせ装置。
  5. 前記液晶レンズと前記撮影対象との間に配置される対物レンズと、
    光を照射する光源と、
    前記液晶レンズと前記対物レンズとの間に配置され、前記光源から照射される光を前記対物レンズの方向に反射するとともに、前記対物レンズの方向からの光を前記液晶レンズの方向に透過するハーフミラーと、
    前記液晶レンズと前記ハーフミラーとの間に配置され、光が前記液晶レンズに入射されるように補正するためのチューブレンズと、
    を更に備えることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の位置合わせ装置。
JP2019193978A 2019-10-25 2019-10-25 位置合わせ装置 Active JP7356667B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019193978A JP7356667B2 (ja) 2019-10-25 2019-10-25 位置合わせ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019193978A JP7356667B2 (ja) 2019-10-25 2019-10-25 位置合わせ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021067860A true JP2021067860A (ja) 2021-04-30
JP7356667B2 JP7356667B2 (ja) 2023-10-05

Family

ID=75637221

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019193978A Active JP7356667B2 (ja) 2019-10-25 2019-10-25 位置合わせ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7356667B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024074286A1 (en) * 2022-10-03 2024-04-11 Asml Netherlands B.V. Tunable optical system

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6370110A (ja) * 1986-09-12 1988-03-30 Canon Inc 距離測定装置
JPH0629173A (ja) * 1992-02-07 1994-02-04 Karl Suess Kg Praezisionsgeraete Fuer Wissenschaft & Ind Gmbh & Co 格納されたビデオイメージを用いた近接マスクアライメントシステム
JPH07306009A (ja) * 1994-05-10 1995-11-21 Casio Comput Co Ltd 透明基板の位置合わせ方法
JPH11243049A (ja) * 1998-02-26 1999-09-07 Sumitomo Heavy Ind Ltd ウエハとマスクとの位置検出装置及び変形誤差検出方法
JP2011002737A (ja) * 2009-06-22 2011-01-06 Toppan Printing Co Ltd 露光装置及び露光方法
US20130230798A1 (en) * 2012-03-05 2013-09-05 Canon Kabushiki Kaisha Detection apparatus, exposure apparatus, and method of manufacturing device
WO2015040696A1 (ja) * 2013-09-18 2015-03-26 富士機械製造株式会社 部品実装機

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6370110A (ja) * 1986-09-12 1988-03-30 Canon Inc 距離測定装置
JPH0629173A (ja) * 1992-02-07 1994-02-04 Karl Suess Kg Praezisionsgeraete Fuer Wissenschaft & Ind Gmbh & Co 格納されたビデオイメージを用いた近接マスクアライメントシステム
JPH07306009A (ja) * 1994-05-10 1995-11-21 Casio Comput Co Ltd 透明基板の位置合わせ方法
JPH11243049A (ja) * 1998-02-26 1999-09-07 Sumitomo Heavy Ind Ltd ウエハとマスクとの位置検出装置及び変形誤差検出方法
US6335791B1 (en) * 1998-02-26 2002-01-01 Sumitomo Heavy Industries, Ltd. Apparatus for detecting positions of wafer and mask and deformation error detecting method
JP2011002737A (ja) * 2009-06-22 2011-01-06 Toppan Printing Co Ltd 露光装置及び露光方法
US20130230798A1 (en) * 2012-03-05 2013-09-05 Canon Kabushiki Kaisha Detection apparatus, exposure apparatus, and method of manufacturing device
WO2015040696A1 (ja) * 2013-09-18 2015-03-26 富士機械製造株式会社 部品実装機

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024074286A1 (en) * 2022-10-03 2024-04-11 Asml Netherlands B.V. Tunable optical system

Also Published As

Publication number Publication date
JP7356667B2 (ja) 2023-10-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7830528B2 (en) 3D image measuring apparatus and method thereof
JPS58182607A (ja) 自動焦点位置合せ及び測定装置並びに方法
JP4323608B2 (ja) 露光装置およびデバイス製造方法
TW201033579A (en) Three dimensional measuring device
TWI627492B (zh) 焦點調節方法及其作業裝置
JP2008300394A (ja) 基板接合装置および基板接合方法
EP0091234A2 (en) Auto focus alignment and measurement system and method
EP3040779A1 (en) A maskless exposure apparatus with alignment
US9989862B2 (en) Optical system for producing lithographic structures
KR100523350B1 (ko) 백-사이드 마스크 정렬이 가능한 노광장치
JP7356667B2 (ja) 位置合わせ装置
JPS62122215A (ja) 投影露光装置
JP5096852B2 (ja) 線幅測定装置および線幅測定装置の検査方法
KR102269439B1 (ko) 노광 장치
JP2010109220A (ja) マスクレス露光装置およびマスクレス露光方法
JP2006267191A (ja) 露光装置
WO2015104960A1 (ja) 撮像モジュール、撮像モジュールの製造方法、電子機器
JP2002168800A (ja) 外観検査装置
JP6718281B2 (ja) 基板の位置決め方法および基板の位置決め装置
JP2010141245A (ja) マスクレス露光装置および基板観察方法
KR100784663B1 (ko) 자동 다촛점 얼라인 장치 및 그 방법
KR20190043417A (ko) 노광 장치의 제어 방법 및 노광 장치의 제어 장치
JP2004012598A (ja) 投影露光装置
JPH05296739A (ja) 輪郭形状測定装置
JP2003295066A (ja) 顕微鏡装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20221005

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230613

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230627

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230810

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230905

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230913

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7356667

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150