JP2021052516A - 電圧監視回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】起動中の電源回路の出力電圧を監視することができる電圧監視回路を提供する。【解決手段】半導体集積回路装置100Aにおいて、電圧監視回路20Aは、電源回路10の出力電圧VOUTを監視する。電圧監視回路は、電源回路が起動を開始してから所定時間が経過する迄の第1期間の少なくとも一部において、第1監視手法で出力電圧を監視する第1監視部21、22と、所定時間が経過してから後の第2期間において、第1監視手法と異なる第2監視手法で出力電圧を監視する第2監視部22、23と、を備える。【選択図】図1

Description

本発明は、電源回路の出力電圧を監視する電圧監視回路に関する。
通常、電源回路は、当該電源回路の出力電圧を監視する電圧監視回路を備える(例えば特許文献1参照)。
特開2006−33913号公報
特許文献1で開示されている電圧監視回路は、電源回路が起動を開始してから所定時間が経過する迄の間、電源回路の出力電圧を監視対象とした過電圧及び減電圧の検出をマスクしている。このため、起動中の電源回路の出力電圧に対して品質保証が要求された場合、特許文献1で開示されている電圧監視回路では当該要求に応じることができない。
本発明は、上記の状況に鑑み、起動中の電源回路の出力電圧を監視することができる電圧監視回路を提供することを目的とする。
本明細書中に開示されている電圧監視回路は、電源回路の出力電圧を監視する電圧監視回路であって、前記電源回路が起動を開始してから所定時間が経過する迄の第1期間の少なくとも一部において、第1監視手法で前記出力電圧を監視する第1監視部と、前記所定時間が経過してから後の第2期間において、前記第1監視手法と異なる第2監視手法で前記出力電圧を監視する第2監視部と、を備える構成(第1の構成)である。
上記第1の構成の電圧監視回路において、前記第1監視部は、異なる時刻における2つの前記出力電圧に基づき前記出力電圧を監視する構成(第2の構成)にしてもよい。
上記第2の構成の電圧監視回路において、前記第1監視部は、前記出力電圧又は前記出力電圧の分圧をサンプルホールドするサンプルホールド部を備える構成(第3の構成)にしてもよい。
上記第2または第3の構成の電圧監視回路において、前記第1監視部は、前記出力電圧又は前記出力電圧の分圧をオフセットするオフセット部を備える構成(第4の構成)にしてもよい。
上記第4の構成の電圧監視回路において、前記オフセット部は、前記サンプルホールド部によってサンプルホールドされた前記出力電圧又は前記出力電圧の分圧をオフセットする構成(第5の構成)にしてもよい。
上記第1の構成の電圧監視回路において、前記第1監視部は、前記出力電圧又は前記出力電圧の分圧と単調増加する基準電圧との比較結果に基づき前記出力電圧を監視する構成(第6の構成)にしてもよい。
上記第1〜第6いずれかの構成の電圧監視回路において、前記第1監視部は、前記出力電圧が所定値に達してから前記出力電圧の監視を開始する構成(第7の構成)にしてもよい。
本明細書中に開示されている半導体集積回路装置は、上記第1〜第7いずれかの構成の電圧監視回路と、スイッチング素子又は出力トランジスタを制御する制御部と、を備える構成(第8の構成)である。
本明細書中に開示されている電子機器は、上記第1〜第7いずれかの構成の電圧監視回路と、前記電源回路と、前記電源回路に接続される負荷と、を備える構成(第9の構成)である。
本明細書中に開示されている車両は、上記第1〜第7いずれかの構成の電圧監視回路と、前記電源回路と、を備える構成(第10の構成)である。
本明細書中に開示されている電圧監視回路によれば、起動中の電源回路の出力電圧を監視することができる。
第1実施形態に係る電源回路及び電圧監視回路の構成を示す図 第1実施形態における出力電圧等のタイムチャートの一例を示す図 第1実施形態における出力電圧等のタイムチャートの他の例を示す図 第1実施形態の変形例を示す図 第1実施形態の他の変形例を示す図 第2実施形態に係る電源回路及び電圧監視回路の構成を示す図 第2実施形態における出力電圧等のタイムチャートの一例を示す図 第2実施形態における出力電圧等のタイムチャートの他の例を示す図 第2実施形態における出力電圧等のタイムチャートの更に他の例を示す図 車両の外観の一例を示す図
<第1実施形態>
図1は、第1実施形態に係る電源回路10及び電圧監視回路20Aの構成を示す図である。
電源回路10は、スイッチング電源回路であって、入力電圧VINを出力電圧VOUTに変換する。電源回路10は、制御部11と、スイッチング素子であるPチャネルMOSFET12と、スイッチング素子であるNチャネルMOSFET13と、インダクタL1と、出力コンデンサC1と、を備える。制御部11はソフトスタート部14を含む。制御部11、PチャネルMOSFET12、及びNチャネルMOSFET13は、半導体集積回路装置100A内に設けられる。
半導体集積回路装置100Aは、制御部11、PチャネルMOSFET12、及びNチャネルMOSFET13に加えて、電圧監視回路20A及び内部電源部30を備える。さらに、半導体集積回路装置100Aは、外部との電気的接続を確立するための端子PVIN等の各端子を備える。
内部電源部30は、端子AVINに印加される電圧を用いて内部電源電圧VREGを生成する。内部電源電圧VREGは、制御部11及び電圧監視回路20Aの電源電圧として用いられる。
次に、電源回路10の詳細について説明する。
PチャネルMOSFET12のソースには、端子PVINを介して入力電圧VINが印加される。PチャネルMOSFET12のドレインは、NチャネルMOSFET13のドレインに接続される。NチャネルMOSFET13のソースには、端子PGNDを介してグランド電位が印加される。すなわち、PチャネルMOSFET12及びNチャネルMOSFET13は、入力電圧VINとグランド電位との間で直列に接続される。
PチャネルMOSFET12とNチャネルMOSFET13との接続ノードには、端子SWを介してインダクタL1の一端が接続される。インダクタL1の他端は出力コンデンサC1の一端に接続される。出力コンデンサC1の他端にはグランド電位が印加される。インダクタL1と出力コンデンサC1との接続ノードには出力端子TOUTが接続される。
インダクタL1と出力コンデンサC1との接続ノードに生じる出力電圧VOUTは、出力端子TOUTを介して負荷(不図示)に供給される。出力電圧VOUTは、端子VOUTSを介して制御部11及び電圧監視回路20Aにも供給される。なお、本実施形態とは異なり、出力電圧VOUTを分圧する分圧部を設けて、出力電圧VOUTの分圧を制御部11及び電圧監視回路20Aに供給する構成にしてもよい。上記の分圧部は、半導体集積回路装置100Aに内蔵してもよく、半導体集積回路装置100Aに外付けされてもよい。
制御部11は、出力電圧VOUTに基づきPチャネルMOSFET12及びNチャネルMOSFET13をスイッチング制御する。制御部11の制御方式は、特に限定されず、例えば、電圧モード制御方式、オン時間固定方式、オフ時間固定方式、ヒステリシス・ウィンドウ方式等を採用することができる。なお、本実施形態とは異なり、インダクタL1を流れる電流を検出する電流検出部を設けて、制御部11の制御方式を電流モード制御方式にしてもよい。上記の電流検出部は、半導体集積回路装置100Aに内蔵してもよく、半導体集積回路装置100Aに外付けされてもよい。
制御部11は、端子AGND及び端子ENに接続される。端子AGNDは制御部11及び電圧監視回路20A用のグランド端子である。なお、図1において、制御部11及び電圧監視回路20Aと端子AGNDとを繋ぐ接続線は図示を省略している。端子AGNDには半導体集積回路装置100Aの外部からグランド電位が印加される。端子ENには半導体集積回路装置100Aの外部からイネーブル信号VENが供給される。イネーブル信号VENは端子ENを介して制御部11に供給される。制御部11は、イネーブル信号VENがローレベルであるときにディセーブル状態になり、イネーブル信号VENがハイレベルであるときにイネーブル状態になる。したがって、イネーブル信号VENがローレベルからハイレベルに切り替わると、電源回路10の起動が開始する。
ソフトスタート部14は、半導体集積回路装置100Aの起動中に出力電圧VOUTを徐々に上昇させる制御を行う。端子SSは、ソフトスタート時間設定端子である。ソフトスタート部14は、端子SSに外付け接続されるコンデンサ(不図示)の容量値によって出力電圧VOUTの立ち上がり時間(半導体集積回路装置100Aが起動を開始してから出力電圧VOUTが目標値に達する迄に要すると想定される時間)を可変する。
本実施形態では、電源回路10は同期整流方式のスイッチング電源回路であるが、ダイオード整流方式のスイッチング電源回路に変更してもよい。ダイオード整流方式のスイッチング電源回路に変更する場合には、NチャネルMOSFET13をダイオードに置換すればよい。また、本実施形態とは異なり、PチャネルMOSFET12及びNチャネルMOSFET13を半導体集積回路装置100Aの外付け部品にしてもよい。また、PチャネルMOSFET12の代わりにNチャネルMOSFETを用い、当該NチャネルMOSFETを駆動するためのブートストラップ回路を設けてもよい。また、MOSFETの代わりにバイポーラトランジスタを用いてもよい。
本実施形態では、電源回路10は降圧型のスイッチング電源回路であるが、昇圧型のスイッチング電源回路や昇降圧型のスイッチング電源回路に変更してもよい。また、本実施形態では、電源回路10はスイッチング電源回路であるが、リニア電源回路に変更してもよい。リニア電源回路は、出力トランジスタと、当該リニア電源回路の出力電圧に基づき出力トランジスタを制御する制御部と、を備える。リニア電源回路では、出力トランジスタ及び制御部の両方を半導体集積回路装置に内蔵してもよく、制御部を半導体集積回路装置に内蔵し出力トランジスタを半導体集積回路装置に外付けしてもよい。
次に、電圧監視回路20Aの詳細について説明する。電圧監視回路20Aは、サンプルホールド部21と、コンパレータ22及び25と、基準電圧源23及び24と、ANDゲート26と、ORゲート27と、スイッチSW1と、を備える。
サンプルホールド部21の入力端及びコンパレータ22の反転入力端子には出力電圧VOUTが供給される。基準電圧源23は第1基準電圧VREF1を生成する。第1基準電圧VREF1は出力電圧VOUTの目標値より小さい値(例えば出力電圧VOUTの目標値×0.95等)に設定される。第1基準電圧VREF1は出力電圧VOUTの減電圧を検出するために用いられる。
スイッチSW1は、サンプルホールド部21によってサンプルホールドされた出力電圧VOUT及び基準電圧源23によって生成された第1基準電圧VREF1のいずれか一方を選択してコンパレータ22の非反転入力端子に供給する。具体的には、半導体集積回路装置100Aが起動を開始してから出力電圧VOUTの立ち上がり時間が経過する迄の第1期間において、スイッチSW1は出力電圧VOUTを選択し、出力電圧VOUTの立ち上がり時間が経過してから後の第2期間において、スイッチSW1は第1基準電圧VREF1を選択する。
コンパレータ25の非反転入力端子には出力電圧VOUTが供給される。基準電圧源24は第2基準電圧VREF2を生成する。第2基準電圧VREF2は出力電圧VOUTの目標値より大きい値(例えば出力電圧VOUTの目標値×1.05等)に設定される。第2基準電圧VREF2は出力電圧VOUTの過電圧を検出するために用いられる。コンパレータ25の反転入力端子には第2基準電圧VREF2が供給される。
ANDゲート26の第1入力端子にはマスク信号MSKが供給され、ANDゲート26の第2入力端子にはコンパレータ25の出力が供給される。コンパレータ25による過電圧検出をマスクする場合、マスク信号MSKをローレベルにする。一方、コンパレータ25による過電圧検出をマスクしない場合、マスク信号MSKをハイレベルにする。
ORゲート27の第1入力端子にはANDゲート26の出力が供給され、ORゲート27の第2入力端子にはコンパレータ22の出力が供給される。コンパレータ22によって減電圧が検出されているかコンパレータ25によって過電圧が検出されている場合、ORゲート27の出力(電圧監視回路20Aの出力)MNTはハイレベルになる。一方、減電圧も過電圧も検出されていない場合(検出がマスクされている場合を含む)、ORゲート27の出力MNTはローレベルになる。すなわち、電圧監視回路20Aの出力MNTは、出力電圧VOUTの異常を検出した場合にハイレベルになる。なお、本実施形態とは異なり、半導体集積回路装置100Aに異常報知用端子を設け、異常報知用端子を介して電圧監視回路20Aの出力MNTを半導体集積回路装置100Aの外部に供給してもよい。
制御回路11は、電圧監視回路20Aの出力MNTがハイレベルである場合、例えば再起動や非常停止等の異常対応措置を実行する。
図2及び図3は出力電圧VOUT等のタイムチャートの各例を示す図である。なお、図3では、図2との相違点を分かり易くするために、電圧監視回路20Aの出力MNTがハイレベルになった後も電源回路10が通常動作を継続した場合のタイムチャートを図示している。しかしながら、上述したように制御回路11は、電圧監視回路20Aの出力MNTがハイレベルである場合、例えば再起動や非常停止等の異常対応措置を実行することが好ましい。
半導体集積回路装置100Aが起動を開始してから出力電圧VOUTの立ち上がり時間が経過する迄の第1期間P1において、サンプルホールド部21及びコンパレータ22によって構成される第1監視部は、異なる時刻における2つの出力電圧VOUTに基づき出力電圧VOUTを監視する。具体的には、第1期間P1において、第1監視部は、サンプルホールド部21によってサンプリングが実行された時刻の出力電圧VOUT及び現時刻の出力電圧VOUTに基づき、出力電圧VOUTの減電圧を検出する。
第1期間P1において、現時刻の出力電圧VOUTがサンプルホールド部21によってサンプリングが実行された時刻の出力電圧VOUTより大きい場合、すなわち出力電圧VOUTが単調増加している場合、第1監視部は出力電圧VOUTの減電圧を検出しない。一方、第1期間P1において、現時刻の出力電圧VOUTがサンプルホールド部21によってサンプリングが実行された時刻の出力電圧VOUTより大きくない場合、すなわち出力電圧VOUTが単調増加していない場合、第1監視部は出力電圧VOUTの減電圧を検出する。
サンプルホールド部21のサンプリングタイミングは、例えば制御部11内で利用されるクロック信号に基づけばよい。なお、電源回路10をリニア電源回路に変更する場合には、例えばサンプリングタイミング信号を生成する信号生成部を半導体集積回路装置100A内に設けるとよい。或いは、サンプリングタイミング信号を半導体集積回路装置100Aの外部から受け取るための端子を半導体集積回路装置100Aに設けてもよい。
出力端子TOUTに接続される負荷(不図示)の中には、出力電圧VOUTが目標値に達する前から負荷の起動を開始し負荷の起動中に出力電圧VOUTが単調増加しなくなると正常に起動を完了できないおそれがあるタイプの負荷が存在する。例えばこのような負荷を出力端子TOUTに接続する場合に、上述した第1監視部は有用である。
なお、本実施形態と異なり、第1監視部は、第1期間P1の一部のみにおいて、サンプルホールド部21によってサンプリングが実行された時刻の出力電圧VOUT及び現時刻の出力電圧VOUTに基づき、出力電圧VOUTの減電圧を検出してもよい。例えば、出力端子TOUTに接続される負荷(不図示)がまだ起動を開始しないと想定される期間において、第1監視部による検出をマスクしてもよい。具体的には、第1監視部が第1期間P1において出力電圧VOUTが所定値に達してから出力電圧VOUTの監視を開始するとよい。
また、本実施形態では、第1期間P1において、マスク信号MSKがハイレベルになり過電圧検出がマスクされる。しかしながら、第1期間P1において過電圧検出はマスクされなくても問題ないので、本実施形態とは異なり、ANDゲート26を電圧監視回路20Aから取り除いてもよい。
また、本実施形態と異なり、サンプルホールド部21を遅延部に変更してもよい。
出力電圧VOUTの立ち上がり時間が経過してから後の第2期間P2において、基準電圧源23及びコンパレータ22によって構成される第2監視部は、出力電圧VOUTと第1基準電圧VREF1との比較結果に基づき出力電圧VOUTを監視する。第1監視部及び第2監視部においてコンパレータ22を共用することで部品点数を削減することができる。
第2期間P2において、出力電圧VOUTが第1基準電圧VREF1より大きい場合、第2監視部は出力電圧VOUTの減電圧を検出しない。一方、第2期間P2において、出力電圧VOUTが第1基準電圧VREF1より大きくない場合、第2監視部は出力電圧VOUTの減電圧を検出する。
<第1実施形態の変形例>
図1に示す電源監視回路20Aは、第1期間P1において、出力電圧VOUTが単調増加していない場合に出力電圧VOUTの減電圧が検出される構成である。しかしながら、起動中の電源回路の出力電圧に対して要求される品質保証の仕様が、第1期間P1において出力電圧VOUTの単調減少を或る程度許容できる内容であることも考えられる。
したがって、図1に示す半導体集積回路装置100Aを図4に示す半導体集積回路装置100B又は図5に示す半導体集積回路装置100Cに変更してもよい。
図4に示す半導体集積回路装置100Bは、電源監視回路20Aではなく電源監視回路20Bを備える点で図1に示す半導体集積回路装置100Aと相違する。電源監視回路20Bは、電源監視回路20Aにオフセット部28を追加した構成である。電源監視回路20Bにおいて、オフセット部28は、サンプルホールド部21とスイッチSW1との間に設けられ、サンプルホールド部21によってサンプルホールドされた出力電圧VOUTをオフセットする。オフセット部28のオフセット量が出力電圧VOUTの単調減少の許容量に対応する。
図5に示す半導体集積回路装置100Cは、電源監視回路20Aではなく電源監視回路20Cを備える点で図1に示す半導体集積回路装置100Aと相違する。電源監視回路20Cは、電源監視回路20Aにオフセット部28を追加した構成である。電源監視回路20Cにおいて、オフセット部28は、端子VOUTSとコンパレータ22の反転入力端子との間に設けられ、端子VOUTSから供給される出力電圧VOUTをオフセットする。オフセット部28のオフセット量が出力電圧VOUTの単調減少の許容量に対応する。
なお、電源監視回路20Cでは、オフセット部28のオフセット量に応じて第1基準電圧VREF1の値を設定する必要が生じる。したがって、第1監視部及び第2監視部においてコンパレータ22を共用する構成においては、電源監視回路20Cよりも電源監視回路20Bの方が好ましい。
なお、サンプルホールド部21によってサンプリングが実行された時刻と現時刻との間隔は、次のサンプリングが実行されない限り時間経過とともに徐々に拡大する。したがって、サンプルホールド部21のサンプリング周期における出力電圧VOUTの単調減少の許容量に対応してオフセット部28のオフセット量を設定するとよい。
<第2実施形態>
図6は、第2実施形態に係る電源回路10及び電圧監視回路20Dの構成を示す図である。なお、図6において図1と同一の部分には同一の符号を付し詳細な説明を省略する。
第2実施形態では、図1に示す半導体集積回路装置100Aを図6に示す半導体集積回路装置100Dに変更する。
図6に示す半導体集積回路装置100Dは、電源監視回路20Aではなく電源監視回路20Dを備える点で図1に示す半導体集積回路装置100Aと相違する。
電源監視回路20Dは電源監視回路20Aからサンプルホールド部21及びスイッチSW1を取り除きD/Aコンバータ29を追加した構成である。
半導体集積回路装置100Aが起動を開始してから出力電圧VOUTの立ち上がり時間が経過する迄の第1期間P1において、例えばソフトスタート部14が制御部11で用いられる内部基準電圧をリニアに上昇させる場合、理想的には内部基準電圧と出力電圧VOUTとはリニアな関係になる。したがって、本実施形態では、第1期間P1において、内部基準電圧とリニアな関係である理想的な出力電圧VOUTから所定値(例えば出力電圧VOUTの目標値×0.05等)を引いた値が第1基準電圧VREF1になるようにする。すなわち、電源監視回路20Dは、D/Aコンバータ29、基準電圧源23、及びコンパレータ22によって構成され第1期間P1において出力電圧VOUTと単調増加する第1基準電圧VREF1との比較結果に基づき出力電圧VOUTを監視する第1監視部と、D/Aコンバータ29、基準電圧源23、及びコンパレータ22によって構成され第2期間P2において出力電圧VOUTと一定の第1基準電圧VREF1との比較結果に基づき出力電圧VOUTを監視する第2監視部と、を備える。なお、内部基準電圧とリニアな関係である理想的な出力電圧VOUTから所定値(例えば出力電圧VOUTの目標値×0.05等)を引いた値が正にならない期間は、例えば、基準電圧源23が第1基準電圧VREF1を不定にし、減電圧検出をマスクすればよい。
第1期間P1において、制御部11は、ソフトスタート部14によって生成されるデジタル電圧(内部基準電圧の制御に関連する電圧)をD/Aコンバータ29に出力する。一方、出力電圧VOUTの立ち上がり時間が経過してから後の第2期間P2において、制御部11は、一定値のデジタル電圧をD/Aコンバータ29に出力する。
D/Aコンバータ29は、制御部11から受け取ったデジタル電圧をアナログ電圧に変換して基準電圧源23に出力する。基準電圧源23は、D/Aコンバータ29から受け取ったアナログ電圧に応じて第1基準電圧VREF1の値を調整する。
以上のような構成により、本実施形態では、第1基準電圧VREF1は図7に示すタイムチャートのように変化する。
<第2実施形態の変形例>
半導体集積回路装置100Dに外付けされるコンデンサ(不図示)の容量値、制御部11で生成されるスイッチングパルス信号の最小オンデューティの限界等の影響により、第1期間P1において、内部基準電圧と出力電圧VOUTとがリニアな関係にならない場合がある。そのような場合、上述した第2実施形態では、例えば図8に示すタイムチャートのように第1期間P1において出力電圧VOUTが単調増加しているにもかかわらず、コンパレータが出力電圧VOUTの減電圧を検出してしまうおそれがある。
そこで、実験やシミュレーション等によって、第1期間P1における出力電圧VOUTの標準的な変化特性を予め把握し、その把握した変化特性をソフトスタート部14によって生成されるデジタル電圧に反映させるとよい。
例えば、第1期間P1及び延長期間αにおける出力電圧VOUTの標準的な変化特性が図9に示すタイムチャートのような場合、図9に示すタイムチャートのように第1基準電圧VREF1を設定することで、第1期間P1において出力電圧VOUTが単調増加しているにもかかわらず、コンパレータが出力電圧VOUTの減電圧を検出してしまうおそれがなくなる。
なお、図9に示すタイムチャートのようなでは、第1基準電圧VREF1の設定を実現する場合、第2期間P2の開始直後からではなく延長期間αの終了直後から制御部11が一定値のデジタル電圧をD/Aコンバータ29に出力すればよい。
<用途>
図10は、各種電子機器を搭載した車両の一構成例を示す外観図である。本構成例の車両Xは、バッテリX10と、バッテリX10から入力電圧の供給を受けて動作する種々の電子機器X11〜X18と、を搭載している。なお、図10におけるバッテリX10および電子機器X11〜X18の搭載位置については、図示の便宜上、実際とは異なる場合がある。
電子機器X11は、エンジンに関連する制御(インジェクション制御、電子スロットル制御、アイドリング制御、酸素センサヒータ制御、および、オートクルーズ制御など)を行うエンジンコントロールユニットである。
電子機器X12は、HID[high intensity discharged lamp]やDRL[daytime running lamp]などの点消灯制御を行うランプコントロールユニットである。
電子機器X13は、トランスミッションに関連する制御を行うトランスミッションコントロールユニットである。
電子機器X14は、車両Xの運動に関連する制御(ABS[anti-lock brake system]制御、EPS[electric power steering]制御、電子サスペンション制御など)を行うボディコントロールユニットである。
電子機器X15は、ドアロックや防犯アラームなどの駆動制御を行うセキュリティコントロールユニットである。
電子機器X16は、ワイパー、電動ドアミラー、パワーウィンドウ、ダンパー(ショックアブソーバー)、電動サンルーフ、および、電動シートなど、標準装備品やメーカーオプション品として、工場出荷段階で車両Xに組み込まれている電子機器である。
電子機器X17は、車載A/V[audio/visual]機器、カーナビゲーションシステム、および、ETC[electronic toll collection system]など、ユーザオプション品として任意で車両Xに装着される電子機器である。
電子機器X18は、車載ブロア、オイルポンプ、ウォーターポンプ、バッテリ冷却ファンなど、高耐圧系モータを備えた電子機器である。
先に説明した電源回路及び電圧監視回路は、適宜、電子機器X11〜X18のいずれにも組み込むことが可能である。電源回路に接続される負荷としては、例えばCPU[central processing unit]、DRAM[dynamic random access memory]等を挙げることができる。また、ここでは用途の一例として車載製品について説明したが、先に説明した電源回路及び電圧監視回路は車載製品に限定されない。
<留意点>
本明細書中に開示されている種々の技術的特徴は、上記実施形態のほか、その技術的創作の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。すなわち、上記実施形態は、全ての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきであり、本発明の技術的範囲は、上記実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示されるものであり、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内に属する全ての変更が含まれると理解されるべきである。
例えば、第1実施形態で説明した種々の例示及び変形例は特に矛盾がない限り第2実施形態においても適用してよい。
第1実施形態ではスイッチSW1は第1期間P1において出力電圧VOUTを選択し、第2期間P2において第1基準電圧VREF1を選択したが、例えば第2実施形態の変形例と同様に、スイッチSW1が第1期間P1及び延長期間αにおいて出力電圧VOUTを選択し、延長期間αの終了直後から第1基準電圧VREF1を選択してもよい。
第1実施形態及び第2実施形態では、出力電圧VOUTの減電圧検出に関して互いに監視手法が異なる2つの監視部を設けたが、これに加えて又はこれに代えて、出力電圧VOUTの過電圧検出に関して互いに監視手法が異なる2つの監視部を設けてもよい。なお、出力電圧VOUTの過電圧検出に関する監視では、上述した第1実施形態と同様の構成を適用することができないので、例えば、上述した第1実施形態の変形例と同様の構成、上述した第2実施形態と同様の構成、上述した第2実施形態の変形例と同様の構成等を適用すればよい。
10 電源回路
11 制御部
12 PチャネルMOSFET
13 NチャネルMOSFET
20A〜20D 電圧監視回路
21 サンプルホールド部
22 コンパレータ
23 基準電圧源
28 オフセット部
29 D/Aコンバータ
100A〜100D 半導体集積回路装置
SW1 スイッチ
X 車両

Claims (10)

  1. 電源回路の出力電圧を監視する電圧監視回路であって、
    前記電源回路が起動を開始してから所定時間が経過する迄の第1期間の少なくとも一部において、第1監視手法で前記出力電圧を監視する第1監視部と、
    前記所定時間が経過してから後の第2期間において、前記第1監視手法と異なる第2監視手法で前記出力電圧を監視する第2監視部と、
    を備える、電圧監視回路。
  2. 前記第1監視部は、異なる時刻における2つの前記出力電圧に基づき前記出力電圧を監視する、請求項1に記載の電圧監視回路。
  3. 前記第1監視部は、前記出力電圧又は前記出力電圧の分圧をサンプルホールドするサンプルホールド部を備える、請求項2に記載の電圧監視回路。
  4. 前記第1監視部は、前記出力電圧又は前記出力電圧の分圧をオフセットするオフセット部を備える、請求項2又は請求項3に記載の電圧監視回路。
  5. 前記オフセット部は、前記サンプルホールド部によってサンプルホールドされた前記出力電圧又は前記出力電圧の分圧をオフセットする、請求項4に記載の電圧監視回路。
  6. 前記第1監視部は、前記出力電圧又は前記出力電圧の分圧と単調増加する基準電圧との比較結果に基づき前記出力電圧を監視する、請求項1に記載の電圧監視回路。
  7. 前記第1監視部は、前記出力電圧が所定値に達してから前記出力電圧の監視を開始する、請求項1〜6のいずれか一項に記載の電圧監視回路。
  8. 請求項1〜7のいずれか一項に記載の電圧監視回路と、
    スイッチング素子又は出力トランジスタを制御する制御部と、
    を備える、半導体集積回路装置。
  9. 請求項1〜7のいずれか一項に記載の電圧監視回路と、
    前記電源回路と、
    前記電源回路に接続される負荷と、
    を備える、電子機器。
  10. 請求項1〜7のいずれか一項に記載の電圧監視回路と、
    前記電源回路と、
    を備える、車両。
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