JP2021043145A - 導通検査治具及び導通検査システム - Google Patents
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Abstract
【課題】導通ピンの曲がり異常を検知できる導通検査治具及び導通検査システムを提供する。【解決手段】導通検査治具1は、コネクタ70に設けられた検査対象の雌端子に接触可能であり、信号が入力される導通ピン50A、50Bと、導通ピンが配置された本体と、導電性のアライメントプレート30と、を備える。アライメントプレート30は、雌端子の配置に対応する位置に、正常状態の導通ピン50Aが内部に接触することなく貫通する孔部30Aが形成され、本体に対して進退可能に配置され、導通検査時に孔部30Aを貫通して導通ピン50Aが突出する。曲がり異常のある導通ピン50Bはアライメントプレート30に接触し、導通ピン50Bからアライメントプレート30に流れた信号が導通検査装置によって検知される。【選択図】図4
Description
本発明は、導通検査治具及び導通検査システムに関する。
車両等に設置されるコネクタの端子の導通検査を行うための導通検査治具(チェッカーフィクスチャー)は、治具基板に固定されたコネクタセット部と、コネクタセット部に対して進退可能な検査部と、検査部をコネクタセット部に向けて進退させるレバーとを備える。検査部は、複数の導通ピンと、導通ピンを案内し保護するピンガードプレートと、ピンガードプレートをコネクタセット部方向に付勢するスプリングとを有する。導通検査時には、レバーを倒すことで検査部を移動させ、コネクタセット部にセットされたコネクタの前端面に、ピンガードプレートの前端面を押し当てて、端子に導通ピンを接触させる。この導通検査治具において、ピンガードプレートの導通ピン保護機能を向上させる技術が提案されている(例えば特許文献1参照)。
特許文献1に記載された導通検査治具は、コネクタセット部が左右一対の側壁を有する。そして、導通検査時には、導通ピン保護板(ピンガードプレート)の前端面をコネクタセット部の左右一対の側壁の後端面に当接させ、かつ、側壁の後端面と検査部の前端面との間にピンガードプレートを挟むことで、ピンガードプレートの曲がり変形を防止している。
しかしながら、導通ピンが、清掃やコネクタのセットミス等で曲げられてしまい、導通ピンの先端がピンガードプレートの導通ピン孔から外れて進入不可能となることがある。この場合に、導通ピンが曲がったことに気付かない操作者がレバーを倒すと、曲がった導通ピンがさらに曲げられてしまう。また、この状態で検査が行われると、誤判定を起こす可能性がある。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、導通ピンの曲がり異常を検知できる導通検査治具及び導通検査システムを提供することにある。
前述した目的を達成するために、本発明に係る導通検査装置及び導通検査システムは、下記(1)〜(5)を特徴としている。
(1) コネクタに設けられた検査対象の端子に接触可能であり、信号が入力される導通ピンと、
前記導通ピンが配置された本体部と、
前記端子の配置に対応する位置に、正常状態の前記導通ピンが内部に接触することなく貫通する導通ピン孔が形成され、前記本体部に対して進退可能に配置され、導通検査時に前記導通ピン孔を貫通して前記導通ピンが突出する、導電性のアライメントプレートと、
前記導通ピンが前記アライメントプレートに接触した場合に前記導通ピンから前記アライメントプレートに流れた信号を検知する検知部と、を備える
ことを特徴とする導通検査治具。
(2) 前記検知部は、
前記アライメントプレートを前記本体部に支持する支持部材と、
前記アライメントプレートに対して前記本体部を付勢する導電性のばねと、
前記ばねと電気的に接続された検知ピンと、
前記検知ピンと電気的に接続され、前記信号が流れた場合に警報を発する警報部と、を含む
ことを特徴とする上記(1)に記載の導通検査治具。
(3) 前記導通ピンは、導通検査完了後のノーマルポジションにおいて、先端が前記導通ピン孔内に位置する
ことを特徴とする上記(1)又は(2)に記載の導通検査治具。
(4) 前記アライメントプレートは、少なくとも、前記導通ピン孔の内部が、導電性部材で構成される
ことを特徴とする上記(3)に記載の導通検査治具。
(5) 上記(1)〜(4)のいずれか一に記載の導通検査治具と、
前記導通検査治具に接続され、前記端子の導通検査を行う検査装置と、を備えた導通検査システムであって、
前記検査装置から出力された信号が、前記導通ピンに入力され、前記導通ピンが前記アライメントプレートに接触した場合に前記導通ピンから前記アライメントプレートに流れて、前記検査装置に入力される
ことを特徴とする導通検査システム。
(1) コネクタに設けられた検査対象の端子に接触可能であり、信号が入力される導通ピンと、
前記導通ピンが配置された本体部と、
前記端子の配置に対応する位置に、正常状態の前記導通ピンが内部に接触することなく貫通する導通ピン孔が形成され、前記本体部に対して進退可能に配置され、導通検査時に前記導通ピン孔を貫通して前記導通ピンが突出する、導電性のアライメントプレートと、
前記導通ピンが前記アライメントプレートに接触した場合に前記導通ピンから前記アライメントプレートに流れた信号を検知する検知部と、を備える
ことを特徴とする導通検査治具。
(2) 前記検知部は、
前記アライメントプレートを前記本体部に支持する支持部材と、
前記アライメントプレートに対して前記本体部を付勢する導電性のばねと、
前記ばねと電気的に接続された検知ピンと、
前記検知ピンと電気的に接続され、前記信号が流れた場合に警報を発する警報部と、を含む
ことを特徴とする上記(1)に記載の導通検査治具。
(3) 前記導通ピンは、導通検査完了後のノーマルポジションにおいて、先端が前記導通ピン孔内に位置する
ことを特徴とする上記(1)又は(2)に記載の導通検査治具。
(4) 前記アライメントプレートは、少なくとも、前記導通ピン孔の内部が、導電性部材で構成される
ことを特徴とする上記(3)に記載の導通検査治具。
(5) 上記(1)〜(4)のいずれか一に記載の導通検査治具と、
前記導通検査治具に接続され、前記端子の導通検査を行う検査装置と、を備えた導通検査システムであって、
前記検査装置から出力された信号が、前記導通ピンに入力され、前記導通ピンが前記アライメントプレートに接触した場合に前記導通ピンから前記アライメントプレートに流れて、前記検査装置に入力される
ことを特徴とする導通検査システム。
上記(1)の構成の導通検査装置によれば、導通ピン孔に挿入される導通ピンが、正常状態であればアライメントプレートに接触することがないため、検知部において信号が検知されない。一方、導通ピンが、許容される範囲を超えた曲がりを有する場合、導通ピンがアライメントプレートに接触して流れた信号が検知部に検知される。よって、検知部が信号を検知したか否かに応じて、導通ピンの曲がり異常(アライメントエラー)の有無を瞬時に検知できる。したがって、曲がり異常のある導通ピンを用いた導通検査を行うことによる、コネクタ破損や誤判定を防止できる。
上記(2)の構成の導通検査装置によれば、アライメントプレートに流れた信号を検知するために、アライメントプレートと本体部との間に介在するばねを利用できる。また、導通ピンからアライメントプレートに流れた信号を検知して、警報を発することにより、導通ピンがアライメントプレートに接触した瞬間に、異常発生をメンテナンス作業を行う作業者に把握させることができる。
上記(3)の構成の導通検査装置によれば、導通検査時以外は、導通ピンがアライメントプレートの導通ピン孔内部に収容保護されるため、導通ピンが損傷しにくい。
上記(4)の構成の導通検査装置によれば、導通ピンがノーマルポジションに位置した状態において、曲がり異常のある導通ピンの先端が導通ピン孔の内部に接触するため、検査完了時点で、直前の検査で使用された導通ピンの異常を確実に検知できる。
上記(5)の構成の導通検査システムによれば、導通検査を行う検査装置を利用して導通ピンの曲がり異常の有無を診断できる。このため、検査装置が行った導通検査の結果と、その導通検査に用いた導通ピンの曲がり異常の有無と、を対応付けて、製品(コネクタ)のトレーサビリティを確保できる。
本発明によれば、導通ピンの曲がり異常を検知できる導通検査治具及び導通検査システムを提供できる。
以上、本発明について簡潔に説明した。更に、以下に説明される発明を実施するための形態(以下、「実施形態」という。)を添付の図面を参照して通読することにより、本発明の詳細は更に明確化されるであろう。
本発明に関する具体的な実施形態について、各図を参照しながら以下に説明する。
図1は、本発明の一実施形態の導通検査治具(チェッカーフィクスチャー)を概略的に示す斜視図であり、図2は、導通検査時における導通検査治具を概略的に示す図1のA−A断面図である。図1及び図2の紙面において、左側及び右側をそれぞれ導通検査治具1の前方向及び後方向とする。導通検査治具1は、フレーム2と、コネクタセット部3と、検査部4と、レバー5と、保護部6と、を備え、検査部4の前面に導電性部材で形成されたアライメントプレート30が設けられる。導通検査治具1及び後述する導通検査装置(図示せず)は、導通検査システムを構成する。
フレーム2は、金属板で形成される。コネクタセット部3は、フレーム2の前端側において、フレーム2の内側にねじ止め等により固定して設けられる。
コネクタセット部3は、合成樹脂で形成され、一対の側壁3A及び底壁3Bを有し、導通検査治具1の幅方向(左右方向)に沿う鉛直断面視で、上部が開放されたU字形状を有する。一対の側壁3Aの間に、検査対象のコネクタ70(図3(b)及び図4参照)がセットされる。
コネクタセット部3は、合成樹脂で形成され、一対の側壁3A及び底壁3Bを有し、導通検査治具1の幅方向(左右方向)に沿う鉛直断面視で、上部が開放されたU字形状を有する。一対の側壁3Aの間に、検査対象のコネクタ70(図3(b)及び図4参照)がセットされる。
検査部4は、フレーム2の内側にフレーム2に対してスライド可能に設けられる。検査部4は、絶縁樹脂製の箱状の本体41(本体部)と、本体41に上下左右に並列配置された金属製の複数の導通ピン50と、を有する。また、検査部4は、本体41の前面に固定され、アライメントプレート30を保持する固定部42と、固定部42の上部にアライメントプレート30よりも前方に突出して配置されたガイド壁43と、を有する。固定部42の各孔部42Aから各導通ピン50が前方に突出され、各導通ピン50は内部に細径な圧縮コイルばね(図示せず)を有して一定ストローク伸縮自在である。各導通ピン50の後端は各電線(図示せず)に接続され、各電線は束ねられて導通検査装置(検知部、図示せず)に接続される。各導通ピン50は、コネクタ70に設けられた検査対象の雌端子71(図3(b)参照)に接触可能であり、導通検査装置からの信号が入力される。
アライメントプレート30は、金属又は導電性樹脂で形成され、コネクタ70の雌端子71の配置に対応する位置に、正常状態の導通ピン50が内部に接触することなく貫通する孔部30A(導通ピン孔)を有する。正常状態の導通ピンとは、許容される範囲を超えた曲がりを有する曲がり異常がない状態の導通ピンを意味する。すなわち、孔部30Aの内径は、導通ピン50の曲がりを許容する値であって、コネクタ70の品質及び導通検査の精度に問題のない範囲に設定されており、孔部30Aは、導通ピン50の許容曲がりを超えた時点で曲がり異常を検出できるゲージ孔として機能する。アライメントプレート30は、導通検査完了後のノーマルポジションにおいて導通ピン50の先端51(図3(a),(b)及び図4参照)が孔部30Aの内部に位置し、導通検査時に孔部30Aを貫通して導通ピン50が突出する。アライメントプレート30は、検査部4の本体41に対して進退可能に配置され、導通ピン50を異物等との干渉から保護する保護板として機能し、かつ、導通ピン50の曲がり異常の有無の確認(アライメント確認)機能を有する。
本体41には、アライメントプレート30を支持するガイドピン9及び支柱10が設けられる。ガイドピン9は、導電性部材で構成され、本体41の前面から、固定部42の上下三か所に設けられた孔部42Bを貫通して、前方へ突出される。ガイドピン9は、前端部9A、本体部9B及び後端部9Cを有し、前端部9Aが本体部9Bよりも小径とされ、後端部9Cが本体部9Bよりも大径とされる。前端部9Aは、アライメントプレート30の孔部30B内に収容される。後端部9Cは、本体41の前面から後方に延びる穴41Aに収容され、コイルばね7が弾設される。コイルばね7は、穴41A内において、弾性変形可能であり、アライメントプレート30に対して本体41を付勢する。
3つのガイドピン9のうち、いずれか一のガイドピン9が配置される穴41A(図2)は、底面41Bに開口を有する。本体41は、底面41Bの開口と、本体41の後端面41Dに設けられた開口とを連通する孔部41Cを有する。この穴41A及び孔部41Cの内部に、本体41の後端面41Dから後方にその先端8Aが突出する検知ピン8が設けられる。すなわち、この穴41Aにおいて、ガイドピン9と検知ピン8との間に、コイルばね7が弾設される。検知ピン8は、前端がコイルばね7と電気的に接続され、後端側の先端8Aが電線を介して導通検査装置に接続され、アライメントプレート30に信号が流れた場合、この信号を検知して、導通検査装置に出力する。なお、3つのガイドピン9が配置される穴41Aの二つ以上に検知ピン8を設けてもよい。
アライメントプレート30の後端面30Eが、本体部9Bの前端面にコイルばね7の力で押し付けられ、アライメントプレート30はコネクタセット部3の一対の側壁3Aの左右の後端面3Cに当接しつつガイドピン9に沿ってスライド式に後退自在となっている。
支柱10は、導電性部材又は樹脂で構成されてアライメントプレート30を支持するものであり、本体41の前面から、固定部42の上下二か所に設けられた孔部42Cを貫通して、前方へ突出される。支柱10は、前端部がアライメントプレート30に設けられた孔部30Cを挿通可能とされる。アライメントプレート30がコネクタセット部3の後端面3Cに押し付けられてアライメントプレート30と固定部42との距離が近接すると、支柱10の前端が孔部30C内を前方に進む。
アライメントプレート30は、ガイド壁43の中央の下向き突部を挿通させる矩形状の切欠部30Dを上部に有し、ガイド壁43は図2の検査時にコネクタ70の上端面を覆ってコネクタ70の上下方向位置を規制する。支柱10の前端はコネクタセット部3の左右の後端面3Cに当接しないように左右の後端面3Cの間に位置している。固定部42は、本体41と同じ断面積で形成され、アライメントプレート30は固定部42よりも一回り小さく形成され、アライメントプレート30の上端がコネクタセット部3の上端と一致するように配置される。
アライメントプレート30の下側にガイド軸11が位置し、ガイド軸11の一端はコネクタセット部3の底壁3Bに固定され、ガイド軸11の他端は検査部4内にスライド自在に挿通されている。検査部4の両側壁の後部にはリンク12の一端がねじ止めされる。リンク12の他端は、フレーム2に軸支されたレバー5に軸支される。検査部4の後部には、各導通ピン50に接続された電線束や検知ピン8と導通検査装置とを接続する電線を保護する保護部6が設けられる。
図1は、レバー5を後方に回動させた状態であり、この状態でコネクタセット部3にコネクタ70がセットされる。そして、図2に示すようにレバー5を前方に回動させることで、リンク12が水平方向に移動され、検査部4が前進し、アライメントプレート30の前端面30Fの左右両側部分がコネクタセット部3の左右の後端面3Cに面接触で当接する。レバー5をさらに前方に回動させることで、検査部4がさらに前進して、コイルばね7(図2)が最圧縮される。このとき、支柱10が本体41と一体に前進してアライメントプレート30から前方に突出し、アライメントプレート30の前端面30Fがコネクタ70の左右外側でコネクタセット部3の左右の後端面3Cに当接する。アライメントプレート30の前端面30Fがコネクタセット部3の左右の後端面3Cに当接すると同時に、コネクタ70の前端面70A(図3(b)参照)がアライメントプレート30の前端面30Fに当接してもよい。
支柱10と一体に各導通ピン50がアライメントプレート30の各孔部30Aから前方に突出し、コネクタセット部3内のコネクタ70の後部開口(図示せず)から端子収容室に進入して端子収容室内の雌端子71(図3)の例えば前端部に弾性的に接触する。この状態で雌端子71の導通検査が行われる。
図2の検査状態からレバー5を後方に回動させることで、図1の如く、検査部4がスライド式に後退する。そして、コイルばね7の付勢力でアライメントプレート30が支柱10に沿って固定部42から前方に離間し、次いでアライメントプレート30がコネクタセット部3から後方に離間する。導通ピン50はアライメントプレート30の孔部30Aに沿って後退し、導通ピン50の先端(前端)51が孔部30A内に収容保護される。この状態でコネクタセット部3から検査済みのコネクタ70が上方に取り出される。導通検査時以外は、導通ピン50がアライメントプレート30の孔部30A内に収容保護されるため、導通ピン50が損傷しにくい。
なお、図1の検査部4の最後退時において、固定部42の前端面とコネクタセット部3の後端面3Cとの間に手指等の入らない小さな隙間しか生じない場合は、アライメントプレート30を検査部4ではなくコネクタセット部3の後端面3Cに固定して設けてもよい。この場合、検査部4の最後退時に固定部42の前端面から前方に突出した各導通ピン50の先端(前端)51がアライメントプレート30の各孔部30A内に収容されるようにすることも可能である。
この場合は、図2の検査時に、アライメントプレート30の後端面30Eに固定部42の前端面が当接し、各導通ピン50がアライメントプレート30の各孔部30Aを前方に貫通してコネクタセット部3内のコネクタ70の雌端子71に接触する。アライメントプレート30はねじ止め等でコネクタセット部3の両側壁3Aの後端面3Cに固定される。
図3は、本発明の一実施形態の導通検査治具1の動作例を模式的に示す図であって、(a)は、導通ピン50がノーマルポジションに位置する状態における導通検査治具1の概略部分断面図であり、(b)は導通検査時における導通検査治具の概略部分断面図である。図4は、ノーマルポジションにおける正常状態の導通ピン50A及び曲がった導通ピン50Bを示す図である。
図2の検査状態においてコネクタ70の検査が終了すると、検査者はレバー5を後方に回動させて導通検査治具1を図1に示す状態として、コネクタ70をコネクタセット部3から取り外す。図1に示す状態において、各導通ピン50はノーマルポジションに位置し、各導通ピン50の各先端51は、図3(a)に示すように、アライメントプレート30の孔部30A内に位置している。この状態において、導通検査装置から各導通ピン50に信号が入力され、各導通ピン50と検査対象の全ての端子との接続が解除されているかが確認される。
図1に示す状態において、次の導通検査を開始する際、検査者は新たな検査対象のコネクタ70をコネクタセット部3にセットし、レバー5を後方に回動されて、導通検査治具1を図2に示す状態とする。このとき、図3(b)に示すように、コネクタ70の前端面70Aがアライメントプレート30の前端面30Fに当接して、アライメントプレート30を検査部4側(図3における右側)に押して移動させる。アライメントプレート30が検査部4側に押されることにより、正常状態の(許容された範囲を超える曲がりを有しない状態の)導通ピン50が孔部30Aを貫通して、先端51が前端面30Fから前方に突出する。このとき、先端51又は導通ピン50の側面が、コネクタ70の雌端子71に接触する。
一方、図4に示すように、曲がり異常を有する(許容された範囲を超えた曲がりを有する)導通ピン50Bは、ノーマルポジションにおいて、導通ピン50Bの先端51又は側面がアライメントプレート30の孔部30Aに接触する。正常状態の導通ピン50Aは、孔部30Aに接触しない。導通ピン50Bが、導電性のアライメントプレート30の孔部30Aに接触するため、導通検査装置から導通ピン50Bに入力された信号は、アライメントプレート30に流れる。そして、この信号は、ガイドピン9、コイルばね7、及び検知ピン8を通って先端8Aに接続された電線に流れ、導通検査装置へ流れる。導通検査装置は、この信号によって、導通ピンの曲がり異常を検知し、音や光等による警報を発することができる。本実施形態の導通検査治具1によれば、このようにアライメント確認を行うことができる。また、導通検査治具1を用いた導通検査の完了後、導通ピン50をノーマルポジションに戻した際にアライメント確認を行うので、直前に行った検査における導通ピン50の異常を確実に確認できる。
以上説明したように、本実施形態の導通検査治具1及び導通検査システムによれば、ノーマルポジションにおいてアライメントプレート30の孔部30Aに挿入される導通ピン50が正常状態であればアライメントプレート30に接触することがない。このため、導通ピン50に入力された信号が導通検査装置において検知されない。一方、導通ピン50が曲がり異常を有する場合、導通ピン50(導通ピン50B)がアライメントプレート30に接触して流れた信号が導通検査装置に検知される。よって、導通ピン50がノーマルポジションに位置し検査対象の雌端子71に接触しない状態において、導通検査装置が信号を検知したか否かに応じて、導通ピン50の曲がり異常(アライメントエラー)の有無を瞬時に検知できる。したがって、曲がり異常のある導通ピンを用いた導通検査を行うことによる、コネクタ破損や誤判定を防止できる。
このように、本実施形態によれば、アライメントプレート30に、清掃作業時に誤って導通ピンを曲げないよう導通ピンをガードする保護プレート機能に加え、アライメント確認機能(アライメントエラーの自己診断機能)を持たせることができた。すなわち、アライメントエラーが発生した導通ピンを瞬時に検知可能となった。また、導通検査治具にアライメントエラーの自己診断機能を持たせたことで、メンテナンス員の検査台保守工数の大幅な削減が可能となる。
また、導通検査治具1によれば、アライメントプレート30に流れた信号を検知するために、アライメントプレート30と本体41との間に介在するコイルばね7を利用できる。また、導通検査装置が、導通ピン50からアライメントプレート30に流れた信号を検知して、警報を発することにより、導通ピン50がアライメントプレート30に接触した瞬間に、異常発生をメンテナンス作業を行う作業者に把握させることができる。
また、導通検査治具1によれば、導通検査を行う検査装置を利用して導通ピン50の曲がり異常の有無を診断できる。このため、導通検査装置が行った導通検査の結果と、その導通検査に用いた導通ピン50の曲がり異常の有無と、を対応付けて、製品(コネクタ)のトレーサビリティを確保できる。
なお、本発明は、前述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。その他、前述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数値、形態、数、配置箇所、等は本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。例えば、本実施形態では、導通検査を行う導通検査装置によって、導通ピンに信号を入力し、アライメントプレート30に流れた信号を検知したが、信号の入力元及び出力先は、導通検査装置に限定されない。例えばアライメント確認用の信号を専用の装置から導通ピン50に入力し、検知ピン8にLEDを接続し、曲がり異常のある導通ピン50がアライメントプレート30に接触した場合にLEDを点灯させて検知してもよい。また、アライメントプレート30は、少なくとも孔部30Aの内部が導電性部材で構成されればよく、他の部分が非導電性部材で構成されてもよい。
また、前述した実施形態では、ノーマルポジションにおいて、導通ピン50がアライメントプレート30の孔部30Aの内部に位置する例を示したが、ノーマルポジションにおいて、導通ピン50がアライメントプレート30と離間した位置に配置されてもよい。この場合、例えばアライメントプレート30の少なくとも後端面30Eを導電性部材で構成することにより、導通ピン50に曲がり異常がある場合には後端面30Eに先端51が接触して信号が流れ、曲がり異常を検知できる。
さらに、前述した実施形態では、コネクタ70に設けられた雌端子71を検査対象としたが、検査対象は雌端子に限定されない。例えば、雄端子を検査対象とする場合は、導通ピン50を雌端子形状として、アライメントプレート30の孔部30Aを、雌端子形状の導通ピン用のゲージ孔とすればよい。
さらに、前述した実施形態では、コネクタ70に設けられた雌端子71を検査対象としたが、検査対象は雌端子に限定されない。例えば、雄端子を検査対象とする場合は、導通ピン50を雌端子形状として、アライメントプレート30の孔部30Aを、雌端子形状の導通ピン用のゲージ孔とすればよい。
ここで、上述した本発明の実施形態に係る導通検査治具及び導通検査システムの特徴をそれぞれ以下[1]〜[5]に簡潔に纏めて列記する。
[1] コネクタ(70)に設けられた検査対象の端子(雌端子71)に接触可能であり、信号が入力される導通ピン(50、50A、50B)と、
前記導通ピンが配置された本体部(本体41)と、
前記端子の配置に対応する位置に、正常状態の前記導通ピン(50A)が内部に接触することなく貫通する導通ピン孔(孔部30A)が形成され、前記本体部に対して進退可能に配置され、導通検査時に前記導通ピン孔を貫通して前記導通ピンが突出する、導電性のアライメントプレート(30)と、
前記導通ピンが前記アライメントプレートに接触した場合に前記導通ピンから前記アライメントプレートに流れた信号を検知する検知部(ガイドピン9、コイルばね7、検知ピン8、導通検査装置)と、を備える
ことを特徴とする導通検査治具(1)。
[2] 前記検知部は、
前記アライメントプレートを前記本体部に支持する支持部材(ガイドピン9)と、
前記アライメントプレートに対して前記本体部を付勢する導電性のばね(コイルばね7)と、
前記ばねと電気的に接続された検知ピン(8)と、
前記検知ピンと電気的に接続され、前記信号を検知した場合に警報を発する警報部(導通検査装置)と、を含む
ことを特徴とする上記[1]に記載の導通検査治具。
[3] 前記導通ピンは、導通検査完了後のノーマルポジションにおいて、先端が前記導通ピン孔内に位置する
ことを特徴とする上記[1]又は[2]に記載の導通検査治具。
[4] 前記アライメントプレートは、少なくとも、前記導通ピン孔の内部が、導電性部材で構成される
ことを特徴とする上記[3]に記載の導通検査治具。
[5] 上記[1]〜[4]のいずれか一に記載の導通検査治具(1)と、
前記導通検査治具に接続され、前記端子の導通検査を行う検査装置と、を備えた導通検査システムであって、
前記検査装置から出力された信号が、前記導通ピンに入力され、前記導通ピンが前記アライメントプレートに接触した場合に前記導通ピンから前記アライメントプレートに流れて、前記検査装置に入力される
ことを特徴とする導通検査システム。
[1] コネクタ(70)に設けられた検査対象の端子(雌端子71)に接触可能であり、信号が入力される導通ピン(50、50A、50B)と、
前記導通ピンが配置された本体部(本体41)と、
前記端子の配置に対応する位置に、正常状態の前記導通ピン(50A)が内部に接触することなく貫通する導通ピン孔(孔部30A)が形成され、前記本体部に対して進退可能に配置され、導通検査時に前記導通ピン孔を貫通して前記導通ピンが突出する、導電性のアライメントプレート(30)と、
前記導通ピンが前記アライメントプレートに接触した場合に前記導通ピンから前記アライメントプレートに流れた信号を検知する検知部(ガイドピン9、コイルばね7、検知ピン8、導通検査装置)と、を備える
ことを特徴とする導通検査治具(1)。
[2] 前記検知部は、
前記アライメントプレートを前記本体部に支持する支持部材(ガイドピン9)と、
前記アライメントプレートに対して前記本体部を付勢する導電性のばね(コイルばね7)と、
前記ばねと電気的に接続された検知ピン(8)と、
前記検知ピンと電気的に接続され、前記信号を検知した場合に警報を発する警報部(導通検査装置)と、を含む
ことを特徴とする上記[1]に記載の導通検査治具。
[3] 前記導通ピンは、導通検査完了後のノーマルポジションにおいて、先端が前記導通ピン孔内に位置する
ことを特徴とする上記[1]又は[2]に記載の導通検査治具。
[4] 前記アライメントプレートは、少なくとも、前記導通ピン孔の内部が、導電性部材で構成される
ことを特徴とする上記[3]に記載の導通検査治具。
[5] 上記[1]〜[4]のいずれか一に記載の導通検査治具(1)と、
前記導通検査治具に接続され、前記端子の導通検査を行う検査装置と、を備えた導通検査システムであって、
前記検査装置から出力された信号が、前記導通ピンに入力され、前記導通ピンが前記アライメントプレートに接触した場合に前記導通ピンから前記アライメントプレートに流れて、前記検査装置に入力される
ことを特徴とする導通検査システム。
1 導通検査治具
2 フレーム
3 コネクタセット部
3A 側壁
3B 底壁
3C、30E、41D 後端面
4 検査部
5 レバー
6 保護部
8 検知ピン
8A、51 先端
9 ガイドピン
9A 前端部
9B 本体部
9C 後端部
10 支柱
11 ガイド軸
12 リンク
30 アライメントプレート
30A、30B、30C、41C、42A、42B、42C 孔部
30D 切欠部
30F 前端面
41 本体
41A 穴
41B 底面
42 固定部
43 ガイド壁
50、50A、50B 導通ピン
70 コネクタ
70A 前端面
71 雌端子
2 フレーム
3 コネクタセット部
3A 側壁
3B 底壁
3C、30E、41D 後端面
4 検査部
5 レバー
6 保護部
8 検知ピン
8A、51 先端
9 ガイドピン
9A 前端部
9B 本体部
9C 後端部
10 支柱
11 ガイド軸
12 リンク
30 アライメントプレート
30A、30B、30C、41C、42A、42B、42C 孔部
30D 切欠部
30F 前端面
41 本体
41A 穴
41B 底面
42 固定部
43 ガイド壁
50、50A、50B 導通ピン
70 コネクタ
70A 前端面
71 雌端子
Claims (5)
- コネクタに設けられた検査対象の端子に接触可能であり、信号が入力される導通ピンと、
前記導通ピンが配置された本体部と、
前記端子の配置に対応する位置に、正常状態の前記導通ピンが内部に接触することなく貫通する導通ピン孔が形成され、前記本体部に対して進退可能に配置され、導通検査時に前記導通ピン孔を貫通して前記導通ピンが突出する、導電性のアライメントプレートと、
前記導通ピンが前記アライメントプレートに接触した場合に前記導通ピンから前記アライメントプレートに流れた信号を検知する検知部と、を備える
ことを特徴とする導通検査治具。 - 前記検知部は、
前記アライメントプレートを前記本体部に支持する支持部材と、
前記アライメントプレートに対して前記本体部を付勢する導電性のばねと、
前記ばねと電気的に接続された検知ピンと、
前記検知ピンと電気的に接続され、前記信号を検知した場合に警報を発する警報部と、を含む
ことを特徴とする請求項1に記載の導通検査治具。 - 前記導通ピンは、導通検査完了後のノーマルポジションにおいて、先端が前記導通ピン孔内に位置する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の導通検査治具。 - 前記アライメントプレートは、少なくとも、前記導通ピン孔の内部が、導電性部材で構成される
ことを特徴とする請求項3に記載の導通検査治具。 - 請求項1〜4のいずれか一項に記載の導通検査治具と、
前記導通検査治具に接続され、前記端子の導通検査を行う検査装置と、を備えた導通検査システムであって、
前記検査装置から出力された信号が、前記導通ピンに入力され、前記導通ピンが前記アライメントプレートに接触した場合に前記導通ピンから前記アライメントプレートに流れて、前記検査装置に入力される
ことを特徴とする導通検査システム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019167283A JP2021043145A (ja) | 2019-09-13 | 2019-09-13 | 導通検査治具及び導通検査システム |
PT116706A PT116706A (pt) | 2019-09-13 | 2020-09-07 | Gabarito de inspeção de condução e sistema de inspeção de condução |
RO202000566A RO134916A2 (ro) | 2019-09-13 | 2020-09-08 | Şablon de inspec- tare a conducţiei şi sistem de inspectare a conducţiei |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019167283A JP2021043145A (ja) | 2019-09-13 | 2019-09-13 | 導通検査治具及び導通検査システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021043145A true JP2021043145A (ja) | 2021-03-18 |
Family
ID=74863956
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019167283A Abandoned JP2021043145A (ja) | 2019-09-13 | 2019-09-13 | 導通検査治具及び導通検査システム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2021043145A (ja) |
PT (1) | PT116706A (ja) |
RO (1) | RO134916A2 (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07226277A (ja) * | 1994-02-08 | 1995-08-22 | Yazaki Corp | コネクタ試験器 |
JPH10116673A (ja) * | 1996-10-14 | 1998-05-06 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | 雄コネクタの検査装置 |
JP2001035624A (ja) * | 1999-07-15 | 2001-02-09 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | ピン曲がり検出用コネクタ及びそれを用いた検査装置 |
WO2009122517A1 (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-08 | 富士通株式会社 | 電子機器及びこの電子機器に使用されるコネクタモジュール |
-
2019
- 2019-09-13 JP JP2019167283A patent/JP2021043145A/ja not_active Abandoned
-
2020
- 2020-09-07 PT PT116706A patent/PT116706A/pt unknown
- 2020-09-08 RO RO202000566A patent/RO134916A2/ro unknown
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH07226277A (ja) * | 1994-02-08 | 1995-08-22 | Yazaki Corp | コネクタ試験器 |
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JP2001035624A (ja) * | 1999-07-15 | 2001-02-09 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | ピン曲がり検出用コネクタ及びそれを用いた検査装置 |
WO2009122517A1 (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-08 | 富士通株式会社 | 電子機器及びこの電子機器に使用されるコネクタモジュール |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
PT116706A (pt) | 2021-03-15 |
RO134916A2 (ro) | 2021-04-29 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210518 |
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A762 | Written abandonment of application |
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