JP2020511733A - 荷電粒子ビームシステムおよび方法 - Google Patents
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Abstract
Description
a. 第1のステップで、第1の(低周波数)従属部品は、第2の(動的)従属部品が一定に保たれているかまたはスイッチを切られている間に調整され、
b. 第2のステップで、第2の(動的)従属部品は、第1の従属部品が一定に保たれている間に調整される。
− 高速マルチビーム投射位置合わせ方法をオフ状態にして、静的方法および静的荷電粒子光学素子でマルチビーム荷電粒子ビームシステムを位置合わせするステップと、
− ワークフローを整備し開始するステップと、
− 第1の像が記録される前に高速マルチビーム投射位置合わせシステムを作動させるステップと、
− 複数の検出器上への相互作用生成物の最適な結像のために高速マルチビーム投射位置合わせシステムを制御するステップと
を含む。
Claims (13)
- 荷電粒子ビームシステムであって、
第1の荷電粒子ビームを生成するように構成された荷電粒子源と、
入来する第1の荷電粒子ビームから複数の荷電粒子ビームレットを生成するように構成されたマルチビーム生成器であって、前記複数の荷電粒子ビームレットの各個別のビームレットは、前記複数の荷電粒子ビームレットの他のビームレットから空間的に分離される、マルチビーム生成器と、
前記複数の荷電粒子ビームレットの第1の個別のビームレットが第1の平面において衝突する第1の領域が、前記複数の荷電粒子ビームレットの第2の個別のビームレットが前記第1の平面において衝突する第2の領域から空間的に分離される方法で、前記第1の平面において入来荷電粒子ビームレットを集束させるように構成された対物レンズと、
投射システムと、複数の個別の検出器を備えた検出器システムと、
を備え、
前記投射システムは、衝突する荷電粒子に起因して前記第1の平面内の前記第1の領域を出る相互作用生成物を前記複数の個別の検出器のうちの第1の1つの検出器上に結像し、衝突する荷電粒子に起因して前記第1の平面内の前記第2の領域を出る相互作用生成物を前記複数の個別の検出器のうちの第2の1つの検出器上に結像するように構成され、
前記投射システムは、低周波数調整を提供する第1の従属部品と、高周波数調整を提供する第2の従属部品とを備える、
荷電粒子ビームシステム。 - 高周波数調整を提供する前記従属部品は、静電レンズ、静電偏向器および静電非点収差補正器からなる群のうちの少なくとも1つを含む、請求項1に記載の荷電粒子ビームシステム。
- 前記投射システムは、交差面内に電流監視開孔を備える、請求項1または2に記載の荷電粒子ビームシステム。
- 高速CCDカメラをさらに備える、請求項1〜3のいずれか一項に記載の荷電粒子ビームシステム。
- 前記投射システムの実際の状態を分析し、前記複数の荷電粒子ビームレットによる試料の走査中に前記第2の従属部品を操作するように構成されたコンピュータシステムをさらに備える、請求項1〜4のいずれか一項に記載の荷電粒子ビームシステム。
- 前記コンピュータシステムは、前記個別の検出器上の前記相互作用生成物のビームスポットの位置および/または形が一定に保たれる方法で前記第2の従属部品を調整するように構成される、請求項5に記載の荷電粒子ビームシステム。
- 前記コンピュータシステムは、2ステップモードで前記投射システムを調整するように構成され、それにより、
a. 第1のステップで、前記第1の部品は、前記第2の従属部品が一定に保たれているかまたはスイッチを切られている間に調整され、
b. 第2のステップで、前記第2の従属部品は、前記第1の従属部品が一定に保たれている間に調整される、
請求項6に記載の荷電粒子ビームシステム。 - 高周波数調整を提供する前記従属部品は、静電マイクロ光学部品アレイを含む、請求項1〜7のいずれか一項に記載の荷電粒子ビームシステム。
- 荷電粒子ビームシステムを動作させる方法であって、
a. 高速マルチビーム投射位置合わせシステムをオフ状態にして、静的方法および静的荷電粒子光学素子でマルチビーム荷電粒子ビームシステムを位置合わせするステップと、
b. ワークフローを整備し開始するステップと、
c. 第1の像が記録される前に高速マルチビーム投射位置合わせシステムを作動させるステップと、
d. 複数の検出器上への相互作用生成物の最適な結像のために前記高速マルチビーム投射位置合わせシステムを制御するステップと、
を含む、方法。 - 複数の二次荷電粒子ビームレットのパターンの画像を記録するステップをさらに含む、請求項9に記載の方法。
- 前記記録された画像を分析するステップと、所望パターンからの前記記録されたパターンの偏差を補正するために適切な電圧を差し引くステップと、前記高速マルチビーム投射位置合わせシステムの適切な部品に前記差し引かれた電圧を印加するステップと、をさらに含む、請求項10に記載の方法。
- 交差面における前記複数の二次荷電粒子ビームレットのセンタリングを監視するステップをさらに含む、請求項10または11に記載の方法。
- 一次荷電粒子ビームレットによって試料を同時に走査する間に少なくとも2回前記高速マルチビーム投射位置合わせシステムを調整するステップをさらに含む、請求項9〜12のいずれか一項に記載の方法。
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