JP2020178938A - 撮像装置およびその制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 眼球の突発的な動きが生じた場合においても高精細なＡＯ−ＯＣＴ画像を取得する撮像装置を提供することにある。【解決手段】 撮像装置は、被検眼に照射された測定光の戻り光と参照光とを干渉させた干渉光に基づき、被検眼の断層画像を取得する画像取得手段と、取得手段により取得した複数の断層画像から重ね合わせ画像を生成するとき、参照断層画像に対する、重ね合わせ対象の複数の断層画像のそれぞれの位置ずれ量を求めるずれ取得手段と、位置ずれ量が所定の範囲の選択された複数の断層画像を重ね合わせして重ね合わせ画像を生成する生成手段とを有し、前記位置ずれ量が、測定光の光軸方向に交差する方向の位置ずれ量であることを特徴とする。【選択図】 図２０

Description

本発明は、撮像装置およびその制御方法に関し、特に被検眼の眼底網膜の断層画像を取得する撮像装置およびその制御方法に関する。

被検眼の眼底網膜の断層画像を撮像する断層画像撮像装置（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）は、眼底網膜からの反射光（サンプル光）を参照光と干渉させた干渉縞の周波数を解析することにより断層画像を生成している。

特に、このような眼科用の撮像装置は、近年において、照射レーザの高ＮＡ化等によってさらなる高解像度化が進められている。しかしながら、眼底を撮像する場合には、角膜や水晶体等の眼の光学組織を通して撮像をしなければならない。そのため、高解像度化が進むに連れて、これら角膜や水晶体の収差が撮像画像の画質に大きく影響するようになってきた。

そこで、補償光学（ＡＯ：Ａｄａｐｔｉｖｅ Ｏｐｔｉｃｓ）技術を用いて、被検眼の角膜や水晶体等の眼の光学組織によって乱された測定光及び反射光の波面を補正して微細な構造を撮像する技術が知られている。ＯＣＴにおいてもＡＯ技術を用いて視細胞を解像できる解像力を有するＯＣＴが開発されている。

特開２０１３−１８３９０９号公報 特開２０１６−１１２２６７号公報

視細胞が解像できる程度の高精細なＯＣＴ画像を撮像する場合、通常の解像度のＯＣＴ画像よりも被検眼の動きによるモーションアーティファクトの影響を受けやすい。また、画質向上のために複数のＢスキャン画像を重ね合わせた断層画像を生成するためには、正確に同じライン上を測定光で走査することにより撮像した複数のＢスキャン画像が必要になるため、精度の高いトラッキングが求められる。

この場合、ＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像時のトラッキングために撮像する動き検知用の画像にも、ＡＯ−ＯＣＴ画像と同等の解像力が求められる。そのため、ＡＯ−ＳＬＯ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）で撮像したＡＯ−ＳＬＯ画像を用いる必要がある。しかし、マイクロサッケードと呼ばれる突発的な動きが生じるとトラッキングの動作が追い付かず、異なるライン上（位置ずれ）でＢスキャン画像が取得されてしまうことがある。位置ずれが生じたＢスキャン画像を重ね合わせに含めた場合、ぼけた画像が生成されてしまうため、位置ずれ量に応じて重ね合せする画像を選択する必要があった。

特許文献１では、断層画像の類似度に基づき重ね合わせする画像を選択する技術が開示されている。しかし、この場合、走査するラインに直交する方向に位置ずれが発生した場合には、位置ずれ量の特定が困難となる課題が生じる。また、特許文献２の装置は固視微動を計測し、トラッキング誤差（追尾誤差）を予測して走査位置を決定させる技術が開示されているが、やはり先述の課題を解決する手段は開示されていない。

先述の課題を鑑み、本発明はノイズとぼけを抑えたＡＯ−ＯＣＴ画像を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために本発明の撮像装置は、被検眼に照射された測定光の戻り光と参照光とを干渉させた干渉光に基づき、前記被検眼の断層画像を取得する画像取得手段と、前記取得手段により取得した複数の断層画像から重ね合わせ画像を生成するとき、参照断層画像に対する、重ね合わせ対象の複数の断層画像のそれぞれの位置ずれ量を求めるずれ取得手段と、前記位置ずれ量が所定の範囲の選択された複数の断層画像を重ね合わせして重ね合わせ画像を生成する生成手段とを有し、前記位置ずれ量が、前記測定光の光軸方向に交差する方向の位置ずれ量であることを特徴とする。

本発明によれば、ノイズとぼけを抑えたＡＯ−ＯＣＴ画像を提供することができる。

本発明の一実施形態における撮像装置の構成を示す図である。 本発明の一実施形態における撮像時のモニタに表示される表示画面を示す図である。 本発明の一実施形態におけるＡＯ−ＯＣＴ画像とＡＯ−ＳＬＯ画像の取得位置の関係を説明するための図である。 本発明の一実施形態における眼底トラッキングを説明するための図である。 本発明の一実施形態におけるボリュームデータ取得時の撮像範囲を説明するための図である。 本発明の一実施形態におけるボリュームデータ取得時の撮像範囲を説明するための図である。 本発明の一実施形態におけるボリュームデータ取得時の撮像範囲を説明するための図である。 本発明の一実施形態におけるボリュームデータ取得時の撮像範囲を説明するための図である。 本発明の一実施形態におけるボリュームデータ取得時の撮像範囲を説明するための図である。 本発明の一実施形態における撮像時のスキャナの駆動波形を説明するための図である。 本発明の一実施形態のトラッキング時のＹスキャナの駆動波形を説明するための図である。 本発明の一実施形態のトラッキング時のＸスキャナの駆動波形を説明するための図である。 本発明の一実施形態におけるＸ方向走査部の構成を説明するための図である。 本発明の一実施形態における撮像時のフローチャートである。 本発明の一実施形態におけるトラッキング時のフローチャートである。 本発明の一実施形態におけるＡＯ−ＳＬＯ画像とＡＯ−ＯＣＴ画像を説明するための図である。 本発明の一実施形態における画像と位置ずれ量の変化を説明するための図である。 本発明の一実施形態における位置ずれ量の許容値に対する重ね合わせ枚数とコントラストの関係を説明するための図である。 本発明の一実施形態における画面表示を説明するための図である。 本発明の一実施形態におけるＡＯ−ＳＬＯ画像を用いた重ね合わせのフローチャートである。 本発明の一実施形態におけるトラッキング画像を用いた重ね合わせのフローチャートである。 本発明の一実施形態におけるＡＯ−ＯＣＴ画像のバッファを説明するための図である。 本発明の一実施形態におけるボリュームスキャンデータの重ね合わせのフローチャートである。

本発明の一実施形態について図面を参照しながら、以下に詳細に説明する。以下の説明は本質的に、説明的及び例示的なものにすぎず、いかなる形でも、本開示及びその用途又は使用を限定することを意図していない。実施形態において示されるコンポーネントの相対的構成、並びに、ステップ、数値表現及び数値は、別段の具体的な指示がない限り、本開示の範囲を限定しない。当業者によってよく知られている技法、方法及びデバイスは、以下で論考する実施形態を可能にするために当業者がこれらの詳細を知る必要がないので、詳細に論考されていない場合がある。

［第１の実施形態］
本実施形態の装置により撮像できるものは、例えば、被検眼の眼底の網膜の断層画像である。

（装置構成）
本実施形態に係るフーリエドメイン方式の光干渉断層法を眼底断層画像の撮像装置に応用した例について、図１に示す撮像装置を用いて説明する。

図１は、本実施形態にかかる撮像装置であり、ＡＯ−ＯＣＴ部、ＡＯ−ＳＬＯ部、前眼部観察部、及び、固視灯部から構成される。なお、ＡＯ−ＯＣＴ部とＡＯ−ＳＬＯ部との共通光学系であるサンプル光学系も含まれる。

ＡＯ−ＯＣＴの光源１は、ＡＯ−ＯＣＴ測定光として低コヒーレンス光を発生させる光源である。本実施形態において光源１には、中心波長８５５ｎｍ、波長幅１００ｎｍのＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ）光源を用いる。

光源１を発した光は、ファイバカプラ２によりサンプル光学系１０１、参照光学系１０２に分岐され、サンプル光学系１０１側に分岐された光は、アダプター３、ファイバ４を介してサンプル光学系１０１に導かれる。サンプル光学系１０１は、コリメータレンズ５、ＡＯ−ＳＬＯ光学系と分岐する波長分離ミラーであるＢＳ（ビームスプリッタ）６、波面検知光学系１０５へ光路を分岐するハーフミラーであるＢＳ（ビームスプリッタ）７、ミラー８、凹面鏡９、形状可変ミラーであり波面補正に用いる波面補正措置であるＤＭ（Ｄｅｆｏｍａｂｌｅ Ｍｉｒｒｏｒ）１０、凹面鏡１１、ＯＣＴ測定光とＳＬＯ測定光との分岐、合流を行う波長分岐ミラーであるＢＳ（ビームスプリッタ）１２、固定ミラー１３、凹面鏡１４、Ｘ方向に走査するガルバノミラー、ＭＥＭＳミラー等のＸスキャナ１５、凹面鏡１６、ミラー１７ａ，１７ｂ、ミラー１９、レンズ２０、Ｙ方向の走査を行うＹスキャナ２１、凹面鏡２２、波長選択ミラーであり前眼部観察光学系１０６、固視灯光学系１０７との分岐を行うＢＳ（ビームスプリッタ）２３により構成される。ミラー１７ａ，１７ｂは一体となりステージ１８により光軸方向に移動自在に構成されており、サンプル光学系のフォーカス調整を行う。

光源２４は、ＡＯ−ＳＬＯ測定光を発する、ＬＤ（Ｌａｓｅｒ Ｄｉｏｄｅ）光源、ＳＬＤ光源、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）光源等の光源であり、ＡＯ−ＯＣＴ測定光とは、波長が異なる。本実施形態においては、中心波長７６０ｎｍ、波長幅１０ｎｍのＳＬＤ光源を用いる。光源２４を発した光は、ファイバアダプタ２５を介して、ファイバ２６に導かれＡＯ−ＳＬＯ投影光学系１０３に導かれる。ＡＯ−ＳＬＯ投影光学系１０３は、コリメータレンズ２７、ＢＳ２８、フォーカス調整用レンズ２９，３０、ミラー３１、ＢＳ６を経て、サンプル光学系１０１のＡＯ−ＯＣＴ光路に合流し、前述の通りの経路を介してＢＳ１２に達する。

なお、ＢＳ２８は、ＡＯ−ＳＬＯ投影光学系とＡＯ−ＳＬＯ受光光学系の光路を分岐するために１０％の光は透過し、９０％の光を反射するハーフミラーである。また、ＢＳ６は、ＡＯ−ＳＬＯ測定光は透過し、ＡＯ−ＯＣＴ測定光は反射する波長分岐ミラーである。

ＢＳ１２は、後述するようにＡＯ−ＯＣＴ測定光は反射し、ＡＯ−ＳＬＯ測定光は透過する波長分岐ミラーであり、ＡＯ−ＳＬＯ測定光は透過し、高速なスキャナである高速スキャナ３２で反射され再びＢＳ１２により、ＡＯ−ＯＣＴ測定光に合流する。その後は、ＡＯ−ＯＣＴサンプル光学系と共通でありＢＳ（ビームスプリッタ）２３までが、ＡＯ−ＳＬＯ投影光学系を構成する。ＡＯ−ＳＬＯ受光光学系１０４は、ＢＳ２８の反射方向に配置され、レンズ３３、共焦点絞り３４、ＡＰＤ（Ａｖａｌａｎｃｈｅ Ｐｈｏｔｏ Ｄｉｏｄｅ）から成る受光素子３５により構成される。受光素子３５は共焦点絞り３４を介して眼底からの戻り光を受光する。

高速スキャナ３２としては、８ｋＨから１６ｋＨｚ程度で往復スキャンできる共振スキャナやＭＥＭＳ（Ｍｉｃｒｏ Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ Ｓｙｓｔｅｍ）スキャナを用いることができる。但し、これらの高速スキャナは、振り角は調整できるものの、走査の中心角度を変更することはできない。そのためトラッキングのため、または、撮像範囲を移動するためには別途スキャナを用意する必要がある。

また、ＡＯ−ＯＣＴ測定光の眼底上で結像する照射位置は、ＡＯ−ＳＬＯ測定光の高速スキャナが振り角０の状態での眼底上で結像する照射位置に、略同一になるように調整されている。

参照光学系１０２は、コリメータレンズ３６、濃度可変フィルタ３７、ミラー３８、３９、４０、４１、コーナキューブミラーであるＣＱ４２、ミラー４３により構成される。ＣＱ４２は、反射面が直交する３面で構成され、ステージ４４上に配置され、±１００ｍｍ程度移動可能である。これにより、被検眼の眼軸長の差、サンプル光学系のステージ１８の移動によるＡＯ−ＯＣＴ測定光のフォーカス調整による光路長の変化に対応する。

分光器１０８の光学系は、コリメータレンズ４６、グレーティング等の分光部材４７、結像レンズ４８によりラインセンサ４９に干渉光が結像させる。

波面検知光学系１０５は、ミラー５５、レンズ５６、眼底共役絞り５７、レンズ５８、特性の異なる複数の光学フィルタが挿入離脱可能に構成されているターレットユニット６０、波面検知手段であるハルトマンシャックセンサー等の波面センサ６１により構成される。絞り５７は、眼底からの戻り光以外の不要な光が波面センサ６１に入るのを防止する。

前眼部観察光学系１０６はカメラ５１を有し、前眼部照明光源５２により照明された前眼部画像を撮像する。

固視灯投映光学系１０７は有機ＥＬ、液晶表示装置等の固視灯提示部５４を有し、固視灯提示部５４に指標を表示することにより、レンズ５３、可視光を透過する波長分岐ミラーであるＢＳ５０、ＢＳ２３を介して被検眼に固視目標を提示する。

また、６２はＰＣであり、後述するように上述の各部を制御する。

（Ｘ方向走査部）
図１３に、Ｘ方向走査部の構成を示す。図１と同じ構成は同一符号である。ＢＳ１２は、波長分岐ミラーであり、波長８０５ｎｍ〜９０５ｎｍのＡＯ−ＯＣＴ測定光は反射し、波長７５０ｎｍ〜７７０ｎｍのＡＯ−ＳＬＯ測定光は透過する。この透過特性は、屈折率の異なる複数種類の誘電体多層膜を３０〜７０層程度、既知の方法により真空蒸着することにより得られる。この多層膜は、入射側の表面に施されている。

ＢＳ１２の表面１２ａの領域１４１の多層膜に達したＡＯ−ＯＣＴ測定光は、図１３における上方に反射され固定ミラー１３に達する。ミラー１３の表面１３ａには、既知の反射防止膜が蒸着されており反射率は、０．３％以下である。したがってＡＯ−ＯＣＴ測定光は、表面１３ａで屈折され基板内に入り、裏面１３ｂに達する。ミラー１３基板は、石英ガラス、光学ガラスのＢＫ７等であり屈折率１．５程度を有する。裏面１３ｂには、銀、金、アルミ等の金属膜が蒸着されている。

この膜によりＡＯ−ＯＣＴ測定光は反射され、再び基板中を透過し、ミラー面１３ａから空気中に出てＢＳ１２の表面１２ａの領域１４２の多層膜に達し、反射されＡＯ−ＳＬＯ測定光と合流する。ＡＯ−ＯＣＴ測定光は、ミラー１３の表面１３ａで屈折されて基板内を透過することにより非点収差の影響をうける。

ＡＯ−ＳＬＯ測定光は、表面１２ａの領域１４１の多層膜を透過、屈折してＢＳ１２の基板内に入射する。この基板もミラー１３同様 石英ガラス、光学ガラスのＢＫ７等である。そして裏面１２ｂより再び屈折されて空気中に出る。裏面１２ｂには、既知の反射防止膜が施されている。この反射防止膜は、ＡＯ−ＳＬＯ測定光及びＡＯ−ＯＣＴ測定光の反射率が、０．３％以下である。これによりゴースト、フレアーの発生を低減することができる。

また透過光は、平行平板でもあるＢＳ１２を斜めに透過することにより非点収差の影響を受ける。空気中に出たＡＯ−ＳＬＯ測定光は高速スキャナ３２の可動部のミラーにより反射され可動部のミラーの角度により異なる方向に走査される。高速スキャナ３２の可動部のミラーは平面鏡であり、表面に銀、銅、アルミ等の金属膜が施され、その上に誘電体多層膜の保護膜が施される。ＡＯ−ＳＬＯ測定光はこの金属膜面で反射される。そして再びＢＳ１２の領域１４２の反射防止面１２ｂにより屈折され基板内を通り表面１２ａの多層膜より空気中に出て進行する。

なお、ＡＯ−ＯＣＴ測定光とＡＯ−ＳＬＯ測定光のＸ方向走査部への入射光路が、ＡＯ−ＯＣＴ測定光の戻り光とＡＯ−ＳＬＯ測定光の戻り光のＸ方向走査部からの出射光路となる。また、ＡＯ−ＯＣＴ測定光とＡＯ−ＳＬＯ測定光のＸ方向走査部からの出射光路が、ＡＯ−ＯＣＴ測定光の戻り光とＡＯ−ＳＬＯ測定光の戻り光のＸ方向走査部への入射光路となる。

また、ＡＯ−ＯＣＴ測定光、ＡＯ−ＳＬＯ測定光に対し、ＤＭ１０、波面センサ６１、Ｘスキャナ１５、Ｙスキャナ２１、および被検眼の瞳が共役になり、眼底の投影位置も一致するように高速スキャナ３２、ＢＳ１２、ミラー１３の間隔及び角度が調整されている。これによりＡＯ−ＯＣＴ測定光、ＡＯ−ＳＬＯ測定光の収差を一つのＤＭ１０で良好に補正可能である。

以上の構成により、ＡＯ−ＯＣＴ測定光の光束に影響を与えることなく、ＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像範囲を中心とする眼底の正面画像を得ることができるため、この画像を用いて精度の高いトラッキングを行うことができる。

（撮像方法）
次に、上述の構成の装置を用いて、被検眼Ｅの眼底Ｅｒの同一領域を、複数回走査し、重ねあわせ画像を作成するためのＡＯ−ＯＣＴ画像を撮像して取得する方法を、図２と図１４を用いて説明する。図２は撮像時のＰＣ６２のモニタに表示される表示画面を示す図であり、図１４は撮像時のフローチャートである。

被検眼Ｅを本装置の前に配置する。前眼部照明光源５２により照明された被検眼の前眼部からの反射光は、ＢＳ５０により反射され、前眼部観察カメラ５１により撮像され、ＰＣ６２のモニタ７０の前眼部像表示領域８０に表示される。撮像者は、この前眼部像を見て、表示領域８０の中心に被検眼の瞳孔像の中心が位置し、虹彩の模様が明瞭に見えるように、不図示のアライメント機構を用いて、光学系と被検眼の瞳孔との位置合わせを行う（ステップＳ１５１）。

アライメントが終了したら、撮像者はモニタ上のＡＯ−ＳＬＯ画像（眼底平面画像とも言う）の撮像の開始スイッチ７１を操作する。このスイッチ入力を検知したＰＣ６２は、ＡＯ−ＳＬＯ光源２４を点灯し、高速スキャナ３２、Ｙスキャナ２１を駆動し、ＡＯ−ＳＬＯ測定光による眼底のラスタスキャンを開始する（ステップＳ１５２）。

このようにして照明された眼底Ｅｒでの反射、散乱光は、ＡＯ−ＳＬＯサンプル光学系を戻り、１０％の光はＢＳ７を透過し、眼底共役絞り５７を介して波面センサ６１に達する。ＢＳ７により反射された９０％の光は、ＢＳ６を透過し、ＢＳ２８により９０％の光は反射され、レンズ３３により共焦点絞り３４に集光され、共焦点絞り３４を通過した光は、ＡＰＤ、ＰＭＴ等の受光素子３５に達する。受光素子３５で受光した光量に応じた電圧信号に基づいて、ＰＣ６２が画像データを生成し、モニタ７０上のＡＯ−ＳＬＯ画像の表示領域８１に眼底の正面画像として表示される。

撮像者は、この画像を見ながら、フォーカススイッチ７２を操作しフォーカス調整を行う。フォーカススイッチ７２への入力を検知したＰＣ６２は、ミラー１７ａ、１７ｂを一体に光軸方向に動かすためにステージ１８の駆動部を制御する。これにより光学系内の眼底共役位置が変化しフォーカスを所望の深さ位置に合わせることができる（ステップＳ１５３）。これは、バダル（Ｂａｄａｌ）光学系と呼ばれるもので、瞳の結像関係は維持される。これにより表示領域８１には所望の深さのＡＯ−ＳＬＯ画像が表示される。

さらに撮像者は、固視灯操作スイッチ７３を操作し所望の領域の眼底画像が撮像されるように被検眼の固視を誘導する（ステップＳ１５４）。

（収差補正）
一定レベル以上の信号強度のＡＯ−ＳＬＯ画像が安定して得られることをＰＣ６２が検知すると収差補正（ＡＯ）動作を開始する。眼底からの反射光の一部は、ＢＳ７を透過し波面センサ６１に達し、波面センサ６１の出力データはＰＣ６２に送られる。波面センサ６１は、受光素子の前にレンズアレイが配置されているため、出力画像は、スポットが碁盤の目状（格子状）に整列した画像である。被検眼に収差があると、これらのスポット位置が変化する。この各々のスポットのずれる方向、ズレ量を解析し波面収差を求める（ステップＳ１５５）。

ＰＣ６２は、この波面収差を補正するために、収差補正デバイスであるＤＭ１０を構成する微小ミラーをそれぞれ変位させるパターンを求める。ＰＣ６２は、このパターンにしたがってＤＭ１０の微小ミラーの駆動を制御し収差を補正する（ステップＳ１５６）。

ＡＯ−ＳＬＯ測定光の収差補正により、眼底に投影されるスポット径が小さくなり、同時に、共焦点絞りに結像するスポット径も小さくなるため受光素子３５の受光する光量は大きくなる。それにより、ＰＣ６２のモニタ７０上のＡＯ−ＳＬＯ画像の表示領域８１には解像度の高い視細胞像が明瞭に表示される。なお、線８１ａは、ＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像位置を示している。

（ＡＯ−ＯＣＴ撮像）
次に撮像者は、スイッチ７４を操作して、ＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像の開始を指示する（ステップＳ１５７）。スイッチ７４への入力を検知したＰＣ６２は、ＡＯ−ＯＣＴ光源１を点灯する。これによりカプラ２でサンプル光学系側に分岐されたＡＯ−ＯＣＴ測定光は、ファイバ４よりサンプル光学系に入射する。サンプル光学系に入ったＡＯ−ＯＣＴ測定光はコリメータレンズ５でコリメートされ、ＢＳ１２に達する。前述の通りＡＯ−ＯＣＴ測定光は、ＢＳ１２で反射され、さらに固定ミラー１３で反射され、再びＢＳ１２で反射されることにより、ＡＯ−ＳＬＯ測定光の光路に合流する。これにより、ＡＯ−ＯＣＴ測定光は、高速スキャナ３２の影響を受けることなく被検眼に達する。ＡＯ−ＯＣＴ測定光の眼底により反射された反射光は、サンプル光学系を逆行し、ＢＳ１２により反射されミラー１３により反射され、再びＢＳ１２で反射され、ハーフミラーであるＢＳ７に達する。ＢＳ７は、９０％の光を反射し、１０％の光を透過する透過特性を有する。ＢＳ７による反射光の１０％は透過して、波面センサ６１に向かい、反射光の残りの９０％は、ＢＳ７とＢＳ６で反射され、コリメータレンズ５によりファイバ４の端面に結像され、ファイバ４を通り、ファイバカプラ２に達する。

（ＡＯ−ＯＣＴ波面検知）
ＡＯ−ＯＣＴの撮像が開始されると、自動でターレットユニット６０が駆動され、ＡＯ−ＳＬＯの光がカットされるフィルタが波面センサ６１の前に挿入される。したがって、波面センサ６１に達する光はＡＯ−ＯＣＴ測定光のみとなり、波面が検知される光が、ＡＯ−ＳＬＯ測定光から、ＡＯ−ＯＣＴ測定光に切り替わりＡＯ−ＯＣＴ測定光の波面収差が検知される（ステップＳ１５８）。ただし、ＡＯ−ＳＬＯ投影光学系には、フォーカス調整レンズ２９，３０があり、ＡＯ−ＳＬＯ測定光とＡＯ−ＯＣＴ測定光の波長の違いによるピントが合う位置の差は、フォーカス調整レンズ２９，３０により自動的に補正される。このように検知した波面収差をもとに前述と同様ＤＭ１０の各ミラーの駆動量を演算し、ＤＭ１０を駆動することにより波面収差を補正する（ステップＳ１５９）。これにより表示領域８２に表示されるＡＯ−ＯＣＴ画像は、より明るくコントラストも改善されている。

（参照光学系）
ファイバカプラ２により参照光学系側に分岐された参照光は、偏光調整器４５で偏光状態がサンプル光学系の戻り光と合うように偏光調整され、参照光学系１０２に入り、参照光量調整用のＮＤ（Ｎｅｕｔｒａｌ Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルタ３７により適正な光量に調整される。そして、ミラー３８，３９，４０，４１で反射され、レトロリフレクタ４２により反射された参照光は、ミラー４１，４０，３９，３８により反射され、ミラー４３に達する。ミラー４３により垂直に反射された光は、再び光路を逆行しカプラ２に戻る。

この参照光学系１０２からの参照光と、サンプル光学系の被検眼の眼底からの戻り光は、カプラ２で合流（合波）し干渉光として、分光器１０８に導かれる。分光器１０８に導かれた干渉光は、レンズ４６でコリメートされ、回折格子等の分光手段４７により分光されレンズ４８によりラインセンサ４９上に干渉波が結像する。ラインセンサ４９の出力はＰＣ６２に送られ、Ａ／Ｄ変換部６２ａでデジタルデータに変換されメモリ６２ｂに記憶される。このデータは、固定パターンノイズの除去、波数変換の後、周波数解析等の既知の方法で演算され断層画像データが生成される。

（ゲート調整）
撮像者は、表示領域に所望の断層画像が表示されるように、図２に示す光路長調整スイッチ７６を用いて参照光学系１０２の光路長を調整する。光路長調整スイッチ７６への入力を検知したＰＣ６２は、入力に対応した方向にステージ４４を駆動する。これによりレトロリフレクタ４２は、光軸方向に移動し、光路長が変化する。そしてサンプル系の光路長と、参照系の光路長が略一致すると表示領域８２に視細胞の断層画像が表示される（ステップＳ１６０）。

（スキャン）
この時、表示領域８１には、同時に撮像されるＡＯ−ＳＬＯ画像が表示される。高速スキャナ３２はＯＣＴ光学系を迂回して配置されているため、ＡＯ−ＯＣＴ測定光はＹスキャナ２１でＹ方向（図３においては水平方向）にラインスキャンされるのみである。ＡＯ−ＳＬＯ測定光は、Ｙスキャナ２１によりＹ方向に、高速スキャナ３２によりＸ方向（図３においては垂直方向）に走査される。そのため、図３に示すように、ＡＯ−ＯＣＴ画像の取得位置である走査ライン３０２を上下方向の中心とする撮像範囲３０１のＡＯ−ＳＬＯ画像が取得される（ステップＳ１６１）。

図１０に示す波形１１１は、高速スキャナ３２のミラーの走査角度を表し、横軸は時間、縦軸は角度である。すなわち高速スキャナ３２はＸ方向に高速で往復振動している。それと同時にＹスキャナ２１は、波形１１２に示すように、波形１１１よりも遅い周期で走査されている。画像取得は、高速スキャナの往路、復路ともに行われる。

図１０に示す期間Ｐ１はＡＯ−ＯＣＴ画像を１フレーム、ＡＯ−ＳＬＯ画像を１フレームの画像取得をする期間であり、Ｐ２は、Ｙスキャナ２１の帰線期間であり、画像取得は行われない。すなわち、Ｙスキャナ２１は、期間Ｐ１には、θ２から−θ２まで、連続的に変化し、期間Ｐ２には、−θ２から＋θ２まで、期間Ｐ１の時の角速度よりも速い角速度で走査される。このような走査を繰り返して、ＡＯ−ＳＬＯ部による二次元領域の撮像、ＡＯ−ＯＣＴ部によるラインの撮像を行う。

（トラッキング）
被検眼の動き検知、撮像範囲の補正というトラッキングについて図１６のフローチャートにより説明する。

ＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像を開始するとトラッキングの参照画像として図３の３０１に示すように、ＡＯ−ＳＬＯ画像を１フレーム記録する（ステップＳ１６２１）。この時の画像サイズを４００×４００ピクセルとし縦４００ラインの画像により構成される。高速スキャナ３２のスキャン周波数を１６ｋＨｚとすると往復で画像を取得するので、４００ラインの画像を取得するのに１２．５ｍｓｅｃかかり、毎秒約７０フレームの画像が得られる。図４に示すように、次のフレーム撮像時、所定ラインの画像を取得する毎に参照画像と相関演算を行い被検眼の動きを検知する。例えば本実施形態においては、２０ライン分の信号でトラッキング画像４０２を作成する（ステップＳ１６２２）。これによりＡＯ−ＯＣＴ画像を１フレーム取得中に２０回（＝４００／２０）の位置検知が可能になる。それぞれのトラッキング画像は、取得されると直ちに参照画像３０１と相関演算を行い、シフト量（ｓｆ３０２＿Ｘ，ＳＦ３０２＿Ｙ）を求める（ステップＳ１６２３）。被検眼の移動がなければ、Ｎ番目のトラッキング画像のシフト量は、（ｘ，ｙ）＝（２０×（ｎ−１），０）になるので、Ｎ番目のトラッキング画像から求める被検眼の移動量は、（ｓｆ３０２＿ｘ−２０Ｎ，ＳＦ３０２＿ｙ）となる（Ｓ１６２３）。

この移動量より、Ｘスキャナ１５、Ｙスキャナ２１のミラー回転角度を演算し（ステップＳ１６３１）、前述の通り求めた被検眼の動きに追随するようにＸスキャナ１５、Ｙスキャナ２１を駆動する。Ｙスキャナ２１は、所定の波形で駆動中であるため、駆動中心がオフセットされる。また、Ｘスキャナ１５は、求められた量のオフセットのみを行う（ステップＳ１６３２）。

図１１の波形１２１は、Ｙスキャナ２１の角度変化を示し、図１２の波形１３１はＸスキャナ１５の角度変化を示す。横軸は時間縦、縦軸は走査角度である。前述の通り一定時間ごとに被検眼の移動量を補正するための角度のシフト量が演算されるため、波形１２２に示すようにスキャン角度のシフトが行われる。そのあとは、波形１２３に示すように通常の角速度で走査が行われる。実線は、角度シフトを加えられたミラー角度を示し、破線は、角度シフトがない場合の、ミラー角度を示す。図１２の波形１３１は、Ｘスキャナ１５の角度変化を示し、横軸は時間である。Ｘスキャナ１５は、被検眼の動きを補正するトラッキングにのみ使用されるため演算されたオフセット量のみ角度が変化する。

波形１３２に示すようなＸスキャナ１５の駆動中もＡＯ−ＳＬＯ画像の取得は行われるが、相関演算は、その部分を除いた画像で行われる。このようなトラッキング制御を続けることによりＡＯ−ＯＣＴ部は、同一ライン上の複数枚、所定枚数、例えば１００枚程度の断層画像を得ることができる（ステップＳ１６３３）。

（ＡＯ−ＳＬＯ画像に基づく重ね合せ）
これらの断層画像は同一領域（同一走査ライン）で得られた断層画像あり、これらの画像を重ね合わせることによりコントラストの高い（ノイズやぼけを抑えた）ＡＯ−ＯＣＴ画像を作成することができる。ここで、重ね合わせ処理は、例えば、加算平均処理である。しかし、マイクロサッケードの発生や、固視が安定しない被検眼の場合、トラッキングの動作が追い付かず、同一領域（同一走査ライン）から得られる断層画像とならないことがある。そのような場合においても、本実施形態により好適な重ね合わせ画像を取得するための方法を、図１６−１９を参照しつつ説明する。

図１６は疾患を有する被検眼のＡＯ−ＳＬＯ画像１７０１、１７０６、１７１０およびＡＯ−ＯＣＴ画像１７２１、１７２８、１７３２である。図１６（ａ）は疾患部位１７０５を含むＡＯ−ＳＬＯ画像１７０１を示し、ＡＯ−ＯＣＴの走査ライン１７０２を模式的に示している。走査ライン１７０２が疾患部位１７０５を横切るように撮像され、そのＡＯ−ＯＣＴ画像１７２１が図１６（ｂ）に示される。

位置ずれ指標１７０３は、ＡＯ−ＳＬＯ画像１７０１の中心を原点とし、位置ずれ量に応じて移動する指標である。位置ずれ量は、基準となるＡＯ−ＳＬＯ参照画像に対する画像１７０１の撮像位置のずれ量であり、例えばＡＯ−ＳＬＯ参照画像との相関を計算した値を用いて得ることができる。ずれ量を画像の画素単位で表すと、撮像位置の変化とずれ位置の変化が一致するため、視認性が向上する。

図１６（ｅ）にＡＯ−ＳＬＯ参照画像１７１０の例を示す。位置ずれ量はゼロであり、位置ずれ指標１７１２は画像の中心である。このときの断層画像１７３２は走査ライン１７１１において取得され、断層方向に描出された疾患部位１７３５および疾患による構造１７３６が写っている。また、組織１７３３は網膜深層の構造であり、疾患の影響が少ない部位を指している。なお、図１６（ｂ）（ｄ）の組織１７２２、１７３０も同様の部位である。

図１６（ａ）に示す画像１７０１は、トラッキングの動作が追い付かず、位置ずれ指標１７０３が画像の中心位置からずれた位置にある。一方、ＡＯ−ＯＣＴ画像１７２１は疾患部位１７２５および疾患による構造１７２６が撮像されており、ＡＯ−ＯＣＴ参照画像（参照断層画像）１７３２と同様の部位が撮像された画像である。

図１６（ｃ）に示す画像１７０６もトラッキングの動作が追い付かない場合であり、ずれ位置１７０８は画像の中心からずれた位置にある。図７（ｄ）に示す画像１７２８において、走査ライン１７０７が疾患部位１７０５を横切らない撮像ラインであるため、ＡＯ−ＯＣＴ画像１７２８では疾患の影響を受けていない部位１７２９が撮像されている。

図１７は１００枚のＡＯ−ＳＬＯ画像でのＸ方向（高速スキャナ３２の走査方向：主走査方向とも言う）の位置ずれ量の変化を破線１７３１で表すグラフである。横軸は画像番号であり、撮像で取得された画像の順番を示している。ピーク１７３２が位置ずれ指標１７０３、ピーク１７３３が位置ずれ指標１７０８のＡＯ−ＳＬＯ画像１７０１、１７０６の撮像時にそれぞれ対応する。なお、Ｘ方向はＡＯ−ＯＣＴの走査ラインの交差（具体的には、直交）する方向であり、この方向に撮像位置が撮像対象の構造以上ずれた場合には断層画像を重ね合わせに用いることができない。一方、Ｙ方向はＡＯ−ＯＣＴの走査ラインに沿う方向（副走査方向とも言う）であり、ＡＯ−ＯＣＴの画像幅以上に撮像位置がずれない場合には、一部でも重ね合わせに用いることが可能である。

参照画像として良好にアライメントされている撮像開始直後の画像番号１のＡＯ−ＯＣＴ画像を用いることができる。さらには、画像の輝度値、コントラストが最も高いＡＯ−ＯＣＴ画像をＡＯ−ＯＣＴ参照画像（参照断層画像）としてもよい。

ＡＯ−ＯＣＴ画像１７２１は位置ずれ量がゼロではないものの、ＡＯ−ＯＣＴ参照画像１７３２と同様の部位を撮像しており、好適に重ね合わせに用いられる。一方、ＡＯ−ＯＣＴ画像１７２８はＡＯ−ＯＣＴ参照画像１７３２とは異なる構造が写っており、重ね合わせに用いてもコントラストは向上しない。

重ね合わせに用いるかどうかを判断するため、位置ずれ量に基づいて複数の重ね合わせ画像を生成する。図１８は許容する位置ずれ量に対する重ね合わせ枚数を示す四角マークを付した線１７４１とコントラストをしめす丸マークを付した線１７４２を表すグラフである。大きな位置ずれ量を許容するほど、重ね合わせ枚数は増加する。一方、コントラストは、位置ずれ量の許容値が低い画像の重ね合わせ時には向上するが、許容値が高くなると異なる撮像位置の画像が含まれるため低下する。適切な重ね合わせ枚数が存在し、コントラスト１７４２においてピークとなる重ね合わせ枚数を選択すればよい。

ただし、コントラストは位置ずれ量に対して必ずしも明確な最適値を持たないことがある。例えば、コントラスト１７４２におけるピーク１７４３とピーク１７４４のようにプラトーな特性を示し、どちらの重ね合わせ画像がより良いか判断できない場合がある。

このとき、コントラストの評価に加え、別の計算値に基づく評価を行っても良い。例えば、さらに画像の粒度を計算することで、ピーク１７４４での重ね合わせ枚数が適切であると評価することが可能である。

あるいは、位置ずれ量の許容値を複数設定し、それぞれに対する重ね合わせ画像を生成し、ユーザーに提示し、選択させることも可能である。図１９は複数の重ね合わせ画像をユーザーに提示する画面１９００である。画面１９００には画像表示領域１９０１、１９０２があり、ユーザーは、しきい値選択ボタン１９０３を操作することで異なるしきい値に基づき重ね合わせ画像を生成することが指示可能である。しきい値情報表示領域１９０４にユーザーが選択したしきい値の情報（ずれ量の増減後の値）が表示され、ユーザーは重ね合わせ画像の生成された条件を確認することができる。また、画質指標１９０５は画像のコントラストに基づき画像が良好かどうかをユーザーに提示する指標である。なお、不図示であるが、画面１９００に重ね合わせ枚数１７４１やコントラスト１７４２のグラフを表示し、ユーザーの判断が容易となるようにしても良い。なお、重ね合わせ画像とともに、各重ね合わせ画像と比較するために参照画像を同時に表示してもよい。

次に、重ね合わせ画像の生成処理について図２０のフローチャートにより説明する。なお、本フローチャートの説明においては、１００枚のＡＯ−ＳＬＯ画像とＡＯ−ＯＣＴ画像を取得している。

ステップＳ２００１において、ＡＯ−ＳＬＯ参照画像を選択する。残りのＡＯ−ＳＬＯ画像はＡＯ−ＳＬＯ参照画像とそれぞれ相関計算を行い、位置ずれ量を求める（ステップＳ２００２）。

ステップＳ２００２にて求められた位置ずれ量に基づき、異なる位置ずれ許容量それぞれで、位置ずれ許容量のＡＯ−ＳＬＯ画像に対応するＡＯ−ＯＣＴ画像の重ね合わせ画像を生成する（ステップＳ２００３）。複数の重ね合わせ画像は、それぞれコントラストを計算し（ステップＳ２００４）、コントラストのピーク値を検出する（ステップＳ２００５）。ステップＳ２００５でピーク値が検出された場合（ピーク存在する場合）には、コントラスト値がピークとなる重ね合わせ画像を選択する（ステップＳ２００６）。ピーク値が検出されない場合（ピークが存在しない場合）には、別指標による評価を実施する（ステップＳ２０１０）。

なお、表示された複数の重ね合わせ画像から選択された重ね合わせ画像は、画像表示領域１９０１で強調表示したり、記憶装置（不図示）に重ね合わせ画像と重ね合わせ枚数、コントラスト値と関連付けて記憶したりすることも可能である。

以上の方法により、マイクロサッケード等により撮像が難しい場合においても、ノイズとぼけを抑えたＡＯ−ＯＣＴ画像を提供することが可能となる。

［第２の実施形態］
（ＡＯ−ＳＬＯのトラッキング画像に基づく重ね合わせ）
第１の実施形態では、位置ずれ量を画像同士の相関計算を用いて実施した。本実施形態では、位置ずれ量としてＡＯ−ＳＬＯのトラッキング画像のシフト量に基づきＡＯ−ＯＣＴ画像の重ね合わせを行う。なお、基本的な構成は第１の実施形態と同様であるため、その説明は省略する。

すでに述べたとおり、ＡＯ−ＯＣＴ画像の１ライン走査中に２０回の位置検知を行う。この時に計算される被検眼の移動量（ｓｆ３０２＿ｘ−２０Ｎ，ＳＦ３０２＿ｙ）を、対応するＡＯ−ＯＣＴ画像の１ラインに関連付けて記憶装置に記憶する。

図２１に示すフローチャートでは、この記憶された移動量に基づき重ね合わせ画像を生成する。以下、図２２を参照しつつ、本実施形態について説明する。

まずステップＳ２１０１においてＡＯ−ＯＣＴ画像のバッファを作成する。バッファとは、図２２に示される２２０１−１から２２０１−４００のデータ列を記憶するメモリである。それぞれのバッファはＡＯ−ＯＣＴ画像の深さ方向の画素数と同じデータ数を格納することが可能であり、本実施形態では１０２４である。また、図２２には、許容位置ずれ量が１画素のバッファ２２０１と、許容位置ずれ量が２画素のバッファ２２０２を例示している。バッファはそれぞれＡＯ−ＯＣＴ画像２２１０，２２１１を生成するために使用される。

重ね合わせ画像枚数に対するコントラストのピーク値を検出するため、バッファは十分な数を用意する必要がある。しかし、必要以上に数が多いと、バッファに必要なメモリ容量が増えたり、バッファに格納するための計算量が増えたりする。本実施形態では、バッファを８個用意することで、コントラスト１７４２におけるピーク１７４２、１７４４を検出することができる。なお、用意すべきバッファの数は、観察対象となる構造や画質、位置ずれの精度（画素単位か、サブ画素単位か、など）に応じて変更してよい。例えば本実施形態の場合、構造１７２６のように、眼底の組織におけるサイズとしては大きな構造を対象としているため、位置ずれ量の許容値が高く、したがってバッファの数も多い。一方、さらに大きな疾患部位を対象とする場合にはバッファ数を多く、あるいは視細胞のような数μｍの組織を対象とする場合にはバッファ数を少なく配置することが可能である。

トラッキングはＡＯ−ＳＬＯ画像の２０ラインをまとめてトラッキング画像とし、移動量を計算しているため、対応するＡＯ−ＯＣＴ画像のデータを読み出す。そのため、ＡＯ−ＯＣＴ画像の２０ライン分のデータを読み出し（ステップＳ２１０２）、対応する移動量を読みだす（ステップＳ２１０３）。

次に、移動量に応じてＡＯ−ＯＣＴ画像のデータをバッファに格納する（ステップＳ２１０４）。例えば、移動量が２画素の場合、対応するバッファ２２０２−１、および、さらに許容位置ずれ量が３画素以上のバッファ（不図示）にデータ値を足していく。なお、バッファの格納にあたり、足し合わせたデータ数を別途記録する。

ステップＳ２１０５にて、ＡＯ−ＯＣＴ画像の全ラインを読み出し完了したか判断し、未完了の場合には次の２０ラインのＡＯ−ＯＣＴ画像のデータを読み出すステップＳ２１０２に戻る。完了した場合には格納したデータ値をデータ数で割ることによりＡＯ−ＯＣＴ重ねあわせ画像を生成する（ステップＳ２１０６）。これ以降のステップは、第１の実施形態と同様であるため、その説明を省略する。

本実施形態に示される通り、トラッキング画像のシフト量に基づき重ねあわせ画像を生成することで、突発的な眼球の動きにより位置ずれが発生した場合においても、ノイズとぼけを抑えたＡＯ−ＯＣＴ画像を提供することが可能である。

［第３の実施形態］
本実施形態では、ＯＣＴボリュームスキャンにおける重ねあわせ画像の生成を行う。なお、基本的な構成は第１、第２の実施形態と同様であるため、その説明は省略する。

（ＯＣＴボリュームスキャン）
ＡＯ−ＯＣＴボリュームスキャンスイッチ７５が操作されると、ボリュームスキャンモードでの走査が開始される。

撮像者がＡＯ−ＯＣＴボリュームスキャンスイッチ７５を操作し、不図示のカーソルを用いて撮像範囲が設定されると、ＰＣ６２がＯＣＴのラインスキャンラインがＹ方向にシフトするようにＸスキャナ１５に同期してＹスキャナ２１も駆動する。

図５の眼底画像上の枠５０１は、ＡＯ−ＯＣＴボリュームスキャンの撮像範囲を示す。眼底画像上の枠５０１に対応する領域を、ＡＯ−ＯＣＴ測定光で走査してＡＯ−ＯＣＴボリュームデータを取得するものである。図６の枠６０１は、図５の撮像範囲の最上ライン５０２をＡＯ−ＯＣＴ測定光で走査するときのＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲を示す。図５に示す通りＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲は、ＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像ライン５０２を中心とする矩形領域である。ここで得られたＡＯ−ＳＬＯ画像は、トラッキング参照画像として記憶される。次にＸスキャナ１５を駆動し、ＡＯ−ＯＣＴ測定光は図５のライン５０３に示す次の撮像ラインの走査を開始する。その時のＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲を図７の枠７０１に示す。撮像範囲６０１に対して、ＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲はＡＯ−ＯＣＴ画像の１ライン分下方に移動している。すなわち、図５のライン５０４をＡＯ−ＯＣＴ画像を撮像しているときは、ＡＯ−ＳＬＯ画像は図８の枠８０１に示す撮像範囲であり、最下ラインであるライン５０５を撮像している時は図９の枠９０１がＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲である。このようにＡＯ−ＯＣＴ測定光のスキャンラインの移動とともに、ＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲は移動する。これにより常にＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像範囲を中心とする近傍領域の画像情報が得られる。

（トラッキング）
ＡＯ−ＯＣＴボリュームスキャンの時にも前述の通り、ＡＯ−ＳＬＯ画像を用いてトラッキングを行う。図７のライン５０３を走査中は、ＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲７０１の画像を取得しながら破線で示す２０ラインの範囲の画像を抜き出し、前回撮像したＡＯ−ＳＬＯ画像の撮像範囲６０１の画像との相関演算を行い、シフト量を求める。前述と同様このシフト量より、Ｘスキャン１５，Ｙスキャナ１６のシフト量を演算し、直ちに、Ｘスキャナ１５，Ｙスキャナ２１を駆動してＡＯ−ＯＣＴ測定光とＡＯ−ＳＬＯ測定光の眼底上での照射位置の補正を行う眼底トラッキングを行う。

このようにトラッキングを行いながら、ラインスキャンを繰り返すことによりＡＯ−ＯＣＴ画像の撮像範囲５０１のＡＯ−ＯＣＴ画像（ボリュームデータ）を取得する。これにより図５の領域５０１の立体情報が得られる。

以上トラッキングに用いたＡＯ−ＳＬＯ画像は、それぞれシフト量を補正されて一枚の参照画像が作成され、次の列のＡＯ−ＯＣＴ画像のラインスキャン時の参照画像として用いるとよい。これにより参照画像を常に更新できるため、さらに精度の良いトラッキングを行うことができる。

（ボリュームデータの重ね合わせ）
ボリュームスキャンを複数回行い、重ね合わせを行う場合のデータに関しても同様に本実施形態を適用可能である。

第２の実施形態において、ＡＯ−ＯＣＴ画像１枚に対するバッファを複数用意した。本実施形態においては、ボリュームスキャンにおいてはボリュームデータを構成するＡＯ−ＯＣＴ画像の枚数に応じてバッファを用意し、第２の実施形態と同様の処理でバッファへの格納、重ねあわせ画像を生成することでボリュームデータの重ねあわせを行うことができる。

以下、図２３のフローチャートを参照しつつ、本実施形態を説明する。なお、第２の実施形態と同様の手順についてはその説明を省略する。

まず、ボリュームデータのバッファを作成し（ステップＳ２２００）、ＡＯ−ＯＣＴ画像のフレームデータを読み出す（Ｓ２２０１）。１枚のＡＯ−ＯＣＴ画像のフレームデータに対するステップ（Ｓ２１０２〜Ｓ２００６）は、第２の実施形態と同様である。

全フレームを処理したかを判断し（ステップＳ２２０２）、完了していれば重ね合わせボリュームデータを生成し（ステップＳ２２０３）、完了していなければ次のフレームデータを読み出すステップＳ２２０１に戻る。

以上の処理により、突発的な眼球の動きにより位置ずれが発生した場合においても、ノイズとぼけを抑えたＡＯ−ＯＣＴ画像を提供することが可能である
［その他の実施形態］
なお、上述した実施形態では、被検査物が眼の場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被検査物に本発明を適用することも可能である。この場合、本発明は撮像装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って、本発明は撮像装置に例示される画像処理装置として把握され、被検眼は被検査物の一態様として把握されることが好ましい。

また、本発明は、以下のように装置を構成することによっても達成できる。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコード（コンピュータプログラム）を記録した記録媒体（又は記憶媒体）をシステム或いは装置に供給することとしてもよい。また、該記録媒体の態様だけでなく、コンピュータの読み取り可能な記録媒体としてもよい。そして、そのシステム或いは装置のコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ）が記録媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行する。この場合、該記録媒体から読み出されたプログラムコード自体が上述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記録した記録媒体は本発明を構成することになる。また、該実施形態は、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。

Claims (8)

1. 被検眼に照射された測定光の戻り光と参照光とを干渉させた干渉光に基づき、前記被検眼の断層画像を取得する画像取得手段と、
   前記取得手段により取得した複数の断層画像から重ね合わせ画像を生成するとき、参照断層画像に対する、重ね合わせ対象の複数の断層画像のそれぞれの位置ずれ量を求めるずれ取得手段と、
   前記位置ずれ量が所定の範囲の選択された複数の断層画像を重ね合わせして重ね合わせ画像を生成する生成手段とを有し、
   前記位置ずれ量が、前記測定光の光軸方向に交差する方向の位置ずれ量であることを特徴とする撮像装置。
2. 前記生成手段が、前記位置ずれ量が第１の範囲の複数の断層画像を重ね合わせした第１の重ね合わせ画像と、前記位置ずれ量が第２の範囲の複数の断層画像を重ね合わせした第２の重ね合わせ画像とを生成することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
3. 前記生成手段が生成した重ね合わせ画像を表示画面に表示する制御手段を更に有し、
   前記制御手段は、前記第１の重ね合わせ画像と前記第２の重ね合わせ画像を前記表示画面に、同時に表示することを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
4. 前記被検眼の眼底平面画像を取得する第２の画像取得手段を更に有し、
   前記ずれ取得手段は、前記第２の画像取得手段により取得された連続する眼底平面画像を比較して前記位置ずれ量を取得することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
5. 前記表示画面に表示された前記第１の重ね合わせ画像と前記第２の重ね合わせ画像から１の重ね合わせ画像を選択する選択手段を更に有することを特徴とする撮像装置。
6. 前記制御手段が、前記第１の断層画像を生成した際の参照断層画像と前記第２の断層画像を生成した際の参照断層画像とを前記表示画面に更に表示することを特徴とする請求項４又は５に記載の撮像装置。
7. 前記方向が、前記測定光を前記被検眼で走査するときの副走査方向であることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の撮像装置。
8. 被検眼に照射された測定光の戻り光と参照光とを干渉させた干渉光に基づき、前記被検眼の断層画像を取得する画像取得工程と、
   前記取得工程において取得した複数の断層画像を重ね合わせして重ね合わせ画像を生成するとき、参照断層画像に対する、重ね合わせ対象の複数の断層画像のそれぞれの位置ずれ量を求めるずれ取得工程と、
   前記位置ずれ量が所定の範囲の選択された複数の断層画像を重ね合わせして重ね合わせ画像を生成する生成工程とを有し、
   前記位置ずれ量が、前記測定光の光軸方向に交差する方向の位置ずれ量であることを特徴とする撮像装置の制御方法。

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