JP6646722B2 - 眼科装置 - Google Patents
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Description
(構成)
以下、発明を利用した眼科装置の一例を説明する。図1には、検出光の波面補正を行う補償光学系を備えた補償光学走査型レーザー検眼鏡(AO−SLO)の光学系の一例が示されている。図中の×印は、被検眼200の眼底(網膜)201と共役となる位置(眼底共役位置)を示している。
図3(A)には、図1の眼科装置の制御系のブロック図が示されている。図3において、入力部220には、図示しない入力装置からの入力操作情報が入力される。入力装置は、キーボード装置、GUI(グラフィカル・ユーザ・インターフェース)を用いたもの、タッチパネルディスプレイを用いたもの等が利用可能である。また近年、GUIを利用可能な各種の携帯型情報処理端末が利用されているが、これら携帯型情報処理端末を利用して各種の操作を行い、その操作内容を入力部220で受け付ける構成も可能である。この例では、図1の装置を操作するユーザにより、眼底201の傾きを指定するデータが入力部220に入力される。また、入力部220を用いて当該眼科装置に対するユーザの各種の操作が行われる。
動作例1では、眼底の傾斜情報を入力し、この入力値に基づいてピンホール113の位置を決める。図4は、動作例1の処理の手順を示すフローチャートである。図4の処理を実行するためのプログラムは、図3のメモリ205に格納されている。これは、図7および図9の処理を実行するためのプログラムについても同じである。
動作例2では、ピンホール113の最適な位置を段階的に絞り込んでゆく処理の一例を説明する。図7は、動作例2の手順を示すフローチャートである。なお、図7において、図4と同じ処理の部分は、図4に関連して説明した処理の内容と同じである。
動作例3では、眼底の傾斜を入力し、この入力値に基づいてピンホール113の検索範囲を設定し、この検索範囲において、更に最適なピンホール位置を検索する処理の一例を説明する。図9は、動作例3の処理の手順を示すフローチャートである。この動作では、処理が開始されると、まず移動部の原点移動が行われ(ステップS601)、次いで眼のアライメントが行われる(ステップS602)。
(構成)
図10には、本実施形態の眼科装置の光学系が示されている。この例では、図1の構成に光断層干渉撮影装置(OCT)の機能が追加されている。以下、図1と異なる部分について説明する。なお、特に説明しない部分は、図1と同じである。
図10は、図9に示す構成の眼科装置の制御系のブロック図である。まず、光断層干渉撮影装置(OCT)の原理について簡単に説明する。時間的に低コヒーレンスである光を用いた場合、参照光路と測定光の光路長がほぼ等しいときに干渉信号が得られる。眼底のような多層構造の対象を測定する場合、異なる層からの反射光あるいは後方散乱した光は、光源波長幅内の異なる波長で干渉する。この干渉光の波長スペクトルをスペクトル分光器で取得し、スペクトル強度分布に対してフーリエ変換することで、実空間での深さに関する情報を得ることができる。
図4のステップS304の処理において、OCT画像から得られた(θ,Φ)の値が用いられる。例えば、層構造解析部318においてOCT画像が解析され、図5に示すような層の構造が抽出される。そして、この抽出された層構造に基づき測定光のスキャン領域における(θ,Φ)の値が傾斜角度算出部319において算出される。他の処理は、図4の処理と同じである。
図9のステップS604の処理において、OCT画像から得られた(θ,Φ)の値が用いられる。(θ,Φ)の値を求める処理の内容は、上記の(動作A)の場合と同じである。他は、図9の処理と同じである。
図7のステップS510の後および/またはステップS518の後、つまりピンホール113に係る全ての検索位置に対応した複数の眼底画像が得られた段階において、得られた眼底画像の全てを表示部204の画面上に分割して表示してもよい。この場合、選択される眼底画像の候補をユーザが確認することができる。
ピンホール113の移動を1次元方向に限定することもできる。この場合、眼底の傾きへの対応は限定的となるが、条件によってはある程度のコントラスト向上効果を得ることができる。
観察領域を4分割あるいは9分割と区切り、区分けされた狭い領域において、本明細書で開示する技術を適用することもできる。この場合、第1区画において最適なピンホールの位置での観察、第2区画において最適なピンホール位置での観察、といった制御が行われる。
図3,図7および図9の処理を実行するためのプログラムを適当な記憶媒体に格納し、そこから供給される形態としてもよい。また、これらのプログラムをサーバー等に格納し、適当な回線を介して図3に示す制御系に提供する形態も可能である。
図1には、眼底反射光検出器112の前の眼底共役位置に配置されたピンホール113を光軸に垂直な面内で移動可能な構造としたが、検出光の光路における他の眼底共役位置にピンホールを配置し、このピンホールを移動可能とする構造も可能である。この場合もピンホールを通過する検出光の光量が最大となるように調整されるので、結果的に鮮明な観察像を得ることができる。また、例えばレンズ系109の眼底共役位置にピンホールを配置した場合に、当該ピンホールを光軸に垂直な面内で移動可能とすることで、ハルトマン撮像素子107が検出する波面情報の精度を高めることができる。
ピンホール113を3次元的に移動可能とする構成も可能である。この場合、図7のステップS502やS512、図9のステップS606における検索位置の設定は、3次元空間内に設定された格子点において行われる。
(その他の開示内容)
第1の構成は、眼底に測定光を照射する測定光照射手段と、前記測定光の前記眼底からの反射光を検出する反射光検出手段と、前記反射光の光路における前記眼底と共役な位置に配置され、動くことが可能なピンホールとを備え、前記ピンホールを動かすことで前記反射光に基づく眼底画像の画質の低下を抑えることを特徴とする眼科装置である。
Claims (2)
- 眼底に測定光を照射する測定光照射手段と、
前記測定光の前記眼底からの戻り光を検出する戻り光検出手段と、
前記戻り光の光路上に配置されたピンホールと
を備え、
前記ピンホールの位置と当該眼底の傾きには特定の関係があり、
光軸に垂直なX−Y平面内における直交するX軸およびY軸の方向における前記眼底の傾きを(θ,Φ)、
前記X軸の方向および前記Y軸の方向における前記ピンホールの位置を(X p ,Y p )、
前記ピンホールと前記眼底との間の光学的な距離をL、
前記ピンホールと前記眼底との間の光学倍率をαとした場合に、
前記特定の関係は、X p =αLtan(θ),Y p =αLtan(Φ)である眼科装置。 - 前記(θ,Φ)と前記(Xp,Yp)の関係が予め求められている請求項1に記載の眼科装置。
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