JP2020169243A - アニオン性エポキシ樹脂又はその塩、エマルション、表面処理剤、並びに皮膜を有する材料及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
[1]式(1):
式(2):
式(8a):
を含む、アニオン性エポキシ樹脂又はその塩;
[4]ブロック化ポリイソシアネート硬化剤を含む、上記[3]に記載のエマルション;
[5]上記[1]若しくは[2]に記載のアニオン性エポキシ樹脂若しくはその塩、又は上記[3]若しくは[4]に記載のエマルションを含む、表面処理剤;
[6]上記[5]に記載の表面処理剤を、表面に金属を有する材料の表面又は表面上に接触させる工程と、接触させた前記表面処理剤を焼き付ける工程とを含む、皮膜を有する材料の製造方法;
[7]表面に金属を有する材料の表面又は表面上に、上記[1]又は[2]に記載のアニオン性エポキシ樹脂又はその塩を含む皮膜を有する材料;
などである。
<アニオン性エポキシ樹脂又はその塩>
本実施形態に係るアニオン性エポキシ樹脂(以下、単に「樹脂」と称することがある。)は、上式(1)で表される構造単位と、上式(2)及び上式(3)で表される構造単位のうち少なくとも一つと、上式(8a)及び(9a)で表される基のうち少なくとも一つと、を含む。
本発明に係る樹脂又はその塩は、該樹脂又は該塩における構造単位の組み合わせに従い、有機溶媒に、式(1)で表される構造単位を有する化合物(以下、「化合物(1)」と称する)、式(2)で表される構造単位を有する化合物(以下、「化合物(2)」と称する)、式(3)で表される構造単位を有する化合物(以下、「化合物(3)」と称する)、式(8a)で表される基を有する化合物(以下、「化合物(8a)」と称する)、式(9a)で表される基を有する化合物(以下、「化合物(9a)」と称する)等を適宜配合し、また、必要に応じて式(5)で表される構造単位を有する化合物(以下、「化合物(5)」と称する)をさらに配合し、所定の温度で重合反応を行うことにより製造することができる。なお、必要に応じて、反応触媒をさらに配合し、重合反応を行ってもよい。重合反応温度は特に制限されるものではないが、通常70℃以上200℃以下の範囲内である。反応時間は特に制限されるものではないが、通常10分間以上24時間以内の範囲内である。
本実施形態に係るエマルションは、上記アニオン性エポキシ樹脂又はその塩を含む。エマルションは、例えば、転相乳化法によってアニオン性エポキシ樹脂又はその塩を水中に分散させることで得ることができる。分散させる際の温度は特に制限されるものではないが、5℃以上50℃以下であることが好ましい。
本実施形態に係る表面処理剤は、上記アニオン性エポキシ樹脂若しくはその塩、又は上記エマルションを含む。表面処理剤は、表面処理剤に使用される公知の、酸、酸化剤、各種添加剤等をさらに含んでいてもよい。
本実施形態に係る皮膜を有する材料の製造方法(以下、単に「製造方法」と称する)は、上記表面処理剤を、表面に金属を有する材料の表面又は表面上に接触させる第1工程と、接触させた表面処理剤(未硬化の皮膜)を焼き付ける第2工程とを含む。なお、この製造方法は、第1工程と第2工程との間に、必要に応じて、未硬化の皮膜を水洗する工程を行ってよい。
上記アニオン性エポキシ樹脂又はその塩、エマルション、表面処理剤等は、接着剤、メガネ、光学材料(例えば、撮像用レンズに代表されるもの)、ライニング剤、インキ、レジスト、液状レジスト、印刷版、絶縁ワニス、絶縁シート、積層板、プリント基盤、封止剤(例えば、半導体装置用・LEDパッケージ用・液晶注入口用・有機EL用・光素子用・電気絶縁用・電子部品用・分離膜用等のもの)、成形材料、パテ、ガラス繊維含浸剤、目止め剤、パッシベーション膜(例えば、半導体用・太陽電池用等のもの)、層間絶縁膜、保護膜、プリズムレンズシート(例えば、液晶表示装置のバックライトに使用されるもの)、フレネルレンズシート(例えば、プロジェクションテレビ等のスクリーンに使用されるもの)、レンチキュラーレンズシート等のレンズシートのレンズ部、又はこのようなシートを用いたバックライト等、光学レンズ(例えば、マイクロレンズ等のもの)、光学素子、光コネクター、光導波路、光学的造形用注型剤等の用途に利用できる。ただし、上記アニオン性エポキシ樹脂又はその塩、エマルション、表面処理剤等の用途は、上記に限定されない。
<実施例1>
表1に示すように、237.7gのA1と、30.0gのB1と、21.5gのC1を、536.0gのN−メチル−2−ピロリドンに加え、撹拌しながら120℃に加温した。その後、その温度を維持しながら0.6gのジメチルベンジルアミンを加えて1.5時間反応させた。その後、113.9gのA2及び60.9gのD1を加えてさらに5時間反応させた。その後、反応溶液を冷却し、固形分濃度46.4%、重量平均分子量約110,000のアニオン性エポキシ樹脂を得た。
表1に示す各成分を所定量(仕込み量:質量部)用いて、実施例1と同様の方法で、実施例2〜22及び比較例1〜2のアニオン性エポキシ樹脂を得た。
<成分A>
A1:ビスフェノールAのジグリシジルエーテル化合物(jER#828EL、三菱ケミカル社製)
A2:ビスフェノールA(出光興産社製)
A3:1,6−ジヒドロキシナフタレンのジグリシジルエーテル化合物(EPICLON HP−4032D、DIC社製)
A4:レゾルシノール(東京化成工業社製)
<成分B>
B1:α,α,α’−トリス(4−ヒドロキシフェニル)−1−エチル−4−イソプロピルベンゼンにおける3つのヒドロキシ基における水素原子がグリシジル基に置換された化合物(TECHMORE VG−3101L、プリンテック社製)
B2:1,1,1−トリス(4−ヒドロキシフェニル)エタンのトリグリシジルエーテル化合物(jER#1032H60、三菱ケミカル社製)
B3:1,1’−メチレンビス(2,7−ナフタレンジオール)のテトラグリシジルエーテル化合物(EPICLON HP−4710、DIC社製)
B4:1,1,2,2−テトラキス(4−ヒドロキシフェニル)エタンのテトラグリシジルエーテル化合物(jER#1031S、三菱ケミカル社製)
<成分C:全て東京化成工業社製>
C1:4−ヒドロキシベンゼンスルホン酸ナトリウム
C2:4−ヒドロキシ−3−メトキシベンゼンスルホン酸カリウム
C3:1−ナフトール−4−スルホン酸
C4:1−ナフトール−3−スルホン酸
C5:2−ナフトール−6−スルホン酸
C6:2−ナフトール−7−スルホン酸
C7:イセチオン酸ナトリウム
<成分D>
D1:ジカルボン酸化合物(ハリダイマー270S、ハリマ化成社製)
D2:アジピン酸(東京化成工業社製)
D3:1,16−ヘキサデカンジカルボン酸(東京化成工業社製)
<製造例1>
ポリメチレンポリフェニルポリイソシアネート(コスモネートM−200、三井化学社製)452.3gにメチルイソブチルケトン 77.1gを加え、70℃に加温した後、ブチルセロソルブ 470.7gをゆっくり滴下し、滴下終了後90℃に加温した。続けて、90℃の条件下で12時間反応させ、イソシアネート基を完全にブロックしたブロック化ポリイソシアネート硬化剤を得た。なお、イソシアネート基がブロックされたことは、赤外吸収スペクトル測定により、未反応のイソシアネート基由来の吸収がみられるかどうかを確認することで行った。
<実施例23>
実施例1のアニオン性エポキシ樹脂 646.5gに純水 353.5gをゆっくりと添加し、転相乳化法によって固形分濃度30%のエマルションを製造した。
表2に示すように、各種アニオン性エポキシ樹脂を用いて、実施例23と同様の方法で実施例24〜44及び比較例3〜4のエマルションを製造した。
実施例1のアニオン性エポキシ樹脂 442.1g、製造例1で合成したブロック化ポリイソシアネート硬化剤 97.7g、及びジオクチル錫(ネオスタンU−820、日東化成社製)6.7gを混合し、その後、純水 453.5gをゆっくりと添加し、転相乳化法によって固形分濃度30%のエマルションを製造した。
表2に示すように、各種アニオン性エポキシ樹脂を用いて、実施例45と同様の方法で、実施例46〜66及び比較例5〜6のエマルションを製造した。
<実施例67>
実施例23のエマルション 333.0gに、黒色顔料(SANDYE DP BLACK CN、山陽色素社製)5.5g及びNSD−300(日本パーカライジング社製)53.0gを添加し、25質量%の水酸化ナトリウム水溶液を用いてpHを3.5に調整した後、過酸化水素水を用いてORP(酸化還元電位)を380−420mVに調整し、表面処理剤を調製した。
実施例23のエマルションの代わりに、表3に示す各種エマルションを用いる以外は、実施例67と同様の方法で、実施例68〜110及び比較例7〜10の表面処理剤を調製した。
<金属材料>
金属材料として、SPC:冷延鋼板(SPCC−SD、板厚:0.8mm)を用いた。
アルカリ性脱脂剤[ファインクリーナーE2001(日本パーカライジング社製)のA剤及びB剤がそれぞれ13g/kg及び7g/kgとなるように水に混合した脱脂剤]を用いて、45℃で2分間スプレーすることによって金属材料の表面上を脱脂した。
脱脂した金属材料を、実施例67の表面処理剤に25℃で1分間浸漬した後、金属材料を水洗した。水洗した金属材料を180℃(PMT:焼付時の金属材料の最高温度)で20分間焼き付け、表面上に膜厚20μmの皮膜を有する金属材料(実施例111)を得た。
表4に示すように、実施例68〜110及び比較例7〜10の表面処理剤を用いて、実施例111の製造方法と同様に、実施例112〜154及び比較例11〜14の皮膜を有する金属材料を得た。
実施例111〜154及び比較例11〜14の皮膜を有する金属材料を用いて、各種評価試験を行った。
実施例111〜154及び比較例11〜14の金属材料を260℃で5時間静置させた後、各金属基材における皮膜の電気絶縁性(耐電圧:AW)を耐電圧試験機(TOS9201、菊水電子工業株式会社製)にて測定した。また、実施例111〜154及び比較例11〜14の金属材料を260℃で5時間静置させる前の皮膜の耐電圧(BW)も測定した。それらの測定結果に基づいて耐電圧の比(AW/BW)を算出し、以下の評価基準に従って耐熱絶縁性を評価した。なお、測定条件は、初期電圧を50V、昇圧速度を50V/秒とし、カットオフ電流を1.0mAとした。
(評価基準)
◎:耐電圧の比が0.70以上である
〇:耐電圧の比が0.50以上0.70未満である
×:耐電圧の比が0.50未満である
実施例111〜154及び比較例11〜14の金属材料を260℃で5時間静置させた後、該金属材料における皮膜に対して、カッターを用いて金属材料に到達する深さでクロス(×)状にカットを施し、5%の塩化ナトリウム水溶液(中性)を35℃で480時間噴霧した。その後、カット部における錆の膨れ幅(カット部からの片側最大膨れ幅)を測定し、以下の評価基準に従って耐熱耐食性を評価した。
(評価基準)
◎:膨れ幅が2.5mm以下である
〇:膨れ幅が2.5mm超3.5mm以下である
×:膨れ幅が3.5mm超である
Claims (7)
- 下式(1)で表される構造単位と、
下式(2)及び下式(3)で表される構造単位のうち少なくとも一つと、
下式(8a)及び(9a)で表される基のうち少なくとも一つと、
を含む、アニオン性エポキシ樹脂又はその塩。
- 請求項1又は請求項2に記載のアニオン性エポキシ樹脂又はその塩を含む、エマルション。
- ブロック化ポリイソシアネート硬化剤を含む、請求項3に記載のエマルション。
- 請求項1若しくは請求項2に記載のアニオン性エポキシ樹脂若しくはその塩、又は請求項3若しくは請求項4に記載のエマルションを含む、表面処理剤。
- 請求項5に記載の表面処理剤を、表面に金属を有する材料の表面又は表面上に接触させる工程と、接触させた前記表面処理剤を焼き付ける工程とを含む、皮膜を有する材料の製造方法。
- 表面に金属を有する材料の表面又は表面上に、請求項1又は請求項2に記載のアニオン性エポキシ樹脂又はその塩を含む皮膜を有する材料。
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