JP2020165850A - 分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
以上のように、本実施形態では、キュベット2からの出射光の変化量が少ない測定可能領域R2に含まれる第1基準ポイントP1が測光位置Pを通過する基準タイミングt3に基づいて、前記変化量が特に少ない分析対象領域R4を特定している。仮に、分析工程時のキュベット2の速度が、補正データD3を生成するために想定された通常の速度と等しければ、分析部75によって特定された分析対象領域R4は、測定対象領域設定部74によって設定された理想的な分析対象領域R4と等しくなる。一方、分析工程時では、ステッピングモータ43が高速で駆動するため、キュベットテーブル3の回転速度に若干ゆらぎが生じる。そのため、キュベット2の速度が通常の速度よりも速いまたは遅い場合、分析部75によって特定された分析対象領域R4と、測定対象領域設定部74によって設定された理想的な分析対象領域R4との間にずれが生じることとなる。
本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、実施形態に開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
2 キュベット
2a 一端
2b 一端
3 キュベットテーブル
4 駆動部
5 測光部
6 光センサ(センサ)
7 制御部
8 表示部
9 スリットドグ
41 駆動ギヤ
42 従動ギヤ
43 ステッピングモータ
44 エンコーダ
51 光源
52 受光素子
61 光源
62 受光素子
71 記憶部
72 測定可能領域検出部
73 基準タイミング設定部
74 測定対象領域設定部
75 分析部
91 スリット
91a 一端(第1端)
91b 一端(第2端)
D1 測光データ
D2 補正用測光データ
D3 補正データ
P 測光位置
P1 第1基準ポイント
P2 第2基準ポイント
R1 被照射領域
R2 測定可能領域
R3 測定可能外領域
R4 分析対象領域
V1 電圧信号
V2 電圧信号
t1 時点
t2 時点
t3 時点(基準タイミング)
t4 時点
t5 時点
Claims (9)
- キュベットの列を環状に配置させたキュベットテーブルと、
前記キュベットの列を環状方向に繰り返し間欠回転させる駆動部と、
前記間欠回転の間に測光位置を通過する各キュベットに光を照射して、当該測光位置を通過する各キュベットの被照射領域からの出射光を測光する測光部と、
前記測光された測光データに基づいて、前記キュベットの収容物を分析する分析部と、
前記各キュベットの前記被照射領域の中で、前記キュベットの前記通過に伴う前記出射光の変化量が所定変化量以下である前記キュベットの領域を、前記各キュベットのそれぞれの測定可能領域として検出する測定可能領域検出部と、
前記各キュベットの測定可能領域に含まれる第1基準ポイントが前記測光位置を通過する時点をそれぞれ、前記各キュベットでの前記分析に用いる分析対象領域を特定するための基準タイミングとして設定する基準タイミング設定部と、
を備えた分析装置。 - 前記キュベットは、検体および試薬を収容して反応させるキュベットであり、
前記分析部は、前記間欠回転毎に、前記各キュベットの前記分析対象領域における複数の測光ポイントについて前記検体および前記試薬の反応液を分析する、
請求項1に記載の分析装置。 - 前記第1基準ポイントは、前記キュベットの前記環状方向の中間領域に位置している、
請求項1又は請求項2に記載の分析装置。 - 前記第1基準ポイントは、前記キュベットの前記環状方向の中点に位置している、
請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の分析装置。 - 前記測定可能領域検出部は、前記各キュベットの前記被照射領域の中で、前記キュベットの前記通過に伴う前記出射光の変化量が所定変化量を超え、前記測定可能領域よりも前記キュベットの移動方向の上流側にある前記キュベットの領域を、前記各キュベットのそれぞれの測定可能外領域として検出し、
前記基準タイミング設定部は、前記各キュベットの前記測定可能外領域に含まれる第2基準ポイントが前記測光位置を通過する時点をそれぞれ、前記各キュベットで前記測光データの記憶を開始する記憶開始タイミングとして特定し、当該記憶開始タイミングから所定期間の前記測光データを記憶部に記憶させる、
請求項1乃至請求項4に記載の分析装置。 - 前記分析部は、前記測光データを前記記憶部から読み出して、当該読み出した測光データにおける前記基準タイミングと、前記各キュベットに個別に対応付けられた補正値とに基づいて、前記分析に用いる分析対象領域を特定し、当該分析対象領域に基づき、前記キュベットの収容物を分析する、
請求項5に記載の分析装置。 - 前記キュベットテーブルに設けられ、前記各キュベットに対応して配置された個々のスリットからなるスリットドグと、
前記スリットを検知するセンサと、をさらに備え、
前記センサが前記各スリットの第1端を検知したときに、当該スリットに対応する前記キュベットの前記第1基準ポイントが前記測光位置に位置する、
請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の分析装置。 - 前記キュベットテーブルに設けられ、前記各キュベットに対応して配置された個々のスリットからなるスリットドグと、
前記スリットを検知するセンサと、をさらに備え、
前記センサが前記各スリットの第2端を検知したときに、当該スリットに対応する前記キュベットの前記第2基準ポイントが前記測光位置に位置する、
請求項5乃至請求項7のいずれかに記載の分析装置。 - 前記各キュベットの前記第1基準ポイントには、前記出射光の強度または波長を、前記測定可能領域における他の領域と異ならせる部材が設けられている、
請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の分析装置。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0475964U (ja) * | 1990-11-16 | 1992-07-02 | ||
JPH06258327A (ja) * | 1993-03-08 | 1994-09-16 | Jeol Ltd | 回転反応器の測定方式 |
JPH0980055A (ja) * | 1995-09-12 | 1997-03-28 | Hitachi Ltd | 多項目自動分析装置 |
JP2000258433A (ja) * | 1999-03-10 | 2000-09-22 | Jeol Ltd | 回転反応器の測定方式 |
JP2009162719A (ja) * | 2008-01-10 | 2009-07-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH545477A (de) * | 1971-06-24 | 1973-12-15 | Rohe Scientific Corp | Vorrichtung zur chemischen Analyse |
US4305723A (en) * | 1980-10-24 | 1981-12-15 | Coulter Electronics, Inc. | Apparatus and method for absorbance measurement and data generation |
JPS57156543A (en) * | 1981-03-24 | 1982-09-27 | Olympus Optical Co Ltd | Device for chemical analysis |
US5478750A (en) * | 1993-03-31 | 1995-12-26 | Abaxis, Inc. | Methods for photometric analysis |
DE19948587A1 (de) * | 1999-10-08 | 2001-04-12 | Dade Behring Marburg Gmbh | Spektralphotometrische und nephelometrische Detektionseinheit |
WO2006132324A1 (ja) * | 2005-06-10 | 2006-12-14 | Olympus Corporation | 反応容器およびそれを用いる反応装置 |
JP4598682B2 (ja) * | 2006-01-23 | 2010-12-15 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP5260903B2 (ja) * | 2007-07-06 | 2013-08-14 | 株式会社東芝 | 自動分析装置 |
KR100998781B1 (ko) * | 2008-03-14 | 2010-12-06 | 오므론 가부시키가이샤 | 광학식 센서 장치 |
JP2009281941A (ja) * | 2008-05-23 | 2009-12-03 | Olympus Corp | 分析方法及び分析装置 |
DE112010000927B4 (de) * | 2009-02-27 | 2013-11-14 | Hitachi High-Technologies Corporation | Chemischer Analysator |
JP5645017B2 (ja) * | 2011-02-04 | 2014-12-24 | 株式会社リコー | 分光計測装置、画像評価装置及び画像形成装置 |
JP6381978B2 (ja) * | 2013-07-05 | 2018-08-29 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 自動分析装置 |
JP6706455B2 (ja) * | 2015-11-13 | 2020-06-10 | 古野電気株式会社 | 分析装置 |
JP7027073B2 (ja) * | 2016-09-06 | 2022-03-01 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 検体測定装置 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0475964U (ja) * | 1990-11-16 | 1992-07-02 | ||
JPH06258327A (ja) * | 1993-03-08 | 1994-09-16 | Jeol Ltd | 回転反応器の測定方式 |
JPH0980055A (ja) * | 1995-09-12 | 1997-03-28 | Hitachi Ltd | 多項目自動分析装置 |
JP2000258433A (ja) * | 1999-03-10 | 2000-09-22 | Jeol Ltd | 回転反応器の測定方式 |
JP2009162719A (ja) * | 2008-01-10 | 2009-07-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
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