JP2020148689A - 検出装置及びスペクトル生成装置 - Google Patents
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Abstract
Description
この構成であれば、自動的にサムピークが除去されたスペクトルを得ることができるので、装置の使い勝手を良くすることができるとともに、視覚的に判断することに比べてサムピークの除去を確実に行うことができる。
このように構成した本実施形態のX線検出装置100によれば、ファスト系信号処理それぞれのフィルタ時定数に対応した複数のスペクトルを生成しているので、それら複数のスペクトルを比較することによって、2つ以上のピークが重なって生じるサムピークを視覚的に又は自動的に見極めることができる。その結果、サムピークによる誤検出を低減することができる。
10 ・・・検出部
20 ・・・信号処理部
2 ・・・X線検出器
3 ・・・プリアンプ
4 ・・・A/D変換部
5 ・・・ノイズ除去フィルタ
6 ・・・波形整形部
61 ・・・スロー系波形出力部
62 ・・・ファスト系波形出力部
7 ・・・エネルギー算出部
8 ・・・カウント部
Claims (6)
- エネルギー線を検出して検出信号を出力する検出部と、
前記検出信号の立ち上がりを示すファスト系信号を生成するファスト系信号処理と、前記ファスト系信号処理よりもフィルタ時定数が長く、前記検出信号の信号強度を示すスロー系信号を生成するスロー系信号処理とを行い、前記ファスト系信号及び前記スロー系信号を用いて、前記信号強度とカウント数とを対応づけたスペクトルを生成する信号処理部とを備え、
前記信号処理部は、フィルタ時定数が互いに異なる複数のファスト系信号処理を行うものであり、当該複数のファスト系信号処理により得られた複数のファスト系信号と前記スロー系信号とを用いて、前記複数のファスト系信号処理それぞれのフィルタ時定数に対応した複数の前記スペクトルを生成する、検出装置。 - 前記信号処理部により得られた複数の前記スペクトルを用いて、前記ファスト系信号処理のフィルタ時定数をゼロとした場合に推定されるスペクトルを算出する推定スペクトル算出部をさらに備える、請求項1記載の検出装置。
- 前記信号処理部により得られた複数の前記スペクトルを用いて、前記ファスト系信号処理のフィルタ時定数とは異なるフィルタ時定数を用いた場合に推定されるスペクトルを算出する推定スペクトル算出部をさらに備える、請求項1又は2記載の検出装置。
- 前記信号処理部により得られた複数の前記スペクトルを同一画面上に出力するスペクトル出力部をさらに備える、請求項1乃至3の何れか一項に記載の検出装置。
- 前記エネルギー線は、放射線であり、
前記検出部は、
前記放射線が入射することにより発生した電荷を出力する放射線検出器と、
前記発生した電荷をアナログ信号に変換するプリアンプと、
前記プリアンプからのアナログ信号をデジタル信号である検出信号に変換するA/D変換部とを備える、請求項1乃至4の何れか一項に記載の検出装置。 - 検出信号の立ち上がりを示すファスト系信号を生成するファスト系信号処理と、前記ファスト系信号処理よりもフィルタ時定数が長く、前記検出信号の信号強度を示すスロー系信号を生成するスロー系信号処理とを行い、前記ファスト系信号及び前記スロー系信号を用いて、前記信号強度とカウント数とを対応づけたスペクトルを生成するスペクトル生成装置であって、
フィルタ時定数が互いに異なる複数のファスト系信号処理を行い、当該複数のファスト系信号処理により得られた複数のファスト系信号と前記スロー系信号とを用いて、前記複数のファスト系信号処理それぞれのフィルタ時定数に対応した複数の前記スペクトルを生成する、スペクトル生成装置。
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- 2019-03-14 JP JP2019047781A patent/JP6999593B2/ja active Active
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