JP2020147850A - Dlc層の成膜方法および金型の製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、本発明の製造方法により得られる、基材の表面にDLC層が成膜されたDLC被覆材の積層構造の一例を示す図である。図1に示される本実施形態のDLC被覆材1は、基材2と、基材2の上に成膜された中間層3と、中間層3の上に成膜されたDLC中間層4と、DLC中間層4の上に成膜されたDLC層5とを有している。
基材2の表面にDLC層5が成膜されたDLC被覆材1の製造方法について説明する。DLC被覆材1は、UBMスパッタリング法によって行われる。
DLC被覆材の製造に使用される成膜装置は、ターゲットに電力を供給するスパッタ用パルス電源と、ターゲットの背面側に配置される複数個の磁極と、基材に負の電圧であるバイアス電圧をパルス状に印加するバイアス用パルス電源と、アルゴンガスおよび炭化水素ガスを供給するガスインレットを備えている。UBMスパッタリング法は、そのような装置において、磁極のバランスを非平衡にして磁力線の一部を基材の近傍まで伸ばすことによって基材近傍のプラズマ密度を高くすると共に、基材にバイアス電圧を印加することによって基材へのアルゴンイオンの衝突エネルギーを増やすことができるイオンアシスト作用を利用する成膜方法である。
基材2の上に中間層3、DLC中間層4およびDLC層5を成膜する前に、必要に応じてアルゴンボンバードメント処理を施し、基材2の表面をクリーニングする工程を行う。
基材2とDLC層5の密着性を向上させるために、必要に応じて中間層3の成膜工程を行う。成膜条件は、基材2の硬度とDLC層5の硬度の中間的な硬度を有する中間層3を成膜することができれば特に限定されない。また、基材2との密着性を向上させる観点から、例えば中間層3が基材2の化学成分中に含まれ得るCr、W、Ti、V、Mo、Cからなる群から選択される1種以上の元素を含むようにターゲット17に供給する電力を適宜変更して中間層3を成膜してもよい。例えば、基材2の鋼材がSKD11の場合、元素としてCr、W、Cを含む中間層をUBMスパッタ法にて膜厚を1μm以上成膜するのが好ましい。また、基材2とDLC層5との密着性を向上させる観点から、例えばスパッタ用パルス電源の電圧を連続的または段階的に変化させ、基材2側からDLC層5側に向かって硬度が高くなるように中間層3を成膜してもよい。また、必要に応じて中間層3が複層構造となるように成膜工程を行ってもよい。
中間層3とDLC層5との密着性を向上させるために、必要に応じてDLC中間層4の成膜工程を行う。
DLC層5の成膜ガスとして、アルゴンガスと炭化水素ガスをチャンバー11に供給する。炭化水素ガスは、例えばメタン(CH4)、アセチレン(C2H2)、エチレン(C2H4)、エタン(C2H6)、ベンゼン(C6H6)、トルエン(C7H8)などである。取扱いやコストの観点からは、メタンガスまたはアセチレンガスを使用することが好ましい。チャンバー11に成膜ガスを供給する際には、単一種類の炭化水素ガスを供給してもよいし、複数種類の炭化水素ガスを混合して供給してもよい。
Duty比〔%〕=100×印加時間(ON time)/{印加時間(ON time)+印加停止時間(OFF time)}
次に、アンバランスドマグネトロンスパッタリング法により、クロム、タングステン、炭素からなる中間層の上に第1のDLC中間層と、第2のDLC中間層を成膜した。DLC中間層の成膜条件を下記表1に示す。なお、以降の説明における“スパッタ電力”とは、ターゲットに供給される電力のことである。“スパッタ電力密度”とは、炭素ターゲットに供給される電力(W)を炭素ターゲットの基材に対向する面の面積(cm2)で除した値である。
アルゴンガスを流量300ml/minで、メタンガスを流量8ml/minでチャンバー内に供給した。また、基材に印加する負の電圧であるバイアス電圧を100V、炭素ターゲットのスパッタ電力を6kW、バイアス電圧のDuty比を75%に設定し、炭素ターゲットのスパッタリングを7.4分間行った。
続いてバイアス電圧を36.6分間かけて100Vから200Vに漸増させながら、炭素ターゲットのスパッタリングを行った。
次に、アンバランスドマグネトロンスパッタリング法により、第2のDLC中間層の上にDLC層を成膜した。DLC層の成膜条件を下記表2に示す。
本実施例におけるDLC層成膜工程のアルゴンガスの流量は300ml/min、メタンガスの流量は8ml/minである。チャンバー内に供給されるアルゴンガスと炭化水素ガスの流量比(アルゴンガスの流量/炭化水素ガスの流量)は37.5であり、前述の流量比の範囲(20〜60)内にある。このようにアルゴンガスと炭化水素ガスの流量を調節すると共に、基材に印加するパルス状のバイアス電圧を200V、バイアス電圧のDuty比を75%に設定し、炭素ターゲットのスパッタリングを264分間行った。これにより、第2のDLC中間層の上に1.0μmのDLC層を成膜した。以上の工程を経て本発明の実施例1としての基材の表面にDLC層を成膜した試験片を作製した。
DLC層成膜工程において基材に印加するパルス状のバイアス電圧を250Vにしたことを除き、実施例1と同様の条件で1.0μmのDLC層が成膜された試験片を作製した。
DLC層成膜工程において基材に印加するパルス状のバイアス電圧を300Vにしたことを除き、実施例1と同様の条件で1.0μmのDLC層が成膜された試験片を作製した。
DLC層成膜工程において基材に印加するパルス状のバイアス電圧を175Vにしたことを除き、実施例1と同様の条件で1.0μmのDLC層が成膜された試験片を作製した。
DLC層成膜工程においてメタンガスの流量を10ml/minに変更し、アルゴンガスと炭化水素ガスの流量比(アルゴンガスの流量/炭化水素ガスの流量)を30にしたことを除き、実施例1と同様の条件で1.0μmのDLC層が成膜された試験片を作製した。
DLC中間層成膜工程を実施せず、かつ、クロム、タングステン、炭素からなる中間層の表面にプラズマCVD法によりDLC層を成膜したことを除き実施例1と同様の条件で試験片を作製した。比較例1のDLC層は、アセチレンガスのみを流量1000ml/minでチャンバーに供給した状況で成膜された。なお、比較例1のDLC層の成膜工程では、基材に印加するパルス状のバイアス電圧を800V、バイアス電圧のDuty比が30%に設定され、130分間成膜処理が実施されることで1.5μmのDLC層が成膜されている。
試験機は、CSM
Instruments社製の「Tribometer」を用いた。ディスクは、実施例1〜5および比較例1のいずれかの試験片である。ディスクに接触させるボールとして、純アルミからなる直径が6mmのアルミボールを使用した。温度が23〜24℃、湿度が21%、ディスクに潤滑油としてポリアルファオレフィンを1滴塗布したウェット環境下で、図4のようにアルミボールをディスクに接触させ、アルミボールに13Nの荷重を加えながら、摺動速度が0.05m/sとなるようにディスクを回転させた。アルミボールとディスクの接触点は、ディスクの中心から半径5mmの点である。そして、ディスクとアルミボールの摺動距離が100mに達するまでのディスクとアルミボールとの摩擦力を0.2秒間隔で測定し、試験機に付属するソフトウェアであるTRIBOXを用いて摩擦係数を測定した。また、摩擦係数が0.5以上となった場合には試験を停止した。また、ボールオンディスク試験については、ディスクに潤滑油を塗布しないドライ環境下での試験も実施した。ドライ環境下でのボールオンディスク試験の方法は、ディスクに潤滑油が塗布されていないことを除き、ウェット環境下でのボールオンディスク試験の方法と同様である。
図5および表2に示されるように実施例1の試験片は、摺動距離が100mに達するまでに摩擦係数が0.003〜0.093の間で変化したが、摩擦係数の大きな上昇は見受けられず、アルミ材に対し、優れた耐凝着性を有していた。なお、図5には比較例1の結果も示されている。比較例1の試験片は、摺動開始直後に摩擦係数が0.5以上に上昇し、試験を停止した。
図6および表2に示されるように実施例2の試験片は、摺動距離が100mに達するまでに摩擦係数が0.027〜0.122の間で変化したが摩擦係数の大きな上昇が見受けられず、アルミ材に対し、優れた耐凝着性を有していた。
図7および表2に示されるように実施例3の試験片は、摺動距離が100mに達するまでに摩擦係数が0.033〜0.155の間で変化したが摩擦係数の大きな上昇が見受けられず、アルミ材に対し、優れた耐凝着性を有していた。
図8および表2に示されるように実施例4の試験片は、摺動距離が100mに達するまでに摩擦係数が0.007〜0.093の間で変化したが摩擦係数の大きな上昇が見受けられず、アルミ材に対し、優れた耐凝着性を有していた。
図9および表2に示されるように実施例5の試験片は、摺動距離が100mに達するまでに摩擦係数が0.089〜0.147の間で変化したが摩擦係数の大きな上昇が見受けられず、アルミ材に対し、優れた耐凝着性を有していた。
図10および表2に示されるように実施例1の試験片は、摺動距離が100mに達するまでに摩擦係数が0.135〜0.296の間で変化したが、摩擦係数の大きな上昇は見受けられず、アルミ材に対し、優れた耐凝着性を有していた。
図11および表2に示されるように実施例2の試験片は、摺動距離が100mに達するまでに摩擦係数が0.099〜0.269の間で変化したが摩擦係数の大きな上昇が見受けられず、アルミ材に対し、優れた耐凝着性を有していた。
図12および表2に示されるように実施例3の試験片は、摺動開始直後に摩擦係数が0.5以上に上昇し、試験を停止した。
図13および表2に示されるように実施例4の試験片は、摺動開始直後に摩擦係数が0.5以上に上昇し、試験を停止した。
図14および表2に示されるように実施例5の試験片は、摺動開始直後に摩擦係数が0.5以上に上昇し、試験を停止した。
表2に示されるように比較例1の試験片は、摺動開始直後に摩擦係数が0.5以上に上昇し、試験を停止した。
硬度測定は、Fischer Instruments社製のPICODENTOR(登録商標)Hm500を用いたナノインデンテーション法により実施する。具体的には、最大押し込み荷重を5mNとして試験片にバーコビッチ圧子を押し込み、連続的に押し込み深さを計測する。得られた押し込み深さの計測データからFischer Instruments社製のソフトウエアである「商品名:WIN−HCU(登録商標)」を用いて、マルテンス硬さ、マルテンス硬さから換算されるビッカース硬さを算出する。算出されたビッカース硬さは測定装置の画面に表示され、この数値を測定点における膜の硬度として扱う。本実施例では各試験片表面の任意の20点のビッカース硬さを求め、得られた硬度の平均値を膜の硬度として記録する。なお、試験片に圧子を押し込む際には、圧子の最大押し込み深さの約10倍まで押し込み荷重が伝播する場合がある。このため、押し込み荷重の伝播が試験片の基材に到達してしまうと、硬度測定の結果に基材の影響が含まれてしまう場合がある。したがって、純粋な硬質膜の硬度を測定するためには「硬質膜の膜厚>圧子の最大押し込み深さ×10」を満たす必要がある。
実施例2の試験片はビッカース硬さで2535HVと十分な硬度を有していた。
実施例3の試験片はビッカース硬さで2682HVと十分な硬度を有していた。
実施例4の試験片はビッカース硬さで2404HVと十分な硬度を有していた。
実施例5の試験片はビッカース硬さで2215HVと十分な硬度を有していた。
比較例1の試験片はビッカース硬さで2052HVと十分な硬度を有していた。
次に、FE−SEMを用いて、各試験片の表面、すなわち各試験片のDLC層の表面を観察した。図15は実施例1のDLC層表面の観察画像である。実施例1のDLC層は、所々に凹部が形成されていた。図16は比較例1のDLC層表面の観察画像である。比較例1のDLC層は、表面に微小な凸が形成されているが、実施例1とは異なり、凹部は形成されていなかった。
2 基材
3 中間層
4 DLC中間層
4a 第1のDLC中間層
4b 第2のDLC中間層
5 DLC層
10 成膜装置
11 チャンバー
12 台
13 バイアス用パルス電源
14 ガスインレット
15 ガス供給源
16 ガス排気管
17 ターゲット
17a 基材に対向する面
18 スパッタ用パルス電源
19 磁極
20 プラズマ
Claims (8)
- 炭素ターゲットを用いたアンバランスドマグネトロンスパッタリング法により基材の表面にDLC層を成膜するDLC層の成膜方法であって、
成膜処理が行われるチャンバー内に供給されるアルゴンガスと炭化水素ガスの流量比(アルゴンガスの流量/炭化水素ガスの流量)が20〜60となるように、前記アルゴンガスおよび前記炭化水素ガスの流量を調節し、
前記基材に対し、175〜400Vのバイアス電圧をパルス状に印加する、DLC層の成膜方法。 - 前記バイアス電圧が300V以下である、請求項1に記載のDLC層の成膜方法。
- 前記流量比が30以上である、請求項1または2に記載のDLC層の成膜方法。
- 前記流量比が35〜60であり、前記バイアス電圧が190〜275Vである、請求項1に記載のDLC層の成膜方法。
- 前記流量比が50以下である、請求項1〜4のいずれか一項に記載のDLC層の成膜方法。
- 前記バイアス電圧のDuty比を30〜80%に設定する、請求項1〜5のいずれか一項に記載のDLC層の成膜方法。
- 前記炭化水素ガスは、メタンガスである、請求項1〜6のいずれか一項に記載のDLC層の成膜方法。
- 請求項1〜7のいずれか一項に記載のDLC層の成膜方法を用いて、前記基材の表面に前記DLC層が成膜された金型を製造する、金型の製造方法。
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CN112267100B (zh) * | 2020-09-30 | 2022-11-18 | 大连交通大学 | 一种高载流子浓度炭膜材料的制备方法 |
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