JP2020134277A - 環境試験装置及び環境試験方法 - Google Patents
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Abstract
Description
同様に高温さらし試験の最中に、次の低温さらし試験に備えて、低温槽内の空気を所定の低温に低下させる予冷運転を行う機能を備えたものがある。
従来技術の冷熱衝撃試験装置では、試験槽の環境を急激に変化させるため、予冷運転に際しては、低温槽内の空気は、低温さらし試験を行う際の低温試験目標温度よりも相当に低い温度に制御される場合がある。
従来技術の冷熱衝撃試験装置では、試験槽の環境を急激に変化させるため、予冷運転に際しては、低温槽内の空気は、少なくとも低温さらし試験を行う際の低温試験目標温度以下の温度に制御される。
ところで市場において、試験槽内の温度環境をやや緩やかに変化させて環境試験を行いたいという要求がある。
従来技術の冷熱衝撃試験装置は、試験槽の環境を急激に変化させることに主眼をおいて作られており、試験槽の環境を緩やかに変化させたいという要求を満足することが困難である。
本態様の環境試験装置においても、低温試験に備えて、低温槽内の空気を所定の低温に低下させる予冷運転が行われる。
ここで本態様の環境試験装置は、特徴的構成として、予冷運転時においては低温槽に貯留される空気の目標温度(以下、予冷目標温度と称する場合がある)が、低温試験目標温度よりも高い温度に制御される。
前記した様に、従来技術の冷熱衝撃試験装置では、試験槽の環境を急激に変化させるため、予冷運転時においては、低温槽内の空気は低温試験目標温度よりも低い予冷目標温度に調整される。
これに対して本態様の環境試験装置では、予冷目標温度は低温試験目標温度よりも高く、低温槽に貯留される空気の温度は、低温試験目標温度よりも高い。
そのため低温槽内の空気が試験槽に導入され、試験槽内の空気が低温槽内の空気と置換されても、試験槽内の温度は低温試験目標温度よりも高い状態にある。
本態様の環境試験装置では、低温槽内の空気を試験槽に導入した後、冷却手段等によって試験槽内の温度を低温試験目標温度に至らせる。そのため試験槽内の温度低下速度は、従来技術の冷熱衝撃試験装置に比べて緩やかになる。
低温槽に貯留される空気の温度を低温試験目標温度以下に制御することによって、試験槽の温度環境を急激に低下させることができ、本態様の環境試験装置によって冷熱衝撃試験を実施することができる。
また追加冷却運転においては、希望する試験槽の温度降下の速度に応じて冷却手段の制御方法が変わる。
即ち希望する試験槽の温度降下が緩やかである場合には、希望する温度降下が急である場合に比べて冷却出力が絞られた状態で冷却手段が運転される。
冷却出力が絞られることにより、試験槽の温度降下が緩やかになる。
また追加冷却運転においては、希望する試験槽の温度降下の速度に応じて冷却手段の制御方法が変わる。
即ち希望する試験槽の温度降下が緩やかである場合には、希望する温度降下が急である場合に比べて冷却出力が絞られた状態で冷却手段が運転される。
冷却出力が絞られることにより、試験槽の温度降下が緩やかになる。
予冷運転によって低温槽内の空気の温度を低温試験目標温度よりも高い温度に制御すると、蓄熱器の温度も低温試験目標温度よりも高い温度に調整される。
低温側開閉手段を開いた後は、冷却手段等によって試験槽内の温度が低温試験目標温度に低下されるが、蓄熱器の温度が低温試験目標温度よりも高い温度であるから、蓄熱器の保有する熱が試験槽内の温度低下の妨げとなり、温度低下速度を鈍化させる。
本態様の環境試験方法では、低温槽内の空気を試験槽に導入した後、試験槽内の温度を低温試験目標温度に至らせる。そのため試験槽内の温度低下速度は、従来技術の冷熱衝撃試験装置に比べて緩やかになる。
即ち希望する試験槽の温度降下が緩やかである場合には、温度降下が急である場合に比べて冷却出力が絞られた状態で冷却手段が運転される。
冷却出力が絞られることにより、試験槽の温度降下が緩やかになる。
本実施形態の環境試験装置1は、冷熱衝撃試験を行うことができるものである。本実施形態の環境試験装置1は、さらに加えて熱サイクル試験に近い環境試験を行うこともできる。即ち環境試験装置1は、通常の冷熱衝撃試験に比べて、温度の変化勾配が緩い環境変化を実現することができる。
そしてそれぞれの通気口7、8には、槽間の空気の往来を制限するダンパー(高温側開閉手段、低温側開閉手段)10、11が設けられている。
環境試験装置1では、試験槽3と高温槽5の間に一連の高温側空気循環路が形成されており、高温側ダンパー(高温側開閉手段)10a、10bは前記高温側空気循環路を開閉するものである。
同様に試験槽3と低温槽6の間にも、一連の低温側空気循環路が形成されており、低温側(低温側開閉手段)ダンパー11a、11bは前記低温側空気循環路を開閉するものである。
高温槽5は、空気を加熱する加熱ヒーター15と、空気を循環させる高温側送風機16と、高温槽5内の雰囲気温度を検知する高温槽側温度センサー17を有している。
低温槽6は、試験槽3との間で低温の空気を循環させる機能を備えている。
低温槽6は、空気を冷却する冷却器20と、空気を循環させる低温側送風機21と、冷却した空気の温度を微調整する調整用ヒーター23と、蓄冷器26と、低温槽6内の雰囲気温度を検知する低温槽側温度センサー25を有している。
冷却器20は、後記する冷却装置18の低温側蒸発器である。蓄冷器26は、アルミ等の金属のブロックであり、相当の熱容量を有するものである。
高温さらしモードによる運転を実施する場合には、図1の様に高温側ダンパー10a、10bを開いて高温槽5から試験槽3内に高温の空気を導入する。
逆に低温さらしモードによる運転を実施する場合には、図2の様に、低温側ダンパー11a、11bを開いて低温槽6から試験槽3内に低温の空気を導入する。
一方、低温さらしモードが実行されている際、次の高温試験に備えて、高温槽5側では、予熱運転が行われる。予熱運転は、図2の矢印の様に、高温槽5内で空気を循環させ、高温槽5の空気を高温側の設定温度に調節する運転である。
本実施形態の環境試験装置1では、冷却装置18として、図3に示すような二元冷却構造が採用されている。
即ち冷却装置18は、一次側冷却回路30と二次側冷却回路31を備えた二元冷却構造を持つ。
一次側冷却回路30は、高温側圧縮部32と高温側オイルセパレータ33と、高温側凝縮部35と高温側膨張手段36とカスケードコンデンサ37の一次側流路38及び高温側アキュームレータ40が順次環状に配管されたものである。
そして上記した回路内に相変化する冷媒が封入されている。一次側冷却回路30は、公知のそれと同様に冷凍サイクルを実現するものである。
低温側膨張手段45は、膨張弁であり、モータ等のアクチェータによって開度を調節することができるものである。
そして公知の二元冷却構造と同様に、一次側冷却回路30のカスケードコンデンサ37の一次側流路38で、一次側冷却回路30の冷媒を蒸発させてカスケードコンデンサ37を温度降下させる。
この時に発生した低温によって、二次側冷却回路31の冷媒を凝縮させる。
バイパス流路52を通過した冷媒は、十分に冷却能力を有している。そのためバイパス流路52は、低温側圧縮部41に吸入される冷媒の温度を低下させる冷媒冷却手段としての機能を果たすことができる。
例えば、低温側圧縮部41に吸入される冷媒の温度が過度に高い場合(例えば、低温槽の温度が高い場合)には、バイパス流路52の電磁弁53と、バイパス用膨張手段48を開いて冷媒を低温側圧縮部41の上流側に混入し、冷媒の温度を低下させて低温側圧縮部41に吸入させることができる。
ホットガスバイパス流路55には、開度を調節することができる調整弁56が設けられている。なお、ホットガスバイパス流路55には、調整弁56がなくてもよい。また、調整弁56に変えてキャピラリーチューブを用いてもよい。
本実施形態で採用する冷却装置18では、次の方法によって冷却出力を増減する。
(1)低温側膨張手段45の開度変更
低温側膨張手段45は、モータ等のアクチェータ(図示せず)によって開度を調節することができる。低温側膨張手段45の開度を開くことによって低温側蒸発器(冷却器)20に導入される冷媒量が増加し、冷却出力が増加する。逆に低温側膨張手段45の開度を絞ると冷却出力が減少する。
なお低温側膨張手段45の開度を極度に絞ると、低温側圧縮部41に吸入される冷媒の温度が上昇する。その場合には、バイパス流路52の電磁弁53と、バイパス用膨張手段48を開いて冷媒を低温側圧縮部41の上流側に混入し、冷媒の温度を低下させて低温側圧縮部41に吸入させる。
低温側圧縮部41は2基の圧縮機50、51を備えている。
2基の圧縮機50、51を駆動することにより、流路を流れる冷媒量が増加し、冷却出力が増加する。逆にいずれか一方の圧縮機50、51を休止すると、冷却出力が減少する。
ホットガスバイパス流路55は、低温側蒸発器(冷却器)20をバイパスするものであるから、調整弁56を開くことによって低温側蒸発器(冷却器)20を通過する冷媒量が減少し、冷却出力が減少する。
バイパス流路52についても低温側蒸発器(冷却器)20をバイパスするものであるから、バイパス用膨張手段48を開くことによって低温側蒸発器(冷却器)20を通過する冷媒量が減少し、冷却出力が減少する。
本実施形態で採用する冷却装置18は、二元冷却構造を有し、一次側冷却回路30と二次側冷却回路31を備えている。これに加えて、一次側冷却回路30にカスケードコンデンサ37と並列に接続された蒸発器であって、低温槽内に配置される蒸発器を有するようにし、カスケードコンデンサ37には冷媒を流さずに当該蒸発器にのみ冷媒を流す一元運転を行うように構成しても良い。この場合、二次側冷却回路31を停止させる。
冷却装置18を一元運転することによって冷却出力が減少する。
低温側圧縮部41の圧縮機50、51をインバータ制御する等により、圧縮機50、51自体の冷媒吐出量を低下させ、冷却出力を減少させることも考えられる。
また試験温度入力手段によって、高温試験目標温度と、低温試験目標温度が入力される。ここで高温試験目標温度は、高温試験を実施する際における試験槽3の目標温度である。低温試験目標温度は、低温試験を実施する際における試験槽3の目標温度である。
さらに特有の構成として、制御装置70に温度勾配入力装置が接続されている。温度勾配入力装置は、希望する試験槽3の温度降下曲線に関する情報を入力するものである。例えば、単位時間当たりの降下温度の目標値が数値で入力される。あるいは、試験槽3内の温度が低温試験目標温度に達するまでの時間、が入力される。
より簡便な方法として、温度降下速度を「急」「中」「緩」という様に何段階かに区分して入力するものであってもよい。
本実施形態では、低温試験における単位時間当たりの降下温度の目標値が入力される。
これらは、いずれも入力されたセンサーの信号と目標値から、冷却装置18やヒーター15、23等をP.I.D.制御し、各槽の温度を目標値に収斂させるものである。
予冷目標温度決定手段は、試験温度入力手段から入力された低温試験目標温度と、温度勾配入力装置から入力された単位時間あたりの温度降下の目標値から、望ましい低温槽6の予冷目標温度を決定するものである。
本実施形態の環境試験装置1は、冷熱衝撃試験を行うことができる。また特有の機能として、通常の冷熱衝撃試験に比べて温度の変化勾配が緩い環境変化を実現することができる。
以下、比較的ゆるやかな環境変化を実現させる場合の動作について説明する。
また制御装置70に、希望する試験槽3の温度降下状況に関する情報が入力される。具体的には温度勾配入力装置から入力された単位時間あたりの温度降下の目標値が入力される。その結果、制御装置70の予冷目標温度決定手段によって、予冷運転時における低温槽6の目標温度(予冷目標温度PT)が演算される。
設例に従うと、予冷目標温度PTとして低温試験目標温度TTよりも高い温度が算出される。
また本実施形態では、制御装置70によって、試験槽3が低温試験目標温度TTに達するまでの予想時間が演算される。
そして図示しないスタートスイッチがONされると、低温槽6内で予冷運転が開始され、高温槽5内で予熱運転が開始される。
即ちステップ1に移行し、ダンパー(高温側開閉手段)10が閉じられる。同時にダンパー(低温側開閉手段)11も閉じられる。
即ち高温側送風機16の送風によって高温槽5内に溜められていた空気が試験槽3に流れ込み、試験槽3内の空気が高温槽5内の高温の空気と置換され、試験槽3内の温度は、図6の様に上昇する。
そしてステップ7で、試験槽3内の温度が、高温試験目標温度に到達するのを待つ。
試験槽3内の温度が、高温試験目標温度に到達すると、ステップ8で維持時間タイマーの計時が開始され、ステップ9で所定の高温さらし時間の経過を待つ。
そしてステップ12に移行し、ダンパー(低温側開閉手段)11が開かれたことを契機とし、低温槽6の目標温度が試験槽3の低温試験目標温度TTに切り換えられる。
即ち、ダンパー(低温側開閉手段)11が開かれたことを契機とし、冷却装置18等の運転が、追加冷却運転に切り替わる。
さらに続くステップ13では、冷却装置18の出力が制限される。
この様に追加冷却運転では、低温槽6の目標温度と、冷却装置18の出力が変更される。
さらにステップ14に移行し、温度勾配検知タイマーの計時が開始される。
しかしながら、この降下速度は比較的緩やかである。
即ち、低温槽6の目標温度が元の予冷目標温度PTから、試験槽3の低温試験目標温度TTに下げられるが、ステップ13で冷却装置18の出力が制限され、冷却装置18はフル出力よりも低い冷凍出力で運転される。
そのためダンパー(低温側開閉手段)11を開いて低温試験を開始してから、試験槽3内の温度が実際に低温試験目標温度TTに至るまでに、ある程度の時間がかかる。
試験槽3内の温度が、低温試験目標温度に到達するとステップ16で温度勾配検知タイマーの計時を終了する。そしてステップ17、ステップ18で、ダンパー(低温側開閉手段)11を開いてから低温試験目標温度TTに至るまでの実時間と、温度降下勾配の目標値から想定される低温試験目標温度TTに至るまでの予想時間を比較する。
即ちステップ17で、実時間と予想時間が同じであることが確認できればステップ21に移行する。
ステップ17で実時間と予定時間が同じでないならばステップ18に移行し、実時間が予想時間よりも短いか否かを比較する。実時間が予想時間よりも短い場合には、ステップ19に移行して、予冷目標温度PTを上昇させてステップ21に移行する。
ステップ18がNOであればステップ20に移行し、予冷目標温度を下方に修正してステップ21に移行する。
所定回数実施されていなければステップ6に戻り、再度高温試験と低温試験が繰り返される。
なお2回目の試験では、修正された予冷目標温度PTとなる様に低温槽6が制御される。2回目の試験では、修正された予冷目標温度PTに低温槽6が制御されるので、試験槽3が低温試験目標温度TTに至るまでの時間が、より目標到達時間に近いものとなる。
続く二回目の高温試験時には、低温槽6内が予冷運転され、目標温度が予冷目標温度PTに上がる。そのため、必要に応じて調整用ヒーター23が駆動される。
(1)予冷目標温度PTを低温試験目標温度TTよりも高くし、低温試験目標温度TTよりも高い温度の空気を試験槽3に導入して試験槽3内の温度をある程度低下させ、その後に冷却装置18によって試験槽3内の温度を低温試験目標温度TTに至らせる。
(2)試験槽3に低温槽6の空気を導入し、試験槽3内の温度を低温試験目標温度TTに至らせる際に、冷却装置18の出力を制限し、試験槽3内の温度低下を遅らせる。
(3)低温槽6内に蓄冷器26を設け、当該蓄冷器26を温度低下に際しての熱負荷とし、試験槽3内の温度低下を遅らせる。
例えば、予冷目標温度PTを低温試験目標温度TTよりも高くするだけでも試験槽3の温度が低温試験目標温度TTに至るのを遅らせることができる。
また試験槽3に低温槽6の空気を導入した後、冷却装置18の出力を制限するだけでも試験槽3の温度が低温試験目標温度TTに至るのを遅らせることができる。
変形例として、蓄冷器26の温度を故意に低温槽6の雰囲気温度よりも高くし、より大きな熱負荷として試験槽3内の温度低下を遅らせてもよい。
本方法によると、調整用ヒーター23の発熱によって冷却手段の冷却出力の一部が相殺されるので、低温槽6及び試験槽3の温度低下がより一層緩やかになる。
上記した実施形態の環境試験装置1は、全ての工程を制御装置70が内蔵するコンピュータプログラムによって実現しているが、いずれかの工程を手動で行ってもよい。
例えば、予冷目標温度PTの設定を手動で行ってもよい。
また、予熱目標温度を高温試験目標温度よりも低くする等し、温度上昇時の温度勾配が緩やかになるように制御する構成にしてもよい。
3 試験槽
5 高温槽
6 低温槽
18 冷却装置
70 制御装置
10a、10b 高温側ダンパー(高温側開閉手段)
11a、11b 低温側ダンパー(低温側開閉手段)
Claims (10)
- 内部の空気を昇温し当該昇温した空気を貯留する高温槽と、内部の空気を冷却する冷却手段を有し冷却した空気を貯留する低温槽と、被試験物を載置する試験槽と、前記高温槽と前記試験槽との間を開閉する高温側開閉手段と、前記低温槽と前記試験槽との間を開閉する低温側開閉手段を有し、前記高温側開閉手段を開いて前記高温槽と前記試験槽との間を連通し前記試験槽に前記高温槽内の空気を導入し高温環境に前記被試験物をさらす高温試験と、前記低温側開閉手段を開いて前記低温槽と前記試験槽との間を連通し前記試験槽に前記低温槽内の空気を導入し所定の低温試験目標温度の環境に前記被試験物をさらす低温試験を行うことが可能な環境試験装置において、
前記低温側開閉手段を閉じて前記低温槽内の空気の温度を調整する予冷運転が行われ、当該予冷運転時においては、前記低温槽に貯留される空気の温度を前記低温試験目標温度よりも高い温度に制御し、
前記低温側開閉手段を開いて前記低温槽内の空気を前記試験槽に導入し、
その後に前記試験槽内の温度を前記低温試験目標温度に至らせることを特徴とする環境試験装置。 - 前記予冷運転時において前記低温槽に貯留される空気の温度を前記低温試験目標温度以下に制御することも可能であり、
希望する前記試験槽の温度降下が急である場合には、前記予冷運転時において前記低温槽に貯留される空気の温度が前記低温試験目標温度以下に制御されることを特徴とする請求項1に記載の環境試験装置。 - 前記予冷運転時においては前記低温槽内の空気の温度が前記低温試験目標温度よりも高い温度に制御され、
前記低温側開閉手段を開いた後に、前記冷却手段によって前記試験槽内の空気の温度を前記低温試験目標温度に至らせる追加冷却運転が行われ、
前記冷却手段は、冷却出力を増減可能であり、
前記追加冷却運転時であって、希望する前記試験槽の温度降下が緩やかである場合には、希望する温度降下が急である場合に比べて前記冷却出力が絞られた状態で前記冷却手段が運転されることを特徴とする請求項1又は2に記載の環境試験装置。 - 内部の空気を昇温し当該昇温した空気を貯留する高温槽と、内部の空気を冷却する冷却手段を有し冷却した空気を貯留する低温槽と、被試験物を載置する試験槽と、前記高温槽と前記試験槽との間を開閉する高温側開閉手段と、前記低温槽と前記試験槽との間を開閉する低温側開閉手段を有し、前記高温側開閉手段を開いて前記高温槽と前記試験槽との間を連通し前記試験槽に前記高温槽内の空気を導入し高温環境に前記被試験物をさらす高温試験と、前記低温側開閉手段を開いて前記低温槽と前記試験槽との間を連通し前記試験槽に前記低温槽内の空気を導入し所定の低温試験目標温度の環境に前記被試験物をさらす低温試験を行うことが可能な環境試験装置において、
前記低温側開閉手段を閉じた状態で前記冷却手段によって前記低温槽内の空気の温度を制御する予冷運転と、
前記低温側開閉手段を開いた後に、前記冷却手段によって前記試験槽内の空気の温度を前記低温試験目標温度に至らせる追加冷却運転を行うものであり、
前記追加冷却運転時であって、希望する前記試験槽の温度降下が緩やかである場合には、希望する温度降下が急である場合に比べて前記冷却出力が絞られた状態で前記冷却手段が運転されること特徴とする環境試験装置。 - 前記低温側開閉手段を開いた後に、前記冷却手段によって前記試験槽内の空気の温度を前記低温試験目標温度に至らせる追加冷却運転を行うものであり、
ヒーターを有し、前記追加冷却運転時であって、前記試験槽の希望する温度降下が緩やかである場合には、前記ヒーターを駆動して前記冷却手段の前記冷却出力の一部を前記ヒーターの発熱で相殺することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の環境試験装置。 - 前記低温槽内に、熱容量を有する蓄熱器が設けられていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の環境試験装置。
- 前記蓄熱器を加熱する蓄熱器加熱手段を有し、前記蓄熱器の温度を前記低温槽内の空気温度よりも高い温度とすることが可能であることを特徴とする請求項6に記載の環境試験装置。
- 希望する温度降下に関する情報を入力可能であることを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の環境試験装置。
- 高温槽内に昇温した空気を貯留し、低温槽内に低温の空気を貯留し、試験槽内に被試験物を設置し、
前記高温槽内の空気を前記試験槽内に導入して前記被試験物を高温環境にさらす高温試験と、前記低温槽内の空気を前記試験槽内に導入し前記被試験物を低温試験目標温度の環境にさらす低温試験を行う環境試験方法において、
前記低温槽に貯留される空気の温度を前記低温試験目標温度よりも高い温度に制御し、前記試験槽内に前記低温槽内の空気を導入し、
その後に、前記試験槽内の温度を前記低温試験目標温度に至らせることを特徴とする環境試験方法。 - 高温槽内に昇温した空気を貯留し、低温槽内に低温の空気を貯留し、試験槽内に被試験物を設置し、
前記高温槽内の空気を前記試験槽内に導入して前記被試験物を高温環境にさらす高温試験と、前記低温槽内の空気を前記試験槽内に導入し前記被試験物を低温試験目標温度の環境にさらす低温試験を行う環境試験方法において、
前記低温槽内の空気を冷却する冷却手段を有し、前記低温槽から前記試験槽内に空気を導入した後、前記冷却手段によって前記試験槽内の温度を前記低温試験目標温度に至らせる追加冷却を行い、
前記追加冷却時であって、希望する前記試験槽の温度降下が緩やかである場合には、希望する温度降下が急である場合に比べて前記冷却手段の冷却出力が絞られた状態で前記冷却手段を運転することを特徴とする環境試験方法。
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