JP2020107384A - 磁気記録媒体用アルミニウム合金基板、磁気記録媒体用基板、磁気記録媒体、ハードディスクドライブ - Google Patents
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Abstract
Description
しかしながら、基板を薄くした場合、アルミニウム合金基板は、ガラス基板に比べ、フラッタリングを生じやすい問題がある。
フラッタリングとは、磁気記録媒体を高速回転させた場合に生じる磁気記録媒体のばたつきであり、フラッタリングが大きくなると、ハードディスクドライブの磁気情報を安定して読み取ることが困難になる。
まず、アルミニウム合金鋳塊を圧延して、厚さ2mm以下程度のアルミニウム合金板材を得、このアルミニウム合金板材を円盤状に打ち抜いて所望の寸法とする。
次に、打ち抜かれたアルミニウム合金板材の円盤に対し、内外径の面取り加工およびデータ面の旋削加工を施す。その後、アルミニウム合金板材の表面粗さやうねりを下げるために、砥石による研削加工を施し、アルミニウム合金基板とする。次いで、表面硬さの付与と表面欠陥の抑制を目的として、アルミニウム合金基板の表面にNiPなどのニッケル合金めっきを施す。次に、ニッケル合金めっき被膜が形成されたアルミニウム合金基板の両面(データ面)に対し、研磨加工を施す。
特許文献3には、0.5質量%以上24.0質量%以下のSiと、0.01質量%以上3.00質量%以下のFeとを含有し、残部Alと不可避的不純物からなる磁気ディスク用アルミニウム合金基板が開示されている。
すなわち、本発明は、前記の課題を解決するため、以下の手段を提供する。
図1は、本実施形態に係る磁気記録媒体用アルミニウム合金基板の一例を示す断面模式図である。
図1に示すように、磁気記録媒体用アルミニウム合金基板1は、粗大結晶粒子2が分散されている。粗大結晶粒子2は、磁気記録媒体用アルミニウム合金基板1の剛性を向上させる作用がある。
磁気記録媒体用アルミニウム合金基板1は、例えば、アルミニウム合金鋳塊を作製する鋳造工程と、アルミニウム合金鋳塊を板状に圧延してアルミニウム合金板材を得る圧延工程と、アルミニウム合金板材を磁気記録媒体用アルミニウム合金基板1に成形する加工工程とを含む方法によって製造することができる。
鋳造工程では、アルミニウム合金を鋳造して、アルミニウム合金鋳塊を作製する。
アルミニウム合金を鋳造する方法としては、例えば、ダイレクトチル鋳造法(DC鋳造法)あるいは連続鋳造法(CC)などのアルミニウム合金の鋳塊方法として用いられている公知の方法を用いることができる。ダイレクトチル鋳造法とは、アルミニウム合金の溶湯を、鋳型に注湯し、その後鋳型を直接冷却水に接触させて、アルミニウム合金鋳塊を鋳造する方法である。連続鋳造法とは、アルミニウム合金の溶湯を連続的に鋳型に注湯して、鋳型内で急速冷却する方法である。
圧延工程では、上記の鋳造工程で得られたアルミニウム合金鋳塊を板状に圧延してアルミニウム合金板材を得る。圧延方法としては、特に制限はなく、熱間圧延法および冷間圧延法を用いることができる。圧延の条件によって、アルミニウム合金板材の粗大結晶粒子の粒子径を調整することができる。圧延の条件には、特に制限はなく、アルミニウム合金鋳塊の圧延で行われている通常の条件とすることができる。
加工工程では、まず、上記圧延工程で得られたアルミニウム合金板材を円盤状に打ち抜いて、アルミニウム合金円盤を得る。次いで、アルミニウム合金円盤を300℃以上500℃以下の温度で、0.5時間以上5時間以下の範囲内で加熱して、焼鈍する。焼鈍を行うことによって、アルミニウム合金円盤に内在する歪を緩和し、得られるアルミニウム合金基板の剛性を適正な範囲内に調整することができる。次に、焼鈍したアルミニウム合金円盤の表面、端面を、切削工具を用いて切削加工する。なお、焼鈍は切削加工後に行ってもよい。
図2は、本実施形態に係る磁気記録媒体用基板の一例を示す断面模式図である。
図2に示すように、磁気記録媒体用基板10は、磁気記録媒体用アルミニウム合金基板1と、磁気記録媒体用アルミニウム合金基板1の少なくとも一方の表面に形成されているニッケル合金めっき被膜3とを有する。磁気記録媒体用アルミニウム合金基板1は、上述の本実施形態の磁気記録媒体用アルミニウム合金基板である。
このため、本実施形態では、ニッケル合金めっき被膜3の厚さを4μm以上15μm以下の範囲内と設定している。
本実施形態の磁気記録媒体用基板10は、例えば、アルミニウム合金基板11にめっき法によってニッケル合金めっき被膜3を形成するめっき工程と、ニッケル合金めっき被膜付アルミニウム合金基板の表面に対して研磨加工を施す研磨加工工程とを含む方法によって製造することができる。
めっき工程において、アルミニウム合金基板11にニッケル合金めっき被膜3を形成する方法としては、無電解めっき法を用いることが好ましい。ニッケル合金からなるめっき被膜は、従来から使用されている方法を用いて形成することができる。NiP合金めっき被膜形成用のめっき液としては、例えば、ニッケル源として硫酸ニッケルを含み、リン源として次亜リン酸塩を含むめっき液を用いることができる。NiWP合金めっき被膜形成用のめっき液としては、上記のNiP合金めっき被膜形成用のめっき液に、タングステン塩を添加しためっき液を用いることができる。タングステン塩としては、例えば、タングステン酸ナトリウム、タングステン酸カリウム、タングステン酸アンモニウム等を用いることができる。
研磨加工工程では、めっき工程で得られたニッケル合金めっき被膜付アルミニウム合金基板の表面を研磨する。研磨加工工程は、平滑で、傷が少ないといった表面品質の向上と生産性の向上との両立の観点から、複数の独立した研磨盤を用いた2段階以上の研磨工程を有する多段階研磨方式を採用するのが好ましい。例えば、第1の研磨盤を用いて、アルミナ砥粒を含む研磨液を供給しながら研磨する粗研磨工程と、研磨されたアルミニウム合金基板を洗浄した後に、第2の研磨盤を用いて、コロイダルシリカ砥粒を含む研磨液を供給しながら研磨する仕上げ研磨工程を行う。
図3に示すように、第1及び第2の研磨盤20は、上下一対の定盤21、22を備え、互いに逆向きに回転する定盤21、22の間で複数枚の基板Wを挟み込みながら、これら基板Wの両面を定盤21、22に設けられた研磨パッド23により研磨する。
図4は、本実施形態に係る磁気記録媒体の一例を示す断面模式図である。
図4に示すように、磁気記録媒体30は、上述の磁気記録媒体用基板10と、磁気記録媒体用基板10のニッケル合金めっき被膜3の表面に備えられている磁性層31とを含む。磁性層31の表面には、さらに、保護層32と潤滑剤層33とがこの順序で積層されている。
磁性層31の厚みは、5〜25nmとすることが好ましい。
保護層32の膜厚は1nm以上10nm以下の範囲内であることが好ましい。
潤滑剤層33の膜厚は0.5nm以上2nm以下の範囲内であることが好ましい。
図5は、本実施形態に係るハードディスクドライブの一例を示す斜視図である。
図5に示すように、ハードディスクドライブ40は、上述の磁気記録媒体30と、磁気記録媒体30を記録方向に駆動する媒体駆動部41と、記録部と再生部からなる磁気ヘッド42と、磁気ヘッド42を磁気記録媒体30に対して相対移動させるヘッド移動部43と、磁気ヘッド42からの記録再生信号の処理を行う記録再生信号処理部44とを具備する。ハードディスクドライブ40は、3.5インチ型のハードディスクドライブである。
[アルミニウム合金板材]
Al原料として純Al塊、Si、Fe、Mn、Cu、Mg、Zn、Sr、Zr、Ti、Ni、Crを用意した。なお、純Al塊、Si、Fe、Mn、Cu、Mg、Zn、Sr、Zr、Ti、Ni、Crの各原料については、純度が99.9質量%以上のものを用意した。
B法では、切削工具として、焼結性ダイヤモンド製のものを用い、切削油として、不水切削油を用いた。
得られたアルミニウム合金基板について、以下の項目を評価した。その結果を表1に示す。
粗大結晶粒子の平均粒子径及び面積0.042mm2当たりの粗大結晶粒子の個数は、走査型電子顕微鏡(SEM)を用いて測定した。アルミニウム合金基板の表面に、1辺が0.205mm(0.042mm2)の正方形の測定範囲を決め、この測定範囲を、SEMを用いて500倍に拡大して、粗大結晶粒子の個数と粒子径とを、画像解析ソフト(WinROOF(Ver6.5))を用いて計測した。この粗大結晶粒子の個数と粒子径を4カ所で測定し、その平均を、粗大結晶粒子の平均個数と平均粒子径とした。
ヤング率Eは、日本工業規格JIS Z 2280−1993(金属材料の高温ヤング率試験方法)に規定された方法に基づいて、常温で測定した。なお、ヤング率は、アルミニウム合金基板を、長さ50mm、幅10mm、厚さ0.49mmの短冊状に切り出し、これを試験片として測定した。
密度ρは、アルキメデス法により測定した。
上記のようにして測定したヤング率E(単位:GPa)と密度ρ(g/cm3)との比を算出した。
表面粗さRaは、触針式の表面粗さ測定器(サーフテストSurftest ミツトヨ製)を用いて測定した。
実施例1〜4、比較例1〜5で作製したアルミニウム合金基板をNiP合金めっき液に浸漬し、無電解めっき法を用いてアルミニウム合金基板の表面に、NiP合金めっき被膜としてNi88P12(Pの含有量12質量%、残部Ni)膜を形成した。
次いで、NiP合金めっき被膜を形成したアルミニウム合金基板を250℃で15分間加熱して、NiP合金めっき被膜付アルミニウム合金基板を得た。
得られた磁気記録媒体用基板について、以下の項目を評価した。その結果を、下記の表2に示す。
NiP合金めっき被膜の厚さは、XRF(X−ray Fluorescence Analysis)を用いて測定した。
フラッタリング特性はNRROを測定して評価した。NRROは磁気記録媒体用基板を10000rpmで1分間回転させ、磁気記録媒体用基板の最外周面で生ずるフラッタリングによる変位の幅を、He−Neレーザー変位計を用いて測定し、得られた変位の幅の最大値をNRROとした。
NRROが3.4以下であったものを「○」とし、3.4を超えるものを「×」として評価した。
レーザーを用いた自動表面欠陥検査装置(Automated Optical Inspection machine)によって、めっき欠陥の有無を評価した。表面上に1個以上のめっき欠陥が検出された場合を×、全く検出されない場合を○とした。
Claims (4)
- 平均粒子径が2μmを超え20μm以下の範囲内にある粗大結晶粒子が分散されていて、面積0.042mm2当たりの前記粗大結晶粒子の平均個数が100個以上であり、かつ表面粗さRaが0.2μm以下であることを特徴とする磁気記録媒体用アルミニウム合金基板。
- アルミニウム合金基板と、前記アルミニウム合金基板の少なくとも一方の表面に形成されているニッケル合金めっき被膜とを有する磁気記録媒体用基板であって、
前記アルミニウム合金基板が、請求項1に記載の磁気記録媒体用アルミニウム合金基板であり、前記ニッケル合金めっき被膜は、厚さが4μm以上15μm以下の範囲内にあることを特徴とする磁気記録媒体用基板。 - 磁気記録媒体用基板と、前記磁気記録媒体用基板の表面に備えられている磁性層とを有する磁気記録媒体であって、
前記磁気記録媒体用基板が、請求項2に記載の磁気記録媒体用基板であって、前記磁性層が、前記磁気記録媒体用基板の前記ニッケル合金めっき被膜が形成されている側の表面に備えられていることを特徴とする磁気記録媒体。 - 磁気記録媒体を具備したハードディスクドライブであって、
前記磁気記録媒体が請求項3に記載の磁気記録媒体であることを特徴とするハードディスクドライブ。
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