JP2020092774A5 - 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム - Google Patents

Description

本発明の一態様に係る画像処理装置は、複数の画素を含む放射線検出手段から出力される放射線画像を処理する画像処理装置であって、
被写体を撮影するための撮影プロトコルを取得する撮影プロトコル取得手段と、
放射線が前記被写体を介さずに前記放射線検出手段に到達する領域である直接線領域であって、前記放射線画像において前記直接線領域があると判定された場合には、前記放射線画像における前記直接線領域の少なくとも一つの画素値を用いて、放射線の線量情報を取得し、前記放射線画像において前記直接線領域がないと判定された場合には、前記放射線画像の少なくとも一つの画素値と、前記撮影プロトコルに基づいて取得された情報とを用いて、放射線の線量情報を推定する線量取得手段と、を備えることを特徴とする。

本発明の他の態様に係る画像処理方法は、複数の画素を含む放射線検出手段から出力される放射線画像を処理する画像処理方法であって、
被写体を撮影するための撮影プロトコルを取得する工程と、
放射線が前記被写体を介さずに前記放射線検出手段に到達する領域である直接線領域であって、前記放射線画像において前記直接線領域があると判定された場合には、前記放射線画像における前記直接線領域の少なくとも一つの画素値を用いて、放射線の線量情報を取得し、前記放射線画像において前記直接線領域がないと判定された場合には、前記放射線画像の少なくとも一つの画素値と、前記撮影プロトコルに基づいて取得された情報とを用いて、放射線の線量情報を推定する工程と、
を有することを特徴とする。

Claims (20)

1. 複数の画素を含む放射線検出手段から出力される放射線画像を処理する画像処理装置であって、
   被写体を撮影するための撮影プロトコルを取得する撮影プロトコル取得手段と、
   放射線が前記被写体を介さずに前記放射線検出手段に到達する領域である直接線領域であって、前記放射線画像において前記直接線領域があると判定された場合には、前記放射線画像における前記直接線領域の少なくとも一つの画素値を用いて、放射線の線量情報を取得し、前記放射線画像において前記直接線領域がないと判定された場合には、前記放射線画像の少なくとも一つの画素値と、前記撮影プロトコルに基づいて取得された情報とを用いて、放射線の線量情報を推定する線量取得手段と、
   を備えることを特徴とする画像処理装置。
2. 前記線量取得手段は、放射線発生手段から前記放射線検出手段に放射線が直接到達する前記直接線領域を前記放射線画像の画素値に基づいて判定する領域判定処理を行うことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記線量取得手段は、飽和画素値の基準値と、前記直接線領域における画素値とを比較し、当該直接線領域における画素値が基準値以上である場合、当該直接線領域の画素値は飽和していると判定し、前記直接線領域における画素値が基準値未満の場合、当該直接線領域の画素値は飽和していないと判定することを特徴とする請求項１または２に記載の画像処理装置。
4. 前記線量取得手段は、前記放射線画像において前記直接線領域があると判定された場合で、かつ、前記直接線領域の少なくとも一つの画素値が飽和していないと判定された場合、前記放射線画像の少なくとも一つの画素値を統計処理した情報を用いて、前記放射線検出手段に到達した放射線の到達線量または到達線量に相当する画素値を、前記線量情報として取得することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
5. 前記線量取得手段は、前記放射線画像において前記直接線領域があると判定された場合で、かつ、前記直接線領域の少なくとも一つの画素値が飽和していると判定された場合、前記放射線画像の少なくとも一つの画素値と、前記撮影プロトコルに基づいて取得した減衰特性とを用いて、前記放射線検出手段に到達した放射線の到達線量または到達線量に相当する画素値を、前記線量情報として推定することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
6. 前記線量取得手段は、前記減衰特性を、前記撮影プロトコルに基づいて取得した体厚情報と線質情報に基づいて、被写体の減衰率と空気の減衰率を取得することを特徴とする請求項５に記載の画像処理装置。
7. 前記線量取得手段は、前記放射線画像の少なくとも一つの画素値を、ＥＩ値に基づいて取得することを特徴とする請求項５または６に記載の画像処理装置。
8. 前記線量取得手段は、前記撮影プロトコルにより設定された撮影部位と撮影方向に対応した散乱線の影響を補正する補正係数に基づいて補正した到達線量または到達線量に相当する画素値を取得することを特徴とする請求項５乃至７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
9. 複数の画素を含む放射線検出手段から出力される放射線画像を処理する画像処理装置であって、
   被写体を撮影するための撮影プロトコルを取得する撮影プロトコル取得手段と、
   前記放射線画像の特徴量と、前記撮影プロトコルから取得した情報とに基づいて、放射線の線量情報を取得する線量取得手段と、
   を備えることを特徴とする画像処理装置。
10. 前記情報は、前記被写体の体厚情報および放射線の線質情報であることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の画像処理装置。
11. 前記線量取得手段は、前記線量情報として、前記放射線検出手段に到達した放射線の到達線量または到達線量に相当する画素値を取得することを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の画像処理装置。
12. 前記撮影プロトコルに基づいて前記被写体の体厚情報を取得する体厚情報取得手段を更に備えることを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の画像処理装置。
13. 前記体厚情報取得手段は、前記撮影プロトコルに含まれる前記被写体の撮影部位または撮影方向に対応づけられた前記体厚情報を取得することを特徴とする請求項１２に記載の画像処理装置。
14. 前記撮影プロトコルと前記体厚情報とを対応づける体厚情報テーブルを記憶する記憶手段を更に備えることを特徴とする請求項１２または１３に記載の画像処理装置。
15. 前記体厚情報取得手段は、前記撮影プロトコルに含まれる撮影部位と撮影方向を特定し、当該特定した撮影部位と撮影方向に対応する体厚情報を、体厚情報テーブルの参照により取得することを特徴とする請求項１２乃至１４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
16. 前記撮影プロトコルに基づいて、前記放射線の線質情報を取得する線質情報取得手段を更に備えることを特徴とする請求項１乃至１５のいずれか１項に記載の画像処理装置。
17. 前記線質情報取得手段は、前記撮影プロトコルに含まれる管電圧またはフィルタの種類に基づいて、予め設定されたスペクトル特性のテーブルから取得した前記放射線のスペクトル特性の情報を前記放射線の線質情報として取得することを特徴とする請求項１６に記載の画像処理装置。
18. 前記線量取得手段で取得した線量情報に基づいて放射線画像の散乱線を低減する散乱線低減処理を行う散乱線低減手段を更に備えることを特徴とする請求項１乃至１７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
19. 複数の画素を含む放射線検出手段から出力される放射線画像を処理する画像処理方法であって、
    被写体を撮影するための撮影プロトコルを取得する工程と、
    放射線が前記被写体を介さずに前記放射線検出手段に到達する領域である直接線領域であって、前記放射線画像において前記直接線領域があると判定された場合には、前記放射線画像における前記直接線領域の少なくとも一つの画素値を用いて、放射線の線量情報を取得し、前記放射線画像において前記直接線領域がないと判定された場合には、前記放射線画像の少なくとも一つの画素値と、前記撮影プロトコルに基づいて取得された情報とを用いて、放射線の線量情報を推定する工程と、
    を有することを特徴とする画像処理方法。
20. コンピュータを、請求項１乃至１８のいずれか１項に記載の画像処理装置の各手段として機能させるプログラム。