JP2020091942A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020091942A5 JP2020091942A5 JP2018226567A JP2018226567A JP2020091942A5 JP 2020091942 A5 JP2020091942 A5 JP 2020091942A5 JP 2018226567 A JP2018226567 A JP 2018226567A JP 2018226567 A JP2018226567 A JP 2018226567A JP 2020091942 A5 JP2020091942 A5 JP 2020091942A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plasma processing
- electrode
- processing apparatus
- exposed surface
- susceptor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 210000002381 Plasma Anatomy 0.000 claims 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 4
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims 1
Claims (9)
- プラズマ処理容器と、
前記プラズマ処理容器内に配置され、基板載置領域を有するサセプタと、
前記サセプタの上方に配置される上部電極であり、前記サセプタと前記上部電極との間にプラズマ処理空間が規定され、前記上部電極は、内側電極と前記内側電極を取り囲む外側電極とを含み、前記外側電極は、前記内側電極から電気的に絶縁され、前記内側電極は、前記プラズマ処理空間に露出する内側露出面を有し、前記外側電極は、前記プラズマ処理空間に露出する外側露出面を有し、前記外側露出面の少なくとも一部は、前記内側露出面の上方に配置される、上部電極と、
前記外側電極に第1の可変直流電圧を印加する第1の直流給電部と、
を有する、プラズマ処理装置。 - 前記外側露出面は、径方向外向きのテーパ状突起を有する請求項1に記載のプラズマ処理装置。
- 前記内側露出面は、径方向内向きのテーパ状突起を有する請求項1または2に記載のプラズマ処理装置。
- 前記外側電極を保持するクランプと、
前記クランプの下部および外側側面に隣接配置される接地ブロックと、
をさらに備える請求項1から3のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。 - 前記外側露出面は、前記内側露出面から約3mm高い環状面を有する請求項1から4のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 前記サセプタの前記基板載置領域上に載置された基板を取り囲むように配置される環状部材をさらに有し、
前記環状部材は、360mmから380mmの範囲内の外径を持つ請求項1から5のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。 - 前記内側電極に第2の可変直流電圧を印加する第2の直流給電部をさらに備える請求項1から6のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- バイアス高周波電力を前記サセプタに印加するバイアス高周波給電部をさらに備える請求項1から7のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 請求項1から8のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置を用いて、プラズマ処理時の電子密度のピークを、前記サセプタに載置された基板の外周上または外周よりも径方向外側に生じさせるプラズマ処理方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018226567A JP7142551B2 (ja) | 2018-12-03 | 2018-12-03 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 |
TW108142287A TW202109603A (zh) | 2018-12-03 | 2019-11-21 | 電漿處理裝置及電漿處理方法 |
KR1020190158360A KR20200067104A (ko) | 2018-12-03 | 2019-12-02 | 플라즈마 처리 장치 및 플라즈마 처리 방법 |
US16/699,953 US10847348B2 (en) | 2018-12-03 | 2019-12-02 | Plasma processing apparatus and plasma processing method |
CN201911220416.3A CN111261511A (zh) | 2018-12-03 | 2019-12-03 | 等离子体处理装置和等离子体处理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018226567A JP7142551B2 (ja) | 2018-12-03 | 2018-12-03 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020091942A JP2020091942A (ja) | 2020-06-11 |
JP2020091942A5 true JP2020091942A5 (ja) | 2021-09-16 |
JP7142551B2 JP7142551B2 (ja) | 2022-09-27 |
Family
ID=70850601
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018226567A Active JP7142551B2 (ja) | 2018-12-03 | 2018-12-03 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10847348B2 (ja) |
JP (1) | JP7142551B2 (ja) |
KR (1) | KR20200067104A (ja) |
CN (1) | CN111261511A (ja) |
TW (1) | TW202109603A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7378276B2 (ja) * | 2019-11-12 | 2023-11-13 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置 |
KR20220040804A (ko) * | 2020-09-24 | 2022-03-31 | 삼성전자주식회사 | 플라즈마 처리 장치 및 플라즈마 처리 방법 |
KR20240063924A (ko) * | 2021-09-29 | 2024-05-10 | 램 리써치 코포레이션 | 에지 용량성 커플링 플라즈마 (capacitively coupled plasma, ccp) 챔버 구조체 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000208483A (ja) | 1999-01-08 | 2000-07-28 | Mitsubishi Electric Corp | ウェハ処理装置及びウェハ処理方法 |
JP4482308B2 (ja) | 2002-11-26 | 2010-06-16 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
JP2005303099A (ja) * | 2004-04-14 | 2005-10-27 | Hitachi High-Technologies Corp | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 |
US7951262B2 (en) * | 2004-06-21 | 2011-05-31 | Tokyo Electron Limited | Plasma processing apparatus and method |
JP4672456B2 (ja) * | 2004-06-21 | 2011-04-20 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置 |
JP4642528B2 (ja) * | 2005-03-31 | 2011-03-02 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 |
US7993489B2 (en) * | 2005-03-31 | 2011-08-09 | Tokyo Electron Limited | Capacitive coupling plasma processing apparatus and method for using the same |
US20080006205A1 (en) * | 2006-07-10 | 2008-01-10 | Douglas Keil | Apparatus and Method for Controlling Plasma Potential |
JP2009239012A (ja) | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置及びプラズマエッチング方法 |
JP5484981B2 (ja) * | 2010-03-25 | 2014-05-07 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板載置台及び基板処理装置 |
JP5982206B2 (ja) * | 2012-07-17 | 2016-08-31 | 東京エレクトロン株式会社 | 下部電極、及びプラズマ処理装置 |
JP5695117B2 (ja) * | 2013-04-04 | 2015-04-01 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマエッチング方法 |
JP2016522539A (ja) | 2013-04-17 | 2016-07-28 | 東京エレクトロン株式会社 | 均一なプラズマ密度を有する容量結合プラズマ装置 |
JP2016184610A (ja) * | 2015-03-25 | 2016-10-20 | 株式会社東芝 | 上部電極、エッジリングおよびプラズマ処理装置 |
JP6643950B2 (ja) * | 2016-05-23 | 2020-02-12 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理方法 |
US10109478B2 (en) * | 2016-09-09 | 2018-10-23 | Lam Research Corporation | Systems and methods for UV-based suppression of plasma instability |
-
2018
- 2018-12-03 JP JP2018226567A patent/JP7142551B2/ja active Active
-
2019
- 2019-11-21 TW TW108142287A patent/TW202109603A/zh unknown
- 2019-12-02 KR KR1020190158360A patent/KR20200067104A/ko active Search and Examination
- 2019-12-02 US US16/699,953 patent/US10847348B2/en active Active
- 2019-12-03 CN CN201911220416.3A patent/CN111261511A/zh active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4676074B2 (ja) | フォーカスリング及びプラズマ処理装置 | |
JP2020091942A5 (ja) | ||
JP6894000B2 (ja) | 静電チャックアセンブリ及び静電チャック | |
JP2007250967A5 (ja) | ||
JP2017092448A5 (ja) | エッジリングアセンブリおよびプラズマ処理のためのシステム | |
JP5035884B2 (ja) | 熱伝導シート及びこれを用いた被処理基板の載置装置 | |
US10100408B2 (en) | Edge hump reduction faceplate by plasma modulation | |
TWI611457B (zh) | 電漿處理設備、其清洗系統以及控制方法 | |
CN106876315B (zh) | 压环、预清洗腔室及半导体加工设备 | |
US9117630B2 (en) | Insulation structure of high voltage electrodes for ion implantation apparatus | |
JP2017028111A5 (ja) | ||
JP2014017292A5 (ja) | ||
JP2016127090A5 (ja) | ||
JP2020107881A5 (ja) | ||
TW201508806A (zh) | 等離子體處理裝置 | |
JP3225492U (ja) | プラズマエッチングチャンバ内の汚染を低減する装置 | |
JP2017120781A5 (ja) | ||
TWI581328B (zh) | Inductively Coupled Plasma Paste Processing Device and Plasma Etch Etching Method | |
JP5601794B2 (ja) | プラズマエッチング装置 | |
JP2020096136A5 (ja) | ||
TW201503281A (zh) | 等離子體處理裝置及其靜電夾盤 | |
JP2020077654A5 (ja) | ||
CN112992635B (zh) | 一种晶圆固定装置及其形成方法、等离子体处理设备 | |
US11488852B2 (en) | Methods and apparatus for reducing high voltage arcing in semiconductor process chambers | |
JP5064085B2 (ja) | プラズマ処理装置 |