JP2020088312A - Substrate processing device, and substrate processing method - Google Patents

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Abstract

To easily customize processing to be applied to a substrate in a substrate processing device.SOLUTION: A substrate processing device comprises two or more liquid medicine processing units, a storage unit and a control unit. Each of the liquid medicine processing units includes a processing tab and a liquid supply section. In the processing tab, processing is applied to a substrate by a process liquid. The liquid supply section supplies the process liquid to the processing tab. The storage unit stores numerical information relating to the quantity of process liquid to be supplied per unit processing amount of the substrate for each liquid medicine processing unit. The control unit includes an acquisition section, a recognition section, calculation section and a supply control section. The calculation section calculates a numerical value relating to the quantity of the process liquid to be supplied to the processing tab of one liquid medicine processing unit on the basis of a numerical value relating to the quantity of process liquid to be supplied per unit processing amount of the substrate corresponding to one liquid medicine processing unit, which is recognized in the numerical information by the recognition section, and a processing information which is acquired by the acquisition section.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、半導体ウエハ、液晶ディスプレイ用基板、プラズマディスプレイ用基板、有機EL用基板、FED(Field Emission Display)用基板、光ディスプレイ用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板および太陽電池用基板などの基板に対して処理液によってエッチング処理および洗浄処理を施す技術に関する。 The present invention is for a semiconductor wafer, a liquid crystal display substrate, a plasma display substrate, an organic EL substrate, an FED (Field Emission Display) substrate, an optical display substrate, a magnetic disk substrate, a magneto-optical disk substrate, and a photomask. The present invention relates to a technique of performing etching treatment and cleaning treatment on a substrate and a substrate such as a solar cell substrate with a treatment liquid.

例えば、処理槽に貯留された処理液に基板を浸漬させることで基板に処理を施す基板処理装置がある(例えば、特許文献1など)。この基板処理装置では、例えば、基板に対する処理などを規定するレシピに従って、基板に対する各種の動作および処理を実行する。 For example, there is a substrate processing apparatus that processes a substrate by immersing the substrate in a processing liquid stored in a processing tank (for example, Patent Document 1). In this substrate processing apparatus, for example, various operations and processes are performed on a substrate according to a recipe that defines a process for the substrate.

このような基板処理装置には、例えば、同一の処理を基板に施すための複数の処理槽を有し、同一のレシピに従って、複数の処理槽において並行して基板に同一の処理を施すものがある。 Such a substrate processing apparatus has, for example, a plurality of processing tanks for performing the same processing on a substrate, and performs the same processing on the substrates in parallel in the plurality of processing tanks according to the same recipe. is there.

特開2009−260257号公報JP, 2009-260257, A

ところで、複数の処理槽が同一の構成を有していても、例えば、使用年数、配管の状況、振動や温度などの外的要因、使用回数ならびに配置などの差によって、複数の処理槽において基板に対して同一の処理を施した結果に差が生じ得る。 By the way, even if a plurality of processing tanks have the same configuration, due to, for example, the years of use, the condition of the piping, external factors such as vibration and temperature, the number of times of use and the difference in arrangement, the substrates in the plurality of processing tanks are different. There may be a difference in the result of applying the same processing to.

また、近年では、例えば、基板に施す処理に対する細かな要求が多くなる傾向がある。それに伴って、レシピの内容が複雑化し、レシピの作成および編集を行う作業が徐々に難しくなってきている。 Further, in recent years, for example, there is a tendency that there are many small requests for processing performed on a substrate. Accompanying this, the contents of recipes have become complicated, and the work of creating and editing recipes has become increasingly difficult.

これらの問題は、処理槽に貯留された処理液に基板を浸漬させることで基板に処理を施す、いわゆるバッチ式の基板処理装置に限られず、ノズルから基板に処理液を吐出して処理液を用いた処理を基板に施す、いわゆる枚葉式の基板処理装置など、基板処理装置一般にも生じ得る。 These problems are not limited to the so-called batch type substrate processing apparatus in which the substrate is processed by immersing the substrate in the processing liquid stored in the processing tank. It can occur in general substrate processing apparatuses, such as a so-called single-wafer type substrate processing apparatus that performs the used processing on a substrate.

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、基板処理装置において基板に施す処理に対するカスタマイズを容易に実行可能な技術を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a technique capable of easily customizing a process performed on a substrate in a substrate processing apparatus.

上記課題を解決するために、第1の態様に係る基板処理装置は、2つ以上の薬液処理部と、記憶部と、制御部と、を備える。前記2つ以上の薬液処理部のそれぞれは、処理槽と、液供給部と、を有する。前記処理槽は、貯留された処理液で基板に処理を施す。前記液供給部は、前記処理槽に処理液を供給する。前記記憶部は、各前記薬液処理部について基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値情報を記憶する。前記制御部は、取得部と、認識部と、算出部と、供給制御部と、を有する。前記取得部は、処理の対象となる基板の処理量に係る処理量情報を取得する。前記認識部は、前記2つ以上の薬液処理部のうちの基板に処理を施すために使用する1つの薬液処理部を認識する。前記算出部は、前記数値情報のうちの前記認識部で認識された前記1つの薬液処理部に対応する基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値と、前記取得部で取得された前記処理量情報と、に基づいて、前記1つの薬液処理部の処理槽に供給する処理液の供給量に係る数値を算出する。前記供給制御部は、前記算出部で算出された数値に応じて、前記1つの薬液処理部において前記液供給部によって処理液を前記処理槽に供給させる。 In order to solve the above problems, the substrate processing apparatus according to the first aspect includes two or more chemical liquid processing units, a storage unit, and a control unit. Each of the two or more chemical liquid processing units has a processing tank and a liquid supply unit. The processing bath processes the substrate with the stored processing liquid. The liquid supply unit supplies a processing liquid to the processing tank. The storage unit stores numerical information regarding the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate for each of the chemical liquid processing units. The control unit includes an acquisition unit, a recognition unit, a calculation unit, and a supply control unit. The acquisition unit acquires processing amount information regarding a processing amount of a substrate to be processed. The recognition unit recognizes one of the two or more chemical liquid processing units, which is used for processing the substrate. The calculation unit acquires a numerical value related to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate corresponding to the one chemical liquid processing unit recognized by the recognition unit in the numerical information, and the acquisition unit acquiring the numerical value. A numerical value relating to the supply amount of the processing liquid supplied to the processing tank of the one chemical liquid processing unit is calculated based on the processing amount information. The supply control unit causes the liquid supply unit to supply the processing liquid to the processing tank in the one chemical liquid processing unit according to the numerical value calculated by the calculation unit.

第2の態様に係る基板処理装置は、第1の態様に係る基板処理装置であって、基板の処理量を計測するためのセンサ部、をさらに備える。前記取得部は、前記センサ部による計測結果に基づいて、前記処理量情報を取得する。 The substrate processing apparatus according to the second aspect is the substrate processing apparatus according to the first aspect, further including a sensor unit for measuring the processing amount of the substrate. The acquisition unit acquires the processing amount information based on the measurement result of the sensor unit.

第3の態様に係る基板処理装置は、第1または第2の態様に係る基板処理装置であって、前記記憶部は、前記数値情報を含み、処理の条件を既定するレシピを記憶する。 A substrate processing apparatus according to a third aspect is the substrate processing apparatus according to the first or second aspect, wherein the storage unit stores a recipe that includes the numerical information and defines processing conditions.

第4の態様に係る基板処理装置は、第3の態様に係る基板処理装置であって、前記数値情報は、前記2つ以上の薬液処理部に対する、基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る基準値と、前記2つ以上の薬液処理部のうちの少なくとも1つの薬液処理部に対する、基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る調整値と、を含む。前記算出部は、前記数値情報のうち、前記基準値および前記認識部で認識された前記1つの薬液処理部に対応する前記調整値と、前記取得部で取得された前記処理量情報と、に基づいて、前記1つの薬液処理部において前記処理槽に供給する処理液の供給量に係る数値を算出する。 A substrate processing apparatus according to a fourth aspect is the substrate processing apparatus according to the third aspect, wherein the numerical information is supplied to the two or more chemical liquid processing units with a processing liquid per unit processing amount of the substrate. A reference value related to the amount and an adjustment value related to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate with respect to at least one chemical processing unit of the two or more chemical processing units. In the numerical value information, the adjustment value corresponding to the reference value and the one chemical liquid processing unit recognized by the recognition unit, and the processing amount information acquired by the acquisition unit, among the numerical information, Based on this, the numerical value relating to the supply amount of the processing liquid supplied to the processing tank is calculated in the one chemical liquid processing unit.

第5の態様に係る基板処理装置は、第3または第4の態様に係る基板処理装置であって、前記レシピは、前記処理槽に対して前記液供給部によって処理液を供給するタイミングを規定している。 A substrate processing apparatus according to a fifth aspect is the substrate processing apparatus according to the third or fourth aspect, wherein the recipe defines a timing of supplying the processing liquid to the processing bath by the liquid supply unit. is doing.

第6の態様に係る基板処理装置は、第3から第5の何れか1つの態様に係る基板処理装置であって、ユーザの動作に応答して信号を入力する入力部、をさらに備える。前記制御部は、ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記数値情報に含まれる、前記2つ以上の薬液処理部のそれぞれについての基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値を、前記レシピに記述することで、前記レシピを作成あるいは編集する、レシピ作成部、をさらに有する。 A substrate processing apparatus according to a sixth aspect is the substrate processing apparatus according to any one of the third to fifth aspects, further including an input unit that inputs a signal in response to a user operation. The control unit processes the substrate per unit processing amount for each of the two or more chemical liquid processing units included in the numerical information according to the signal input by the input unit in response to the user's operation. It further has a recipe creation unit that creates or edits the recipe by describing a numerical value related to the supply amount of the liquid in the recipe.

第7の態様に係る基板処理装置は、第1から第5の何れか1つの態様に係る基板処理装置であって、ユーザの動作に応答して信号を入力する入力部、をさらに備える。前記制御部は、ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、第1液供給モードと第2液供給モードとの間で、モードを切り替えるモード切替部、をさらに有する。前記第1液供給モードは、前記算出部が、前記数値情報のうちの前記認識部で認識された前記1つの薬液処理部に対応する基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値と、前記取得部で取得された前記処理量情報と、に基づいて、前記1つの薬液処理部の処理槽に供給する処理液の供給量に係る数値を算出し、前記供給制御部が、前記算出部で算出された数値に応じて、前記1つの薬液処理部において前記液供給部によって処理液を前記処理槽に供給させるモードである。前記第2液供給モードは、前記制御部が、前記認識部で認識された前記1つの薬液処理部の処理槽に、前記液供給部によって予め設定された量の処理液を供給させるモードである。 A substrate processing apparatus according to a seventh aspect is the substrate processing apparatus according to any one of the first to fifth aspects, further including an input unit that inputs a signal in response to a user operation. The control unit further includes a mode switching unit that switches the mode between the first liquid supply mode and the second liquid supply mode in response to a signal input by the input unit in response to a user operation. In the first liquid supply mode, the calculation unit is a numerical value relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate corresponding to the one chemical liquid processing unit recognized by the recognition unit in the numerical information. And, based on the processing amount information acquired by the acquisition unit, calculates a numerical value relating to the supply amount of the processing liquid supplied to the processing tank of the one chemical liquid processing unit, and the supply control unit, In this mode, the liquid supply unit supplies the processing liquid to the processing tank according to the numerical value calculated by the calculation unit. The second liquid supply mode is a mode in which the control unit causes the processing tank of the one chemical liquid processing unit recognized by the recognition unit to supply the amount of the processing liquid preset by the liquid supply unit. ..

第8の態様に係る基板処理装置は、第6の態様に係る基板処理装置であって、表示部、を更に備える。前記制御部は、前記レシピを作成あるいは編集するためのレシピ入力画面の情報を作成する画面作成部と、前記レシピ入力画面を前記表示部に表示させる表示制御部と、をさらに有する。前記レシピ入力画面は、第1領域と第2領域とを含む。前記第1領域は、前記レシピに従って実行される処理において時間の経過に依存しない条件についての複数の第1設定項目のそれぞれに対して条件を記述する領域を含む。前記第2領域は、前記レシピに従って実行される処理において時間の経過に依存する条件についての複数の第2設定項目のそれぞれに対して条件を記述する領域を含む。前記レシピ作成部は、ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記レシピ入力画面において各前記第1設定項目に対して記述された条件と、前記レシピ入力画面において各前記第2設定項目に対して記述された条件と、に基づいて、前記レシピを作成あるいは編集する。前記画面作成部は、ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記レシピ入力画面において、前記第1領域における前記複数の第1設定項目のうちの1つ以上の第1設定項目を、前記第2領域における前記複数の第2設定項目における1つ以上の第2設定項目に変更し、ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記レシピ入力画面において、前記第2領域における前記複数の第2設定項目のうちの1つ以上の第2設定項目を、前記第1領域における前記複数の第1設定項目に含まれるように1つ以上の第1設定項目に変更する。 A substrate processing apparatus according to an eighth aspect is the substrate processing apparatus according to the sixth aspect, further including a display unit. The control unit further includes a screen creation unit that creates information of a recipe input screen for creating or editing the recipe, and a display control unit that displays the recipe input screen on the display unit. The recipe input screen includes a first area and a second area. The first area includes an area in which a condition is described for each of the plurality of first setting items regarding the condition that does not depend on the passage of time in the process executed according to the recipe. The second area includes an area in which a condition is described for each of the plurality of second setting items regarding the condition depending on the passage of time in the process executed according to the recipe. The recipe creation unit responds to a signal input by the input unit in response to a user's operation, and sets the conditions described for each of the first setting items on the recipe input screen and the conditions on the recipe input screen. The recipe is created or edited based on the condition described for the second setting item. The screen creation unit, in response to a signal input by the input unit in response to a user's operation, in the recipe input screen, one or more first setting items of the plurality of first setting items in the first region. One setting item is changed to one or more second setting items in the plurality of second setting items in the second area, and the recipe is received according to a signal input by the input unit in response to a user operation. On the input screen, one or more second setting items of the plurality of second setting items in the second region are included in the plurality of first setting items in the first region so as to be included in the plurality of first setting items. Change to the first setting item.

第9の態様に係る基板処理装置は、第8の態様に係る基板処理装置であって、前記画面作成部は、前記第1領域における前記複数の第1設定項目のうちの予め設定された特定の1つ以上の第1設定項目を、前記第2領域における前記複数の第2設定項目に含まれるように1つ以上の第2設定項目に変更することを禁止する。 A substrate processing apparatus according to a ninth aspect is the substrate processing apparatus according to the eighth aspect, wherein the screen creation unit specifies a preset value of the plurality of first setting items in the first area. It is prohibited to change one or more first setting items of the above into one or more second setting items so as to be included in the plurality of second setting items in the second area.

第10の態様に係る基板処理装置は、第8または第9に係る基板処理装置であって、前記画面作成部は、前記レシピ入力画面において、前記第1領域において前記複数の第1設定項目のうちの2つ以上の第1設定項目をそれぞれ含む複数の第1設定項目群のそれぞれのグループ名に係る第1表示要素が存在する場合に、ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記複数の第1設定項目群のうちの第1設定項目群ごとに、前記第1領域における前記2つ以上の第1設定項目を前記第2領域における前記複数の第2設定項目に含まれるように2つ以上の第2設定項目に変更する。 A substrate processing apparatus according to a tenth aspect is the substrate processing apparatus according to the eighth or ninth aspect, wherein the screen creation unit is configured to display the plurality of first setting items in the first area on the recipe input screen. When there is a first display element related to each group name of a plurality of first setting item groups each including two or more first setting items, the input unit inputs in response to a user operation. According to the signal, the two or more first setting items in the first area are set to the plurality of second setting items in the second area for each first setting item group in the plurality of first setting item groups. Change to two or more second setting items to be included in the item.

第11の態様に係る基板処理装置は、第6の態様に係る基板処理装置であって、表示部、を更に備える。前記制御部は、前記レシピを作成あるいは編集するためのレシピ入力画面の情報を作成する画面作成部と、前記レシピ入力画面を前記表示部に表示させる表示制御部と、をさらに有する。前記レシピ入力画面は、第1領域と第2領域とを含む。前記第1領域は、前記レシピに従って実行される処理において時間の経過に依存しない条件についての複数の第1設定項目のそれぞれに対して条件を記述する領域を含む。前記第2領域は、前記レシピに従って実行される処理において時間の経過に依存する条件についての複数の第2設定項目のそれぞれに対して条件を記述する領域を含む。前記レシピ作成部は、ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記レシピ入力画面において各前記第1設定項目に対して記述された条件と、前記レシピ入力画面において各前記第2設定項目に対して記述された条件と、に基づいて、前記レシピを作成あるいは編集する。前記第1領域には、前記複数の第1設定項目のうちの2つ以上の第1設定項目をそれぞれ含む複数の第1設定項目群のそれぞれのグループ名に係る第1表示要素が存在する。前記画面作成部は、ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記表示部に表示される前記レシピ入力画面において、前記複数の第1設定項目群のうちの1つの第1設定項目群に含まれる前記2つ以上の第1設定項目の表示の状態を、表示している展開状態と表示していない圧縮状態との間で切り替える。 A substrate processing apparatus according to an eleventh aspect is the substrate processing apparatus according to the sixth aspect, further including a display unit. The control unit further includes a screen creation unit that creates information of a recipe input screen for creating or editing the recipe, and a display control unit that displays the recipe input screen on the display unit. The recipe input screen includes a first area and a second area. The first area includes an area in which a condition is described for each of the plurality of first setting items regarding the condition that does not depend on the passage of time in the process executed according to the recipe. The second area includes an area in which a condition is described for each of the plurality of second setting items regarding the condition depending on the passage of time in the process executed according to the recipe. The recipe creation unit responds to a signal input by the input unit in response to a user's operation, and sets the conditions described for each of the first setting items on the recipe input screen and the conditions on the recipe input screen. The recipe is created or edited based on the condition described for the second setting item. In the first area, there are first display elements related to respective group names of a plurality of first setting item groups each including two or more first setting items of the plurality of first setting items. In the recipe input screen displayed on the display unit in response to a signal input by the input unit in response to a user operation, the screen creation unit may select one of the plurality of first setting item groups. The display state of the two or more first setting items included in the first setting item group is switched between a displayed expanded state and a non-displayed compressed state.

第12の態様に係る基板処理方法は、貯留された処理液で基板に処理を施す処理槽と、該処理槽に処理液を供給する液供給部と、をそれぞれ有する2つ以上の薬液処理部を備える基板処理装置における基板処理方法であって、(a)ステップと、(b)ステップと、(c)ステップと、(d)ステップと、(e)ステップと、を有する。前記(a)ステップでは、各前記薬液処理部について基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値情報を記憶部に記憶させる。前記(b)ステップでは、処理の対象となる基板の処理量を取得する。前記(c)ステップでは、前記2つ以上の薬液処理部のうちの基板に処理を施すために使用する1つの薬液処理部を認識する。前記(d)ステップでは、前記数値情報のうちの前記(c)ステップで認識された前記1つの薬液処理部に対応する単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値と、前記(b)ステップで取得された前記処理量と、に基づいて、前記1つの薬液処理部の処理槽に供給する処理液の供給量に係る数値を算出する。前記(e)ステップは、前記(d)ステップで算出された数値に応じて、前記1つの薬液処理部において前記液供給部によって処理液を前記処理槽に供給させる。 A substrate processing method according to a twelfth aspect is provided with two or more chemical liquid processing units, each having a processing bath for processing a substrate with a stored processing liquid and a liquid supply unit for supplying the processing liquid to the processing bath. A substrate processing method in a substrate processing apparatus comprising: (a) step, (b) step, (c) step, (d) step, and (e) step. In the step (a), numerical information relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate is stored in the storage unit for each of the chemical liquid processing units. In the step (b), the processing amount of the substrate to be processed is acquired. In the step (c), one of the two or more chemical liquid processing units, which is used for processing the substrate, is recognized. In the step (d), a numerical value relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount corresponding to the one chemical liquid processing unit recognized in the step (c) of the numerical information, and the (b) A numerical value relating to the supply amount of the processing liquid to be supplied to the processing tank of the one chemical liquid processing unit is calculated based on the processing amount acquired in the step. In the step (e), the processing liquid is supplied to the processing tank by the liquid supply unit in the one chemical liquid processing unit according to the numerical value calculated in the step (d).

第1の態様に係る基板処理装置および第12の態様に係る基板処理方法の何れによっても、例えば、処理槽ごとに基板の処理量に応じた量の処理液を処理槽に供給することができる。これにより、例えば、処理液の無駄遣い、ならびに処理液の過度な供給による過度な処理などの不具合が生じにくい。その結果、例えば、基板処理装置において処理槽ごとに基板に施す処理に対するカスタマイズを容易に実行することができる。したがって、例えば、基板処理装置において基板に施す処理に対するカスタマイズを容易に実行することができる。 Both the substrate processing apparatus according to the first aspect and the substrate processing method according to the twelfth aspect can supply, for example, an amount of the processing liquid corresponding to the processing amount of the substrate to the processing tank for each processing tank. .. As a result, problems such as wasted processing liquid and excessive processing due to excessive supply of the processing liquid are less likely to occur. As a result, for example, in the substrate processing apparatus, it is possible to easily customize the processing performed on the substrate for each processing bath. Therefore, for example, the substrate processing apparatus can easily customize the processing performed on the substrate.

第2の態様に係る基板処理装置によれば、例えば、基板処理装置で計測された基板の処理量に基づいて、処理槽ごとに基板の処理量に応じた量の処理液を処理槽に供給することができる。これにより、例えば、基板処理装置内で、処理槽ごとに基板に施す処理に対するカスタマイズを実行することができる。 According to the substrate processing apparatus of the second aspect, for example, based on the substrate processing amount measured by the substrate processing apparatus, an amount of processing liquid corresponding to the processing amount of the substrate is supplied to the processing tank for each processing tank. can do. Thereby, for example, in the substrate processing apparatus, it is possible to customize the processing performed on the substrate for each processing tank.

第3の態様に係る基板処理装置によれば、例えば、1つのレシピに従って、2つの処理槽を用いて並行して基板に処理を施すことができる。これにより、例えば、1つのレシピで処理槽ごとに基板の処理量に応じた量の処理液を処理槽に供給することができる。これにより、例えば、基板処理装置において基板に施す処理に対するカスタマイズを容易に実行することができる。 According to the substrate processing apparatus of the third aspect, the substrates can be processed in parallel using the two processing baths, for example, according to one recipe. Accordingly, for example, one recipe can supply the processing bath with an amount of the processing liquid corresponding to the processing amount of the substrate for each processing bath. Thereby, for example, the customization of the process performed on the substrate in the substrate processing apparatus can be easily executed.

第4の態様に係る基板処理装置によれば、例えば、1つのレシピにおいて調整値を変更することで、処理槽ごとに基板の処理量に応じた量の処理液を処理槽に供給させることができる。これにより、例えば、レシピを容易に作成することができる。したがって、例えば、基板処理装置において基板に施す処理に対するカスタマイズを容易に実行することができる。 According to the substrate processing apparatus of the fourth aspect, for example, by changing the adjustment value in one recipe, it is possible to supply the processing liquid in an amount corresponding to the processing amount of the substrate to each processing tank. it can. Thereby, for example, the recipe can be easily created. Therefore, for example, the substrate processing apparatus can easily customize the processing performed on the substrate.

第5の態様に係る基板処理装置によれば、例えば、処理槽ごとに基板の処理量に応じた量の処理液を適切なタイミングで処理槽に供給することができる。 According to the substrate processing apparatus of the fifth aspect, for example, it is possible to supply the processing liquid in an amount corresponding to the processing amount of the substrate for each processing tank to the processing tank at an appropriate timing.

第6の態様に係る基板処理装置によれば、例えば、オペレータが、処理槽ごとに基板に施す処理に対するカスタマイズを実行することができる。 According to the substrate processing apparatus of the sixth aspect, for example, the operator can customize the processing performed on the substrate for each processing tank.

第7の態様に係る基板処理装置によれば、例えば、処理槽ごとに基板に対する処理の結果に差が生じない場合などにおいて、第2液供給モードに設定することで、基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値の設定を省略することができる。これにより、例えば、処理の条件を設定するオペレータの作業量を低減することができる。 According to the substrate processing apparatus of the seventh aspect, for example, in the case where there is no difference in the processing results of the substrates for each processing tank, by setting the second liquid supply mode, the unit processing amount of the substrate can be reduced. The setting of the numerical value relating to the supply amount of the processing liquid can be omitted. Thereby, for example, the work amount of the operator who sets the processing condition can be reduced.

第8の態様に係る基板処理装置によれば、例えば、オペレータは、時間の経過に依存しない条件を設定する複数の設定項目と、時間の経過に依存する条件を設定する複数の設定項目と、の間で設定項目を任意に入れ替えることができる。これにより、例えば、オペレータは、所望の条件を規定するレシピを作成することができる。その結果、例えば、オペレータは、所望の条件で基板に対する処理を実行させることができる。したがって、例えば、基板処理装置において基板に施す処理に対するカスタマイズを容易に実行することができる。 According to the substrate processing apparatus of the eighth aspect, for example, the operator sets a plurality of setting items for setting conditions that do not depend on the passage of time, and a plurality of setting items for setting conditions that depend on the passage of time. The setting items can be arbitrarily exchanged between. Thereby, for example, the operator can create a recipe that defines a desired condition. As a result, for example, the operator can perform processing on the substrate under desired conditions. Therefore, for example, the substrate processing apparatus can easily customize the processing performed on the substrate.

第9の態様に係る基板処理装置によれば、例えば、時間の経過に依存する条件を設定することができない特定の設定項目について、時間の経過に依存する条件についての設定項目への変更を禁止することができる。これにより、例えば、実行が不可能な処理を規定するレシピをオペレータが作成する不具合を回避することができる。 According to the substrate processing apparatus of the ninth aspect, for example, for a specific setting item for which a condition dependent on the passage of time cannot be set, change to the setting item for the condition dependent on the passage of time is prohibited. can do. Thereby, for example, it is possible to avoid a problem that the operator creates a recipe that defines a process that cannot be executed.

第10の態様に係る基板処理装置によれば、例えば、オペレータは、時間の経過に依存しない条件を設定する複数の設定項目と、時間の経過に依存する条件を設定する複数の設定項目と、の間で設定項目を効率良く入れ替えることができる。 According to the substrate processing apparatus of the tenth aspect, for example, the operator sets a plurality of setting items for setting a condition that does not depend on the passage of time, and a plurality of setting items for setting a condition that depends on the passage of time. The setting items can be efficiently exchanged between.

第11の態様に係る基板処理装置によれば、例えば、オペレータは、2つ以上の第1設定項目を含むグループごとに、2つ以上の第1設定項目を表示するように展開している状態と、2つ以上の第2設定項目を表示しないように圧縮している状態と、を切り替えることができる。これにより、例えば、第1領域における複数の第1設定項目の数が増加しても、オペレータは、レシピ入力画面上で、第1領域および第2領域の双方を確認しながら、レシピの作成および編集を行う作業を容易に行うことが可能となる。したがって、例えば、基板処理装置において基板に施す処理に対するカスタマイズを容易に実行することができる。 According to the substrate processing apparatus of the eleventh aspect, for example, a state in which the operator expands so as to display two or more first setting items for each group including two or more first setting items. It is possible to switch between a compressed state such that two or more second setting items are not displayed. Thereby, for example, even if the number of the plurality of first setting items in the first area is increased, the operator creates the recipe while confirming both the first area and the second area on the recipe input screen. It becomes possible to easily perform the work of editing. Therefore, for example, the substrate processing apparatus can easily customize the processing performed on the substrate.

第1実施形態に係る基板処理装置の概略的な構成を示す平面図である。It is a top view which shows the schematic structure of the substrate processing apparatus which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る基板処理装置の機能的な構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the functional structure of the substrate processing apparatus which concerns on 1st Embodiment. 薬液処理部の概略的な構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of a chemical processing part. 制御部で実現される液供給処理に係る機能的な構成を示すブロック図である。It is a block diagram showing a functional composition concerning liquid supply processing realized by a control part. レシピ入力画面の一部の第1の例を示す図である。It is a figure which shows the 1st example of a part of recipe input screen. レシピ入力画面の一部の第2の例を示す図である。It is a figure which shows the 2nd example of a part of recipe input screen. 基板の枚数と処理槽に対する処理液の供給量との関係の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the relationship between the number of substrates and the supply amount of the processing liquid to the processing tank. 処理槽への処理液の供給に係る動作フローの一例を示す流れ図である。It is a flowchart which shows an example of the operation|movement flow regarding the supply of the process liquid to a process tank. レシピ入力画面の概略的な構成を示す図である。It is a figure which shows the schematic structure of a recipe input screen. レシピ入力画面におけるレシピ入力部の部分的な参考例を示す図である。It is a figure which shows the partial reference example of the recipe input part in a recipe input screen. レシピ入力画面におけるレシピ入力部の部分的な一例を示す図である。It is a figure which shows a partial example of the recipe input part in a recipe input screen. レシピ入力画面におけるレシピ入力部の部分的な一例を示す図である。It is a figure which shows a partial example of the recipe input part in a recipe input screen. レシピ入力画面におけるレシピ入力部の部分的な一例を示す図である。It is a figure which shows a partial example of the recipe input part in a recipe input screen. レシピ入力画面におけるレシピ入力部の部分的な一例を示す図である。It is a figure which shows a partial example of the recipe input part in a recipe input screen. レシピ入力画面におけるレシピ入力部の部分的な一例を示す図である。It is a figure which shows a partial example of the recipe input part in a recipe input screen. レシピ入力画面におけるレシピ入力部の部分的な一例を示す図である。It is a figure which shows a partial example of the recipe input part in a recipe input screen. レシピ入力画面におけるレシピ入力部の部分的な一例を示す図である。It is a figure which shows a partial example of the recipe input part in a recipe input screen. レシピ入力画面におけるレシピ入力部の部分的な一例を示す図である。It is a figure which shows a partial example of the recipe input part in a recipe input screen. レシピ入力画面におけるレシピ入力部の部分的な一例を示す図である。It is a figure which shows a partial example of the recipe input part in a recipe input screen. レシピ入力画面におけるレシピ入力部の部分的な一例を示す図である。It is a figure which shows a partial example of the recipe input part in a recipe input screen. レシピ入力画面におけるレシピ入力部の部分的な一例を示す図である。It is a figure which shows a partial example of the recipe input part in a recipe input screen. レシピ入力画面におけるレシピ入力部の部分的な一例を示す図である。It is a figure which shows a partial example of the recipe input part in a recipe input screen.

処理槽に貯留された処理液に基板を浸漬させて基板にエッチングなどの処理を施す基板処理装置が知られている。この基板処理装置では、例えば、基板の表面に形成された窒化膜を、燐酸水溶液などの処理液で溶出させるエッチング処理が行われる場合がある。このようなエッチング処理を行う処理槽では、処理液中において基板から溶出した成分の濃度が高まる度に、処理槽に貯留された処理液をある程度交換する必要がある。特に、近年では、例えば、三次元NANDの形成など、1つのロットに対する処理で溶解するエッチングの対象物の量が従来よりも多いプロセスが行われる場合には、処理液に貯留された処理液を交換する量および頻度が増大してきている。 2. Description of the Related Art There is known a substrate processing apparatus which immerses a substrate in a processing liquid stored in a processing tank to perform a process such as etching on the substrate. In this substrate processing apparatus, for example, an etching process may be performed in which a nitride film formed on the surface of the substrate is eluted with a processing liquid such as a phosphoric acid aqueous solution. In the processing tank for performing such etching processing, it is necessary to exchange the processing liquid stored in the processing tank to some extent every time the concentration of the component eluted from the substrate in the processing liquid increases. In particular, in recent years, for example, when a process in which the amount of an etching target that dissolves in one lot is larger than that in the past, such as the formation of a three-dimensional NAND, the treatment liquid stored in the treatment liquid is removed. The amount and frequency of replacement is increasing.

ところで、基板処理装置には、処理液を用いた同一の処理を基板に対して並行して行うことが可能な複数の処理槽を有するものが多く存在している。このような基板処理装置を用いて複数の処理槽において並行して基板に処理を施す際に、例えば、基板に対する処理を規定する同一のレシピに従って処理を行えば、レシピの数の増大ならびにレシピの作成に要する作業量などを低減することができる。 By the way, many substrate processing apparatuses have a plurality of processing tanks capable of performing the same processing using a processing liquid in parallel on a substrate. When substrates are processed in parallel in a plurality of processing baths using such a substrate processing apparatus, for example, if processing is performed according to the same recipe that defines the processing for the substrates, the number of recipes increases and The amount of work required for creation can be reduced.

しかしながら、例えば、複数の処理槽が同一の構成を有している場合であっても、複数の処理槽の間で何らかの条件の差があれば、複数の処理槽において基板に対して同一の処理を施しても、複数の処理槽の間で処理の結果に差が生じ得る。ここで、複数の処理槽の間で生じ得る条件の差としては、例えば、使用年数、配管の状況、振動や温度などの外的要因、使用回数ならびに配置などが考えられる。特に、例えば、上述した三次元NANDの形成など、1つのロットに対する処理で溶解するエッチングの対象物の量が従来よりも多い処理が行われる場合には、複数の処理槽の間で処理の結果に大きな差が生じやすい。 However, for example, even when a plurality of processing tanks have the same configuration, if there is a difference in some condition between the plurality of processing tanks, the same processing is performed on the substrates in the plurality of processing tanks. Even if the treatment is performed, a difference may occur in the result of the treatment between a plurality of treatment tanks. Here, as the difference in conditions that can occur between the plurality of processing tanks, for example, years of use, conditions of piping, external factors such as vibration and temperature, the number of times of use, and arrangement are considered. In particular, in the case where the amount of the etching target that dissolves in the process for one lot is larger than the conventional process such as the formation of the above-described three-dimensional NAND, the result of the process between the plurality of processing tanks is increased. A large difference is likely to occur.

このような問題は、処理槽に貯留された処理液に基板を浸漬させることで基板に処理を施す、いわゆるバッチ式の基板処理装置一般に共通する。 Such a problem is common to so-called batch type substrate processing apparatuses in general in which a substrate is processed by immersing the substrate in a processing liquid stored in a processing tank.

そこで、本願発明者らは、基板処理装置において処理槽ごとに基板に施す処理に対するカスタマイズを容易に実行可能な技術を創出した。 Therefore, the inventors of the present application have created a technique capable of easily customizing the processing performed on the substrate for each processing tank in the substrate processing apparatus.

以下、本発明の各実施形態を図面に基づいて説明する。図面においては同様な構成および機能を有する部分については同じ符号が付されており、下記説明では重複説明が省略される。図面は模式的に示されたものであり、各図における各種構造のサイズおよび位置関係などは正確に図示されたものではない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings, parts having similar configurations and functions are designated by the same reference numerals, and redundant description will be omitted in the following description. The drawings are schematic illustrations, and the sizes and positional relationships of various structures in the drawings are not accurate illustrations.

<1.第1実施形態>
<1−1.基板処理装置の構成>
図1は、第1実施形態に係る基板処理装置100の概略的な構成の一例を示す平面図である。図2は、第1実施形態に係る基板処理装置100の機能的な構成の一例を示すブロック図である。基板処理装置100は、例えば、基板Wに対して薬液処理、洗浄処理および乾燥処理を施すことができる。
<1. First Embodiment>
<1-1. Substrate processing system configuration>
FIG. 1 is a plan view showing an example of a schematic configuration of a substrate processing apparatus 100 according to the first embodiment. FIG. 2 is a block diagram showing an example of a functional configuration of the substrate processing apparatus 100 according to the first embodiment. The substrate processing apparatus 100 can perform, for example, chemical treatment, cleaning treatment, and drying treatment on the substrate W.

図1で示されるように、基板処理装置100は、例えば、投入部1、第1搬送部2、第2搬送部3、乾燥処理部4、第1液処理部5、第2液処理部6、払出部7、入力部8、出力部9、制御部10および記憶部20を備えている。 As shown in FIG. 1, the substrate processing apparatus 100 includes, for example, an input unit 1, a first transfer unit 2, a second transfer unit 3, a drying processing unit 4, a first liquid processing unit 5, and a second liquid processing unit 6. The payout unit 7, the input unit 8, the output unit 9, the control unit 10, and the storage unit 20 are provided.

投入部1は、例えば、基板処理装置100外から基板処理装置100内に複数枚の処理前の基板Wを投入するための部分である。この投入部1は、例えば、複数枚(例えば25枚以下)の処理前の基板Wが収納されたカセットC1をそれぞれ載置することが可能な2つの載置台11を有する。載置台11には、例えば、センサ部11mが設けられている。センサ部11mは、例えば、カセットC1に収納された基板Wの枚数を計測することができる。また、センサ部11mは、例えば、カセットC1における基板Wの配置を検出することができる。ここで、センサ部11mは、例えば、カセットC1内を対象として、透過型の赤外線センサを構成する一対の投光部と受光部とを下方へ走査することで、赤外線を遮った回数および位置によって、カセットC1に収納された基板Wの枚数の計測および基板Wの配置の検出を行うことができる。センサ部11mで計測された基板Wの枚数の情報、およびセンサ部11mで検出されたカセットC1内における基板Wの配置の情報は、例えば、カセットC1の識別情報とともに記憶部20に記憶される。センサ部11mで計測された基板Wの枚数の情報は、例えば、制御部10において、乾燥処理部4、第1液処理部5および第2液処理部6において処理の対象となる基板Wの処理量に係る情報(処理量情報ともいう)を取得するために利用される。すなわち、センサ部11mは、例えば、基板Wの処理量を計測するための部分として機能し得る。 The loading unit 1 is, for example, a unit for loading a plurality of unprocessed substrates W into the substrate processing apparatus 100 from outside the substrate processing apparatus 100. The loading unit 1 has, for example, two mounting tables 11 each capable of mounting a cassette C1 in which a plurality of (for example, 25 or less) unprocessed substrates W are stored. The mounting table 11 is provided with, for example, a sensor unit 11m. The sensor unit 11m can measure the number of substrates W stored in the cassette C1, for example. The sensor unit 11m can detect the arrangement of the substrates W in the cassette C1, for example. Here, the sensor unit 11m scans downward, for example, a pair of a light projecting unit and a light receiving unit that configure a transmissive infrared sensor for the inside of the cassette C1, so that the number and position of the infrared rays are blocked. The number of substrates W stored in the cassette C1 can be measured and the arrangement of the substrates W can be detected. The information on the number of substrates W measured by the sensor unit 11m and the information on the arrangement of the substrates W in the cassette C1 detected by the sensor unit 11m are stored in the storage unit 20 together with the identification information of the cassette C1, for example. The information on the number of the substrates W measured by the sensor unit 11m is used, for example, for the processing of the substrates W to be processed in the drying processing unit 4, the first liquid processing unit 5, and the second liquid processing unit 6 in the control unit 10. It is used to acquire information related to the amount (also referred to as processing amount information). That is, the sensor unit 11m can function as a portion for measuring the processing amount of the substrate W, for example.

払出部7は、例えば、基板処理装置100内から基板処理装置100外に複数枚の処理後の基板Wを払い出すための部分である。この払出部7は、例えば、投入部1に隣接するように位置している。この払出部7は、例えば、カセットC1をそれぞれ載置することが可能な2つの載置台71を有する。払出部7では、複数枚(例えば25枚以下)の処理後の基板WをカセットC1に収納した状態で、カセットC1ごと基板処理装置100の外に複数枚の処理後の基板Wを払い出すことができる。 The payout unit 7 is, for example, a unit for paying out a plurality of processed substrates W from the inside of the substrate processing apparatus 100 to the outside of the substrate processing apparatus 100. The payout unit 7 is located, for example, so as to be adjacent to the charging unit 1. The payout unit 7 has, for example, two mounting tables 71 on which the cassettes C1 can be respectively mounted. The dispensing unit 7 dispenses a plurality of processed substrates W together with the cassette C1 to the outside of the substrate processing apparatus 100 in a state where a plurality of (eg, 25 or less) processed substrates W are stored in the cassette C1. You can

第1搬送部2は、例えば、投入部1と払出部7とに沿う位置に存在している。この第1搬送部2は、例えば、投入部1に載置されたカセットC1に収納されている全ての基板Wを取り出して、第2搬送部3に対して搬送することができる。このとき、例えば、2つのカセットC1に収納されている全ての基板Wが、第2搬送部3に対して搬送されることで、複数の基板Wを含む1ロットの基板群が形成される。1ロットの基板群を成す複数の基板Wは、乾燥処理部4、第1液処理部5および第2液処理部6における処理の単位として扱われる。また、第1搬送部2は、例えば、第2搬送部3から処理後の基板Wを受け取り、この処理後の基板Wを、払出部7の載置台71上に載置されたカセットC1に対して搬送して、このカセットC1内に収納することができる。 The 1st conveyance part 2 exists in the position which followed the insertion part 1 and the delivery part 7, for example. The first transfer unit 2 can take out, for example, all the substrates W stored in the cassette C1 placed in the loading unit 1 and transfer them to the second transfer unit 3. At this time, for example, all the substrates W accommodated in the two cassettes C1 are transported to the second transport unit 3, so that a substrate group of one lot including a plurality of substrates W is formed. The plurality of substrates W forming one lot of substrate groups are treated as a unit of processing in the drying processing unit 4, the first liquid processing unit 5, and the second liquid processing unit 6. The first transfer unit 2 receives the processed substrate W from the second transfer unit 3, and the processed substrate W with respect to the cassette C1 placed on the mounting table 71 of the payout unit 7. It can be conveyed and stored in the cassette C1.

第2搬送部3は、例えば、基板処理装置100の長手方向に沿って移動することができる。第2搬送部3の移動方向に沿って、第1搬送部2に近い側から順に、乾燥処理部4、第1液処理部5および第2液処理部6が位置している。換言すれば、例えば、乾燥処理部4に隣接する位置に第1液処理部5が存在し、この第1液処理部5に隣接する位置に第2液処理部6が存在している。 The second transfer unit 3 can move along the longitudinal direction of the substrate processing apparatus 100, for example. The drying processing unit 4, the first liquid processing unit 5, and the second liquid processing unit 6 are located in order from the side closer to the first transportation unit 2 along the moving direction of the second transportation unit 3. In other words, for example, the first liquid processing unit 5 is present at a position adjacent to the drying processing unit 4, and the second liquid processing unit 6 is present at a position adjacent to the first liquid processing unit 5.

乾燥処理部4は、例えば、複数枚の基板Wを低圧のチャンバ内に収納して乾燥させることができる。 The drying processing unit 4 can store and dry a plurality of substrates W in a low-pressure chamber, for example.

第1液処理部5は、例えば、洗浄処理部51と、薬液処理部52と、副搬送部53と、を有する。洗浄処理部51は、例えば、複数枚の基板Wに対して純水で洗浄する処理(純水洗浄処理ともいう)を施すことができる。薬液処理部52は、例えば、複数枚の基板Wに対して薬液を含む処理液によって処理(薬液処理ともいう)を施すことができる。副搬送部53は、例えば、第2搬送部3との間で基板Wの受け渡しを行うことが可能であるとともに、洗浄処理部51および薬液処理部52のそれぞれにおいて昇降可能である。 The first liquid processing unit 5 includes, for example, a cleaning processing unit 51, a chemical liquid processing unit 52, and a sub transport unit 53. The cleaning processing unit 51 can perform, for example, a process of cleaning the plurality of substrates W with pure water (also referred to as pure water cleaning process). The chemical liquid processing unit 52 can perform processing (also referred to as chemical liquid processing) on a plurality of substrates W with a processing liquid containing a chemical liquid, for example. The sub-transport unit 53 can transfer the substrate W to and from the second transport unit 3, and can move up and down in each of the cleaning processing unit 51 and the chemical liquid processing unit 52.

第2液処理部6は、例えば、第1液処理部5と同様に、洗浄処理部51と、薬液処理部52と、副搬送部53と、を有する。 The second liquid processing unit 6 includes, for example, a cleaning processing unit 51, a chemical liquid processing unit 52, and a sub-transporting unit 53, similarly to the first liquid processing unit 5.

入力部8は、例えば、載置台11の近くに位置している。入力部8は、例えば、ユーザとしてのオペレータの動作に応答して信号を入力することができる。これにより、オペレータは、各種の情報の選択あるいは入力を行うことができる。入力部8は、例えば、タッチパネルなどで構成される。また、入力部8は、例えば、押下などの各種の操作が可能なボタンなどを含む操作部を有していてもよいし、音声による入力を可能とするマイクなどを有していてもよい。オペレータは、例えば、入力部8を介して、基板Wを処理するための手順を規定したレシピを作成および編集して記憶部20に記憶させたり、記憶部20に記憶されている複数のレシピを含むレシピ群から、処理対象としての複数の基板Wに対してレシピを指定したりすることができる。 The input unit 8 is located, for example, near the mounting table 11. The input unit 8 can input a signal in response to an operation of an operator as a user, for example. As a result, the operator can select or input various information. The input unit 8 is composed of, for example, a touch panel. In addition, the input unit 8 may include, for example, an operation unit including buttons that can perform various operations such as pressing, or may include a microphone that enables voice input. The operator creates and edits a recipe defining a procedure for processing the substrate W and stores it in the storage unit 20 via the input unit 8, or stores a plurality of recipes stored in the storage unit 20, for example. A recipe can be specified for a plurality of substrates W to be processed from the included recipe group.

出力部9は、例えば、載置台11の近くに位置している。出力部9は、例えば、制御部10の制御に応じて、各種の情報を出力することができる部分である。出力部9は、例えば、各種の情報を可視的に出力可能な表示部を含む。この表示部は、例えば、オペレータの動作に応答して入力部8で入力された信号に応じて、オペレータがレシピの作成および編集を行うための画面(レシピ入力画面ともいう)を表示することができる。また、出力部9は、例えば、各種の情報を可聴的に出力可能なスピーカなどを含んでいてもよい。出力部9で可視的あるいは可聴的に出力される各種の情報には、例えば、基板処理装置100の各種の状態を示す情報、および各種のアラーム(警報)を示す情報が含まれ得る。ここで、例えば、入力部8と出力部9の表示部とが、タッチパネルを有する同一の表示部によって実現されてもよい。 The output unit 9 is located, for example, near the mounting table 11. The output unit 9 is a unit that can output various kinds of information under the control of the control unit 10, for example. The output unit 9 includes, for example, a display unit capable of visually outputting various information. The display unit may display, for example, a screen (also referred to as a recipe input screen) for the operator to create and edit a recipe in response to a signal input by the input unit 8 in response to the operation of the operator. it can. Further, the output unit 9 may include, for example, a speaker capable of audibly outputting various information. The various information visually or audibly output by the output unit 9 may include, for example, information indicating various states of the substrate processing apparatus 100 and information indicating various alarms. Here, for example, the display units of the input unit 8 and the output unit 9 may be realized by the same display unit having a touch panel.

記憶部20は、例えば、ハードディスクあるいはフラッシュメモリなどの各種の情報を記憶する不揮発性の記憶媒体を有する。記憶部20には、例えば、スケジュール作成プログラムおよび処理プログラムなど各種のプログラム、複数種類のレシピを含むレシピ群が格納されたフォルダならびに各種データが予め格納される。各種データは、例えば、レシピ入力画面を構成するためのデータ(画面構成用データともいう)を含む。画面構成用データには、例えば、レシピを構成する複数の設定項目についての表示および数値などの設定条件の入力に必要な情報が含まれる。画面構成用データでは、複数の設定項目は、例えば、適宜カテゴリごとに分類されている。また、画面構成用データには、例えば、設定項目にカテゴリの分類の変更を許容あるいは禁止するデータが含まれる。 The storage unit 20 has, for example, a non-volatile storage medium such as a hard disk or a flash memory that stores various information. The storage unit 20 stores various programs such as a schedule creation program and a processing program, a folder in which a recipe group including a plurality of types of recipes is stored, and various data in advance. The various data include, for example, data for configuring a recipe input screen (also referred to as screen configuration data). The screen configuration data includes, for example, information necessary to display a plurality of setting items that make up the recipe and input setting conditions such as numerical values. In the screen configuration data, the plurality of setting items are appropriately classified into categories, for example. In addition, the screen configuration data includes, for example, data that allows or prohibits the change of the category classification in the setting items.

上記構成を有する基板処理装置100の動作は、例えば、図2で示されるように、制御部10によって統括的に制御される。 The operation of the substrate processing apparatus 100 having the above configuration is comprehensively controlled by the control unit 10 as shown in FIG. 2, for example.

制御部10は、例えば、演算部およびメモリなどを有する。演算部には、例えば、少なくとも1つのプロセッサとして働く中央演算部(CPU)などの電気回路が適用される。メモリには、例えば、ランダムアクセスメモリ(RAM)などの情報を一時的に記憶する電気回路が適用される。演算部における各種の演算によって一時的に得られる各種の情報は、適宜メモリなどに記憶される。演算部は、例えば、記憶部20に格納されたプログラムを読み込んで実行することで、制御部10による基板処理装置100の動作の統括的な制御を実行するための各種の機能的な構成を実現する。各種の機能的な構成は、例えば、基板処理装置100における複数の基板Wに対する処理のスケジュールを作成する部分(スケジュール作成部ともいう)およびスケジュールに沿った複数の基板Wに対する処理を実行する部分(処理実行部ともいう)などを含む。また、制御部10は、例えば、薬液処理部52の各種のセンサからの計測結果に応じて、第1液処理部5および第2液処理部6における各部の動作を制御してもよい。各種のセンサは、例えば、流量計などを含む。 The control unit 10 has, for example, a calculation unit and a memory. An electric circuit such as a central processing unit (CPU) that functions as at least one processor is applied to the processing unit. An electric circuit such as a random access memory (RAM) that temporarily stores information is applied to the memory. Various types of information temporarily obtained by various types of computations in the computing unit are appropriately stored in the memory or the like. The arithmetic unit realizes various functional configurations for executing the overall control of the operation of the substrate processing apparatus 100 by the control unit 10 by reading and executing the program stored in the storage unit 20, for example. To do. Various functional configurations include, for example, a portion that creates a process schedule for a plurality of substrates W in the substrate processing apparatus 100 (also referred to as a schedule creation unit) and a portion that executes a process for a plurality of substrates W according to the schedule ( (Also called a processing execution unit). Further, the control unit 10 may control the operation of each unit in the first liquid processing unit 5 and the second liquid processing unit 6, for example, according to the measurement results from various sensors of the chemical liquid processing unit 52. Various sensors include, for example, a flow meter and the like.

<1−2.薬液処理部>
図3は、薬液処理部52の概略的な構成を示す図である。薬液処理部52は、例えば、酸化珪素の膜および窒化珪素の膜が形成された基板Wをエッチング液として機能する処理液としての燐酸水溶液中に浸漬させることで窒化珪素の膜を選択的に溶解させる処理(エッチング処理ともいう)を行う。
<1-2. Chemical processing unit>
FIG. 3 is a diagram showing a schematic configuration of the chemical liquid processing unit 52. The chemical treatment unit 52 selectively dissolves the silicon nitride film by immersing the substrate W on which the silicon oxide film and the silicon nitride film are formed in a phosphoric acid aqueous solution as a processing liquid that functions as an etching liquid. A treatment (also referred to as an etching treatment) is performed.

図3で示されるように、薬液処理部52は、液供給部SL1、処理槽CB2、液循環部CL2および液排出部EL1を備えている。このため、第1実施形態では、基板処理装置100は、液処理部SL1と処理槽CB2とをそれぞれ有する2つの薬液処理部52を備える。 As shown in FIG. 3, the chemical liquid processing unit 52 includes a liquid supply unit SL1, a processing tank CB2, a liquid circulation unit CL2, and a liquid discharge unit EL1. Therefore, in the first embodiment, the substrate processing apparatus 100 includes the two chemical liquid processing units 52 each having the liquid processing unit SL1 and the processing bath CB2.

液供給部SL1は、処理槽CB2に処理液を供給するための部分である。液供給部SL1は、例えば、調整タンクCB1、第1液供給部SL1a、液循環部CL1および第2液供給部SL1bを有する。 The liquid supply part SL1 is a part for supplying the processing liquid to the processing bath CB2. The liquid supply unit SL1 has, for example, an adjustment tank CB1, a first liquid supply unit SL1a, a liquid circulation unit CL1 and a second liquid supply unit SL1b.

調整タンクCB1は、例えば、処理槽CB2に供給するための燐酸水溶液の温度の調整などを行うために燐酸水溶液を一時的に貯留する部分である。調整タンクCB1には、例えば、燐酸水溶液に対する耐食性に優れた石英またはフッ素樹脂材料で形成された箱形形状を有するものが適用され得る。 The adjustment tank CB1 is a part that temporarily stores the phosphoric acid aqueous solution for adjusting the temperature of the phosphoric acid aqueous solution to be supplied to the treatment tank CB2, for example. As the adjustment tank CB1, for example, a tank-shaped tank formed of quartz or a fluororesin material having excellent corrosion resistance against a phosphoric acid aqueous solution can be applied.

第1液供給部SL1aは、例えば、処理液供給源En0から送られる新たな処理液を、第1配管部Tb1を介して調整タンクCB1に供給する処理(第1液供給処理ともいう)を実行することができる。ここでは、例えば、処理液として、エッチング液として機能する薬液である所定濃度の燐酸水溶液の新液(使用前燐酸水溶液ともいう)が供給される。処理液供給源En0は、第1配管部Tb1の第1端部に連通するように接続している。この処理液供給源En0は、例えば、基板処理装置100の内部あるいは外部に設置された燐酸水溶液を常温(例えば、25℃)で貯留しているタンクから第1配管部Tb1に向けてポンプあるいはガスなどで燐酸水溶液を圧送する。第1配管部Tb1には、第1流量制御部Cf1が設けられている。第1流量制御部Cf1は、例えば、第1配管部Tb1の流路を開閉する第1バルブV1と、燐酸水溶液の流量を計測する第1流量計M1とを有する。第1配管部Tb1の第2端部は、例えば、調整タンクCB1に連通するように接続している。ここで、第1流量制御部Cf1は、制御部10に接続されている。制御部10は、第1流量計M1から送信された流量を示す信号に基づいて、第1バルブV1を制御する。これにより、第1液供給部SL1aでは、例えば、処理液供給源En0から供給される燐酸水溶液は、第1配管部Tb1を通って、第1流量制御部Cf1によって設定された流量で調整タンクCB1に供給される。 The first liquid supply unit SL1a executes, for example, a process (also referred to as a first liquid supply process) of supplying a new processing liquid sent from the processing liquid supply source En0 to the adjustment tank CB1 via the first piping unit Tb1. can do. Here, for example, a new solution of a phosphoric acid aqueous solution having a predetermined concentration, which is a chemical solution functioning as an etching solution (also referred to as a phosphoric acid aqueous solution before use), is supplied as the processing solution. The processing liquid supply source En0 is connected so as to communicate with the first end of the first piping portion Tb1. The processing liquid supply source En0 is, for example, a pump or a gas directed from the tank storing the phosphoric acid aqueous solution installed inside or outside the substrate processing apparatus 100 at room temperature (for example, 25° C.) toward the first piping portion Tb1. The phosphoric acid aqueous solution is pressure-fed. The 1st piping part Tb1 is provided with the 1st flow control part Cf1. The first flow rate control unit Cf1 has, for example, a first valve V1 that opens and closes the flow path of the first piping unit Tb1, and a first flow meter M1 that measures the flow rate of the phosphoric acid aqueous solution. The 2nd end part of the 1st piping part Tb1 is connected so that it may communicate with adjustment tank CB1, for example. Here, the first flow rate control unit Cf1 is connected to the control unit 10. The control unit 10 controls the first valve V1 based on the signal indicating the flow rate transmitted from the first flow meter M1. As a result, in the first liquid supply unit SL1a, for example, the phosphoric acid aqueous solution supplied from the processing liquid supply source En0 passes through the first piping unit Tb1 and at the flow rate set by the first flow rate control unit Cf1. Is supplied to.

液循環部CL1は、例えば、調整タンクCB1から排出された燐酸水溶液を加熱して再び調整タンクCB1に圧送環流させる処理(第1液循環処理ともいう)を実行することができる。液循環部CL1は、例えば、第2配管部Tb2を有する。第2配管部Tb2は、例えば、調整タンクCB1に連通するように接続している第1端部と、調整タンクCB1に連通するように接続している第2端部と、を有する。第2配管部Tb2には、例えば、上流側から順に第2バルブV2、第1ポンプPm1および第1ヒータHt1が設けられている。第2バルブV2は、第2配管部Tb2の流路を開閉する。第1ポンプPm1は、第2配管部Tb2を介して調整タンクCB1から汲み出した燐酸水溶液を調整タンクCB1に向けて圧送する。第1ヒータHt1は、第2配管部Tb2を流れる燐酸水溶液を所定の温度(例えば、約160℃)に加熱する。 The liquid circulation unit CL1 can perform, for example, a process (also referred to as a first liquid circulation process) in which the phosphoric acid aqueous solution discharged from the adjustment tank CB1 is heated and pressure-fed to the adjustment tank CB1 again. The liquid circulation unit CL1 has, for example, a second piping unit Tb2. The second piping part Tb2 has, for example, a first end connected to communicate with the adjustment tank CB1 and a second end connected to communicate with the adjustment tank CB1. The second pipe Tb2 is provided with, for example, a second valve V2, a first pump Pm1, and a first heater Ht1 in order from the upstream side. The second valve V2 opens and closes the flow path of the second piping portion Tb2. The first pump Pm1 pumps the phosphoric acid aqueous solution pumped out from the adjustment tank CB1 through the second pipe portion Tb2 toward the adjustment tank CB1. The first heater Ht1 heats the phosphoric acid aqueous solution flowing through the second pipe portion Tb2 to a predetermined temperature (for example, about 160° C.).

第2液供給部SL1bは、例えば、処理槽CB2にエッチング液として機能する処理液としての使用前燐酸水溶液を供給する処理(第2液供給処理ともいう)を実行することができる。この第2液供給部SL1bは、例えば、液供給管部としての第3配管部Tb3を有し、調整タンクCB1から送られる燐酸水溶液を、第3配管部Tb3を介して処理槽CB2に供給することができる。第3配管部Tb3は、例えば、第2配管部Tb2のうちの第1ヒータHt1と調整タンクCB1との間の部分に連通するように接続している第1端部と、処理槽CB2の外槽B2bに連通するように接続している第2端部と、を有する。換言すれば、第3配管部Tb3は、第2配管部Tb2が分岐した配管部である。第3配管部Tb3では、例えば、第1ポンプPm1によって燐酸水溶液が第1端部から第2端部に向けて圧送される。第3配管部Tb3には、第2流量制御部Cf2が設けられている。第2流量制御部Cf2は、例えば、第3配管部Tb3に対して、上流側(調整タンクCB1側)から順に、第2流量計M2、第3バルブV3および第4バルブV4が設けられている構成を有している。第2流量計M2には、例えば、第3配管部Tb3を流れる燐酸水溶液の流量を検出可能な流量検出器が適用される。第3バルブV3には、例えば、第3配管部Tb3を流れる燐酸水溶液の流量を調整する流量制御バルブが適用される。第4バルブV4には、例えば、第3配管部Tb3における燐酸水溶液の流路の開閉を制御する開閉バルブが適用される。ここで、第2流量制御部Cf2は、制御部10に接続されている。制御部10は、例えば、第2流量計M2から送信された流量を示す信号に基づいて、第3バルブV3および第4バルブV4を制御する。これにより、第2液供給部SL1bは、例えば、調整タンクCB1から供給される燐酸水溶液を、第3配管部Tb3を介して、第2流量制御部Cf2によって制御された流量で処理槽CB2の外槽B2bに供給することができる。 The second liquid supply unit SL1b can perform, for example, a process (also referred to as a second liquid supply process) of supplying a pre-use phosphoric acid aqueous solution as a processing liquid that functions as an etching liquid to the processing bath CB2. The second liquid supply unit SL1b has, for example, a third pipe part Tb3 as a liquid supply pipe part, and supplies the phosphoric acid aqueous solution sent from the adjustment tank CB1 to the treatment tank CB2 via the third pipe part Tb3. be able to. The third pipe portion Tb3 is, for example, a first end portion connected to communicate with a portion of the second pipe portion Tb2 between the first heater Ht1 and the adjustment tank CB1, and the outside of the treatment tank CB2. And a second end connected to communicate with the tank B2b. In other words, the third piping part Tb3 is a piping part branched from the second piping part Tb2. In the third pipe portion Tb3, for example, the phosphoric acid aqueous solution is pressure-fed from the first end portion to the second end portion by the first pump Pm1. A second flow rate control section Cf2 is provided in the third piping section Tb3. The second flow rate control unit Cf2 is provided with, for example, a second flow meter M2, a third valve V3, and a fourth valve V4 in order from the upstream side (adjustment tank CB1 side) with respect to the third piping unit Tb3. Have a configuration. For the second flow meter M2, for example, a flow rate detector capable of detecting the flow rate of the phosphoric acid aqueous solution flowing through the third piping portion Tb3 is applied. As the third valve V3, for example, a flow rate control valve that adjusts the flow rate of the phosphoric acid aqueous solution flowing through the third piping portion Tb3 is applied. As the fourth valve V4, for example, an opening/closing valve that controls opening/closing of the flow path of the phosphoric acid aqueous solution in the third piping portion Tb3 is applied. Here, the second flow rate control unit Cf2 is connected to the control unit 10. The control unit 10 controls the third valve V3 and the fourth valve V4, for example, based on the signal indicating the flow rate transmitted from the second flow meter M2. As a result, the second liquid supply unit SL1b, for example, supplies the phosphoric acid aqueous solution supplied from the adjustment tank CB1 to the outside of the processing tank CB2 at a flow rate controlled by the second flow rate control unit Cf2 via the third piping unit Tb3. It can be supplied to the tank B2b.

なお、液供給部SL1は、例えば、第1液供給部SL1a、調整タンクCB1および液循環部CL1を有することなく、処理液供給源Enが直接接続された第2液供給部SL1bと同様な構成を有していてもよい。この場合には、例えば、第3配管部Tb3における上流側の第1端部に処理液供給源Enが直接接続される。 The liquid supply unit SL1 has, for example, the same configuration as the second liquid supply unit SL1b to which the processing liquid supply source En is directly connected, without having the first liquid supply unit SL1a, the adjustment tank CB1, and the liquid circulation unit CL1. May have. In this case, for example, the processing liquid supply source En is directly connected to the upstream first end portion of the third piping portion Tb3.

処理槽CB2は、例えば、貯留された処理液で基板Wに処理を施すための部分である。第1実施形態では、処理槽CB2は、例えば、エッチング液として機能する処理液としての燐酸水溶液によって基板Wに対するエッチング処理を行う部分(処理部ともいう)である。処理槽CB2は、例えば、エッチング液としての燐酸水溶液を貯留し、燐酸水溶液中に基板Wを浸漬させる内槽B2aと、この内槽B2aの上部からオーバーフローした燐酸水溶液を回収する外槽B2bと、によって構成される二重構造を有する。内槽B2aは、例えば、燐酸水溶液に対する耐食性に優れた石英またはフッ素樹脂材料で形成された平面視矩形の箱形形状の部分である。処理槽CB2において貯留可能な液の総量(容量)は、例えば、60リットル程度に設定される。外槽B2bも、例えば、内槽B2aと同様な材料で形成されており、内槽B2aの外周上端部を囲繞するように位置している。 The processing bath CB2 is, for example, a portion for processing the substrate W with the stored processing liquid. In the first embodiment, the processing bath CB2 is, for example, a portion (also referred to as a processing unit) that performs etching processing on the substrate W with a phosphoric acid aqueous solution as a processing liquid that functions as an etching liquid. The processing bath CB2 stores, for example, a phosphoric acid aqueous solution as an etching solution and immerses the substrate W in the phosphoric acid aqueous solution, and an outer bath B2b for recovering the phosphoric acid aqueous solution overflowing from the upper part of the inner bath B2a. It has a double structure composed of The inner tank B2a is, for example, a box-shaped portion having a rectangular shape in plan view, which is formed of quartz or a fluororesin material having excellent corrosion resistance against a phosphoric acid aqueous solution. The total amount (capacity) of the liquid that can be stored in the processing tank CB2 is set to, for example, about 60 liters. The outer tank B2b is also made of, for example, the same material as the inner tank B2a, and is located so as to surround the outer peripheral upper end portion of the inner tank B2a.

また、処理槽CB2には、処理槽CB2に貯留された燐酸水溶液に基板Wを浸漬させるためのリフターLF2が設けられている。リフターLF2は、例えば、起立姿勢(基板主面の法線が水平方向に沿う姿勢)で相互に平行に配列された複数(例えば、50枚以下)の基板Wを3本の保持棒によって一括して保持する。リフターLF2は、図示を省略する昇降機構によって鉛直方向に沿って昇降可能に設けられている。このリフターLF2は、例えば、保持している複数枚の基板Wを、内槽B2a内の燐酸水溶液中に浸漬させる処理位置(図3の位置)と、燐酸水溶液から引き上げた受渡位置と、の間で昇降させる。処理槽CB2では、例えば、内槽B2a内の処理位置に複数枚の基板Wを位置させて燐酸水溶液中に浸漬させることで、燐酸水溶液によって基板Wの窒化珪素の膜を溶解させるエッチング処理を行うことができる。このとき、内槽B2aに貯留される燐酸水溶液に、基板Wから基板Wを構成する成分(基板成分ともいう)としてのシリコンが溶出する。 Further, the treatment tank CB2 is provided with a lifter LF2 for immersing the substrate W in the phosphoric acid aqueous solution stored in the treatment tank CB2. The lifter LF2 collects, for example, a plurality of (for example, 50 or less) substrates W arranged in parallel in a standing posture (a posture in which the normal line of the main surface of the substrate is along the horizontal direction) by three holding bars. Hold. The lifter LF2 is provided so as to be able to move up and down along the vertical direction by an elevator mechanism (not shown). The lifter LF2 is provided, for example, between a processing position (a position shown in FIG. 3) in which a plurality of held substrates W are immersed in the phosphoric acid aqueous solution in the inner tank B2a and a delivery position pulled up from the phosphoric acid aqueous solution. Move up and down with. In the processing bath CB2, for example, a plurality of substrates W are positioned at processing positions in the inner bath B2a and immersed in a phosphoric acid aqueous solution, thereby performing an etching process for dissolving the silicon nitride film of the substrate W with the phosphoric acid aqueous solution. be able to. At this time, silicon as a component forming the substrate W (also referred to as a substrate component) is eluted from the substrate W into the phosphoric acid aqueous solution stored in the inner tank B2a.

液循環部CL2は、例えば、処理槽CB2から排出された燐酸水溶液を加熱して再び処理槽CB2に圧送環流させる処理(第2液循環処理ともいう)を実行することができる。液循環部CL2は、例えば、外槽B2bと内槽B2aとを連通するように接続している第4配管部Tb4を有する。例えば、第4配管部Tb4は、外槽B2bの底部に連通するように接続している第1端部と、内槽B2aの底部に連通するように接続している第2端部と、を有する。第4配管部Tb4には、上流側から順に第5バルブV5、第2ポンプPm2、第6バルブV6、第2ヒータHt2およびフィルタFl1が設けられている。第5バルブV5は、第4配管部Tb4の流路を開閉する。第2ポンプPm2は、第4配管部Tb4を介して外槽B2bから汲み出した燐酸水溶液を内槽B2aに向けて圧送する。第6バルブV6は、第4配管部Tb4の流路を開閉する。第2ヒータHt2は、第4配管部Tb4を流れる燐酸水溶液を所定の温度(例えば、約160℃)に加熱する。フィルタFl1は、第4配管部Tb4を流れる燐酸水溶液中の異物を取り除くための濾過フィルタである。また、液循環部CL2は、例えば、内槽B2aから排出された燐酸水溶液を加熱して内槽B2aに環流させる第5配管部Tb5を有していてもよい。この場合には、例えば、第5配管部Tb5は、内槽B2aに連通するように接続している第1端部と、第4配管部Tb4のうちの第5バルブV5と第2ポンプPm2との間の部分に連通するように接続している第2端部と、を有する形態が採用される。第5配管部Tb5には第7バルブV7が設けられ、この第7バルブV7は第5配管部Tb5の流路を開閉する。 The liquid circulation unit CL2 can perform, for example, a process (also referred to as a second liquid circulation process) in which the phosphoric acid aqueous solution discharged from the treatment tank CB2 is heated and is recirculated to the treatment tank CB2 under pressure. The liquid circulation unit CL2 has, for example, a fourth piping unit Tb4 that connects the outer tank B2b and the inner tank B2a so as to communicate with each other. For example, the fourth piping part Tb4 has a first end connected to communicate with the bottom of the outer tank B2b and a second end connected to communicate with the bottom of the inner tank B2a. Have. A fifth valve V5, a second pump Pm2, a sixth valve V6, a second heater Ht2, and a filter Fl1 are provided in this order from the upstream side in the fourth piping portion Tb4. The fifth valve V5 opens and closes the flow path of the fourth piping portion Tb4. The second pump Pm2 pumps the phosphoric acid aqueous solution pumped out from the outer tank B2b through the fourth pipe portion Tb4 toward the inner tank B2a. The sixth valve V6 opens and closes the flow path of the fourth piping portion Tb4. The second heater Ht2 heats the phosphoric acid aqueous solution flowing through the fourth piping portion Tb4 to a predetermined temperature (for example, about 160° C.). The filter Fl1 is a filtration filter for removing foreign matter in the phosphoric acid aqueous solution flowing through the fourth piping portion Tb4. Further, the liquid circulation unit CL2 may include, for example, a fifth piping unit Tb5 that heats the phosphoric acid aqueous solution discharged from the inner tank B2a and circulates it to the inner tank B2a. In this case, for example, the fifth piping portion Tb5 is connected to the inner tank B2a so as to communicate with the first end portion, the fifth valve V5 of the fourth piping portion Tb4, and the second pump Pm2. And a second end portion connected so as to communicate with the portion between the two. A seventh valve V7 is provided in the fifth piping portion Tb5, and the seventh valve V7 opens and closes the flow path of the fifth piping portion Tb5.

液排出部EL1は、例えば、処理部としての処理槽CB2において基板Wに対するエッチング処理に使用された後の処理液(第1処理液ともいう)としての燐酸水溶液(使用済み燐酸水溶液とも第1の燐酸水溶液ともいう)を、処理槽CB2から基板処理装置100の外まで排出する処理(液排出処理ともいう)を実行する部分である。使用済み燐酸水溶液は、処理槽CB2における基板Wのエッチング処理によって、使用前の燐酸水溶液よりも基板成分(例えば、シリコン)が溶解している濃度(溶解濃度ともいう)が高い状態にある。液排出部EL1は、例えば、第6配管部Tb6、第7配管部Tb7、冷却タンクCt1および第8配管部Tb8を有する。ここでは、第6配管部Tb6、第7配管部Tb7および第8配管部Tb8は、処理槽CB2から基板処理装置100の外まで使用済み燐酸水溶液を排出するための部分(液排出管部ともいう)Tg1を構成している。 The liquid discharge part EL1 is, for example, a phosphoric acid aqueous solution (also used as a first phosphoric acid aqueous solution) as a processing liquid (also referred to as a first processing liquid) that has been used for etching the substrate W in the processing bath CB2 as a processing part. This is a part that executes a process of discharging the phosphoric acid aqueous solution) from the processing bath CB2 to the outside of the substrate processing apparatus 100 (also called a liquid discharging process). The used phosphoric acid aqueous solution has a higher concentration (also referred to as a dissolution concentration) in which the substrate component (for example, silicon) is dissolved than the phosphoric acid aqueous solution before use due to the etching treatment of the substrate W in the treatment tank CB2. The liquid discharge part EL1 has, for example, a sixth piping part Tb6, a seventh piping part Tb7, a cooling tank Ct1 and an eighth piping part Tb8. Here, the sixth pipe portion Tb6, the seventh pipe portion Tb7, and the eighth pipe portion Tb8 are portions (also referred to as liquid discharge pipe portions) for discharging the used phosphoric acid aqueous solution from the processing tank CB2 to the outside of the substrate processing apparatus 100. ) Constitutes Tg1.

第6配管部Tb6は、例えば、第4配管部Tb4のうちの第2ポンプPm2と第6バルブV6との間の部分に連通するように接続している第1端部と、冷却タンクCt1に連通するように接続している第2端部と、を有する。換言すれば、第6配管部Tb6は、第4配管部Tb4とともに処理槽CB2と冷却タンクCt1とを接続している部分(第1部分ともいう)を構成している。第6配管部Tb6には第8バルブV8が設けられている。第8バルブV8は、第6配管部Tb6の流路を開閉する。このため、第6バルブV6および第8バルブV8の開閉を適宜制御することで、処理槽CB2から排出された燐酸水溶液を加熱して再び処理槽CB2に圧送環流する処理(第2液循環処理)と、使用済み燐酸水溶液を処理槽CB2から冷却タンクCt1を経由して基板処理装置100の外に排出する処理(液排出処理)と、を選択的に実行させることができる。 The sixth piping portion Tb6 is connected to, for example, a first end portion of the fourth piping portion Tb4 that is connected to communicate with a portion between the second pump Pm2 and the sixth valve V6, and the cooling tank Ct1. A second end that is connected in communication. In other words, the sixth piping portion Tb6 and the fourth piping portion Tb4 form a portion (also referred to as a first portion) that connects the processing tank CB2 and the cooling tank Ct1. An eighth valve V8 is provided in the sixth piping portion Tb6. The eighth valve V8 opens and closes the flow path of the sixth piping portion Tb6. Therefore, by appropriately controlling the opening and closing of the sixth valve V6 and the eighth valve V8, the phosphoric acid aqueous solution discharged from the processing bath CB2 is heated and pressure-fed back to the processing bath CB2 again (second liquid circulation process). And a process of discharging the used phosphoric acid aqueous solution from the processing tank CB2 to the outside of the substrate processing apparatus 100 via the cooling tank Ct1 (liquid discharging process) can be selectively executed.

第7配管部Tb7は、例えば、処理槽CB2の外槽B2bの上部に連通するように接続している第1端部と、冷却タンクCt1に連通するように接続している第2端部と、を有する。ここでは、第7配管部Tb7は、例えば、処理槽CB2の外槽B2bに貯留されている燐酸水溶液の貯留量が増加し過ぎた際に、外槽B2bから燐酸水溶液が溢れ出さないように、外槽B2bから冷却タンクCt1に燐酸水溶液を流すことができる。 The seventh piping part Tb7 is, for example, a first end connected to communicate with the upper part of the outer tank B2b of the processing tank CB2 and a second end connected to communicate with the cooling tank Ct1. , With. Here, the seventh piping portion Tb7, for example, when the storage amount of the phosphoric acid aqueous solution stored in the outer tank B2b of the processing tank CB2 increases too much, the phosphoric acid aqueous solution does not overflow from the outer tank B2b, A phosphoric acid aqueous solution can be flowed from the outer tank B2b to the cooling tank Ct1.

冷却タンクCt1は、使用済み燐酸水溶液を貯留して冷却することができる。 The cooling tank Ct1 can store and cool the used phosphoric acid aqueous solution.

第8配管部Tb8は、例えば、冷却タンクCt1に接続しており、基板処理装置100の外まで使用済み燐酸水溶液を排出するための部分を構成している。第8配管部Tb8は、例えば、冷却タンクCt1に接続している第1端部と、使用済みの燐酸水溶液を基板処理装置100の外に排液するための部分(処理液排液部ともいう)Ex0に接続している第2端部と、を有する。処理液排液部Ex0には、例えば、基板処理装置100に対して着脱可能な燐酸水溶液を回収するためのタンク(回収タンクともいう)もしくは燐酸水溶液を廃液するためのタンク(廃液タンクともいう)あるいは工場排水用の処理施設に接続するための排液管などが適用される。第8配管部Tb8には、例えば、第9バルブV9が設けられている。第9バルブV9は、第8配管部Tb8の流路を開閉することができる。ここでは、第9バルブV9によって、冷却タンクCt1から処理液排液部Ex0への燐酸水溶液の排液が調整され得る。 The eighth piping part Tb8 is connected to, for example, the cooling tank Ct1 and constitutes a part for discharging the used phosphoric acid aqueous solution to the outside of the substrate processing apparatus 100. The eighth piping portion Tb8 is, for example, a first end portion connected to the cooling tank Ct1 and a portion for draining the used phosphoric acid aqueous solution to the outside of the substrate processing apparatus 100 (also referred to as a processing liquid draining portion). ) A second end connected to Ex0. In the processing liquid drainage unit Ex0, for example, a tank (also referred to as a recovery tank) that is detachable from the substrate processing apparatus 100 for recovering the phosphoric acid aqueous solution or a tank for discharging the phosphoric acid aqueous solution (also referred to as a waste liquid tank). Alternatively, a drainage pipe or the like for connecting to a treatment facility for factory wastewater is applied. The eighth pipe portion Tb8 is provided with, for example, a ninth valve V9. The ninth valve V9 can open and close the flow path of the eighth piping portion Tb8. Here, the ninth valve V9 can adjust the drainage of the phosphoric acid aqueous solution from the cooling tank Ct1 to the treatment liquid drainage unit Ex0.

上述した薬液処理部52の各部の動作は、制御部10によって制御することができる。例えば、制御部10は、第1液供給部SL1aによって調整タンクCB1へ第2処理液としての使用前燐酸水溶液を供給する処理(第1液供給処理)と、液循環部CL1によって燐酸水溶液を循環させる処理(第1液循環処理)と、第2液供給部SL1bによって処理槽CB2へ使用前燐酸水溶液を供給する処理(第2液供給処理)と、液循環部CL2によって燐酸水溶液を循環させる処理(第2液循環処理)と、液排出部EL1によって処理槽CB2から第1処理液としての使用済み燐酸水溶液を排出する処理(液排出処理)と、を制御することができる。なお、例えば、内槽B2aの内壁に沿うように設けられた濃度計が、内槽B2a内に貯留された燐酸水溶液中に溶出した基板Wの特定物質の溶解濃度を検出し、この検出結果としての溶解濃度に応じて、制御部10が、第8バルブV8および第9バルブV9を開閉して、使用済み燐酸水溶液を適宜処理液排液部Ex0に送出してもよい。 The operation of each unit of the chemical liquid processing unit 52 described above can be controlled by the control unit 10. For example, the control unit 10 performs a process of supplying the pre-use phosphoric acid aqueous solution as the second process liquid to the adjustment tank CB1 by the first liquid supply unit SL1a (first liquid supply process), and circulates the phosphoric acid aqueous solution by the liquid circulation unit CL1. Treatment (first liquid circulation treatment), treatment of supplying the pre-use phosphoric acid aqueous solution to the treatment tank CB2 by the second liquid supply unit SL1b (second liquid supply treatment), and treatment of circulating the phosphoric acid aqueous solution by the liquid circulation unit CL2. It is possible to control the (second liquid circulation process) and the process of discharging the used phosphoric acid aqueous solution as the first processing liquid from the processing tank CB2 by the liquid discharge part EL1 (liquid discharge process). Note that, for example, a densitometer provided along the inner wall of the inner tank B2a detects the dissolved concentration of the specific substance of the substrate W eluted in the phosphoric acid aqueous solution stored in the inner tank B2a. The control unit 10 may open and close the eighth valve V8 and the ninth valve V9 in accordance with the dissolved concentration of the used aqueous solution of phosphoric acid to appropriately send the used phosphoric acid aqueous solution to the processing liquid draining unit Ex0.

<1−3.処理液の供給の制御>
薬液処理部52では、例えば、処理槽CB2において1ロットの複数の基板Wについての前処理、本処理および後処理のうちの少なくとも1つのタイミングで、処理液としての使用前燐酸水溶液が処理槽CB2に供給される。
<1-3. Control of supply of processing liquid>
In the chemical liquid processing unit 52, for example, the pre-use phosphoric acid aqueous solution as the processing liquid is used as the processing liquid at the timing of at least one of the pretreatment, the main treatment, and the posttreatment for a plurality of substrates W in one lot in the treatment tank CB2. Is supplied to.

ここで、前処理には、例えば、処理槽CB2に貯留された燐酸水溶液に複数の基板Wを浸漬させる前に、処理槽CB2に対する使用前燐酸水溶液の供給および気泡の導入によるバブリング処理などによって処理槽CB2に貯留された燐酸水溶液がエッチング処理に適した活性状態となるように準備を行う処理が適用される。本処理には、例えば、処理槽CB2に貯留された燐酸水溶液に複数の基板Wを浸漬させた状態で複数の基板Wにエッチングを施す処理が適用される。後処理には、例えば、本処理が終了した後に、処理槽CB2に対する使用前燐酸水溶液の供給などによって、次の処理対象としての1ロットの複数の基板Wに対する処理の実行に向けた準備を行う処理が適用される。 Here, in the pretreatment, for example, before the plurality of substrates W are immersed in the phosphoric acid aqueous solution stored in the treatment tank CB2, a treatment such as a bubbling treatment by supplying a pre-use phosphoric acid aqueous solution to the treatment tank CB2 and introducing bubbles is performed. A treatment is applied so that the phosphoric acid aqueous solution stored in the bath CB2 is brought into an active state suitable for the etching treatment. For this process, for example, a process of etching the plurality of substrates W in a state where the plurality of substrates W is immersed in the phosphoric acid aqueous solution stored in the treatment tank CB2 is applied. For the post-treatment, for example, after completion of the main treatment, preparation for execution of the treatment on a plurality of substrates W of one lot to be the next treatment is performed by supplying an aqueous phosphoric acid solution before use to the treatment tank CB2. Processing is applied.

このとき、制御部10は、例えば、第2液供給部SL1bによって処理槽CB2に処理液としての使用前燐酸水溶液を供給する第2液供給処理を制御することで、液供給部SL1によって処理液としての使用前燐酸水溶液を処理槽CB2に対して供給する処理(液供給処理ともいう)を制御する。この液供給処理は、例えば、制御部10によって、処理の対象である1ロットの複数の基板Wに対して指定されたレシピに応じて制御され得る。 At this time, the control unit 10 controls, for example, the second liquid supply process of supplying the pre-use phosphoric acid aqueous solution as a processing liquid to the processing bath CB2 by the second liquid supply unit SL1b, so that the processing liquid is supplied by the liquid supply unit SL1. The process of supplying the before-use phosphoric acid aqueous solution to the processing tank CB2 (also referred to as a liquid supply process) is controlled. The liquid supply process can be controlled by the control unit 10 according to a recipe designated for a plurality of substrates W of one lot to be processed, for example.

図4は、制御部10で実現される液供給処理に係る機能的な構成の一例を示すブロック図である。制御部10では、演算部においてメモリをワークスペースとして使用しながら、各種の機能的な構成が実現される。図4で示されるように、制御部10は、実現される機能的な構成として、例えば、画面作成部10a、表示制御部10b、レシピ作成部10c、スケジュール作成部10d、取得部10e、認識部10f、算出部10g、供給制御部10hおよびモード切替部10iを有する。ここで、例えば、制御部10で実現される機能の少なくとも一部が専用の電子回路で実現されてもよい。 FIG. 4 is a block diagram showing an example of a functional configuration related to the liquid supply process realized by the controller 10. In the control unit 10, various functional configurations are realized while using a memory as a workspace in the arithmetic unit. As shown in FIG. 4, the control unit 10 has, for example, a screen creation unit 10a, a display control unit 10b, a recipe creation unit 10c, a schedule creation unit 10d, an acquisition unit 10e, and a recognition unit as the realized functional configurations. 10f, the calculation part 10g, the supply control part 10h, and the mode switching part 10i. Here, for example, at least a part of the functions realized by the control unit 10 may be realized by a dedicated electronic circuit.

画面作成部10aは、例えば、オペレータが基板Wを処理するための手順を規定したレシピを作成あるいは編集するための画面(レシピ入力画面)の情報を作成することができる。例えば、画面作成部10aは、記憶部20に格納された画面構成用データに基づいてレシピ入力画面の情報を作成する。 The screen creation unit 10a can create, for example, information of a screen (recipe input screen) for an operator to create or edit a recipe that defines a procedure for processing the substrate W. For example, the screen creation unit 10a creates the information of the recipe input screen based on the screen configuration data stored in the storage unit 20.

表示制御部10bは、例えば、画面作成部10aで作成されたレシピ入力画面の情報に基づいて、レシピ入力画面を出力部9が含む表示部に表示させることができる。 The display control unit 10b can display the recipe input screen on the display unit included in the output unit 9 based on the information of the recipe input screen created by the screen creation unit 10a, for example.

レシピ作成部10cは、例えば、オペレータの動作に応答して入力部8が入力した信号に応じて、レシピを作成あるいは編集することができる。ここでは、例えば、表示部に表示されたレシピ入力画面上においてオペレータが各種の情報を入力することで、レシピ作成部10cにおいてレシピを作成および編集することができる。 The recipe creating unit 10c can create or edit the recipe in response to a signal input by the input unit 8 in response to an operation of the operator, for example. Here, for example, the recipe can be created and edited in the recipe creating unit 10c by the operator inputting various information on the recipe input screen displayed on the display unit.

図5(a)および図5(b)は、薬液処理部52における処理を規定したレシピ入力画面の一部R1a,R1bの第1の例を示す図である。図6は、薬液処理部52における処理を規定したレシピ入力画面の一部R2の第2の例を示す図である。 FIGS. 5A and 5B are diagrams showing a first example of part R1a, R1b of the recipe input screen that defines the processing in the chemical liquid processing unit 52. FIG. 6 is a diagram showing a second example of a part R2 of the recipe input screen that defines the processing in the chemical liquid processing unit 52.

例えば、図5(a)で示すように、第1液処理部5の薬液処理部52について、レシピ入力画面で、基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値V1aを記述し、記憶部20にレシピを記憶させることができる。また、例えば、図5(b)で示すように、第2液処理部6の薬液処理部52について、レシピ入力画面で、基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値V1bを記述し、記憶部20にレシピを記憶させることができる。ここで、基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値V1a,V1bには、例えば、処理液の体積が適用される。 For example, as shown in FIG. 5A, regarding the chemical liquid processing unit 52 of the first liquid processing unit 5, the numerical value V1a relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate W is described on the recipe input screen. The recipe can be stored in the storage unit 20. Further, for example, as shown in FIG. 5B, for the chemical liquid processing unit 52 of the second liquid processing unit 6, a numerical value V1b relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate W is displayed on the recipe input screen. The recipe can be described and stored in the storage unit 20. Here, for example, the volume of the processing liquid is applied to the numerical values V1a and V1b related to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate W.

このようにして、レシピ作成部10cは、オペレータの動作に応答して入力部8が入力した信号に応じて、2つの薬液処理部52のそれぞれについての基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値V1a,V1bを、レシピに記述することで、レシピを作成あるいは編集することができる。これにより、例えば、オペレータが、2つの薬液処理部52における処理槽CB2ごとに基板Wに施す処理に対するカスタマイズを実行することができる。ここで、基板Wの単位処理量は、例えば、所定の枚数で構成される単位処理枚数が含まれる。所定の枚数は、例えば、1枚であってもよいし、2枚以上の任意の枚数であってもよい。数値V1a,V1bには、例えば、処理液の体積を示す値が適用される。図5(a)の例では、1枚の基板Wに対して、600mlの処理液の供給量が記述されている。図5(b)の例では、1枚の基板Wに対して、800mlの処理液の供給量が記述されている。ここでは、数値V1a,V1bは、例えば、各薬液処理部52の処理槽CB2における基板Wに対する処理の結果に応じて、オペレータによって適宜入力され得る。これにより、例えば、オペレータが、基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値を薬液処理部52ごとにレシピに記述することができる。そして、2つの薬液処理部52のそれぞれについて基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値V1a,V1bを含む数値情報が、記憶部20に記憶される。 In this way, the recipe creating unit 10c responds to the signal input by the input unit 8 in response to the operation of the operator, and thus, the recipe of the processing liquid per unit processing amount of the substrate W for each of the two chemical liquid processing units 52. By describing the numerical values V1a and V1b related to the supply amount in the recipe, the recipe can be created or edited. Thereby, for example, the operator can customize the processing performed on the substrate W for each of the processing baths CB2 in the two chemical liquid processing units 52. Here, the unit processing amount of the substrate W includes, for example, the unit processing number constituted by a predetermined number. The predetermined number may be, for example, one or any number of two or more. For the numerical values V1a and V1b, for example, a value indicating the volume of the processing liquid is applied. In the example of FIG. 5A, the supply amount of the processing liquid of 600 ml is described for one substrate W. In the example of FIG. 5B, the supply amount of the processing liquid of 800 ml is described for one substrate W. Here, the numerical values V1a and V1b can be appropriately input by the operator, for example, according to the result of the processing on the substrate W in the processing bath CB2 of each chemical liquid processing section 52. Thereby, for example, the operator can describe the numerical value related to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate W in the recipe for each chemical liquid processing unit 52. Numerical information including the numerical values V1a and V1b related to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate W for each of the two chemical liquid processing units 52 is stored in the storage unit 20.

図5(a)および図5(b)の例では、別々のレシピに2つの処理槽CB2についての数値V1a,V1bが記述されたが、これに限られない。例えば、1つのレシピに、各薬液処理部52についての数値V1a,V1bを含む数値情報が記述されてもよい。この場合には、例えば、1つのレシピで薬液処理部52ごとに基板Wの処理量に応じた量の処理液を処理槽CB2に供給することができる。これにより、例えば、1つのレシピに従って、2つの処理槽CB2を用いて並行して基板Wに処理を施すことができる。 In the example of FIGS. 5A and 5B, the numerical values V1a and V1b for the two processing baths CB2 are described in different recipes, but the present invention is not limited to this. For example, one recipe may describe numerical information including the numerical values V1a and V1b for each chemical liquid processing unit 52. In this case, for example, it is possible to supply the treatment liquid in an amount corresponding to the treatment amount of the substrate W to the treatment bath CB2 for each chemical treatment unit 52 in one recipe. Thereby, for example, according to one recipe, the substrates W can be processed in parallel using the two processing baths CB2.

また、図6で示されるように、1つのレシピに記述される数値情報が、基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量について、2つの薬液処理部52に対する基準値Vs1と、2つの薬液処理部52のうちの少なくとも1つの薬液処理部52に対する調整値Va1と、を含んでいてもよい。なお、図6で示されるレシピの一例では、第1液処理部5の薬液処理部52が記号T2で示され、第2液処理部6の薬液処理部52が記号T4で示されている。ここで、基準値Vs1には、例えば、1つの薬液処理部52に対する基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量を規定する標準的な値が適用される。調整値Va1には、例えば、基準値Vs1を基準として、基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量を薬液処理部52ごとに増減させるべき量を規定する値が適用される。基準値Vs1および調整値Va1には、例えば、処理液の体積が適用される。図6の例では、1つのレシピに、基準値Vs1としての600mlと、第1の調整値Va11としての0mlおよび第2の調整値Va12としての200mlと、が記述される。ここでは、第1の調整値Va11が、第1液処理部5の薬液処理部52に対する調整値であり、第2の調整値Va12が、第2液処理部6の薬液処理部52に対する調整値である。 Further, as shown in FIG. 6, the numerical value information described in one recipe includes the reference value Vs1 for the two chemical liquid processing units 52 and the two values regarding the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate W. The adjustment value Va1 for at least one of the chemical liquid processing units 52 may be included. In the example of the recipe shown in FIG. 6, the chemical liquid processing unit 52 of the first liquid processing unit 5 is shown by a symbol T2, and the chemical liquid processing unit 52 of the second liquid processing unit 6 is shown by a symbol T4. Here, as the reference value Vs1, for example, a standard value that defines the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate W to one chemical liquid processing unit 52 is applied. As the adjustment value Va1, for example, a value that defines the amount by which the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate W should be increased or decreased for each chemical liquid processing unit 52 is applied with the reference value Vs1 as a reference. For example, the volume of the processing liquid is applied as the reference value Vs1 and the adjustment value Va1. In the example of FIG. 6, 600 ml as the reference value Vs1, 0 ml as the first adjustment value Va11, and 200 ml as the second adjustment value Va12 are described in one recipe. Here, the first adjustment value Va11 is the adjustment value for the chemical liquid processing unit 52 of the first liquid processing unit 5, and the second adjustment value Va12 is the adjustment value for the chemical liquid processing unit 52 of the second liquid processing unit 6. Is.

スケジュール作成部10dは、例えば、処理対象としての複数の基板Wに対して指定されたレシピに応じて、タイムスケジュールを作成することができる。このタイムスケジュールは、例えば、第1搬送部2による複数の基板Wの搬送および第2搬送部3による1ロットの複数の基板Wの搬送、ならびに乾燥処理部4、第1液処理部5および第2液処理部6が複数の基板Wに施す処理などをそれぞれ行うタイミングを規定する。スケジュール作成部10dで作成されたタイムスケジュールは、例えば、メモリあるいは記憶部20に記憶される。そして、基板処理装置100は、例えば、スケジュール作成部10dで作成されたタイムスケジュールに従って、各種の動作を行うことができる。 The schedule creation unit 10d can create a time schedule, for example, according to a recipe specified for a plurality of substrates W to be processed. This time schedule is, for example, the transfer of the plurality of substrates W by the first transfer unit 2, the transfer of the plurality of substrates W of one lot by the second transfer unit 3, the drying processing unit 4, the first liquid processing unit 5, and the first liquid processing unit 5. The timing at which the two-liquid processing unit 6 performs the processing and the like on the plurality of substrates W is defined. The time schedule created by the schedule creating unit 10d is stored in, for example, the memory or the storage unit 20. Then, the substrate processing apparatus 100 can perform various operations according to the time schedule created by the schedule creating unit 10d, for example.

取得部10eは、例えば、センサ部11mによる計測結果に基づいて、処理の対象となる1ロットの基板Wの処理量情報を取得することができる。ここで、例えば、2つのカセットC1に収納されている全ての基板Wが、第2搬送部3に対して搬送されることで、複数の基板Wを含む1ロットの基板群が形成される場合を想定する。この場合には、例えば、2つのカセットC1のそれぞれに収納されている全ての基板Wの枚数が、センサ部11mで計測された結果に基づいて、1ロットの基板Wの処理量情報として取得され得る。これにより、例えば、基板処理装置100で計測された基板Wの処理量に基づいて、薬液処理部52ごとに基板Wの処理量に応じた量の処理液を処理槽CB2に供給することができる。その結果、例えば、基板処理装置100内で、処理槽CB2ごとに基板Wに施す処理に対するカスタマイズを実行することができる。 The acquisition unit 10e can acquire the processing amount information of one lot of the substrates W to be processed, based on the measurement result of the sensor unit 11m, for example. Here, for example, when all the substrates W accommodated in the two cassettes C1 are transported to the second transport unit 3 to form a substrate group of one lot including a plurality of substrates W. Assume In this case, for example, the number of all the substrates W stored in each of the two cassettes C1 is acquired as the processing amount information of one lot of the substrates W based on the result measured by the sensor unit 11m. obtain. As a result, for example, based on the processing amount of the substrate W measured by the substrate processing apparatus 100, an amount of the processing liquid corresponding to the processing amount of the substrate W can be supplied to the processing bath CB2 for each chemical liquid processing unit 52. .. As a result, for example, in the substrate processing apparatus 100, it is possible to customize the processing performed on the substrate W for each processing bath CB2.

認識部10fは、例えば、2つの薬液処理部52のうちの基板Wに処理を施すために使用する1つの薬液処理部52を認識することができる。例えば、タイムスケジュールに基づいて、2つの薬液処理部52のうち、1ロットの複数の基板Wが搬入される薬液処理部52が決定され得る。 The recognition unit 10f can recognize one of the two chemical liquid processing units 52, which is used for processing the substrate W, for example. For example, based on the time schedule, of the two chemical liquid processing units 52, the chemical liquid processing unit 52 into which a plurality of substrates W of one lot are loaded can be determined.

算出部10gは、例えば、処理の対象である1ロットの複数の基板Wに対して指定されたレシピの数値情報のうちの認識部10fで認識された1つの薬液処理部52に対応する基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値と、取得部10eで取得された処理量情報と、に基づいて、1つの薬液処理部52の処理槽CB2に供給する処理液の供給量に係る数値を算出することができる。 The calculating unit 10g, for example, corresponds to one substrate W corresponding to one chemical liquid processing unit 52 recognized by the recognizing unit 10f in the numerical information of the recipe designated for the plurality of substrates W of one lot to be processed. Based on the numerical value relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount and the processing amount information acquired by the acquisition unit 10e, the supply amount of the processing liquid supplied to the processing tank CB2 of one chemical liquid processing unit 52. The numerical value relating to can be calculated.

ここで、図5(a)および図5(b)で示されるように、別々のレシピに2つの処理槽CB2についての数値V1a,V1bが記述されている場合を想定する。この場合には、例えば、認識部10fが第1液処理部5の薬液処理部52を認識したとき、基板Wの単位処理量である1枚当たりの処理液の供給量としての600mlに、取得部10eで取得された処理量情報としての基板Wの枚数(50枚以下)が乗ぜられた値が、1つの薬液処理部52の処理槽CB2に供給する処理液の供給量に係る数値として算出される。図5(a)の例では、600mlに基板Wの枚数である50枚が乗ぜられて、1つの薬液処理部52の処理槽CB2に供給する処理液の供給量に係る数値である30000mlが算出された状態が示されている。また、例えば、認識部10fが第2液処理部6の薬液処理部52を認識したとき、基板Wの単位処理量である1枚当たりの処理液の供給量としての800mlに、取得部10eで取得された処理量情報としての基板Wの枚数(50枚以下)が乗ぜられた値が、1つの薬液処理部52の処理槽CB2に供給する処理液の供給量に係る数値として算出される。図5(b)の例では、800mlに基板Wの枚数である50枚が乗ぜられて、1つの薬液処理部52の処理槽CB2に供給する処理液の供給量に係る数値である40000mlが算出された状態が示されている。 Here, it is assumed that the numerical values V1a and V1b for the two processing baths CB2 are described in different recipes as shown in FIGS. 5A and 5B. In this case, for example, when the recognition unit 10f recognizes the chemical liquid processing unit 52 of the first liquid processing unit 5, the unit processing amount of the substrate W is set to 600 ml as the supply amount of the processing liquid per sheet. A value obtained by multiplying the number of substrates W (50 or less) as the processing amount information acquired by the unit 10e is calculated as a numerical value related to the supply amount of the processing liquid supplied to the processing bath CB2 of one chemical liquid processing unit 52. To be done. In the example of FIG. 5A, 600 ml is multiplied by 50, which is the number of substrates W, and 30000 ml, which is a numerical value relating to the supply amount of the treatment liquid to be supplied to the treatment bath CB2 of one chemical treatment portion 52, is calculated. The state is shown. In addition, for example, when the recognition unit 10f recognizes the chemical liquid processing unit 52 of the second liquid processing unit 6, the unit processing amount of the substrate W is set to 800 ml as the supply amount of the processing liquid per sheet, and the acquisition unit 10e. A value multiplied by the number of substrates W (50 or less) as the acquired processing amount information is calculated as a numerical value related to the supply amount of the processing liquid supplied to the processing bath CB2 of one chemical liquid processing unit 52. In the example of FIG. 5B, 50 ml, which is the number of substrates W, is multiplied by 800 ml, and 40000 ml, which is a numerical value related to the supply amount of the treatment liquid supplied to the treatment bath CB2 of one chemical treatment portion 52, is calculated. The state is shown.

供給制御部10hは、例えば、算出部10gで算出された数値に応じて、認識部10fで認識された1つの薬液処理部52において、液供給部SL1によって処理液を処理槽CB2に供給させることができる。このため、例えば、薬液処理部52ごとに基板Wの処理量に応じた量の処理液を処理槽CB2に供給することができる。これにより、例えば、処理液の無駄遣い、ならびに処理液の過度な供給による過度な処理などの不具合が生じにくい。その結果、例えば、基板処理装置100において処理槽CB2ごとに基板Wに施す処理に対するカスタマイズを容易に実行することができる。したがって、例えば、基板処理装置100において基板Wに施す処理に対するカスタマイズを容易に実行することができる。 The supply control unit 10h causes the liquid supply unit SL1 to supply the processing liquid to the processing tank CB2 in the single chemical liquid processing unit 52 recognized by the recognition unit 10f, for example, according to the numerical value calculated by the calculation unit 10g. You can Therefore, for example, an amount of the processing liquid corresponding to the processing amount of the substrate W can be supplied to the processing bath CB2 for each chemical liquid processing unit 52. As a result, problems such as wasted processing liquid and excessive processing due to excessive supply of the processing liquid are less likely to occur. As a result, for example, in the substrate processing apparatus 100, customization of the processing performed on the substrate W for each processing bath CB2 can be easily executed. Therefore, for example, customization of the process performed on the substrate W in the substrate processing apparatus 100 can be easily performed.

ところで、算出部10gは、例えば、1つのレシピに記述される数値情報のうち、基準値Vs1および認識部10fで認識された1つの薬液処理部52に対応する調整値Va1と、取得部10eで取得された処理量情報と、に基づいて、1つの薬液処理部52の処理槽CB2に供給する処理液の供給量に係る数値を算出することができてもよい。この場合には、例えば、1つのレシピにおいて調整値を変更することで、薬液処理部52ごとに基板Wの処理量に応じた量の処理液を処理槽CB2に供給させることができる。これにより、例えば、レシピを容易に作成することができる。 By the way, the calculation unit 10g, for example, in the numerical information described in one recipe, the reference value Vs1 and the adjustment value Va1 corresponding to one chemical liquid processing unit 52 recognized by the recognition unit 10f, and the acquisition unit 10e. It may be possible to calculate a numerical value related to the supply amount of the processing liquid to be supplied to the processing bath CB2 of one chemical liquid processing unit 52, based on the acquired processing amount information. In this case, for example, by changing the adjustment value in one recipe, it is possible to supply the processing liquid in an amount corresponding to the processing amount of the substrate W to the processing bath CB2 for each chemical liquid processing unit 52. Thereby, for example, the recipe can be easily created.

ここで、図6で示されるように、1つのレシピに、基準値Vs1と調整値Va1とが記述されている場合を想定する。この場合には、例えば、認識部10fが第1液処理部5の薬液処理部52を認識したとき、基板Wの単位処理量である1枚当たりの処理液の供給量の基準値Vs1としての600mlに、取得部10eで取得された処理量情報としての基板Wの枚数(50枚以下)が乗ぜられた値と、基板Wの単位処理量である1枚当たりの処理液の供給量の第1の調整値Va11としての0mlに、取得部10eで取得された処理量情報としての基板Wの枚数(50枚以下)が乗ぜられた値と、の和が、1つの薬液処理部52の処理槽CB2に供給する処理液の供給量に係る数値として算出される。図6の例では、基準値Vs1である600mlに基板Wの枚数である50枚が乗ぜられた値と、第1の調整値Va11である0mlに基板Wの枚数である50枚が乗ぜられた値と、の和である30000mlが算出された状態が示されている。また、例えば、認識部10fが第2液処理部6の薬液処理部52を認識したとき、基板Wの単位処理量である1枚当たりの処理液の供給量の基準値Vs1としての600mlに、取得部10eで取得された処理量情報としての基板Wの枚数(50枚以下)が乗ぜられた値と、基板Wの単位処理量である1枚当たりの処理液の供給量の第2の調整値Va12としての200mlに、取得部10eで取得された処理量情報としての基板Wの枚数(50枚以下)が乗ぜられた値と、の和が、1つの薬液処理部52の処理槽CB2に供給する処理液の供給量に係る数値として算出される。 Here, as shown in FIG. 6, it is assumed that the reference value Vs1 and the adjustment value Va1 are described in one recipe. In this case, for example, when the recognition unit 10f recognizes the chemical liquid processing unit 52 of the first liquid processing unit 5, the unit processing amount of the substrate W is set as the reference value Vs1 of the supply amount of the processing liquid per sheet. The value obtained by multiplying 600 ml by the number of substrates W (50 or less) as the processing amount information acquired by the acquisition unit 10e, and the unit processing amount of the substrate W, that is, The sum of a value obtained by multiplying 0 ml as the adjustment value Va11 of 1 by the number (50 or less) of the substrates W as the processing amount information acquired by the acquisition unit 10e is processed by one chemical liquid processing unit 52. It is calculated as a numerical value related to the supply amount of the processing liquid supplied to the bath CB2. In the example of FIG. 6, a value obtained by multiplying the reference value Vs1 of 600 ml by 50, which is the number of substrates W, and a value 0 ml that is the first adjustment value Va11 by 50, which is the number of substrates W, are multiplied. The state in which the sum of the value and 30,000 ml is calculated is shown. Further, for example, when the recognition unit 10f recognizes the chemical liquid processing unit 52 of the second liquid processing unit 6, the unit processing amount of the substrate W is set to 600 ml as the reference value Vs1 of the supply amount of the processing liquid per sheet, Second adjustment of the value multiplied by the number of substrates W (50 or less) as the processing amount information acquired by the acquisition unit 10e and the supply amount of the processing liquid per substrate, which is the unit processing amount of the substrates W The sum of the value Va12 of 200 ml and the value obtained by multiplying the number of substrates W (50 or less) as the processing amount information acquired by the acquisition unit 10e in the processing bath CB2 of one chemical solution processing unit 52. It is calculated as a numerical value related to the supply amount of the processing liquid to be supplied.

図7は、基板Wの枚数と処理槽CB2に対する処理液の供給量との関係の一例を示す図である。図7には、図6のレシピの一例に沿った、基板Wの枚数と処理槽CB2に対する処理液の供給量との関係が示されている。より具体的には、図7では、第1液処理部5の薬液処理部52における処理槽CB2についての基板Wの枚数と処理液の供給量との関係が実線L1で示されており、第2液処理部6の薬液処理部52における処理槽CB2についての基板Wの枚数と処理液の供給量との関係が一点鎖線L2で示されている。ここでは、例えば、第1液処理部5の薬液処理部52については、第1の調整値Va11が0mlであるため、処理液の供給量の調整が行われない。これにより、第1液処理部5の薬液処理部52の処理槽CB2に対して供給される処理液の供給量は、実線L1で示されるように、基準値Vs1としての600mlに処理量情報としての基板Wの枚数を乗じた量となる。また、例えば、第2液処理部6の薬液処理部52については、第2の調整値Va12が200mlであるため、単位処理量としての1枚の基板W当たり、処理液を200ml増量する処理液の供給量の調整が行われる。これにより、第2液処理部6の薬液処理部52の処理槽CB2に対して供給される処理液の供給量は、一点鎖線L2で示されるように、基準値Vs1に沿った実線L1で示される処理液の供給量に、第2の調整値Va12としての200mlに処理量情報としての基板Wの枚数を乗じた値を加えることで調整された量となる。 FIG. 7 is a diagram showing an example of the relationship between the number of substrates W and the supply amount of the processing liquid to the processing bath CB2. FIG. 7 shows the relationship between the number of substrates W and the supply amount of the processing liquid to the processing bath CB2 along the example of the recipe of FIG. More specifically, in FIG. 7, the relationship between the number of substrates W and the supply amount of the processing liquid in the processing bath CB2 in the chemical liquid processing unit 52 of the first liquid processing unit 5 is shown by a solid line L1. The relationship between the number of substrates W and the supply amount of the processing liquid in the processing bath CB2 in the chemical liquid processing unit 52 of the two-liquid processing unit 6 is shown by a one-dot chain line L2. Here, for example, in the chemical liquid processing unit 52 of the first liquid processing unit 5, since the first adjustment value Va11 is 0 ml, the supply amount of the processing liquid is not adjusted. Accordingly, the supply amount of the processing liquid supplied to the processing bath CB2 of the chemical liquid processing unit 52 of the first liquid processing unit 5 is 600 ml as the reference value Vs1 as the processing amount information as shown by the solid line L1. It is an amount obtained by multiplying the number of substrates W of. Further, for example, in the chemical liquid processing unit 52 of the second liquid processing unit 6, since the second adjustment value Va12 is 200 ml, the processing liquid for increasing the amount of the processing liquid by 200 ml per one substrate W as the unit processing amount. The supply amount of is adjusted. Accordingly, the supply amount of the processing liquid supplied to the processing bath CB2 of the chemical liquid processing unit 52 of the second liquid processing unit 6 is indicated by the solid line L1 along the reference value Vs1 as indicated by the alternate long and short dash line L2. The adjusted amount is obtained by adding a value obtained by multiplying 200 ml as the second adjustment value Va12 by the number of the substrates W as the processing amount information to the supplied supply amount of the processing liquid.

モード切替部10iは、例えば、オペレータの動作に応答して入力部8が入力した信号に応じて、第1液供給モードと第2液供給モードとの間で、モードを切り替えることができる。ここで、第1液供給モードは、上述したような、薬液処理部52ごとに処理量に応じた量の処理液を処理槽CB2に供給するモードである。具体的には、第1液供給モードには、例えば、算出部10gが、レシピに記述された数値情報のうちの認識部10fで認識された1つの薬液処理部52に対応する基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値と、取得部10eで取得された処理量情報と、に基づいて、認識部10fで認識された1つの薬液処理部52の処理槽CB2に供給する処理液の供給量に係る数値を算出し、供給制御部10hが、算出部10gで算出された数値に応じて、認識部10fで認識された1つの薬液処理部52において、液供給部SL1によって処理液を処理槽CB2に供給させるモードが適用される。第2液供給モードは、2つの薬液処理部52にかかわらず所定量の処理液を処理槽CB2に供給するモードである。具体的には、第2液供給モードには、例えば、制御部10が、認識部10fで認識された1つの薬液処理部52の処理槽CB2に、液供給部SL1によって予め設定された所定量の処理液を供給させるモードが適用される。 The mode switching unit 10i can switch the mode between the first liquid supply mode and the second liquid supply mode, for example, according to the signal input by the input unit 8 in response to the operation of the operator. Here, the first liquid supply mode is a mode in which an amount of the processing liquid corresponding to the processing amount of each chemical liquid processing unit 52 is supplied to the processing bath CB2 as described above. Specifically, in the first liquid supply mode, for example, the calculation unit 10g is a unit of the substrate W corresponding to one chemical liquid processing unit 52 recognized by the recognition unit 10f of the numerical information described in the recipe. Based on the numerical value related to the supply amount of the processing liquid per processing amount and the processing amount information acquired by the acquisition unit 10e, the processing liquid is supplied to the processing tank CB2 of one chemical liquid processing unit 52 recognized by the recognition unit 10f. The supply control unit 10h calculates the numerical value related to the supply amount of the processing liquid, and the liquid supply unit SL1 in the single chemical liquid processing unit 52 recognized by the recognition unit 10f according to the numerical value calculated by the calculation unit 10g. A mode in which the processing liquid is supplied to the processing tank CB2 is applied. The second liquid supply mode is a mode in which a predetermined amount of processing liquid is supplied to the processing bath CB2 regardless of the two chemical liquid processing units 52. Specifically, in the second liquid supply mode, for example, the control unit 10 causes the processing tank CB2 of one chemical liquid processing unit 52 recognized by the recognition unit 10f to have a predetermined amount preset by the liquid supply unit SL1. The mode in which the processing liquid is supplied is applied.

このようなモードの切り替えが可能であれば、例えば、処理槽CB2ごとに基板Wに対する処理の結果に差が生じない場合などにおいて、第2液供給モードに設定することで、薬液処理部52ごとの基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値の設定を省略することができる。これにより、例えば、レシピの作成および編集などによって処理の条件を設定するオペレータの作業量を低減することができる。 If such mode switching is possible, for example, in the case where there is no difference in the processing results for the substrate W for each processing bath CB2, by setting the second liquid supply mode, each chemical liquid processing unit 52 can be set. It is possible to omit setting the numerical value relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate W. As a result, it is possible to reduce the work amount of the operator who sets the processing conditions by, for example, creating and editing the recipe.

<1−4.処理槽への処理液の供給に係る動作>
図8は、処理槽CB2への処理液の供給に係る動作フローの一例を示すフローチャートである。処理槽CB2に対する処理液の供給に係る動作には、例えば、レシピの作成および編集に係る動作も含まれる。本動作フローは、例えば、制御部10が、基板処理装置100の各部の動作を制御することで実現される。ここでは、例えば、図8のステップS1〜S10の処理が行われることで、処理槽CB2への処理液の供給に係る動作が実行される。
<1-4. Operation related to supply of treatment liquid to treatment tank>
FIG. 8 is a flowchart showing an example of an operation flow relating to the supply of the processing liquid to the processing tank CB2. The operation related to the supply of the processing liquid to the processing tank CB2 includes, for example, the operation related to the creation and editing of the recipe. The operation flow is realized, for example, by the control unit 10 controlling the operation of each unit of the substrate processing apparatus 100. Here, for example, the operations relating to the supply of the processing liquid to the processing bath CB2 are executed by performing the processing of steps S1 to S10 of FIG.

ステップS1では、制御部10が、レシピの作成および編集を開始するか否かを判定する。ここで、例えば、オペレータの動作に応答して入力部8でレシピ入力画面を表示するための信号が入力されなければ、ステップS5に進み、オペレータの動作に応答して入力部8でレシピ入力画面を表示するための信号が入力されれば、ステップS2に進む。 In step S1, the control unit 10 determines whether to start creating and editing the recipe. Here, for example, if a signal for displaying the recipe input screen is not input by the input unit 8 in response to the operation of the operator, the process proceeds to step S5, and the recipe input screen is input by the input unit 8 in response to the operation of the operator. If a signal for displaying is input, the process proceeds to step S2.

ステップS2では、表示制御部10bが、画面作成部10aで作成されるレシピ入力画面の情報に基づいて、レシピ入力画面を出力部9が含む表示部に表示させる。 In step S2, the display control unit 10b causes the display unit included in the output unit 9 to display the recipe input screen based on the information of the recipe input screen created by the screen creating unit 10a.

ステップS3では、レシピ作成部10cが、オペレータの動作に応答して入力部8で入力される信号に応じてレシピ入力画面上での情報の記述などの情報の入力を受け付ける。このとき、例えば、第1液処理部5および第2液処理部6における2つの薬液処理部52のそれぞれについて、基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値情報が入力され得る。 In step S3, the recipe creation unit 10c accepts input of information such as description of information on the recipe input screen in response to a signal input by the input unit 8 in response to the operation of the operator. At this time, for example, for each of the two chemical liquid processing units 52 in the first liquid processing unit 5 and the second liquid processing unit 6, numerical information regarding the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate W can be input. ..

ステップS4では、制御部10が、レシピの作成および編集を終了するか否か判定する。ここで、例えば、オペレータの動作に応答して入力部8でレシピの作成および編集を終了するための信号が入力されなければ、ステップS3に戻り、オペレータの動作に応答して入力部8でレシピの作成および編集を終了するための信号が入力されれば、ステップS5に進む。 In step S4, the control unit 10 determines whether or not to complete the creation and editing of the recipe. Here, for example, if a signal for ending the creation and editing of the recipe is not input by the input unit 8 in response to the operation of the operator, the process returns to step S3, and the recipe is input by the input unit 8 in response to the operation of the operator. If a signal for ending the creation and editing of is input, the process proceeds to step S5.

ステップS5では、制御部10が、レシピ入力画面上で作成および編集されたレシピを記憶部20に記憶させる。これにより、例えば、第1液処理部5および第2液処理部6における2つの薬液処理部52のそれぞれについて、基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値情報が記憶部20に記憶される。 In step S5, the control unit 10 stores the recipe created and edited on the recipe input screen in the storage unit 20. Thereby, for example, with respect to each of the two chemical liquid processing units 52 in the first liquid processing unit 5 and the second liquid processing unit 6, numerical information relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate W is stored in the storage unit 20. Memorized in.

ステップS6では、制御部10が、薬液処理部52において薬液処理を開始するタイミングか否かを判定する。ここでは、制御部10は、例えば、スケジュール作成部10dで処理対象としての複数の基板Wに対して指定されたレシピに応じて作成されて記憶部20などに記憶されたタイムスケジュールに基づいて、薬液処理を開始するタイミングか否かを判定することができる。ここで、薬液処理部52における薬液処理を開始するタイミングでなければ、ステップS1に戻る。一方、薬液処理部52における薬液処理を開始するタイミングであれば、ステップS7に進む。このとき、処理の対象である1ロットの複数の基板Wに対して指定されたレシピが認識され得る。 In step S6, the control unit 10 determines whether or not it is time to start the chemical liquid processing in the chemical liquid processing unit 52. Here, the control unit 10, for example, based on the time schedule created according to the recipe specified for the plurality of substrates W to be processed by the schedule creation unit 10d and stored in the storage unit 20 or the like, It is possible to determine whether or not it is the timing to start the chemical treatment. If it is not the time to start the chemical liquid processing in the chemical liquid processing unit 52, the process returns to step S1. On the other hand, if it is the timing to start the chemical liquid processing in the chemical liquid processing unit 52, the process proceeds to step S7. At this time, the recipe designated for the plurality of substrates W of one lot to be processed can be recognized.

ステップS7では、取得部10eが、薬液処理部52における処理の対象となる基板Wの処理量としての1ロットの基板Wの枚数を取得する。 In step S7, the acquisition unit 10e acquires the number of substrates W in one lot as the processing amount of the substrates W to be processed in the chemical liquid processing unit 52.

ステップS8では、認識部10fが、第1液処理部5および第2液処理部6における2つの薬液処理部52のうちの基板Wに処理を施すために使用する1つの薬液処理部52を認識する。ここでは、認識部10fは、例えば、タイムスケジュールなどに基づいて使用する1つの処理槽CB2を認識することができる。 In step S8, the recognition unit 10f recognizes one of the two chemical liquid processing units 52 in the first liquid processing unit 5 and the second liquid processing unit 6 that is used to process the substrate W. To do. Here, the recognition unit 10f can recognize one processing tank CB2 to be used based on, for example, a time schedule.

ステップS9では、算出部10gが、処理の対象である1ロットの複数の基板Wに対して指定されたレシピに記述された数値情報のうちのステップS8で認識された1つの薬液処理部52に対応する単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値と、ステップS7で取得された処理量としての1ロットの基板Wの枚数と、に基づいて、1つの薬液処理部52の処理槽CB2に供給する処理液の供給量に係る数値を算出する。 In step S9, the calculation unit 10g causes the single chemical solution processing unit 52 recognized in step S8 among the numerical value information described in the recipe specified for the plurality of substrates W of one lot to be processed. The processing bath CB2 of one chemical solution processing unit 52 is based on the corresponding numerical value relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount and the number of substrates W of one lot as the processing amount acquired in step S7. A numerical value relating to the supply amount of the processing liquid to be supplied to is calculated.

ステップS10では、供給制御部10hが、ステップS9で算出された数値に応じて、ステップS8で認識された1つの薬液処理部52において液供給部SL1によって処理液を処理槽CB2に供給させる。 In step S10, the supply control unit 10h causes the liquid supply unit SL1 in the single chemical liquid processing unit 52 recognized in step S8 to supply the processing liquid to the processing bath CB2 in accordance with the numerical value calculated in step S9.

このような動作によって、例えば、薬液処理部52CB2ごとに基板Wの処理量に応じた量の処理液を処理槽CB2に供給することができる。これにより、例えば、処理液の無駄遣い、ならびに処理液の過度な供給による過度な処理などの不具合が生じにくい。その結果、例えば、基板処理装置100において処理槽CB2ごとに基板Wに施す処理に対するカスタマイズを容易に実行することができる。したがって、例えば、基板処理装置100において基板Wに施す処理に対するカスタマイズを容易に実行することができる。 By such an operation, for example, the processing liquid of an amount corresponding to the processing amount of the substrate W can be supplied to the processing bath CB2 for each chemical liquid processing unit 52CB2. As a result, problems such as wasted processing liquid and excessive processing due to excessive supply of the processing liquid are less likely to occur. As a result, for example, in the substrate processing apparatus 100, customization of the processing performed on the substrate W for each processing bath CB2 can be easily executed. Therefore, for example, customization of the process performed on the substrate W in the substrate processing apparatus 100 can be easily performed.

<1−5.レシピ入力画面の表示態様>
図9は、レシピ入力画面Sc0の概略的な構成を示す図である。図10は、レシピ入力画面Sc0におけるレシピ入力部Pr1の部分的な参考例を示す図である。図11から図22は、それぞれレシピ入力画面Sc0におけるレシピ入力部Pr1の部分的な一例を示す図である。
<1-5. Display mode of recipe input screen>
FIG. 9 is a diagram showing a schematic configuration of the recipe input screen Sc0. FIG. 10 is a diagram showing a partial reference example of the recipe input unit Pr1 on the recipe input screen Sc0. 11 to 22 are diagrams each showing a partial example of the recipe input section Pr1 on the recipe input screen Sc0.

図9で示されるように、レシピ入力画面Sc0は、例えば、レシピについての情報が表示される領域(レシピ表示領域ともいう)Ar0と、各種のコマンドを入力するためのボタンが並んでいる領域(ボタン領域ともいう)Ab0と、を有する。レシピ表示領域Ar0は、例えば、レシピについての各種識別情報などが表示される部分(識別情報部ともいう)Pr0と、レシピの設定項目および各設定項目に対する設定条件(数値など)が表示および入力される部分(レシピ入力部ともいう)Pr1と、を含む。 As shown in FIG. 9, the recipe input screen Sc0 has, for example, an area (also referred to as a recipe display area) Ar0 in which information about a recipe is displayed and an area in which buttons for inputting various commands are arranged ( Ab0 (also referred to as a button area). In the recipe display area Ar0, for example, a portion (also referred to as an identification information section) Pr0 on which various identification information about the recipe is displayed, setting items of the recipe and setting conditions (numerical values, etc.) for each setting item are displayed and input. Part (also referred to as a recipe input part) Pr1.

ここで、図10で示されるように、レシピ入力部Pr1は、例えば、上部に位置する第1領域Ar1と、下部に位置する第2領域Ar2とを含む。第1領域Ar1は、例えば、レシピに従って実行される処理において時間の経過に依存しない条件についての複数の設定項目(第1設定項目ともヘッダ項目ともいう)のそれぞれに対して条件を記述する領域(ヘッダ領域ともいう)である。第2領域Ar2は、例えば、レシピに従って実行される処理において時間の経過に依存する条件についての複数の設定項目(第2設定項目ともステップ項目ともいう)のそれぞれに対して条件を記述する領域(ステップ領域ともいう)である。複数の第1設定項目は、例えば、リフターLF2の昇降速度、基板Wのエッチング量、処理槽CB2での処理液による処理の条件およびバブリングの有無などの項目を含み得る。複数の第2設定項目は、例えば、時間の経過に伴って変化する処理槽CB2への薬液の供給量などの項目を含み得る。 Here, as shown in FIG. 10, the recipe input unit Pr1 includes, for example, a first area Ar1 located in the upper part and a second area Ar2 located in the lower part. The first region Ar1 is, for example, a region in which a condition is described for each of a plurality of setting items (also referred to as a first setting item and a header item) regarding a condition that does not depend on the passage of time in the process executed according to the recipe ( It is also called the header area). The second area Ar2 is, for example, an area in which a condition is described for each of a plurality of setting items (also referred to as second setting items and step items) regarding a condition that depends on the passage of time in the process executed according to the recipe ( It is also called a step area). The plurality of first setting items may include, for example, the ascending/descending speed of the lifter LF2, the etching amount of the substrate W, the condition of the treatment with the treatment liquid in the treatment tank CB2, and the presence or absence of bubbling. The plurality of second setting items may include, for example, items such as the supply amount of the chemical liquid to the processing tank CB2 that changes with the passage of time.

そして、例えば、オペレータは、レシピ入力画面Sc0上で、第1領域Ar1および第2領域Ar2の双方を確認しながら、レシピの作成および編集を行う作業を進めることができる。そして、レシピ作成部10cは、例えば、オペレータの動作に応答して入力部8が入力した信号に応じて、レシピ入力画面Sc0において各第1設定項目に対して記述された条件と、レシピ入力画面Sc0において各第2設定項目に対して記述された条件と、に基づいて、レシピを作成あるいは編集することができる。 Then, for example, the operator can proceed the work of creating and editing the recipe while checking both the first area Ar1 and the second area Ar2 on the recipe input screen Sc0. Then, the recipe creation unit 10c, for example, according to the signal input by the input unit 8 in response to the operation of the operator, the conditions described for each first setting item on the recipe input screen Sc0, and the recipe input screen. A recipe can be created or edited based on the conditions described for each second setting item in Sc0.

<1−5−1.レシピ入力画面における項目の展開と圧縮>
ところで、近年では、例えば、基板Wに施す処理に対して多くの細かな要求が求められる傾向がある。これにより、第1領域Ar1における第1設定項目の数が増加する傾向がある。例えば、処理槽CB2に貯留された処理液に窒素ガスを用いたバブリングを施す場合に、バブリングを施すためのガス管の本数の増加およびガス管ごとのガス噴出の有無などの個別の設定が行われる場合がある。この場合には、第1領域Ar1におけるバブリングに関する第1設定項目の数が増加し得る。特に、近年では、例えば、三次元NANDの形成などを行うためのレシピにおいて処理条件を細かく設定すべき項目が増加し、第1領域Ar1における第1設定項目の数が明らかに増加する傾向もある。
<1-5-1. Expansion and compression of items on the recipe input screen>
By the way, in recent years, for example, there is a tendency that many fine requirements are demanded for the treatment performed on the substrate W. This tends to increase the number of first setting items in the first area Ar1. For example, when bubbling using nitrogen gas is performed on the treatment liquid stored in the treatment tank CB2, individual settings such as the increase in the number of gas pipes for bubbling and the presence or absence of gas ejection for each gas pipe are performed. There is a case to be seen. In this case, the number of first setting items relating to bubbling in the first area Ar1 may increase. In particular, in recent years, for example, in the recipe for forming a three-dimensional NAND or the like, the number of items for which processing conditions are to be set finely increases, and the number of the first setting items in the first region Ar1 tends to obviously increase. ..

しかしながら、例えば、このような第1領域Ar1における第1設定項目の数の増加に伴って、レシピ入力画面Sc0において第1領域Ar1が占める割合が増大し得る。このとき、レシピ入力画面Sc0において、第1領域Ar1と第2領域Ar2とを同時に表示させるためには、例えば、レシピ入力画面Sc0において文字を小さくするなどの工夫が考えられるが、レシピ入力画面Sc0の視認性が悪くなる。その結果、例えば、レシピの作成および変更を行う作業が徐々に難しくなってきている。 However, for example, as the number of first setting items in the first area Ar1 increases, the proportion of the first area Ar1 in the recipe input screen Sc0 may increase. At this time, in order to simultaneously display the first area Ar1 and the second area Ar2 on the recipe input screen Sc0, it is conceivable that the recipe input screen Sc0 may be made smaller, for example. Visibility is poor. As a result, for example, the work of creating and changing recipes has become increasingly difficult.

そこで、第1実施形態では、例えば、図11から図13で示されるように、第1領域Ar1において、複数の第1設定項目を複数のグループに分けて、グループごとに複数の第1設定項目の表示および非表示を切り替え可能としている。このような第1領域Ar1における表示態様は、例えば、記憶部20に記憶される画面構成用データによって実現され得る。 Therefore, in the first embodiment, for example, as shown in FIGS. 11 to 13, in the first area Ar1, a plurality of first setting items are divided into a plurality of groups, and a plurality of first setting items is set for each group. The display and non-display of can be switched. Such a display mode in the first area Ar1 can be realized by, for example, screen configuration data stored in the storage unit 20.

ここでは、例えば、図11で示されるように、第1領域Ar1に、複数の第1設定項目のうちの2つ以上の第1設定項目をそれぞれ含む複数の項目群(第1設定項目群ともいう)のそれぞれのグループ名に係る表示要素(第1表示要素ともいう)Dc1〜Dc3を設ける。このような第1表示要素Dc1〜Dc3は、記憶部20に記憶される画面構成用データによって規定され得る。図11の例では、第1領域Ar1において、複数の第1設定項目が、リフターLF2の昇降速度に係る第1設定項目についてのグループ(第1グループともいう)と、処理槽CB2での処理液による処理の条件に係る第1設定項目についてのグループ(第2グループともいう)と、その他の第1設定項目についてのグループ(第3グループともいう)と、に分類されている。第1領域Ar1には、例えば、第1グループのグループ名に係る第1表示要素Dc1と、第2グループのグループ名に係る第1表示要素Dc2と、第3グループのグループ名に係る第1表示要素Dc3と、が表示されている。 Here, for example, as shown in FIG. 11, in the first region Ar1, a plurality of item groups each including two or more first setting items of the plurality of first setting items (also referred to as a first setting item group). Display elements (also referred to as first display elements) Dc1 to Dc3 associated with the respective group names of (referred to) are provided. Such first display elements Dc1 to Dc3 can be defined by the screen configuration data stored in the storage unit 20. In the example of FIG. 11, in the first region Ar1, a plurality of first setting items are a group (also referred to as a first group) for the first setting items related to the lifting speed of the lifter LF2, and the processing liquid in the processing tank CB2. Are grouped into a group (also referred to as a second group) for the first setting item and a group (also referred to as a third group) for the other first setting item related to the processing condition by. In the first area Ar1, for example, a first display element Dc1 related to the group name of the first group, a first display element Dc2 related to the group name of the second group, and a first display related to the group name of the third group. The element Dc3 is displayed.

そして、例えば、画面作成部10aによって、オペレータの動作に応答して入力部8が入力した信号に応じて、出力部9が含む表示部に表示されるレシピ入力画面Sc0において、複数の第1設定項目群のうちの1つの第1設定項目群に含まれている2つ以上の第1設定項目の表示の状態を、表示している状態(展開状態ともいう)と、表示していない状態(圧縮状態)との間で切り替えられるように構成されている。このような構成が採用されれば、例えば、オペレータは、2つ以上の第1設定項目を含むグループごとに、2つ以上の第1設定項目を表示するように展開している状態と、2つ以上の第1設定項目を表示しないように圧縮している状態と、を切り替えることができる。これにより、例えば、第1領域Ar1における複数の第1設定項目の数が増加しても、オペレータは、レシピ入力画面Sc0上で、第1領域Ar1および第2領域Ar2の双方を確認しながら、レシピの作成および編集を行う作業を容易に行うことが可能となる。したがって、例えば、基板処理装置100において基板Wに施す処理に対するカスタマイズを容易に実行することができる。 Then, for example, in the recipe input screen Sc0 displayed on the display unit included in the output unit 9 in response to the signal input by the input unit 8 in response to the operation of the operator by the screen creation unit 10a, a plurality of first settings are made. A state in which two or more first setting items included in one first setting item group of the item group are displayed and a state where they are not displayed (also referred to as an expanded state) ( (Compressed state). If such a configuration is adopted, for example, the operator expands so as to display two or more first setting items for each group including two or more first setting items, and It is possible to switch between a compressed state in which one or more first setting items are not displayed. Thereby, for example, even if the number of the plurality of first setting items in the first area Ar1 increases, the operator confirms both the first area Ar1 and the second area Ar2 on the recipe input screen Sc0, It is possible to easily perform the work of creating and editing the recipe. Therefore, for example, customization of the process performed on the substrate W in the substrate processing apparatus 100 can be easily performed.

ここで、例えば、オペレータの動作に応答して入力部8が入力した信号に応じて、各第1表示要素Dc1〜Dc3に対する種々の操作が行われることで、第1〜3グループのそれぞれの2つ以上の第1設定項目の表示状態が展開状態と圧縮状態との間で切り替えられる構成が採用され得る。具体的には、例えば、図11で示されるように第1グループの2つ以上の第1設定項目の表示状態が圧縮状態にあるときに、第1表示要素Dc1がマウスポインタMp1でクリックされると、図12で示されるように第1グループの2つ以上の第1設定項目の表示状態が圧縮状態から展開状態に変化する態様が考えられる。一方、例えば、図12で示されるように第1グループの2つ以上の第1設定項目の表示状態が展開状態にあるときに、第1表示要素Dc1がマウスポインタMp1でクリックされると、図11で示されるように第1グループの2つ以上の第1設定項目の表示状態が展開状態から圧縮状態に変化する態様が考えられる。また、図11で示されるように、第2グループの2つ以上の第1設定項目の表示状態が圧縮状態にあるときに、第1表示要素Dc2がマウスポインタMp1でクリックされると、図13で示されるように第2グループの2つ以上の第1設定項目の表示状態が圧縮状態から展開状態に変化する態様が考えられる。一方、例えば、図13で示されるように、第2グループの2つ以上の第1設定項目の表示状態が展開状態にあるときに、第1表示要素Dc2がマウスポインタMp1でクリックされると、図11で示されるように第2グループの2つ以上の第1設定項目の表示状態が展開状態から圧縮状態に変化する態様が考えられる。また、例えば、図11で示されるように、第3グループの2つ以上の第1設定項目の表示状態が圧縮状態にあるときに、第1表示要素Dc3がマウスポインタMp1でクリックされると、図示を省略するが、第3グループの2つ以上の第1設定項目の表示状態が圧縮状態から展開状態に変化する態様が考えられる。一方、第3グループの2つ以上の第1設定項目の表示状態が展開状態にあるときに、第1表示要素Dc3がマウスポインタMp1でクリックされると、図11で示されるように第3グループの2つ以上の第1設定項目の表示状態が展開状態から圧縮状態に変化する態様が考えられる。 Here, for example, various operations are performed on each of the first display elements Dc1 to Dc3 in response to a signal input by the input unit 8 in response to the operation of the operator, so that each of the first to third groups 2 A configuration in which the display state of one or more first setting items can be switched between the expanded state and the compressed state can be adopted. Specifically, for example, as shown in FIG. 11, when the display state of two or more first setting items of the first group is in the compressed state, the first display element Dc1 is clicked with the mouse pointer Mp1. Then, as shown in FIG. 12, a mode in which the display state of two or more first setting items of the first group changes from the compressed state to the expanded state is conceivable. On the other hand, for example, when the first display element Dc1 is clicked with the mouse pointer Mp1 when the display state of two or more first setting items of the first group is in the expanded state as shown in FIG. As indicated by 11, a mode in which the display state of two or more first setting items of the first group changes from the expanded state to the compressed state is conceivable. Further, as shown in FIG. 11, when the first display element Dc2 is clicked with the mouse pointer Mp1 when the display state of the two or more first setting items of the second group is the compressed state, FIG. As shown in, the display state of the two or more first setting items of the second group may change from the compressed state to the expanded state. On the other hand, for example, as shown in FIG. 13, when the first display element Dc2 is clicked with the mouse pointer Mp1 when the display state of two or more first setting items of the second group is in the expanded state, As shown in FIG. 11, a mode in which the display state of two or more first setting items of the second group changes from the expanded state to the compressed state is conceivable. Further, for example, as shown in FIG. 11, when the first display element Dc3 is clicked with the mouse pointer Mp1 when the display state of the two or more first setting items of the third group is the compressed state, Although illustration is omitted, a mode in which the display state of two or more first setting items of the third group changes from the compressed state to the expanded state is conceivable. On the other hand, when the first display element Dc3 is clicked with the mouse pointer Mp1 when the display state of the two or more first setting items of the third group is the expanded state, the third group is displayed as shown in FIG. It is conceivable that the display state of the two or more first setting items is changed from the expanded state to the compressed state.

ここで、例えば、図11から図13で示されるように、複数の第1表示要素Dc1〜Dc3のそれぞれが、複数の第1設定項目とは可視的に区別可能な態様で示されていれば、オペレータの作業性が向上し得る。具体的には、複数の第1表示要素Dc1〜Dc3のそれぞれが、複数の第1設定項目の表示要素とは異なる色などを用いて表示される態様が考えられる。また、例えば、図11から図13で示されるように、複数の第1表示要素Dc1〜Dc3のそれぞれに、圧縮状態を示す第1マークMk1または展開状態を示す第2マークMk2が付されていてもよい。ここでは、例えば、図13で示されるように、設定条件として0が記述されている複数の第1設定項目は、その複数の第1設定項目については薬液処理においては使用されない状態にある。そこで、例えば、設定条件として0が記述されている第1設定項目と、設定条件として0以外が記述されている第1設定項目と、が色分けなどの可視的に区別可能な態様で示されてもよい。 Here, for example, as shown in FIGS. 11 to 13, if each of the plurality of first display elements Dc1 to Dc3 is shown in a visually distinguishable manner from the plurality of first setting items. The workability of the operator can be improved. Specifically, a mode in which each of the plurality of first display elements Dc1 to Dc3 is displayed using a color different from that of the display elements of the plurality of first setting items is conceivable. Further, for example, as shown in FIGS. 11 to 13, each of the plurality of first display elements Dc1 to Dc3 is provided with a first mark Mk1 indicating a compressed state or a second mark Mk2 indicating a developed state. Good. Here, for example, as shown in FIG. 13, the plurality of first setting items in which 0 is described as the setting condition is in a state where the plurality of first setting items are not used in the chemical liquid treatment. Therefore, for example, the first setting item in which 0 is described as the setting condition and the first setting item in which other than 0 is described as the setting condition are shown in a visually distinguishable manner such as color coding. Good.

また、ここで、例えば、オペレータの動作に応答して入力部8が入力した信号に応じて、画面作成部10aによって、各第1表示要素Dc1〜Dc3に対して何らかの情報が付加される構成が採用されてもよい。例えば、図14で示されるように、各第1表示要素Dc1〜Dc3に対して、グループに含まれている第1設定項目の数が付されてもよいし、グループ分けの理由などが付されてもよい。 Further, here, for example, in accordance with a signal input by the input unit 8 in response to an operator's operation, the screen creation unit 10a adds some information to each of the first display elements Dc1 to Dc3. It may be adopted. For example, as shown in FIG. 14, the number of the first setting items included in the group may be attached to each of the first display elements Dc1 to Dc3, or the reason for grouping may be attached. You may.

ところで、レシピ入力画面Sc0では、例えば、ボタン領域Ab0に含まれている、レシピを保存するためのボタンがマウスポインタMp1で押下されることで、レシピ作成部10cによってレシピ表示領域Ar0に記述されたレシピに係るフォルダが記憶部20に記憶される。ここで、例えば、記憶部20にレシピに係るフォルダを保存する際に、レシピ作成部10cが、誤った設定条件が記述された設定項目(エラー項目ともいう)があるか否かをチェックして、画面作成部10aが、レシピ入力画面上において設定上のエラーが生じていることを報知するための要素(第1エラー報知要素ともいう)を表示させてもよい。ここで、誤った設定条件の記述としては、例えば、リフターLF2の速度の設定項目に対して処理液の種類に応じた上限値を超える値の記述、ならびに酸とアルカリの同時投入などが考えられる。第1エラー報知要素の表示としては、例えば、図15および図16で示されるように、エラーを知らせるポップアップEm0の表示、エラー項目の色分けなどの可視的に認識可能な態様での表示、ならびにエラー項目が属するグループの第1表示要素Dc1の色分けなどの可視的に認識可能な態様での表示などが挙げられる。 By the way, in the recipe input screen Sc0, for example, a button for saving a recipe, which is included in the button area Ab0, is pressed by the mouse pointer Mp1 to describe in the recipe display area Ar0 by the recipe creating unit 10c. The folder related to the recipe is stored in the storage unit 20. Here, for example, when saving a folder related to a recipe in the storage unit 20, the recipe creation unit 10c checks whether or not there is a setting item (also referred to as an error item) in which an incorrect setting condition is described. The screen creation unit 10a may display an element (also referred to as a first error notification element) for notifying that a setting error has occurred on the recipe input screen. Here, as the description of the erroneous setting condition, for example, description of a value exceeding the upper limit value according to the type of the processing liquid for the setting item of the speed of the lifter LF2, simultaneous injection of acid and alkali, etc. can be considered. .. As the display of the first error notification element, for example, as shown in FIGS. 15 and 16, a pop-up Em0 for notifying an error, a display in a visually recognizable manner such as color coding of error items, and an error are displayed. Examples include display in a visually recognizable manner such as color coding of the first display element Dc1 of the group to which the item belongs.

<1−5−2.レシピ入力画面における項目の移動>
ところで、例えば、ユーザごとに基板Wに施す処理の高精度化の要求が異なってきている。例えば、基板Wを用いた商品を開発する段階では、基板Wに施す処理を細かく変化させてテストを行いたいニーズが高い。このような場合には、例えば、レシピに従って実行される処理において時間の経過に依存しない条件についての第1設定項目(ヘッダ項目)を、レシピに従って実行される処理において時間の経過に依存する条件についての第2設定項目(ステップ項目)に変更したい要望が生じ得る。一方、例えば、基板Wを用いた商品を開発する段階であっても、第2設定項目(ステップ項目)を、第1設定項目(ヘッダ項目)に変更したい要望が生じる場合もある。また、例えば、基板Wを用いたい商品を量産する段階では、毎日同じ設定条件となる設定項目が増えて、第2項目(ステップ項目)を第1項目(ヘッダ項目)に変更させたい要望が生じ得る。
<1-5-2. Moving items on the recipe input screen>
By the way, for example, different users have different demands for higher precision in processing performed on the substrate W. For example, at the stage of developing a product using the substrate W, there is a strong need to perform a test by finely changing the processing performed on the substrate W. In such a case, for example, regarding the condition that does not depend on the passage of time in the process executed according to the recipe, the first setting item (header item) is set to the condition that depends on the passage of time in the process executed according to the recipe. There may be a desire to change to the second setting item (step item). On the other hand, for example, even at the stage of developing a product using the substrate W, there may be a demand for changing the second setting item (step item) to the first setting item (header item). Further, for example, at the stage of mass-producing products that want to use the substrate W, the number of setting items that have the same setting condition increases every day, and there is a desire to change the second item (step item) to the first item (header item). obtain.

しかしながら、このように相反する要望に全て応えるために、ユーザごとに基板処理装置100のレシピ入力画面Sc0をカスタマイズして出荷すると、基板処理装置100の製造および出荷の工程の著しい煩雑化を招く。また、仮に、ユーザごとに基板処理装置100のレシピ入力画面Sc0をカスタマイズして出荷しても、基板処理装置100の使用状況に応じた要望の変化には対応しきれていない。 However, if the recipe input screen Sc0 of the substrate processing apparatus 100 is customized and shipped for each user in order to meet all of these contradictory requirements, the manufacturing and shipping steps of the substrate processing apparatus 100 will be significantly complicated. Further, even if the recipe input screen Sc0 of the substrate processing apparatus 100 is customized and shipped for each user, it is not possible to cope with a change in demand according to the usage status of the substrate processing apparatus 100.

そこで、第1実施形態では、例えば、図17から図22で示されるように、レシピ入力画面Sc0において、第1領域(ヘッダ領域)Ar1と第2領域(ステップ領域)Ar2との間で、設定項目の移動を可能としている。 Therefore, in the first embodiment, for example, as shown in FIGS. 17 to 22, in the recipe input screen Sc0, the setting is performed between the first area (header area) Ar1 and the second area (step area) Ar2. Items can be moved.

ここでは、例えば、画面作成部10aは、オペレータの動作に応答して入力部8が入力した信号に応じて、レシピ入力画面Sc0において、第1領域Ar1における複数の第1設定項目のうちの1つ以上の第1設定項目を、第2領域Ar2における複数の第2設定項目における1つ以上の第2設定項目に変更することができる。また、例えば、画面作成部10aは、オペレータの動作に応答して入力部8が入力した信号に応じて、レシピ入力画面Sc0において、第2領域Ar2における複数の第2設定項目のうちの1つ以上の第2設定項目を、第1領域Ar1における複数の第1設定項目に含まれるように1つ以上の第1設定項目に変更することができる。このような構成が採用されれば、例えば、オペレータは、複数の第1設定項目と、複数の第2設定項目と、の間で設定項目を任意に入れ替えることができる。これにより、例えば、オペレータは、所望の条件を規定するレシピを作成することができる。その結果、例えば、オペレータは、基板処理装置100において所望の条件で基板Wに対する処理を実行させることができる。したがって、例えば、基板処理装置100において基板Wに施す処理に対するカスタマイズを容易に実行することができる。 Here, for example, the screen creation unit 10a responds to a signal input by the input unit 8 in response to the operation of the operator, and then selects one of the plurality of first setting items in the first area Ar1 on the recipe input screen Sc0. One or more first setting items can be changed to one or more second setting items in the plurality of second setting items in the second area Ar2. In addition, for example, the screen creation unit 10a is responsive to a signal input by the input unit 8 in response to an operation of the operator, and then, on the recipe input screen Sc0, one of the plurality of second setting items in the second area Ar2. The above second setting items can be changed to one or more first setting items so as to be included in the plurality of first setting items in the first area Ar1. If such a configuration is adopted, for example, the operator can arbitrarily exchange the setting items between the plurality of first setting items and the plurality of second setting items. Thereby, for example, the operator can create a recipe that defines a desired condition. As a result, for example, the operator can cause the substrate processing apparatus 100 to perform processing on the substrate W under desired conditions. Therefore, for example, customization of the process performed on the substrate W in the substrate processing apparatus 100 can be easily performed.

例えば、図17で示されるように、レシピ入力画面Sc0において、第1領域Ar1に表示される複数の第1設定項目のうちの1つの第1設定項目を、マウスポインタMp1を合わせてマウスの左ボタンを押下したまま移動させるドラック操作と、マウスの左ボタンの押下を解除するドロップ操作と、によって、図18で示されるように、第2領域Ar2に移動させて、第2設定項目とする態様が考えられる。一方、例えば、図19で示されるように、レシピ入力画面Sc0において、第2領域Ar2に表示される複数の第2設定項目のうちの1つの第2設定項目を、マウスポインタMp1を合わせてマウスの左ボタンを押下したまま移動させるドラック操作と、マウスの左ボタンの押下を解除するドロップ操作と、によって、図20で示されるように、第1領域Ar1に移動させて、第1設定項目とする態様が考えられる。 For example, as shown in FIG. 17, in the recipe input screen Sc0, one of the plurality of first setting items displayed in the first area Ar1 is placed on the left side of the mouse with the mouse pointer Mp1 aligned. As shown in FIG. 18, a mode in which the mouse is moved to the second area Ar2 and is set as the second setting item by the drag operation of moving the button while it is pressed and the drop operation of releasing the button of the left mouse button are released. Can be considered. On the other hand, for example, as shown in FIG. 19, in the recipe input screen Sc0, one of the plurality of second setting items displayed in the second area Ar2 is set to the mouse by moving the mouse pointer Mp1 to the second setting item. 20 is moved to the first area Ar1 by the drag operation of moving the left button while pressing the left button of the mouse and the drop operation of releasing the pressing of the left button of the mouse, and the first setting item It is possible to do this.

また、例えば、図17で示されるように、レシピ入力画面Sc0において、第1領域Ar1に表示される複数の第1設定項目のうちの1つの第1設定項目にマウスポインタMp1を合わせて左クリックすることで、この1つの第1設定項目を、図18で示されるように、第2領域Ar2に移動させて、第2設定項目とする態様が採用されてもよい。また、例えば、図19で示されるように、レシピ入力画面Sc0において、第2領域Ar2に表示される複数の第2設定項目のうちの1つの第2設定項目にマウスポインタMp1を合わせて左クリックすることで、この1つの第2設定項目を、図20で示されるように、第1領域Ar1に移動させて、第1設定項目とする態様が採用されてもよい。 Further, for example, as shown in FIG. 17, in the recipe input screen Sc0, the mouse pointer Mp1 is aligned with one of the plurality of first setting items displayed in the first area Ar1 and left-clicked. By doing so, a mode may be adopted in which this one first setting item is moved to the second area Ar2 to be the second setting item, as shown in FIG. Further, for example, as shown in FIG. 19, in the recipe input screen Sc0, the mouse pointer Mp1 is aligned with one of the plurality of second setting items displayed in the second area Ar2 and left-clicked. By doing so, a mode may be adopted in which the one second setting item is moved to the first area Ar1 to be the first setting item, as shown in FIG.

ここで、例えば、画面作成部10aは、第1領域Ar1における複数の第1設定項目のうちの予め設定された特定の1つ以上の第1設定項目を、第2領域Ar2における複数の第2設定項目に含まれるように1つ以上の第2設定項目に変更することを禁止してもよい。第1設定項目から第2設定項目に変更することを禁止するルールは、例えば、記憶部20に格納された画面構成用データによって規定され得る。ここで、例えば、処理槽CB2に貯留された処理液に窒素ガスを用いたバブリングの条件を時間の経過に応じて変更することができない場合や複数のガス管ごとに個別の設定が出来ない場合に、バブリングに係る第1設定項目が、特定の1つ以上の第1設定項目として設定され得る。このような構成が採用されれば、例えば、時間の経過に依存する条件を設定することができない特定の第1設定項目について、時間の経過に依存する条件についての第2設定項目への変更を禁止することができる。これにより、例えば、実行が不可能な処理を規定するレシピをオペレータが作成する不具合を回避することができる。 Here, for example, the screen creation unit 10a sets one or more specific preset first setting items of the plurality of first setting items in the first area Ar1 to the plurality of second setting areas in the second area Ar2. Changing to one or more second setting items so as to be included in the setting items may be prohibited. The rule that prohibits changing from the first setting item to the second setting item can be defined by the screen configuration data stored in the storage unit 20, for example. Here, for example, when the bubbling condition using nitrogen gas for the treatment liquid stored in the treatment tank CB2 cannot be changed according to the passage of time, or when individual settings cannot be made for each of the plurality of gas pipes. In addition, the first setting item relating to bubbling may be set as one or more specific first setting items. If such a configuration is adopted, for example, for a specific first setting item for which a condition depending on the passage of time cannot be set, a change to the second setting item for the condition depending on the passage of time is performed. Can be banned. Thereby, for example, it is possible to avoid a problem that the operator creates a recipe that defines a process that cannot be executed.

また、ここで、例えば、画面作成部10aは、オペレータの動作に応答して入力部8が入力した信号に応じて、レシピ入力画面Sc0において、特定の1つ以上の第1設定項目を、第2設定項目に変更する操作が行われた場合に、図21で示されるように、レシピ入力画面上において、誤った項目の移動が指定されていることを報知するための要素(第2エラー報知要素ともいう)Em1を表示させてもよい。 In addition, here, for example, the screen creation unit 10a sets one or more specific first setting items in the recipe input screen Sc0 in response to a signal input by the input unit 8 in response to the operation of the operator. When an operation of changing to two setting items is performed, as shown in FIG. 21, an element (second error notification) for notifying that wrong item movement is designated on the recipe input screen. Em1 (also referred to as an element) may be displayed.

また、ここで、例えば、図22で示されるように、第1領域Ar1における2つ以上の第1設定項目を、グループ単位で、第2領域Ar2における2つ以上の第2設定項目に変更することができるようにしてもよい。 Further, here, for example, as shown in FIG. 22, two or more first setting items in the first area Ar1 are changed to two or more second setting items in the second area Ar2 in group units. You may be able to.

ここで、例えば、レシピ入力画面Sc0において、第1領域Ar1において複数の第1設定項目のうちの2つ以上の第1設定項目をそれぞれ含む複数の第1設定項目群のそれぞれのグループ名に係る第1表示要素Dc1〜Dc3が存在する場合を想定する。この場合には、例えば、画面作成部10aは、オペレータの動作に応答して入力部8が入力した信号に応じて、複数の第1設定項目群のうちの第1設定項目群ごとに、第1領域Ar1における2つ以上の第1設定項目を第2領域Ar2における複数の第2設定項目に含まれるように2つ以上の第2設定項目に変更してもよい。例えば、図22で示されるように、レシピ入力画面Sc0において、第1領域Ar1に表示される複数の第1表示要素Dc1〜Dc3のうちの1つの第1表示要素Dc2を、マウスポインタMp1を合わせてマウスの左ボタンを押下したまま移動させるドラック操作と、マウスの左ボタンの押下を解除するドロップ操作と、によって、第2領域Ar2に移動させることで、第2グループに属する2つ以上の第1設定項目を、2つ以上の第2設定項目とする態様が考えられる。このような構成が採用されれば、例えば、オペレータは、時間の経過に依存しない条件を設定する複数の第1設定項目と、時間の経過に依存する条件を設定する複数の第2設定項目と、の間で設定項目を効率良く入れ替えることができる。 Here, for example, in the recipe input screen Sc0, regarding each group name of the plurality of first setting item groups that respectively include two or more first setting items of the plurality of first setting items in the first area Ar1. It is assumed that the first display elements Dc1 to Dc3 are present. In this case, for example, the screen creation unit 10a responds to a signal input by the input unit 8 in response to the operation of the operator, for each first setting item group of the plurality of first setting item groups, and Two or more first setting items in the one area Ar1 may be changed to two or more second setting items so as to be included in the plurality of second setting items in the second area Ar2. For example, as shown in FIG. 22, in the recipe input screen Sc0, one of the first display elements Dc1 to Dc3 displayed in the first area Ar1 is aligned with the mouse pointer Mp1. The mouse is moved to the second area Ar2 by a drag operation of moving the mouse while holding down the left button of the mouse and a drop operation of releasing the press of the left button of the mouse. A mode in which one setting item is two or more second setting items is conceivable. If such a configuration is adopted, for example, the operator has a plurality of first setting items for setting conditions that do not depend on the passage of time and a plurality of second setting items for setting conditions that depend on the passage of time. Setting items can be efficiently exchanged between and.

<2.変形例>
本発明は上述の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良などが可能である。
<2. Modification>
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications and improvements can be made without departing from the gist of the present invention.

上記第1実施形態において、基板Wの単位処理量は、所定の枚数に限られず、例えば、所定の重さなどのその他の指標に応じた値であってもよい。例えば、基板Wの単位処理量が、所定の重さであれば、センサ部11mによって1ロットを構成する複数の基板Wの重量が計測され、算出部10gによって、センサ部11mで計測された重量と、所定の重さ当たりの処理液の供給量に係る数値と、に基づいて、処理液の供給量が算出されてもよい。また、その他の指標に応じた値には、例えば、基板Wに施される薬液処理の時間に係る単位時間(単位処理時間ともいう)が適用され得る。この場合には、例えば、基板Wの単位処理量としての単位処理時間当たりの処理液の供給量に係る数値と、基板Wに施される薬液処理の合計時間と、に基づいて、処理液の供給量が算出されてもよい。 In the first embodiment, the unit processing amount of the substrates W is not limited to the predetermined number, and may be a value according to another index such as a predetermined weight, for example. For example, if the unit processing amount of the substrate W is a predetermined weight, the sensor unit 11m measures the weight of the plurality of substrates W constituting one lot, and the calculation unit 10g measures the weight measured by the sensor unit 11m. The supply amount of the processing liquid may be calculated based on the above and a numerical value related to the supply amount of the processing liquid per predetermined weight. In addition, for example, a unit time (also referred to as a unit processing time) relating to the time of the chemical liquid processing performed on the substrate W may be applied to the values according to other indexes. In this case, for example, based on the numerical value relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing time as the unit processing amount of the substrate W and the total time of the chemical liquid processing applied to the substrate W, The supply amount may be calculated.

上記第1実施形態において、例えば、レシピは、各処理槽CB2に対して液供給部SL1によって処理液を供給するタイミングを規定していてもよい。このような構成が採用されれば、例えば、薬液処理部52ごとに基板Wの処理量に応じた量の処理液を、薬液処理の前処理、本処理および後処理などの適切なタイミングで処理槽CB2に供給することができる。 In the above-described first embodiment, for example, the recipe may define the timing of supplying the processing liquid to the processing baths CB2 by the liquid supply unit SL1. If such a configuration is adopted, for example, a treatment liquid of an amount corresponding to the treatment amount of the substrate W is treated for each chemical treatment unit 52 at an appropriate timing such as pretreatment of chemical treatment, main treatment, and posttreatment. It can be supplied to the tank CB2.

上記第1実施形態において、例えば、液供給部SL1から処理槽CB2への単位時間当たりの処理液の供給量が一定である場合には、レシピに記述される基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値V1a,V1bならびに1つのレシピに記述される数値情報に含まれる基板Wの単位処理量当たりの処理液の供給量に係る基準値Vs1および調整値Va1には、処理液の供給時間が適用されてもよい。 In the first embodiment, for example, when the supply amount of the processing liquid from the liquid supply unit SL1 to the processing bath CB2 per unit time is constant, the processing per unit processing amount of the substrate W described in the recipe is performed. The reference values Vs1 and adjustment values Va1 related to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate W included in the numerical values V1a and V1b related to the supply amount of the liquid and the numerical information described in one recipe include the processing liquid. Supply time may be applied.

上記第1実施形態において、基板処理装置100は、同一の構成を有する2つの薬液処理部52を有していたが、例えば、3つ以上の同一の構成を有する薬液処理部52を有していてもよい。 In the first embodiment, the substrate processing apparatus 100 has the two chemical liquid processing units 52 having the same configuration, but has, for example, three or more chemical liquid processing units 52 having the same configuration. May be.

上記第1実施形態において、基板処理装置100においてレシピが作成されたが、例えば、基板処理装置100に対して通信可能に接続された外部装置からレシピが送信される構成が採用されてもよい。 Although the recipe is created in the substrate processing apparatus 100 in the first embodiment, for example, a configuration may be adopted in which the recipe is transmitted from an external device communicably connected to the substrate processing apparatus 100.

上記第1実施形態において、例えば、レシピ入力画面Sc0におけるグループごとの2つ以上の設定項目の圧縮状態と展開状態との間の遷移、ならびにレシピ入力画面Sc0における第1設定項目と第2設定項目との間における項目の変更についての各種構成については、バッチ式の基板処理装置100に限られず、枚葉式の基板処理装置にも適用可能である。 In the first embodiment, for example, the transition between the compressed state and the expanded state of two or more setting items for each group on the recipe input screen Sc0, and the first setting item and the second setting item on the recipe input screen Sc0. Various configurations for changing items between and are not limited to the batch type substrate processing apparatus 100, and can be applied to a single wafer type substrate processing apparatus.

上記一実施形態および各種変形例をそれぞれ構成する全部または一部を、適宜、矛盾しない範囲で組み合わせ可能であることは、言うまでもない。 It goes without saying that all or part of each of the above-described one embodiment and various modified examples can be appropriately combined in a consistent range.

5 第1液処理部
6 第2液処理部
8 入力部
9 出力部
10 制御部
10a 画面作成部
10b 表示制御部
10c レシピ作成部
10d スケジュール作成部
10e 取得部
10f 認識部
10g 算出部
10h 供給制御部
10i モード切替部
11m センサ部
20 記憶部
52 薬液処理部
100 基板処理装置
Ar0 レシピ表示領域
Ar1 第1領域
Ar2 第2領域
CB2 処理槽
Dc1〜Dc3 第1表示要素
Mp1 マウスポインタ
SL1 液供給部
SL1a 第1液供給部
SL1b 第2液供給部
Sc0 レシピ入力画面
V1a,V1b 数値
Va1 調整値
Va11 第1の調整値
Va12 第2の調整値
Vs1 基準値
W 基板
5 1st liquid processing part 6 2nd liquid processing part 8 Input part 9 Output part 10 Control part 10a Screen creation part 10b Display control part 10c Recipe creation part 10d Schedule creation part 10e Acquisition part 10f Recognition part 10g Calculation part 10h Supply control part 10i mode switching section 11m sensor section 20 storage section 52 chemical solution processing section 100 substrate processing apparatus Ar0 recipe display area Ar1 first area Ar2 second area CB2 processing tanks Dc1 to Dc3 first display element Mp1 mouse pointer SL1 liquid supply section SL1a first Liquid supply unit SL1b Second liquid supply unit Sc0 Recipe input screen V1a, V1b Numerical value Va1 Adjustment value Va11 First adjustment value Va12 Second adjustment value Vs1 Reference value W Substrate

Claims (12)

貯留された処理液で基板に処理を施す処理槽と、該処理槽に処理液を供給する液供給部と、をそれぞれ有する2つ以上の薬液処理部と、
各前記薬液処理部について基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値情報を記憶する記憶部と、
制御部と、を備え、
該制御部は、
処理の対象となる基板の処理量に係る処理量情報を取得する取得部と、
前記2つ以上の薬液処理部のうちの基板に処理を施すために使用する1つの薬液処理部を認識する認識部と、
前記数値情報のうちの前記認識部で認識された前記1つの薬液処理部に対応する基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値と、前記取得部で取得された前記処理量情報と、に基づいて、前記1つの薬液処理部の処理槽に供給する処理液の供給量に係る数値を算出する算出部と、
前記算出部で算出された数値に応じて、前記1つの薬液処理部において前記液供給部によって処理液を前記処理槽に供給させる供給制御部と、を有する基板処理装置。
Two or more chemical liquid processing units each having a processing bath for processing the substrate with the stored processing liquid and a liquid supply unit for supplying the processing liquid to the processing bath;
A storage unit that stores numerical information relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate for each of the chemical liquid processing units,
And a control unit,
The control unit
An acquisition unit that acquires processing amount information related to the processing amount of the substrate to be processed,
A recognition unit for recognizing one of the two or more chemical liquid processing units, which is used for processing the substrate.
Of the numerical value information, the numerical value related to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate corresponding to the one chemical liquid processing unit recognized by the recognition unit, and the processing amount information acquired by the acquisition unit And a calculation unit that calculates a numerical value related to the supply amount of the processing liquid to be supplied to the processing tank of the one chemical liquid processing unit,
A substrate processing apparatus comprising: a supply control unit that causes the liquid supply unit to supply a processing liquid to the processing bath according to the numerical value calculated by the calculation unit.
請求項1に記載の基板処理装置であって、
基板の処理量を計測するためのセンサ部、をさらに備え、
前記取得部は、
前記センサ部による計測結果に基づいて、前記処理量情報を取得する、基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein
Further comprising a sensor unit for measuring the throughput of the substrate,
The acquisition unit is
A substrate processing apparatus that acquires the processing amount information based on a measurement result by the sensor unit.
請求項1または請求項2に記載の基板処理装置であって、
前記記憶部は、
前記数値情報を含み、処理の条件を既定するレシピを記憶する、基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein
The storage unit is
A substrate processing apparatus that stores a recipe that includes the numerical information and defines processing conditions.
請求項3に記載の基板処理装置であって、
前記数値情報は、
前記2つ以上の薬液処理部に対する、基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る基準値と、前記2つ以上の薬液処理部のうちの少なくとも1つの薬液処理部に対する、基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る調整値と、を含み、
前記算出部は、
前記数値情報のうち、前記基準値および前記認識部で認識された前記1つの薬液処理部に対応する前記調整値と、前記取得部で取得された前記処理量情報と、に基づいて、前記1つの薬液処理部において前記処理槽に供給する処理液の供給量に係る数値を算出する、基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 3, wherein
The numerical information is
A reference value relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate to the two or more chemical liquid processing units, and a unit of the substrate for at least one chemical liquid processing unit of the two or more chemical liquid processing units. And an adjustment value relating to the supply amount of the processing liquid per processing amount,
The calculation unit
Of the numerical value information, based on the reference value and the adjustment value corresponding to the one chemical liquid processing unit recognized by the recognition unit, and the processing amount information acquired by the acquisition unit, the 1 A substrate processing apparatus for calculating a numerical value relating to a supply amount of a processing liquid supplied to the processing bath in one chemical liquid processing section.
請求項3または請求項4に記載の基板処理装置であって、
前記レシピは、
前記処理槽に対して前記液供給部によって処理液を供給するタイミングを規定している、基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 3 or 4, wherein
The recipe is
A substrate processing apparatus, wherein a timing for supplying a processing liquid to the processing bath by the liquid supply unit is specified.
請求項3から請求項5の何れか1つの請求項に記載の基板処理装置であって、
ユーザの動作に応答して信号を入力する入力部、をさらに備え、
前記制御部は、
ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記数値情報に含まれる、前記2つ以上の薬液処理部のそれぞれについての基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値を、前記レシピに記述することで、前記レシピを作成あるいは編集する、レシピ作成部、をさらに有する、基板処理装置。
A substrate processing apparatus according to any one of claims 3 to 5, wherein:
Further comprising an input unit for inputting a signal in response to a user operation,
The control unit is
In response to a signal input by the input unit in response to a user's operation, the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate, which is included in the numerical information, for each of the two or more chemical liquid processing units. A substrate processing apparatus further comprising: a recipe creating unit that creates or edits the recipe by describing the numerical value in the recipe.
請求項1から請求項5の何れか1つの請求項に記載の基板処理装置であって、
ユーザの動作に応答して信号を入力する入力部、をさらに備え、
前記制御部は、
ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、第1液供給モードと第2液供給モードとの間で、モードを切り替えるモード切替部、をさらに有し、
前記第1液供給モードは、
前記算出部が、前記数値情報のうちの前記認識部で認識された前記1つの薬液処理部に対応する基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値と、前記取得部で取得された前記処理量情報と、に基づいて、前記1つの薬液処理部の処理槽に供給する処理液の供給量に係る数値を算出し、前記供給制御部が、前記算出部で算出された数値に応じて、前記1つの薬液処理部において前記液供給部によって処理液を前記処理槽に供給させるモードであり、
前記第2液供給モードは、
前記制御部が、前記認識部で認識された前記1つの薬液処理部の処理槽に、前記液供給部によって予め設定された量の処理液を供給させるモードである、基板処理装置。
A substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein:
Further comprising an input unit for inputting a signal in response to a user operation,
The control unit is
A mode switching unit that switches the mode between a first liquid supply mode and a second liquid supply mode in response to a signal input by the input unit in response to a user operation,
In the first liquid supply mode,
The calculation unit obtains a numerical value related to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate corresponding to the one chemical liquid processing unit recognized by the recognition unit in the numerical information, and the acquisition unit. Based on the processing amount information and the processing amount information, a numerical value relating to the supply amount of the processing liquid to be supplied to the processing tank of the one chemical liquid processing unit is calculated, and the supply control unit calculates the numerical value calculated by the calculation unit. Accordingly, in the one chemical liquid processing unit, a mode in which a processing liquid is supplied to the processing tank by the liquid supply unit,
The second liquid supply mode is
The substrate processing apparatus is a mode in which the control unit causes a processing tank of the one chemical liquid processing unit recognized by the recognition unit to supply a predetermined amount of the processing liquid by the liquid supply unit.
請求項6に記載の基板処理装置であって、
表示部、を更に備え、
前記制御部は、
前記レシピを作成あるいは編集するためのレシピ入力画面の情報を作成する画面作成部と、
前記レシピ入力画面を前記表示部に表示させる表示制御部と、をさらに有し、
前記レシピ入力画面は、
第1領域と第2領域とを含み、
前記第1領域は、
前記レシピに従って実行される処理において時間の経過に依存しない条件についての複数の第1設定項目のそれぞれに対して条件を記述する領域を含み、
前記第2領域は、
前記レシピに従って実行される処理において時間の経過に依存する条件についての複数の第2設定項目のそれぞれに対して条件を記述する領域を含み、
前記レシピ作成部は、
ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記レシピ入力画面において各前記第1設定項目に対して記述された条件と、前記レシピ入力画面において各前記第2設定項目に対して記述された条件と、に基づいて、前記レシピを作成あるいは編集し、
前記画面作成部は、
ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記レシピ入力画面において、前記第1領域における前記複数の第1設定項目のうちの1つ以上の第1設定項目を、前記第2領域における前記複数の第2設定項目における1つ以上の第2設定項目に変更し、ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記レシピ入力画面において、前記第2領域における前記複数の第2設定項目のうちの1つ以上の第2設定項目を、前記第1領域における前記複数の第1設定項目に含まれるように1つ以上の第1設定項目に変更する、基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 6, wherein
Further comprising a display unit,
The control unit is
A screen creating unit for creating information of a recipe input screen for creating or editing the recipe,
A display control unit for displaying the recipe input screen on the display unit;
The recipe input screen is
Including a first region and a second region,
The first area is
A region that describes a condition for each of the plurality of first setting items for the condition that does not depend on the passage of time in the process executed according to the recipe,
The second area is
The process executed according to the recipe includes a region describing a condition for each of a plurality of second setting items regarding a condition depending on the passage of time,
The recipe creation unit,
In response to a signal input by the input unit in response to a user's operation, the conditions described for each of the first setting items on the recipe input screen and the conditions for each of the second setting items on the recipe input screen are set. Create or edit the recipe based on the conditions described for
The screen creation unit,
In response to a signal input by the input unit in response to a user operation, in the recipe input screen, one or more first setting items of the plurality of first setting items in the first area are Change to one or more second setting items in the plurality of second setting items in the second area, and in the recipe input screen, in accordance with a signal input by the input unit in response to a user operation, One or more second setting items of the plurality of second setting items in the two areas are changed to one or more first setting items so as to be included in the plurality of the first setting items in the first area. A substrate processing apparatus.
請求項8に記載の基板処理装置であって、
前記画面作成部は、
前記第1領域における前記複数の第1設定項目のうちの予め設定された特定の1つ以上の第1設定項目を、前記第2領域における前記複数の第2設定項目に含まれるように1つ以上の第2設定項目に変更することを禁止する、基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 8, wherein
The screen creation unit,
One predetermined one or more preset first setting items among the plurality of first setting items in the first area are included in the plurality of second setting items in the second area. A substrate processing apparatus that prohibits changing to the above second setting item.
請求項8または請求項9に記載の基板処理装置であって、
前記画面作成部は、
前記レシピ入力画面において、前記第1領域において前記複数の第1設定項目のうちの2つ以上の第1設定項目をそれぞれ含む複数の第1設定項目群のそれぞれのグループ名に係る第1表示要素が存在する場合に、ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記複数の第1設定項目群のうちの第1設定項目群ごとに、前記第1領域における前記2つ以上の第1設定項目を前記第2領域における前記複数の第2設定項目に含まれるように2つ以上の第2設定項目に変更する、基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 8 or 9, wherein
The screen creation unit,
In the recipe input screen, a first display element related to each group name of a plurality of first setting item groups each including two or more first setting items of the plurality of first setting items in the first area In the first area in response to a signal input by the input unit in response to the user's operation, the second setting in the first area is performed for each first setting item group among the plurality of first setting item groups. A substrate processing apparatus which changes one or more first setting items into two or more second setting items so as to be included in the plurality of second setting items in the second area.
請求項6に記載の基板処理装置であって、
表示部、を更に備え、
前記制御部は、
前記レシピを作成あるいは編集するためのレシピ入力画面の情報を作成する画面作成部と、
前記レシピ入力画面を前記表示部に表示させる表示制御部と、をさらに有し、
前記レシピ入力画面は、
第1領域と第2領域とを含み、
前記第1領域は、
前記レシピに従って実行される処理において時間の経過に依存しない条件についての複数の第1設定項目のそれぞれに対して条件を記述する領域を含み、
前記第2領域は、
前記レシピに従って実行される処理において時間の経過に依存する条件についての複数の第2設定項目のそれぞれに対して条件を記述する領域を含み、
前記レシピ作成部は、
ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記レシピ入力画面において各前記第1設定項目に対して記述された条件と、前記レシピ入力画面において各前記第2設定項目に対して記述された条件と、に基づいて、前記レシピを作成あるいは編集し、
前記第1領域には、前記複数の第1設定項目のうちの2つ以上の第1設定項目をそれぞれ含む複数の第1設定項目群のそれぞれのグループ名に係る第1表示要素が存在し、
前記画面作成部は、
ユーザの動作に応答して前記入力部が入力した信号に応じて、前記表示部に表示される前記レシピ入力画面において、前記複数の第1設定項目群のうちの1つの第1設定項目群に含まれる前記2つ以上の第1設定項目の表示の状態を、表示している展開状態と表示していない圧縮状態との間で切り替える、基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 6, wherein
Further comprising a display unit,
The control unit is
A screen creating unit for creating information of a recipe input screen for creating or editing the recipe,
A display control unit for displaying the recipe input screen on the display unit;
The recipe input screen is
Including a first region and a second region,
The first area is
A region that describes a condition for each of the plurality of first setting items for the condition that does not depend on the passage of time in the process executed according to the recipe,
The second area is
The process executed according to the recipe includes a region describing a condition for each of a plurality of second setting items regarding a condition depending on the passage of time,
The recipe creation unit,
In response to a signal input by the input unit in response to a user's operation, the conditions described for each of the first setting items on the recipe input screen and the conditions for each of the second setting items on the recipe input screen are set. Create or edit the recipe based on the conditions described for
In the first area, there is a first display element related to each group name of a plurality of first setting item groups each including two or more first setting items of the plurality of first setting items,
The screen creation unit,
In the recipe input screen displayed on the display unit in response to a signal input by the input unit in response to a user operation, one of the plurality of first setting item groups is set to one first setting item group. A substrate processing apparatus for switching a display state of the two or more first setting items included therein between a displayed expanded state and a non-displayed compressed state.
貯留された処理液で基板に処理を施す処理槽と、該処理槽に処理液を供給する液供給部と、をそれぞれ有する2つ以上の薬液処理部を備える基板処理装置における基板処理方法であって、
(a)各前記薬液処理部について基板の単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値情報を記憶部に記憶させるステップと、
(b)処理の対象となる基板の処理量を取得するステップと、
(c)前記2つ以上の薬液処理部のうちの基板に処理を施すために使用する1つの薬液処理部を認識するステップと、
(d)前記数値情報のうちの前記(c)ステップで認識された前記1つの薬液処理部に対応する単位処理量当たりの処理液の供給量に係る数値と、前記(b)ステップで取得された前記処理量と、に基づいて、前記1つの薬液処理部の処理槽に供給する処理液の供給量に係る数値を算出するステップと、
(e)前記(d)ステップで算出された数値に応じて、前記1つの薬液処理部において前記液供給部によって処理液を前記処理槽に供給させるステップと、を有する基板処理方法。
A substrate processing method in a substrate processing apparatus comprising two or more chemical liquid processing units each having a processing bath for processing a substrate with a stored processing liquid and a liquid supply unit for supplying the processing liquid to the processing bath. hand,
(a) a step of storing numerical information relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount of the substrate in the storage unit for each of the chemical liquid processing units,
(b) acquiring the processing amount of the substrate to be processed,
(c) recognizing one of the two or more chemical liquid processing units to be used for processing the substrate,
(d) A numerical value relating to the supply amount of the processing liquid per unit processing amount corresponding to the one chemical liquid processing unit recognized in the step (c) of the numerical information, and acquired in the step (b). Calculating a numerical value relating to the supply amount of the processing liquid supplied to the processing tank of the one chemical liquid processing unit, based on the processing amount
(e) A step of supplying a processing liquid to the processing bath by the liquid supply unit in the one chemical liquid processing unit according to the numerical value calculated in the step (d).
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