JP2020085820A5 - - Google Patents

Claims (9)

1. 初期校正されており、第１方向の力を検出する第１力検出部と、力を検出する第２力検出部が設けられ、前記第２力検出部の検出値に基づいた力制御により作業を行うロボットと、を準備する準備工程と、
   前記ロボットが、前記第１力検出部に対して、前記第２力検出部を前記力制御により押し付ける押付工程と、
   前記押付工程中の前記第１力検出部の第１検出値と前記押付工程中の前記第２力検出部の第２検出値とを記録する記録工程と、
   前記記録工程で記録された前記第１検出値と前記第２検出値とを関係付ける関係付け工程と、を有することを特徴とする校正方法。
2. 前記記録工程では、所定時間内に前記第１検出値が複数記録され、複数の前記第１検出値の平均値を第１平均値として演算し、前記所定時間内に前記第２検出値が複数記録され、複数の前記第２検出値の平均値を第２平均値として演算し、
   前記関係付け工程では、前記第１平均値と前記第２平均値とを関係付けたものを、前記第１検出値と前記第２検出値との関係付けとする請求項１に記載の校正方法。
3. 前記記録工程では、所定時間内に前記第１検出値が複数記録され、複数の前記第１検出値のうち、第１閾値の範囲内の前記第１検出値を選別し、前記所定時間内に前記第２検出値が複数記録され、複数の前記第２検出値のうち、第２閾値の範囲内の前記第２検出値を選別し、
   前記関係付け工程では、前記記録工程で選別された前記第１検出値と前記第２検出値とを関係付けたものを、前記第１検出値と前記第２検出値との関係付けとする請求項１に記載の校正方法。
4. 前記関係付け工程では、前記第１検出値と前記第２検出値との関係付けとして、回帰直線を求める請求項２または３に記載の校正方法。
5. 前記記録工程では、単位時間ごとに、前記第１検出値と前記第２検出値とを記録する請求項１ないし４のいずれか１項に記載の校正方法。
6. 前記記録工程では、単位力ごとに、前記第１検出値と前記第２検出値とを記録する請求項１ないし４のいずれか１項に記載の校正方法。
7. 前記ロボットには、前記第２力検出部を介してエンドエフェクターが設置されており、
   前記押付工程では、前記エンドエフェクターを介して前記第２力検出部を前記第１力検出部に押し付ける請求項１ないし６のいずれか１項に記載の校正方法。
8. 前記第１方向は鉛直方向に一致する請求項１ないし７のいずれか１項に記載の校正方法。
9. 初期校正されており、第１方向の力を検出する第１力検出部と、力を検出する第２力検出部と、前記第２力検出部が設けられ、前記第２力検出部の検出値に基づいた力制御により作業を行うロボットと、を備え、
   前記ロボットが、前記第１力検出部に対して、前記第２力検出部を前記力制御により押し付ける押付工程と、
   前記押付工程中の前記第１力検出部の第１検出値と前記押付工程中の前記第２力検出部の第２検出値とを記録する記録工程と、
   前記記録工程で記録された前記第１検出値と前記第２検出値とを関係付ける関係付け工程と、を行うことを特徴とするロボットシステム。