JP2020060670A - 液晶装置、および電子機器 - Google Patents

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Abstract

【課題】液晶材料に付すプレチルト角を適正な範囲に制御することのできる液晶装置、および電子機器を提供すること。【解決手段】液晶装置100において、共通電極21を構成するITO膜のシート抵抗を19Ω/□以上、かつ、44Ω/□以下とし、ITO膜の表面粗さを管理する。従って、液晶材料85のプレチルト角θpを4.3±0.6°に設定することができ、動画ドメインの抑制やコントラストの向上を図ることができる。また、ITO膜の比抵抗を2740nm・Ω/□以上、かつ、6740nm・Ω/□以下に設定することが好ましい。また、ITO膜のX線回折結果において、結晶面方位(222)の強度Ia、および結晶面方位(440)の強度Ibが以下の関係を満たすようにする。0.85≦(Ia/(Ia+Ib))≦0.92【選択図】図3

Description

本発明は、液晶装置および電子機器に関するものである。
液晶表示装置は、画素電極および第1配向膜が一方面側に設けられた第1基板と、共通電極および第2配向膜が設けられた第2基板との間に液晶層が設けられている。近年、高速駆動や高コントラストを実現するため、液晶層に負の誘電率異方性を備えた液晶材料を用い、液晶材料を垂直配向させたVA(Vertical Alignment)モードの液晶装置が提案されている。また、第1配向膜および第2配向膜によって、液晶材料の長軸方向を第1基板および第2基板の法線方向に対して斜めに傾いたプレチルトを液晶材料に付すことによって、電圧を印加した際に液晶材料が倒れる方向を制御する技術も提案されている。
かかる液晶装置において、第1配向膜および第2配向膜の膜質は、下地である画素電極および共通電極の表面粗さの影響を受けるため、液晶材料に付すプレチルトの角度がばらつきやすいという問題点がある。従って、共通電極等を構成するITO膜(インジウム錫酸化物膜)を成膜した後、ITO膜の表面粗さを管理することが好ましいが、ITO膜の表面粗さはナノオーダーである。このため、ITO膜の表面粗さについては、原子間力顕微鏡を用いて測定する必要があるが、原子間力顕微鏡では、カンチレバーの劣化やカンチレバーの個体差によって、表面粗さの測定値が変動しやすいという問題点がある。
一方、ITO膜の膜質を管理する技術として、ITO膜のX線回折によって得られる結晶面方位(222)、(400)、(440)の強度の割合によって、ITO膜のシート抵抗、透過率および光吸収率を管理する技術が提案されている(特許文献1参照)。
特表2016−506015公報
しかしながら、特許文献1に開示の技術は、ITO膜のシート抵抗や透過率および光吸収率を管理するものであり、ITO膜の表面粗さや、液晶材料に付すプレチルトの角度を管理する技術ではない。それ故、従来技術では、液晶材料に付すプレチルト角を適正な範囲に制御できないという課題がある。
上記課題を解決するために、本発明に係る液晶装置は、画素電極と、共通電極と、前記画素電極を覆う第1配向膜と、前記共通電極を覆う第2配向膜と、前記第1配向膜と前記第2配向膜との間に配置され、液晶材料を含む液晶層と、を備え、前記画素電極および前記共通電極のうち、少なくとも共通電極は、シート抵抗が19Ω/□以上、かつ、44Ω/□以下のITO膜を含み、前記液晶層の厚さ方向に対する前記液晶材料の傾き角であるプレチルト角が3.7°以上、かつ、4.9°以下であることを特徴とする。なお、Ω/□は、ohms per squareである。
本発明に係る液晶装置は、投射型表示装置等の各種電子機器に用いられる。
本発明を適用した液晶装置の一態様を示す平面図。 図1に示す液晶装置のH−H′断面図。 図2に示す液晶層に用いた液晶材料等の説明図。 図3に示す第1配向膜および第2配向膜の形成方法等の説明図。 図3に示すプレチルト角の適正範囲を示す説明図。 図3に示すITO膜のシート抵抗とプレチルト角との関係を示すグラフ。 図3に示すITO膜の比抵抗とプレチルト角との関係を示すグラフ。 図3に示すITO膜のX線回折結果を示す説明図。 図8に示す各結晶面方位の強度とプレチルト角との関係を示す説明図。 図9に示す強度の比率とプレチルト角との関係を示す説明図。 図10に示すIa/(Ia+Ib)を三次関数に近似した結果を示すグラフ。 透過型の液晶装置を用いた投射型表示装置の説明図。
図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。なお、以下の説明で参照する図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならしめてある。
(液晶装置の構成)
図1は、本発明を適用した液晶装置100の一態様を示す平面図であり、液晶装置100を第2基板20側からみた様子を示してある。図2は、図1に示す液晶装置100のH−H′断面図である。
図1および図2に示すように、液晶装置100は、透光性の第1基板10と透光性の第2基板20とが所定の隙間を介してシール材107によって貼り合わされた液晶パネル100pを有している。シール材107は第2基板20の外縁に沿うように枠状に設けられており、第1基板10と第2基板20との間でシール材107によって囲まれた領域に液晶層80が配置されている。液晶装置100を電子機器に用いる際、例えば、第2基板20に対して第1基板10とは反対側に第1偏光素子が配置され、第1基板10に対して第2基板20とは反対側に第2偏光素子が配置される。第1偏光素子と第2偏光素子とは、互いの偏光軸が直交するようにクロスニコルに配置される。
第1基板10および第2基板20はいずれも四角形であり、液晶装置100の略中央において、表示領域10aは、時計の3時−9時方向の寸法が0時−6時方向の寸法より長い長方形の領域として設けられている。かかる形状に対応して、シール材107も略長方形に設けられ、シール材107の内周縁と表示領域10aの外周縁との間には、矩形枠状の周辺領域10bが設けられている。
第1基板10は、石英やガラス等からなる。第1基板10の第2基板20側の面(一方面10s)側において、表示領域10aの外側には、第1基板10の一辺に沿ってデータ線駆動回路101および複数の端子102が形成されており、この一辺に隣接する他の辺に沿って走査線駆動回路104が形成されている。端子102には、フレキシブル配線基板105が接続されており、第1基板10には、フレキシブル配線基板105を介して各種電位や各種信号が入力される。
第1基板10の一方面10s側において、表示領域10aには、ITO(インジウム錫酸化物:Indium Tin Oxide)膜等からなる透光性の複数の画素電極9a、および複数の画素電極9aの各々に電気的に接続するトランジスター(図示せず)がマトリクス状に形成されている。画素電極9aに対して第2基板20側には第1配向膜16が形成されており、画素電極9aは第1配向膜16によって覆われている。
第2基板20は、石英やガラス等からなる。第2基板20の第1基板10側の面(一方面20s)の側には、ITO膜からなる透光性の共通電極21が形成されており、共通電極21に対して第1基板10側には第2配向膜26が形成されている。従って、共通電極21は第2配向膜26によって覆われている。共通電極21は、第2基板20の略全面に形成されている。
共通電極21と第2基板20との間には、画素電極9aに対して重なるレンズ24が形成されている。レンズ24は、第1基板10の開口領域に光を導く。レンズ24を形成するにあたって、第2基板20の一方面20sには、複数の画素電極9aの各々と一対一で重なる位置に凹曲面201が形成されている。また、第2基板20には、複数の凹曲面201の各々の内部を埋めるレンズ層28が設けられており、レンズ層28の第2基板20とは反対側の面280は平面になっている。レンズ層28の第2基板20とは反対側の面280には、透光層29が形成されており、透光層29の第2基板20とは反対側の面290に共通電極21が形成されている。
レンズ層28は、第2基板20と屈折率が相違している。このため、凹曲面201によって、レンズ24のレンズ面240が構成されている。本実施形態において、レンズ層28は、第2基板20より屈折率が大きい。このため、レンズ24は、正のパワーを有している。本実施形態において、第2基板20はガラス基板や石英基板(波長550nm付近の屈折率=1.48)からなり、レンズ層28は酸窒化シリコン(波長550nm付近の屈折率=1.58〜1.68)からなる。透光層29は酸化シリコン(波長550nm付近の屈折率=1.48)からなる。
レンズ層28と透光層29との間には、金属または金属化合物等からなる遮光性の遮光層27が形成されている。遮光層27は、例えば、表示領域10aの外周縁に沿って延在する額縁状の見切り27aとして形成されている。また、遮光層27は、隣り合う画素電極9aにより挟まれた領域と平面視で重なる領域にブラックマトリクスとして形成されることもある。本形態において、第1基板10の周辺領域10bのうち、見切り27aと平面視で重なる領域には、画素電極9aと同時形成されたダミー画素電極9bが形成されている。
第1配向膜16および第2配向膜26はSiO(x<2)等からなる無機配向膜であり、液晶層80に用いた負の誘電率異方性を備えた液晶材料を略垂直配向させている。このようにして、液晶装置100は、VAモードの液晶装置として構成されている。
第1基板10には、シール材107より外側において第2基板20の角部分と重なる領域に、第1基板10と第2基板20との間で電気的導通をとるための基板間導通用電極109が形成されている。基板間導通用電極109には、導電粒子を含んだ基板間導通材109aが配置されており、第2基板20の共通電極21は、基板間導通材109aおよび基板間導通用電極109を介して、第1基板10側に電気的に接続されている。このため、共通電極21は、第1基板10の側から共通電位が印加されている。
本形態の液晶装置100は透過型液晶装置として構成されている。かかる液晶装置100では、第1基板10および第2基板20のうち、一方側の基板から入射した光が他方側の基板を透過して出射される間に変調されて画像を表示する。本形態では、矢印Lで示すように、第2基板20の側から入射した光が第1基板10を透過して出射される間に液晶層80によって画素毎に変調され、画像を表示する。液晶装置100は、反射型液晶装置として構成されることもある。
(液晶層80等の構成)
図3は、図2に示す液晶層80に用いた液晶材料85等の説明図である。図4は、図3に示す第1配向膜16および第2配向膜26の形成方法等の説明図である。
本実施形態において、図2に示す第1配向膜16および第2配向膜26は、SiO(x<2)、SiO、TiO、MgO、Al等の斜方蒸着膜(無機配向膜)である。本実施形態において、第1配向膜16および第2配向膜26は、SiOの斜方蒸着膜である。従って、図4に示すように、第1配向膜16および第2配向膜26は、カラムと称せられる柱状体16a、26aが第1基板10および第2基板20に対して斜めに形成された柱状構造体からなる。それ故、第1配向膜16および第2配向膜26は、液晶層80に用いた負の誘電率異方性を備えた液晶材料85を第1基板10および第2基板20に対して斜め傾斜配向させ、液晶材料85にプレチルトを付している。画素電極9aと共通電極21との間に電圧を印加しない状態で、第1基板10および第2基板20に対する法線P方向と液晶材料85の長軸方向85a(配向方向)とがなす角度がプレチルト角θpである。本実施形態においては、液晶材料85が柱状体16a、26aの傾きと同一方向の傾いた正チルトが付されている。
液晶材料85のプレチルトの方位Dpは、液晶材料85の長軸方向85aの第1基板10側の端部851に対して第2基板20側の端部852が位置する方位である。かかる液晶装置100では、画素電極9aと共通電極21との間に駆動電圧を印加すると、液晶材料85がプレチルトの方位Dpに倒れる。
液晶パネル100pは、クロスニコルに配置された一対の偏光素子の間において、一対の偏光素子の透過軸または吸収軸に対して、プレチルトの方位Dpが45°の角度を成すように配置される。本実施形態では、例えば、図1に示すように、第1配向膜16を形成する際の蒸着方向の方位D10は、例えば、時計の7時30分から1時30分に向かう方位であり、その際に、柱状体16aが成長する方向は、時計の1時30分から7時30分に向かう方位である。第2配向膜26を形成する際の蒸着方向の方位D20は、時計の1時30分から7時30分に向かう方位であり、その際に、柱状体26aが成長する方向は、時計の7時30分から1時30分に向かう方位である。従って、液晶材料85のプレチルトの方位Dpは、時計の1時30分から7時30分に向かう方位であり、プレチルトの方位Dpは、第1方向Xおよび第2方向Yの各々に45°の角度で交差している。
図4に示すように、第1配向膜16を形成するには、方位D10から蒸着を行う。その際、第1基板10に対する法線P方向に対して角度θdを成す斜め方向から蒸着を行う。その結果、第1配向膜16では、第1基板10に対する法線P方向に対して角度θc(カラム角度)を成す方向に柱状体16aが形成される。その際、柱状体16aの角度θcは、蒸着の角度θdと同一とは限らないが、柱状体16aの角度θcは、蒸着の角度θdによって制御される。
また、液晶材料85は、第1配向膜16の配向規制力によってプレチルトが付される。その際、プレチルト角θpは、柱状体16aの角度θcと同一とは限らないが、プレチルト角θpは、柱状体16aの角度θcによって制御される。従って、プレチルト角θpは、蒸着の角度θdによって制御される。本形態は、角度θdを45°に設定して、第1配向膜16を成膜する。
なお、第2配向膜26は、第1配向膜16と同一の構成であるため、対応する符号を図4に括弧内に示し、それらの説明を省略する。但し、第2配向膜26を形成する際の平面的な蒸着方向は、第2配向膜26を形成する際の蒸着方向に対して180°逆向きとなっている。
(プレチルト角θpの範囲)
図5は、図3に示すプレチルト角θpの適正範囲を示す説明図であり、図5には、画像の品位として、動画ドメイン、およびコントラストの評価結果を示してある。評価結果については、優れている場合には丸(○)を付し、劣っている場合にはバツ(×)を付し、中間の場合には三角(△)を付してある。なお、図5には、コントラストとして、液晶層80に5Vを印加した際の輝度と、液晶層80に0Vを印加した際の輝度との比を示してある。また、動画ドメインについては、動画を表示した際に発生する帯状の残像の程度により評価した。
図3において、液晶装置100では、液晶材料85のプレチルト角θpが小さい程、オン―オフ間でのコントラスト比が大きくなる一方、液晶材料85に対する配向規制力が小さくなるので、動画ドメインが発生しやすくなる。逆に、液晶材料85のプレチルト角θpが大きい程、動画ドメインの発生を抑制できる一方、コントラスト比が小さくなる。それ故、プレチルト角θpには適正な範囲が存在する。
図5に示す結果によれば、動画ドメインに関しては、プレチルト角θpが3.7°以上であることが好ましく、コントラストに関しては、プレチルト角θpが4.9°以下であることが好ましい。従って、本形態では、プレチルト角θpの設計上の狙い値を、例えば4.3°に設定し、ばらつきが発生しても、プレチルト角θpを4.3±0.6°の範囲内(3.7°以上、かつ、4.9°以下)とする。
かかる構成を実現するには、第1配向膜16および第2配向膜26を適正に形成する必要があり、それには、下地である画素電極9aおよび共通電極21を構成するITO膜の表面粗さ等を適正に管理する必要がある。特に、共通電極21を構成するITO膜の表面粗さ等を制御する必要がある。本形態では、ITO膜の表面粗さを直接、管理することが困難であるため、以下に説明するように、ITO膜のシート抵抗等や、ITO膜のX線回折によって得られる結晶面方位の強度の割合を管理し、プレチルト角θpを制御する。
かかる管理は、画素電極9aおよび共通電極21のうち、少なくとも共通電極21を構成するITO膜に対して行われる。但し、画素電極9aを構成するITO膜、および共通電極21を構成するITO膜の双方に行ってもよい。
(ITO膜のシート抵抗)
図6は、図3に示すITO膜のシート抵抗とプレチルト角θpとの関係を示すグラフである。図7は、図3に示すITO膜の比抵抗とプレチルト角θpとの関係を示すグラフである。また、図6には、最小二乗法によって、ITO膜のシート抵抗とプレチルト角θpとの関係を一次関数に近似した結果も示してある。図7には、最小二乗法によって、ITO膜の比抵抗とプレチルト角θpとの関係を一次関数に近似した結果も示してある。
図6に示すように、ITO膜のシート抵抗とプレチルト角θpとは正の相関関係を有しており、ITO膜のシート抵抗が高くなると、プレチルト角θpが大きくなる。その場合の近似式は下式であり、相関係数Rの二乗は0.9464である。
y=0.0458x+2.8634
x:シート抵抗(Ω/□)
y:プレチルト角θp(°)
本形態では、上記の近似式に基づいて、ITO膜のシート抵抗を19Ω/□以上、かつ、44Ω/□以下に設定し、4.3±0.6°のプレチルト角θpを実現する。なお、ITO膜のシート抵抗の下限については、近似式から求めた値の小数点以下を切り上げて19Ω/□とし、ITO膜のシート抵抗の上限については、近似式から求めた値の小数点以下を切り捨てて44Ω/□に設定してある。
また、図7に示すように、ITO膜の比抵抗とプレチルト角θpとは正の相関関係を有しており、ITO膜の比抵抗が高くなると、プレチルト角θpが大きくなる。その場合の近似式は下式であり、相関係数Rの二乗は0.969である。
y=0.0003x+2.878
x:比抵抗(nm・Ω/□)
y:プレチルト角θp(°)
本形態では、上記の近似式に基づいて、ITO膜の比抵抗を2740nm・Ω/□以上、かつ、6740nm・Ω/□以下に設定し、4.3±0.6°のプレチルト角θpをより確実に実現する。
(ITO膜のX線回折結果)
図8は、図3に示すITO膜のX線回折結果を示す説明図である。図9は、図8に示す各結晶面方位の強度とプレチルト角θpとの関係を示す説明図であり、結晶面方位(622)、(440)、(400)、(211)、(222)の強度とプレチルト角θpとの関係を示してある。また、図9には、結晶面方位(222)の強度Iaを一次関数に近似した結果、および結晶面方位(440)の強度Ibを一次関数に近似した結果も示してある。図10は、図9に示す強度Ia、Ibの比率とプレチルト角θpとの関係を示す説明図であり、図10には、Ia/(Ia+Ib)の値、およびIb/(Ia+Ib)の値と、プレチルト角θpとの関係を示してある。図11には、図10に示すIa/(Ia+Ib)を三次関数に近似した結果を示すグラフである。なお、本形態における「強度」とは、該当するピークの積分強度である。
図8に示すように、成膜時の圧力等の成膜条件を変えて成膜したITO膜をX線回折すると、結晶面方位(622)、(440)、(400)、(211)、(222)等に対応するピークが得られ、成膜条件によって、結晶面方位(622)、(440)、(400)、(211)、(222)等の相対強度が変化する。
また、成膜時の圧力等の成膜条件を変えて成膜したITO膜を第2配向膜26として用いた場合、結晶面方位(622)、(440)、(400)、(211)、(222)の強度とプレチルト角θpとの関係は、図9に示す通りである。図9から分かるように、結晶面方位(222)の強度Ia、および結晶面方位(440)の強度Ibは、プレチルト角θpと高い相関性が存在する。
例えば、結晶面方位(222)の強度Iaとプレチルト角θpとの関係を一次関数に近似したときの近似式は、以下の通りであり、相関係数Rの二乗は0.9983である。
y=0.2112x+0.0732
x:プレチルト角θp(°)
y:結晶面方位(222)の強度Ia
結晶面方位(440)の強度Ibとプレチルト角θpとの関係を一次関数に近似したときの近似式は、以下の通りであり、相関係数Rの二乗は0.9558である。
y=−0.1308x+0.5567
x:プレチルト角θp(°)
y:結晶面方位(440)の強度Ib
また、Ia/(Ia+Ib)の値、およびIb/(Ia+Ib)の値と、プレチルト角θpとの関係は、図10に示す通りであり、Ia/(Ia+Ib)の値、およびIb/(Ia+Ib)の値は、プレチルト角θpと高い相関性が存在する。
例えば、Ia/(Ia+Ib)の値とプレチルト角θpとの関係を一次関数に近似したときの近似式は、以下の通りであり、相関係数Rの二乗は0.9706である。
y=0.144x+0.2894
x:プレチルト角θp(°)
y:Ia/(Ia+Ib)
また、Ib/(Ia+Ib)の値とプレチルト角θpとの関係を一次関数に近似したときの近似式は、以下の通りであり、相関係数Rの二乗は0.9706である。
y=−0.144x+0.71
x:プレチルト角θp(°)
y:Ib/(Ia+Ib)
本形態では、Ia/(Ia+Ib)の値とプレチルト角θpとの関係を三次関数に近似し、かかる近似式に基づいて、Ia/(Ia+Ib)の範囲を設定する。より具体的には、図11に示すように、Ia/(Ia+Ib)の値とプレチルト角θpとの関係を三次関数に近似した場合の近似式は、以下の通りであり、相関係数Rの二乗は0.9669である。
y=0.025x+0.3793x+1.9303x−2.3676
x:プレチルト角θp(°)
y:Ia/(Ia+Ib)
図11に示す結果によれば、結晶面方位(222)の強度Ia、および結晶面方位(440)の強度Ibが以下の関係を満たせば、4.3±0.6°のプレチルト角θpをより確実に実現することができる。
0.85≦(Ia/(Ia+Ib))≦0.92
なお、Ia/(Ia+Ib)の下限については、近似式から求めた値の小数点第3位を切り上げて0.85とし、Ia/(Ia+Ib)の上限については、近似式から求めた値の小数点第3位を切り捨てて0.92に設定してある。
(本形態の主な効果)
以上説明したように、本形態では、第2配向膜26に用いるITO膜のシート抵抗等や、ITO膜のX線回折によって得られる結晶面方位の強度の割合を管理することによって、4.3±0.6°のプレチルト角θpを実現する。このため、ITO膜の表面粗さを計測しなくても、動画ドメイン、およびコントラストの面で優れた液晶装置100を実現することができる。
より具体的には、共通電極21は、シート抵抗が19Ω/□以上、かつ、44Ω/□以下のITO膜を含むため、プレチルト角θpを4.3±0.6°とすることができる。
また、共通電極21に用いたITO膜のシート抵抗と膜厚との積である比抵抗を、2740nm・Ω/□以上、かつ、6740nm・Ω/□以下としたため、ITO膜の膜厚を変えた場合でも、ITO膜を適正に管理でき、プレチルト角θpを4.3±0.6°とすることができる。
さらに、共通電極21に用いたITO膜のX線回折結果において、結晶面方位(222)の強度Ia、および結晶面方位(440)の強度Ibが以下の関係を満たすため、プレチルト角θpをより適正に制御でき、プレチルト角θpを4.3±0.6°とすることができる。
0.85≦(Ia/(Ia+Ib))≦0.92
[他の実施形態]
上記実施形態では、液晶装置100がノーマリーブラックモードである場合を説明したが、液晶装置100がノーマリーホワイトモードである場合に本発明を適用してもよい。
上記実施形態では、共通電極21を構成するITOの管理を中心に説明したが、画素電極9aを構成するITO膜。および共通電極21を構成するITOの双方に上記実施形態で説明した管理を行ってもよい。
[電子機器への搭載例]
上述した実施形態に係る液晶装置100を用いた電子機器の一例として、投射型表示装置(液晶プロジェクター)を説明する。図12は、透過型の液晶装置を用いた投射型表示装置の説明図である。図12に示す投射型表示装置2100では、本発明を適用した液晶装置100と、液晶装置100に供給される光を出射する光源部と、液晶装置100によって変調された光を投射する投射光学系とが設けられている。
投射型表示装置2100には、ハロゲンランプ等の白色光源を有するランプユニット2102(光源部)が設けられている。ランプユニット2102から射出された投射光は、内部に配置された3枚のミラー2106および2枚のダイクロイックミラー2108によってR(赤)色、G(緑)色、B(青)色の3原色に分離される。分離された投射光は、各原色に対応するライトバルブ100R、100G、100Bにそれぞれ導かれ、変調される。なお、B色の光は、他のR色やG色と比較すると光路が長いので、その損失を防ぐために、入射レンズ2122、リレーレンズ2123および出射レンズ2124を有するリレーレンズ系2121を介して導かれる。ここで、ライトバルブ100R、100G、100Bは各々、液晶装置100に対して入射側で重なる入射側偏光分離素子111と、液晶装置100に対して出射側で重なる出射側偏光分離素子112とを有している。
ライトバルブ100R、100G、100Bによってそれぞれ変調された光は、ダイクロイックプリズム2112に3方向から入射する。そして、ダイクロイックプリズム2112において、R色およびB色の光は90度に反射し、G色の光は透過する。したがって、各原色の画像が合成された後、スクリーン2120には、投射レンズ群2114(投射光学系)によってカラー画像が投射される。
(他の投射型表示装置)
投射型表示装置については、光源部として、各色の光を出射するLED光源等を用い、かかるLED光源から出射された色光を各々、別のライトバルブに供給するように構成してもよい。
(他の電子機器)
本発明を適用した液晶装置100を備えた電子機器は、上記実施形態の投射型表示装置2100に限定されない。例えば、投射型のHUD(ヘッドアップディスプレイ)や直視型のHMD(ヘッドマウントディスプレイ)、パーソナルコンピューター、デジタルスチルカメラ、液晶テレビ等の電子機器に用いてもよい。
9a…画素電極、9b…ダミー画素電極、10…第1基板、10a…表示領域、16…第1配向膜、20…第2基板、21…共通電極、26…第2配向膜、80…液晶層、85…液晶材料、100…液晶装置、100B,100G,100R…ライトバルブ、100p…液晶パネル、2100…投射型表示装置、2102…ランプユニット(光源部)、2114…投射レンズ群(投射光学系)。

Claims (6)

  1. 画素電極と、
    共通電極と、
    前記画素電極を覆う第1配向膜と、
    前記共通電極を覆う第2配向膜と、
    前記第1配向膜と前記第2配向膜との間に配置され、液晶材料を含む液晶層と、
    を備え、
    前記画素電極および前記共通電極のうち、少なくとも共通電極は、シート抵抗が19Ω/□以上、かつ、44Ω/□以下のITO膜を含み、前記液晶層の厚さ方向に対する前記液晶材料の傾き角であるプレチルト角が3.7°以上、かつ、4.9°以下であることを特徴とする液晶装置。
  2. 請求項1に記載の液晶装置において、
    前記ITO膜は、シート抵抗と膜厚との積である比抵抗が、2740nm・Ω/□以上、かつ、6740nm・Ω/□以下であることを特徴とする液晶装置。
  3. 請求項1または2に記載の液晶装置において、
    前記ITO膜は、X線回折結果において、結晶面方位(222)の強度Ia、および結晶面方位(440)の強度Ibが以下の関係
    0.85≦(Ia/(Ia+Ib))≦0.92
    を満たすことを特徴とする液晶装置。
  4. 請求項1から3までの何れか一項に記載の液晶装置において、
    前記画素電極および前記共通電極の双方が前記ITO膜を含むことを特徴とする液晶装置。
  5. 請求項1から4までの何れか一項に記載の液晶装置において、
    前記第1配向膜および前記第2配向膜は、前記液晶層の厚さ方向に対して斜めに傾いた柱状体を備えた柱状構造体からなることを特徴とする液晶装置。
  6. 請求項1から5までの何れか一項に記載の液晶装置を備えていることを特徴とする電子機器。
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