JP2020053217A5 - - Google Patents

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上記第2のX線源及び上記第3のX線源では、異なる波長のX線それぞれの焦点位置が異なってしまうし、焦点位置を同じくしようとすると、移動制御系をさらに備えることが必要となる。上記第2のX線では対象となるX線封入管の位置を移動させ、X線の光軸調整が必要となる。上記第3のX線源では、X線封入管の位置を移動させて、対象となる陽極の位置を調整させることとなる。加えて、第2のX線源及び第3のX線源では、装置の大型化を招く。第2のX線源では、発生源の焦点サイズを小さくするのは困難である。
(7)本発明に係るX線分析装置は、上記(1)乃至(6)のいずれかに記載のX線発生装置と、前記X発生装置より出射されるX線ビームが照射される試料を支持する、支持台と、前記試料から発生する散乱X線を検出する、検出器と、を備えていてもよい。
図5A及び図5Bは、関連技術2に係るX線源部11の構成を示す概略図である。図5A及び図5Bは、図4Aび図4Bに対応しており、図5Aに第1のX線X1を発生させる場合の陽極42の平面図が、図5Bに第2のX線X2を発生させる場合の陽極42の平面図が、それぞれ示されている。関連技術2に係るX線源部11は、陽極42の−x軸方向側に、第1の防磁シャッター35A及び第1の永久磁石32Aが順に、陽極42の+x軸方向側に、第2の防磁シャッター35B及び第2の永久磁石32Bが順に、それぞれ配置されている。なお、関連技術2に係るX線源部11は回転駆動系33は備えていない。
図6A及び図6Bは、関連技術3に係るX線源部11の構成を示す概略図である。図6A及び図6Bは、関連技術1に係る陽極42を示す図4A及び図4Bに、関連技術2に係る陽極42を示す図5A及び図5Bに、それぞれ対応しており、図6Aに第1のX線X1を発生させる場合の陽極42の平面図が、図6Bに第2のX線X2を発生させる場合の陽極42の平面図が、それぞれ示されている。関連技術3に係るX線源部11は、陽極42の−x軸方向側に、防磁シャッター35及び永久磁石32が順に配置されている。なお、関連技術3に係るX線源部11は回転駆動系33は備えていない。

Claims (7)

  1. 熱電子が放出される陰極と、印加される電位差により前記熱電子が加速され電子線となり照射される陽極と、を備える、X線封入管と、
    前記電子線の進行方向と交差する第1の方向に延伸する磁場を前記電子線に印加するよう、前記X線封入管の近傍に配置される、磁場発生部と、
    前記X線封入管を、前記陰極と前記陽極との中心軸に対して回転させる、回転駆動系と、
    を備える、X線発生装置であって、
    前記陽極の表面は、前記中心軸との交点を通る分割直線に対して、一方側に第1の領域が、他方側に第2の領域が、それぞれ配置され、
    前記第1の領域には第1の金属が、前記第2の領域には前記第1の金属とは異なる第2の金属が、それぞれ配置され、
    前記回転駆動系が前記X線封入管を回転させることにより、駆動時には、前記分割直線が前記第1の方向に沿うよう、前記X線封入管が前記磁場発生部に対して配置される、
    ことを特徴とする、X線発生装置。
  2. 請求項1に記載のX線発生装置であって、
    前記電子線の断面は延伸する偏平形状を有し、
    駆動時には、前記偏平形状の延伸方向が前記第1の方向に沿うよう、前記X線封入管が前記磁場発生部に対して配置される、
    ことを特徴とする、X線発生装置。
  3. 請求項1又は2に記載のX線発生装置であって、
    前記磁場発生部は、永久磁石である、
    ことを特徴とする、X線発生装置。
  4. 請求項1乃至3のいずれかに記載のX線発生装置であって、
    前記陽極の表面は円形状を有し、前記中心軸との交点は前記円形状の中心と実質的に一致する、
    ことを特徴とする、X線発生装置。
  5. 請求項1乃至4のいずれかに記載のX線発生装置であって、
    前記第1の方向は、前記電子線の進行方向と実質的に直交する、
    ことを特徴とする、X線発生装置。
  6. 請求項1乃至5のいずれかに記載のX線発生装置であって、
    前記X線封入管は、前記第1の領域に配置される前記第1の金属に前記電子線が照射される第1の照射領域から発生するX線を通過させる第1のX線窓と、前記第2の領域に配置される前記第2の金属に前記電子線が照射される第2の照射領域から発生するX線を通過させる第2のX線窓と、を備える、
    ことを特徴とする、X線発生装置。
  7. 請求項1乃至6のいずれかに記載のX線発生装置と、
    前記X発生装置より出射されるX線ビームが照射される試料を支持する、支持台と、
    前記試料から発生する散乱X線を検出する、検出器と、
    を備える、X線分析装置。
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