JP2020047874A - 光源駆動装置および発光装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】出射されるレーザ光の異常を検出し、安全性を向上させる。【解決手段】光源駆動装置は、光源制御部、受光部および異常検出部を具備する。この光源駆動装置が具備する光源制御部は、光源の発光を制御する。この光源駆動装置が具備する受光部は、その光源の光を外部に出射する出射部を介してその光源からの光を受光する。この光源駆動装置が具備する異常検出部は、その受光した光に基づいてその出射部から出射される光の異常を検出する。【選択図】図2
Description
本開示は、光源駆動装置および発光装置に関する。詳しくは、レーザ光を出射する光源駆動装置および発光装置に関する。
従来、光学系を介してレーザダイオードの出射光を空間に放出するレーザ発光装置において、目に対する安全性を向上させる装置が使用されている。例えば、レーザダイオードの出射光を光学系を介してフォトダイオードによりモニタしながらレーザダイオードの電流を制御する装置が使用されている(例えば、特許文献1参照。)。
上述の従来技術では、光学系の破損等による出射レーザ光の異常を検出できないという問題がある。
本開示は、上述した問題点に鑑みてなされたものであり、出射されるレーザ光の異常を検出し、安全性を向上させることを目的としている。
本開示は、上述の問題点を解消するためになされたものであり、その第1の態様は、光源の発光を制御する光源制御部と、上記光源の光を外部に出射する出射部を介して上記光源からの光を受光する受光部と、上記受光した光に基づいて上記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部とを具備する光源駆動装置である。
また、この第1の態様において、上記異常検出部は、上記光源制御部が上記光源を発光させる際に上記異常を検出してもよい。
また、この第1の態様において、上記異常検出部は、上記受光した光量が所定の閾値を超える場合に上記異常を検出してもよい。
また、この第1の態様において、上記異常検出部は、上記受光した光量が所定の閾値未満の場合に上記異常を検出してもよい。
また、この第1の態様において、上記異常検出部は、上記光源制御部が上記光源の発光を停止させる際に上記異常を検出してもよい。
また、この第1の態様において、上記異常検出部は、上記受光した光量が所定の閾値を超える場合に上記異常を検出してもよい。
また、この第1の態様において、上記異常検出部は、上記異常を検出した際に上記光源制御部に上記発光を停止させてもよい。
また、この第1の態様において、上記受光部は、上記出射部により反射された上記光源からの光を受光してもよい。
また、この第1の態様において、上記受光部は、上記出射部を透過した上記光源からの光を受光してもよい。
また、この第1の態様において、複数の上記受光部を具備し、上記異常検出部は、上記複数の受光部が受光した光に基づいて上記異常を検出してもよい。
また、本開示の第2の態様は、光源と、上記光源の光を外部に出射する出射部と、上記光源の発光を制御する光源制御部と、上記出射部を介して上記光源からの光を受光する受光部と、上記受光した光に基づいて上記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部とを具備する発光装置である。
また、この第2の態様において、上記出射部は、上記光源からの光を透過するとともに拡散光に変換してもよい。
このような態様を採ることにより、出射部を介してレーザ光を受光することができる。光源および出射部における異常の検出が想定される。
次に、図面を参照して、本開示を実施するための形態(以下、実施の形態と称する)を説明する。以下の図面において、同一または類似の部分には同一または類似の符号を付している。ただし、図面は、模式的なものであり、各部の寸法の比率等は現実のものとは必ずしも一致しない。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれることは勿論である。また、以下の順序で実施の形態の説明を行う。
1.第1の実施の形態
2.第2の実施の形態
3.第3の実施の形態
4.第4の実施の形態
5.第5の実施の形態
6.第6の実施の形態
7.カメラへの応用例
1.第1の実施の形態
2.第2の実施の形態
3.第3の実施の形態
4.第4の実施の形態
5.第5の実施の形態
6.第6の実施の形態
7.カメラへの応用例
<1.第1の実施の形態>
[発光装置]
図1は、本開示の第1の実施の形態に係る発光装置の構成例を示す図である。同図は、発光装置1の概略を表す図である。同図の発光装置1は、光源3、出射部4、受光部5、筐体6、駆動回路2および基板7により構成される。発光装置1は、例えば、カメラ等において被写体との距離をToF(Time of Flight)方式により測定する装置に使用される発光装置である。ここでToF方式とは、被写体にレーザ光を照射し、レーザ光が被写体との間を往復する時間を計測することにより距離を測定する方式である。
[発光装置]
図1は、本開示の第1の実施の形態に係る発光装置の構成例を示す図である。同図は、発光装置1の概略を表す図である。同図の発光装置1は、光源3、出射部4、受光部5、筐体6、駆動回路2および基板7により構成される。発光装置1は、例えば、カメラ等において被写体との距離をToF(Time of Flight)方式により測定する装置に使用される発光装置である。ここでToF方式とは、被写体にレーザ光を照射し、レーザ光が被写体との間を往復する時間を計測することにより距離を測定する方式である。
光源3は、筐体6内に配置され、レーザ光を放射する。筐体6の天板には、出射部4が配置される。この出射部4は、光源3を保護するとともにレーザ光を透過するものである。また、この出射部4には、後述する拡散板が配置され、レーザ光を拡散光に変換する。この出射部4により、点(1次元)発光のレーザ光が面(2次元)発光に変換される。この面発光のレーザ光を被写体に照射し、被写体により反射されたレーザ光を撮像するとともに撮像素子の画素毎の距離情報を取得することにより、被写体の3次元マッピングを行うことができる。同図の白抜きの矢印は、光源3により放射されるレーザ光を表し、実線の矢印は出射部4により拡散光に変換されたレーザ光を表す。
このレーザ光は、エネルギー密度が高く、眼球等に直接照射されると人体に障害を引き起こす可能性が高い。このため、光源3からのレーザ光の出力異常や上述の拡散板の出射部4からの脱離によるレーザ光の直接出射等の発光装置1の異常を検出して光源3を消光させる安全装置が必要となる。筐体6には、受光部5がさらに配置され、出射部4により反射されたレーザ光を受光する。後述するように、この受光されたレーザ光に基づいて発光装置1の異常を検出することができる。
駆動回路2は、光源3を駆動するとともに発光装置1の異常を検出する電子回路である。駆動回路2および筐体6は、基板7に実装される。なお、駆動回路2は、後述する光源制御部120および異常検出部130により構成される。
[発光装置の構成]
図2は、本開示の第1の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。同図の発光装置1は、光源3と、出射部4と、光源駆動装置100とを備える。
図2は、本開示の第1の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。同図の発光装置1は、光源3と、出射部4と、光源駆動装置100とを備える。
光源3は、光を放射するものである。この光源3は、例えば、レーザダイオードにより構成され、レーザ光を放射する。
出射部4は、光源3からのレーザ光を透過することにより、光源3からのレーザ光を発光装置1の外部に出射するものである。また、出射部4は、出射の際にレーザ光を拡散光に変換する。出射部4には、例えば、表面に微細な凹凸が形成されたガラスにより構成された拡散板を使用することができる。
光源駆動装置100は、光源3を駆動するものである。また、光源駆動装置100は、発光装置1の異常を検出する。光源駆動装置100は、受光部5と、光源制御部120と、異常検出部130とを備える。
受光部5は、出射部4を介して光源3からのレーザ光を受光するものである。同図においては、受光部5は、出射部4により反射されたレーザ光を受光する。この受光部5は、例えば、受光ダイオードにより構成することができ、受光したレーザ光に応じた電気信号を出力することができる。
光源制御部120は、光源3の発光を制御するものである。この光源制御部120は、発光装置1が使用されるカメラ等の外部の制御回路から入力される発光制御信号に基づいて光源3の発光および発光の停止を制御する。光源制御部120は、例えば、レーザ光の出射を指示する発光制御信号が入力された場合に、光源3を構成するレーザダイオードに駆動電流を供給して光源3を発光させることができる。一方、レーザ光の出射停止を指示する発光制御信号が入力された場合には、光源制御部120は、レーザダイオードへの駆動電流の供給を停止し、光源3の発光を停止させることができる。また、後述する異常検出信号が異常検出部130から入力された際においても、光源制御部120は、光源3の発光を停止させる。
異常検出部130は、受光部5が受光したレーザ光に基づいて発光装置1の異常を検出するものである。具体的には、異常検出部130は、出射部4から出射されるレーザ光の異常を検出する。この異常検出部130は、異常を検出すると異常検出信号を生成し、光源制御部120に出力するとともに、外部の制御回路等に対して出力する。同図の異常検出部130は、光量過剰検出部131と、光量不足検出部132と、不要光検出部133とを備える。
光量過剰検出部131は、光源3から放射されるレーザ光の光量が過剰か否かを検出するものである。この光量過剰検出部131は、受光部5が受光したレーザ光が所定の閾値を超える場合に異常を検出することができる。具体的には、光量過剰検出部131は、受光部5から出力された信号と所定の閾値との比較を行い、受光部5からの信号が所定の閾値より高い場合に異常検出信号を出力することができる。光源3から規定量を超える光量のレーザ光が放射されると発光装置1から過剰な光量の出射光が出射される。このような場合に、光量過剰検出部131は、異常を検出する。また、出射部4の破損や取付け角度の異常を生じた場合においても、光量過剰検出部131により異常を検出することができる。出射部4からの反射光が増加して受光部5における受光量が増加するためである。
光量不足検出部132は、光源3が発光している際に出射部4から反射されるレーザ光の光量が不足するか否かを検出するものである。この光量不足検出部132は、受光部5が受光したレーザ光が所定の閾値未満の場合に異常を検出することができる。具体的には、光量不足検出部132は、発光制御信号においてレーザ光の出射が指示されている時に受光部5から出力された信号と所定の閾値との比較を行い、受光部5からの信号が所定の閾値より低い場合に異常検出信号を出力することができる。出射部4の不具合、例えば、出射部4の破損や筐体6からの脱離を生じた場合、出射部4から反射されるレーザ光が減少する。また、経年劣化等により光源3からのレーザ光の光量が低下する場合もある。このような場合に、光量不足検出部132は、異常を検出する。
不要光検出部133は、光源制御部120が光源3の発光を停止させる際に光源3からレーザ光が放射されているか否かを検出するものである。この不要光検出部133は、発光制御信号においてレーザ光の出射の停止が指示されている時に受光部5から出力された信号と所定の閾値との比較を行い、受光部5からの信号が所定の閾値より高い場合に異常検出信号を出力することができる。光源制御部120の不具合等により、光源3の発光が停止される期間における光源3の発光を検出する。これにより、発光装置1からの不要光の出射を防ぐことができる。
このように、光量過剰検出部131および光量不足検出部132は、光源制御部120が光源3を発光させる際の異常を検出する。これに対し、不要光検出部133は、光源制御部120が光源3の発光を停止させる際の異常を検出する。光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133が生成する異常検出信号は、例えば、ワイヤードOR接続されて光源制御部120に入力することができる。
以上説明したように、本開示の第1の実施の形態の光源駆動装置100は、出射部4を介して光源3からの光を受光することにより、発光装置1の異常を検出することができる。
<2.第2の実施の形態>
上述の第1の実施の形態の光源駆動装置100は、受光部5により受光したレーザ光に基づいて出射部4の異常を検出していた。これに対し、本開示の第2の実施の形態の光源駆動装置100は、出射部に形成された破損検出パターンからの信号に基づいて出射部4の異常をさらに検出する点で、上述の第1の実施の形態と異なる。
上述の第1の実施の形態の光源駆動装置100は、受光部5により受光したレーザ光に基づいて出射部4の異常を検出していた。これに対し、本開示の第2の実施の形態の光源駆動装置100は、出射部に形成された破損検出パターンからの信号に基づいて出射部4の異常をさらに検出する点で、上述の第1の実施の形態と異なる。
[発光装置の構成]
図3は、本開示の第2の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。同図の発光装置1は、出射部4の代わりに出射部9を備え、破損検出部134をさらに備える点で、図2において説明した発光装置1と異なる。
図3は、本開示の第2の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。同図の発光装置1は、出射部4の代わりに出射部9を備え、破損検出部134をさらに備える点で、図2において説明した発光装置1と異なる。
出射部9は、自身の破損を検出するための破損検出パターンが配置された出射部である。この破損検出パターンは、出射部9の表面に配置された導体により構成することができる。例えば、線形状に構成された破損検出パターンを出射部9の周縁部に配置する。端部の欠損等により破損検出パターンが切断された場合に、出射部9の破損を検出することができる。破損検出パターンの切断の検出は、例えば、破損検出パターンの抵抗値を監視することにより行うことができる。出射部9の構成の詳細については後述する。
破損検出部134は、出射部9の破損を検出するものである。この破損検出部134は、上述の破損検出パターンの抵抗値と所定の閾値とを比較することにより、出射部9の破損を検出することができる。具体的には、破損検出パターンに電流を流しながら電流値を取得し、この電流値が所定の閾値未満の場合に破損検出パターンの切断を検出することができる。出射部9の破損を検出した場合には、破損検出部134は、異常検出信号を生成し、光源制御部120に対して出力する。
[出射部の構成]
図4は、本開示の第2の実施の形態に係る出射部の構成例を示す図である。同図は、出射部9の構成例を表す図である。同図の出射部9は、拡散板91と、破損検出パターン92とを備える。破損検出パターン92は、透明な導体により構成され、拡散板91の周縁部に沿って配置される。この破損検出パターン92には、例えば、酸化インジウム錫(ITO:Indium Tin Oxide)を使用することができる。上述の破損検出部134は、破損検出パターン92に電流を流しながら抵抗値の変化を監視し、破損検出パターン92の断線を検出することができる。
図4は、本開示の第2の実施の形態に係る出射部の構成例を示す図である。同図は、出射部9の構成例を表す図である。同図の出射部9は、拡散板91と、破損検出パターン92とを備える。破損検出パターン92は、透明な導体により構成され、拡散板91の周縁部に沿って配置される。この破損検出パターン92には、例えば、酸化インジウム錫(ITO:Indium Tin Oxide)を使用することができる。上述の破損検出部134は、破損検出パターン92に電流を流しながら抵抗値の変化を監視し、破損検出パターン92の断線を検出することができる。
これ以外の発光装置1の構成は本開示の第1の実施の形態において説明した発光装置1の構成と同様であるため、説明を省略する。
以上説明したように、本開示の第2の実施の形態の発光装置1は、破損検出パターンを備える出射部9および破損検出部134を配置することにより、出射部9の破損を検出することができる。これにより、光量不足検出部132および破損検出部134により出射部の破損を2重に検出することができ、安全性を向上させることができる。
<3.第3の実施の形態>
上述の第1の実施の形態の発光装置1は、1つの受光部5を備えていた。これに対し、本開示の第3の実施の形態の発光装置1は、複数の受光部5を備える点で、上述の第1の実施の形態と異なる。
上述の第1の実施の形態の発光装置1は、1つの受光部5を備えていた。これに対し、本開示の第3の実施の形態の発光装置1は、複数の受光部5を備える点で、上述の第1の実施の形態と異なる。
[発光装置]
図5は、本開示の第3の実施の形態に係る発光装置の構成例を示す図である。同図の発光装置1は、2つの受光部5aおよび5bを備える点で、図1において説明した発光装置1と異なる。
図5は、本開示の第3の実施の形態に係る発光装置の構成例を示す図である。同図の発光装置1は、2つの受光部5aおよび5bを備える点で、図1において説明した発光装置1と異なる。
受光部5aおよび5bは、筐体6の異なる位置に配置され、出射部4からの反射光を受光する。また、本開示の第3の実施の形態の異常検出部130は、受光部5aおよび5bが受光したレーザ光に基づいて異常を検出する。これにより、受光部5aおよび5bの何れかが破損した場合であっても、発光装置1の異常を検出することができる。
なお、発光装置1の構成は、この例に限定されない。例えば、3つ以上の受光部5を備える構成にすることもできる。
これ以外の発光装置1の構成は本開示の第1の実施の形態において説明した発光装置1の構成と同様であるため、説明を省略する。
以上説明したように、本開示の第3の実施の形態の発光装置1は、複数の受光部によりレーザ光を受光する。これにより、発光装置1の安全性をさらに向上させることができる。
<4.第4の実施の形態>
上述の第1の実施の形態の発光装置1は、出射部4により反射されたレーザ光を受光部5により検出していた。これに対し、本開示の第4の実施の形態の発光装置1は、出射部4を透過したレーザ光を検出する点で、上述の第1の実施の形態と異なる。
上述の第1の実施の形態の発光装置1は、出射部4により反射されたレーザ光を受光部5により検出していた。これに対し、本開示の第4の実施の形態の発光装置1は、出射部4を透過したレーザ光を検出する点で、上述の第1の実施の形態と異なる。
[発光装置]
図6は、本開示の第4の実施の形態に係る発光装置の構成例を示す図である。同図の発光装置1は、受光部5が出射部4の外側に配置される点で、図1において説明した発光装置1と異なる。
図6は、本開示の第4の実施の形態に係る発光装置の構成例を示す図である。同図の発光装置1は、受光部5が出射部4の外側に配置される点で、図1において説明した発光装置1と異なる。
同図の受光部5は、出射部4における光源3からのレーザ光が入射する面とは異なる面に隣接して配置される。この受光部5は、出射部4を透過した光源3からのレーザ光を受光する。また、同図の受光部5は、電線8およびコネクタにより、基板7に接続される。発光装置1を小型化するため、一体に構成される光源3、筐体6および出射部4を使用する場合には、受光部5を出射部4の外側に配置することにより、光源3からのレーザ光を受光することができる。
これ以外の発光装置1の構成は本開示の第1の実施の形態において説明した発光装置1の構成と同様であるため、説明を省略する。
以上説明したように、本開示の第4の実施の形態の発光装置1は、出射部4を透過したレーザ光を受光することにより、発光装置1の異常を検出することができる。
<5.第5の実施の形態>
上述の第1の実施の形態の発光装置1は、異常検出部130において、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133により生成される異常検出信号をまとめて光源制御部120等に出力していた。これに対し、本開示の第5の実施の形態の発光装置1は、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133が個別に異常検出信号を光源制御部120等に対して出力する点で、上述の第1の実施の形態と異なる。
上述の第1の実施の形態の発光装置1は、異常検出部130において、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133により生成される異常検出信号をまとめて光源制御部120等に出力していた。これに対し、本開示の第5の実施の形態の発光装置1は、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133が個別に異常検出信号を光源制御部120等に対して出力する点で、上述の第1の実施の形態と異なる。
[発光装置の構成]
図7は、本開示の第5の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。同図の発光装置1は、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133が異常検出信号1乃至3をそれぞれ出力する点で、図1において説明した発光装置1と異なる。
図7は、本開示の第5の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。同図の発光装置1は、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133が異常検出信号1乃至3をそれぞれ出力する点で、図1において説明した発光装置1と異なる。
同図の光量過剰検出部131は、異常検出信号1を生成し、光源制御部120および外部の回路に対して出力する。同様に、同図の光量不足検出部132は異常検出信号2を生成して光源制御部120等に出力し、不要光検出部133は異常検出信号3を生成して光源制御部120等に出力する。これにより、異常検出部130が検出した異常の種類を把握することが可能となる。また、検出された異常に基づいて光源制御部120が処理を行うことが可能となる。
これ以外の発光装置1の構成は本開示の第1の実施の形態において説明した発光装置1の構成と同様であるため、説明を省略する。
以上説明したように、本開示の第5の実施の形態の発光装置1は、検出された異常の種類毎に信号を出力する。これにより、発光装置1の利便性を向上させることができる。
<6.第6の実施の形態>
上述の第1の実施の形態の発光装置1は、異常検出部130において、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133が常に異常を検出していた。これに対し、本開示の第6の実施の形態の発光装置1は、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133を選択して異常の検出を行う点で、上述の第1の実施の形態と異なる。
上述の第1の実施の形態の発光装置1は、異常検出部130において、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133が常に異常を検出していた。これに対し、本開示の第6の実施の形態の発光装置1は、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133を選択して異常の検出を行う点で、上述の第1の実施の形態と異なる。
[発光装置の構成]
図8は、本開示の第6の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。同図の発光装置1は、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133に検出許可信号が入力される点で、図1において説明した発光装置1と異なる。
図8は、本開示の第6の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。同図の発光装置1は、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133に検出許可信号が入力される点で、図1において説明した発光装置1と異なる。
同図の光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133には、外部の制御回路から検出許可信号1乃至3がそれぞれ入力される。検出許可信号1乃至3は、いわゆるイネーブル信号に該当する。検出許可信号1乃至3は、例えば、値「1」のときに光量過剰検出部131等に対して異常検出を行わせ、値「0」の時に光量過剰検出部131等における異常の検出を停止させることができる。これにより、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133のうち所望の検出部を選択して異常の検出を行わせることができる。
これ以外の発光装置1の構成は本開示の第1の実施の形態において説明した発光装置1の構成と同様であるため、説明を省略する。
以上説明したように、本開示の第6の実施の形態の発光装置1は、光量過剰検出部131、光量不足検出部132および不要光検出部133における異常の検出を外部の制御回路により制御することができる。これにより、発光装置1の利便性を向上させることができる。
<7.カメラへの応用例>
本開示に係る技術(本技術)は、様々な製品に応用することができる。例えば、本技術は、カメラ等の撮像装置に搭載される発光装置として実現されてもよい。
本開示に係る技術(本技術)は、様々な製品に応用することができる。例えば、本技術は、カメラ等の撮像装置に搭載される発光装置として実現されてもよい。
図9は、本技術が適用され得る撮像装置の一例であるカメラの概略的な構成例を示すブロック図である。同図のカメラ1000は、レンズ1001と、撮像素子1002と、撮像制御部1003と、レンズ駆動部1004と、画像処理部1005と、操作入力部1006と、フレームメモリ1007と、表示部1008と、記録部1009と、発光装置1010を備える。
レンズ1001は、カメラ1000の撮影レンズである。このレンズ1001は、被写体からの光を集光し、後述する撮像素子1002に入射させて被写体を結像させる。
撮像素子1002は、レンズ1001により集光された被写体からの光を撮像する半導体素子である。この撮像素子1002は、照射された光に応じたアナログの画像信号を生成し、デジタルの画像信号に変換して出力する。
撮像制御部1003は、撮像素子1002における撮像を制御するものである。この撮像制御部1003は、制御信号を生成して撮像素子1002に対して出力することにより、撮像素子1002の制御を行う。また、撮像制御部1003は、撮像素子1002から出力された画像信号に基づいてカメラ1000におけるオートフォーカスを行うことができる。ここでオートフォーカスとは、レンズ1001の焦点位置を検出して、自動的に調整するシステムである。このオートフォーカスとして、撮像素子1002に配置された位相差画素により像面位相差を検出して焦点位置を検出する方式(像面位相差オートフォーカス)を使用することができる。また、画像のコントラストが最も高くなる位置を焦点位置として検出する方式(コントラストオートフォーカス)を適用することもできる。撮像制御部1003は、検出した焦点位置に基づいてレンズ駆動部1004を介してレンズ1001の位置を調整し、オートフォーカスを行う。なお、撮像制御部1003は、例えば、ファームウェアを搭載したDSP(Digital Signal Processor)により構成することができる。
レンズ駆動部1004は、撮像制御部1003の制御に基づいて、レンズ1001を駆動するものである。このレンズ駆動部1004は、内蔵するモータを使用してレンズ1001の位置を変更することによりレンズ1001を駆動することができる。
画像処理部1005は、撮像素子1002により生成された画像信号を処理するものである。この処理には、例えば、画素毎の赤色、緑色および青色に対応する画像信号のうち不足する色の画像信号を生成するデモザイク、画像信号のノイズを除去するノイズリダクションおよび画像信号の符号化等が該当する。画像処理部1005は、例えば、ファームウェアを搭載したマイコンにより構成することができる。
操作入力部1006は、カメラ1000の使用者からの操作入力を受け付けるものである。この操作入力部1006には、例えば、押しボタンやタッチパネルを使用することができる。操作入力部1006により受け付けられた操作入力は、撮像制御部1003や画像処理部1005に伝達される。その後、操作入力に応じた処理、例えば、被写体の撮像等の処理が起動される。
フレームメモリ1007は、1画面分の画像信号であるフレームを記憶するメモリである。このフレームメモリ1007は、画像処理部1005により制御され、画像処理の過程におけるフレームの保持を行う。
表示部1008は、画像処理部1005により処理された画像を表示するものである。この表示部1008には、例えば、液晶パネルを使用することができる。
記録部1009は、画像処理部1005により処理された画像を記録するものである。この記録部1009には、例えば、メモリカードやハードディスクを使用することができる。
発光装置1010は、被写体までの距離を測定するためのレーザ光を照射するものである。また、上述の撮像制御部1003は、発光装置1010の制御および被写体までの距離の測定をさらに行う。カメラ1000における被写体までの距離の測定は、次のように行うことができる。まず、撮像制御部1003が発光装置1010を制御してレーザ光を出射させる。次に、被写体により反射されたレーザ光を撮像素子1002により検出する。次に、撮像制御部1003が、発光装置1010におけるレーザ光の出射から撮像素子1002におけるレーザ光の検出までの時間を計測し、被写体までの距離を算出する。
以上、本発明が適用され得るカメラについて説明した。本技術は以上において説明した構成のうち、発光装置1010に適用され得る。具体的には、図1において説明した発光装置1は、発光装置1010に適用することができる。発光装置1010に発光装置1を適用することにより発光装置1の異常を検出することができる。距離の計測の際の安全性を向上させることができる。
なお、ここでは、一例としてカメラについて説明したが、本発明に係る技術は、その他、例えば携帯端末や無人搬送車等に適用されてもよい。
最後に、上述した各実施の形態の説明は本開示の一例であり、本開示は上述の実施の形態に限定されることはない。このため、上述した各実施の形態以外であっても、本開示に係る技術的思想を逸脱しない範囲であれば、設計等に応じて種々の変更が可能であることは勿論である。
また、上述の実施の形態において説明した処理手順は、これら一連の手順を有する方法として捉えてもよく、また、これら一連の手順をコンピュータに実行させるためのプログラム乃至そのプログラムを記憶する記録媒体として捉えてもよい。この記録媒体として、例えば、CD(CompactDisc)、DVD(DigitalVersatileDisc)およびメモリカード等を用いることができる。
なお、本技術は以下のような構成もとることができる。
(1)光源の発光を制御する光源制御部と、
前記光源の光を外部に出射する出射部を介して前記光源からの光を受光する受光部と、
前記受光した光に基づいて前記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部と
を具備する光源駆動装置。
(2)前記異常検出部は、前記光源制御部が前記光源を発光させる際に前記異常を検出する前記(1)に記載の光源駆動装置。
(3)前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値を超える場合に前記異常を検出する前記(2)に記載の光源駆動装置。
(4)前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値未満の場合に前記異常を検出する前記(2)に記載の光源駆動装置。
(5)前記異常検出部は、前記光源制御部が前記光源の発光を停止させる際に前記異常を検出する前記(1)に記載の光源駆動装置。
(6)前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値を超える場合に前記異常を検出する前記(5)に記載の光源駆動装置。
(7)前記異常検出部は、前記異常を検出した際に前記光源制御部に前記発光を停止させる前記(1)から(6)の何れかに記載の光源駆動装置。
(8)前記受光部は、前記出射部により反射された前記光源からの光を受光する前記(1)から(7)の何れかに記載の光源駆動装置。
(9)前記受光部は、前記出射部を透過した前記光源からの光を受光する前記(1)から(7)の何れかに記載の光源駆動装置。
(10)複数の前記受光部を具備し、
前記異常検出部は、前記複数の受光部が受光した光に基づいて前記異常を検出する前記(1)から(9)の何れかに記載の光源駆動装置。
(11)光源と、
前記光源の光を外部に出射する出射部と、
前記光源の発光を制御する光源制御部と、
前記出射部を介して前記光源からの光を受光する受光部と、
前記受光した光に基づいて前記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部と
を具備する発光装置。
(12)前記出射部は、前記光源からの光を透過するとともに拡散光に変換する前記(11)に記載の発光装置。
(1)光源の発光を制御する光源制御部と、
前記光源の光を外部に出射する出射部を介して前記光源からの光を受光する受光部と、
前記受光した光に基づいて前記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部と
を具備する光源駆動装置。
(2)前記異常検出部は、前記光源制御部が前記光源を発光させる際に前記異常を検出する前記(1)に記載の光源駆動装置。
(3)前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値を超える場合に前記異常を検出する前記(2)に記載の光源駆動装置。
(4)前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値未満の場合に前記異常を検出する前記(2)に記載の光源駆動装置。
(5)前記異常検出部は、前記光源制御部が前記光源の発光を停止させる際に前記異常を検出する前記(1)に記載の光源駆動装置。
(6)前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値を超える場合に前記異常を検出する前記(5)に記載の光源駆動装置。
(7)前記異常検出部は、前記異常を検出した際に前記光源制御部に前記発光を停止させる前記(1)から(6)の何れかに記載の光源駆動装置。
(8)前記受光部は、前記出射部により反射された前記光源からの光を受光する前記(1)から(7)の何れかに記載の光源駆動装置。
(9)前記受光部は、前記出射部を透過した前記光源からの光を受光する前記(1)から(7)の何れかに記載の光源駆動装置。
(10)複数の前記受光部を具備し、
前記異常検出部は、前記複数の受光部が受光した光に基づいて前記異常を検出する前記(1)から(9)の何れかに記載の光源駆動装置。
(11)光源と、
前記光源の光を外部に出射する出射部と、
前記光源の発光を制御する光源制御部と、
前記出射部を介して前記光源からの光を受光する受光部と、
前記受光した光に基づいて前記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部と
を具備する発光装置。
(12)前記出射部は、前記光源からの光を透過するとともに拡散光に変換する前記(11)に記載の発光装置。
1 発光装置
3 光源
4、9 出射部
5、5a、5b 受光部
91 拡散板
92 破損検出パターン
100 光源駆動装置
120 光源制御部
130 異常検出部
131 光量過剰検出部
132 光量不足検出部
133 不要光検出部
134 破損検出部
1000 カメラ
1003 撮像制御部
1010 発光装置
3 光源
4、9 出射部
5、5a、5b 受光部
91 拡散板
92 破損検出パターン
100 光源駆動装置
120 光源制御部
130 異常検出部
131 光量過剰検出部
132 光量不足検出部
133 不要光検出部
134 破損検出部
1000 カメラ
1003 撮像制御部
1010 発光装置
Claims (12)
- 光源の発光を制御する光源制御部と、
前記光源の光を外部に出射する出射部を介して前記光源からの光を受光する受光部と、
前記受光した光に基づいて前記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部と
を具備する光源駆動装置。 - 前記異常検出部は、前記光源制御部が前記光源を発光させる際に前記異常を検出する請求項1記載の光源駆動装置。
- 前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値を超える場合に前記異常を検出する請求項2記載の光源駆動装置。
- 前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値未満の場合に前記異常を検出する請求項2記載の光源駆動装置。
- 前記異常検出部は、前記光源制御部が前記光源の発光を停止させる際に前記異常を検出する請求項1記載の光源駆動装置。
- 前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値を超える場合に前記異常を検出する請求項5記載の光源駆動装置。
- 前記異常検出部は、前記異常を検出した際に前記光源制御部に前記発光を停止させる請求項1記載の光源駆動装置。
- 前記受光部は、前記出射部により反射された前記光源からの光を受光する請求項1記載の光源駆動装置。
- 前記受光部は、前記出射部を透過した前記光源からの光を受光する請求項1記載の光源駆動装置。
- 複数の前記受光部を具備し、
前記異常検出部は、前記複数の受光部が受光した光に基づいて前記異常を検出する
請求項1記載の光源駆動装置。 - 光源と、
前記光源の光を外部に出射する出射部と、
前記光源の発光を制御する光源制御部と、
前記出射部を介して前記光源からの光を受光する受光部と、
前記受光した光に基づいて前記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部と
を具備する発光装置。 - 前記出射部は、前記光源からの光を透過するとともに拡散光に変換する請求項11記載の発光装置。
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