JP2020042601A - 最適制御装置、最適制御方法及び最適制御プログラム - Google Patents
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Abstract
Description
そこで、本発明は、外部要因が存在する場合であっても被制御量を目標範囲内に維持することを目的とする。
その他の手段については、発明を実施するための形態のなかで説明する。
図1に沿って、塗布装置3の構成を説明する。塗布装置3の作業対象は、電子機械の部品として一般的に使用される基板41である。基板41の表面は、絶縁性のシール(例えば、UV硬化性又は熱硬化性のシール)42で被覆されている。塗布装置3は、シールディスペンサ43、距離調節機44、加圧機45、シール材タンク46及びレーザセンサ47を備える。シール材タンク46は、液相のシール材を貯蔵する。加圧機45は、シール材タンク46内の圧力x1を調節する。シールディスペンサ43は、基板41に向かってシール材を塗布する。距離調節機44は、シールディスペンサ43のノズル部分と基板41の下面との距離x2を調節する。レーザセンサ47は、基板41の表面に塗布されたシール42の厚さYを測定する。
基板41は、製品基板41a及びテスト基板41bの2種類に区分される。製品基板41aは、製品(商品)として出荷される基板である。テスト基板41bは、塗布装置3を試験するための基板である。塗布装置3が起動すると、塗布装置3は、数枚のテスト基板41bに対してシール材を塗布する。そして、特に異常がなければ、塗布装置3は、製品基板41aに対してシール材を塗布する。テスト基板41bの厚さHTは、製品基板41aの厚さHPと異なる場合がある。図1では、HP<HTである(詳細後記)。
図2に沿って、最適制御装置1の構成を説明する。最適制御装置1は、一般的なコンピュータであり、中央制御装置11、マウス、キーボード等の入力装置12、ディスプレイ等の出力装置13、主記憶装置14、補助記憶装置15及び通信装置16を備える。これらは、バスで相互に接続されている。補助記憶装置15は、操作量・被制御量情報31、操作量マトリクス32及び予測モデル33(いずれも詳細後記)を格納している。主記憶装置14におけるデータ取得部21、データ補正部22、モデル作成・補正部23、表情報操作部24及び出力処理部25は、プログラムである。中央制御装置11は、これらのプログラムを補助記憶装置15から読み出し主記憶装置14にロードすることによって、それぞれのプログラムの機能(詳細後記)を実現する。
図3に沿って、制御の具体例を説明する。図3(a)の横軸は、時間である。縦軸は、被制御量(例えばシールの厚さ)である。水平線“目標”は、被制御量の目標値を示している。水平線“規格上限”は、被制御量がその値を超えた場合、製品(基板)が不良品となることを示す値である。水平線“規格下限”は、被制御量がその値を下回った場合、製品が不良品となることを示す値である。
・時点t1において、シールの厚さYは目標に充分近かった。そこで、ユーザは、操作量(圧力x1及び距離x2)を変化させることなく、時点t2における塗布を行った。
・時点t2において、シールの厚さYは規格下限に近付いた。そこで、ユーザは、その後シールの厚さYを大きくするため、圧力x1を大きくし、距離x2を小さくして時点t3における塗布を行った。
・時点t4において、シールの厚さYは規格上限に近付いた。そこで、ユーザは、その後シールの厚さYを小さくするため、圧力x1を小さくし、距離x2を大きくして時点t5における塗布を行った。
・時点t5において、シールの厚さYは目標に充分近かった。そこで、ユーザは、圧力x1及び距離x2を変化させることなく、時点t6における塗布を行った。
・時点t6において、シールの厚さYは目標に充分近かった。
・時点t1において、シールの厚さYは目標と警戒下限との間にあった。そこで、ユーザは、圧力x1及び距離x2を変化させることなく、時点t2における塗布を行った。
・時点t2において、シールの厚さYは警戒下限を下回った。そこで、ユーザは、その後シールの厚さYを大きくするため、圧力x1を大きくし、距離x2を小さくして時点t3における塗布を行った。
・時点t4において、シールの厚さYは警戒上限を超えた。そこで、ユーザは、その後シールの厚さYを小さくするため、圧力x1を小さくし、距離x2を大きくして時点t5における塗布を行った。
・時点t5において、シールの厚さYは目標と警戒下限との間にあった。そこで、ユーザは、圧力x1及び距離x2を変化させることなく、時点t6における塗布を行った。
・時点t6において、シールの厚さYは目標と警戒上限との間にあった。
・時点t1において、シールの厚さYは目標と警戒下限との間にあった。そこで、ユーザは、圧力x1及び距離x2を変化させることなく、時点t2における塗布を行った。
・時点t2において、シールの厚さYは警戒下限と規格下限との間にあった。そこで、ユーザは、その後シールの厚さYを大きくするため、距離x2をそのまま維持し、圧力x1を大きくして時点t3における塗布を行った。ここで、ユーザは、圧力x1をそのまま維持し、距離x2を小さくしてもよい(以下同様)。
・時点t4において、シールの厚さYは警戒上限と規格上限との間にあった。そこで、ユーザは、その後シールの厚さYを小さくするため、距離x2をそのまま維持し、圧力x1を小さくして時点t5における塗布を行った。
・時点t6において、シールの厚さYは規格下限を下回った。そこで、ユーザは、その後シールの厚さYを大きくするため、圧力x1を大きくし、距離x2を小さくして時点t7における塗布を行った。
・時点t8において、シールの厚さYは規格上限を超えた。そこで、ユーザは、その後シールの厚さYを小さくするため、圧力x1を小さくし、距離x2を大きくして時点t9における塗布を行った。
・時点t9において、シールの厚さYは目標と警戒下限との間にあった。
図4に沿って、操作量・被制御量情報31を説明する。操作量・被制御量情報31においては、基板ID(Identifier)欄101に記憶された基板IDに関連付けて、区分欄102には区分が、時点欄103には時点が、操作量欄104には操作量が、被制御量欄105には被制御量が、被制御量に対する基準値欄106には被制御量に対する基準値が記憶されている。
区分欄102の区分は、“テスト”又は“製品”のいずれかである。“テスト”は、その基板がテスト基板であることを示し、“製品”は、その基板が製品基板であることを示す。
時点欄103の時点は、塗布装置3が基板41に対してシール材を塗布した時点である。ここでは、説明の都合上、最新の時点を“t”とし、その時点からn回遡及した時点を“t−n”としている。
被制御量欄105の被制御量(欄105a)は、前記したシールの厚さYである。補正値(欄105b)については、後記する。
被制御量に対する基準値欄106の被制御量に対する基準値は、前記した規格下限(欄106a)、警戒下限(欄106b)、目標(欄106c)、警戒上限(欄106d)及び規格上限(欄106e)である。
なお、図4の斜線部分及び太線部分については、後記する。
前記したように、テスト基板41bの厚さHTは、製品基板41aの厚さHPと異なる場合がある。いま、HP<HTであるとする。そして、塗布装置3は、製品基板41aに対してもテスト基板41bに対しても、同じ圧力x1及び同じ距離x2でシール材を塗布するものとする。すると、微妙な差ではあるが、テスト基板41bのシールの厚さYは、製品基板41aのシールの厚さYよりも大きくなることがわかっている。
・最適制御装置1は、最後のテスト基板P005のシールの厚さYt−3から、最初の製品基板P006のシールの厚さYt−2を減算し、減算の結果を“α”とする。
・最適制御装置1は、すべてのテスト基板P001〜P005のシールの厚さから、αを減算し、減算の結果を被制御量の補正値として欄105bに記憶する。
ここで挙げたシールの厚さの補正は、あくまでも一例である。最適制御装置1は、より一般的には、製造機械から取得した被制御量が時系列で比較可能でない場合、被制御量を時系列で比較可能な値に補正する。
図5に沿って、予測モデル33を説明する。まず、図5(a)に注目する。図5(a)の3次元座標空間の3本の軸は、圧力x1、距離x2及びシールの厚さyである。いま、最適制御装置1は、時点tにおける圧力及び距離を決定するために、直近の過去の4時点t−4、t−3、t−2及びt−1における“(x1,x2,Y)”の4つの組合せを使用して重回帰分析を行う。ここで“4つの組合せ”を使用したのは、あくまでも一例である。
図6に沿って、操作量マトリクス32の作成方法を説明する。まず、図6(a)に注目する。
・最適制御装置1は、任意の出発点“(x1s,x2s)”を決定する。出発点の決め方は任意であるが、補正後予測モデル34と、y軸に垂直な平面“y=YT”とが交わる直線(図示せず)上の任意の点★を出発点とすることが望ましい。ここで、YTは、シールの厚さの目標(図4の欄106c)である。
・最適制御装置1は、格子点“(x1s±np,x2s±nq)”を作成する。ここで、“n=・・・,−3,−2,−1,0,1,2,3,・・・”である。いま、説明を簡単にするために、“n=−2,−1,0,1,2”であるとすると、格子点は、5×5=25個作成されることになる。
・最適制御装置1は、求めたy軸の値から目標YTを減算し、Δy=y−YTを求める。このΔyは、補正後予測モデル34上の点●のy座標値から、平面“y=YT”上の点★のy座標値を減算した値である。
・最適制御装置1は、横軸が“x1s±np”であり、縦軸が“x2s±nq”であるマトリクスを作成し、縦軸と横軸との交点のセルにΔy軸の値を記憶する。このようにして作成されたマトリクスが操作量マトリクス32(図6(b))である。
図6(c)及び説明を後回しにしていた図5(c)に沿って、簡易予測モデル33b及び操作量表32bを説明する。図3(c)の説明において、例えばシールの厚さYが警戒下限と規格下限との間にある場合、距離x2をそのまま維持し、圧力x1を大きくして次の時点における塗布を行う例を説明した。簡易予測モデル33b(図5(c))及び操作量表32b(図6(c))は、このような場合に対応している。複数の操作量のうち、その変化が塗布装置3に対して与える負担が最小であるものが例えば“圧力”であることが経験的にわかっているとする。
以降で処理手順を説明する。処理手順は3つ存在する。第1の処理手順(図7)は、図3(a)に対応しており、最適制御装置1は、規格上限(下限)及び警戒上限(下限)を参照せず、予測モデル33及び操作量マトリクス32を使用する。第2の処理手順(図8)は、図3(b)に対応しており、最適制御装置1は、警戒上限(下限)のみを参照し、予測モデル33及び操作量マトリクス32を使用する。第3の処理手順(図9)は、図3(c)に対応しており、最適制御装置1は、規格上限(下限)及び警戒上限(下限)を参照し、予測モデル33及び操作量マトリクス32の組合せと、簡易予測モデル33b及び操作量表32bの組合せを使い分ける。
図7に沿って、第1の処理手順を説明する。第1の処理手順を開始する前提として、いま、補助記憶装置15は、操作量・被制御量情報31を、時点t−1までのレコードを記憶した状態で格納しているとする。
第2に、表情報操作部24は、操作量マトリクス32の交点のセルに記憶されている値のうちΔyに最も近似するものに対応するx1及びx2を取得する。前記したように、例外的に、操作量マトリクス32の複数のセルに同じΔyの値が現れた場合、最適制御装置1は、時点t−1における“(x1,t−1,x2,t−1)”とのユークリッド距離が最小となるセルを選択する。
第3に、表情報操作部24は、ステップS209の“第2”において取得したx1及びx2を、操作量・被制御量情報31の時点tのレコードの操作量欄104(図4の太線部分)に記憶する。
第2に、出力処理部25は、被制御量推移画面51に以下の情報を表示する。
・時間を横軸とし被制御量を縦軸とする座標平面において過去から現在における被制御量の実測値Yの時系列推移を示すグラフ(欄52)
・現在の被制御量の実測値(欄53a)
・目標から現在の被制御量の実測値を減算した差分(欄53b)
・次の最適な操作量(欄54a及び54b)
・横軸“操作量A”の目盛は、“0”を中心とした等間隔の正負の数となっている。ここでの目盛は、直近の過去の時点t−1における操作量Aを“0”とした場合の相対値(次の時点tの操作量Aから時点t−1における操作量Aを減算した値)を示している。縦軸“操作量B”の目盛についても同様である。もちろん、横軸及び縦軸の目盛は、それぞれの操作量の絶対的な値そのものであってもよい。しかしながら、正負の相対値としたほうが、ユーザは操作量の変化を直感的に理解しやすくなる。
・現在の被制御量の予測値から目標を減算した差分が、11行×7列=77個のセルに記憶されている。これらの値のうちには、他と同じものが存在しない。
・右下の標高が最も高く、左上の標高が最も低い。
・仮に等高線を描画するとすれば、それらは、左下から右上に走る。
図8に沿って、第2の処理手順を説明する。第2の処理手順が第1の処理手順に比して異なる点は、第2の処理手順においては、ステップS200及びステップS201bが追加されているという点である。第2の処理手順のステップS201及びS202〜S211の処理は、第1の処理手順における同じ番号のステップの処理と同じである。したがって、以降では、ステップS200及びS201bのみを説明する。
第2に、データ取得部21は、ユーザが入力装置12を介して、“直近のNの個数”欄72に、最適制御装置1が重回帰分析に用いるデータの時点の数を入力するのを受け付ける。
第4に、データ取得部21は、ユーザが入力装置12を介して、“被制御量の警戒上限”欄74a及び被制御量の警戒下限”欄74bに、被制御量の警戒上限及び警戒下限を入力するのを受け付ける。
第6に、データ取得部21は、ステップS200の“第3”及び“第4”において受け付けたデータを、操作量・被制御量情報31の欄106a、106b、106d及び106eに記憶する。
第2の処理手順を通じて、最適制御装置1は、被制御量が警戒水準を逸脱した場合にのみ、ユーザに対して新たな操作量の設定を促すことになる。
図9に沿って、第3の処理手順を説明する。第3の処理手順が第2の処理手順に比して異なる点は、第3の処理手順においては、ステップS204b、S205b、S206b、S207b、S208b、S209b及びS210bが追加されているという点である。第3の処理手順のステップS201、S202〜S204及びS205〜S211の処理は、第1の処理手順における同じ番号のステップの処理と同じである。第3の処理手順のステップS200及びS201bの処理は、第2の処理手順のステップS200及びS201bの処理と同じである。したがって、以降では、ステップS204b、S205b、S206b、S207b、S208b、S209b及びS210bのみを説明する。
第2に、表情報操作部24は、操作量表32bに記憶されている値のうちΔyに最も近似するものに対応するx1を取得する。
第3に、表情報操作部24は、ステップS209bの“第2”において取得したx1を、操作量・被制御量情報31(図4)の時点tのレコードの操作量欄104に記憶する。
前記では、操作量の次元数が“2”(圧力及び距離)であり、被制御量の次元数が“1”(シールの厚さ)である例を説明した。しかしながら、被制御量の次元数を“1”に固定したまま、操作量の次元数を、“3”以上に増やすことも可能である。このとき、予測モデル33の右辺の変数は、x1、x2、x3、・・・のように増加する。操作量マトリクス32は、“Δy”にベクトル“(x1,x2,x3,・・・)”を関連付けた表情報となる。
例えば、操作量の次元数が“3”である場合、被制御量がその目標から乖離する程度に応じて、警戒上限YIU及び警戒下限YILの組合せが2つ設定されてもよい。すなわち、これらの組合せは、より目標に近い“(YIU1,YIL1)”及びより目標から遠い“(YIU2,YIL2)”である。被制御量が“(YIU1,YIL1)”を逸脱した場合、モデル作成・補正部23は、操作量の次元数を“1”としたうえで、予測モデル33を作成及び補正し、表情報操作部24は、操作量の次元数を“1”としたうえで、操作量表32bを適用する。
本実施形態の最適制御装置の効果は以下の通りである。
(1)最適制御装置は、操作量以外の未知の外部要因の被制御量に対する影響を最小限に抑えることができる。
(2)最適制御装置は、被制御量が非連続である場合でも、精度の高い予測モデルを作成することができる。
(3)最適制御装置は、最新の被制御量及び操作量に基づき、精度の高い予測モデルを作成することができる。
(4)最適制御装置は、最新の被制御量に反映された外部要因に基づき、予測モデルを補正できる。
(5)最適制御装置は、変化させる操作量の次元を限定することによって、制御対象の機械に対する負担を軽減できる。
(6)最適制御装置が制御する製造装置は、前記(1)から(5)と同様の効果から、その結果として、各種製造に対する品質向上、歩留まり向上、コスト低減、生産性向上を実現することができる。
また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしもすべての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆どすべての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
2 ネットワーク
3 塗布装置
11 中央制御装置
12 入力装置
13 出力装置
14 主記憶装置
15 補助記憶装置
16 通信装置
21 データ取得部
22 データ補正部
23 モデル作成・補正部
24 表情報操作部
25 出力処理部
31 操作量・被制御量情報
32 操作量マトリクス
33 予測モデル
34 補正後予測モデル
41 基板
42 シール
43 シールディスペンサ
44 距離調節機
45 加圧機
46 シール材タンク
47 レーザセンサ(サーモセンサ)
Claims (7)
- 機械から取得した操作量及び被制御量を使用して、前記操作量と前記被制御量との関係を示す予測モデルを作成し、
前記被制御量の実測値と前記予測モデルが予測する前記被制御量の予測値との間の第1の差分に基づき、前記作成した予測モデルを補正するモデル作成・補正部と、
前記補正した予測モデルを使用して、前記被制御量の予測値と前記被制御量の目標との間の第2の差分、及び、前記操作量の関係を示す表情報を作成し、
前記作成した表情報に対して前記第2の差分を適用し、対応する前記操作量を決定する表情報操作部と、
前記決定した操作量を出力する出力処理部と、
を備えることを特徴とする最適制御装置。 - 前記機械から取得した被制御量が時系列で比較可能でない場合、前記被制御量を時系列で比較可能な値に補正するデータ補正部を備えること、
を特徴とする請求項1に記載の最適制御装置。 - 前記モデル作成・補正部は、
前記機械から取得した操作量及び被制御量のうち、直近の過去における任意の数の時点のものを使用して前記予測モデルを作成すること、
を特徴とする請求項2に記載の最適制御装置。 - 前記モデル作成・補正部は、
前記被制御量の直近の過去における実測値と、前記予測モデルが予測する前記被制御量の直近の過去における予測値との間の前記第1の差分に基づき、前記作成した予測モデルを補正すること、
を特徴とする請求項3に記載の最適制御装置。 - 前記操作量が複数存在する場合において、
前記モデル作成・補正部は、
前記被制御量の実測値が前記被制御量の目標から乖離する程度に基づき、前記予測モデルにおける前記操作量の次元数を増減させ、
前記表情報操作部は、
前記被制御量の実測値が前記被制御量の目標から乖離する程度に基づき、前記表情報における前記操作量の次元数を増減させること、
を特徴とする請求項4に記載の最適制御装置。 - 最適制御装置のモデル作成・補正部は、
機械から取得した操作量及び被制御量を使用して、前記操作量と前記被制御量との関係を示す予測モデルを作成し、
前記被制御量の実測値と前記予測モデルが予測する前記被制御量の予測値との間の第1の差分に基づき、前記作成した予測モデルを補正し、
前記最適制御装置の表情報操作部は、
前記補正した予測モデルを使用して、前記被制御量の予測値と前記被制御量の目標との間の第2の差分、及び、前記操作量の関係を示す表情報を作成し、
前記作成した表情報に対して前記第2の差分を適用し、対応する前記操作量を決定し、
前記最適制御装置の出力処理部は、
前記決定した操作量を出力すること、
を特徴とする最適制御装置の最適制御方法。 - 最適制御装置のモデル作成・補正部に対し、
機械から取得した操作量及び被制御量を使用して、前記操作量と前記被制御量との関係を示す予測モデルを作成し、
前記被制御量の実測値と前記予測モデルが予測する前記被制御量の予測値との間の第1の差分に基づき、前記作成した予測モデルを補正する処理を実行させ、
前記最適制御装置の表情報操作部に対し、
前記補正した予測モデルを使用して、前記被制御量の予測値と前記被制御量の目標との間の第2の差分、及び、前記操作量の関係を示す表情報を作成し、
前記作成した表情報に対して前記第2の差分を適用し、対応する前記操作量を決定する処理を実行させ、
前記最適制御装置の出力処理部に対し、
前記決定した操作量を出力する処理を実行させること、
を特徴とする最適制御装置を機能させるための最適制御プログラム。
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