JP2020034392A - エンコーダ、処理装置、処理方法 - Google Patents

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寛之 松本
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Abstract

【課題】AD変換回路等の分解能に依らず、内挿処理の分解能を向上させることが可能なエンコーダ等を提供する。【解決手段】本発明の一実施形態に係るエンコーダ100は、測定対象の回転に応じて、所定の位相差を有する第1の周期信号及び第2の周期信号を出力する信号処理回路170と、第1の周期信号を第1のデータ長を有するデジタル信号に変換するAD変換回路174と、第2の周期信号を第2のデータ長を有するデジタル信号に変換するAD変換回路176と、AD変換回路174,176によりデジタル信号に変換された第1の周期信号及び前記第2の周期信号の値の間の除算値に基づき、第1の周期信号及び第2の周期信号の周期を内挿した内挿値を演算する下位処理回路178と、備え、下位処理回路178は、第1のデータ長及び第2のデータ長よりも長い第3のデータ長を有する上述の除算値に基づき、内挿値を演算する。【選択図】図2

Description

本発明はエンコーダ等に関する。
従来、測定対象の回転に伴い出力される、90度の位相差を有する二つの周期信号(疑似正弦波)を用いて、二つの周期信号の周期を内挿した内挿値を演算し、電気的により細分化された回転位置を測定可能なエンコーダが知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開2005−24281号公報
しかしながら、二つの周期信号がAD(Analog-to-Digital)変換回路等によりデジタル信号に変換された上で、内挿処理が実行される。よって、二つの周期信号の周期の細分化のレベル、つまり、内挿処理の分解能がAD変換回路等の分解能により制限されてしまう可能性がある。
そこで、上記課題に鑑み、AD変換回路等の分解能に依らず、内挿処理の分解能を向上させることが可能なエンコーダ等を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明の一実施形態では、
測定対象の回転に応じて、所定の位相差を有する第1の周期信号及び第2の周期信号を出力する信号出力部と、
前記第1の周期信号を第1のデータ長を有するデジタル信号に変換する第1の変換部と、
前記第2の周期信号を第2のデータ長を有するデジタル信号に変換する第2の変換部と、
前記第1の変換部及び前記第2の変換部によりデジタル信号に変換された前記第1の周期信号及び前記第2の周期信号の値の間の除算値に基づき、前記第1の周期信号及び前記第2の周期信号の周期を内挿した内挿値を演算する内挿部と、備え、
前記内挿部は、前記第1のデータ長及び前記第2のデータ長よりも長い第3のデータ長を有する前記除算値に基づき、前記内挿値を演算する、
エンコーダが提供される。
また、本発明の他の実施形態では、
測定対象の回転に応じて、所定の位相差を有する第1の周期信号及び第2の周期信号を出力する信号出力部と、前記第1の周期信号を第1のデータ長を有するデジタル信号に変換する第1の変換部と、前記第2の周期信号を第2のデータ長を有するデジタル信号に変換する第2の変換部と、を備えるエンコーダに関する処理装置であって、
前記第1の変換部及び前記第2の変換部によりデジタル信号に変換された前記第1の周期信号及び前記第2の周期信号の値の間の除算値に基づき、前記第1の周期信号及び前記第2の周期信号の周期を内挿した内挿値を演算する内挿部を有し、
前記内挿部は、前記第1のデータ長及び前記第2のデータ長よりも長い第3のデータ長を有する前記除算値に基づき、前記内挿値を演算する、
処理装置が提供される。
また、本発明の更に他の実施形態では、
測定対象の回転に応じて、所定の位相差を有する第1の周期信号及び第2の周期信号を出力する信号出力部と、前記第1の周期信号を第1のデータ長を有するデジタル信号に変換する第1の変換部と、前記第2の周期信号を第2のデータ長を有するデジタル信号に変換する第2の変換部と、を備えるエンコーダに関する処理装置が実行する処理方法であって、
前記第1の変換部及び前記第2の変換部によりデジタル信号に変換された前記第1の周期信号及び前記第2の周期信号の値の間の除算値に基づき、前記第1の周期信号及び前記第2の周期信号の周期を内挿した内挿値を演算する内挿ステップを含み、
前記内挿ステップでは、前記第1のデータ長及び前記第2のデータ長よりも長い第3のデータ長を有する前記除算値に基づき、前記内挿値を演算する、
処理方法が提供される。
上述の実施形態によれば、AD変換回路等の分解能に依らず、内挿処理の分解能を向上させることが可能なエンコーダ等を提供することができる。
一実施形態に係るエンコーダの一例を示す図である。 一実施形態に係るエンコーダの測定処理に関する構成の一例を示すブロック図である。
以下、図面を参照して発明を実施するための形態について説明する。
[エンコーダの構成及び構造]
まず、図1、図2を参照して、本実施形態に係るエンコーダ100の構成及び構造等について説明する。
図1は、本実施形態に係るエンコーダ100の一例を示す図である。具体的には、図1(A)は、本実施形態に係るエンコーダ100の一例を示す平面図であり、図1(B)は、本実施形態に係るエンコーダ100の一例を示す側面断面図(図1(A)のA−A断面図)である。図2は、本実施形態に係るエンコーダ100の測定処理に関する構成の一例を示すブロック図である。以下、エンコーダ100の構造について、図中の三次元直交座標系(XYZ座標系)を適宜用いて説明を行い、便宜的に、Z軸の正方向(以下、「Z軸正方向」)を"上"、Z軸の負方向(以下、「Z軸負方向」)を"下"と称する場合がある。また、X軸の正方向及び負方向、Y軸の正方向及び負方向、並びに、Z軸の正方向及び負方向のそれぞれを、総括的に、"X軸方向"、"Y軸方向"、及び、"Z軸方向"と称する場合がある。
尚、図1(A)において、基板140、及び、基板140に搭載される光学モジュール150等は、ハブ110及びスケール板120等がZ軸正方向、つまり、上から露出して見えるように一点鎖線で表されている。また、図1において、エンコーダ100の構成要素を収容する筐体(ケース)は、省略されている。
本実施形態に係るエンコーダ100は、ハブ110と、スケール板120と、基板140を含む。また、エンコーダ100は、測定処理に関する構成として、光学モジュール150と、信号処理回路170と、上位処理回路172と、AD変換回路(Analog-to-Digital Converter:ADC)174,176と、下位処理回路178と、信号処理回路180と、インターフェース190を含み、これらは、基板140に実装されている。
ハブ110は、エンコーダ100による一回転中の回転位置(回転角度)等の測定対象(例えば、回転式のサーボモータ等)の回転軸200の一端に取り付けられる。
例えば、ハブ110は、回転軸200に沿う方向(Z軸方向)から見て、つまり、平面視で、回転軸200の外径よりも大きな外径を有する略円柱形状を有する。ハブ110のZ軸負方向側の端面(つまり、下側の端面)の軸心位置付近の領域には、ハブ110と同軸で、且つ、回転軸200の外径と略同じ(実際上は、回転軸200の外径よりも若干大きい)内径を有する窪み部が設けられる。当該窪み部には、ハブ110の軸心と回転軸200の軸心200AXとが一致する態様で、回転軸200が嵌挿される。また、ハブ110の軸心位置には、両端面の間を貫通するねじ孔が設けられ、ハブ110のZ軸正方向側の端面(つまり、上側の端面)から下側の端面の窪み部に嵌挿された回転軸200に対して、雄ねじ115が螺合されることで、ハブ110は、回転軸200に取り付けられる。これにより、ハブ110は、測定対象の回転軸200の回転に伴い、一体として回転する。
雄ねじ115は、平面状の頭頂部を有する。雄ねじ115は、例えば、平ねじであってよい。これにより、雄ねじ115の頭頂部と、ハブ110の上側の端面(平面)とを同一平面に揃える、つまり、面一の状態にすることができる。
スケール板120は、例えば、嫌気性の接着材等を用いて、ハブ110の回転軸200が取り付けられる側の端面とは反対側の端面、つまり、上側の端面に取り付けられる。スケール板120は、例えば、ガラス製である。また、スケール板120は、金属製、ポリカーボネート製、PET(Polyethylene Terephthalate:ポリエチレンテレフタレート)フィルム製等であってもよい。具体的には、スケール板120は、円板形状を有し、平面視で、その中心が回転軸200の軸心200AXに一致するように配置される。また、スケール板120のZ軸正方向側の面(つまり、上面)には、その外周(外縁)付近における異なる半径位置の全周に亘って、インクリメンタルパターン122及びアブソリュートパターン123が設けられる。
インクリメンタルパターン122は、スケール板120の回転位置に応じて、光学モジュール150からの照射光を、任意の角度位置からの回転角度(つまり、相対角度)を表す所定のパターンで反射する。インクリメンタルパターン122は、例えば、全周に亘って、周方向に等間隔で2個(Nは、2以上の整数。例えば、N=9)配置される照射光を反射する反射部と、それぞれの反射部の間に配置される非反射部(或いは、反射部よりも反射率が低い低反射率部)によって構成される。これにより、インクリメンタルパターン122は、回転軸200の1回転(360度)を2個(N=9の場合、512個)に等分割した角度間隔刻みの相対角度を表現できる。また、受光素子154は、インクリメンタルパターン122の反射部及び非反射部(或いは低反射率部)の繰り返しに対応する受光パターンを検出することにより、周期信号(例えば、正弦波信号)を出力できる。インクリメンタルパターン122の反射部、及び、非反射部或いは低反射率部は、例えば、既知のフォトエッチング加工により形成される。以下、アブソリュートパターン123の反射部、及び、非反射部或いは低反射率部についても同様である。
アブソリュートパターン123は、スケール板120の回転位置に応じて、光学モジュール150からの照射光を、回転角度の絶対位置を表す所定のパターンで反射する。アブソリュートパターン123は、例えば、スケール板120の角度位置に応じて、NビットのM系列コードを表す複数の反射部が周方向に配置される。これにより、M系列コードは、回転軸200の1回転(360度)を2個に等分割した角度間隔刻みの絶対角度を表現できる。このとき、アブソリュートパターン123の周方向における反射部同士の間には、非反射部或いは低反射率部が配置される。
基板140は、例えば、円板形状を有し、ハブ110(スケール板120等)からZ軸正方向、つまり、上方向に所定の距離だけ離れた位置において、回転軸200の軸心200AXと垂直に、即ち、スケール板120と平行に配置される。また、基板140は、円板形状の軸心が回転軸200の軸心200AXと一致するように配置される。具体的には、基板140は、図示しないエンコーダ100の構成要素を収容するケースに固定される。つまり、基板140は、回転軸200と共に回転しないため、基板140に実装される各種センサ(例えば、光学モジュール150等)は、回転軸200と共に回転するスケール板120の回転状態を観測できる。基板140は、例えば、FR−4(Flame Retardant type 4)規格の配線基板である。基板140には、上述の如く、測定処理に関する構成、つまり、光学モジュール150、信号処理回路170、上位処理回路172、ADC174,176、下位処理回路178、信号処理回路180、及びインターフェース190等の電子部品が実装される。また、基板140には、その他、基板140に実装される電子部品を駆動する電源IC等の電気部品が実装される。
光学モジュール150は、基板140のZ軸負方向側の面、つまり、下面において、スケール板120のインクリメンタルパターン122及びアブソリュートパターン123に対応する、回転軸200の軸心200AXを中心とする半径位置に設けられる。光学モジュール150は、発光素子152と、受光素子154,156を含む。
発光素子152は、スケール板120に向けて光を照射する。発光素子は、例えば、ランバート型のLED(Light Emitting Diode)である。
受光素子154は、インクリメンタルパターン122の反射部で反射された反射光を受光する。受光素子154は、例えば、フォトダイオード(Photo Diode:PD)を周方向に複数並べたPDアレイである。受光素子154は、インクリメンタルパターン122の反射部及び非反射部の繰り返しに対応する二つの正弦波信号を電流信号(光電流)として出力する。このとき、受光素子154は、1回転中に2周期分に相当する二つの正弦波信号を出力する。二つの正弦波信号は、同一周期で、且つ、90度の位相差を有する。受光素子154から出力される二つの正弦波信号は、信号処理回路170に入力される。
受光素子156は、アブソリュートパターン123の反射部で反射された反射光を受光する。受光素子156は、受光素子154と同様、例えば、フォトダイオードを周方向に複数並べたPDアレイである。受光素子156は、アブソリュートパターン123の反射部及び非反射部の配列、つまり、M系列コードに対応する電流信号(光電流)を出力する。受光素子156から出力される電流信号は、信号処理回路180に入力される。
信号処理回路170(信号出力部の一例)は、測定対象の回転に応じて、90度の位相差(所定の位相差の一例)を有する二つの正弦波信号(第1の周期信号及び第2の周期信号の一例)をアナログ電圧信号として出力する。例えば、信号処理回路170は、受光素子154から入力される電流信号(正弦波信号)を電圧信号に変換する電流電圧変換回路や、電圧信号に変換された正弦波信号を増幅する増幅回路等を含む。信号処理回路170から出力される、電圧信号としての二つの正弦波信号は、上位処理回路172に入力される。また、信号処理回路170から出力される、電圧信号としての二つの正弦波信号は、それぞれ、ADC174,176に入力される。
尚、信号処理回路170は、周期的に繰り返されるパターン情報としてのインクリメンタルパターン122の周期に対応する周期信号として、正弦波信号以外の電圧信号を出力してもよい。また、信号処理回路170から出力される二つの周期信号の位相差は、後述の如く、二つの周期信号の値の除算値に基づき、内挿値が演算可能であれば、90度以外であってもよい。
上位処理回路172は、受光素子154から入力される二つの正弦波信号を2値化、つまり、矩形パルス信号への変換を行うと共に、矩形パルスをカウントすることにより、相対角度の上位データを生成し、出力する。
ADC174(第1の変換部の一例)は、受光素子154から出力される二つの正弦波信号のうちの第1の正弦波信号(以下、便宜的に「sinθ信号」)をデジタル信号に変換する。ADC174は、例えば、L1ビット(L1は、2以上の整数。例えば、L1=14)の分解能を有し、L1ビットのデータ長(第1のデータ長の一例)を有するデジタル信号に変換し、出力する。ADC174によりデジタル信号に変換されたsinθ信号は、下位処理回路178に入力される。
ADC176(第2の変換部の一例)は、受光素子154から出力される二つの正弦波信号のうちの第2の正弦波信号(以下、便宜的に「cosθ信号」)をデジタル信号に変換する。ADC176は、例えば、L2ビット(L2は、2以上の整数。例えば、L2=14)の分解能を有し、L2ビットのデータ長(第2のデータ長の一例)を有するデジタル信号に変換し、出力する。ADC176によりデジタル信号に変換されたcosθ信号は、下位処理回路178に入力される。
尚、ADC174,176の分解能、つまり、L1,L2は、同じであってもよいし、異なっていてもよい。
下位処理回路178(内挿部、処理装置の一例)は、ADC174,176によりデジタル信号に変換されたsinθ信号及びcosθ信号に基づき、sinθ信号及びcosθ信号の周期を内挿した位相角θの内挿値を演算する。つまり、下位処理回路178は、sinθ信号及びcosθ信号の周期に相当するインクリメンタルパターン122の反射部及び非反射部(或いは低反射率部)の繰り返しの周期を、更に細分化した位相角θの内挿値を演算する。具体的には、下位処理回路178は、ADC174,176によりデジタル信号に変換されたsinθ信号及びcosθ信号の間の除算値、例えば、sinθ信号の値をcosθ信号の値で除した除算値、つまり、正接関数の値から逆正接関数の値としての位相角θの内挿値を演算し、相対角度の下位データを出力する。下位処理回路178による内挿処理の詳細は、後述する。
信号処理回路180は、受光素子156から入力される、アブソリュートパターン123のM系列コードに対応する電流信号(光電流)に基づき、M系列コードのデータを生成し、出力する。
インターフェース190は、外部装置(例えば、エンコーダ100による回転位置等の測定対象であるサーボモータを制御するサーボアンプ等)に上位処理回路172、下位処理回路178、及び信号処理回路180の処理結果を出力する。インターフェース190は、例えば、雌型のコネクタ端子であり、外部装置から延設されるケーブルの先端に接続される雄型のコネクタ端子と接続されることにより、外部装置に処理結果(測定結果)を出力する。これにより、例えば、サーボアンプ等は、エンコーダ100の測定結果に基づき、制御対象の一回転中の回転位置(絶対位置)を把握し、サーボモータを制御することができる。
[内挿処理]
次に、下位処理回路178の内挿処理の詳細について説明する。
まず、下位処理回路178は、例えば、所定の正規化処理(例えば、DC(Direct Current:直流)を減算する処理等)を施したsinθ信号の値をcosθ信号の値で除した除算値、つまり、正接関数(tanθ)の値を演算する。このとき、下位処理回路178は、sinθ信号及びcosθ信号の値のデータ長、つまり、L1ビット及びL2ビットのデータ長(具体的には、L1ビット及びL2ビットのデータ長のうちの長い方)よりも長いL3ビット(例えば、L3=17)のデータ長(第3のデータ長の一例)の除算値を演算する。sinθ信号及びcosθ信号の値が相対的に短いデータ長であっても、除算演算では、sinθ信号及びcosθ信号の値を超えるデータ長の演算結果が得られるからである。
続いて、下位処理回路178は、sinθ信号及びcosθ信号の周期をL3ビットのデータ長に対応する所定数、つまり、2L3個に等分割し、設定された位相角の候補値(内挿候補値の一例)の中から、演算結果の除算値に対応する内挿値(位相角θ)を選択する。
例えば、2L3個の内挿値(つまり、逆正接関数の値である位相値)と除算値(つまり、正接関数の値)との対応関係を示すテーブルデータが予め準備(規定)されており、下位処理回路178は、当該テーブルデータを参照して、演算された除算値に対応する内挿値を選択する。当該処理は、例えば、マルチプレクサ等を含む既知のテーブル参照回路(ハードウェアルックアップテーブル)等により実現されうる。また、当該処理は、上述のテーブルデータが記憶される不揮発性の内部メモリを含むマイクロコンピュータにより実現されてもよい。
このように、下位処理回路178は、相対的に低い分解能のADC174,176を用いて、インクリメンタルパターン122の一周期を相対的に高い分解能で細分化した内挿値を演算し、相対的に高い分解能の内挿処理を実現させることができる。、つまり、下位処理回路178は、AD変換回路等の分解能に依らず、内挿処理の分解能を向上させることができる。
尚、下位処理回路178は、内挿処理において、cosθ信号の値をsinθ信号の値を除した除算値を用いてもよいし、sinθ信号及びcosθ信号の値の大小や正負の関係等に応じて、除数及び被除数を切り替えてもよい。この場合、除数及び被除数の変更に合せて、適宜、準備されるテーブルデータの内容が変更されればよい。
[変形・変更]
以上、本発明を実施するための形態について詳述したが、本発明はかかる特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
例えば、上述した実施形態において、エンコーダ100は、アブソリュート形であったが、インクリメンタル形であってもよい。この場合、スケール板120のアブソリュートパターン123、光学モジュール150のアブソリュートパターン123に対応する受光素子156、アブソリュートパターン123に対応するM系列コードを生成する信号処理回路170等は、省略される。
また、上述した実施形態及び変形例において、エンコーダ100は、反射型であったが、透過型であってもよい。この場合、スケール板120のインクリメンタルパターン122やアブソリュートパターン123は、反射部、及び、非反射部或いは低反射率部の代わりに、照射光を透過する透過部、及び、照射光を透過しない非透過部により構成される。また、スケール板120に光を照射する発光素子は、光学モジュール150とは別に、スケール板120から見て、光学モジュール150(受光素子)とは反対側、つまり、スケール板120からZ軸負方向(つまり、下方)に所定距離だけ離れた位置に設けられる。
また、上述した実施形態及び変形例において、上位処理回路172、下位処理回路178、及び信号処理回路180の機能は、エンコーダ100の外部、つまり、インターフェース190によってエンコーダ100と接続可能な外部装置(内挿部、処理装置の一例)に移管されてもよい。
また、上述した実施形態及び変形例の内挿処理方法は、エンコーダ100以外の内挿処理に適用されてもよい。
100 エンコーダ
110 ハブ
120 スケール板
140 基板
150 光学モジュール
152 発光素子
154,156 受光素子
170 信号処理回路(信号出力部)
172 上位処理回路
174,176 AD変換回路(第1の変換部、第2の変換部)
178 下位処理回路(内挿部、処理装置)
180 信号処理回路
190 インターフェース
200 回転軸
200AX 軸心

Claims (4)

  1. 測定対象の回転に応じて、所定の位相差を有する第1の周期信号及び第2の周期信号を出力する信号出力部と、
    前記第1の周期信号を第1のデータ長を有するデジタル信号に変換する第1の変換部と、
    前記第2の周期信号を第2のデータ長を有するデジタル信号に変換する第2の変換部と、
    前記第1の変換部及び前記第2の変換部によりデジタル信号に変換された前記第1の周期信号及び前記第2の周期信号の値の間の除算値に基づき、前記第1の周期信号及び前記第2の周期信号の周期を内挿した内挿値を演算する内挿部と、備え、
    前記内挿部は、前記第1のデータ長及び前記第2のデータ長よりも長い第3のデータ長を有する前記除算値に基づき、前記内挿値を演算する、
    エンコーダ。
  2. 前記内挿部は、前記第1の周期信号及び前記第2の周期信号の周期を前記第3のデータ長に対応する所定数に分割し、設定された内挿候補値の中から、前記除算値に対応する前記内挿値を選択する、
    請求項1に記載のエンコーダ。
  3. 測定対象の回転に応じて、所定の位相差を有する第1の周期信号及び第2の周期信号を出力する信号出力部と、前記第1の周期信号を第1のデータ長を有するデジタル信号に変換する第1の変換部と、前記第2の周期信号を第2のデータ長を有するデジタル信号に変換する第2の変換部と、を備えるエンコーダに関する処理装置であって、
    前記第1の変換部及び前記第2の変換部によりデジタル信号に変換された前記第1の周期信号及び前記第2の周期信号の値の間の除算値に基づき、前記第1の周期信号及び前記第2の周期信号の周期を内挿した内挿値を演算する内挿部を有し、
    前記内挿部は、前記第1のデータ長及び前記第2のデータ長よりも長い第3のデータ長を有する前記除算値に基づき、前記内挿値を演算する、
    処理装置。
  4. 測定対象の回転に応じて、所定の位相差を有する第1の周期信号及び第2の周期信号を出力する信号出力部と、前記第1の周期信号を第1のデータ長を有するデジタル信号に変換する第1の変換部と、前記第2の周期信号を第2のデータ長を有するデジタル信号に変換する第2の変換部と、を備えるエンコーダに関する処理装置が実行する処理方法であって、
    前記第1の変換部及び前記第2の変換部によりデジタル信号に変換された前記第1の周期信号及び前記第2の周期信号の値の間の除算値に基づき、前記第1の周期信号及び前記第2の周期信号の周期を内挿した内挿値を演算する内挿ステップを含み、
    前記内挿ステップでは、前記第1のデータ長及び前記第2のデータ長よりも長い第3のデータ長を有する前記除算値に基づき、前記内挿値を演算する、
    処理方法。
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