JP2020030103A - 回転検出システム - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 168
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims abstract description 159
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 claims abstract description 38
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 claims description 20
- 230000008859 change Effects 0.000 description 27
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 24
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 24
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 23
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 11
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 5
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 230000005290 antiferromagnetic effect Effects 0.000 description 3
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 229910000521 B alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910003321 CoFe Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910019236 CoFeB Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001313 Cobalt-iron alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000914 Mn alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- ZDZZPLGHBXACDA-UHFFFAOYSA-N [B].[Fe].[Co] Chemical compound [B].[Fe].[Co] ZDZZPLGHBXACDA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002885 antiferromagnetic material Substances 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SHMWNGFNWYELHA-UHFFFAOYSA-N iridium manganese Chemical compound [Mn].[Ir] SHMWNGFNWYELHA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IGOJMROYPFZEOR-UHFFFAOYSA-N manganese platinum Chemical compound [Mn].[Pt] IGOJMROYPFZEOR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 1
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical group [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005610 quantum mechanics Effects 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
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- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
Description
1.第1の実施の形態
1つの磁石により磁場を形成し、1つの回転ヨークの回転角度を検出する回転検出システムの例。
2.第2の実施の形態
2つの磁石により磁場を形成し、1つの回転ヨークの回転角度を検出する回転検出システムの例。
3.第3の実施の形態
1つの磁石により磁場を形成し、同期回転する2つの回転ヨークの回転角度を検出する回転検出システムの例。
4.第4の実施の形態
2つの磁石により磁場を形成し、同期回転する2つの回転ヨークの回転角度を検出する回転検出システムの例。
5.変形例
[回転検出システムの構成]
最初に、図1から図3を参照して、本発明における第1の実施の形態としての回転検出システムの構成について説明する。図1は、その回転検出システムの全体構成例の概略を表すブロック図である。また、図2は、回転検出システムの主要な構成要素を表す斜視図である。なお、図2では、後述する回転ヨーク11および磁石6のみを記載している。
図1および図2に示したように、回転モジュール1は、例えばシャフト10と、そのシャフト10の周囲を取り囲むように設けられた円環状の回転ヨーク11とを有する。回転ヨーク11は、例えばパーマロイなどの軟質強磁性体を含んでおり、回転ヨーク11の開口11Kに挿通されるシャフト10に対し直接もしくは間接的に取り付けられている。回転ヨーク11は、検出モジュール2に対し、シャフト10と一体となって回転軸1Jを中心として回転方向Bθへ回転可能に設けられている。回転ヨーク11の周縁部には、回転方向Bθに沿って凸部1Tと凹部1Uとが交互に所定の間隔で周期的に複数ずつ配置されている。回転モジュール1の回転動作により、検出モジュール2におけるセンサ部3(後出)に対して最も近い位置に凸部1Tが存在する状態と、センサ部3に対して最も近い位置に凹部1Uが存在する状態とが交互に繰り返されることとなる。したがって、回転モジュール1は、自らの回転動作により、センサ部3に対して付与される磁石6からの磁場の磁力線6L(後出)の周期的な変化をもたらすことができる。なお、凸部1Tは、回転軸1Jから距離r1にある外縁OL1を含んでいる。凹部1Uは、回転軸1Jから距離r2にある外縁OL2を含んでいる。また、回転ヨーク11における凸部1Tの総数または凹部1Uの総数を、回転ヨーク11の歯数という。
回転ヨーク11は、本発明の「第1の軟質強磁性回転体」に対応する一具体例である。また、凸部1Tは本発明の「第1の凸部」に対応する一具体例であり、凹部1Uは本発明の「第1の凹部」に対応する一具体例である。さらに、磁石6は、本発明の「第1の磁石」に対応する一具体例である。
検出モジュール2は、センサ部3と、演算回路4と、磁石6とを備えている。検出モジュール2のうち、センサ部3および演算回路4は、例えば図3に示したように同一の基板7に設けられているが、これに限定されるものではなく、異なる複数の基板に設けられていてもよい。なお、図3は、図1に示した検出モジュール2の一部構成の概略を模式的に表す斜視図である。
図1に示したように、センサ部3は、磁気センサ31と磁気センサ32とを有している。磁気センサ31は、回転ヨーク11の回転に伴う磁場の磁力線6Lの変化を検知して第1の信号S1を演算回路4へ出力するようになっている。同様に、磁気センサ32は、回転ヨーク11の回転に伴う磁場の磁力線6Lの変化を検知して第2の信号S2を演算回路4へ出力するようになっている。但し、図3に示したように、磁気センサ31は検知軸J31を有し、磁気センサ32は検知軸J31と実質的に直交する検知軸J32を有するので、第1の信号S1の位相と第2の信号S2の位相とは互いに異なっている。例えば回転ヨーク11の回転角度θに対し、第1の信号S1がsinθに従う抵抗値の変化を表すものであるとき、第2の信号S2はcosθに従う抵抗値の変化を表すものである。
演算回路4は、図1に示したように、例えばローパスフィルタ(LPF:low-pass filter)42A,42Bと、A/D変換部43A,43Bと、フィルタ44A,44Bと、波形整形部45と、角度演算部46とを有している。
磁石6は、センサ部3を挟んで回転ヨーク11と反対側に位置する。磁石6は、回転ヨーク11およびセンサ部3に向けて磁力線6Lを含む磁場を付与するものである。センサ部3は、磁気センサ31および磁気センサ32により、磁力線6Lの方向の変化を検出する。磁石6がセンサ部3に付与する磁場は、図4に示したように、センサ部3を通過する位置において回転軸1Jに沿った方向の磁力線6Lを有する。磁力線6Lの方向は、回転ヨーク11の回転により周期的に変動する。回転ヨーク11が磁石6およびセンサ部3に対して静止した状態において、センサ部3を通過する磁力線6Lの方向は、回転軸1Jに沿った方向である。回転軸1Jに沿った方向とは、回転軸1Jに対して完全平行、すなわち0°の方向に限定されず、例えば回転軸1Jに対して±30°以下の角度をなす方向を意味する。したがって、変動する磁力線6Lの方向の振幅の中心は、例えば回転軸1Jと完全一致となる0°が望ましいが、その0°を中心として例えば±30°以下の角度で傾いていてもよい。また、変動する磁力線6Lの方向の振幅は、例えば±5°程度であるとよい。ここで、回転ヨーク11の凹部1Uが磁石6に最接近している状態では、磁力線6Lの方向は、センサ部3を通過する位置において、回転軸方向Bzと実質的に一致している。なお、磁石6の着磁方向J6は、例えば回転軸方向Bzと実質的に一致しているとよい。
本実施の形態の回転検出システムでは、回転ヨーク11の回転角度を、センサ部3、演算回路4および磁石6を含む検出モジュール2によって検出することができる。
このように本実施の形態の回転検出システムによれば、回転ヨーク11が、センサ部3に対し回転軸1Jを中心として回転可能であり、回転軸1Jから距離r1にある外縁OL1と、回転軸1Jから距離r2にある外縁OL2とを含んでいる。このため、回転ヨーク11の回転に伴う、磁石6の磁力線6LのベクトルVのわずかな変動を、センサ部3により検出することができる。ここで、磁力線6Lがセンサ部3を通過する位置における磁力線6LのベクトルVは、回転軸1Jに沿った方向である。このため、回転ヨーク11とセンサ部3と磁石6との相対位置の精度が及ぼす、センサ部3からの出力信号の波形への影響を抑制できる。その結果、本実施の形態の回転検出システムによれば、回転検出システムを小型化した場合であっても、回転ヨーク11の回転検出を正確に行うことができる。
次に、図8Aおよび図8Bを参照して、本発明における第2の実施の形態としての回転検出システムの構成について説明する。上記第1の実施の形態の回転検出システムは、1つの回転ヨーク11および1つのセンサ部3に対し、1つの磁石6を備えるようにした。これに対し、第2の実施の形態の回転検出システムは、図8Aおよび図8Bに示したように、1つの回転ヨーク11および1つのセンサ部3に対し、2つの磁石6A,6Bを備えている。第2の実施の形態の回転検出システムはこの点を除き、他は第1の実施の形態の回転検出システムと実質的に同じ構成を有する。なお、図8Aは、回転軸方向Bzから眺めた第2の実施の形態の回転検出システムを表す側面図である。図8Bは、第2の実施の形態の回転検出システムの主たる構成要素を表す斜視図である。
次に、図9Aから図9Cを参照して、本発明における第3の実施の形態としての回転検出システムの構成について説明する。図9Aは、第3の実施の形態としての回転検出システムの一部構成例を表す概略斜視図である。図9Bは、図9Aに示した回転検出システムの一部構成を模式的に表す正面図である。さらに図9Cは、図9Aに示した回転検出システムの一部構成を模式的に表す側面図である。上記第1の実施の形態の回転検出システムは、1つのセンサ部3および1つの磁石6に対し、1つの回転ヨーク11を配置した回転モジュール1を備えている。これに対し、第3の実施の形態の回転検出システムは、図9Aおよび図9Bに示したように、1つのセンサ部3および1つの磁石6に対し、2つの回転ヨーク11A,11Bを配置した回転モジュール1Aを備えている。第3の実施の形態の回転検出システムはこの点を除き、他は第1の実施の形態の回転検出システムと実質的に同じ構成を有する。なお、回転ヨーク11Aおよび回転ヨーク11Bは、それぞれ、本発明の「第1の軟質強磁性回転体」および「第2の軟質強磁性回転体」に対応する一具体例である。
次に、図10を参照して、本発明における第4の実施の形態としての回転検出システムの構成について説明する。図10は、第4の実施の形態としての回転検出システムの一部構成例を表す概略斜視図である。この第4の実施の形態の回転検出システムは、図10に示したように、1つのセンサ部3に対し、2つの磁石6A,6Bと、2つの回転ヨーク11A,11Bとを備えている。すなわち、第4の実施の形態の回転検出システムは、上記第2の実施の形態の回転検出システムと上記第3の実施の形態の回転検出システムとを組み合わせた構成を有する。
以上、いくつかの実施の形態を挙げて本発明を説明したが、本発明はそれらの実施の形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、上記第2の実施の形態では、2つの磁石6A,6Bを回転ヨーク11の回転方向Bθに沿って並べるようにしたが、本発明はこれに限定されない。
本発明では、例えば図11Aに示した第1の変形例としての回転検出システムのように、磁石6Aと磁石6Bとが、回転軸方向Bzにおいて離間して隣り合うように配置されていてもよい。第1の変形例においても、磁石6Aが発生する磁力線6ALおよび磁石6Bが発生する磁力線6BLは、センサ部3を通過する位置において回転軸1Jに沿った方向である。また、センサ部3は、回転軸方向Bzにおいて磁石6Aと磁石6Bとの間に配置されているとよい。このように、2つの磁石6Aおよび磁石6Bを回転軸方向Bzに並べることにより、磁力線6AL,6BLのうち回転軸方向Bzに延びる部分は、1つの磁石6のみを配置した場合の磁力線6Lのうち回転軸方向Bzに延びる部分よりも長くすることができる。よって、回転軸方向Bzにおけるセンサ部3と回転ヨーク11との相対位置ずれに伴う回転検出精度への影響がより低減される。なお、図11Aは、本発明の第1の変形例としての回転検出システムの要部を拡大して表す正面図である。
本発明では、例えば図11Bに示した第2の変形例としての回転検出システムのように、磁石6Aと磁石6Bとが回転軸方向Bzにおいて回転ヨーク11を挟んで対向するように配置されていてもよい。第2の変形例においても、磁石6Aが発生する磁力線6ALおよび磁石6Bが発生する磁力線6BLは、センサ部3を通過する位置において回転軸1Jに沿った方向である。また、センサ部3は、回転軸方向Bzにおいて磁石6Aと磁石6Bとの間に配置されているとよい。径方向Brにおけるスペースが十分に確保できない場合に第2の変形例は第1の変形例よりも有利である。なお、図11Bは、本発明の第2の変形例としての回転検出システムの要部を拡大して表す正面図である。
上記いくつかの実施の形態等では、磁石の着磁方向が回転軸方向Bzに沿うようにしたが、本発明はこれに限定されるものではない。本発明では、例えば図11Cに示した第3の変形例としての回転検出システムのように、磁石6Aの着磁方向J6Aおよび磁石6Bの着磁方向J6Bを、回転軸方向Bzと直交する径方向Brに設定してもよい。但し、この第3の変形例においても、磁石6Aが発生する磁力線6AL,6BLは、センサ部3を通過する位置において回転軸1Jに沿った方向である。また、センサ部3は、回転軸方向Bzにおいて磁石6Aと磁石6Bとの間に配置されているとよい。なお、図11Cは、本発明の第3の変形例としての回転検出システムの要部を拡大して表す正面図である。
また、本発明では、例えば図12Aおよび図12Bに示した第4の変形例としての回転検出システムのように、磁石6にヨーク8A,8Bを設けるようにしてもよい。この第4の変形例では、磁石6の着磁方向J6に沿って磁石6を挟むように一対のヨーク8A,8Bを配置している。このようなヨーク8A,8Bの存在により、磁力線6Lの方向をコントロールできるうえ、センサ部3に対し、磁力線6Lに沿った磁束密度をより高めることができる。特に、ヨーク8A,8Bは、それぞれ磁石6からセンサ部3へ向かうように湾曲したベント8AT,8BTを含んでいる。このため、センサ部3を通過する磁力線6Lに沿った磁束密度をよりいっそう高めることができる。そのため、本変形例では、より高い検出感度が期待できる。なお、図12Aおよび図12Bは、それぞれ、本発明の第4の変形例としての回転検出システムの要部を拡大して表す斜視図および正面図である。ただし、図12Aでは、センサ部3の図示を省略している。
また、上記実施の形態等では、回転ヨーク11における、その回転面内(Br−Bθ面内)の平面形状を、複数の凸部1Tと複数の凹部1Uとが交互配置されてなる花びら状としたが、本発明はこれに限定されない。例えば、図13に示した回転モジュール1Bのように、凸部1ATを1つのみ有するカム形状の回転ヨーク51Aおよび凸部1BTを1つのみ有するカム形状の回転ヨーク51Bを備えていてもよい。凸部1ATにおける外縁OL3Aは、他の部分における外縁OL4Aよりも径方向Brにおいて突出している。同様に、凸部1BTにおける外縁OL3Bは、他の部分における外縁OL4Bよりも径方向Brにおいて突出している。また、回転方向Bθにおいて、凸部1ATの位置と凸部1BTの位置とは互いに異なっている。このようなカム形状の回転ヨーク51A,51Bを備えることにより、回転ヨーク51A,51Bが1回転することによって0°〜360°の角度情報が得られるので、シャフト10の回転角の絶対値が判別できる。ところが、図2などに示した花びら形状の回転ヨーク11の場合、凸部1Tおよび凹部1Uがそれぞれ複数含まれている。このため、回転ヨーク11が1回転することによって0°〜360°の角度情報が複数回得られることとなり、シャフト10の回転角の絶対値が困難となる。
Claims (16)
- 磁気検出部と、
前記磁気検出部に対し回転軸を中心として回転可能であり、前記回転軸から第1の距離にある第1の外縁と、自らの回転方向において前記第1の外縁と異なる位置であって前記回転軸から第2の距離にある第2の外縁とを含む第1の軟質強磁性回転体と、
前記磁気検出部に対し、前記第1の軟質強磁性回転体が静止した状態において前記磁気検出部を通過する第1の磁力線の方向が前記回転軸に沿った方向である第1の磁場を付与する、第1の磁石と
を備えた
回転検出システム。 - 前記第1の軟質強磁性回転体の前記回転軸を中心とした回転に伴い、前記第1の磁力線の方向が周期的に変動し、
前記磁気検出部は、周期的に変動する前記第1の磁力線の方向を検出する
請求項1記載の回転検出システム。 - 前記第1の磁石の着磁方向は、前記回転軸に沿った方向と実質的に一致している
請求項1または請求項2に記載の回転検出システム。 - 前記磁気検出部は、前記第1の軟質強磁性回転体と前記第1の磁石との間に配置されている
請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の回転検出システム。 - 前記磁気検出部に対し、前記磁気検出部を通過する第2の磁力線の方向が前記回転軸に沿った方向である第2の磁場を付与する第2の磁石をさらに備えた
請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の回転検出システム。 - 前記磁気検出部は、前記第1の軟質強磁性回転体と前記第1の磁石との間、または前記第1の軟質強磁性回転体と前記第2の磁石との間に配置されている
請求項5記載の回転検出システム。 - 前記第1の磁石と前記第2の磁石とは、前記回転軸に沿った方向において隣り合っている
請求項5または請求項6に記載の回転検出システム。 - 前記磁気検出部は、前記回転軸に沿った方向において前記第1の磁石と前記第2の磁石との間に配置されている
請求項7記載の回転検出システム。 - 前記第1の磁石と前記第2の磁石とは、前記第1の軟質強磁性回転体の回転方向において隣り合っている
請求項5または請求項6に記載の回転検出システム。 - 前記磁気検出部は、前記第1の軟質強磁性回転体の回転方向において前記第1の磁石と前記第2の磁石との間に配置されている
請求項9記載の回転検出システム。 - 前記第1の軟質強磁性回転体は、前記第1の外縁を含む第1の凸部と前記第2の外縁を含む第1の凹部とを、前記第1の軟質強磁性回転体の回転方向に沿って交互に複数ずつ有する
請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の回転検出システム。 - 前記回転軸を中心として前記第1の軟質強磁性回転体と同期して回転可能であり、前記回転軸から第3の距離にある第3の外縁と、前記回転軸から第4の距離にある第4の外縁とを含み、前記回転軸に沿った方向において前記第1の軟質強磁性回転体と隣り合う第2の軟質強磁性回転体をさらに備えた
請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の回転検出システム。 - 前記磁気検出部は、前記回転軸に沿った方向において、前記第1の軟質強磁性回転体と前記第2の軟質強磁性回転体との間に配置されている
請求項12記載の回転検出システム。 - 前記第1の軟質強磁性回転体は、前記第1の外縁を含む第1の凸部と前記第2の外縁を含む第1の凹部とを、前記第1の軟質強磁性回転体の回転方向に沿って交互に複数ずつ有し、
前記第2の軟質強磁性回転体は、前記第3の外縁を含む第2の凸部と前記第4の外縁を含む第2の凹部とを、前記第2の軟質強磁性回転体の回転方向に沿って交互に複数ずつ有する
請求項12または請求項13に記載の回転検出システム。 - 前記回転方向において、前記第1の軟質強磁性回転体における前記第1の凸部と前記第1の凹部との配置ピッチと、前記第2の軟質強磁性回転体における前記第2の凸部と前記第2の凹部との配置ピッチとは実質的に一致しており、
前記回転軸に沿った方向において、前記第1の凸部の延長上に前記第2の凹部が位置すると共に前記第2の凸部の延長上に前記第1の凹部が位置する
請求項14記載の回転検出システム。 - 前記磁気検出部は、第1の検知軸を有する第1の磁気検出素子と、前記第1の検知軸と交差する第2の検知軸を有する第2の磁気検出素子とを含む
請求項1から請求項15のいずれか1項に記載の回転検出システム。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018155642A JP6848943B2 (ja) | 2018-08-22 | 2018-08-22 | 回転検出システム |
DE102019122360.1A DE102019122360B4 (de) | 2018-08-22 | 2019-08-20 | Positionserfassungssystem |
CN201910772410.0A CN110857847B (zh) | 2018-08-22 | 2019-08-21 | 位置检测系统 |
US16/546,455 US11099033B2 (en) | 2018-08-22 | 2019-08-21 | Position detection system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018155642A JP6848943B2 (ja) | 2018-08-22 | 2018-08-22 | 回転検出システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020030103A true JP2020030103A (ja) | 2020-02-27 |
JP6848943B2 JP6848943B2 (ja) | 2021-03-24 |
Family
ID=69622280
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018155642A Active JP6848943B2 (ja) | 2018-08-22 | 2018-08-22 | 回転検出システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6848943B2 (ja) |
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