JP2020022796A - 眼科装置 - Google Patents

Abstract

【課題】被検眼の眼内距離を高精度に測定することが可能な眼科装置を提供する。【解決手段】干渉光学系８０は、第１光源からの光を参照光と測定光とに分割し、測定光を被検眼に照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出する。第１合焦レンズ８５は、測定光の光路に沿って移動可能である。第２合焦レンズ８９は、測定光の光路に対して挿脱可能である。合焦制御部は、第２合焦レンズ８９が光路から退避されている状態で取得された干渉光の第１検出データに含まれる網膜又は角膜後面に相当する干渉信号、又は第２合焦レンズ８９が光路に挿入されている状態で取得された干渉光の第２検出データに含まれる水晶体前面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように第１合焦レンズ８５の移動制御を行う。眼内距離算出部は、第１検出データに基づいて眼軸長又は角膜厚を求め、第２検出データに基づいて前房深度を求める。【選択図】図１

Description

この発明は、眼科装置に関する。

白内障は、レンズの役目を担う水晶体が混濁することにより徐々に視力が低下していく眼疾患である。白内障が進行した被検眼に対しては、一般的に、白内障手術が行われる。例えば、白内障手術では、混濁した水晶体を取り除き、代わりに眼内レンズ（Ｉｎｔｒａｏｃｕｌａｒ Ｌｅｎｓ：以下、ＩＯＬ）が挿入される。ＩＯＬには、球面度のみを有するものや、乱視の矯正が可能なトーリックＩＯＬや、遠方と近方の双方に焦点を合わせることが可能な多焦点ＩＯＬなどがある。白内障手術の前には、被検眼の構造を表す眼球情報（眼軸長等）の測定が行われ、得られた眼球情報からＩＯＬの度数が決定される。

特開２０１２−１６１４２５号公報

ＩＯＬ度数の決定には、眼軸長や前房深度等の複数の眼内距離が必要である。しかしながら、広い測定レンジでこれら複数の眼内距離を測定した場合、測定精度が低下し、求められたＩＯＬ度数の誤差が大きくなるという問題がある。

本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、被検眼の眼内距離を高精度に測定することが可能な眼科装置を提供することにある。

実施形態に係る眼科装置は、干渉光学系と、第１合焦レンズと、第２合焦レンズと、合焦制御部と、眼内距離算出部とを含む。干渉光学系は、第１光源からの光を参照光と測定光とに分割し、測定光を被検眼に照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出する。第１合焦レンズは、測定光の光路に沿って移動可能である。第２合焦レンズは、測定光の光路に対して挿脱可能である。合焦制御部は、第２合焦レンズが光路から退避されている状態で干渉光学系により取得された干渉光の第１検出データに含まれる被検眼の網膜又は角膜後面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように第１合焦レンズの移動制御を行うと共に、第２合焦レンズが光路に挿入されている状態で干渉光学系により取得された干渉光の第２検出データに含まれる被検眼の水晶体前面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように第１合焦レンズの移動制御を行う。眼内距離算出部は、第１検出データに含まれる被検眼の角膜頂点に相当する干渉信号の位置と第１検出データに含まれる網膜又は角膜後面に相当する干渉信号の位置とに基づいて眼軸長又は角膜厚を求め、第２検出データに含まれる角膜頂点に相当する干渉信号の位置と第２検出データに含まれる水晶体前面に相当する干渉信号の位置と基づいて前房深度を求める。

実施形態によれば、被検眼の眼内距離を高精度に測定することが可能な眼科装置を提供することができる。

実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。

この発明に係る眼科装置の実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。

実施形態に係る眼科装置は、他覚測定と自覚検査とを実行可能である。他覚測定は、被検者からの応答を参照することなく、主に物理的な手法を用いて被検眼に関する情報を取得する測定手法である。

他覚測定には、被検眼の特性を取得するための測定と、被検眼の画像を取得するための撮影とが含まれる。他覚測定には、他覚屈折測定、角膜形状測定、眼圧測定、眼底撮影、光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：以下、ＯＣＴ）等がある。

一方、自覚検査は、被検者からの応答を利用して情報を取得する測定手法である。自覚検査には、遠用検査、近用検査、コントラスト検査、グレア検査等の自覚屈折測定や、視野検査などがある。

実施形態に係る眼科装置は、任意の自覚検査及び任意の他覚測定の少なくとも一方を実行可能である。光干渉計測を実行可能である場合、光干渉計測は、眼軸長、角膜厚、前房深度、水晶体厚など、被検眼の構造を表す眼球情報を取得するために用いられる。また、被検眼の画像や解析データを取得するために光干渉計測を利用することもできる。

＜構成＞
図１及び図２に、実施形態に係る眼科装置の構成例を示す。眼科装置１０００は、被検眼Ｅの検査を行うための光学系として、Ｚアライメント系１、ＸＹアライメント系２、ケラト測定系３、視標投影系４、観察系５、レフ測定投影系６、レフ測定受光系７、及び眼内距離測定系８を含む。また、眼科装置１０００は処理部９を含む。

（処理部９）
処理部９は、眼科装置１０００の各部を制御する。また、処理部９は、各種演算処理を実行可能である。処理部９はプロセッサを含む。プロセッサの機能は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ））等の回路により実現される。処理部９は、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。

（観察系５）
観察系５は、被検眼Ｅの前眼部を動画撮影する。被検眼Ｅの前眼部からの光（赤外光）は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２及び５３を透過し、絞り５４の開口を通過する。絞り５４の開口を通過した光は、ハーフミラー５５を透過し、リレーレンズ５６及び５７を通過し、結像レンズ５８により撮像素子５９（エリアセンサ）の撮像面に結像される。撮像素子５９は、所定のレートで撮像及び信号出力を行う。撮像素子５９の出力（映像信号）は処理部９に入力される。処理部９は、この映像信号に基づく前眼部像Ｅ’を表示部１０の表示画面１０ａに表示させる。前眼部像Ｅ’は、例えば赤外動画像である。観察系５は、前眼部を照明するための照明光源を含んでいてもよい。

（Ｚアライメント系１）
Ｚアライメント系１は、観察系５の光軸方向（前後方向、Ｚ方向）におけるアライメントを行うための光（赤外光）を被検眼Ｅに照射する。Ｚアライメント光源１１から出力された光は、被検眼Ｅの角膜Ｋに照射され、角膜Ｋにより反射され、結像レンズ１２によりラインセンサ１３に結像される。角膜頂点の位置が前後方向に変化すると、ラインセンサ１３に対する光の投影位置が変化する。処理部９は、ラインセンサ１３に対する光の投影位置に基づいて被検眼Ｅの角膜頂点の位置を求め、これに基づきＺアライメントを実行する。

（ＸＹアライメント系２）
ＸＹアライメント系２は、観察系５の光軸に直交する方向（左右方向（Ｘ方向）、上下方向（Ｙ方向））のアライメントを行うための光（赤外光）を被検眼Ｅに照射する。ＸＹアライメント系２は、ハーフミラー５５により観察系５から分岐された光路に設けられたＸＹアライメント光源２１を含む。ＸＹアライメント光源２１から出力された光は、ハーフミラー５５により反射され、観察系５を通じて被検眼Ｅに照射される。その角膜Ｋによる反射光は、観察系５を通じて撮像素子５９に導かれる。

この反射光の像（輝点像）は前眼部像Ｅ’に含まれる。処理部９は、図１に示すように、輝点像Ｂｒを含む前眼部像Ｅ’とアライメントマークＡＬとを表示画面１０ａに表示させる。手動でＸＹアライメントを行う場合、ユーザは、アライメントマークＡＬ内に輝点像Ｂｒを誘導するように光学系の移動操作を行う。自動でアライメントを行う場合、処理部９は、アライメントマークＡＬに対する輝点像Ｂｒの変位がキャンセルされるように、光学系を移動させるための機構を制御する。

（ケラト測定系３）
ケラト測定系３は、角膜Ｋの形状を測定するためのリング状光束（赤外光）を角膜Ｋに投影する。ケラト板３１は、対物レンズ５１と被検眼Ｅとの間に配置されている。ケラト板３１の背面側（対物レンズ５１側）にはケラトリング光源３２が設けられている。ケラトリング光源３２からの光でケラト板３１を照明することにより、角膜Ｋにリング状光束が投影される。その反射光（ケラトリング像）は撮像素子５９により前眼部像とともに検出される。処理部９は、このケラトリング像を基に公知の演算を行うことで角膜形状パラメータを算出する。

（視標投影系４）
視標投影系４は、固視標や自覚検査用視標等の各種視標を被検眼Ｅに呈示する。光源４１から出力された光（可視光）は視標チャート４２に照射される。視標チャート４２は、例えば透過型の液晶パネルを含み、視標を表すパターンを表示する。視標チャート４２を透過した光は、合焦レンズ４３及びＶＣＣレンズ４４を通過し、反射ミラー４５により反射され、ダイクロイックミラー５３により反射され、ダイクロイックミラー５２を透過し、対物レンズ５１を通過して眼底Ｅｆに投影される。光源４１及び視標チャート４２は、一体となって光軸方向に移動可能である。

自覚検査を行う場合、処理部９は、他覚測定の結果に基づき視標チャート４２、光源４１及びＶＣＣレンズ４４を制御する。処理部９は、検者又は処理部９により選択された視標を視標チャート４２に表示させる。それにより、当該視標が被検者に呈示される。被検者は視標に対する応答を行う。応答内容の入力を受けて、処理部９は、更なる制御や、自覚検査値の算出を行う。例えば、視力測定において、処理部９は、ランドルト環等に対する応答に基づいて、次の視標を選択して呈示し、これを繰り返し行うことで視力値を決定する。

（レフ測定投影系６及びレフ測定受光系７）
レフ測定投影系６及びレフ測定受光系７は他覚屈折測定（レフ測定）に用いられる。レフ測定投影系６は、他覚測定用のリング状光束（赤外光）を眼底Ｅｆに投影する。レフ測定受光系７は、このリング状光束の被検眼Ｅからの戻り光を受光する。

レフ測定光源６１は光軸方向に移動可能であり、眼底Ｅｆと光学的に共役な位置に配置される。レフ測定光源６１から出力された光は、コンデンサレンズ６２を通過し、反射ミラー６３により反射され、円錐プリズム６４Ａ及びリレーレンズ６４Ｂを透過し、リング絞り６４Ｃのリング状透光部を通過してリング状光束となる。リング絞り６４Ｃにより形成されたリング状光束は、穴開きプリズム６５の反射面により反射され、ロータリープリズム６６を通過し、クイックリターンミラー６７に導かれる。

ロータリープリズム６６は、眼底Ｅｆの血管や疾患部位に対するリング状光束の光量分布を平均化させるために用いられる。また、クイックリターンミラー６７は、他覚屈折測定と眼軸長測定との切り換えに用いられる。他覚屈折測定を行う場合、クイックリターンミラー６７の反射面は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路（分岐光路）に配置される。それにより、レフ測定投影系６の光路及びレフ測定受光系７の光路の双方が観察系５の光路に結合される。一方、眼軸長測定を行う場合、クイックリターンミラー６７は、この分岐光路から退避される。それにより、眼内距離測定系８の光路が観察系５の光路に結合される。

他覚屈折測定では、ロータリープリズム６６を通過したリング状光束は、クイックリターンミラー６７により反射され、ダイクロイックミラー５２に反射され、対物レンズ５１を通過して眼底Ｅｆに投影される。

眼底Ｅｆに投影されたリング状光束の戻り光は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２及びクイックリターンミラー６７により反射される。クイックリターンミラー６７により反射された戻り光は、ロータリープリズム６６を通過し、穴開きプリズム６５の穴部を通過し、リレーレンズ７１及び合焦レンズ７２を透過し、結像レンズ７３により撮像素子７４の撮像面に結像される。撮像素子７４の出力は処理部９に入力される。処理部９は、撮像素子７４からの出力を基に公知の演算を行うことで被検眼Ｅの球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを算出する。

処理部９は、算出された屈折値に基づいて、レフ測定光源６１と眼底Ｅｆが共役となる位置に、レフ測定光源６１と合焦レンズ７２とをそれぞれ光軸方向に移動させる。更に、処理部９は、合焦レンズ７２及びレフ測定光源６１の移動に連動して眼内距離測定系８の合焦レンズ８５をその光軸方向に移動させる。処理部９は、レフ測定光源６１、合焦レンズ７２及び合焦レンズ８５、光源４１及び視標チャート４２を一体的に移動させることも可能である。

（眼内距離測定系８）
眼内距離測定系８は眼球情報としての眼内距離測定のための光干渉計測を行う。光干渉計測が行われるとき、クイックリターンミラー６７が上記分岐光路から退避される。また、光干渉計測よりも前にレフ測定が実施され、光ファイバ８０ａの端面が眼底Ｅｆと共役となるように合焦レンズ８５の位置が調整される。

図２に示すように、干渉計ユニット８０において、干渉計光源８１から出力された光（赤外光、広帯域光）Ｌ０は、光ファイバ８０ｂを通じて導かれたファイバカプラ８２により測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。測定光ＬＳは、光ファイバ８０ａを通じてコリメータレンズ８４に導かれる。一方、参照光ＬＲは、光ファイバ８０ｃを通じて参照光路長変更ユニット９０に導かれる。

参照光路長変更ユニット９０は、参照光ＬＲの光路長を変更する。参照光路長変更ユニット９０に導かれた参照光ＬＲは、コリメータレンズ９１により平行光束とされてビームスプリッタ９２に入射する。ビームスプリッタ９２の透過方向には網膜・前房深度用シャッター９３と網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４とが設けられ、反射方向には角膜用シャッター９５と角膜用参照ミラーユニット９６とが設けられている。網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４は、結像レンズ９４Ａと網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂとを含む。角膜用参照ミラーユニット９６は、結像レンズ９６Ａと角膜用参照ミラー９６Ｂとを含む。

参照光ＬＲは、５０：５０のビームスプリッタ９２により２つの光束（網膜・前房深度用、角膜用）に分割される。網膜・前房深度用シャッター９３は、ビームスプリッタ９２と網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂとの間の網膜・前房深度用光束の光路（網膜・前房深度用参照光路）に対して挿脱可能である。角膜用シャッター９５は、ビームスプリッタ９２と角膜用参照ミラー９６Ｂとの間の角膜用光束の光路（角膜用参照光路）に対して挿脱可能である。網膜・前房深度用シャッター９３が光路から退避されている場合、網膜・前房深度用光束は、結像レンズ９４Ａにより網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂの反射面に結像され、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂにより反射され、結像レンズ９４Ａを通過してビームスプリッタ９２に戻る。角膜用シャッター９５が光路から退避されている場合、角膜用光束は結像レンズ９６Ａにより角膜用参照ミラー９６Ｂの反射面に結像され、角膜用参照ミラー９６Ｂにより反射され、結像レンズ９６Ａを通過してビームスプリッタ９２に戻る。

一方、干渉計ユニット８０から出力された測定光ＬＳは、コリメータレンズ８４により平行光束とされる。平行光束とされた測定光ＬＳの光路に対して、水晶体レンズ８９が挿脱される。当該光路に水晶体レンズ８９が挿入されている場合、平行光束とされた測定光ＬＳは、光スキャナ８７ｂにより偏向され、合焦レンズ８５、リレーレンズ８６及び水晶体レンズ８９を通過し、ミラー８７ａにより偏向される。当該光路から水晶体レンズ８９が退避されている場合、平行光束とされた測定光ＬＳは、光スキャナ８７ｂにより偏向され、合焦レンズ８５及びリレーレンズ８６を通過し、ミラー８７ａにより偏向される。ミラー８７ａにより偏向された測定光ＬＳは、瞳レンズ８８を通過し、ダイクロイックミラー５２により反射され、対物レンズ５１を通過して被検眼Ｅに照射される。被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光は、対物レンズ５１を通過し、往路と同じ経路を通じて干渉計ユニット８０に導かれる。光スキャナ８７ｂは、例えば１以上のガルバノミラーを含み、処理部９による制御を受けて測定光ＬＳの偏向方向を変化させる。光スキャナ８７ｂは、瞳孔と光学的に共役な位置に配置される。

ファイバカプラ８２は、参照光路長変更ユニット９０を経由した参照光と、測定光ＬＳの戻り光とを干渉させる。それにより生成された干渉光ＬＣは、光ファイバ８０ｄにより分光器８３に導かれる。分光器８３は、干渉光ＬＣを空間的に波長分離し、これら波長成分をラインセンサで検出する。処理部９は、分光器８３から出力された信号にＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）等の公知の信号処理を施すことにより、深さ方向の情報を取り出す。

本例ではスペクトラルドメインＯＣＴが適用されているが、他のタイプのＯＣＴを適用することも可能である。例えばスウェプトソースＯＣＴが適用される場合、低コヒーレンス光源（干渉計光源８１）の代わりに波長掃引光源（波長可変光源）が設けられ、且つ、分光器８３の代わりにバランスドフォトダイオード等の光検出器が設けられる。

処理部９は、深さ方向の所定位置に干渉信号が配置されるように、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４と角膜用参照ミラーユニット９６とを移動させることが可能である。ＦＦＴにより得られる干渉信号の強度の深さ方向における変化の例を図３に示す。点線で示す干渉信号ＳＣ０が得られた状態において、図４に示すように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４をビームスプリッタ９２に近接させることにより、図３に示す所定範囲内に干渉信号ＳＣ０（網膜に相当）を移動させることができる。つまり、結像レンズ９４Ａ及び網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂを点線で示す位置から実線で示す位置に移動させることにより、所望の範囲内に干渉信号ＳＣ０を移動させることができる。

Ｚアライメント系１を用いて検出される角膜頂点の位置を利用することで、被検眼Ｅに対する対物レンズ５１の距離（作動距離）を一定に保つことができる。ここで、角膜用シャッター９５が光路から退避されると、角膜Ｋに相当する干渉信号も分光器８３により同時に検出される。角膜用参照ミラー９６Ｂは、網膜に相当する干渉信号ＳＣ１に重ならないように、角膜Ｋから所定距離ｄだけ離れた位置に配置される（図５）。これにより、図６に示すように、網膜に相当する干渉信号ＳＣ１と角膜に相当する干渉信号ＳＣ２の双方を、深さ方向における計測範囲Ｒにおいて同時に取得できる。

図６に示すように計測範囲Ｒにおいて信号感度ＳＣが変化する場合、比較的信号が弱い干渉信号ＳＣ１を比較的高感度の計測範囲Ｒ１で検出し、比較的信号が強い干渉信号ＳＣ２を比較的低感度の計測範囲Ｒ２で検出することができる。それにより、双方の干渉信号の検出精度が向上される。

この実施形態では、被検眼Ｅの眼内距離を測定するとき、処理部９は、角膜用参照ミラーユニット９６を固定した状態で網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させる。それにより、基準部位としての角膜頂点を基準に被検眼Ｅの各種の眼内距離を測定することが可能になる。図５に示すように、眼軸長を測定する場合、網膜に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させて角膜頂点と眼底（網膜）との距離Ｄ１を求める。前房深度を測定する場合、水晶体前面に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させて角膜頂点と水晶体前面との距離Ｄ２を求める。水晶体厚を測定する場合、水晶体後面に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させて角膜頂点と水晶体後面との距離（Ｄ２＋Ｄ３）を求め、距離（Ｄ２＋Ｄ３）から前述の距離Ｄ２を差し引いて距離Ｄ３を求める。角膜厚を測定する場合、角膜後面に相当する干渉信号を検出して角膜頂点と角膜後面との距離を求める。

（情報処理系の構成）
眼科装置１０００の情報処理系について説明する。眼科装置１０００の情報処理系の機能的構成の例を図７〜図９に示す。図７は、眼科装置１０００の情報処理系の機能ブロック図の一例を表したものである。図８は、図７の合焦制御部１１１Ａを中心とした機能ブロック図の一例を表したものである。図９は、図７の演算処理部１２０の機能ブロック図の一例を表したものである。処理部９は、制御部１１０と演算処理部１２０とを含む。また、眼科装置１０００は、表示部１７０と、操作部１８０と、通信部１９０とを含む。

（制御部１１０）
制御部１１０は、プロセッサを含み、眼科装置１０００の各部を制御する。制御部１１０は、主制御部１１１と、記憶部１１２とを含む。主制御部１１１は、合焦制御部１１１Ａを含む。

図８に示すように、合焦制御部１１１Ａは、移動機構４１Ｂを駆動する駆動部４１Ａに対して制御信号を出力することにより移動機構４１Ｂによる光源４１及び視標チャート４２の移動を制御する。合焦制御部１１１Ａは、移動機構７２Ｂを駆動する駆動部７２Ａに対して制御信号を出力することにより移動機構７２Ｂによる合焦レンズ７２の移動を制御する。合焦制御部１１１Ａは、移動機構６１Ｂを駆動する駆動部６１Ａに対して制御信号を出力することにより移動機構６１Ｂによるレフ測定光源６１の移動を制御する。合焦制御部１１１Ａは、移動機構８５Ｂを駆動する駆動部８５Ａに対して制御信号を出力することにより移動機構８５Ｂによる合焦レンズ８５の移動を制御する。

また、合焦制御部１１１Ａは、挿脱機構８９Ｂを駆動する駆動部８９Ａに対して制御信号を出力することにより挿脱機構８９Ｂによる水晶体レンズ８９の挿脱を制御する。水晶体レンズ８９は、測定対象に対応して設けられた「合焦調整範囲変更手段」の一例である。「合焦調整範囲変更手段」は、測定対象に対して高精度な合焦を行うために測定対象近傍に合焦レンズによる合焦調整範囲を移動させる。具体的には、合焦レンズ８５の移動だけでは移動量が足りず、眼内距離測定系８の焦点を水晶体前面や水晶体後面に合わせることができない。そこで、水晶体前面や水晶体後面等の水晶体に関する眼内距離を測定する場合に、合焦制御部１１１Ａは、測定光ＬＳの光路に水晶体レンズ８９を挿入させる。それにより、合焦レンズ８５の合焦調整範囲を水晶体近傍に移動させることができ、水晶体前面や水晶体後面に合焦させた状態で水晶体に関する眼内距離を高精度に測定することが可能になる。

合焦レンズ７２、レフ測定光源６１、光源４１及び視標チャート４２は、共通の移動機構（例えば移動機構７２Ｂ）により移動されてもよい。この場合、合焦制御部１１１Ａは、当該共通の移動機構を駆動する駆動部（例えば駆動部７２Ａ）に対して制御信号を出力することにより当該共通の移動機構による合焦レンズ７２及びレフ測定光源６１の一体的な移動を制御する。同様に、合焦レンズ８５は、合焦レンズ７２及びレフ測定光源６１と一体となって移動されてもよい。

（演算処理部１２０）
演算処理部１２０は、例えば、眼屈折力の算出、眼内距離（眼軸長、前房深度、水晶体厚、角膜厚等）の算出、ＩＯＬ度数の算出、光干渉計測画像（ＯＣＴ画像）の生成、光干渉計測画像の解析など、各種の演算を実行する。演算処理部１２０は、眼屈折力算出部１２１と、眼内距離算出部１２２と、ＩＯＬ度数算出部１２３とを含む。眼内距離算出部１２２は、眼軸長算出部１２２Ａと、前房深度算出部１２２Ｂと、水晶体厚算出部１２２Ｃと、角膜厚算出部１２２Ｄとを含む。

眼屈折力の算出において、眼屈折力算出部１２１は、レフ測定受光系７からの出力（リング像）の形状を解析する。例えば、眼屈折力算出部１２１は、得られた画像における輝度分布からリング像の重心位置を求め、この重心位置から放射状に延びる複数の走査方向に沿った輝度分布を求め、この輝度分布からリング像を特定する。続いて、眼屈折力算出部１２１は、特定されたリング像の近似楕円を求め、この近似楕円の長径及び短径を公知の式に代入することによって球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを求める。或いは、眼屈折力算出部１２１は、基準パターンに対するリング像の変形及び変位に基づいて眼屈折力のパラメータを求めることができる。

眼屈折力算出部１２１は、眼内距離測定系８を用いた光干渉計測結果から、少なくとも球面度数を求めることができる。例えば、眼屈折力算出部１２１は、合焦レンズ８５の移動により干渉光ＬＣの検出信号がピークになる合焦レンズ８５の位置を特定し、０Ｄに相当する合焦レンズの位置と、特定されたピークになる合焦レンズ８５の位置とに基づいて等価球面度数を求める。

眼屈折力算出部１２１は、観察系５により取得されたケラトリング像に基づいて、角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。例えば、眼屈折力算出部１２１は、ケラトリング像を解析することにより角膜前面の強主経線や弱主経線の角膜曲率半径を算出し、角膜曲率半径に基づいて上記パラメータを算出する。

眼内距離算出部１２２は、眼内距離測定系８により取得された２つの干渉光の検出データに基づいて被検眼Ｅの１以上の眼内距離を算出する。眼内距離算出部１２２は、検出データに含まれる当該２つの干渉光に基づく２つの干渉信号（例えば図６参照）の位置の間隔に基づいて被検眼Ｅの眼内距離を算出する。眼内距離算出部１２２は、水晶体レンズ８９の挿脱を行いつつ被検眼Ｅの複数の眼内距離を算出することが可能である。眼内距離算出部１２２は、光路から水晶体レンズ８９が退避されている状態で取得された検出データに基づいて眼軸長や角膜厚（第１眼内距離）を算出する。また、眼内距離算出部１２２は、当該光路に水晶体レンズ８９が挿入されている状態で取得された検出データに基づいて前房深度や水晶体厚（第２眼内距離）を算出する。水晶体レンズは既存のレンズ(例えばリレーレンズ８６)と組み合わせた焦点距離を有し、これをリレーレンズ８６と差し替え可能であってもよい。

眼内距離算出部１２２は、被検眼Ｅの基準部位を基準に複数の眼内距離を算出することが可能である。基準部位として、被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光の強度が強い部位が挙げられる。基準部位には、被検眼Ｅの角膜頂点（角膜前面）や網膜や内境界膜等がある。それにより、被検眼Ｅが動いてしまい、干渉信号の位置が変わってしまった場合でも、常に基準部位の干渉信号を基準にすることによって、常に高い精度で複数の眼内距離を算出することができる。

眼軸長算出部１２２Ａは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と網膜に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて眼軸長（眼内距離Ｄ１）を求める。前房深度算出部１２２Ｂは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体前面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて前房深度（眼内距離Ｄ２）を求める。前房深度を求めるときの角膜頂点に相当する干渉信号の位置は、眼軸長を求めるときに用いた角膜頂点に相当する干渉信号の位置を流用できる。水晶体厚算出部１２２Ｃは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて距離（Ｄ２＋Ｄ３）を求め、求められた距離（Ｄ２＋Ｄ３）から距離Ｄ２を差し引くことにより水晶体厚（距離Ｄ３）を求める。角膜厚算出部１２２Ｄは、角膜頂点（角膜前面）に相当する干渉信号の位置と角膜後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて角膜厚を求める。

ＩＯＬ度数の算出において、ＩＯＬ度数算出部１２３は、ケラトの測定結果と眼内距離算出部１２２において求められた眼軸長、前房深度、水晶体厚及び角膜厚の少なくとも１つを公知の計算式に代入することによりＩＯＬ度数を求める。なお、ＩＯＬ度数算出部１２３は、眼屈折力の算出結果と眼軸長の算出結果とを公知の計算式に代入することによりＩＯＬ度数を求めてもよい。

（表示部１７０、操作部１８０）
表示部１７０は、制御部１１０による制御を受けて情報を表示する。表示部１７０は表示部１０を含む。操作部１８０は、眼科装置１０００の操作や情報入力に使用される。操作部１８０は、各種のハードウェアキー（ジョイスティック、ボタン、スイッチなど）、及び／又は、表示部１７０に提示される各種のソフトウェアキー（ボタン、アイコン、メニューなど）を含む。

（通信部１９０）
通信部１９０は、外部装置と通信する機能を持つ。通信部１９０は、外部装置との接続形態に応じた通信インターフェイスを備える。外部装置の例として、レンズの光学特性を測定するための眼鏡レンズ測定装置がある。眼鏡レンズ測定装置は、被検者が装用する眼鏡レンズの度数などを測定し、この測定データを眼科装置１０００に入力する。また、外部装置は、任意の眼科装置、記録媒体から情報を読み取る装置（リーダ）や、記録媒体に情報を書き込む装置（ライタ）などでもよい。更に、外部装置は、病院情報システム（ＨＩＳ）サーバ、ＤＩＣＯＭ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｉｍａｇｉｎｇ ａｎｄ ＣＯｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ ｉｎ Ｍｅｄｉｃｉｎｅ）サーバ、医師端末、モバイル端末、個人端末、クラウドサーバなどでもよい。

干渉計ユニット８０は実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。干渉計光源８１は実施形態に係る「第１光源」の一例である。合焦レンズ８５は実施形態に係る「第１合焦レンズ」の一例である。水晶体レンズ８９は実施形態に係る「第２合焦レンズ」の一例である。合焦レンズ７２は実施形態に係る「第３合焦レンズ」の一例である。ビームスプリッタ９２は実施形態に係る「光路分割部材」の一例である。網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４、その移動機構及びその駆動部は実施形態に係る「光路長変更部」の一例である。レフ測定投影系６、レフ測定受光系７及び眼屈折力算出部１２１は実施形態に係る「屈折力測定部」の一例である。レフ測定光源６１は実施形態に係る「第２光源」の一例である。

＜動作例＞
実施形態に係る眼科装置１０００の動作について説明する。眼科装置１０００の動作の一例を図１０〜図１４に示す。図１０は、眼科装置１０００の動作例のフロー図を表したものである。図１１は、図１０のＳ４の眼軸長測定の動作例のフロー図を表したものである。図１２は、図１０のＳ５の前房深度測定の動作例のフロー図を表したものである。図１３は、図１０のＳ６の水晶体厚測定の動作例のフロー図を表したものである。図１４は図１０のＳ７の角膜厚測定の動作例のフロー図を表したものである。

（Ｓ１）
図示しない顔受け部に被検者の顔が固定された状態で、検者が操作部１８０に対して所定の操作を行うことで、眼科装置１０００は、アライメントを実行する。具体的には、主制御部１１１は、Ｚアライメント光源１１やＸＹアライメント光源２１や光源４１を点灯させる。処理部９は、撮像素子５９の撮像面上に結像された前眼部像の撮像信号を取得し、表示部１７０（表示部１０の表示画面１０ａ）に前眼部像Ｅ’を表示させる。その後、図１に示す光学系が被検眼Ｅの検査位置に移動される。検査位置とは、被検眼Ｅの検査を行うことが可能な位置である。前述のアライメント（Ｚアライメント系１及びＸＹアライメント系２と観察系５とによるアライメント）を介して被検眼Ｅが検査位置に配置される。光学系の移動は、ユーザによる操作若しくは指示又は制御部１１０による指示にしたがって、制御部１１０によって実行される。すなわち、被検眼Ｅの検査位置への光学系の移動と、他覚測定を行うための準備とが行われる。

また、主制御部１１１は、レフ測定光源６１と合焦レンズ７２、合焦レンズ８５、光源４１及び視標チャート４２を連動させて、光軸に沿って原点、例えば、０Ｄの位置に移動させる。

（Ｓ２）
主制御部１１１は、ケラト測定を実行させる。すなわち、主制御部１１１は、ケラトリング光源３２を点灯させる。ケラトリング光源３２から光が出力されると、角膜Ｋに角膜形状測定用のリング状光束光が投影される。眼屈折力算出部１２１は、撮像素子５９によって取得された像に対して演算処理を施すことにより、角膜曲率半径を算出し、算出された角膜曲率半径から角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。制御部１１０では、算出された角膜屈折力などが記憶部１１２に記憶される。主制御部１１１からの指示、又は操作部１８０に対するユーザの操作若しくは指示により、眼科装置１０００の動作はＳ３に移行する。

（Ｓ３）
主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路にクイックリターンミラー６７の反射面を配置させ、レフ測定を実行させる。すなわち、主制御部１１１は、前述のようにレフ測定のためのリング状の測定パターン光束を被検眼Ｅに投影する。被検眼Ｅからの測定パターン光束の戻り光に基づくリング像が、撮像素子７４の結像面に結像される。主制御部１１１は、撮像素子７４により検出された眼底Ｅｆからの戻り光に基づくリング像を取得できたか否かを判定する。例えば、主制御部１１１は、撮像素子７４により検出された戻り光に基づく像のエッジの位置（画素）を検出し、像の幅（外径と内径との差）が所定値以上であるか否かを判定する、或いは強度が所定の高さ以上の点（像）に基づいてリングを形成できるか否かを判定することにより、リング像を取得できたか否かを判定する。

リング像を取得できたと判定されたとき、眼屈折力算出部１２１は、被検眼Ｅに投影された測定パターン光束の戻り光に基づくリング像を公知の手法で解析し、仮の球面度数Ｓ及び乱視度数Ｃを取得する。仮の球面度数及び乱視度数Ｃ基づき、レフ測定光源６１、合焦レンズ７２（合焦レンズ８５）、光源４１及び視標チャート４２を等価球面度数（Ｓ＋Ｃ／２）の位置へ移動させる。その位置から、雲霧を行った後、再度本測定としてリング像を取得し、前述と同様に得られたリング像の解析結果と合焦レンズの移動量から球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａが求める。制御部１１０では、合焦レンズ７２（合焦レンズ８５）の位置や算出された球面度数などが記憶部１１２に記憶される。主制御部１１１からの指示、又は操作部１８０に対するユーザの操作若しくは指示により、眼科装置１０００の動作はＳ４に移行する。

リング像を取得できないと判定されたとき、まずは強度屈折異常眼である可能性を考慮してレフ測定光源６１、合焦レンズ７２をあらかじめ設定したステップでマイナス度数側（例えば−１０Ｄ）、プラス度数側（例えば＋１０Ｄ）へ移動し各位置でリング像の検出を実施する。それでもリング像を取得できないと判定されたとき、眼科装置１０００の動作はＳ４に移行する。制御部１１０では、レフ測定結果が得られなかったことを示す情報が記憶部１１２に記憶される。

（Ｓ４）
主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７の反射面を退避させて、眼軸長測定を実行させる。眼軸長測定では、水晶体レンズ８９が測定光ＬＳの光路から退避されている。制御部１１０では、算出された眼軸長が記憶部１１２に記憶される。眼軸長測定の詳細については後述する。眼科装置１０００の動作はＳ５に移行する。

（Ｓ５）
主制御部１１１は、前房深度測定を実行させる。前房深度測定では、水晶体レンズ８９が測定光ＬＳの光路に挿入されている。制御部１１０では、算出された前房深度が記憶部１１２に記憶される。前房深度測定の詳細について後述する。眼科装置１０００の動作はＳ６に移行する。

（Ｓ６）
主制御部１１１は、水晶体厚測定を実行させる。水晶体厚測定では、水晶体レンズ８９が測定光ＬＳの光路に挿入されている。制御部１１０では、算出された水晶体厚が記憶部１１２に記憶される。水晶体厚測定の詳細について後述する。眼科装置１０００の動作はＳ７に移行する。

（Ｓ７）
主制御部１１１は、角膜厚測定を実行させる。角膜厚測定では、水晶体レンズ８９が測定光ＬＳの光路から退避されている。制御部１１０では、算出された角膜厚が記憶部１１２に記憶される。角膜厚測定の詳細について後述する。眼科装置１０００の動作はＳ８に移行する。

（Ｓ８）
ＩＯＬ度数算出部１２３は、Ｓ１〜Ｓ７で求められた角膜屈折力(ケラト値)、眼軸長測定、前房深度、水晶体厚及び角膜厚の少なくとも１つを用いてＩＯＬの度数を求める。制御部１１０では、求められたＩＯＬ度数が記憶部１１２に記憶される。

（Ｓ９）
制御部１１０は、例えば、操作部１８０に対するユーザの指示に基づき、視標チャート４２を制御することにより所望の視標を表示させる。また、制御部１１０は、他覚測定の結果に応じた位置に光源４１及び視標チャート４２を移動する。被検者は、眼底Ｅｆに投影された視標に対する応答を行う。例えば、視力測定用の視標の場合には、被検者の応答により被検眼の視力値が決定される。視標の選択とそれに対する被検者の応答が、検者又は制御部１１０の判断により繰り返し行われる。

或いは、制御部１１０は、他覚測定で得られた被検眼Ｅの乱視状態（乱視度数、乱視軸角度）に基づいて、この乱視状態が矯正されるようにＶＣＣレンズ４４を制御する。被検者は、眼底Ｅｆに投影された視標に対する応答を行う。被検者の応答に基づきＶＣＣレンズを制御することも可能である。例えば、視力測定用の視標の場合には、被検者の応答により被検眼の視力値が決定される。視標の選択とそれに対する被検者の応答が、検者又は制御部１１０の判断により繰り返し行われる。検者又は制御部１１０は、被検者からの応答に基づいて視力値或いは処方値（Ｓ、Ｃ、Ａ）を決定し、眼科装置１０００の動作は終了する（エンド）。

次に、図１１に示す図１０のＳ４における眼軸長測定のフローについて説明する。

（Ｓ１１）
主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させる。

（Ｓ１２）
主制御部１１１は、角膜用参照光路に対し角膜用シャッター９５を挿入させる。

（Ｓ１３）
主制御部１１１は、網膜・前房深度用参照光路から網膜・前房深度用シャッター９３を退避させる。

（Ｓ１４）
主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７の反射面を退避させる。それにより、干渉計ユニット８０と被検眼Ｅとの間に測定光ＬＳの光路が形成され、光干渉計測経路が開放される。

（Ｓ１５）
主制御部１１１は、図１０のＳ３において記憶部１１２に記憶された情報に基づいて、レフ測定結果があるか否かを判定する。レフ測定結果があると判定されたとき（Ｓ１５：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はＳ１６に移行する。レフ測定結果がないと判定されたとき（Ｓ１５：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ１８に移行する。

（Ｓ１６）
レフ測定結果があると判定されたとき（Ｓ１５：Ｙ）、合焦制御部１１１Ａは、Ｓ３において記憶部１１２に記憶された合焦レンズ７２（合焦レンズ８５）の位置から眼軸長測定時の合焦レンズ８５の位置を決定し、決定された位置に合焦レンズ８５を移動する。すなわち、Ｓ４の眼軸長測定では、Ｓ３のレフ測定を行うために被検眼Ｅに対する合焦において求められた合焦レンズ７２の位置から合焦レンズ８５の位置が決定される。具体的には、レフ測定は被検眼Ｅに雲霧させた状態で実行されるため、レフ測定時は、被検眼Ｅに対する合焦において求められた合焦レンズ７２の位置から所定の距離ΔＤだけ移動される。したがって、Ｓ１６において移動された合焦レンズ８５の位置は、レフ測定時の合焦レンズ８５（合焦レンズ７２）の位置から距離（−ΔＤ）だけ移動された位置となる。レフ測定系の移動部（レフ測定光源６１、合焦レンズ７２）と眼内距離測定系８の合焦レンズ８５は一体で移動可能であってもよいし、個別に移動可能であってもよい。一体で移動する場合、Ｓ３のレフ測定時には合焦レンズ８５は既に雲霧位置にあるので雲霧分のみ戻せばよい。個別に移動される場合や、一体となっていても基準位置や倍率が異なる場合は上記のように移動する。

（Ｓ１７）
主制御部１１１は、網膜に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。

（Ｓ１８）
レフ測定結果がないと判定されたとき（Ｓ１５：Ｎ）、主制御部１１１は、網膜に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。

（Ｓ１９）
合焦制御部１１１Ａは、網膜に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動する。

以上のように、レフ測定結果があるとき（すなわち、合焦レンズ８５の位置がわかっているとき）、最初に合焦状態に設定する（Ｓ１６）ことにより、網膜に相当する干渉信号の検出が容易になる。これに対して、レフ測定結果がないとき（すなわち、合焦レンズ８５の位置が不明であるとき）、最初に、網膜に相当する干渉信号を検出することにより、網膜に対する合焦を可能にする。

（Ｓ２０）
主制御部１１１は、角膜用参照光路から角膜用シャッター９５を退避させる。それにより、角膜頂点に相当する干渉信号と網膜に相当する干渉信号とを同時に検出することが可能になる（図６参照）。

（Ｓ２１）
眼軸長算出部１２２Ａは、Ｓ２０において同時に検出可能になった角膜頂点に相当する干渉信号の位置と網膜に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて眼軸長を算出する。以上で、眼軸長測定のフローが終了となる（エンド）。

以上のように、測定光ＬＳの戻り光の反射強度が強い角膜頂点ではなく網膜に合焦させた状態で取得された検出データに含まれる２つの干渉信号の位置の間隔を用いて眼軸長が求められる。それにより、眼軸長を高精度に求めることが可能になる。

次に、図１２に示す図１０のＳ５における前房深度測定のフローについて説明する。

（Ｓ３１）
主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させる。

（Ｓ３２）
主制御部１１１は、角膜用参照光路に対し角膜用シャッター９５を挿入させる。

（Ｓ３３）
主制御部１１１は、網膜・前房深度用参照光路から網膜・前房深度用シャッター９３を退避させる。

（Ｓ３４）
主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７の反射面を退避させる。それにより、光干渉計測経路が開放される。既に、光干渉計測経路が開放されているとき、Ｓ３４は不要である。

（Ｓ３５）
合焦制御部１１１Ａは、測定光ＬＳの光路（光干渉計測経路）に対し水晶体レンズ８９を挿入させる。水晶体レンズ８９の挿入時合焦レンズの位置は既定の位置に移動する。それにより、合焦レンズ８５の合焦調整範囲が網膜（眼底）近傍から水晶体近傍に移動する。

（Ｓ３６）
主制御部１１１は、水晶体前面に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。

（Ｓ３７）
合焦制御部１１１Ａは、水晶体前面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動する。

（Ｓ３８）
主制御部１１１は、角膜用参照光路から角膜用シャッター９５を退避させる。それにより、角膜頂点に相当する干渉信号と水晶体前面に相当する干渉信号とを同時に検出することが可能になる。

（Ｓ３９）
前房深度算出部１２２Ｂは、Ｓ３８において同時に検出可能になった角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体前面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて前房深度を算出する。以上で、前房深度測定のフローが終了となる（エンド）。

以上のように、合焦レンズ８５の移動による合焦調整範囲を水晶体近傍に移動させ、角膜頂点ではなく水晶体前面に合焦させた状態で取得された検出データに含まれる２つの干渉信号の位置の間隔を用いて前房深度が求められる。それにより、前房深度を高精度に求めることが可能になる。

次に、図１３に示す図１０のＳ６における水晶体厚測定のフローについて説明する。

（Ｓ４１）
主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させる。

（Ｓ４２）
主制御部１１１は、角膜用参照光路に対し角膜用シャッター９５を挿入させる。

（Ｓ４３）
主制御部１１１は、網膜・前房深度用参照光路から網膜・前房深度用シャッター９３を退避させる。

（Ｓ４４）
主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７の反射面を退避させる。それにより、光干渉計測経路が開放される。既に、光干渉計測経路が開放されているとき、Ｓ４４は不要である。

（Ｓ４５）
合焦制御部１１１Ａは、測定光ＬＳの光路（光干渉計測経路）に対し水晶体レンズ８９を挿入させる。既に、当該光路に対して水晶体レンズ８９が挿入されているとき、Ｓ４５は不要である。

（Ｓ４６）
主制御部１１１は、水晶体後面に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。

（Ｓ４７）
合焦制御部１１１Ａは、水晶体後面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動する。

（Ｓ４８）
主制御部１１１は、角膜用参照光路から角膜用シャッター９５を退避させる。それにより、角膜頂点に相当する干渉信号と水晶体後面に相当する干渉信号とを同時に検出することが可能になる。

（Ｓ４９）
水晶体厚算出部１２２Ｃは、Ｓ４８において同時に検出可能になった角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて、角膜頂点と水晶体後面との距離を求める。

（Ｓ５０）
水晶体厚算出部１２２Ｃは、Ｓ４９において求められた角膜頂点と水晶体後面との距離からＳ３９において求められた前房深度を差し引くことにより、水晶体厚を算出する。以上で、水晶体厚測定のフローが終了となる（エンド）。

以上のように、合焦レンズ８５の移動による合焦調整範囲を水晶体近傍に移動させ、角膜頂点ではなく水晶体後面に合焦させた状態で取得された検出データに含まれる２つの干渉信号の位置の間隔を用いて水晶体厚が求められる。それにより、水晶体厚を高精度に求めることが可能になる。

次に、図１４に示す図１０のＳ７における角膜厚測定のフローについて説明する。

（Ｓ６１）
主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させる。

（Ｓ６２）
主制御部１１１は、角膜用参照光路から角膜用シャッター９５を退避させる。

（Ｓ６３）
主制御部１１１は、網膜・前房深度用参照光路に対し網膜・前房深度用シャッター９３を挿入させる。

（Ｓ６４）
主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７の反射面を退避させる。それにより、光干渉計測経路が開放される。既に、光干渉計測経路が開放されているとき、Ｓ６４は不要である。

（Ｓ６５）
合焦制御部１１１Ａは、測定光ＬＳの光路から水晶体レンズ８９を退避させる。

（Ｓ６６）
主制御部１１１は、角膜後面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動する。

（Ｓ６７）
角膜頂点に相当する干渉信号と角膜後面に相当する干渉信号とが同時に検出することが可能であるため、角膜厚算出部１２２Ｄは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と角膜後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて角膜厚を算出する。以上で、角膜厚測定のフローが終了となる（エンド）。

以上のように、角膜頂点ではなく角膜後面に合焦させた状態で取得された検出データに含まれる２つの干渉信号の位置の間隔を用いて角膜厚が求められる。それにより、角膜厚を高精度に求めることが可能になる。

以上説明したように、実施形態に係る眼科装置１０００は、水晶体レンズ８９の挿脱を行いつつ被検眼Ｅの複数の眼内距離を測定する。

［作用・効果］
実施形態に係る眼科装置１０００の作用及び効果について説明する。

実施形態に係る眼科装置は、干渉光学系（例えば干渉計ユニット８０）と、第１合焦レンズ（例えば合焦レンズ８５）と、第２合焦レンズ（例えば水晶体レンズ８９）と、合焦制御部（例えば合焦制御部１１１Ａ）と、眼内距離算出部（例えば眼内距離算出部１２２）とを含む。干渉光学系は、第１光源（干渉計光源８１）からの光（光Ｌ０）を参照光（参照光ＬＲ）と測定光（測定光ＬＳ）とに分割し、測定光を被検眼（被検眼Ｅ）に照射し、その戻り光と参照光との干渉光（干渉光ＬＣ）を生成し、生成された干渉光を検出する。第１合焦レンズは、測定光の光路に沿って移動可能である。第２合焦レンズは、測定光の光路に対して挿脱可能である。合焦制御部は、少なくとも第１合焦レンズの移動制御を行う。眼内距離算出部は、第２合焦レンズが光路から退避されている状態で干渉光学系により取得された干渉光の第１検出データに基づいて第１眼内距離（例えば眼軸長、角膜厚）を求め、第２合焦レンズが光路に挿入されている状態で干渉光学系により取得された干渉光の第２検出データに基づいて第２眼内距離（例えば前房深度、水晶体厚）を求める。

このような構成によれば、干渉光学系により生成された測定光の光路に対して第２合焦レンズを挿脱することにより眼内距離を求めるようにしたので、合焦レンズ８５の移動範囲を短く設定でき、且つ、網膜と水晶体前後面近傍に各々合焦した状態で干渉信号を得ることが可能となるためＳ／Ｎ比の高い信号を取得することができる。それにより、眼内距離を高精度に求めることができ、求められた眼内距離に基づき高精度にＩＯＬ度数を求めることができる。

また、実施形態に係る眼科装置では、眼内距離算出部は、第１検出データに含まれる基準部位（例えば角膜頂点（角膜前面））に相当する信号の位置と他の第１部位（例えば網膜、角膜後面）に相当する信号の位置とに基づいて第１眼内距離を求め、第２検出データに含まれる基準部位に相当する信号の位置と他の第２部位（例えば水晶体前面、水晶体後面）に相当する信号の位置とに基づいて第２眼内距離を求めてもよい。

このような構成によれば、被検眼が動いてしまい、干渉信号の位置が変わってしまった場合でも、常に基準部位の干渉信号を基準にすることによって、常に高い精度で複数の眼内距離を算出することができる。

また、実施形態に係る眼科装置では、基準部位は、角膜前面又は網膜であってよい。

このような構成によれば、測定光の戻り光の反射強度が強い部位を基準に被検眼の眼内距離を求めることができるため、高精度な測定が可能になる。

また、実施形態に係る眼科装置では、合焦制御部は、第１検出データが取得される前に第１部位に相当する信号に基づいて第１合焦レンズを制御し、第２検出データが取得される前に第２部位に相当する信号に基づいて第１合焦レンズを制御してもよい。

このような構成によれば、第１部位及び第２部位のそれぞれに合焦するように第１合焦レンズを制御することが可能になるため、第１部位に相当する信号及び第２部位に相当する信号の検出精度を向上させることができる。

また、実施形態に係る眼科装置では、干渉光学系は、光路分割部材（例えばビームスプリッタ９２）と光路長変更部（例えば網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４、その移動機構及びその駆動部）とを含み、第１検出データが取得されるときと第２検出データが取得されるときとで互いに異なる参照光路の長さが適用されてもよい。光路分割部材は、参照光の光路を分割して少なくとも第１参照光路（例えば角膜用参照光路）及び第２参照光路（例えば網膜・前房深度用参照光路）を形成する。光路長変更部は、第２参照光路の長さを変更する。

このような構成によれば、例えば、第１参照光路の長さを固定した状態で第２参照光路の長さを変更することにより第１検出データ及び第２検出データを取得するようにしたので、移動機構の数を増やすことなく、被検眼の複数の眼内距離を測定することができる。

また、実施形態に係る眼科装置は、屈折力測定部（例えばレフ測定投影系６、レフ測定受光系７及び眼屈折力算出部１２１）を含んでもよい。屈折力測定部は、第２光源（例えばレフ測定光源６１）からの光を被検眼に照射し、その戻り光の光路に沿って移動可能な第３合焦レンズ（例えば合焦レンズ７２）を介して戻り光を検出することにより被検眼の屈折力を測定する。合焦制御部は、屈折力を測定するための被検眼に対する合焦において求められた第３合焦レンズの位置に基づいて第１合焦レンズの移動制御を行う。

このような構成によれば、屈折力測定部による測定により求められた第３合焦レンズの位置から第１合焦レンズの位置を求めることができるので、被検眼の眼内距離を測定するための合焦制御を含む測定制御を簡素化することができる。

＜変形例＞
以上に示された実施形態又はその変形例は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。

前述の実施形態では、水晶体近傍に合焦調整範囲を移動させるために水晶体レンズ８９が設けられた場合について説明したが、複数の眼内の測定対象に対応して複数の合焦調整範囲変更手段（例えばレンズ等）が設けられていてもよい。

前述の実施形態では、合焦レンズ８５及びリレーレンズ８６の間で水晶体レンズ８９が挿脱される場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。水晶体レンズは、測定光の光路の任意の位置で挿脱可能である。

１ Ｚアライメント系
２ ＸＹアライメント系
３ ケラト測定系
４ 視標投影系
５ 観察系
６ レフ測定投影系
７ レフ測定受光系
８ 眼内距離測定系
９ 処理部
７２、８５ 合焦レンズ
８０ 干渉計ユニット
８９ 水晶体レンズ
１１１Ａ 合焦制御部
１２２ 眼内距離算出部
１０００ 眼科装置

Claims (3)

1. 第１光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記測定光を被検眼に照射し、その戻り光と前記参照光との干渉光を生成し、生成された前記干渉光を検出する干渉光学系と、
   前記測定光の光路に沿って移動可能な第１合焦レンズと、
   前記測定光の光路に対して挿脱可能な第２合焦レンズと、
   前記第２合焦レンズが前記光路から退避されている状態で前記干渉光学系により取得された前記干渉光の第１検出データに含まれる前記被検眼の網膜又は角膜後面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように前記第１合焦レンズの移動制御を行うと共に、前記第２合焦レンズが前記光路に挿入されている状態で前記干渉光学系により取得された前記干渉光の第２検出データに含まれる前記被検眼の水晶体前面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように前記第１合焦レンズの移動制御を行う合焦制御部と、
   前記第１検出データに含まれる前記被検眼の角膜頂点に相当する干渉信号の位置と前記第１検出データに含まれる前記網膜又は前記角膜後面に相当する干渉信号の位置とに基づいて眼軸長又は角膜厚を求め、前記第２検出データに含まれる前記角膜頂点に相当する干渉信号の位置と前記第２検出データに含まれる前記水晶体前面に相当する干渉信号の位置と基づいて前房深度を求める眼内距離算出部と、
   を含む眼科装置。
2. 第１光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記測定光を被検眼に照射し、その戻り光と前記参照光との干渉光を生成し、生成された前記干渉光を検出する干渉光学系と、
   前記測定光の光路に沿って移動可能な第１合焦レンズと、
   前記測定光の光路に対して挿脱可能な第２合焦レンズと、
   前記第２合焦レンズが前記光路から退避されている状態で前記干渉光学系により取得された前記干渉光の第１検出データに含まれる前記被検眼の網膜又は角膜後面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように前記第１合焦レンズの移動制御を行うと共に、前記第２合焦レンズが前記光路に挿入されている状態で前記干渉光学系により取得された前記干渉光の第２検出データに含まれる前記被検眼の水晶体後面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように前記第１合焦レンズの移動制御を行う合焦制御部と、
   前記第１検出データに含まれる前記被検眼の角膜頂点に相当する干渉信号の位置と前記第１検出データに含まれる前記網膜又は前記角膜後面に相当する干渉信号の位置とに基づいて眼軸長又は角膜厚を求め、前記第２検出データに含まれる前記角膜頂点に相当する干渉信号の位置と前記第２検出データに含まれる前記水晶体後面に相当する干渉信号の位置と基づいて前記角膜頂点と前記水晶体後面との距離を求め、求められた前記距離から前房深度を差し引くことにより前記被検眼の水晶体厚を求める眼内距離算出部と、
   を含む眼科装置。
3. 前記合焦制御部は、前記第２検出データに含まれる前記被検眼の水晶体前面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように前記第１合焦レンズの移動制御を行い、
   前記眼内距離算出部は、前記第２検出データに含まれる前記角膜頂点に相当する干渉信号の位置と前記第２検出データに含まれる前記水晶体前面に相当する干渉信号の位置と基づいて前記前房深度を求め、前記距離から前記求められた前房深度を差し引くことにより前記水晶体厚を求める
   ことを特徴とする請求項２に記載の眼科装置。
   
   

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