JP2019529895A5 - - Google Patents
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- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims 1
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Claims (13)
- 白色光を発する白色光源と、
ビームスプリッタと屈折レンズとを含む複数のレンズと、
ピンホールアパーチャと、
前記ビームスプリッタから前記白色光を受光する検出器と、
複数個のセンサを有するセンサ体であり、それらセンサが複数本のロー及びカラムをなしてそのセンサ体内に配置されており、それらロー及びカラムのそれぞれがそれらセンサのうち少なくとも2個を有するセンサ体と、
前記白色光源及び前記検出器を前記複数個のセンサに結合させる複数本の光ファイバと、
を備え、
前記白色光源からの白色光を組成する波長それぞれの焦点距離が前記複数のレンズの屈折率により変わり、その白色光を組成する波長それぞれが前記複数のレンズから異なる距離にて集束し、
前記ビームスプリッタが前記白色光源からの白色光を前記屈折レンズに方向づけるように構成され、
前記屈折レンズが、前記白色光の光路に沿って、前記ビームスプリッタと前記ピンホールアパーチャとの間に配置され、
前記複数本の光ファイバが、前記白色光の前記光路に沿って、前記センサと前記ピンホールアパーチャとの間に配置される、
装置。 - 請求項1に記載の装置であって、更に、前記検出器と電子通信するコントローラを備え、クロマティック共焦点技術を用いウェハについての高さデータを提供するようそのコントローラが構成されている装置。
- 請求項1に記載の装置であって、更に、前記センサ体と前記白色光を反射するウェハとを互いに対し走査させるよう構成されたアクチュエータを備える装置。
- 請求項3に記載の装置であって、ロー及びカラム内の前記センサが線をなし配列されており、前記ウェハに対する前記センサ体の前記走査がそれらの線のうちいずれかに対し非平行な方向に沿っている装置。
- 請求項4に記載の装置であって、前記ウェハに対する前記センサ体の走査方向が前記線のうち少なくとも1本に対し45°角をなす装置。
- 請求項1に記載の装置であって、更に、前記白色光を反射するウェハを保持するよう構成されたチャックを備える装置。
- 請求項1に記載の装置であって、前記検出器がCMOSイメージセンサ又はCCDイメージセンサでありスペクトル分散素子を有する装置。
- 請求項7に記載の装置であって、前記スペクトル分散素子が格子を有する装置。
- 請求項1に記載の装置であって、前記ピンホールアパーチャが前記光ファイバの一部分である装置。
- ビームスプリッタと屈折レンズとを含む複数個のレンズを介しウェハに白色光を差し向けるステップと、
前記ウェハによって反射された白色光のうち一部をセンサ体内の複数個のセンサにて受光するステップと、
前記複数のセンサにおいて受光した前記白色光の前記一部を複数の光ファイバを介して送るステップと
前記複数の光ファイバからの前記白色光の前記一部をピンホールアパーチャに投射するステップと、
前記ピンホールアパーチャからの前記白色光の前記一部を前記屈折レンズに投射するステップと、
前記屈折レンズからの前記白色光の前記一部を前記ビームスプリッタに投射するステップと、
前記ビームスプリッタからの前記白色光の前記一部を検出器に投射するステップと、
前記検出器とコントローラとを用い、クロマティック共焦点技術を用いて、前記ウェハについての高さデータを求めるステップと、
を有し、
前記白色光の波長それぞれの焦点距離が前記複数のレンズの屈折率により変わり、前記白色光の波長それぞれが前記複数のレンズから異なる距離にて集束し、
前記複数のセンサが複数本のロー及びカラムをなして前記センサ体内に配置されており、それらロー及びカラムのそれぞれがそれらセンサのうち少なくとも2個を有する、
方法。 - 請求項10に記載の方法であって、更に、前記ウェハ及び前記センサ体を互いに対し走査させるステップを有する方法。
- 請求項11に記載の方法であって、ロー及びカラム内の前記センサが線に沿っており、前記ウェハに対する前記センサ体の前記走査がそれらの線のうちいずれかに対し非平行な方向に沿っている方法。
- 請求項12に記載の方法であって、前記ウェハに対する前記センサ体の走査方向が前記線のうち少なくとも1本に対し45°角をなす方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022022585A JP2022081498A (ja) | 2016-09-07 | 2022-02-17 | 高さ計測装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201662384324P | 2016-09-07 | 2016-09-07 | |
US62/384,324 | 2016-09-07 | ||
US15/690,969 | 2017-08-30 | ||
US15/690,969 US10317344B2 (en) | 2016-09-07 | 2017-08-30 | Speed enhancement of chromatic confocal metrology |
PCT/US2017/050326 WO2018048938A1 (en) | 2016-09-07 | 2017-09-06 | Speed enhancement of chromatic confocal metrology |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022022585A Division JP2022081498A (ja) | 2016-09-07 | 2022-02-17 | 高さ計測装置及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019529895A JP2019529895A (ja) | 2019-10-17 |
JP2019529895A5 true JP2019529895A5 (ja) | 2020-10-15 |
Family
ID=61282067
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019512871A Pending JP2019529895A (ja) | 2016-09-07 | 2017-09-06 | クロマティック共焦点計量の速度向上 |
JP2022022585A Pending JP2022081498A (ja) | 2016-09-07 | 2022-02-17 | 高さ計測装置及び方法 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022022585A Pending JP2022081498A (ja) | 2016-09-07 | 2022-02-17 | 高さ計測装置及び方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10317344B2 (ja) |
EP (1) | EP3510350A4 (ja) |
JP (2) | JP2019529895A (ja) |
KR (1) | KR102236810B1 (ja) |
CN (1) | CN109690238B (ja) |
WO (1) | WO2018048938A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11441893B2 (en) * | 2018-04-27 | 2022-09-13 | Kla Corporation | Multi-spot analysis system with multiple optical probes |
USD923121S1 (en) * | 2019-08-23 | 2021-06-22 | Air Box Co., Ltd. | Exercise mat combined hammock |
US11899375B2 (en) * | 2020-11-20 | 2024-02-13 | Kla Corporation | Massive overlay metrology sampling with multiple measurement columns |
FR3118175A1 (fr) * | 2020-12-18 | 2022-06-24 | Unity Semiconductor | Procede d’inspection d’une surface d’un objet |
Family Cites Families (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4689491A (en) * | 1985-04-19 | 1987-08-25 | Datasonics Corp. | Semiconductor wafer scanning system |
US4709144A (en) | 1986-04-02 | 1987-11-24 | Hewlett-Packard Company | Color imager utilizing novel trichromatic beamsplitter and photosensor |
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US6552803B1 (en) | 1998-02-24 | 2003-04-22 | Kla-Tencor Corporation | Detection of film thickness through induced acoustic pulse-echos |
US6248988B1 (en) * | 1998-05-05 | 2001-06-19 | Kla-Tencor Corporation | Conventional and confocal multi-spot scanning optical microscope |
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JP3210654B1 (ja) | 2001-05-02 | 2001-09-17 | レーザーテック株式会社 | 光学式走査装置及び欠陥検出装置 |
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WO2008007363A2 (en) | 2006-07-11 | 2008-01-17 | Camtek Ltd | System and method for probe mark analysis |
DE102006036504A1 (de) | 2006-08-04 | 2008-02-07 | Vistec Semiconductor Systems Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Messung des Höhenprofils eines strukturierten Substrats |
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CN101588209B (zh) | 2008-05-23 | 2011-11-30 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种自适应色散补偿方法 |
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US7876456B2 (en) * | 2009-05-11 | 2011-01-25 | Mitutoyo Corporation | Intensity compensation for interchangeable chromatic point sensor components |
DE102009025815A1 (de) | 2009-05-15 | 2010-11-25 | Degudent Gmbh | Messanordnung sowie Verfahren zum dreidimensionalen Messen eines Objektes |
JP2011017552A (ja) * | 2009-07-07 | 2011-01-27 | Oputouea Kk | 多点変位検出装置 |
FR2950441B1 (fr) | 2009-09-23 | 2012-05-18 | Sabban Youssef Cohen | Capteur optique dote de champ lateral pour la numerisation 3d |
TWI414817B (zh) * | 2010-07-23 | 2013-11-11 | Univ Nat Taipei Technology | 線型彩色共焦顯微系統 |
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CN102506754B (zh) * | 2011-11-09 | 2013-11-06 | 西安工业大学 | 物体表面形貌与颜色同时测量的共聚焦测量装置及其使用方法 |
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JP6247752B2 (ja) * | 2013-06-17 | 2017-12-13 | プレシテック オプトロニック ゲーエムベーハーPrecitec Optronik GmbH | 距離差を取得するための光学測定装置および光学測定方法 |
JP2016024009A (ja) * | 2014-07-18 | 2016-02-08 | 株式会社ミツトヨ | 厚さ測定装置及び厚さ測定方法 |
EP3222964B1 (en) * | 2016-03-25 | 2020-01-15 | Fogale Nanotech | Chromatic confocal device and method for 2d/3d inspection of an object such as a wafer |
CN106931911A (zh) | 2017-04-01 | 2017-07-07 | 浙江协同光电科技有限公司 | 白光光谱共焦线扫描装置 |
-
2017
- 2017-08-30 US US15/690,969 patent/US10317344B2/en active Active
- 2017-09-06 WO PCT/US2017/050326 patent/WO2018048938A1/en unknown
- 2017-09-06 JP JP2019512871A patent/JP2019529895A/ja active Pending
- 2017-09-06 EP EP17849475.3A patent/EP3510350A4/en not_active Withdrawn
- 2017-09-06 CN CN201780055076.6A patent/CN109690238B/zh active Active
- 2017-09-06 KR KR1020197009858A patent/KR102236810B1/ko active IP Right Grant
-
2022
- 2022-02-17 JP JP2022022585A patent/JP2022081498A/ja active Pending
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