JP2019215244A - 検出システム、検出プログラム、および検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】複数のコネクタを有する装置の故障箇所の特定を効率化することを目的とする。【解決手段】検出システムは、複数の第１コネクタを含む第１基板と、前記複数の第１コネクタに接続される複数の第２コネクタを含む第２基板とを備え、電圧異常が検出された場合に、前記第１コネクタと前記第１コネクタに接続された前記第２コネクタとを含む所定区間の信号経路の接続を直列接続から並列接続に切り替える検出回路と、前記所定区間の信号経路に設置され、設置された前記所定区間毎に抵抗値が異なる抵抗器と、並列接続に切り替えられた前記検出回路の出力電流または出力電圧に基づいて、通電しない前記抵抗器を含む前記所定区間を特定する制御部と、を備える。【選択図】図６

Description

本発明は、検出システム、検出プログラム、および検出方法に関する。

複数のコネクタを有する基板同士を接続した場合に、いずれかのコネクタの故障等により、通電しない可能性がある。この場合、どのコネクタに故障等が発生しているかを特定する作業が行われる。

関連する技術として、接続ピンおよび接続ピンに嵌合可能な受けピンのいずれか一方に検出電圧を引加し、他方において接続ピンおよび受けピンを流れる電流の変化を検出する技術が提案されている（例えば、特許文献１を参照）。

また、関連する技術として、コネクタが夫々嵌合されるコネクタ部の各ピンに対応したスイッチと、スイッチのオン操作によりケーブルの配線パターンの導通チェックを行うチェック回路を含む検査装置が提案されている（例えば、特許文献２を参照）。

特開平９−１４８０３５号公報 特開平５−４７８９０号公報

しかし、複数のコネクタのいずれかに故障等がある場合に、故障したコネクタを特定するために目視確認を行うと、作業者に負担がかかり、破損等を見落とす可能性もある。

また、複数のコネクタのそれぞれについて、スイッチ切り替えを行うことにより導通チェックを行う場合、スイッチ切り替え作業に時間がかかる。

１つの側面として、本発明は、複数のコネクタを有する装置の故障箇所の特定を効率化することを目的とする。

１つの態様では、検出システムは、複数の第１コネクタを含む第１基板と、前記複数の第１コネクタに接続される複数の第２コネクタを含む第２基板とを備える。前記検出システムは、電圧異常が検出された場合に、前記第１コネクタと前記第１コネクタに接続された前記第２コネクタとを含む所定区間の信号経路の接続を直列接続から並列接続に切り替える検出回路と、前記所定区間の信号経路に設置され、設置された前記所定区間毎に抵抗値が異なる抵抗器と、並列接続に切り替えられた前記検出回路の出力電流または出力電圧に基づいて、通電しない前記抵抗器を含む前記所定区間を特定する制御部と、を備える。

１つの側面によれば、複数のコネクタを有する装置の故障箇所の特定を効率化することができる。

長ピンを用いた検出システムの接続前の状態の一例を示す図である。 図１のＡ部の拡大図である。 長ピンを用いた検出システムの接続後の状態の一例を示す図である。 検出システムの構成の一例を示す図である。 第１の実施形態における検出システムの接続後の状態の一例を示す図である。 第１の実施形態における検出システムの並列接続に切り替えられた状態の一例を示す図である。 検出システムの詳細な構成の一例を示す図である。 並列接続に切り替えられた検出回路を簡略化した図である。 制御部１４のハードウェア構成の一例を示す図である。 予め記憶された正常時および異常時の電流値の一例を示す図である。 実施形態の処理の流れの一例を示すフローチャートである。 第２の実施形態における検出システムの構成の一例を示す図である。

以下、実施形態の検出システムの比較例として、長ピンを用いた検出システムについて説明する。図１は、長ピンを用いた検出システムの接続前の状態の一例を示す図である。図１に示す検出システムは、第１基板１と第２基板２とを含む。第１基板１は、例えば、複数の電子部品等が組み込まれたパッケージ基板である。第２基板２は、例えば、バックボードである。第２基板２は、例えば、パッケージ基板であってもよい。

第１基板１は、複数のピンを有する接続部１１−１、１１−２・・・１１−ｎを含む。接続部１１−１、１１−２・・・１１−ｎは、図示しない信号線により、第１基板１の後段のデバイスに接続されている。

第２基板２は、複数のピンが挿入される複数のソケットを有する接続部２１−１、２１−２・・・２１−ｎを含む。接続部２１−１、２１−２・・・２１−ｎは、図示しない信号線により、第２基板２の後段のデバイスに接続されている。

図２は、図１のＡ部の拡大図である。接続部１１−１は、実装確認に用いられる２本の長ピン３１−１と、信号伝送に用いられる４本の短ピン３１−２を含む。長ピン３１−１と、短ピン３１−２の数は、図３に示す本数には限られない。接続部２１−１は、６つのソケット４１を含む。以下、長ピン３１−１と短ピン３１−２とを区別しない場合、ピン３１と称する。

長ピン３１−１が、ソケット４１に挿入されることにより、第１基板１と第２基板２との間で実装確認用の信号が伝送される。

図３は、長ピンを用いた検出システムの接続後の状態の一例を示す図である。図３に示す例では、全ての長ピン３１−１がソケット４１に挿入されている。そして、長ピン３１−１およびソケット４１を通るＳ字状の信号経路５１が直列に接続される。

信号経路５１は、長ピン３１−１およびソケット４１を通過し、第１基板１と第２基板２とを交互に通過する。そして、電源Ｖｃｃから信号経路５１に電圧が印加されると、グランドＧＮＤまで信号（電流）が流れる。

電圧測定回路１２は、長ピン３１−１およびソケット４１を通る信号経路５１の下流の電圧を検出する。電圧測定回路１２は、例えば、検出した電圧が基準値以上であれば、正常であることを示す信号（ＯＫ）を、制御端末４およびＬＥＤ５に送信する。電圧測定回路１２は、例えば、検出した電圧が基準値未満であれば、異常であることを示す信号（ＮＧ）を、制御端末４およびＬＥＤ５に送信する。

制御端末４は、電圧測定回路１２から送信された信号内容を表示装置６に表示することにより、第１基板１と第２基板２とが正常に接続されたかをユーザに示すことができる。

ＬＥＤ５は、例えば、正常であることを示す信号が送信された場合と、異常であることを示す信号が送信された場合とで異なる方法で点灯することにより、第１基板１と第２基板２とが正常に接続されたかをユーザに示す。

しかし、図４に示す検出方法では、短ピン３１−２とソケット４１との接続確認が行われない。よって、図４に示す検出方法で正常であると判定されたとしても、短ピン３１−２または短ピン３１−２が接続するソケット４１の一方が破損していた場合、他方を破損させるおそれがある。また、破損により、第１基板１および第２基板２の後段のデバイスを破壊するおそれがある。

例えば、第１基板１の短ピン３１−２は正常であるが、第２基板２のソケット４１が曲がっていた場合、短ピン３１−２をソケット４１に挿入した際に、短ピン３１−２を破損させる可能性がある。例えば、第２基板２のソケット４１が見づらい位置にある場合、ユーザが破損を見逃す可能性がある。

また、ピン３１、ソケット４１が破損する事例として、次のような例が考えられる。例えば、第１基板１および第２基板２の挿入を補佐するレール、ケージを具備していなかったために、試験者が、ピン３１をソケット４１に対して斜めに指してしまい、ピン３１またはソケット４１が破損する可能性がある。また、例えば、ピン間のピッチが狭かったため、隣接する電源ピンとＧＮＤピンがショートする可能性がある。そして、第１基板１または第２基板２の後段に存在するデバイスに異常電圧または異常電流がかかり、デバイスが故障するおそれがある。

＜第１の実施形態＞
以下、図面を参照して、実施形態について説明する。図４は、検出システムの構成の一例を示す図である。第１の実施形態のシステムは、第１基板１と、第２基板２と、第３基板とを含む。

第１基板１および第３基板３は、例えば、複数の電子部品等が組み込まれたパッケージ基板である。第２基板２は、例えば、バックボードである。第１基板１と第２基板２とがコネクタを用いて接続される。また、第３基板３と第２基板２とがコネクタを用いて接続される。実施形態のシステムは、第２基板２を含まず、第１基板１と第３基板３とが直接連結されてもよい。

以下の説明において、第１基板１と第２基板２とが接続される例を説明するが、第３基板３と第２基板２とが接続する場合も同様の処理が行われる。

図５は、第１の実施形態における検出システムの接続後の状態の一例を示す図である。図５に示す検出システムは、電流測定回路１３と制御部１４とを含む点で図３に示す例と異なる。また、図５に示す検出システムでは、ピン３１の長さは全て同じであり、長ピンと短ピンの区別はなくてもよい。図５に示す例では、各ピン３１が各ソケット４１に接続され、各ピン３１と各ソケット４１を含む所定区間の信号経路が直列接続されている。ピンは、第１コネクタの一例である。ソケットは第２コネクタの一例である。

図５に示すＳ字状の信号経路５２は、ピン３１およびソケット４１を通る各信号経路を含み、第１基板１と第２基板２とを交互に通過する。そして、第２基板２の電源Ｖｃｃから信号経路５１に電圧が印加されると、グランドＧＮＤまで信号（電流）が流れる。図５に示す信号経路５２は、全てのピン３１を通過する点で、図３に示す信号経路５１とは異なる。

電圧測定回路１２は、信号経路５２の下流の電圧を検出する。電圧測定回路１２は、例えば、検出した電圧が基準値以上であれば、正常であることを示す信号（ＯＫ）を、制御端末４およびＬＥＤ５に送信する。電圧測定回路１２は、例えば、検出した電圧が基準値未満であれば、異常であることを示す信号（ＮＧ）を、制御端末４およびＬＥＤ５に送信する。

電圧測定回路１２は、さらに、検出回路２００内のセレクタに電圧が正常か異常かを示す信号を送信する。セレクタに関しては、詳細は後述する。

制御端末４は、電圧測定回路１２から送信された信号内容を表示装置６に表示することにより、第１基板１と第２基板２とが正常に接続されたかをユーザに示すことができる。

ＬＥＤ５は、例えば、正常であることを示す信号が送信された場合と、異常であることを示す信号が送信された場合とで異なる方法で点灯することにより、第１基板１と第２基板２とが正常に接続されたかをユーザに示す。ＬＥＤ５は、例えば、正常であることを示す信号が送信された場合と、異常であることを示す信号が送信された場合とで異なる色で点灯する。ＬＥＤ５は、正常であることを示す信号が送信された場合は点灯せず、異常であることを示す信号が送信された場合に点灯してもよい。

以上の構成により、実施形態の検出システムは、信号経路５２に含まれる各ピン３１、各ソケット４１のいずれかに破損等があり、検出電圧が異常であった場合、異常が発生したことをユーザに示すことができる。また、実施形態のシステムは、検出電圧が正常であることを確認できるまで、スイッチ切り替えにより、デバイス側に信号（電流）が送られないように制御する。

図６は、第１の実施形態における検出システムの並列接続に切り替えられた状態の一例を示す図である。図６に示す例では、信号経路５２は、並列接続に変換されている。また、信号経路５２にはそれぞれ抵抗値が異なる抵抗器が並列に設置されている。

電流測定回路１３は、信号経路５２の電流出力側に設けられており、検出回路２００の出力電流を検出し、制御部１４に送信する。

制御部１４は、電流測定回路１３から送信された出力電流を取得し、取得した出力電流に基づいて、通電しない抵抗器を含む区間を特定する。制御部１４は、例えば、検出回路２００の出力電流と、予め記憶された、抵抗器が通電しない場合の出力電流とを比較し、比較結果に基づいて、通電しない抵抗器を含む所定区間を特定する。

制御端末４は、制御部１４から特定した通電しない抵抗器を含む所定区間を示す情報を取得し、その情報を表示装置６に表示させる。これにより、ユーザが、特定された区間のピン３１またはソケット４１が破損している可能性があることを知ることができる。

制御端末４は、表示機能を有していてもよい。その場合、制御端末４は、制御部１４から特定した通電しない抵抗器を含む所定区間を示す情報を表示する。すなわち、制御部１４は、通電しない抵抗器を含む所定区間を示す情報を、表示機能を有する制御端末４に表示させるか、または、制御端末４を介して表示装置６に表示させる。

図７は、検出システムの詳細な構成の一例を示す図である。図７に示すように、第１基板１と第２基板２とを連結する信号線のうちの一つには、セレクタ１５と抵抗器１６とが直列に接続されている。セレクタ１５および抵抗器１６と直列にセレクタ１７と抵抗器１８とが接続されている。

セレクタ１５と、Ｐ１との間を第１区間とする。また、セレクタ１７と、Ｐ２との間を第２区間とする。Ｐ１は、第１区間における第２区間との接続部分であり、Ｐ２は、第２区間における第１区間との接続部分である。すなわち、第１区間と第２区間とは、直列接続されている。

抵抗器１６は、セレクタ１５とＰ１との間に設定されている。また、抵抗器１８は、セレクタ１７とＰ２との間に設置されている。

セレクタ１５は、電圧が正常であることを示す信号を電圧測定回路１２から入力した場合に、入出力端子として端子１５ａを選択する。また、セレクタ１５は、電圧測定回路１２から電圧異常を示す所定信号を入力した場合に、入出力端子として端子１５ｂを選択する。

セレクタ１７は、電圧が正常であることを示す信号を入力した場合に、入出力端子として端子１７ａを選択する。また、セレクタ１７は、電圧測定回路１２から電圧異常を示す所定信号を入力した場合に、入出力端子として端子１７ｂを選択する。

以上の構成により、電圧測定回路１２から電圧異常を示す所定信号がセレクタ１５およびセレクタ１７に出力された場合に、端子１５ｂと端子１７ｂとが接続されて、抵抗器１６を含む第１区間と抵抗器１８を含む第２区間とが直列接続から並列接続に切り替わる。

以上の説明では第１区間と第２区間について説明したが、第１基板１と第２基板２とを連結する他の区間も同様に直列接続から並列接続に切り替わる。各区間にはそれぞれ抵抗値が異なる抵抗器が設置されているとする。例えば、セレクタ１９とＰ３との間の区間には抵抗器２０が設置されている。

図８は、並列接続に切り替えられた検出回路を簡略化した図である。図８では、説明のために、３つの区間にそれぞれ抵抗器が一つ設置されているとする。各セレクタが電圧測定回路１２から電圧異常を示す所定信号を入力した場合に、図８に示すように、抵抗器１６と抵抗器１８と抵抗器２０とが並列に接続された状態となる。

そして、電流測定回路１３は、検出回路２００の出力電流を検出し、制御部１４に送る。制御部１４は、出力電流を取得し、取得した出力電流と、予め記憶された、各抵抗器が通電しない場合の出力電流が対応付けられた情報とに基づいて、通電しない抵抗器を含む区間を特定する。

図９は、制御部１４のハードウェア構成の一例を示す図である。図９に示すように、制御部１４は、プロセッサ１４１とメモリ１４２とを含む。制御部１４は、コンピュータの一例である。制御部１４には、例えば、Complex Programmable Logic Device（ＣＰＬＤ）、Large-Scale Integrated circuit（ＬＳＩ）、またはField-Programmable Gate Array（ＦＰＧＡ）等が適用される。

プロセッサ１４１は、メモリ１４２に展開されたプログラムを実行する。実行されるプログラムには、実施形態における処理を行う検出プログラムが適用されてもよい。

メモリ１４２は、例えば、Random Access Memory(RAM)である。メモリ１４２は、コンピュータが読み取り可能であって非一時的な有形の記憶媒体であり、信号搬送波のような一時的な媒体ではない。

図１０は、予め記憶された正常時および異常時の電流値の一例を示す図である。図１０に示す情報は、正常時の検出回路２００の出力電流値と異常時（何れかの抵抗器が通電しない場合）の出力電流値を示している。

抵抗器に通電しない場合における検出回路２００の出力電流値には、抵抗器が設置されている位置（区間）、抵抗器の抵抗値が対応づけられて記憶されている。図１０に示す電流値は、図８に示す回路から、予め算出されてメモリ１４２に記憶されているとする。以下、図１０に示す電流値の算出方法を記載する。

（１）故障が無い場合（正常時）の電流値
各抵抗器が並列接続されているため、合成抵抗値Ｒは以下の式（１−１）のように算出される。
１／Ｒ＝１／１０＋１／２０＋１／３０ ・・・ （１−１）
合成抵抗値Ｒ＝６［Ω］
電圧値は６０Ｖであるため、出力電流値Ａは、以下の式（１−２）のように算出される。
出力電流値Ａ＝６０／６＝１０［Ａ］ ・・・ （１−２）

（２）第１区間の抵抗器１６（１０Ω）が通電しない場合の電流値
合成抵抗値Ｒは、以下の式（１−１）のように算出される。
１／Ｒ＝１／２０＋１／３０ ・・・ （２−１）
合成抵抗値Ｒ＝１２［Ω］
電圧値は６０Ｖであるため、出力電流値Ａは、以下の式（２−２）のように算出される。
出力電流値Ａ＝６０／１２＝５［Ａ］ ・・・ （２−２）

（３）第２区間の抵抗器１８（２０Ω）が通電しない場合の電流値
合成抵抗値Ｒは、以下の式（３−１）のように算出される。
１／Ｒ＝１／１０＋１／３０ ・・・ （３−１）
合成抵抗値Ｒ＝７．５Ω
電圧値は６０Ｖであるため、出力電流値Ａは、以下の式（３−２）のように算出される。
出力電流値Ａ＝６０／７．５＝８［Ａ］ ・・・ （３−２）

（４）第３区間の抵抗器２０（３０Ω）が通電しない場合の電流値
合成抵抗値Ｒは、以下の式（４−１）のように算出される。
１／Ｒ＝１／１０＋１／２０ ・・・ （４−１）
合成抵抗値Ｒ＝６．６Ω
電圧値は６０Ｖであるため、電流値Ａは、以下の式（４−２）のように算出される。
出力電流値＝６０／６．６６＝９［Ａ］

図１０に示す例では、いずれか一つの抵抗器に通電しない場合における出力電流値が記憶されているが、複数の抵抗器に通電しない場合における出力電流値が記憶されていてもよい。

いずれかの抵抗器に通電しない場合における検出回路２００の出力電圧値が予めメモリ１４２に記憶されていてもよい。そして、制御部１４は、電圧測定回路１２から電圧値を取得し、取得した出力電圧値と、予め記憶された抵抗器に通電しない場合における検出回路２００の出力電圧値とを比較し、比較結果に基づいて、通電しない抵抗器を含む区間を特定してもよい。

また、いずれかの抵抗器に通電しない場合における検出回路２００の合成抵抗値が予めメモリ１４２に記憶されていてもよい。合成抵抗値は、上記（２−１）、（３−１）、（４−１）のように算出される。そして、制御部１４は、取得した出力電流値と電源電圧に基づいて現在の合成抵抗値を算出し、算出した合成抵抗値と記憶された合成抵抗値とを比較し、比較結果に基づいて、通電しない抵抗器を含む区間を特定してもよい。

図１１は、実施形態の処理の流れの一例を示すフローチャートである。制御部１４は、電圧測定回路１２から、電圧異常を示す信号を入力したか判定する（ステップＳ１０１）。制御部１４は、電圧異常を示す信号を入力しない場合（ステップＳ１０１でＮＯ）、次の処理に進まない。

制御部１４は、電圧測定回路１２から、電圧異常を示す信号を入力した場合（ステップＳ１０１でＹＥＳ）、電流測定回路１３から出力電流値を取得する（ステップＳ１０２）。電圧異常を示す信号を入力した場合、図６に示すように、信号経路が並列接続された状態となっているため、制御部１４は、並列接続された検出回路２００の出力電流値を取得することとなる。

制御部１４は、取得した出力電流値と、予めメモリ１４２に記憶された、いずれかの抵抗器が通電しない場合の出力電流を示す情報とを比較する（ステップＳ１０３）。図１０に示す情報を用いた場合、制御部１４は、取得した出力電流値と、５［Ａ］、８［Ａ］、または９［Ａ］のそれぞれとを比較する。

制御部１４は、取得した出力電流値と、各抵抗器が通電しない場合のいずれか出力電流との差が所定値（例えば、０．１Ａ）以内であるか判定する（ステップＳ１０４）。ステップＳ１０４でＹＥＳの場合、制御部１４は、通電しない区間を示す情報を制御端末４に出力する（ステップＳ１０５）。ステップＳ１０５において、制御部１４は、通電しない抵抗器を特定する情報、または通電しないピンまたはソケットを特定する情報を出力してもよい。

ステップＳ１０４でＮＯの場合、制御部１４は、異常発生を示す情報を制御端末４に出力する（ステップＳ１０６）。

以上のように、実施形態の検出システムは、信号経路内のどの区間に異常が発生しているかを特定することができる。実施形態の検出システムは、例えば、チェックする区間毎にスイッチ切り替えを行うなどの作業を行わなくても自動で異常が発生した区間を特定することができる。これにより、実施形態の検出システムは、複数のコネクタ（ピン、ソケット）を有する装置の故障箇所の特定を効率化することができる。

また、実施形態の検出システムは、異常が発生した区間を検出する場合に、検出回路が並列接続に切り替わり、後段に接続されたデバイスには電流が流れない。よって、コネクタ破損によりデバイスが故障することを避けることができる。

また、実施形態の検出システムは、異常が発生したことが特定された区間を、表示装置６に表示させる。これにより、ユーザに、異常が発生した区間を示す情報を知らせることができる。

＜第２の実施形態＞
図１２は、第２の実施形態における検出システムの構成の一例を示す図である。第２の実施形態のシステムは、第１の実施形態のシステムを、ＩＣを用いて実装した場合の構成例である。

図１２は、第１基板１０１と第２基板１０２と第３基板とを含む。図１２において第２基板１０２内の構成の図示を省略している。

第１基板１０１は、セレクタＩＣ１１５（ＳＥＬ）、チップ抵抗１１６（Ｒ）、チップ抵抗１１８（Ｒ）、バッファ回路１２１（ＢＵＦ）、デバイス１２２を含む。また、第１基板１０１は、チップ抵抗１１６（Ｒ）、チップ抵抗１１８（Ｒ）以外の複数のチップ抵抗（Ｒ）を含む。

チップ抵抗１１６（Ｒ）およびチップ抵抗１１８（Ｒ）は、第２の実施形態の検出回路に適用される抵抗器であるとする。チップ抵抗１１６（Ｒ）およびチップ抵抗１１８（Ｒ）は、抵抗リード線（金属製の脚）を持たない表面実装パッケージである。

第３基板１０３の構成は、第１基板１０１の構成と同様である。また、第２基板１０２は、第１基板１０１および第３基板１０３と同様の構成を含む。

第１基板１０１、第２基板１０２および第２基板１０３は、図１２に示すようにＩＣを用いた回路構成により、第１の実施形態の第１基板１、第２基板２および第３基板３と同様の処理を実行する。

よって、第２の実施形態の検出システムは、第１の実施形態の検出システムと同様に、複数のコネクタ（ピン、ソケット）を有する装置の故障箇所の特定を効率化することができる。また、第２の実施形態の検出システムは、セレクタにセレクタＩＣを適用し、抵抗にチップ抵抗を適用したため、省スペースな構成となる。

以上の実施形態および変形例に関して、以下の付記をさらに開示する。
（付記１）
複数の第１コネクタを含む第１基板と、前記複数の第１コネクタに接続される複数の第２コネクタを含む第２基板とを備える検出システムであって、
前記検出システムは、
電圧異常が検出された場合に、前記第１コネクタと前記第１コネクタに接続された前記第２コネクタとを含む所定区間の信号経路の接続を直列接続から並列接続に切り替える検出回路と、
前記所定区間の信号経路に設置され、設置された前記所定区間毎に抵抗値が異なる抵抗器と、
並列接続に切り替えられた前記検出回路の出力電流または出力電圧に基づいて、通電しない前記抵抗器を含む前記所定区間を特定する制御部と、
を備えることを特徴とする検出システム。
（付記２）
前記制御部は、前記検出回路の出力電流または出力電圧と、予め記憶された、いずれかの前記抵抗器が通電しない場合の出力電流または出力電圧とを比較し、比較結果に基づいて、通電しない前記抵抗器を含む前記所定区間を特定する
ことを特徴とする付記１記載の検出システム。
（付記３）
前記信号経路の接続が直列接続に切り替えられた前記検出回路の出力電圧に基づいて、電圧異常を検出して所定信号を出力する電圧測定回路を備え、
前記検出回路は、
前記所定信号を入力した場合に入出力端子として選択される第１端子を含む第１セレクタ、および第１抵抗器とが設置された第１区間と、
前記所定信号を入力した場合に入出力端子として選択される第２端子を含む第２セレクタ、および前記第１抵抗器と抵抗値が異なる第２抵抗器が設置され、前記第２区間と直列接続された第２区間とを含み、
前記所定信号が前記第１セレクタおよび前記第２セレクタに出力された場合に、前記第１端子と前記第２端子が通電し、前記第１区間および前記第２区間が直列接続から並列接続に切り替わる
ことを特徴とする付記１または付記２記載の検出システム。
（付記４）
前記制御部は、通電しない前記抵抗器を含む前記所定区間を示す情報を表示装置に表示させる
ことを特徴とする付記１乃至３のうち何れか１項に記載の検出システム。
（付記５）
前記第１セレクタおよび前記第２セレクタは、ＩＣである
ことを特徴とする付記１乃至４のうち何れか１項に記載の検出システム。
（付記６）
前記抵抗器の型は、チップ型である
ことを特徴とする付記１乃至５のうち何れか１項に記載の検出システム。
（付記７）
複数の第１コネクタを含む第１基板と、前記複数の第１コネクタに接続される複数の第２コネクタを含む第２基板と、電圧異常が検出された場合に、前記第１コネクタと前記第１コネクタに接続された前記第２コネクタとを含む所定区間の信号経路の接続を直列接続から並列接続に切り替える検出回路と、前記所定区間の信号経路に設置され、設置された前記所定区間毎に抵抗値が異なる抵抗器とを備える検出システム内のコンピュータに実行させる検出プログラムであって、
並列接続に切り替えられた前記検出回路の出力電流または出力電圧に基づいて、通電しない前記抵抗器を含む前記所定区間を特定する
処理を前記コンピュータに実行させるための検出プログラム。
（付記８）
複数の第１コネクタを含む第１基板と、前記複数の第１コネクタに接続される複数の第２コネクタを含む第２基板と、電圧異常が検出された場合に、前記第１コネクタと前記第１コネクタに接続された前記第２コネクタとを含む所定区間の信号経路の接続を直列接続から並列接続に切り替える検出回路と、前記所定区間の信号経路に設置され、設置された前記所定区間毎に抵抗値が異なる抵抗器とを備える検出システム内のコンピュータが実行する検出方法であって、
前記コンピュータが、
並列接続に切り替えられた前記検出回路の出力電流または出力電圧に基づいて、通電しない前記抵抗器を含む前記所定区間を特定する
処理を実行することを特徴とする検出方法。
＜その他＞
本実施形態は、以上に述べた実施の形態に限定されるものではなく、本実施形態の要旨を逸脱しない範囲内で様々な変更、追加、省略が適用可能である。

１ 第１基板
２ 第２基板
３ 第３基板
４ 制御端末
５ ＬＥＤ
６ 表示装置
１１−１〜１１−ｎ 接続部
１２ 電圧測定回路
１３ 電流測定回路
１４ 制御部
１５，１７，１９ セレクタ
１６，１８，２０ 抵抗器
２１−１〜２１−ｎ 接続部
３１−１ 長ピン
３１−２ 短ピン
４１ ソケット
５１，５２ 信号経路
１４１ プロセッサ
１４２ メモリ
２００ 検出回路

Claims (6)

1. 複数の第１コネクタを含む第１基板と、前記複数の第１コネクタに接続される複数の第２コネクタを含む第２基板とを備える検出システムであって、
   前記検出システムは、
   電圧異常が検出された場合に、前記第１コネクタと前記第１コネクタに接続された前記第２コネクタとを含む所定区間の信号経路の接続を直列接続から並列接続に切り替える検出回路と、
   前記所定区間の信号経路に設置され、設置された前記所定区間毎に抵抗値が異なる抵抗器と、
   並列接続に切り替えられた前記検出回路の出力電流または出力電圧に基づいて、通電しない前記抵抗器を含む前記所定区間を特定する制御部と、
   を備えることを特徴とする検出システム。
2. 前記制御部は、前記検出回路の出力電流または出力電圧と、予め記憶された、いずれかの前記抵抗器が通電しない場合の出力電流または出力電圧とを比較し、比較結果に基づいて、通電しない前記抵抗器を含む前記所定区間を特定する
   ことを特徴とする請求項１記載の検出システム。
3. 前記信号経路の接続が直列接続に切り替えられた前記検出回路の出力電圧に基づいて、電圧異常を検出して所定信号を出力する電圧測定回路を備え、
   前記検出回路は、
   前記所定信号を入力した場合に入出力端子として選択される第１端子を含む第１セレクタ、および第１抵抗器とが設置された第１区間と、
   前記所定信号を入力した場合に入出力端子として選択される第２端子を含む第２セレクタ、および前記第１抵抗器と抵抗値が異なる第２抵抗器が設置され、前記第２区間と直列接続された第２区間とを含み、
   前記所定信号が前記第１セレクタおよび前記第２セレクタに出力された場合に、前記第１端子と前記第２端子が通電し、前記第１区間および前記第２区間が直列接続から並列接続に切り替わる
   ことを特徴とする請求項１または請求項２記載の検出システム。
4. 前記制御部は、通電しない前記抵抗器を含む前記所定区間を示す情報を表示装置に表示させる
   ことを特徴とする請求項１乃至３のうち何れか１項に記載の検出システム。
5. 複数の第１コネクタを含む第１基板と、前記複数の第１コネクタに接続される複数の第２コネクタを含む第２基板と、電圧異常が検出された場合に、前記第１コネクタと前記第１コネクタに接続された前記第２コネクタとを含む所定区間の信号経路の接続を直列接続から並列接続に切り替える検出回路と、前記所定区間の信号経路に設置され、設置された前記所定区間毎に抵抗値が異なる抵抗器とを備える検出システム内のコンピュータに実行させる検出プログラムであって、
   並列接続に切り替えられた前記検出回路の出力電流または出力電圧に基づいて、通電しない前記抵抗器を含む前記所定区間を特定する
   処理を前記コンピュータに実行させるための検出プログラム。
6. 複数の第１コネクタを含む第１基板と、前記複数の第１コネクタに接続される複数の第２コネクタを含む第２基板と、電圧異常が検出された場合に、前記第１コネクタと前記第１コネクタに接続された前記第２コネクタとを含む所定区間の信号経路の接続を直列接続から並列接続に切り替える検出回路と、前記所定区間の信号経路に設置され、設置された前記所定区間毎に抵抗値が異なる抵抗器とを備える検出システム内のコンピュータが実行する検出方法であって、
   前記コンピュータが、
   並列接続に切り替えられた前記検出回路の出力電流または出力電圧に基づいて、通電しない前記抵抗器を含む前記所定区間を特定する
   処理を実行することを特徴とする検出方法。

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