JP2019204888A - 発光モジュール及び制御モジュール - Google Patents
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Abstract
Description
なお、図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚さと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
なお、本願明細書において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
図1は、第1実施形態に係る発光モジュールを例示する模式図である。
図1に示すように、実施形態に係る発光モジュール110は、発光部10、第1〜第3回路21〜23及び制御回路70を含む。
図2の横軸は、第1〜第3状態において第1〜第3半導体発光素子11〜13に供給される電流に対応する。縦軸は、順電流If(a.u.)である。
図3は、第1〜第3光L1〜L3の光束Lfを例示している。図3の横軸は、第1〜第3光L1〜L3のそれぞれの、上記の第1〜第3状態における光束Lfに対応する。図3には、第1光L1の第1状態における光束Y11、第1光L1の第2状態における光束Y12、第2光L2の第1状態における光束Y21、第2光L2の第2状態における光束Y22、第3光L3の第1状態における光束Y31、第3光L3の第2状態における光束Y32、合成光の第1状態における光束Y41、及び、合成光の第2状態における光束Y42の測定結果の例が示されている。図3の縦軸は、光束Lf(a.u.)である。
図4は、第1〜第3光L1〜L3のそれぞれの、上記の第1〜第3状態における色度を示すxy色度図である。図4の横軸は、色度xであり、縦軸は色度yである。図4には、第1光L1の第1状態における色度C11、第1光L1の第2状態における色度C12、第2光L2の第1状態における色度C21、第2光L2の第2状態における色度C22、第3光L3の第1状態における色度C31、第3光L3の第2状態における色度C32、合成光の第1状態における色度C41、及び、合成光の第2状態における色度C42の測定結果の例が示されている。
図5の横軸は、第1〜第3状態における、第1〜第3半導体発光素子11〜13の順電圧Vfに対応する。縦軸は、順電圧Vf(a.u.)である。図5には、第1状態〜第3状態における順電圧Vfの測定結果の例が示されている。この例では、第1〜第3半導体発光素子11〜13が、1つの基板上に設けられている。
図6に示すように、第1半導体発光素子11の第1光L1の色度は、定格の電流の範囲、及び、定格の温度の範囲において、領域R1の範囲内で変化する。第2半導体発光素子12の第2光L2の色度は、定格の電流の範囲、及び、定格の温度の範囲において、領域R2の範囲内で変化する。第3半導体発光素子13の第3光L3の色度は、定格の電流の範囲、及び、定格の温度の範囲において、領域R3の範囲内で変化する。
(設定ステップ)
第1状態(動作初期状態)における、合成光の色度及び光束を定める。第1状態における合成光の色度及び光束は、例えば、ユーザによって定められる仕様値でも良い。第1状態における合成光の色度及び光束は、仕様値に基づいて作製された第1〜第3半導体発光素子11〜13の合成光の、第1状態における色度及び光束の測定値でも良い。例えば、積分球を用いた測定システムにより、色度及び光束が測定できる。
第1〜第3半導体発光素子11〜13に関しての、「現在」の順電流If及び順電圧Vfが測定される。「現在」は、例えば、第2状態(動作継続後状態)に対応する。例えば、制御回路70において、第2状態における、第1〜第3電流I1〜I3、及び、第1〜第3電圧V1〜V3が測定される。第2状態における第1〜第3電流I1〜I3は、図2に例示した、第2状態における電流I12、電流I22及び電流I32に対応する。第2状態における、第1〜第3電圧V1〜V3は、図5に例示した、第2状態における電圧V12、電圧V22及び電圧V32に対応する。
例えば、算出された「現在」(第2状態)の合成光E42の光束Lf(223.3lm)が、第1状態の合成光P41の光束Lf(285lm)に近づくように、第2電流I2(緑用)を変更させたと仮定する。第2電流I2を変更させたと仮定したときの合成光の色度は、目標とする第1状態の合成光P41の色度((0.331,0.334))とは一致しない。そこで、合成光の色度が第1状態の合成光P41の色度に近づくように、第1電流I1及び第3電流I3を制御する。
図9に示すように、まず、発光部10の目標の光束Lf及び目標の色度が設定される(ステップS01)。例えば、第1〜第3半導体発光素子11〜13を含む発光部10の光(合成光)の光束Lf及び色度に関して、仕様値が定められる。発光部10の目標の光束Lf及び目標の色度は、含む発光部10の光の実測値でも良い。ステップS01は、既に説明した「設定ステップ」に対応する。
これらの図は、制御回路70で実施される上記の処理の少なくとも一部で使用される情報を例示している。
第2実施形態は、制御モジュール210(図1参照)に係る。制御モジュール210は、第1〜第3回路21〜23及び制御回路70を含む(図1参照)。
Claims (14)
- 第1光を出射可能な第1半導体発光素子、第2光を出射可能な第2半導体発光素子、及び、第3光を出射可能な第3半導体発光素子を含む発光部と、
前記第1半導体発光素子と電気的に接続された第1回路と、
前記第2半導体発光素子と電気的に接続された第2回路と、
前記第3半導体発光素子と電気的に接続された第3回路と、
前記第1半導体発光素子に流れる第1電流、前記第1半導体発光素子の第1電圧、前記第2半導体発光素子に流れる第2電流、前記第2半導体発光素子の第2電圧、前記第3半導体発光素子に流れる第3電流、及び、前記第3半導体発光素子の第3電圧に基づいて、前記第1〜3電圧の少なくともいずれかの変動に応じて、前記第1〜第3電流の少なくともいずれかを変動させる制御回路と、
を備えた発光モジュール。 - 前記制御回路は、前記第2電圧の低下に応じて、前記第1電流を増大し、前記第3電流を増大させる、請求項1記載の発光モジュール。
- 前記制御回路は、前記第2電圧の前記低下に応じて、前記第2電流を減少させる、請求項2記載の発光モジュール。
- 前記第2光の第2ピーク波長は、前記第1光の第1ピーク波長とは異なり、
前記第3光の第3ピーク波長は、前記第1ピーク波長とは異なり前記第2ピーク波長とは異なる、請求項1〜3のいずれか1つに記載の発光モジュール。 - 前記第2光の第2ピーク波長は、前記第1光の第1ピーク波長よりも長く、
前記第3光の第3ピーク波長は、前記第2ピーク波長よりも長い、請求項1〜3のいずれか1つに記載の発光モジュール。 - 前記発光部が第1温度の第1状態において、前記第1回路は、前記第1半導体発光素子に第4電流を供給し、前記第2回路は、前記第2半導体発光素子に第5電流を供給し、前記第3回路は、前記第3半導体発光素子に第6電流を供給し、
前記発光部が前記第1温度よりも高い第2温度の第2状態において、前記第1回路は、前記第1半導体発光素子に第7電流を供給し、前記第2回路は、前記第2半導体発光素子に第8電流を供給し、前記第3回路は、前記第3半導体発光素子に第9電流を供給し、
前記第1状態において前記発光部から出射される光の第1光束と、前記第2状態において前記発光部から出射される前記光の第2光束と、の差の絶対値は、前記第1光束と、前記第2状態において前記第1半導体発光素子に前記第4電流が供給され前記第2半導体発光素子に前記第5電流が供給され前記第3半導体発光素子に前記第6電流が供給されたときに前記発光部から出射される前記光の第3光束と、の差の絶対値よりも小さい、請求項1〜5のいずれか1つに記載の発光モジュール。 - 前記発光部が第1温度の第1状態において、前記第1回路は、前記第1半導体発光素子に第4電流を供給し、前記第2回路は、前記第2半導体発光素子に第5電流を供給し、前記第3回路は、前記第3半導体発光素子に第6電流を供給し、
前記発光部が前記第1温度よりも高い第2温度の第2状態において、前記第1回路は、前記第1半導体発光素子に第7電流を供給し、前記第2回路は、前記第2半導体発光素子に第8電流を供給し、前記第3回路は、前記第3半導体発光素子に第9電流を供給し、
前記第1状態において前記発光部から出射される光の第1色度と、前記第2状態において前記発光部から出射される前記光の第2色度と、の差の絶対値は、前記第1色度と、前記第2状態において前記第1半導体発光素子に前記第4電流が供給され前記第2半導体発光素子に前記第5電流が供給され前記第3半導体発光素子に前記第6電流が供給されたときに前記発光部から出射される前記光の第3色度と、の差の絶対値よりも小さい、請求項1〜5のいずれか1つに記載の発光モジュール。 - 前記第1状態において前記発光部から出射される前記光の第1光束と、前記第2状態において前記発光部から出射される前記光の第2光束と、の差の絶対値は、前記第1光束と、前記第2状態において前記第1半導体発光素子に前記第4電流が供給され前記第2半導体発光素子に前記第5電流が供給され前記第3半導体発光素子に前記第6電流が供給したときに前記発光部から出射される前記光の第3光束と、の差の絶対値よりも小さい、請求項7記載の発光モジュール。
- 前記制御回路は、処理を実施し、前記処理は、
現在の、前記第1電流、前記第1電圧、前記第2電流、前記第2電圧、前記第3電流、及び前記第3電圧と、予め取得された、前記第1半導体発光素子における前記第1電流及び前記第1電圧と、前記第1半導体発光素子の光束及び色度と、の関係、予め取得された、前記第2半導体発光素子における前記第2電流及び前記第2電圧と、前記第2半導体発光素子の光束及び色度と、の関係、及び、予め取得された、前記第3半導体発光素子における前記第3電流及び前記第3電圧と、前記第3半導体発光素子の光束及び色度と、の関係と、に基づいて、前記現在の前記発光部の光束を算出し、
前記現在の前記第2電圧の測定値と、前記算出された前記現在の前記発光部の前記光束と、目標とする前記発光部の光束と、に基づいて、前記第2電流に関する更新値を算出し、
前記第2電流に関する前記更新値と、前記第2電流に関する前記更新値の時の更新後の前記第2電圧と、に基づいて、更新後の前記発光部の光束及び色度を算出し、
前記更新後の前記発光部の前記光束及び前記色度と、前記目標とする前記発光部の前記光束及び色度と、に基づいて、前記第1電流に関する更新値及び前記第3電流に関する更新値の少なくともいずれかを算出し、
前記第1回路に、前記算出された前記第1電流に関する前記更新値の前記第1電流を前記第1半導体発光素子に供給させ、前記第2回路に、前記算出された前記第2電流に関する前記更新値の前記第2電流を前記第2半導体発光素子に供給させ、前記第3回路に、前記算出された前記第3電流に関する前記更新値の前記第3電流を前記第3半導体発光素子に供給させる、
ことを含む、請求項1〜8のいずれか1つに記載の発光モジュール。 - 前記制御回路は、前記処理を繰り返す、請求項9記載の発光モジュール。
- 第1光を出射可能な第1半導体発光素子と電気的に接続される第1回路と、
第2光を出射可能な第2半導体発光素子と電気的に接続される第2回路と、
第3光を出射可能な第3半導体発光素子と電気的に接続される第3回路と、
前記第1半導体発光素子に流れる第1電流、前記第1半導体発光素子の第1電圧、前記第2半導体発光素子に流れる第2電流、前記第2半導体発光素子の第2電圧、前記第3半導体発光素子に流れる第3電流、及び、前記第3半導体発光素子の第3電圧に基づいて、前記第1〜3電圧の少なくともいずれかの変動に応じて、前記第1〜第3電流の少なくともいずれか変動させる制御回路と、
を備えた制御モジュール。 - 前記制御回路は、前記第2電圧の低下に応じて、前記第1電流を増大し、前記第3電流を増大させる、請求項11記載の制御モジュール。
- 前記制御回路は、前記第2電圧の前記低下に応じて、前記第2電流を減少させる、請求項12記載の制御モジュール。
- 前記第2光の第2ピーク波長は、前記第1光の第1ピーク波長よりも長く、
前記第3光の第3ピーク波長は、前記第2ピーク波長よりも長い、請求項11〜13のいずれか1つに記載の制御モジュール。
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