JP2019184730A - 液晶表示素子用シール剤、エポキシ化合物、エポキシ化合物の製造方法、上下導通材料、及び、液晶表示素子 - Google Patents
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Abstract
Description
滴下工法では、まず、2枚の電極付き基板の一方に、ディスペンスにより長方形状のシールパターンを形成する。次いで、シール剤が未硬化の状態で液晶の微小滴を基板のシール枠内に滴下し、真空下で他方の基板を重ね合わせ、シール部に紫外線等の光を照射して仮硬化を行う。その後、加熱して本硬化を行い、液晶表示素子を作製する。現在この滴下工法が液晶表示素子の製造方法の主流となっている。
このような狭額縁設計に伴い、液晶表示素子において、画素領域からシール剤までの距離が近くなっており、シール剤によって液晶が汚染されることによる表示むらが生じやすくなっているという問題があった。
また、本発明は、芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物である。
以下に本発明を詳述する。
上記硬化性樹脂は、本発明のエポキシ化合物、即ち、芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物を含む。本発明のエポキシ化合物を用いることにより、本発明の液晶表示素子用シール剤は、塗布性、硬化性、及び、低液晶汚染性に優れるものとなる。
なお、本明細書において上記「芳香族性水酸基」は、芳香環に直接結合した水酸基を意味する。上記芳香環は、水素原子がハロゲン原子、炭化水素基、ニトロ基等で置換されていてもよい。
なお、本明細書において上記「水酸基価」は、JIS K0070に準拠して測定される値である。
なお、本明細書において、上記「数平均分子量」は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)で溶媒としてテトラヒドロフランを用いて測定を行い、ポリスチレン換算により求められる値である。GPCによってポリスチレン換算による数平均分子量を測定する際のカラムとしては、例えば、Shodex LF−804(昭和電工社製)等が挙げられる。
なお、本明細書において上記「エポキシ化する」とは、エポキシ基又はエポキシ基を含む基に変換することを意味する。上記エポキシ基を含む基としては、例えば、グリシジルオキシ基等が挙げられる。
上記ノボラック型の芳香族化合物としては、例えば、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ビスフェノールA型ノボラック樹脂等が挙げられる。なかでも、フェノールノボラック樹脂が好ましい。
即ち、まず、1分子中に2つ以上の芳香族性水酸基を有する芳香族化合物、エピクロロヒドリン、テトラ−n−ブチルアンモニウムクロライド、及び、ジメチルスルホキシドを混合する。エピクロロヒドリンの使用量は、1分子中に2つ以上の芳香族性水酸基を有する芳香族化合物の目的とする変性率に対応する量に対して、モル量で1〜10倍とする。テトラ−n−ブチルアンモニウムクロライドの使用量は、エピクロロヒドリンの重量に対して0.0005倍とする。ジメチルスルホキシドの使用量は、1分子中に2つ以上の芳香族性水酸基を有する芳香族化合物、エピクロロヒドリン、及び、テトラ−n−ブチルアンモニウムクロライドの合計と同重量とする。
次いで、得られた混合物を60℃に加温した後、目的とする変性率に対応する量の水酸化ナトリウムを含む50%水酸化ナトリウム水溶液を徐々に滴下し、適下後60℃に保持したまま3時間反応させる。その後、室温に冷却し、反応溶液の9倍の重量の酢酸エチルで希釈し、上記反応溶液の10倍の重量の3%塩化ナトリウム水溶液で3回抽出洗浄を行う。洗浄を行った後の酢酸エチル溶液を硫酸マグネシウムで乾燥した後、エバポレーターによる減圧及び真空乾燥を行うことにより、上記1分子中に2つ以上の芳香族性水酸基を有する芳香族化合物の該芳香族性水酸基の一部をエポキシ化してなるエポキシ化合物を得ることができる。
上記他の硬化性樹脂を含有する場合、上記硬化性樹脂100重量部中における本発明のエポキシ化合物の含有量の好ましい下限は1重量部、好ましい上限は80重量部である。本発明のエポキシ化合物の含有量がこの範囲であることにより、得られる液晶表示素子用シール剤が硬化性及び低液晶汚染性により優れるものとなる。本発明のエポキシ化合物の含有量のより好ましい下限は5重量部、より好ましい上限は70重量部である。
なお、本明細書において、上記「(メタ)アクリル」とは、アクリル又はメタクリルを意味し、上記「(メタ)アクリル化合物」とは、(メタ)アクリロイル基を有する化合物を意味する。
なお、上記「(メタ)アクリロイル」とは、アクリロイル又はメタクリロイルを意味する。また、上記「(メタ)アクリレート」とは、アクリレート又はメタクリレートを意味する。更に、上記「エポキシ(メタ)アクリレート」とは、エポキシ化合物中の全てのエポキシ基を(メタ)アクリル酸と反応させた化合物のことを表す。
上記ビスフェノールF型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、jER806、jER4004(いずれも三菱ケミカル社製)等が挙げられる。
上記ビスフェノールS型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、エピクロンEXA1514(DIC社製)等が挙げられる。
上記2,2’−ジアリルビスフェノールA型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、RE−810NM(日本化薬社製)等が挙げられる。
上記水添ビスフェノール型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、エピクロンEXA7015(DIC社製)等が挙げられる。
上記プロピレンオキシド付加ビスフェノールA型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、EP−4000S(ADEKA社製)等が挙げられる。
上記レゾルシノール型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、EX−201(ナガセケムテックス社製)等が挙げられる。
上記ビフェニル型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、jER YX−4000H(三菱ケミカル社製)等が挙げられる。
上記スルフィド型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、YSLV−50TE(新日鉄住金化学社製)等が挙げられる。
上記ジフェニルエーテル型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、YSLV−80DE(新日鉄住金化学社製)等が挙げられる。
上記ジシクロペンタジエン型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、EP−4088S(ADEKA社製)等が挙げられる。
上記ナフタレン型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、エピクロンHP4032、エピクロンEXA−4700(いずれもDIC社製)等が挙げられる。
上記フェノールノボラック型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、エピクロンN−770(DIC社製)等が挙げられる。
上記オルトクレゾールノボラック型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、エピクロンN−670−EXP−S(DIC社製)等が挙げられる。
上記ジシクロペンタジエンノボラック型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、エピクロンHP7200(DIC社製)等が挙げられる。
上記ビフェニルノボラック型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、NC−3000P(日本化薬社製)等が挙げられる。
上記ナフタレンフェノールノボラック型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、ESN−165S(新日鉄住金化学社製)等が挙げられる。
上記グリシジルアミン型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、jER630(三菱ケミカル社製)、エピクロン430(DIC社製)、TETRAD−X(三菱ガス化学社製)等が挙げられる。
上記アルキルポリオール型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、ZX−1542(新日鉄住金化学社製)、エピクロン726(DIC社製)、エポライト80MFA(共栄社化学社製)、デナコールEX−611(ナガセケムテックス社製)等が挙げられる。
上記ゴム変性型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、YR−450、YR−207(いずれも新日鉄住金化学社製)、エポリードPB(ダイセル社製)等が挙げられる。
上記グリシジルエステル化合物のうち市販されているものとしては、例えば、デナコールEX−147(ナガセケムテックス社製)等が挙げられる。
上記エポキシ化合物のうちその他に市販されているものとしては、例えば、YDC−1312、YSLV−80XY、YSLV−90CR(いずれも新日鉄住金化学社製)、XAC4151(旭化成社製)、jER1031、jER1032(いずれも三菱ケミカル社製)、EXA−7120(DIC社製)、TEPIC(日産化学社製)等が挙げられる。
上記ダイセル・オルネクス社製のエポキシ(メタ)アクリレートとしては、例えば、EBECRYL860、EBECRYL3200、EBECRYL3201、EBECRYL3412、EBECRYL3600、EBECRYL3700、EBECRYL3701、EBECRYL3702、EBECRYL3703、EBECRYL3708、EBECRYL3800、EBECRYL6040、EBECRYL RDX63182等が挙げられる。
上記新中村化学工業社製のエポキシ(メタ)アクリレートとしては、例えば、EA−1010、EA−1020、EA−5323、EA−5520、EA−CHD、EMA−1020等が挙げられる。
上記共栄社化学社製のエポキシ(メタ)アクリレートとしては、例えば、エポキシエステルM−600A、エポキシエステル40EM、エポキシエステル70PA、エポキシエステル200PA、エポキシエステル80MFA、エポキシエステル3002M、エポキシエステル3002A、エポキシエステル1600A、エポキシエステル3000M、エポキシエステル3000A、エポキシエステル200EA、エポキシエステル400EA等が挙げられる。
上記ナガセケムテックス社製のエポキシ(メタ)アクリレートとしては、例えば、デナコールアクリレートDA−141、デナコールアクリレートDA−314、デナコールアクリレートDA−911等が挙げられる。
上記ポリオールとしては、例えば、エチレングリコール、プロピレングリコール、グリセリン、ソルビトール、トリメチロールプロパン、カーボネートジオール、ポリエーテルジオール、ポリエステルジオール、ポリカプロラクトンジオール等が挙げられる。
上記ヒドロキシアルキルモノ(メタ)アクリレートとしては、例えば、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート、4−ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート等が挙げられる。
上記二価のアルコールとしては、例えば、エチレングリコール、プロピレングリコール、1,3−プロパンジオール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオール、ポリエチレングリコール等が挙げられる。
上記三価のアルコールとしては、例えば、トリメチロールエタン、トリメチロールプロパン、グリセリン等が挙げられる。
上記エポキシ(メタ)アクリレートとしては、例えば、ビスフェノールA型エポキシアクリレート等が挙げられる。
上記東亞合成社製のウレタン(メタ)アクリレートとしては、例えば、M−1100、M−1200、M−1210、M−1600等が挙げられる。
上記ダイセル・オルネクス社製のウレタン(メタ)アクリレートとしては、例えば、EBECRYL210、EBECRYL220、EBECRYL230、EBECRYL270、EBECRYL1290、EBECRYL2220、EBECRYL4827、EBECRYL4842、EBECRYL4858、EBECRYL5129、EBECRYL6700、EBECRYL8402、EBECRYL8803、EBECRYL8804、EBECRYL8807、EBECRYL9260等が挙げられる。
上記根上工業社製のウレタン(メタ)アクリレートとしては、例えば、アートレジンUN−330、アートレジンSH−500B、アートレジンUN−1200TPK、アートレジンUN−1255、アートレジンUN−3320HB、アートレジンUN−7100、アートレジンUN−9000A、アートレジンUN−9000H等が挙げられる。
上記新中村化学工業社製のウレタン(メタ)アクリレートとしては、例えば、U−2HA、U−2PHA、U−3HA、U−4HA、U−6H、U−6HA、U−6LPA、U−10H、U−15HA、U−108、U−108A、U−122A、U−122P、U−324A、U−340A、U−340P、U−1084A、U−2061BA、UA−340P、UA−4000、UA−4100、UA−4200、UA−4400、UA−5201P、UA−7100、UA−7200、UA−W2A等が挙げられる。
上記共栄社化学社製のウレタン(メタ)アクリレートとしては、例えば、AH−600、AI−600、AT−600、UA−101I、UA−101T、UA−306H、UA−306I、UA−306T等が挙げられる。
なお、本明細書において上記部分(メタ)アクリル変性エポキシ化合物とは、1分子中に2つ以上のエポキシ基を有するエポキシ化合物の一部のエポキシ基を(メタ)アクリル酸と反応させることによって得られる、エポキシ基と(メタ)アクリロイル基とを有する化合物を意味する。
上記熱硬化剤としては、例えば、有機酸ヒドラジド、イミダゾール誘導体、アミン化合物、多価フェノール系化合物、酸無水物等が挙げられる。なかでも、有機酸ヒドラジドが好適に用いられる。
上記熱硬化剤は、単独で用いられてもよいし、2種以上が組み合わせて用いられてもよい。
上記有機酸ヒドラジドのうち市販されているものとしては、例えば、大塚化学社製の有機酸ヒドラジド、味の素ファインテクノ社製の有機酸ヒドラジド等が挙げられる。
上記大塚化学社製の有機酸ヒドラジドとしては、例えば、SDH、ADH等が挙げられる。
上記味の素ファインテクノ社製の有機酸ヒドラジドとしては、例えば、アミキュアVDH、アミキュアVDH−J、アミキュアUDH、アミキュアUDH−J等が挙げられる。
上記重合開始剤としては、例えば、ラジカル重合開始剤やカチオン重合開始剤等が挙げられる。
上記光ラジカル重合開始剤は、単独で用いられてもよいし、2種以上が組み合わせて用いられてもよい。
上記IGM Resins社製の光ラジカル重合開始剤としては、例えば、Omnirad 184、Omnirad 369、Omnirad 379、Omnirad 651、Omnirad 819、Omnirad 907、Omnirad 2959、Omnirad OXE01、ルシリンTPO等が挙げられる。
上記東京化成工業社製の光ラジカル重合開始剤としては、例えば、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル等が挙げられる。
上記熱ラジカル重合開始剤は、単独で用いられてもよいし、2種以上が組み合わせて用いられてもよい。
なお、本明細書において上記「高分子アゾ化合物」とは、アゾ基を有し、熱によって(メタ)アクリロイル基を硬化させることができるラジカルを生成する、数平均分子量が300以上の化合物を意味する。
上記アゾ基を介してポリアルキレンオキサイド等のユニットが複数結合した構造を有する高分子アゾ化合物としては、ポリエチレンオキサイド構造を有するものが好ましい。
上記高分子アゾ化合物としては、具体的には例えば、4,4’−アゾビス(4−シアノペンタン酸)とポリアルキレングリコールの重縮合物や、4,4’−アゾビス(4−シアノペンタン酸)と末端アミノ基を有するポリジメチルシロキサンの重縮合物等が挙げられる。
上記高分子アゾ開始剤のうち市販されているものとしては、例えば、VPE−0201、VPE−0401、VPE−0601、VPS−0501、VPS−1001(いずれも和光純薬工業社製)等が挙げられる。
また、高分子ではないアゾ開始剤としては、例えば、V−65、V−501(いずれも和光純薬工業社製)等が挙げられる。
上記光カチオン重合開始剤は、光照射によりプロトン酸又はルイス酸を発生するものであれば特に限定されず、イオン性光酸発生タイプのものであってもよいし、非イオン性光酸発生タイプであってもよい。
上記無機充填剤としては、例えば、シリカ、タルク、ガラスビーズ、石綿、石膏、珪藻土、スメクタイト、ベントナイト、モンモリロナイト、セリサイト、活性白土、アルミナ、酸化亜鉛、酸化鉄、酸化マグネシウム、酸化錫、酸化チタン、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、水酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、窒化珪素、硫酸バリウム、珪酸カルシウム等が挙げられる。
上記有機充填剤としては、例えば、ポリエステル微粒子、ポリウレタン微粒子、ビニル重合体微粒子、アクリル重合体微粒子等が挙げられる。
上記充填剤は、単独で用いられてもよいし、2種以上が組み合わせて用いられてもよい。
上記シランカップリング剤は、単独で用いられてもよいし、2種以上が組み合わせて用いられてもよい。
上記チタンブラックは、1μmあたりの光学濃度(OD値)が、3以上であることが好ましく、4以上であることがより好ましい。上記チタンブラックの遮光性は高ければ高いほどよく、上記チタンブラックのOD値に好ましい上限は特にないが、通常は5以下となる。
また、遮光剤として上記チタンブラックを配合した本発明の液晶表示素子用シール剤を用いて製造した液晶表示素子は、充分な遮光性を有するため、光の漏れ出しがなく高いコントラストを有し、優れた画像表示品質を有する液晶表示素子を実現することができる。
上記三菱マテリアル社製のチタンブラックとしては、例えば、12S、13M、13M−C、13R−N、14M−C等が挙げられる。
上記赤穂化成社製のチタンブラックとしては、例えば、ティラックD等が挙げられる。
また、上記チタンブラックの体積抵抗の好ましい下限は0.5Ω・cm、好ましい上限は3Ω・cmであり、より好ましい下限は1Ω・cm、より好ましい上限は2.5Ω・cmである。
なお、上記遮光剤の一次粒子径は、NICOMP 380ZLS(PARTICLE SIZING SYSTEMS社製)を用いて、上記遮光剤を溶媒(水、有機溶媒等)に分散させて測定することができる。
液晶滴下工法によって本発明の液晶表示素子を製造する方法としては、例えば、以下の方法等が挙げられる。
まず、基板に本発明の液晶表示素子用シール剤をスクリーン印刷、ディスペンサー塗布等により塗布し、枠状のシールパターンを形成する工程を行う。次いで、本発明の液晶表示素子用シール剤等が未硬化の状態で液晶の微小滴をシールパターンの枠内全面に滴下塗布し、すぐに別の基板を重ね合わせる工程を行う。その後、シール剤を加熱して硬化させる工程を行う方法により、液晶表示素子を得ることができる。また、シール剤を加熱して硬化させる工程の前にシールパターン部分に紫外線等の光を照射してシール剤を仮硬化させる工程を行ってもよい。
ノボラック型フェノール樹脂(明和化成社製、「DL−75」)53.5重量部、エピクロロヒドリン74.0重量部、テトラ−n−ブチルアンモニウムクロライド0.030重量部、及び、ジメチルスルホキシド127.53重量部を混合した。次いで、得られた混合物を60℃に加温した後、50%水酸化ナトリウム水溶液20.0重量部を徐々に滴下し(芳香族性水酸基:エピクロロヒドリン:水酸化ナトリウム=1:1.6:0.5(モル比))、適下後60℃に保持したまま3時間反応させた。その後、室温に冷却し、上記反応液を2476重量部の酢酸エチルで希釈し、2751重量部の3%塩化ナトリウム水溶液で3回抽出洗浄を行った。洗浄を行った後の酢酸エチル溶液を硫酸マグネシウムで乾燥した後、エバポレーターによる減圧及び真空乾燥を行うことにより、芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Aを得た。
1H−NMR、GPC、及び、FT−IR分析により、該芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Aは、上記式(1−1)で表される構造単位及び上記式(1−2)で表される構造単位を有することを確認した。エポキシ基の変性率は49%であった。また、JIS K0070に準拠して測定した該芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Aの水酸基価は265であった。更に、GPCによって測定した該芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Aの数平均分子量は625であった。
50%水酸化ナトリウム水溶液の添加量を12.0重量部に変更したこと以外は上記「(芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Aの作製)」と同様にして芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Bを得た。
1H−NMR、GPC、及び、FT−IR分析により、該芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Bは、上記式(1−1)で表される構造単位及び上記式(1−2)で表される構造単位を有することを確認した。エポキシ基の変性率は29%であった。また、JIS K0070に準拠して測定した該芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Bの水酸基価は182であった。更に、GPCによって測定した該芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Bの数平均分子量は564であった。
50%水酸化ナトリウム水溶液の添加量を34.0重量部に変更したこと以外は上記「(芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Aの作製)」と同様にして芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Cを得た。
1H−NMR、GPC、及び、FT−IR分析により、該芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Cは、上記式(1−1)で表される構造単位及び上記式(1−2)で表される構造単位を有することを確認した。エポキシ基の変性率は83%であった。また、JIS K0070に準拠して測定した該芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Cの水酸基価は915であった。更に、GPCによって測定した該芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Cの数平均分子量は690であった。
50%水酸化ナトリウム水溶液の添加量を48.0重量部に変更したこと以外は上記「(芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物Aの作製)」と同様にしてフェノールノボラック型エポキシ樹脂を得た。
1H−NMR、GPC、及び、FT−IR分析により、該フェノールノボラック型エポキシ樹脂は、上記式(1−1)で表される構造単位を有し、上記式(1−2)で表される構造単位を有さないことを確認した。また、GPCによって測定した該フェノールノボラック型エポキシ樹脂の数平均分子量は706であった。
4,4’−ビフェノール46.5重量部、トリフェニルホスフィン1.2重量部、トルエン500重量部を混合した。得られた混合溶液を120℃に加熱した後、テトラメチルビフェノール型エポキシ樹脂(三菱ケミカル社製、「YX4000H」)188重量部を添加し、120℃で6時間反応させた。その後、トルエンを留去することにより、アルコール性水酸基を有するビフェニル型エポキシ化合物Dを得た。
1H−NMR、GPC、及び、FT−IR分析により、該ビフェニル型エポキシ化合物Dは、芳香族性水酸基を有さないことを確認した。エポキシ基の変性率は49%であった。また、JIS K0070に準拠して測定した該ビフェニル型エポキシ化合物Dの水酸基価は335であった。更に、GPCによって測定した該ビフェニル型エポキシ化合物Dの数平均分子量は670であった。
表1に記載された配合比に従い、各材料を、遊星式撹拌装置(シンキー社製、「あわとり練太郎」)にて撹拌した後、セラミック3本ロールにて均一に混合して実施例1〜5、比較例1〜3の液晶表示素子用シール剤を得た。
なお、芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物A〜Cは、原料や副生成物を含むものであるため、硬化性樹脂100重量部中における芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物の含有量を表1に記載した。
実施例及び比較例で得られた各液晶表示素子用シール剤について以下の評価を行った。結果を表1に示した。
実施例及び比較例で得られた各液晶表示素子用シール剤について、E型粘度計(ブルックフィールド社製、「DV−III」)を用いて25℃、1rpmの条件における粘度を測定した。
ディスペンサー(武蔵エンジニアリング社製、「SHOTMASTER300」)を用いて、実施例及び比較例で得られた各液晶表示素子用シール剤をガラス基板上に塗布した。ディスペンスノズルを400μm、ノズルギャップを30μm、塗出圧を300kPaに固定して塗布したとき、かすれやダレがなく塗布できた場合を「○」、塗布切れはないがかすれやダレが生じた場合を「△」、塗布切れが生じたり、全く塗布できなかったりした場合を「×」として塗布性を評価した。
実施例及び比較例で得られた各液晶表示素子用シール剤を、ガラス基板上に約5μm塗布した後、同サイズのガラス基板を重ね合わせ、試験片を作製した。次いで、得られた試験片にメタルハライドランプにて3000mJ/cm2の紫外線を照射した後、更に120℃で60分加熱することによってシール剤を硬化させた。赤外分光装置(BIORAD社製、「FTS3000」)を用い、光照射後のアクリロイル基由来のピーク面積の変化率(減少率)と熱硬化後におけるエポキシ基由来のピーク面積の変化量(減少率)を測定した。
光照射後のアクリロイル基由来のピーク面積の減少率が95%以上であった場合を「○」、90%以上95%未満であった場合を「△」、90%未満であった場合を「×」として硬化性を評価した。また、熱硬化後のエポキシ基由来のピーク面積の減少率が70%以上であった場合を「○」、60%以上70%未満であった場合を「△」、60%未満であった場合を「×」として硬化性を評価した。
実施例及び比較例で得られた各液晶表示素子用シール剤に、シリカスペーサー(積水化学工業社製、「SI−H055」)を1重量%配合し、2枚のITO薄膜付きガラス基板(30×40mm)のうちの一方に微小滴下した。これにもう一方のITO薄膜付きガラス基板を十字状に貼り合わせ、メタルハライドランプにて3000mJ/cm2の紫外線を照射した後、120℃で60分加熱することによって接着性試験片を得た。得られた接着性試験片について、上下に配したチャックにて引っ張り試験(5mm/sec)を行った。得られた測定値(kgf)をシール塗布断面積(cm2)で除した値が、2.8kgf/cm2以上であった場合を「○」、2.2kgf/cm2以上2.8kgf/cm2未満であった場合を「△」、2.2kgf/cm2未満であった場合を「×」として接着性を評価した。
実施例及び比較例で得られた各液晶表示素子用シール剤に、シリカスペーサー(積水化学工業社製、「SI−H055」)を1重量%配合し、脱泡処理をしてシール剤中の泡を取り除いた後、ディスペンス用のシリンジ(武蔵エンジニアリング社製、「PSY−10E」)に充填し、再び脱泡処理を行った。次いで、ディスペンサー(武蔵エンジニアリング社製、「SHOTMASTER300」)を用いて、2枚のITO薄膜付きガラス基板のうちの一方に枠を描く様にシール剤を塗布した。続いて、TN液晶(チッソ社製、「JC−5001LA」)の微小滴を液晶滴下装置にてシール剤の枠内に滴下塗布し、他方のITO薄膜付きガラス基板を重ね、真空貼り合わせ装置にて5Paの減圧下にて2枚の基板を貼り合わせた。貼り合わせた後のセルにメタルハライドランプにて3000mJ/cm2の紫外線を照射した後、120℃で60分加熱することによってシール剤を硬化させ、液晶表示素子を得た。得られた液晶表示素子を80℃、90%RHの環境下にて72時間保管した後、AC3.5Vの電圧駆動をさせ、表示むら(色むら)の有無を目視で観察した。表示むらが全く見られなかった場合を「○」、液晶表示素子の周辺部に表示むらがあった場合を「△」、表示むらが液晶表示素子の周辺部のみではなく、中央部まで広がっていた場合を「×」として低液晶汚染性を評価した。
Claims (13)
- 硬化性樹脂を含有する液晶表示素子用シール剤であって、
前記硬化性樹脂は、芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物を含む
ことを特徴とする液晶表示素子用シール剤。 - 前記芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物は、水酸基価が120以上1200以下である請求項1又は2記載の液晶表示素子用シール剤。
- 前記芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物は、数平均分子量が200以上3000以下である請求項1、2又は3記載の液晶表示素子用シール剤。
- 前記硬化性樹脂100重量部中における前記芳香族性水酸基を有するエポキシ化合物の含有量が1重量部以上80重量部以下である請求項1、2、3又は4記載の液晶表示素子用シール剤。
- 芳香族性水酸基を有することを特徴とするエポキシ化合物。
- 水酸基価が120以上1200以下である請求項6又は7記載のエポキシ化合物。
- 数平均分子量が200以上3000以下である請求項6、7又は8記載のエポキシ化合物。
- 請求項6、7、8又は9記載のエポキシ化合物を製造する方法であって、
1分子中に2つ以上の芳香族性水酸基を有する芳香族化合物の該芳香族性水酸基の一部をエポキシ化する工程を有するエポキシ化合物の製造方法。 - 前記1分子中に2つ以上の芳香族性水酸基を有する芳香族化合物は、ノボラック型の芳香族化合物である請求項10記載のエポキシ化合物の製造方法。
- 請求項1、2、3、4又は5記載の液晶表示素子用シール剤と導電性微粒子とを含有する上下導通材料。
- 請求項1、2、3、4若しくは5記載の液晶表示素子用シール剤又は請求項12記載の上下導通材料を用いてなる液晶表示素子。
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