JP2019184276A - 検査装置、および、検査方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】タッチパネルの性能検査を安定的に行う。【解決手段】タッチパネル(1)の透明膜(11)の抵抗値の検査装置(4)で、タッチパネルは、透明膜、CFガラス(12)、TPセンサ(13)が積層され、TPセンサに第1パルス電圧を印加し、タッチパネルの背景容量を取得する積分回路(IR)と、透明膜をグランド、または、第1パルス電圧と逆位相の第2パルス電圧の発生源に接続するスイッチ(SW2)と、を備えている。【選択図】図1
Description
本発明は、検査装置、および、検査方法に関する。
現状、フルインセル方式のタッチパネルのパネル表面には、高抵抗の透明膜が成膜されている。透明膜の抵抗値が本来の抵抗値よりも小さくなると、タッチ信号が低下して、タッチ性能が低下する。
タッチパネルのタッチ性能の低下状態を検査する方法としては、パネル表面上に検査用導体をタッチさせ、当該表面内をなぞった場合の信号値が所定値以上になるか否かを確認する方法が考えられる、しかしながら、この方法の場合、検査工数の増加、パネル表面上への検査用導体の接触ばらつきが発生しやすいので、検査が不安定になり、正確な検査が困難である。また、検査用導体を接触させることにより、パネル表面に傷が付く等の懸念がある。
なお、特許文献1には、タッチパネルの静電容量を測定して、タッチパネルの良否を判定する検査装置が開示されている。
図4は、従来技術に係るタッチパネル1aの構成を示す図である。タッチパネル1aは、透明膜11、CF(Color Filter)ガラス12、TP(Touch Panel)センサ13、液晶層14、および、TFT(Thin Film Transistor)ガラス15が積層されて構成されている。透明膜11は、IC6のグランド7と、銀ペースト8により接続される。そして、検査用導体9を、タッチパネル1aの表面である透明膜11に接触させることにより、タッチ性能の低下状態を検査する。
上記の、タッチパネルの性能検査が不安定になる問題は、物理的な手法にて検査を行うことに起因する。逆に言えば、物理的な方法による検査でなければ、上記の問題が発生することはない。
本発明の一態様は、タッチパネルの性能検査を安定的に行うことを目的とする。
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る検査装置は、タッチパネルの透明膜の抵抗値を検査する検査装置であって、上記タッチパネルが、少なくとも、上記透明膜と、誘電体と、センサとが積層されて構成され、上記センサに第1パルス電圧を印加し、上記タッチパネルの背景容量を取得する背景容量取得部と、上記透明膜をグランド、または、第1パルス電圧とは逆位相の第2パルス電圧の発生源の何れか一方に接続する切替部と、を備えている。
また、上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る検査方法は、タッチパネルの透明膜の抵抗値を検査する検査方法であって、上記タッチパネルは、少なくとも、上記透明膜と、誘電体と、センサとが積層されて構成され、上記透明膜をグランドに接続した状態で、上記センサに第1パルス電圧を印加し、上記タッチパネルの第1背景容量を取得する第1測定工程と、上記透明膜をグランドに接続せず、当該透明膜に第1パルス電圧とは逆位相の第2パルス電圧を印加した状態で、上記センサに第1パルス電圧を印加し、上記タッチパネルの第2背景容量を取得する第2測定工程と、第1背景容量と、第2背景容量との差に基づいて、上記透明膜の抵抗値を検査する検査工程と、を含む。
本発明の一態様によれば、タッチパネルの性能検査を安定的に行うことができる。
〔実施形態1〕
以下、本発明の実施形態1について、詳細に説明する。
以下、本発明の実施形態1について、詳細に説明する。
図1は、本実施形態に係るタッチパネル1およびその周辺の回路構成を示す図である。図1(a)は、第1測定工程に係る回路構成を示す。図1(b)は、第2測定工程に係る回路構成を示す。図1(c)は、第1パルス電圧Vin1および第2パルス電圧Vin2の波形イメージを示す。
タッチパネル1の透明膜11の抵抗値を検査する検査方法において、タッチパネル1は、少なくとも、透明膜11と、CFガラス(誘電体)12と、TPセンサ(センサ)13とが積層されて構成され、透明膜11をグランドに接続した状態で、TPセンサ13に第1パルス電圧を印加し、タッチパネル1の第1背景容量を取得する第1測定工程と、透明膜11をグランドに接続せず、透明膜11に第1パルス電圧とは逆位相の第2パルス電圧を印加した状態で、TPセンサ13に第1パルス電圧を印加し、タッチパネル1の第2背景容量を取得する第2測定工程と、第1背景容量と、第2背景容量との差に基づいて、透明膜11の抵抗値を検査する検査工程と、を含む。
ここで、タッチパネル1の背景容量は、透明膜11とTPセンサ13との容量、および、TPセンサ13と液晶層14との容量が合計された容量を示す。
図1(a)、(b)に示すように、タッチパネル1では、キャパシタCpa、キャパシタCito、および、抵抗Ritoが直列に接続され、キャパシタCpaと、キャパシタCitoとの間に抵抗Rpaが接続される。キャパシタCpaは、パネル負荷容量であり、図2における液晶層14の負荷容量である。キャパシタCitoは、図2における、透明膜11と、TPセンサ13との間の負荷容量であり、CFガラス12の負荷容量である。抵抗Ritoは、図2における透明膜11の抵抗値である。抵抗Rpaは、パネル内センサ間抵抗値であり、図2における、コンタクトピンCP1と、TPセンサ13との間の抵抗値である。
スイッチSW1は、タッチパネル1の抵抗Rpaと、第1パルス電圧Vin1の発生回路または積分回路IRとを接続する。スイッチSW1は、A側に切り替ると、タッチパネル1の抵抗Rpaと、第1パルス電圧Vin1の発生回路とを接続する。スイッチSW1は、B側に切り替ると、タッチパネル1の抵抗Rpaと、積分回路IRとを接続する。
積分回路IRは、キャパシタCを有し、タッチパネル1が有する電荷量に応じた電圧を出力する。
スイッチSW2は、タッチパネル1の抵抗Ritoと、グランドまたは第2パルス電圧Vin2の発生回路とを接続する。スイッチSW2は、C側に切り替ると、タッチパネル1の抵抗Ritoと、グランドとを接続する。スイッチSW2は、D側に切り替ると、タッチパネル1の抵抗Ritoと、第2パルス電圧Vin2の発生回路とを接続する。
図1(c)に示すように、第1パルス電圧Vin1の波形と、第2パルス電圧Vin2の波形とは、相互に逆位相の関係にある。
(各工程の手順)
タッチパネル1の性能検査の工程は、第1測定工程(ステップS1、S2)、第2測定工程(ステップS3、S4)、および、検査工程(ステップS5)を含んでいる。
タッチパネル1の性能検査の工程は、第1測定工程(ステップS1、S2)、第2測定工程(ステップS3、S4)、および、検査工程(ステップS5)を含んでいる。
第1測定工程の手順を、以下に示す。
(ステップS1)
図1(a)に示すように、検査用機器は、スイッチSW1をA側に切り替え、スイッチSW2をC側に切り替える。すなわち、タッチパネル1の抵抗Rpaが第1パルス電圧Vin1の発生回路に接続され、タッチパネル1の抵抗Ritoがグランドに接続される。
図1(a)に示すように、検査用機器は、スイッチSW1をA側に切り替え、スイッチSW2をC側に切り替える。すなわち、タッチパネル1の抵抗Rpaが第1パルス電圧Vin1の発生回路に接続され、タッチパネル1の抵抗Ritoがグランドに接続される。
これにより、第1パルス電圧Vin1がタッチパネル1に印加されて、キャパシタCpa、および、キャパシタCitoが充電される。
(ステップS2)
キャパシタCpa、および、キャパシタCitoの充電が終了した場合に、検査用機器は、スイッチSW1をB側に切り替える。すなわち、タッチパネル1の抵抗Rpaが積分回路IRに接続される。
キャパシタCpa、および、キャパシタCitoの充電が終了した場合に、検査用機器は、スイッチSW1をB側に切り替える。すなわち、タッチパネル1の抵抗Rpaが積分回路IRに接続される。
これにより、キャパシタCpa、および、キャパシタCitoから放電が行われ、積分回路IRは、キャパシタCpa、キャパシタCito、および、キャパシタCに応じた電圧Vout1を出力する。
第2測定工程の手順を、以下に示す。
(ステップS3)
図1(b)に示すように、検査用機器は、スイッチSW1をA側に切り替え、スイッチSW2をD側に切り替える。すなわち、タッチパネル1の抵抗Rpaが第1パルス電圧Vin1の発生回路に接続され、タッチパネル1の抵抗Ritoが第2パルス電圧Vin2の発生回路に接続される。
図1(b)に示すように、検査用機器は、スイッチSW1をA側に切り替え、スイッチSW2をD側に切り替える。すなわち、タッチパネル1の抵抗Rpaが第1パルス電圧Vin1の発生回路に接続され、タッチパネル1の抵抗Ritoが第2パルス電圧Vin2の発生回路に接続される。
これにより、第1パルス電圧Vin1、および、第2パルス電圧Vin2がタッチパネル1に印加されて、キャパシタCpa、および、キャパシタCitoが充電される。
(ステップS4)
キャパシタCpa、および、キャパシタCitoの充電は終了した場合に、検査用機器は、スイッチSW1をB側に切り替える。すなわち、タッチパネル1の抵抗Rpaが積分回路IRに接続される。
キャパシタCpa、および、キャパシタCitoの充電は終了した場合に、検査用機器は、スイッチSW1をB側に切り替える。すなわち、タッチパネル1の抵抗Rpaが積分回路IRに接続される。
これにより、キャパシタCpa、および、キャパシタCitoから放電が行われ、積分回路IRは、キャパシタCpa、キャパシタCito、および、キャパシタCに応じた電圧Vout2を出力する。
検査工程の手順を、以下に示す。
(ステップS5)
出力電圧Vout1と、出力電圧Vout2との差分が所定値以上である場合、透明膜11の抵抗値が小さいと判定する。
出力電圧Vout1と、出力電圧Vout2との差分が所定値以上である場合、透明膜11の抵抗値が小さいと判定する。
透明膜11の抵抗値Ritoが所定値以上の場合、上記差分は、以下のようになる。
Vout1=V×Cpa/C
Vout2=V×Cpa/C
差分は、Vout2−Vout1=0となる。これは、抵抗値Ritoが大きいので、タッチパネル1に第2パルス電圧Vin2を印加しても、キャパシタCitoに充電されないので、出力電圧Vout1と、出力電圧Vout2とが等しくなるためである。
Vout2=V×Cpa/C
差分は、Vout2−Vout1=0となる。これは、抵抗値Ritoが大きいので、タッチパネル1に第2パルス電圧Vin2を印加しても、キャパシタCitoに充電されないので、出力電圧Vout1と、出力電圧Vout2とが等しくなるためである。
一方、透明膜11の抵抗値Ritoが所定値よりも小さい場合、上記差分は、以下のようになる。
Vout1=V×(Cpa+Cito)/C
Vout2=V×(Cpa+2×Cito)/C
差分は、Vout2−Vout1=V×Cito/Cとなる。これは、抵抗値Ritoが小さいので、タッチパネル1に第2パルス電圧Vin2を印加すると、キャパシタCitoに充電されるので、その分だけ、出力電圧Vout2が出力電圧Vout1よりも大きくなるためである。
Vout2=V×(Cpa+2×Cito)/C
差分は、Vout2−Vout1=V×Cito/Cとなる。これは、抵抗値Ritoが小さいので、タッチパネル1に第2パルス電圧Vin2を印加すると、キャパシタCitoに充電されるので、その分だけ、出力電圧Vout2が出力電圧Vout1よりも大きくなるためである。
本実施形態によれば、透明膜11の抵抗値Ritoが小さい場合、すなわち、タッチパネルの性能低下を検出することができる。そして、物理的手法ではなく、電気的手法を用いることにより、検査の再現性向上を図り、パネル表面への傷等のダメージを防止しながら、タッチパネルの性能検査を安定的に行うができる。
〔実施形態2〕
本発明の実施形態2について、以下に説明する。なお、説明の便宜上、実施形態1にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。
本発明の実施形態2について、以下に説明する。なお、説明の便宜上、実施形態1にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。
タッチパネル1の性能検査は、実装前のパネル状態で実施するのが望ましい。製品の形態(モジュール)になってから性能検査を実施した場合には、透明膜11の抵抗値が小さいときに、実装部材が無駄になる可能性がある。
図2は、本実施形態に係るタッチパネル1および検査用機器を示す図である。タッチパネル1は、透明膜11、CFガラス12、TPセンサ13、液晶層14、および、TFTガラス15が積層されて構成されている。
タッチパネル1は、透明膜11の表面と、液晶層14の右端部表面とに端子(図示せず)を有する。図2に示すように、検査回路2は、コンタクトピンCP1を介してタッチパネル1の液晶層14の端子に接続され、また、コンタクトピンCP2を介してタッチパネル1の透明膜11の端子に接続される。検査回路2は、PC(Personal Computer)3に接続されており、PC3上のプログラムにより制御されて、タッチパネル1の性能検査の処理を行う。
検査回路2は、タッチパネル1の性能検査の前にTPセンサ13自体を検査する処理を別途行って、TPセンサ13が正常であることを確認した後、当該性能検査の処理を行う。
なお、検査回路2は、図1に示す、スイッチSW1、SW2、積分回路IR、第1パルス電圧Vin1の発生回路、および、第2パルス電圧Vin2の発生回路を備えている。また、液晶層14の端子は、図1に示す抵抗Rpaの左側端子に対応する。透明膜11の端子は、図1に示す抵抗Ritoの右側端子に対応する。
〔実施形態3〕
本発明の実施形態3について、以下に説明する。なお、説明の便宜上、実施形態1、2にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。
本発明の実施形態3について、以下に説明する。なお、説明の便宜上、実施形態1、2にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。
実施形態2では、検査用に専用のPC3を使用した例を示したが、本実施形態では、PCを使用しない例を示す。
タッチパネル1の透明膜の抵抗値を検査する検査装置4において、タッチパネル1は、少なくとも、透明膜11と、CFガラス12と、TPセンサ13とが積層されて構成され、TPセンサ13に第1パルス電圧Vin1を印加し、タッチパネル1の背景容量を取得する背景容量取得部と、透明膜11をグランド、または、第1パルス電圧とは逆位相の第2パルス電圧Vin2の発生回路(発生源)の何れか一方に接続するスイッチ(切替部)SW2と、を備えている。なお、背景容量取得部は、スイッチSW1、第1パルス電圧Vin1の発生回路、および、積分回路IRを含む。
図3は、本実施形態に係るタッチパネル1および検査用機器を示す図である。図3に示すように、検査装置4は、コンタクトピンCP1を介してタッチパネル1の液晶層14の端子に接続され、また、コンタクトピンCP2を介してタッチパネル1の透明膜11の端子に接続される。
検査装置4は、検査回路、マイコン、および、簡易表示装置(図示せず)を備えている。
上記によれば、PCを使用しないので、タッチパネル1の性能検査のための環境を安価に構築することができる。
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成することができる。
〔態様1〕
タッチパネルの透明膜の抵抗値を検査する検査装置であって、上記タッチパネルは、少なくとも、上記透明膜と、誘電体と、センサとが積層されて構成され、上記センサに第1パルス電圧を印加し、上記タッチパネルの背景容量を取得する背景容量取得部と、上記透明膜をグランド、または、第1パルス電圧とは逆位相の第2パルス電圧の発生源の何れか一方に接続する切替部と、を備えている検査装置。
〔態様2〕
タッチパネルの透明膜の抵抗値を検査する検査方法であって、上記タッチパネルは、少なくとも、上記透明膜と、誘電体と、センサとが積層されて構成され、上記透明膜をグランドに接続した状態で、上記センサに第1パルス電圧を印加し、上記タッチパネルの第1背景容量を取得する第1測定工程と、上記透明膜をグランドに接続せず、当該透明膜に第1パルス電圧とは逆位相の第2パルス電圧を印加した状態で、上記センサに第1パルス電圧を印加し、上記タッチパネルの第2背景容量を取得する第2測定工程と、第1背景容量と、第2背景容量との差に基づいて、上記透明膜の抵抗値を検査する検査工程と、を含む検査方法。
〔態様1〕
タッチパネルの透明膜の抵抗値を検査する検査装置であって、上記タッチパネルは、少なくとも、上記透明膜と、誘電体と、センサとが積層されて構成され、上記センサに第1パルス電圧を印加し、上記タッチパネルの背景容量を取得する背景容量取得部と、上記透明膜をグランド、または、第1パルス電圧とは逆位相の第2パルス電圧の発生源の何れか一方に接続する切替部と、を備えている検査装置。
〔態様2〕
タッチパネルの透明膜の抵抗値を検査する検査方法であって、上記タッチパネルは、少なくとも、上記透明膜と、誘電体と、センサとが積層されて構成され、上記透明膜をグランドに接続した状態で、上記センサに第1パルス電圧を印加し、上記タッチパネルの第1背景容量を取得する第1測定工程と、上記透明膜をグランドに接続せず、当該透明膜に第1パルス電圧とは逆位相の第2パルス電圧を印加した状態で、上記センサに第1パルス電圧を印加し、上記タッチパネルの第2背景容量を取得する第2測定工程と、第1背景容量と、第2背景容量との差に基づいて、上記透明膜の抵抗値を検査する検査工程と、を含む検査方法。
1 タッチパネル
4 検査装置
11 透明膜
12 CFガラス(誘電体)
13 TPセンサ(センサ)
IR 積分回路(背景容量取得部)
SW1 スイッチ(背景容量取得部)
SW2 スイッチ(切替部)
4 検査装置
11 透明膜
12 CFガラス(誘電体)
13 TPセンサ(センサ)
IR 積分回路(背景容量取得部)
SW1 スイッチ(背景容量取得部)
SW2 スイッチ(切替部)
Claims (2)
- タッチパネルの透明膜の抵抗値を検査する検査装置であって、
上記タッチパネルは、少なくとも、上記透明膜と、誘電体と、センサとが積層されて構成され、
上記センサに第1パルス電圧を印加し、上記タッチパネルの背景容量を取得する背景容量取得部と、
上記透明膜をグランド、または、第1パルス電圧とは逆位相の第2パルス電圧の発生源の何れか一方に接続する切替部と、
を備えている検査装置。 - タッチパネルの透明膜の抵抗値を検査する検査方法であって、
上記タッチパネルは、少なくとも、上記透明膜と、誘電体と、センサとが積層されて構成され、
上記透明膜をグランドに接続した状態で、上記センサに第1パルス電圧を印加し、上記タッチパネルの第1背景容量を取得する第1測定工程と、
上記透明膜をグランドに接続せず、当該透明膜に第1パルス電圧とは逆位相の第2パルス電圧を印加した状態で、上記センサに第1パルス電圧を印加し、上記タッチパネルの第2背景容量を取得する第2測定工程と、
第1背景容量と、第2背景容量との差に基づいて、上記透明膜の抵抗値を検査する検査工程と、
を含む検査方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
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