CN110346642A - 检查装置及检查方法 - Google Patents

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Abstract

一种检查装置及检查方法，稳定地进行触摸面板的性能检查。一种触摸面板(1)的透明膜(11)的电阻值的检查装置(4)，触摸面板层叠有透明膜、CF玻璃(12)以及TP传感器(13)，检查装置(4)具备：积分电路(IR)，其对TP传感器施加第1脉冲电压，取得触摸面板的背景电容；以及开关(SW2)，其将透明膜连接到接地部或者相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压的产生源。

Description

检查装置及检查方法
技术领域
本发明涉及检查装置及检查方法。
背景技术
目前，在全内嵌(full in-cell)方式的触摸面板的面板表面形成有高电阻的透明膜。如果透明膜的电阻值变得小于本来的电阻值，则触摸信号下降，触摸性能下降。
作为检查触摸面板的触摸性能的下降状态的方法，可想到如下方法：使检查用导体触摸面板表面，确认在该表面内进行了描画的情况下的信号值是否变为规定值以上。然而，在该方法的情况下，容易产生检查工时的增加、检查用导体对面板表面上的接触偏差，因此检查变得不稳定，难以准确地检查。另外，因为使检查用导体接触面板表面，所以担心给面板表面带来损伤等。
此外，在专利文献1中公开了测量触摸面板的静电电容来判断触摸面板的好坏的检查装置。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：特开2015-207078号公报(2015年11月19日公开)
发明内容
发明要解决的问题
图4是示出现有技术的触摸面板1a的构成的图。触摸面板1a是将透明膜11、CF(Color Filter；彩色滤光片)玻璃12、TP(Touch Panel；触摸面板)传感器13、液晶层14以及TFT(Thin Film Transistor；薄膜晶体管)玻璃15层叠而构成的。透明膜11通过银膏8与IC6的接地部7连接。并且，通过使检查用导体9接触作为触摸面板1a的表面的透明膜11，从而检查触摸性能的下降状态。
上述的触摸面板的性能检查变得不稳定的问题是由于利用物理方法进行检查所导致的。反言之，如果不利用物理方法进行检查，则不会产生上述的问题。
本发明的一个方式的目的在于稳定地进行触摸面板的性能检查。
用于解决问题的方案
为了解决上述的问题，本发明的一个方式的检查装置是检查触摸面板的透明膜的电阻值的检查装置，上述触摸面板是至少层叠上述透明膜、电介质以及传感器而构成的，上述检查装置具备：背景电容取得部，其对上述传感器施加第1脉冲电压，取得上述触摸面板的背景电容；以及切换部，其将上述透明膜连接到接地部和相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压的产生源中的任意一个
另外，为了解决上述的问题，本发明的一个方式的检查方法是检查触摸面板的透明膜的电阻值的检查方法，上述触摸面板是至少层叠上述透明膜、电介质以及传感器而构成的，上述检查方法包含：第1测量工序，在将上述透明膜连接到接地部的状态下，对上述传感器施加第1脉冲电压，取得上述触摸面板的第1背景电容；第2测量工序，在没有将上述透明膜连接到接地部，而对该透明膜施加了相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压的状态下，对上述传感器施加第1脉冲电压，取得上述触摸面板的第2背景电容；以及检查工序，基于第1背景电容与第2背景电容的差来检查上述透明膜的电阻值。
发明效果
根据本发明的一个方式，能够稳定地进行触摸面板的性能检查。
附图说明
图1是示出本发明的实施方式1的触摸面板及其周边的电路构成的图，(a)示出第1测量工序的电路构成，(b)示出第2测量工序的电路构成，(c)示出第1脉冲电压和第2脉冲电压的波形图像。
图2是示出本发明的实施方式2的触摸面板和检查用设备的图。
图3是示出本发明的实施方式3的触摸面板和检查用设备的图。
图4是示出现有技术的触摸面板的构成的图。
附图标记说明
1 触摸面板
4 检查装置
11 透明膜
12 CF玻璃(电介质)
13 TP传感器(传感器)
IR 积分电路(背景电容取得部)
SW1 开关(背景电容取得部)
SW2 开关(切换部)。
具体实施方式
[实施方式1]
下面，详细地说明本发明的实施方式1。
图1是示出本实施方式的触摸面板1及其周边的电路构成的图。图1的(a)示出第1测量工序的电路构成。图1的(b)示出第2测量工序的电路构成。图1的(c)示出第1脉冲电压Vin1和第2脉冲电压Vin2的波形图像。
在检查触摸面板1的透明膜11的电阻值的检查方法中，触摸面板1是至少层叠透明膜11、CF玻璃(电介质)12、TP传感器(传感器)13而构成的，检查方法包含：第1测量工序，在将透明膜11连接到接地部(ground)的状态下，对TP传感器13施加第1脉冲电压，取得触摸面板1的第1背景电容；第2测量工序，在没有将透明膜11连接到接地部，而对透明膜11施加了相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压的状态下，对TP传感器13施加第1脉冲电压，取得触摸面板1的第2背景电容；以及检查工序，基于第1背景电容与第2背景电容的差来检查透明膜11的电阻值。
在此，触摸面板1的背景电容表示将透明膜11与TP传感器13的电容和TP传感器13与液晶层14的电容合计起来的电容。
如图1的(a)、(b)所示，在触摸面板1中，电容器Cpa、电容器Cito及电阻Rito串联连接，在电容器Cpa与电容器Cito之间连接有电阻Rpa。电容器Cpa是面板负载电容，是图2中的液晶层14的负载电容。电容器Cito是图2中的、透明膜11与TP传感器13之间的负载电容，是CF玻璃12的负载电容。电阻Rito是图2中的透明膜11的电阻值。电阻Rpa是面板内传感器间电阻值，是图2中的、触针CP1与TP传感器13之间的电阻值。
开关SW1连接触摸面板1的电阻Rpa与第1脉冲电压Vin1的产生电路或者积分电路IR。开关SW1如果切换到A侧，则连接触摸面板1的电阻Rpa与第1脉冲电压Vin1的产生电路。开关SW1如果切换到B侧，则连接触摸面板1的电阻Rpa与积分电路IR。
积分电路IR具有电容器C，输出与触摸面板1所具有的电荷量相应的电压。
开关SW2连接触摸面板1的电阻Rito与接地部或者第2脉冲电压Vin2的产生电路。开关SW2如果切换到C侧，则连接触摸面板1的电阻Rito与接地部。开关SW2如果切换到D侧，则连接触摸面板1的电阻Rito与第2脉冲电压Vin2的产生电路。
如图1的(c)所示，第1脉冲电压Vin1的波形与第2脉冲电压Vin2的波形彼此为相位相反的关系。
(各工序的过程)
触摸面板1的性能检查的工序包含第1测量工序(步骤S1、S2)、第2测量工序(步骤S3、S4)及检查工序(步骤S5)。
以下示出第1测量工序的过程。
(步骤S1)
如图1的(a)所示，检查用设备将开关SW1切换到A侧，将开关SW2切换到C侧。即，触摸面板1的电阻Rpa连接到第1脉冲电压Vin1的产生电路，触摸面板1的电阻Rito连接到接地部。
从而，第1脉冲电压Vin1被施加到触摸面板1，电容器Cpa及电容器Cito被充电。
(步骤S2)
在电容器Cpa和电容器Cito的充电结束了的情况下，检查用设备将开关SW1切换到B侧。即，触摸面板1的电阻Rpa连接到积分电路IR。
从而，从电容器Cpa和电容器Cito进行放电，积分电路IR输出与电容器Cpa、电容器Cito以及电容器C相应的电压Vout1。
以下示出第2测量工序的过程。
(步骤S3)
如图1的(b)所示，检查用设备将开关SW1切换到A侧，将开关SW2切换到D侧。即，触摸面板1的电阻Rpa连接到第1脉冲电压Vin1的产生电路，触摸面板1的电阻Rito连接到第2脉冲电压Vin2的产生电路。
从而，第1脉冲电压Vin1和第2脉冲电压Vin2被施加到触摸面板1，电容器Cpa和电容器Cito被充电。
(步骤S4)
在电容器Cpa和电容器Cito的充电结束了的情况下，检查用设备将开关SW1切换到B侧。即，触摸面板1的电阻Rpa连接到积分电路IR。
从而，从电容器Cpa和电容器Cito进行放电，积分电路IR输出与电容器Cpa、电容器Cito以及电容器C相应的电压Vout2。
以下示出检查工序的过程。
(步骤S5)
在输出电压Vout1与输出电压Vout2的差值为规定值以上的情况下，判断为透明膜11的电阻值小。
在透明膜11的电阻值Rito为规定值以上的情况下，上述差值变为如下。
Vout1＝V×Cpa/C
Vout2＝V×Cpa/C
差值变为Vout2－Vout1＝0。这是因为，由于电阻值Rito大，所以即使对触摸面板1施加第2脉冲电压Vin2，电容器Cito也不会被充电，因此，输出电压Vout1与输出电压Vout2相等。
另一方面，在透明膜11的电阻值Rito小于规定值的情况下，上述差值变为如下。
Vout1＝V×(Cpa+Cito)/C
Vout2＝V×(Cpa+2×Cito)/C
差值变为Vout2－Vout1＝V×Cito/C。这是因为，由于电阻值Rito小，因此，当对触摸面板1施加第2脉冲电压Vin2时，电容器Cito会被充电，所以输出电压Vout2相应地比输出电压Vout1大。
根据本实施方式，能够检测出透明膜11的电阻值Rito小的情况，即，能够检测出触摸面板的性能下降。并且，不是使用物理方法，而是使用电气方法，从而能够实现检查的再现性的提高，防止对面板表面的损伤等的损害，并且能够稳定地进行触摸面板的性能检查。
〔实施方式2〕
下面说明本发明的实施方式2。此外，为了便于说明，对与实施方式1中说明的构件具有相同功能的构件标注相同的附图标记，且不重复其说明。
优选触摸面板1的性能检查在安装前的面板状态下实施。在变为产品的形态(模块)之后实施了性能检查的情况下，当透明膜11的电阻值小时，可能浪费安装构件。
图2是示出本实施方式的触摸面板1和检查用设备的图。触摸面板1是将透明膜11、CF玻璃12、TP传感器13、液晶层14以及TFT玻璃15层叠而构成的。
触摸面板1在透明膜11的表面和液晶层14的右端部表面具有端子(未图示)。如图2所示，检查电路2经由触针CP1连接到触摸面板1的液晶层14的端子，还经由触针CP2连接到触摸面板1的透明膜11的端子。检查电路2连接到PC(Personal Computer；个人计算机)3，由PC3上的程序控制，进行触摸面板1的性能检查的处理。
检查电路2在触摸面板1的性能检查之前，另外进行检查TP传感器13自身的处理，在确认TP传感器13为正常之后，进行该性能检查的处理。
此外，检查电路2具备图1所示的开关SW1、SW2、积分电路IR、第1脉冲电压Vin1的产生电路以及第2脉冲电压Vin2的产生电路。另外，液晶层14的端子对应于图1所示的电阻Rpa的左侧端子。透明膜11的端子对应于图1所示的电阻Rito的右侧端子。
〔实施方式3〕
下面说明本发明的实施方式3。此外，为了便于说明，对与实施方式1、2中说明的构件具有相同功能的构件标注相同的附图标记，且不重复其说明。
在实施方式2中，示出的是使用了专用于检查用的PC3的例子，但在本实施方式中，示出不使用PC的例子。
在检查触摸面板1的透明膜的电阻值的检查装置4中，触摸面板1是至少重叠透明膜11、CF玻璃12、TP传感器13而构成的，检查装置4包含：背景电容取得部，其对TP传感器13施加第1脉冲电压Vin1，取得触摸面板1的背景电容；以及开关(切换部)SW2，其将透明膜11连接到接地部和相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压Vin2的产生电路(产生源)中的任意一个。此外，背景电容取得部包含开关SW1、第1脉冲电压Vin1的产生电路以及积分电路IR。
图3是示出本实施方式的触摸面板1和检查用设备的图。如图3所示，检查装置4经由触针CP1连接到触摸面板1的液晶层14的端子，还经由触针CP2连接到触摸面板1的透明膜11的端子。
检查装置4具备检查电路、微型计算机以及简易显示装置(未图示)。
根据上述内容，由于不使用PC，因此，能够以低成本构建用于触摸面板1的性能检查的环境。
本发明不限于上述的各实施方式，能在权利要求所示的范围内进行各种变更，将分别在不同的实施方式中公开的技术手段适当地组合而得到的实施方式也包含在本发明的技术范围内。而且，通过将分别在各实施方式中公开的技术手段组合起来，能够形成新的技术特征。
〔方式1〕
一种检查装置，检查触摸面板的透明膜的电阻值，上述触摸面板是至少层叠上述透明膜、电介质以及传感器而构成的，上述检查装置具备：背景电容取得部，其对上述传感器施加第1脉冲电压，取得上述触摸面板的背景电容；以及切换部，其将上述透明膜连接到接地部和相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压的产生源中的任意一个。
〔方式2〕
一种检查方法，检查触摸面板的透明膜的电阻值，上述触摸面板是至少层叠上述透明膜、电介质以及传感器而构成的，上述检查方法包含：第1测量工序，在将上述透明膜连接到接地部的状态下，对上述传感器施加第1脉冲电压，取得上述触摸面板的第1背景电容；第2测量工序，在没有将上述透明膜连接到接地部，而对该透明膜施加了相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压的状态下，对上述传感器施加第1脉冲电压，取得上述触摸面板的第2背景电容；以及检查工序，基于第1背景电容与第2背景电容的差来检查上述透明膜的电阻值。

Claims (2)

1.一种检查装置，检查触摸面板的透明膜的电阻值，其特征在于，
上述触摸面板是至少层叠上述透明膜、电介质以及传感器而构成的，
上述检查装置具备：
背景电容取得部，其对上述传感器施加第1脉冲电压，取得上述触摸面板的背景电容；以及
切换部，其将上述透明膜连接到接地部和相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压的产生源中的任意一个。
2.一种检查方法，检查触摸面板的透明膜的电阻值，
上述触摸面板是至少层叠上述透明膜、电介质以及传感器而构成的，
上述检查方法包含：
第1测量工序，在将上述透明膜连接到接地部的状态下，对上述传感器施加第1脉冲电压，取得上述触摸面板的第1背景电容；
第2测量工序，在没有将上述透明膜连接到接地部，而对该透明膜施加了相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压的状态下，对上述传感器施加第1脉冲电压，取得上述触摸面板的第2背景电容；以及
检查工序，基于第1背景电容与第2背景电容的差来检查上述透明膜的电阻值。
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