JP2019174150A - ガラス容器の欠陥検査方法、欠陥検査装置、およびガラス容器検査機 - Google Patents
ガラス容器の欠陥検査方法、欠陥検査装置、およびガラス容器検査機 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019174150A JP2019174150A JP2018059492A JP2018059492A JP2019174150A JP 2019174150 A JP2019174150 A JP 2019174150A JP 2018059492 A JP2018059492 A JP 2018059492A JP 2018059492 A JP2018059492 A JP 2018059492A JP 2019174150 A JP2019174150 A JP 2019174150A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass container
- light
- glass
- image
- line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
【課題】ガラス容器の色調を問わず偏光性異物の有無を検査可能とする。【解決手段】ガラスびん10を支持して軸回転させる回転支持機構5と、拡散光源20および偏光板21を含み偏光を照明光としてガラスびん10へ照射する照明装置2と、照明光のガラスびん10での反射光が受光可能な位置に配置されガラスびん10の全周にわたって撮像デバイス32を走査することにより画像を生成するラインスキャンカメラ3と、画像を処理してガラスびん10の欠陥の有無を判別する画像処理装置4とを含む。ラインスキャンカメラ3は、撮像デバイス32としてそれぞれが異なる偏光特性の光を受光する複数列のラインセンサ33〜36を有しラインセンサ33〜36毎に画像を生成する。【選択図】図1
Description
この発明は、ガラスびんなどのガラス容器について、異物、泡、シワなどの欠陥の有無を検査するための方法と装置、さらには、その装置が導入されたガラス容器検査機に関する。
製びん機で製造されたガラスびんが検査工程へ送られると、複数の項目について、ガラスびんの欠陥の有無が検査される。図8に示す検査機は、外周に複数の凹部101を有するスターホイール100を含み、スターホイール100を間欠回転させることにより、各凹部101に嵌入されたガラスびん10を、スターホイール100の外周に沿って配置された複数の検査ステーションS1〜S5へ順送りする。なお、図中、102は検査対象のガラスびん10をスターホイール100の凹部101に搬入する搬入機構、103は検査済のガラスびん10をスターホイール100の凹部101より搬出させる搬出機構であり、スターホイール100とともにガラスびんの搬送機構を構成する。
各検査ステーションS1〜S5には種々の検査装置が設置される。各検査ステーションS1〜S5では、検査装置により少なくとも1種類の項目について欠陥の有無が検査される。検査ステーションS1〜S5のいずれかにおいて、ガラスびん10に欠陥ありと判断されると、搬出機構103により搬出されたそのガラスびん10は、不良品としてリジェクトされる。
ガラスびんの外観に現れる欠陥には、異物、泡、シワなどがあり、欠陥の種類に応じた最適な方法で検査される。画像処理を伴う外観検査では、ガラスびんに向けて拡散照明を施し、ガラスびんを透過した光の量の変化やガラスびんで反射した光の量の変化を捉えて欠陥の有無を判別する。異物のうち、光を透過させない遮光性異物については、ガラスびんを透過した光の受光量から検出することが容易であるが、結晶などの透明、半透明の異物については、受光量に変化が現れにくく、異物と周囲のガラスとの間にコントラスト(明暗)が生じにくいため、異物の検出が容易でない。透明、半透明の異物の中で偏光性異物については照明光に偏光を用いた検査を行うことが可能である。ここで、「偏光性異物」とは、光が透過する際、直交する偏光成分間の位相がずれて偏光を生じさせる異物をいう(例えば特許文献1参照)。
特許文献1に記載の欠陥検査装置において、照明装置は拡散光源と円偏光板とを含むものであり、円偏光の照明光がガラスびんに照射される。円偏光板は偏光板と1/4波長板により構成される。円偏光の照明光はガラス容器を円偏光のまま透過し、その透過光がカメラにより受光される。カメラのレンズには、同様の円偏光板が設けられており、この円偏光板を透過光が透過するので、ガラスびんのガラス部分は明るく映る。ガラスびんに偏光性異物が存在していると、偏光性異物の部分を円偏光が透過する際、円偏光の直交する偏光成分(p偏光、s偏光)の位相差が乱れて楕円偏光となるため、その楕円偏光の透過光はカメラ側の円偏光板を透過せず偏光性異物は暗く映る。このため、ガラス部分と偏光性異物の部分とでは受光量に変化が現れ、異物と周囲のガラスとの間に生ずる画像のコントラストによって偏光性異物を検出することができる。
しかし、ガラスびんの色調が黒や深緑のような暗い色調である場合、図9の色調別の光の透過率曲線に示すように、可視光の波長領域(380nm〜780nm)では、光の透過率が低いために、偏光性異物を検出することが困難である。同図中、uが黒色のガラスびんの光の透過率曲線、vが深緑色のガラスびんの光の透過率曲線であり、近赤外光の波長領域(700nm以上)では、光の透過率が高くなるが、近赤外光の波長領域に対応した円偏光板は一般に存在しないため、色調が暗い品種のガラス容器については照明光に偏光を用いた検査は困難である。
また、偏光性異物、泡、シワなどの欠陥の検査は、それぞれに適した検査方法および検査装置が用いられるため、照明などの光学系やカメラは別個のものとなり、さらに、光学系の物理的な干渉や光の干渉を避けるために、複数の検査ステーションを割り当てる必要がある。光学系、カメラ、画像処理装置は、検出すべき欠陥毎に別個のものが必要であるため、設備費用が高価となる。
この発明は、上記の問題に着目してなされたもので、ガラス容器の色調を問わず偏光性異物の有無を検査することが可能なガラス容器の欠陥検査方法、欠陥検査装置、およびガラス容器検査機を提供することを目的とする。
また、この発明が他に目的とするところは、偏光性異物、泡、シワなど、複数種の欠陥の検査をひとつの検査ステーションにおいて安価な設備によって実施できるガラス容器の欠陥検査方法、欠陥検査装置、およびガラス容器検査機を提供することにある。
この発明のガラス容器の欠陥検査方法は、軸回転するガラス容器へ偏光を照明光として照射し、ガラス容器での反射光をそれぞれが異なる偏光特性の光を受光する複数列のラインセンサにより受光して各ラインセンサを走査することによりラインセンサ毎にガラス容器の全周にわたる画像を生成した後、少なくともいずれかひとつの画像によってガラス容器の欠陥の有無を判別する、というものである。
上記の欠陥検査方法において、照明光は望ましくは直線偏光であるが、これに限らず、楕円偏光や円偏光であってもよい。
上記した欠陥検査方法によれば、ガラス容器の肉厚中に偏光性異物が存在すると、偏光性異物の内表面での反射光とガラスの内表面での反射光は、偏光性異物を透過する際に、直交する偏光成分間の位相がずれ、例えば照明光が直線偏光であれば、楕円偏光または円偏光となるので、各ラインセンサによって生成される画像は、偏光性異物と周囲のガラスとの間のコントラストが大小異なったものとなり、コントラストが良好な画像から偏光性異物を欠陥として検出する。
この発明によるガラス容器の欠陥検査装置は、ガラス容器を支持して軸回転させる回転支持機構と、拡散光源および偏光板を含み偏光を照明光としてガラス容器へ照射する照明装置と、照明光のガラス容器での反射光が受光可能な位置に配置されガラス容器の全周にわたって撮像デバイスを走査することにより画像を生成するラインスキャンカメラと、画像を処理してガラス容器の欠陥の有無を判別する画像処理装置とを備える。ラインスキャンカメラは、撮像デバイスとしてそれぞれが異なる偏光特性の光を受光する複数列のラインセンサを有しラインセンサ毎にガラス容器の全周にわたる画像を生成する。
上記の欠陥検査装置において、照明装置は望ましくは直線偏光を照明光としてガラス容器へ照射するが、これに限らず、楕円偏光や円偏光を照明光としてガラス容器へ照射してもよい。
上記した構成のガラス容器の欠陥検査装置において、検査位置にガラス容器が導入されると、ガラス容器は回転支持機構により支持され、中心軸の回りに軸回転する。ガラス容器に向けて照明装置より偏光が照明光として照射されると、ガラス容器での反射光がラインスキャンカメラにより受光される。ガラス容器が軸回転するので、ラインスキャンカメラの各列のラインセンサが走査されることによって、ラインセンサ毎にガラス容器の全周にわたる画像が生成される。ガラス容器の肉厚中に偏光性異物が存在すると、偏光性異物の内表面での反射光とガラスの内表面での反射光は、偏光性異物を透過する際に、直交する偏光成分間の位相がずれ、例えば照明光が直線偏光であれば、楕円偏光または円偏光となる。各ラインセンサはそれぞれが異なる偏光特性の光を受光するので、各ラインセンサによって生成される画像は、偏光性異物と周囲のガラスとの間のコントラストが大小異なったものとなる。画像処理装置は、コントラストが良好な画像の少なくともひとつの画像を処理して偏光性異物を欠陥として検出する。
回転支持機構は、種々の実施形態が考えられるが、好ましい一実施形態は、ガラス容器の底部を支持する軸回転自由な水平テーブルと、ガラス容器の外周面と接して摩擦力によりガラス容器を水平テーブルと一体に軸回転させる駆動ローラと、駆動ローラの回転駆動源であるモータとを含むものである。
好ましい実施形態においては、前記ラインスキャンカメラは、直交する偏光成分の位相が正方向へ45度ずれる偏光特性の光を受光する第1のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が負方向へ45度ずれる偏光特性の光を受光する第2のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が正方向へ90度ずれる偏光特性の光を受光する第3のラインセンサとを撮像デバイスとして有する。画像処理装置は、第1〜第3の各ラインセンサによって生成されたガラス容器の全周にわたる3個の画像の少なくともいずれかひとつの画像によって偏光性異物を欠陥として検出する。
この実施形態において、検査対象のガラス容器の肉厚中に偏光性異物が存在すると、偏光性異物の内表面での反射光とガラスの内表面での反射光は、偏光性異物を透過する際に、直交する偏光成分間の位相がずれ、例えば照明光が直線偏光であれば、楕円偏光または円偏光となるので、楕円偏光であるか円偏光であるかによって、或いは位相のずれ量の大小によって、第1〜第3のラインセンサにより生成される画像において、偏光性異物と周囲のガラスとの間の画像のコントラストが大小異なったものとなり、コントラストが良好な画像から偏光性異物を欠陥として検出する。
さらに好ましい実施形態においては、前記ラインスキャンカメラは、直交する偏光成分の位相が正方向へ45度ずれる偏光特性の光を受光する第1のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が負方向へ45度ずれる偏光特性の光を受光する第2のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が正方向へ90度ずれる偏光特性の光を受光する第3のラインセンサと、偏光の有無に関わらず全ての光を受光する第4のラインセンサとを撮像デバイスとして有している。画像処理装置は、第1〜第3の各ラインセンサによって生成されたガラス容器の全周にわたる3個の画像の少なくともいずれかひとつの画像によって偏光性異物を欠陥として検出し、第4のラインセンサによって生成されたガラス容器の全周にわたる画像によって肉厚内部の扁平な気泡と表面のシワとを欠陥として検出する。
この実施形態によると、偏光性異物、肉厚内部の扁平な気泡、および表面のシワをひとつの検査ステーションにおいて単一の欠陥検査装置により検出することができる。
なお、ラインスキャンカメラは、上記した実施形態のものに限らず、例えば、直交する偏光成分の位相が負方向へ60度ずれる偏光特性の光を受光する第1のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が負方向へ60度ずれる偏光特性の光を受光する第2のラインセンサと、偏光特性を有する全ての光を受光する第3のラインセンサとを有するものであってもよい。この実施形態では、第1、第2の各ラインセンサにより生成された2個の画像の少なくともいずれかひとつの画像により偏光性異物を欠陥として検出し、第3のラインセンサにより生成された画像により肉厚内部の扁平な気泡と表面のシワとを欠陥として検出する。
好ましい実施形態のガラス容器の欠陥検査装置は、複数の検査対象のガラス容器を検査位置へ次々に搬送する搬送機構をさらに含むが、検査ステーションが円陣に配置される場合は、搬送機構として例えばスターホイールが用いられる。
この発明によるガラス容器検査機は、上記したガラス容器の欠陥検査装置と他の複数の検査装置とがスターホイールの外周に沿って設置され、スターホイールは、外周縁の等角度位置に凹部を有し、各凹部に嵌入されたガラス容器をスターホイールの間欠回転により各検査ステーションへ一斉に順送りする。
この発明によれば、偏光を照明光としてガラス容器へ照射し、ガラス容器での反射光を、それぞれが異なる偏光特性の光を受光する複数列のラインセンサにより受光するから、ガラス容器の色調を問わず偏光性異物の有無を検査することが可能である。また、偏光性異物、泡、シワなど、複数種の欠陥の検査をひとつの検査ステーションにおいて安価な設備によって実施できる。
図1および図2は、ガラスびんの欠陥検査装置1の概略構成を示している。
欠陥検査装置1は、照明装置2とラインスキャンカメラ3と画像処理装置4とを含み、スターホイール100の外周沿いの複数の検査ステーションのうちのひとつの検査ステーションSに設置されている。
スターホイール100は、一定角度づつ間欠回転するもので、これにより等角度位置毎の各凹部101に嵌入された検査対象のガラスびん10を各検査ステーションに順送りする。なお、スターホイール100はモータを駆動源とする駆動機構により駆動されるが、スターホイール100の駆動機構は公知であり、ここでは具体的な構成の図示並びに説明を省略する。
欠陥検査装置1は、照明装置2とラインスキャンカメラ3と画像処理装置4とを含み、スターホイール100の外周沿いの複数の検査ステーションのうちのひとつの検査ステーションSに設置されている。
スターホイール100は、一定角度づつ間欠回転するもので、これにより等角度位置毎の各凹部101に嵌入された検査対象のガラスびん10を各検査ステーションに順送りする。なお、スターホイール100はモータを駆動源とする駆動機構により駆動されるが、スターホイール100の駆動機構は公知であり、ここでは具体的な構成の図示並びに説明を省略する。
欠陥検査装置1が設置された検査ステーションSには、凹部101が停止する位置の下方に、回転支持機構5を構成する円盤状の水平テーブル50が配置されている。水平テーブル50は中心軸cの回りに軸回転自由であり、水平テーブル50上の中心位置にガラスびん10が載せられて底部が支持される。
回転支持機構5は、水平テーブル50と、ガラスびん10の外周面の上下2箇所を支持する支持ローラ51,52と、ガラスびん10の外周面と接して摩擦力によりガラスびん10を中心軸cの回りに軸回転させる駆動ローラ53と、駆動ローラ53の回転駆動源であるモータ(図示せず)とを含んでいる。
照明装置2は、拡散光源20と偏光板21とを含んでおり、直線偏光の照明光aを軸回転するガラスびん10に向けて照射する。直線偏光は、図4に示す直交するp偏光成分およびs偏光成分(以下「偏光成分p」および「偏光成分s」という。)によって波が定義されるもので、偏光成分p,sは同じ方向(z軸の方向)に伝達され、互いに同位相にある。直線偏光の照明光aが偏光性異物を透過すると、偏光成分p,s間に位相差が生じ、円偏光または楕円偏光となる。
ラインスキャンカメラ3は、カメラ本体30と対物レンズ31とからなる。カメラ本体30は、ガラスびん10の像を対物レンズ31により結像させる撮像デバイス32を内蔵する。撮像デバイス32は、図3に示すように、互いに平行な複数列(図示例では4列)のラインセンサ33〜36を有している。第1〜第4の各ラインセンサ33〜36は、数千もの同じ数の画素がそれぞれ1列に並べられたものであり、ガラスびん10を軸回転させて位置をずらせながら各ラインセンサ33〜36を走査することにより、ラインセンサ毎の2次元画像がメモリ上に生成される。
第1〜第3の各ラインセンサ33〜35は、それぞれが列毎に異なる偏光特性の光を透過させて受光するもので、各ラインセンサ33〜35を構成する各画素は、撮像素子と偏光素子とが一体化されたものである。第4のラインセンサ36は、直線偏光、楕円偏光、円偏光など、偏光の有無に関わらず全ての光を受光するもので、ラインセンサ36を構成する各画素は撮像素子のみで構成されている。
第1のラインセンサ33は、図5(1)に示す直交する偏光成分p,sの位相が正方向へ45度ずれる偏光特性の光を受光する。第2のラインセンサ34は、直交する偏光成分p,sの位相が負方向へ45度ずれる偏光特性の光を受光する。第3のラインセンサ35は、直交する偏光成分p,sの位相が正方向へ90度ずれる偏光特性の光を受光する。
この実施形態の欠陥検査装置1では、軸回転するガラスびん10へ直線偏光の照明光aを照射し、ガラスびん10での反射光bをそれぞれが異なる偏光特性の光を受光する第1〜第3の各ラインセンサ33〜35および偏光の有無に関わらず全ての光を受光する第4のラインセンサ36により受光して各ラインセンサ33〜36を走査することによりラインセンサ33〜36毎にガラスびん10の全周にわたる画像を生成する。画像処理装置4は所定の画像処理を実施し、ガラスびん10の欠陥、具体的には、偏光性異物、扁平の泡、およびシワの有無を判別する。
図1〜図5に示す実施態様のガラスびんの欠陥検査装置1の動作を詳細に説明すると、スターホイール100が間欠回転する毎に検査ステーションSの水平テーブル50上にガラス容器10が導入される。ガラス容器10は、回転支持機構5の水平テーブル50上に底部が支持され、支持ローラ51,52および駆動ローラ53により側面が支持され、駆動ローラ53との間の摩擦力を受けて、中心軸cの回りに決められた速度で軸回転する。
水平テーブル50上のガラスびん10に向けて照明装置2より直線偏光の照明光aが照射されると、ガラスびん10の表面で照明光aが反射され、その反射光bがラインスキャンカメラ3により受光される。ガラスびん10が軸回転することで、ラインスキャンカメラ3に向くガラスびん10の外面が移動するので、ラインスキャンカメラ3の各列のラインセンサ33〜36が走査されることによって、ラインセンサ33〜36毎にガラスびん10の全周にわたる画像が生成される。
ガラスびん10の肉厚中に偏光性異物が存在すると、偏光性異物の内表面での反射光とガラスの内表面での反射光は、偏光性異物を透過する際に、直交する偏光成分p,sの位相がずれて直線偏光が楕円偏光または円偏光となる。各ラインセンサ33〜35は、それぞれが異なる偏光特性の光を透過させて受光するので、各ラインセンサ33〜35によって生成される画像は、偏光性異物と周囲のガラスとの間のコントラストが大小異なった画像となる。画像処理装置4は、コントラストが良好な画像の少なくともひとつの画像を処理して偏光性異物を欠陥として検出する。
図6(1)〜(4)は、第1〜第4の各ラインセンサ33〜36によって生成された画像G33〜G36の具体例であって、同図中、g1は偏光性異物の画像部分、g2は周囲のガラスの画像部分を示している。
第4のラインセンサ36によって生成された画像G36においては、図6(4)に示すように、偏光性異物の画像部分g1と周囲のガラスの画像部分g2はともに輝度が高く、明るく映るので、画像部分g1,g2間に殆どコントラストは生じておらず、この画像G36によっては偏光性異物を検出するのは困難である。
第4のラインセンサ36によって生成された画像G36においては、図6(4)に示すように、偏光性異物の画像部分g1と周囲のガラスの画像部分g2はともに輝度が高く、明るく映るので、画像部分g1,g2間に殆どコントラストは生じておらず、この画像G36によっては偏光性異物を検出するのは困難である。
第1、第2の各ラインセンサ33,34によって生成された画像G33,G34においては、各ラインセンサ33,34は図5(1)(2)に示す偏光特性の光のみを受光するもので、この実施例では、図6(1)(2)に示すように、偏光性異物の画像部分g1と周囲のガラスの画像部分g2とはともに輝度がやや低く、薄暗く映っているが、両画像部分g1,g2間にコントラストが生じている。この画像のコントラストが顕著でない場合は、これらの画像G33,G34によっては偏光性異物の検出は困難であるが、この画像のコントラストが顕著である場合は、これらの画像G33,G34によって偏光性異物の検出が可能となる。
第3のラインセンサ35によって生成された画像G35においては、ラインセンサ35は図5(3)に示す偏光特性の光のみを受光するもので、この実施例では、図6(3)に示すように、偏光性異物の画像部分g1は輝度が高く、明るく映り、一方、周囲のガラスの画像部分g2は輝度が低く、暗く映っている。両画像部分g1,g2間の画像のコントラストは顕著であるので、この画像G35によって偏光性異物を検出することができる。
画像処理装置4は、画像G33〜36について、例えば、画像全体を走査し、全ての画素について隣接する画素間の輝度差を計測し、その輝度差の最大値が所定のしきい値を超える画像をコントラスが顕著な画像(この場合、画像G35)として抽出し、次に、抽出した画像G35によって欠陥としての偏光性異物を検出するための画像処理を実行する。例えば、濃淡画像である画像G35を所定の2値化しきい値により2値化した後、その2値画像について、白色の画素の数を計数し、その計数値が所定の値を越えたとき、欠陥としての偏光性異物が存在する、と判断する。なお、上記した画像処理の方法は一例であり、他の画像処理の方法によりコントラスの良好な画像の抽出や偏光性異物の検出を行うことが可能である。
ガラスびん10に存在する扁平の泡やガラスびん10の表面に生じたシワについては、ラインスキャンカメラ3の第4のラインセンサ36によって生成される画像によって検出する。
図7は、ガラスびん10の肉厚中に存在する扁平な泡11に照明光aが照射されている状態を示す。b1はガラスびん10の内表面からの正反射光、b2はガラスびん10の外表面からの正反射光、b3は泡11の前面からの正反射光、b4は泡11の後面からの正反射光である。泡11の部分は周囲のガラスの部分より明るく映るので、明るさの設定基準値を超えた部分に泡11が存在すると判断して欠陥の検出を行う。
ガラスびん10の表面にシワが存在する場合、シワの部分に照明光aが照射されると、シワのエッジで光が屈折することで周囲のガラスより暗く映るので、その強いコントラス部分を欠陥として検出する。照明光を透過させて透過光を検出する方式の検査では、「セッツルライン」と呼ばれる、ガラス肉厚の不均一な部分による屈折が生じてシワとの区別が付かないが、照明光を反射させて反射光を検出する方式ではセッツルラインの影響を受けずにシワの検出が可能である。
1 欠陥検査装置
2 照明装置
3 ラインスキャンカメラ
4 画像処理装置
5 回転支持機構
20 拡散光源
21 偏光板
32 撮像デバイス
33,34,35,36 ラインセンサ
50 水平テーブル
53 駆動ローラ
100 スターホイール
2 照明装置
3 ラインスキャンカメラ
4 画像処理装置
5 回転支持機構
20 拡散光源
21 偏光板
32 撮像デバイス
33,34,35,36 ラインセンサ
50 水平テーブル
53 駆動ローラ
100 スターホイール
Claims (9)
- ガラス容器の欠陥の有無を検査する方法であって、
軸回転するガラス容器へ偏光を照明光として照射し、前記ガラス容器での反射光をそれぞれが異なる偏光特性の光を受光する複数列のラインセンサにより受光して各ラインセンサを走査することによりラインセンサ毎にガラス容器の全周にわたる画像を生成した後、少なくともいずれかひとつの画像によって前記ガラス容器の欠陥の有無を判別することを特徴とするガラス容器の欠陥検査方法。 - 前記照明光は、直線偏光である請求項1に記載のガラス容器の欠陥検査方法。
- ガラス容器の欠陥の有無を検査する装置であって、
ガラス容器を支持して軸回転させる回転支持機構と、拡散光源および偏光板を含み偏光を照明光として前記ガラス容器へ照射する照明装置と、前記照明光の前記ガラス容器での反射光が受光可能な位置に配置され前記ガラス容器の全周にわたって撮像デバイスを走査することにより画像を生成するラインスキャンカメラと、前記画像を処理して前記ガラス容器の欠陥の有無を判別する画像処理装置とを備え、前記ラインスキャンカメラは、前記撮像デバイスとしてそれぞれが異なる偏光特性の光を受光する複数列のラインセンサを有しラインセンサ毎に前記ガラス容器の全周にわたる画像を生成するガラス容器の欠陥検査装置。 - 前記照明装置は、直線偏光を照明光としてガラス容器へ照射する請求項3に記載のガラス容器の欠陥検査装置。
- 前記回転支持機構は、前記ガラス容器の底部を支持する軸回転自由な水平テーブルと、前記ガラス容器の外周面と接して摩擦力によりガラス容器を前記水平テーブルと一体に軸回転させる駆動ローラと、前記駆動ローラの回転駆動源であるモータとを含む請求項3に記載のガラス容器の欠陥検査装置。
- 前記ラインスキャンカメラは、直交する偏光成分の位相が正方向へ45度ずれる偏光特性の光を受光する第1のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が負方向へ45度ずれる偏光特性の光を受光する第2のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が正方向へ90度ずれる偏光特性の光を受光する第3のラインセンサとを前記撮像デバイスとして有し、前記画像処理装置は、第1〜第3の各ラインセンサによって生成されたガラス容器の全周にわたる3個の画像の少なくともいずれかひとつの画像によって偏光性異物を欠陥として検出する請求項3に記載のガラス容器の欠陥検査装置。
- 前記ラインスキャンカメラは、直交する偏光成分の位相が正方向へ45度ずれる偏光特性の光を受光する第1のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が負方向へ45度ずれる偏光特性の光を受光する第2のラインセンサと、直交する偏光成分の位相が正方向へ90度ずれる偏光特性の光を受光する第3のラインセンサと、偏光の有無に関わらず全ての光を受光する第4のラインセンサとを前記撮像デバイスとして有し、前記画像処理装置は、第1〜第3の各ラインセンサによって生成されたガラス容器の全周にわたる3個の画像の少なくともいずれかひとつの画像によって偏光性異物を欠陥として検出し、第4のラインセンサによって生成されたガラス容器の全周にわたる画像によって肉厚内部の扁平な気泡と表面のシワとを欠陥として検出する請求項3に記載のガラス容器の欠陥検査装置。
- 請求項3〜7のいずれかに記載のガラス容器の欠陥検査装置であって、複数の検査対象のガラス容器を検査位置へ次々に搬送する搬送機構をさらに含むガラス容器の欠陥検査装置。
- 請求項3〜7のいずれかに記載のガラス容器の欠陥検査装置と他の複数の検査装置とがスターホイールの外周に沿って設置され、前記スターホイールは、外周縁の等角度位置に凹部を有し、各凹部に嵌入されたガラス容器をスターホイールの間欠回転により各検査ステーションへ一斉に順送りするガラス容器検査機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018059492A JP2019174150A (ja) | 2018-03-27 | 2018-03-27 | ガラス容器の欠陥検査方法、欠陥検査装置、およびガラス容器検査機 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018059492A JP2019174150A (ja) | 2018-03-27 | 2018-03-27 | ガラス容器の欠陥検査方法、欠陥検査装置、およびガラス容器検査機 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019174150A true JP2019174150A (ja) | 2019-10-10 |
Family
ID=68170170
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018059492A Pending JP2019174150A (ja) | 2018-03-27 | 2018-03-27 | ガラス容器の欠陥検査方法、欠陥検査装置、およびガラス容器検査機 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2019174150A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114441443A (zh) * | 2022-01-24 | 2022-05-06 | 成都聚合智创科技有限公司 | 一种管制瓶检测装置 |
EP4160194A1 (de) * | 2021-10-01 | 2023-04-05 | Heye International GmbH | Verfahren und vorrichtung zur fehlerinspektion eines hohlglasbehältnisses |
CN114441443B (zh) * | 2022-01-24 | 2024-05-14 | 成都华聪智视科技有限公司 | 一种管制瓶检测装置 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08338816A (ja) * | 1995-06-13 | 1996-12-24 | Nikon Corp | 瓶用検査装置 |
WO2006011803A2 (en) * | 2004-07-30 | 2006-02-02 | Eagle Vision Systems B.V. | Apparatus and method for checking of containers |
JP2010019804A (ja) * | 2008-07-14 | 2010-01-28 | Nihon Yamamura Glass Co Ltd | 容器の外観検査方法および外観検査装置 |
JP2011149935A (ja) * | 2009-12-25 | 2011-08-04 | Nihon Yamamura Glass Co Ltd | 容器検査方法および容器検査装置 |
JP2011164062A (ja) * | 2010-02-15 | 2011-08-25 | Ricoh Co Ltd | 透明平板検出システム |
JP2015169442A (ja) * | 2014-03-04 | 2015-09-28 | 東洋ガラス機械株式会社 | ガラスびんの口部検査装置 |
JP2017009580A (ja) * | 2015-06-17 | 2017-01-12 | キリンテクノシステム株式会社 | 検査装置 |
-
2018
- 2018-03-27 JP JP2018059492A patent/JP2019174150A/ja active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08338816A (ja) * | 1995-06-13 | 1996-12-24 | Nikon Corp | 瓶用検査装置 |
WO2006011803A2 (en) * | 2004-07-30 | 2006-02-02 | Eagle Vision Systems B.V. | Apparatus and method for checking of containers |
JP2010019804A (ja) * | 2008-07-14 | 2010-01-28 | Nihon Yamamura Glass Co Ltd | 容器の外観検査方法および外観検査装置 |
JP2011149935A (ja) * | 2009-12-25 | 2011-08-04 | Nihon Yamamura Glass Co Ltd | 容器検査方法および容器検査装置 |
JP2011164062A (ja) * | 2010-02-15 | 2011-08-25 | Ricoh Co Ltd | 透明平板検出システム |
JP2015169442A (ja) * | 2014-03-04 | 2015-09-28 | 東洋ガラス機械株式会社 | ガラスびんの口部検査装置 |
JP2017009580A (ja) * | 2015-06-17 | 2017-01-12 | キリンテクノシステム株式会社 | 検査装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP4160194A1 (de) * | 2021-10-01 | 2023-04-05 | Heye International GmbH | Verfahren und vorrichtung zur fehlerinspektion eines hohlglasbehältnisses |
CN114441443A (zh) * | 2022-01-24 | 2022-05-06 | 成都聚合智创科技有限公司 | 一种管制瓶检测装置 |
CN114441443B (zh) * | 2022-01-24 | 2024-05-14 | 成都华聪智视科技有限公司 | 一种管制瓶检测装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9329135B2 (en) | Means for inspecting glass containers for defects | |
US7414716B2 (en) | Machine for inspecting glass containers | |
JP3820348B2 (ja) | 搬送される対象物における散乱する材料、汚れおよびその他の欠陥を識別するための方法 | |
US7816639B2 (en) | Machine for inspecting glass containers at an inspection station using an addition of a plurality of illuminations of reflected light | |
JP3767695B2 (ja) | 空瓶の検査システム | |
JPH08178869A (ja) | 透明容器の点検方法および装置 | |
JP7382519B2 (ja) | ガラスびんの検査方法及びガラスびんの製造方法並びにガラスびんの検査装置 | |
US7541572B2 (en) | Machine for inspecting rotating glass containers with light source triggered multiple times during camera exposure time | |
US8135206B2 (en) | Machine for inspecting glass containers | |
JP2005017004A (ja) | ガラス瓶の異物検査システム | |
JP2011095107A (ja) | 異物検査装置および異物検査方法 | |
JP2008268236A (ja) | 異物検査方法、及び異物検査装置並びに異物検査用の照明装置 | |
JP2010060312A (ja) | 異物検査装置及び異物検査システム | |
JP2019174150A (ja) | ガラス容器の欠陥検査方法、欠陥検査装置、およびガラス容器検査機 | |
JP5633005B2 (ja) | 異物検査装置 | |
JPH05164706A (ja) | 異種容器の混入検査方法 | |
US7876951B2 (en) | Machine for inspecting glass containers | |
JP5634390B2 (ja) | ガラス容器の欠陥検査方法及び装置 | |
JP5724070B2 (ja) | 液面浮遊異物検査方法及び装置 | |
JP2005024546A (ja) | 容器検査機械 | |
JP5425387B2 (ja) | ガラス容器を検査するための機械 | |
KR102627123B1 (ko) | 이물 검사 장치 | |
JP3986534B2 (ja) | 空瓶の検査システム | |
JP4177204B2 (ja) | 容器充填液体の異物検査装置 | |
JP2004317426A (ja) | 容器の底異物検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181109 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20191210 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20200616 |